JPS63288414A - 磁気ヘッド試験方式 - Google Patents
磁気ヘッド試験方式Info
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- JPS63288414A JPS63288414A JP12121687A JP12121687A JPS63288414A JP S63288414 A JPS63288414 A JP S63288414A JP 12121687 A JP12121687 A JP 12121687A JP 12121687 A JP12121687 A JP 12121687A JP S63288414 A JPS63288414 A JP S63288414A
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- JP
- Japan
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- magnetic flux
- magnetic head
- glass disk
- floating
- wiring pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 30
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
Landscapes
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気ヘッドの試験方式に係り、ガラスディス
クに形成された配線パターンから発生する漏れ磁束を用
いて、磁気ヘッドのエレキ特性を検査する磁気ヘッド試
験方式に関する。
クに形成された配線パターンから発生する漏れ磁束を用
いて、磁気ヘッドのエレキ特性を検査する磁気ヘッド試
験方式に関する。
従来、磁気ヘッド検査方式としては、被検査磁気ヘッド
のギャップに対し、所定間隔を隔てマスターヘッドのギ
ャップを対向させて位置決めしておき、該マスターヘッ
ドにより誘起された磁束を検出し、被検査磁気ヘッドの
各特性（分解能、断線等）を検査しようとするものが知
られている（特開昭６１−７３２２１号公報参照）。こ
の従来の磁気ヘッド検査方式の構成を第３図に示す。こ
こで、ａは被検査磁気ヘッドとマスターヘッドの間隔で
ある。第３図において、ヘッド試験器３２には、ライト
アンプ３１を通しマスターヘッド３４が接続され、また
、リードアンプ３０を通し被検査磁気ヘッド３３がマス
ターヘッド３４に近接して接続している。そして、マス
ターヘッド３４にはライト電流を流すことにより、ギャ
ップ３５に漏れ磁束３７が発生し、この漏れ磁束３７を
被検査磁気ヘッド３３のギャップ３６で検出し、リード
アンプ３０で増幅する。すなわち、マスターヘッド３４
が発生する漏れ磁束３７を被検査磁気ヘッド３３で再生
することにより、該ヘッドの分解能や断線等を検査する
ことができる。しかし、この方式においては、漏れ磁束
３７を発生するマスターヘッド３４と被検査磁気ヘッド
３３の微妙な距離関係の考慮がなされておらず、断線検
出程度が検査機能の限界となっていた。
のギャップに対し、所定間隔を隔てマスターヘッドのギ
ャップを対向させて位置決めしておき、該マスターヘッ
ドにより誘起された磁束を検出し、被検査磁気ヘッドの
各特性（分解能、断線等）を検査しようとするものが知
られている（特開昭６１−７３２２１号公報参照）。こ
の従来の磁気ヘッド検査方式の構成を第３図に示す。こ
こで、ａは被検査磁気ヘッドとマスターヘッドの間隔で
ある。第３図において、ヘッド試験器３２には、ライト
アンプ３１を通しマスターヘッド３４が接続され、また
、リードアンプ３０を通し被検査磁気ヘッド３３がマス
ターヘッド３４に近接して接続している。そして、マス
ターヘッド３４にはライト電流を流すことにより、ギャ
ップ３５に漏れ磁束３７が発生し、この漏れ磁束３７を
被検査磁気ヘッド３３のギャップ３６で検出し、リード
アンプ３０で増幅する。すなわち、マスターヘッド３４
が発生する漏れ磁束３７を被検査磁気ヘッド３３で再生
することにより、該ヘッドの分解能や断線等を検査する
ことができる。しかし、この方式においては、漏れ磁束
３７を発生するマスターヘッド３４と被検査磁気ヘッド
３３の微妙な距離関係の考慮がなされておらず、断線検
出程度が検査機能の限界となっていた。
上記従来技術では、相互ヘッドの相対距離（５ｍ）が実
際に磁束媒体上で記録再生する際の浮上量（０，２ｔ１
Ｍ）と大幅（２万５千倍）に異なるため、磁気ヘッドの
記録再生特性を決定するギヤツブ部以外、例えば、巻線
コイル、磁気回路側面部で磁束検出が行われ、磁気ヘッ
ドの本来の特性が検査できないという問題があった。
際に磁束媒体上で記録再生する際の浮上量（０，２ｔ１
Ｍ）と大幅（２万５千倍）に異なるため、磁気ヘッドの
記録再生特性を決定するギヤツブ部以外、例えば、巻線
コイル、磁気回路側面部で磁束検出が行われ、磁気ヘッ
