JP2002216326A - 磁気ヘッド試験装置 - Google Patents
磁気ヘッド試験装置Info
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- JP2002216326A JP2002216326A JP2001008145A JP2001008145A JP2002216326A JP 2002216326 A JP2002216326 A JP 2002216326A JP 2001008145 A JP2001008145 A JP 2001008145A JP 2001008145 A JP2001008145 A JP 2001008145A JP 2002216326 A JP2002216326 A JP 2002216326A
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- head
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- magnetic head
- magnetic field
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁気ヘッドの再生特性を正確に測定する試験
装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 磁場印加手段と、被試験ヘッドの位置を
設定する位置設定手段とを有する磁気ヘッドの再生特性
を測定する磁気ヘッド試験装置であって、磁場印加手段
は被試験磁気ヘッドの記録ヘッドと同一寸法の磁極を有
し、位置設定手段は被試験磁気ヘッドの再生ヘッドを磁
場印加手段の磁極と近接させ対向配置することを特徴と
する。
装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 磁場印加手段と、被試験ヘッドの位置を
設定する位置設定手段とを有する磁気ヘッドの再生特性
を測定する磁気ヘッド試験装置であって、磁場印加手段
は被試験磁気ヘッドの記録ヘッドと同一寸法の磁極を有
し、位置設定手段は被試験磁気ヘッドの再生ヘッドを磁
場印加手段の磁極と近接させ対向配置することを特徴と
する。
Description
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ヘッドの試験装
置に関し、特に、磁気ディスク装置等に使用する磁気ヘ
ッドの再生特性を正確に測定する磁気ヘッド試験装置に
関する。磁気ディスク装置の小型化に伴い、小型の磁気
ヘッドが要求されている。このため磁気ヘッドを構成す
る再生ヘッドは、従来のインダクティブヘッドに代わ
り、小型化が可能な磁気抵抗素子を用いたヘッドが提供
されている。従来のインダクティブヘッドの再生特性は
ほとんどコイルの巻数で決定されるが、磁気抵抗素子を
用いたヘッドの再生特性は磁気抵抗素子の寸法に依存す
る。このため磁気抵抗素子を用いた磁気ヘッドの再生特
性は製造寸法精度に依存し、インダクティブヘッドと比
較した場合、特性にバラツキが大きい。したがって、磁
気抵抗素子を用いた磁気ヘッドについては、個々の磁気
ヘッドの再生特性を把握する必要があり、正確な再生特
性測定が可能な磁気ヘッド試験装置が求められている。
置に関し、特に、磁気ディスク装置等に使用する磁気ヘ
ッドの再生特性を正確に測定する磁気ヘッド試験装置に
関する。磁気ディスク装置の小型化に伴い、小型の磁気
ヘッドが要求されている。このため磁気ヘッドを構成す
る再生ヘッドは、従来のインダクティブヘッドに代わ
り、小型化が可能な磁気抵抗素子を用いたヘッドが提供
されている。従来のインダクティブヘッドの再生特性は
ほとんどコイルの巻数で決定されるが、磁気抵抗素子を
用いたヘッドの再生特性は磁気抵抗素子の寸法に依存す
る。このため磁気抵抗素子を用いた磁気ヘッドの再生特
性は製造寸法精度に依存し、インダクティブヘッドと比
