JP3137140B2 - 磁気ディスク検査システム - Google Patents
磁気ディスク検査システムInfo
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- JP3137140B2 JP3137140B2 JP04059665A JP5966592A JP3137140B2 JP 3137140 B2 JP3137140 B2 JP 3137140B2 JP 04059665 A JP04059665 A JP 04059665A JP 5966592 A JP5966592 A JP 5966592A JP 3137140 B2 JP3137140 B2 JP 3137140B2
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- magnetic disk
- disk
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、磁気ディスクの検査
システムに関し、磁気ディスクに対するグライドテスタ
ーとサーティファイヤを、総合的に良好なスループット
とコストパホーマンスとするためのシステム構成に関す
るものである。
システムに関し、磁気ディスクに対するグライドテスタ
ーとサーティファイヤを、総合的に良好なスループット
とコストパホーマンスとするためのシステム構成に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】磁気ディスク（以下単にディスクとい
う）は製造過程で各種の検査がなされる。検査項目の代
表的なものとしては、ディスクの表面が研磨されたあ
と、表面に残存する突起などに対するグライドテスト
（以下Ｇ検査と略記）と、記録媒体の記録特性を電気的
に検査するサーティファイテスト（以下Ｃ検査と略記）
とがある。多数のディスクを効率的に検査するために、
両検査は流れ作業により順次になされる。以下図３によ
り従来の検査システムと検査手順を説明する。図３にお
いて２はグライドテスター、３はサーティファイヤを示
し、それぞれはスピンドル機構２a,３a 、磁気ヘッド２
b,３b 、キャリッジ機構２c,３c 、およびＧ測定回路２
d,Ｃ測定回路３d を有する独立した単体で、両者はハン
ドリング機構（図示しない）により単純に結合されて検
査システムが構成されている。検査においては、適当な
場所に置かれている未検査のディスク１が、図示しない
ハンドリング機構によりグライドテスター２の位置に搬
送され、そのスピンドル機構２a に装着されて回転す
る。これに対してキャリッジ機構２c によりヘッド２b
がローディングされ、表面に残留した突起がヘッドによ
り検出され、検出信号がＧ測定回路２d に入力してＧ検
査される。これが終了すると、ディスク１はハンドリン
グ機構によりサーティファイヤ３に搬送され、そのスピ
ンドル機構３a に装着されて回転し、キャリッジ機構３
c によりヘッド３b がローディングされ、Ｃ測定回路３
d よりのテストデータがヘッド３b により書込み／読出
されてＣ検査がなされる。
う）は製造過程で各種の検査がなされる。検査項目の代
表的なものとしては、ディスクの表面が研磨されたあ
と、表面に残存する突起などに対するグライドテスト
（以下Ｇ検査と略記）と、記録媒体の記録特性を電気的
に検査するサーティファイテスト（以下Ｃ検査と略記）
とがある。多数のディスクを効率的に検査するために、
両検査は流れ作業により順次になされる。以下図３によ
り従来の検査システムと検査手順を説明する。図３にお
いて２はグライドテスター、３はサーティファイヤを示
し、それぞれはスピンドル機構２a,３a 、磁気ヘッド２
b,３b 、キャリッジ機構２c,３c 、およびＧ測定回路２
d,Ｃ測定回路３d を有する独立した単体で、両者はハン
ドリング機構（図示しない）により単純に結合されて検
査システムが構成されている。検査においては、適当な
場所に置かれている未検査のディスク１が、図示しない
ハンドリング機構によりグライドテスター２の位置に搬
送され、そのスピンドル機構２a に装着されて回転す
る。これに対してキャリッジ機構２c によりヘッド２b
がローディングされ、表面に残留した突起がヘッドによ
り検出され、検出信号がＧ測定回路２d に入力してＧ検
査される。これが終了すると、ディスク１はハンドリン
グ機構によりサーティファイヤ３に搬送され、そのスピ
ンドル機構３a に装着されて回転し、キャリッジ機構３
c によりヘッド３b がローディングされ、Ｃ測定回路３
d よりのテストデータがヘッド３b により書込み／読出