ドの本来の特性が検査できないという問題があった。
本発明の目的は、このような従来の問題を解決し、磁気
ヘッドの検査項目である浮上検査およびエレキ検査を同
時に行える磁気ヘッド試験方式を提供することにある。
ヘッドの検査項目である浮上検査およびエレキ検査を同
時に行える磁気ヘッド試験方式を提供することにある。
上記問題点を解決するため、本発明では、ガラスディス
クを用いて磁気ヘッドを検査する方式において、前記ガ
ラスディスクに磁束励磁用の配線パターンを施しておき
、該配線パターンから発生する漏れ磁束を用いて、前記
磁気ヘッドの浮上検査と同時にエレキ特性検査を行うこ
とに特徴がある。
クを用いて磁気ヘッドを検査する方式において、前記ガ
ラスディスクに磁束励磁用の配線パターンを施しておき
、該配線パターンから発生する漏れ磁束を用いて、前記
磁気ヘッドの浮上検査と同時にエレキ特性検査を行うこ
とに特徴がある。
本発明においては、浮上測定用ガラスディスクに設けら
れた配線パターンから発生する漏れ磁束を被検査磁気ヘ
ッドが浮上状態において再生検出することにより、磁気
ヘッドの再生特性を浮上特性と同時に検査することが可
能となる。
れた配線パターンから発生する漏れ磁束を被検査磁気ヘ
ッドが浮上状態において再生検出することにより、磁気
ヘッドの再生特性を浮上特性と同時に検査することが可
能となる。
以下、本発明の一実施例を、図面により詳細に説明する
。
。
第１図は、本発明の一実施例を示す磁気ヘッド試験方式
の全体構成図である。
の全体構成図である。
第１図において、１は浮上測定およびエレキ特性を検査
するためのガラスディスク、２はガラスディスク１に施
した磁束励磁用の配線パターン。
するためのガラスディスク、２はガラスディスク１に施
した磁束励磁用の配線パターン。
３は浮上状態において磁束の再生検出を行うコアスライ
ダ、４はコアスライダ３を保持する支持バネ、５はコア
スライダ３の出力を受けて磁気ヘッドのエレキ特性を評
価するエレキ特性評価装置、６は配線パターン２に磁束
を発生させる磁束発生装置、７はヘッド浮上量を検出す
る光学系、８は光学系７により検出された値からヘッド
浮上量測定を行う浮上測定装置、９はガラスディスク１
を回転させるスピンドル、１０は漏れ磁束である。
ダ、４はコアスライダ３を保持する支持バネ、５はコア
スライダ３の出力を受けて磁気ヘッドのエレキ特性を評
価するエレキ特性評価装置、６は配線パターン２に磁束
を発生させる磁束発生装置、７はヘッド浮上量を検出す
る光学系、８は光学系７により検出された値からヘッド
浮上量測定を行う浮上測定装置、９はガラスディスク１
を回転させるスピンドル、１０は漏れ磁束である。
第２図は、第１図のエレキ試験部の構成図である。
第２図において、ガラスディスク１には磁束励磁用の配
線パターン２が設けられており、その配線パターン２は
磁束発生装置６に接続されている。
線パターン２が設けられており、その配線パターン２は
磁束発生装置６に接続されている。
ガラスディスク１にロードされたコアスライダ３は支持
バネ４によって保持され、エレキ特性評価袋［ｉ１５に
接続されている。そして、このエレキ特性評価装置５と
磁束発生装置６は接続された構成となっている。
バネ４によって保持され、エレキ特性評価袋［ｉ１５に
接続されている。そして、このエレキ特性評価装置５と
磁束発生装置６は接続された構成となっている。
以下、第１図および第２図により本実施例の動作を説明
する。
する。
スピンドル９によって、駆動されたガラスディスクｌに
は支持バネ４によって保持されたコアスライダ３が浮上
状態を保っている。そして、光学系７はガラスディスク
１を透過して、コアスライダ３とガラスディスク１の微
小間隔を干渉縞によって検出し、浮上測定装置８にその
データを伝送することで浮上検査が完了する。それと同
時に。
は支持バネ４によって保持されたコアスライダ３が浮上
状態を保っている。そして、光学系７はガラスディスク
１を透過して、コアスライダ３とガラスディスク１の微
小間隔を干渉縞によって検出し、浮上測定装置８にその
データを伝送することで浮上検査が完了する。それと同
時に。
エレキ特性評価装置５から指令を受けた磁束発生装置６
は、ガラスディスク内の配線パターンに所定の信号すを
印加して、配線パターンの周囲に漏れ磁束１０を発生さ
せる。次に、この漏れ磁束１゜を再生検出したコアスラ
イダ３は、エレキ特性評価装置５にその出力を伝送する
。さらに、エレキ特性評価装置５に入力された出力は、
装置内の特性判定機能によってレベル判定され、エレキ
特性検査を完了させる。ただし、このエレキ特性評価装
置５には、あらかじめ良否を判定するマスターベッドの
再生検出レベルを判定基準として設定しておく必要があ
る。
は、ガラスディスク内の配線パターンに所定の信号すを
印加して、配線パターンの周囲に漏れ磁束１０を発生さ
せる。次に、この漏れ磁束１゜を再生検出したコアスラ
イダ３は、エレキ特性評価装置５にその出力を伝送する
。さらに、エレキ特性評価装置５に入力された出力は、
