JPS5942625A - 磁気ヘツドの検査方法 - Google Patents

磁気ヘツドの検査方法

Info

Publication number
JPS5942625A
JPS5942625A JP15151582A JP15151582A JPS5942625A JP S5942625 A JPS5942625 A JP S5942625A JP 15151582 A JP15151582 A JP 15151582A JP 15151582 A JP15151582 A JP 15151582A JP S5942625 A JPS5942625 A JP S5942625A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
head
magnetic
signal
zero
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP15151582A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Wakamoto
若本 修
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP15151582A priority Critical patent/JPS5942625A/ja
Publication of JPS5942625A publication Critical patent/JPS5942625A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/455Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a)発明の技術分野 本発明は磁気記録装置に対する磁気ヘッドの検査方法に
関する。
(b)技術の背景 回転形磁気記録媒体として公知の磁気ドラムや磁気ディ
スクは大容量の記憶装置が経済的に実現されることから
電算機用周辺記憶装置として多く用られて来た。該装置
の情報書込みあるいは情報読出しは2通常、磁気記録媒
体面に対接して配置される複数の磁気ヘッドにより行わ
れる。
本発明は、係る磁気ヘッドの製造検査に当り。
簡易にして且つ信頼性の高い検査手段に就き提示された
ものである。
(C)従来技術と問題点 第1図は、磁気ディスク装置に搭載される磁気ヘッドの
簡略側面図である。図に従って対象とする磁気ヘッド要
部構成と従来の検査方法概要に就き説明する。
第1図中、1は主軸に多段状に装着された磁気ディスク
、2は1の磁気記録媒体面に対接位置する磁気ヘッド、
該ヘッドはスライダばね3を介してヘッドポジショナ6
例のへラドアーム4に複数(図の場合四個ある)配置さ
れる。図の5は、ヘッドアーム4に固定される低雑音増
幅器形成の情報書込み又は読出しをなす集積回路1通称
R/W。
ICと呼ばれる。
前記構成になる装置の磁気ヘッドの検査は、コード化し
たヘッドセレクト信号により何れかの磁気ヘッドを選択
した後、FM、MFM変調方式等によるバイナリ信号の
書込みと該書込み情報の読出しをして行う。
しかし、この様なR/W、ICを含む磁気ヘッドの検査
に於て、磁気ヘッドセレクト線に異常があった時1例え
ば前記IC内部で断線とが信号線間短絡とかがある場合
は、磁気ヘッドセレクト・ミスとなる。かかる時一般的
には、セレクト信号によりある特定のヘッドに対する前
記R/W検査が終了したとしてもそれが検査対象のヘッ
ドであったかどうか問題である。
(d)発明の目的 本発明の目的は、前記問題点を解消することである。
即ち、複数ヘッド搭載の磁気ヘッド体の検査に当り簡易
にして信頼性の高い検査手段を取得することである。
(e)発明の構成 前記目的は9回転形磁気記録媒体に対し、複数の磁気−
\ラドを配置せる磁気記録装置における前記磁気ヘッド
の検査に於て、複数配置の全磁気ヘッドに対する直流消
磁工程と、任意磁気ヘッドの選択と該選択のヘッド出力
が零であることを確認した後信号書込みをなし又該書込
み信号の読出しをなす工程と、これに続き、前記の磁気
ヘッドの選択と該選択後の零出力確認及び信号書込み並
びに読出しの工程を逐次反復してなすことにより達成さ
れる。
(f)発明の実施例 第2図は本発明の検査手段を説明する検査装置制御部を
なす回路ブロック図である。図に従って実施例を詳細に
説明する。
検査装置回路ブロック図にお(、sで、2は前回のへラ
ドアーム4に複数配置の磁気ヘッド、5は前記のR/W
、IC,7は任意の磁気ヘッドを選択指定するヘッド選
択回路、8は検査装置の主制御部、9は磁気ヘッドセレ
クト信号送出の制御線。
10と11は選択された磁気ヘッドに対し検査信号の書
込みをなす変調回路と増幅回路、12と13は前記書込
みの磁気ヘッドから信号読出しをなす増幅回路とレベル
測定回路である。
本発明は前記従来のセレクト・ミスを無くする為、以下
の如き磁気ディスクヘッド検査手順を用いる。
磁気へラドアームに搭載された総ての磁気ヘッドに対し
て直流消磁(DCイレーズ)を行う。これにより該当ア
ームに搭載の複数の磁気へラド2は何れも出力ゼロ状態
に書込まれたことになる。
次いで、検査装置の主制御部8がら制御線9を介してヘ
ッドセレクト信号を送出し任意のヘッド選択がされる。
而して該選択のヘッドに対し増幅回路12並びにレベル
測定回路13により、その出力が零であることを確認す
る。続いて、変調回路IO及び増幅回路11により信号
書込みがされる。
次に前記同様のヘッドセレクト信号送出により次のヘッ
ドを選択してその出力が零であることを確認し、その後
に信号書込みを行う。もし、該ヘッド選択以前に何等か
の原因で選択されていたとすれば、前記選択後の零出力
レベル測定に於て。
計測レベルはゼロとはならない。
この様にして、逐次、該ヘッドアームに搭載の他ヘッド
に対して出力レベルの零確認とこれに続く書込み操作と
を繰返せば、従来問題とされた磁気ヘッドのセレクトミ
スは皆無となる。
本発明の前記実施例は可動ヘッド構成の磁気ディスクヘ
ッドの検査方法を引用しているが1本検査手段はこれと
限らず、情報書込みの多数トランクに対し、同時アクセ
スする構成になる固定磁気ディスクへラドの検査に適用
しても構わない。
(g)発明の効果 前記詳細に説明した本磁気fzl(l’ヘッドの検査方
法によれば、簡易にして、信頼度の高い検査手段である
ことからその実用性は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、磁気ディスク装置に搭載される磁気ヘッドの
簡略側面図である。第2図は本発明の検査手段を説明す
る検査装置の回路ブロック図である。 図中、■は磁気ディスク、2は磁気ヘッド、5はR/W
、IC,7ばヘッド選択回路、8は検査装置の主制御部
である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 回転形磁気記録媒体に対し、複数の磁気へンドを配置せ
    る磁気記録装置における前記磁気ヘッドの検査に於て、
    複数配置の全磁気ヘッドに対する直流消磁工程と、任意
    磁気ヘッドの選択と該選択のヘッド出力が零であること
    をfi11認した後信号書込みをなし又該書込み信号の
    読出しをなす工程と。 これに続き、前記の磁気ヘッドの選択と該選択後の零出
    力確認及び信号書込み並びに読出しの工程を逐次反復し
    てなすことを特徴とする磁気ヘッドの検査方法。
JP15151582A 1982-08-31 1982-08-31 磁気ヘツドの検査方法 Pending JPS5942625A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15151582A JPS5942625A (ja) 1982-08-31 1982-08-31 磁気ヘツドの検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15151582A JPS5942625A (ja) 1982-08-31 1982-08-31 磁気ヘツドの検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5942625A true JPS5942625A (ja) 1984-03-09