されてＣ検査がなされる。
【０００３】以上のいわばシリアルな検査手順において
は、Ｇ検査とＣ検査の所要時間がほぼ等しいときは、そ
れぞれの検査には待ち時間がないので、検査そのものは
効率的である。ただし、各テスター２と３に対するディ
スク１の装着替えのための待ち時間が必要であり、これ
がスループットを低下する要因である。以上の装着替え
の待ち時間を省略してスループットを向上する方法とし
て、１台のスピンドル機構を両検査に共用する考えがあ
る。図４においては、スピンドル機構２a を共通使用
し、これに対してガイドレール４b に沿って移動する移
動台４a を設け、これにＧ検査に対するキャリッジ機構
２c とＣ検査に対するキャリッジ機構３c とを固定す
る。移動台４a によりヘッド２b を測定位置ｐに移動し
てＧ測定回路２d によりＧ測定を行い、これが終了後、
ヘッド３b を測定点ｐに移動してＣ測定を行う。これに
よりディスク１の着脱はスピンドル機構２a に対するた
だの１回で済むために、前記の装着替えの待ち時間が発
生せず、その分スループット時間が短縮される。しかし
ながらこの場合は、Ｇ検査中はＣ測定回路３d が遊び、
Ｃ検査中はＧ測定回路２d が遊び、これらの遊び時間の
ためにシステム全体のコストパホーマンスは良好でな
い。また、この場合は、前記の図３に比較してスループ
ット時間は長くなるなどの欠点がある。
は、Ｇ検査とＣ検査の所要時間がほぼ等しいときは、そ
れぞれの検査には待ち時間がないので、検査そのものは
効率的である。ただし、各テスター２と３に対するディ
スク１の装着替えのための待ち時間が必要であり、これ
がスループットを低下する要因である。以上の装着替え
の待ち時間を省略してスループットを向上する方法とし
て、１台のスピンドル機構を両検査に共用する考えがあ
る。図４においては、スピンドル機構２a を共通使用
し、これに対してガイドレール４b に沿って移動する移
動台４a を設け、これにＧ検査に対するキャリッジ機構
２c とＣ検査に対するキャリッジ機構３c とを固定す
る。移動台４a によりヘッド２b を測定位置ｐに移動し
てＧ測定回路２d によりＧ測定を行い、これが終了後、
ヘッド３b を測定点ｐに移動してＣ測定を行う。これに
よりディスク１の着脱はスピンドル機構２a に対するた
だの１回で済むために、前記の装着替えの待ち時間が発
生せず、その分スループット時間が短縮される。しかし
ながらこの場合は、Ｇ検査中はＣ測定回路３d が遊び、
Ｃ検査中はＧ測定回路２d が遊び、これらの遊び時間の
ためにシステム全体のコストパホーマンスは良好でな
い。また、この場合は、前記の図３に比較してスループ
ット時間は長くなるなどの欠点がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】再び図３のシステムに
おいて、上記はＧ検査とＣ検査の所要時間がほぼ等しい
と仮定したが、実際ではＧ検査よりＣ検査の方が所要時
間が長く、Ｇ検査はディスクごとにかなりな時間差があ
るが、平均するとＣ検査の凡そ２分の１である。このた
め、Ｇ検査中は早く終了するのでＣ検査の終了までの待
ち時間が発生し、この待ち時間中はＧ測定回路２d のみ
でなく、これに関係するキャリッジ機構２c とヘッド２
b に遊びが生ずる。このような検査時間差を考慮し、デ
ィスクの着脱に対する待ち時間と、測定回路の遊び時間
が生じない最適のシステムを構成し、スループットとコ
ストパホーマンスとをともに向上することが望ましい。
この発明は上記に鑑みてなされたもので、スループット
とコストパホーマンスとがともに良好な磁気ディスク検
査システムを提供することを目的とするものである。
おいて、上記はＧ検査とＣ検査の所要時間がほぼ等しい
と仮定したが、実際ではＧ検査よりＣ検査の方が所要時
間が長く、Ｇ検査はディスクごとにかなりな時間差があ
るが、平均するとＣ検査の凡そ２分の１である。このた
め、Ｇ検査中は早く終了するのでＣ検査の終了までの待
ち時間が発生し、この待ち時間中はＧ測定回路２d のみ
でなく、これに関係するキャリッジ機構２c とヘッド２
b に遊びが生ずる。このような検査時間差を考慮し、デ
ィスクの着脱に対する待ち時間と、測定回路の遊び時間
が生じない最適のシステムを構成し、スループットとコ
ストパホーマンスとをともに向上することが望ましい。
この発明は上記に鑑みてなされたもので、スループット
とコストパホーマンスとがともに良好な磁気ディスク検
査システムを提供することを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の目的
を達成する磁気ディスク検査システムであって、上記の