較した場合、特性にバラツキが大きい。したがって、磁
気抵抗素子を用いた磁気ヘッドについては、個々の磁気
ヘッドの再生特性を把握する必要があり、正確な再生特
性測定が可能な磁気ヘッド試験装置が求められている。
【従来の技術】従来から、磁気抵抗素子を用いた磁気ヘ
ッドの試験を実施するシステムの特許が開示されてい
る。例えば、USP5,517,111「AUTOMATIC TESTING SYSTEM
FOR MAGNETO-RESISITIVEHEADS 」においては、図７に
示すごとく、磁場印加手段９で磁場を発生し磁気ヘッド
１に印加し、磁気ヘッド１の再生出力を測定している。
しかし、動作状態における磁気ヘッド１近傍の磁場は強
力であり、かつ高い周波数成分を持つため、磁場印加手
段９のコイル２で磁気ヘッド１近傍に動作状態の磁場を
再現するためには、例えば数１００ボルトを発生する高
価なコイル駆動手段３１が必要となる。一方、磁気ヘッ
ド１を構成する磁気抵抗素子の近傍は、例えば図３に示
すごとく記録ヘッド１１と再生ヘッド１２とが強磁性体
のシールド６ではさまれた構造になっている。このた
め、磁気ヘッド１を巨視的には動作状態における磁場中
に置いても、強磁性体のシールド効果によって磁場は乱
され、再生ヘッド１２の磁気抵抗素子４近傍の磁場は動
作状態における磁場と一致するとは限らない。したがっ
て、上記の方法では磁気ヘッドの再生特性を正確に測定
していることにはならない。また、特開平7-230611「磁
気抵抗効果型磁気ヘッドのヘッド特性測定方法及びその
測定に用いるヘッド特性測定用磁気ヘッド」、特開平8-
030928「ヘッド特性測定用磁気ヘッド」においては、図
８に示すごとく、磁気ヘッドを搭載するウェハー、すな
わちサブストレート７上で磁気ヘッドの磁気抵抗素子４
の磁気特性試験が行えるように、サブストレート７上に
シールド６、コイル２、磁気コア３を形成し、磁気抵抗
素子４に磁場を印加する疑似ヘッド３０を形成してい
る。この発明において疑似ヘッド３０は、磁気ヘッド毎
に内部に形成される。したがって、磁気抵抗素子４で検
出されるのは、疑似ヘッド３０で発生した磁気ヘッド内
の磁場であり、実際の再生に用いられるヘッド先端部、
すなわち磁極近傍の磁場ではない。このように、この発
明では磁気抵抗素子４の動作確認は可能であるが、実際
の磁気ヘッドの再生特性を直接測定することにはならな
い。また、特開平7-249210「ＭＲヘッド試験方法」にお
いては、例えば図３に示す記録ヘッドのコイル２で書き
込みを行なうときに、図９に示すごとく、記録ヘッドの
磁極５から漏洩する磁場を再生ヘッドの磁気抵抗素子４
で検出する。しかし、記録ヘッドと再生ヘッドとの間に
は強磁性体のシールド６があるため漏洩する磁場はわず
かであり、かつバラツキがある。したがって、この試験
も磁気抵抗素子４の動作確認は可能であるが、磁気ヘッ
ドの再生特性を正確に測定することはできない。
ッドの試験を実施するシステムの特許が開示されてい
る。例えば、USP5,517,111「AUTOMATIC TESTING SYSTEM
FOR MAGNETO-RESISITIVEHEADS 」においては、図７に
示すごとく、磁場印加手段９で磁場を発生し磁気ヘッド
１に印加し、磁気ヘッド１の再生出力を測定している。
しかし、動作状態における磁気ヘッド１近傍の磁場は強
力であり、かつ高い周波数成分を持つため、磁場印加手
段９のコイル２で磁気ヘッド１近傍に動作状態の磁場を
再現するためには、例えば数１００ボルトを発生する高
価なコイル駆動手段３１が必要となる。一方、磁気ヘッ
ド１を構成する磁気抵抗素子の近傍は、例えば図３に示
すごとく記録ヘッド１１と再生ヘッド１２とが強磁性体
のシールド６ではさまれた構造になっている。このた
め、磁気ヘッド１を巨視的には動作状態における磁場中
に置いても、強磁性体のシールド効果によって磁場は乱
され、再生ヘッド１２の磁気抵抗素子４近傍の磁場は動
作状態における磁場と一致するとは限らない。したがっ