Family

ID=15520189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15151582A Pending JPS5942625A (ja) 1982-08-31 1982-08-31 磁気ヘツドの検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5942625A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0645760A2 (en) * 1993-09-29 1995-03-29 International Business Machines Corporation Magnetic reinitialization of thin film magnetoresistive reproducing heads at the suspension level of media drive manufacturing
US5532586A (en) * 1992-02-18 1996-07-02 Fujitsu Limited Method and apparatus for detecting magnetic disk defects using a complete disk erasure magnet

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5532586A (en) * 1992-02-18 1996-07-02 Fujitsu Limited Method and apparatus for detecting magnetic disk defects using a complete disk erasure magnet
EP0645760A2 (en) * 1993-09-29 1995-03-29 International Business Machines Corporation Magnetic reinitialization of thin film magnetoresistive reproducing heads at the suspension level of media drive manufacturing
EP0645760A3 (en) * 1993-09-29 1996-07-24 Ibm Magnetic self-resetting of thin film magnetoresistive playback heads at suspension step of media drive manufacturing.
US5617289A (en) * 1993-09-29 1997-04-01 International Business Machines Corporation Magnetic reinitialization of thin film magnetoresistive reproducing heads at the suspension level of media drive manufacturing
US5664319A (en) * 1993-09-29 1997-09-09 International Business Machines Corporation Magnetic reinitialization of thin film magnetoresistive reproducing heads at the suspension level of media drive manufacturing
US5783981A (en) * 1993-09-29 1998-07-21 International Business Machines Corporation Magnetic reinitialization of thin film magnetoresistive reproducing heads at the suspension level of media drive manufacturing

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4881136A (en) Method and apparatus for detecting minute defects on magnetic disk by monitoring both amplitude decrease and phase shift of a reproduced signal
EP0326756A1 (en) Method and apparatus for detecting abnormal operation of moving storage apparatus
US6696832B2 (en) Method and apparatus for testing transducer heads in magnetic storage systems
KR100370462B1 (ko) 디스크 드라이브에서 감소된 헤드 파퓰레이션 검색
US6058335A (en) Automated technique for manufacturing hard disk drive
JPS5942625A (ja) 磁気ヘツドの検査方法
JPS6280867A (ja) 情報記録再生装置
JPH0355796B2 (ja)
US6104188A (en) Surface analysis test defect detector for direct access storage device
JPH0354703A (ja) データ記録再生装置の自己診断方式
JPWO2005001817A1 (ja) ディスクドライブ装置、サーボ制御回路、記録媒体の製造方法、磁気記録媒体および媒体の検査方法
JPS5979408A (ja) 固定型磁気デイスク装置
JP3137140B2 (ja) 磁気ディスク検査システム
US20080158705A1 (en) Write head tester
JPH0198101A (ja) 磁気記録媒体の検査方法
JPH0660561A (ja) 磁気ディスク装置の検査方式
JPH0713052Y2 (ja) ディスク型記録媒体テスタ
KR100734292B1 (ko) 하드디스크 드라이브의 헤드 검사 방법 및 이에 적합한하드디스크 드라이브
JPS62192976A (ja) デイスク記録検査方式
JP2511723B2 (ja) 磁気ディスク装置におけるデ―タ破壊難易度の試験方法
JPH0721698A (ja) フレキシブルディスクのサーティファイ方法
KR100498420B1 (ko) 하드 디스크 드라이브의 성능 테스트 방법
JPH0963051A (ja) 磁気ディスク検査方法及び検査装置
JPS6070502A (ja) 磁気ディスク装置
JPS6028083A (ja) デイスク記憶装置におけるオフトラツク検出方法