グライドテスターと、サーティファイヤにおいて、移動
台に一定間隔に配設され、移動機構によりともに移動す
る２台のスピンドル機構と、移動台の移動範囲の中心位
置に、上記Ｃ検査に対するキャリッジ機構および磁気ヘ
ッドの１組を設け、中心位置の両側に上記の一定間隔を
なして、Ｇ検査に対するキャリッジ機構および磁気ヘッ
ドの２組を配設する。また、Ｇ検査に対する２個の磁気
ヘッドに対して１組の共通測定回路を設ける。中心位置
の両側において２台のスピンドル機構に対するディスク
の着脱を交互に行い、移動台の往復移動により、中心位
置に停止したディスクに対するＣ検査を行うとともに、
中心位置の両側に交互に停止したディスクに対して、ス
イッチによる共通測定回路の切り替えにより、Ｇ検査を
並行して行うものである。
を達成する磁気ディスク検査システムであって、上記の
グライドテスターと、サーティファイヤにおいて、移動
台に一定間隔に配設され、移動機構によりともに移動す
る２台のスピンドル機構と、移動台の移動範囲の中心位
置に、上記Ｃ検査に対するキャリッジ機構および磁気ヘ
ッドの１組を設け、中心位置の両側に上記の一定間隔を
なして、Ｇ検査に対するキャリッジ機構および磁気ヘッ
ドの２組を配設する。また、Ｇ検査に対する２個の磁気
ヘッドに対して１組の共通測定回路を設ける。中心位置
の両側において２台のスピンドル機構に対するディスク
の着脱を交互に行い、移動台の往復移動により、中心位
置に停止したディスクに対するＣ検査を行うとともに、
中心位置の両側に交互に停止したディスクに対して、ス
イッチによる共通測定回路の切り替えにより、Ｇ検査を
並行して行うものである。
【０００６】
【作用】上記の検査システムにおいて、１枚のディスク
の検査に着目すると、このディスクはスピンドル機構に
対する装着替えを行うことなくＧ検査とＣ検査がなされ
るので、装着替えのための待ち時間が発生しない。さら
に、Ｃ検査に比較して凡そ２分の１の検査時間のＧ検査
は、２台のスピンドル機構にディスクをそれぞれ装着
し、スイッチによる共通測定回路の切り替えにより交互
になされるので、検査のスループットが従来より向上す
るとともに、Ｇ検査に対して１組の共通測定回路が共通
使用されるので、その分システムのコストパホーマンス
が改善される。
の検査に着目すると、このディスクはスピンドル機構に
対する装着替えを行うことなくＧ検査とＣ検査がなされ
るので、装着替えのための待ち時間が発生しない。さら
に、Ｃ検査に比較して凡そ２分の１の検査時間のＧ検査
は、２台のスピンドル機構にディスクをそれぞれ装着
し、スイッチによる共通測定回路の切り替えにより交互
になされるので、検査のスループットが従来より向上す
るとともに、Ｇ検査に対して１組の共通測定回路が共通
使用されるので、その分システムのコストパホーマンス
が改善される。
【０００７】
【実施例】図１はこの発明の一実施例を示す。検査シス
テム５は、移動機構51により移動する移動台52を設け、
これに２台のスピンドル機構531,532 を一定間隔Ｄに配
設する。移動台52の移動範囲の中心位置をＥとし、Ｅに
対応した位置にＧ検査用のヘッド54とキャリッジ機構55
を設け、その両側の一定間隔Ｄの位置Ｆ，ＨにＧ検査用
として、ヘッド56a,56b とキャリッジ機構57a,57b の２
組を配設する。Ｃ検査用のヘッド54はＣ測定回路３d
に、Ｇ検査用のヘッド56a,56b はスイッチ58を経て共通
のＧ測定回路２d にそれぞれ接続される。Ｃ測定回路３
d とＧ測定回路２d は制御回路59に接続され、Ｃ検査と
Ｇ検査の終了時点で各測定回路より終了信号を出力して
制御回路59に与え、これにより移動機構51に対する移動
制御と、スイッチ58に対する切り替え制御を行う。
テム５は、移動機構51により移動する移動台52を設け、
これに２台のスピンドル機構531,532 を一定間隔Ｄに配
設する。移動台52の移動範囲の中心位置をＥとし、Ｅに
対応した位置にＧ検査用のヘッド54とキャリッジ機構55
を設け、その両側の一定間隔Ｄの位置Ｆ，ＨにＧ検査用
として、ヘッド56a,56b とキャリッジ機構57a,57b の２
組を配設する。Ｃ検査用のヘッド54はＣ測定回路３d
に、Ｇ検査用のヘッド56a,56b はスイッチ58を経て共通
のＧ測定回路２d にそれぞれ接続される。Ｃ測定回路３
d とＧ測定回路２d は制御回路59に接続され、Ｃ検査と
Ｇ検査の終了時点で各測定回路より終了信号を出力して
制御回路59に与え、これにより移動機構51に対する移動
制御と、スイッチ58に対する切り替え制御を行う。
【０００８】図２は上記の検査システムによるディスク
の検査手順を説明するもので、まずステップＳ1 におい