て、上記の方法では磁気ヘッドの再生特性を正確に測定
していることにはならない。また、特開平7-230611「磁
気抵抗効果型磁気ヘッドのヘッド特性測定方法及びその
測定に用いるヘッド特性測定用磁気ヘッド」、特開平8-
030928「ヘッド特性測定用磁気ヘッド」においては、図
８に示すごとく、磁気ヘッドを搭載するウェハー、すな
わちサブストレート７上で磁気ヘッドの磁気抵抗素子４
の磁気特性試験が行えるように、サブストレート７上に
シールド６、コイル２、磁気コア３を形成し、磁気抵抗
素子４に磁場を印加する疑似ヘッド３０を形成してい
る。この発明において疑似ヘッド３０は、磁気ヘッド毎
に内部に形成される。したがって、磁気抵抗素子４で検
出されるのは、疑似ヘッド３０で発生した磁気ヘッド内
の磁場であり、実際の再生に用いられるヘッド先端部、
すなわち磁極近傍の磁場ではない。このように、この発
明では磁気抵抗素子４の動作確認は可能であるが、実際
の磁気ヘッドの再生特性を直接測定することにはならな
い。また、特開平7-249210「ＭＲヘッド試験方法」にお
いては、例えば図３に示す記録ヘッドのコイル２で書き
込みを行なうときに、図９に示すごとく、記録ヘッドの
磁極５から漏洩する磁場を再生ヘッドの磁気抵抗素子４
で検出する。しかし、記録ヘッドと再生ヘッドとの間に
は強磁性体のシールド６があるため漏洩する磁場はわず
かであり、かつバラツキがある。したがって、この試験
も磁気抵抗素子４の動作確認は可能であるが、磁気ヘッ
ドの再生特性を正確に測定することはできない。
【発明が解決しようとする課題】本発明は、磁気ヘッド
の再生特性を正確に測定する試験装置を提供することを
目的とする。
の再生特性を正確に測定する試験装置を提供することを
目的とする。
【課題を解決するための手段】本発明は、磁場印加手段
と、被試験ヘッドの位置を設定する位置設定手段とを有
する磁気ヘッドの再生特性を測定する磁気ヘッド試験装
置であって、磁場印加手段は被試験磁気ヘッドの記録ヘ
ッドと同一寸法の磁極を有し、位置設定手段は被試験磁
気ヘッドの再生ヘッドを磁場印加手段と近接させ対向配
置することを特徴とする。なお、位置設定手段は、被試
験磁気ヘッドの再生ヘッドの先端を、磁場印加手段と対
向させ、かつ磁場印加手段の磁極との間隔を動作状態の
磁気ヘッドと記録媒体との間隔程度、ないし密着状態で
設定するものであれば良い。これにより、通常の磁気ヘ
ッド駆動回路、あるいはこれと同等の駆動回路で磁場印
加手段を駆動することで磁気ヘッドの動作状態における
局所的に強力で高い周波数成分を持つ磁場を発生し、被
試験磁気ヘッドの再生ヘッドに印加することが可能とな
る。すなわち、安価な試験装置で磁気ヘッドの動作状態
を再現し、磁気ヘッドの特性を正確に測定することが可
能になる。さらに、通常の磁気ヘッド駆動回路を試験用
磁場の発生に用いることで、動作状態の、高い周波数に
おける動的な特性試験も容易になる。また、磁場印加手
段の磁極寸法は、厳密に被試験磁気ヘッドと同一である
必要はなく、磁場印加手段と被試験磁気ヘッドとの相互
作用が、要求される試験精度の範囲内であれば概略同一
寸法でよい。
と、被試験ヘッドの位置を設定する位置設定手段とを有
する磁気ヘッドの再生特性を測定する磁気ヘッド試験装
置であって、磁場印加手段は被試験磁気ヘッドの記録ヘ
ッドと同一寸法の磁極を有し、位置設定手段は被試験磁
気ヘッドの再生ヘッドを磁場印加手段と近接させ対向配
置することを特徴とする。なお、位置設定手段は、被試
験磁気ヘッドの再生ヘッドの先端を、磁場印加手段と対
向させ、かつ磁場印加手段の磁極との間隔を動作状態の
磁気ヘッドと記録媒体との間隔程度、ないし密着状態で
設定するものであれば良い。これにより、通常の磁気ヘ
ッド駆動回路、あるいはこれと同等の駆動回路で磁場印
加手段を駆動することで磁気ヘッドの動作状態における
局所的に強力で高い周波数成分を持つ磁場を発生し、被
試験磁気ヘッドの再生ヘッドに印加することが可能とな
る。すなわち、安価な試験装置で磁気ヘッドの動作状態