装置内の特性判定機能によってレベル判定され、エレキ
特性検査を完了させる。ただし、このエレキ特性評価装
置５には、あらかじめ良否を判定するマスターベッドの
再生検出レベルを判定基準として設定しておく必要があ
る。
このように、本実施例においては、磁性媒体を使わない
ので、被検査磁気ヘッドを浮上開始時に接触することな
く検査することができる。また、浮上検査とエレキ特性
検査が同一ディスク上で同時に検査できるため、検査作
業の筐略化を図ることができる。
ので、被検査磁気ヘッドを浮上開始時に接触することな
く検査することができる。また、浮上検査とエレキ特性
検査が同一ディスク上で同時に検査できるため、検査作
業の筐略化を図ることができる。
以上説明したように、本発明によれば、被検査磁気ヘッ
ドを浮上検査と同時にエレキ特性検査が行えるため、検
査作業工数の低減が図れる。また、浮上検査をベースに
行うため、磁性媒体間でのコンタクト、スタート／スト
ップも無く、ヘッドの損傷および測定用マスターディス
クの特性劣化を考慮しなくてよいメリットがある。
ドを浮上検査と同時にエレキ特性検査が行えるため、検
査作業工数の低減が図れる。また、浮上検査をベースに
行うため、磁性媒体間でのコンタクト、スタート／スト
ップも無く、ヘッドの損傷および測定用マスターディス
クの特性劣化を考慮しなくてよいメリットがある。
第１図は本発明の一実施例を示す磁気ヘッド試験方式の
全体構成図、第２図は第１図のエレキ試験部の構成図、
第３図は従来の磁気ヘッド検査方式の構成図である。 １ニガラスデイスク、２：配線パターン、３：コアスラ
イダ、４：支持バネ、５：エレキ特性評価装置、６：磁
束発生装置、７：光学系、８：浮上測定装置、９ニスピ
ンドル、１０：漏れ磁束、３０：リードアンプ、３１ニ
ライトアンプ、３２：ヘッド試験器、３３：被検査磁気
ヘッド、３４：マスターヘッド、３５，３６：ギャップ
、３７：漏れ磁束。 第 １ 図 第 ２ 図
全体構成図、第２図は第１図のエレキ試験部の構成図、
第３図は従来の磁気ヘッド検査方式の構成図である。 １ニガラスデイスク、２：配線パターン、３：コアスラ
イダ、４：支持バネ、５：エレキ特性評価装置、６：磁
束発生装置、７：光学系、８：浮上測定装置、９ニスピ
ンドル、１０：漏れ磁束、３０：リードアンプ、３１ニ
ライトアンプ、３２：ヘッド試験器、３３：被検査磁気
ヘッド、３４：マスターヘッド、３５，３６：ギャップ
、３７：漏れ磁束。 第 １ 図 第 ２ 図
Claims (1)
- １、ガラスディスクを用いて磁気ヘッドを検査する方式
において、前記ガラスディスクに磁束励磁用の配線パタ
ーンを施しておき、該配線パターンから発生する漏れ磁
束を用いて、前記磁気ヘッドの浮上検査と同時にエレキ
特性検査を行うことを特徴とする磁気ヘッド試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12121687A JPS63288414A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 磁気ヘッド試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12121687A JPS63288414A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 磁気ヘッド試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63288414A true JPS63288414A (ja) | 1988-11-25 |
Family
ID=14805756
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12121687A Pending JPS63288414A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | 磁気ヘッド試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63288414A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009116121A1 (ja) * | 2008-03-17 | 2009-09-24 | 富士通株式会社 | 磁気ヘッドの試験方法および試験装置 |
-
1987
- 1987-05-20 JP JP12121687A patent/JPS63288414A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009116121A1 (ja) * | 2008-03-17 | 2009-09-24 | 富士通株式会社 | 磁気ヘッドの試験方法および試験装置 |
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