て、移動台52を右側に移動し、スピンドル531 を位置Ｆ
で停止してディスク１-1を装着する。これに対してＧ検
査用のヘッド56a をキャリッジ機構57a によりローディ
ングしてＧ測定を行い、測定データはスイッチ58を経て
Ｇ測定回路２d に入力してＧ検査がなされる。これが終
了すると、Ｇ測定回路２d より終了信号が出力されて制
御回路59に与えられ、その制御により移動機構51が図示
点線の位置に移動してステップはＳ2 に移行し、スイッ
チ58が切り替えられる。ステップＳ2 において、位置Ｅ
に停止したディスク１-1に対してＣ検査用のヘッド54が
キャリッジ機構55によりローディングされてＣ測定がな
され、測定データはＣ測定回路３d に入力してＣ検査が
なされる。一方、位置Ｈに停止したスピンドル532 に対
してディスク１-2が装着され、ヘッド56b がキャリッジ
機構57b によりローディングされて上記と同様にＧ検査
がなされる。これらのＣ検査とＧ検査のうちの遅く終了
した方の終了信号により、ステップはＳ3 に移行し、デ
ィスク１-2に対するＣ検査がなされるとともに、ディス
ク１-1はスピンドル531 より脱去されて代わりにディス
ク１-3が装着されてＧ検査とＣ検査がなされる、ディス
クは両スピンドルに対して逐次に着脱され、各ディスク
に対して上記の手順が繰り返されて両検査が継続され
る。
の検査手順を説明するもので、まずステップＳ1 におい
て、移動台52を右側に移動し、スピンドル531 を位置Ｆ
で停止してディスク１-1を装着する。これに対してＧ検
査用のヘッド56a をキャリッジ機構57a によりローディ
ングしてＧ測定を行い、測定データはスイッチ58を経て
Ｇ測定回路２d に入力してＧ検査がなされる。これが終
了すると、Ｇ測定回路２d より終了信号が出力されて制
御回路59に与えられ、その制御により移動機構51が図示
点線の位置に移動してステップはＳ2 に移行し、スイッ
チ58が切り替えられる。ステップＳ2 において、位置Ｅ
に停止したディスク１-1に対してＣ検査用のヘッド54が
キャリッジ機構55によりローディングされてＣ測定がな
され、測定データはＣ測定回路３d に入力してＣ検査が
なされる。一方、位置Ｈに停止したスピンドル532 に対
してディスク１-2が装着され、ヘッド56b がキャリッジ
機構57b によりローディングされて上記と同様にＧ検査
がなされる。これらのＣ検査とＧ検査のうちの遅く終了
した方の終了信号により、ステップはＳ3 に移行し、デ
ィスク１-2に対するＣ検査がなされるとともに、ディス
ク１-1はスピンドル531 より脱去されて代わりにディス
ク１-3が装着されてＧ検査とＣ検査がなされる、ディス
クは両スピンドルに対して逐次に着脱され、各ディスク
に対して上記の手順が繰り返されて両検査が継続され
る。
【０００９】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による磁
気ディスク検査システムにおいては、被検査のディスク
は、スピンドル機構に対する装着替えを行うことなくＧ
検査とＣ検査がなされるので、装着替えの待ち時間が発
生せず、またＣ検査に比較して凡そ２分の１の検査時間
のＧ検査は、２台のスピンドル機構にディスクをそれぞ
れ装着して２箇所で交互になされるので、従来の方式に
比較して検査のスループットが向上し、Ｇ検査に対して
１組の共通測定回路を使用するので、その分システムの
コストパホーマンスが改善されるものである。
気ディスク検査システムにおいては、被検査のディスク
は、スピンドル機構に対する装着替えを行うことなくＧ
検査とＣ検査がなされるので、装着替えの待ち時間が発
生せず、またＣ検査に比較して凡そ２分の１の検査時間
のＧ検査は、２台のスピンドル機構にディスクをそれぞ
れ装着して２箇所で交互になされるので、従来の方式に
比較して検査のスループットが向上し、Ｇ検査に対して
１組の共通測定回路を使用するので、その分システムの
コストパホーマンスが改善されるものである。
【図１】 この発明の一実施例におけるシステム構成を
示す。
示す。
【図２】 図１のシステム構成に対する磁気ディスクの
検査手順の説明図である。
検査手順の説明図である。
【図３】 グライドテスターとサーティファイヤとをハ
ンドリング機構により単純に結合した従来の検査システ
ムの構成図である。
ンドリング機構により単純に結合した従来の検査システ
ムの構成図である。
【図４】 スピンドル機構を共用した検査システムの構
成図である。
成図である。
１，１-1, １-2, １-3, １-4…磁気ディスク、ディス
ク、２…グライドテスター、３…サーティファイヤ、２