を再現し、磁気ヘッドの特性を正確に測定することが可
能になる。さらに、通常の磁気ヘッド駆動回路を試験用
磁場の発生に用いることで、動作状態の、高い周波数に
おける動的な特性試験も容易になる。また、磁場印加手
段の磁極寸法は、厳密に被試験磁気ヘッドと同一である
必要はなく、磁場印加手段と被試験磁気ヘッドとの相互
作用が、要求される試験精度の範囲内であれば概略同一
寸法でよい。
【発明の実施の形態】図１は本発明の実施例１の磁気ヘ
ッド配置例を示し、図２は、本発明による磁気ヘッド試
験装置構成例を示す。磁場印加手段１０は、被試験磁気
ヘッド１、すなわち図３に示す磁気ヘッドの記録ヘッド
１１と概略同一の寸法の磁極５を有する。図３〜図５
は、それぞれ磁気抵抗素子を用いた磁気ヘッド例の側面
図、平面図、正面図を示す。磁場印加手段１０のコイル
２には、図示されていないコイル駆動手段により所定の
電流が流される。磁場印加手段１０の発生する磁場は被
試験磁気ヘッド１内の磁気抵抗素子４に印加され、磁気
抵抗素子４は、その抵抗値を変化させる。磁気抵抗素子
４の図示されていない端子間には通常の動作状態と同様
に一定の値の電流が流されており、該端子間に発生した
電位差が測定結果として出力される。図６は、本発明に
よる磁気ヘッド試験装置の実施例２の磁気ヘッド配置例
を示す。実施例２においては、製品として製造された被
試験磁気ヘッドから一つを抜き取り、特性を測定し、磁
場印加手段１０として用いる。また、磁場印加手段１０
のコイル駆動手段２１として、製品として製造された磁
気ヘッド駆動回路を用いることが可能である。これによ
り、磁気ヘッドに、実際の動作状態で入力する信号を試
験信号として印加することが可能となり、動的な特性試
験も含めて、特別な試験装置を用意することなく試験が
可能となる。また、被試験磁気ヘッドのコイル駆動手段
により被試験磁気ヘッド１のコイル２に電流を流し、磁
場印加手段１０の磁気抵抗素子４の抵抗値の変化を観測
することで、被試験磁気ヘッド１の記録ヘッド１１の試
験を行うことも可能となる。
ッド配置例を示し、図２は、本発明による磁気ヘッド試
験装置構成例を示す。磁場印加手段１０は、被試験磁気
ヘッド１、すなわち図３に示す磁気ヘッドの記録ヘッド
１１と概略同一の寸法の磁極５を有する。図３〜図５
は、それぞれ磁気抵抗素子を用いた磁気ヘッド例の側面
図、平面図、正面図を示す。磁場印加手段１０のコイル
２には、図示されていないコイル駆動手段により所定の
電流が流される。磁場印加手段１０の発生する磁場は被
試験磁気ヘッド１内の磁気抵抗素子４に印加され、磁気
抵抗素子４は、その抵抗値を変化させる。磁気抵抗素子
４の図示されていない端子間には通常の動作状態と同様
に一定の値の電流が流されており、該端子間に発生した
電位差が測定結果として出力される。図６は、本発明に
よる磁気ヘッド試験装置の実施例２の磁気ヘッド配置例
を示す。実施例２においては、製品として製造された被
試験磁気ヘッドから一つを抜き取り、特性を測定し、磁
場印加手段１０として用いる。また、磁場印加手段１０
のコイル駆動手段２１として、製品として製造された磁
気ヘッド駆動回路を用いることが可能である。これによ
り、磁気ヘッドに、実際の動作状態で入力する信号を試
験信号として印加することが可能となり、動的な特性試
験も含めて、特別な試験装置を用意することなく試験が
可能となる。また、被試験磁気ヘッドのコイル駆動手段
により被試験磁気ヘッド１のコイル２に電流を流し、磁
場印加手段１０の磁気抵抗素子４の抵抗値の変化を観測
することで、被試験磁気ヘッド１の記録ヘッド１１の試
験を行うことも可能となる。
【発明の効果】以上説明したごとく、本発明によれば、
磁場印加手段として被試験磁気ヘッドと概略同一寸法の
磁気ヘッドを用いることで、動作状態の動的な試験も含
めた磁気ヘッドの特性を正確に測定する、安価な磁気ヘ
ッド試験装置を提供することが可能となる。また、磁場
印加手段として被試験磁気ヘッドの一つを用いること