a,３a …スピンドル機構、２b,３b …磁気ヘッド、ヘッ
ド、２c,３c …キャリッジ機構、２d …Ｇ測定回路、３
d …Ｃ測定回路、４a …移動台、４b …ガイドレール、
５…この発明の磁気ディスク検査システム、51…移動機
構、52…移動台、531,532 …スピンドル機構、54…Ｃ検
査用ヘッド、55…キャリッジ機構、56a,56b …Ｇ検査用
ヘッド、57a,57b …キャリッジ機構、58…スイッチ、59
…制御回路。
ク、２…グライドテスター、３…サーティファイヤ、２
a,３a …スピンドル機構、２b,３b …磁気ヘッド、ヘッ
ド、２c,３c …キャリッジ機構、２d …Ｇ測定回路、３
d …Ｃ測定回路、４a …移動台、４b …ガイドレール、
５…この発明の磁気ディスク検査システム、51…移動機
構、52…移動台、531,532 …スピンドル機構、54…Ｃ検
査用ヘッド、55…キャリッジ機構、56a,56b …Ｇ検査用
ヘッド、57a,57b …キャリッジ機構、58…スイッチ、59
…制御回路。
Claims (1)
- 【請求項１】 磁気ディスクを装着して回転するスピン
ドル機構と、該磁気ディスクに対して磁気ヘッドをロー
ディングするキャリッジ機構、および測定回路とをそれ
ぞれ具備するグライドテスターと、サーティファイヤに
おいて、移動台に一定間隔に配設され、移動機構により
ともに移動する２台のスピンドル機構と、該移動台の移
動範囲の中心位置に、前記サーティファイヤに対する前
記キャリッジ機構および磁気ヘッドの１組を設け、該中
心位置の両側に前記一定間隔をなして、前記グライドテ
スターに対する前記キャリッジ機構および磁気ヘッドの
２組を配設し、かつ、該グライドテスターに対する２個
の磁気ヘッドに対して１組の共通測定回路を設け、前記
中心位置の両側において２台のスピンドル機構に対する
磁気ディスクの着脱を交互に行い、前記移動台の往復移
動により、前記中心位置に停止した磁気ディスクに対す
る前記サーティファイテストを行うとともに、前記中心
位置の両側に交互に停止した磁気ディスクに対して、ス
イッチによる前記共通測定回路の切り替えにより、前記
グライドテストを並行して行うことを特徴とする、磁気
ディスク検査システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04059665A JP3137140B2 (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 磁気ディスク検査システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04059665A JP3137140B2 (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 磁気ディスク検査システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05225563A JPH05225563A (ja) | 1993-09-03 |
| JP3137140B2 true JP3137140B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=13119723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04059665A Expired - Fee Related JP3137140B2 (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 磁気ディスク検査システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3137140B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014199695A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 磁気ディスク検査方法及びその装置 |
-
1992
- 1992-02-14 JP JP04059665A patent/JP3137140B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05225563A (ja) | 1993-09-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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