で、特別な磁場印加手段を用意することなく磁気ヘッド
試験装置を構成することが可能となる。
磁場印加手段として被試験磁気ヘッドと概略同一寸法の
磁気ヘッドを用いることで、動作状態の動的な試験も含
めた磁気ヘッドの特性を正確に測定する、安価な磁気ヘ
ッド試験装置を提供することが可能となる。また、磁場
印加手段として被試験磁気ヘッドの一つを用いること
で、特別な磁場印加手段を用意することなく磁気ヘッド
試験装置を構成することが可能となる。
【図１】 実施例１の磁気ヘッド配置例
【図２】 磁気ヘッド試験装置構成例
【図３】 磁気ヘッド例の側面図
【図４】 磁気ヘッド例の平面図
【図５】 磁気ヘッド例の正面図、記録媒体に対向する
面
面
【図６】 実施例２の磁気ヘッド配置例
【図７】 従来の磁気ヘッド試験システムの構成例
【図８】 特性測定用疑似ヘッドを備えた磁気ヘッド例
の概念図
の概念図
【図９】 磁気ヘッド単体で特性測定を行う例の概念図
１ 被試験磁気ヘッド ２ コイル ３ 磁気コア ４ 磁気抵抗素子 ５ 磁極 ６ シールド ７ サブストレート ８ ホールセンサ ９，１０ 磁場印加手段 １１ 記録ヘッド １２ 再生ヘッド ３０ 疑似ヘッド ２１，３１ コイル駆動手段 ２２，３２ センスアンプ
Claims (3)
- 【請求項１】 磁場印加手段と、被試験ヘッドの位置を
設定する位置設定手段とを有する磁気ヘッドの再生特性
を測定する磁気ヘッド試験装置であって、 磁場印加手段は被試験磁気ヘッドの記録ヘッドと同一寸
法の磁極を有し、 位置設定手段は被試験磁気ヘッドの再生ヘッドを磁場印
加手段の磁極と近接させ対向配置することを特徴とする
磁気ヘッド試験装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の磁気ヘッド試験装置で
あって、磁場印加手段として、製品として製造された被
試験磁気ヘッドを用いることを特徴とする磁気ヘッド試
験装置。 - 【請求項３】 請求項１に記載の磁気ヘッド試験装置で
あって、磁場印加手段は、被試験磁気ヘッドと概略同一
寸法の磁極を有することを特徴とする磁気ヘッド試験装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001008145A JP2002216326A (ja) | 2001-01-16 | 2001-01-16 | 磁気ヘッド試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001008145A JP2002216326A (ja) | 2001-01-16 | 2001-01-16 | 磁気ヘッド試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002216326A true JP2002216326A (ja) | 2002-08-02 |
Family
ID=18875795
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001008145A Withdrawn JP2002216326A (ja) | 2001-01-16 | 2001-01-16 | 磁気ヘッド試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002216326A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7368905B2 (en) | 2004-09-30 | 2008-05-06 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | System, method, and apparatus for use of micro coils within a single slider test nest |
| JP2010092532A (ja) * | 2008-10-07 | 2010-04-22 | Tdk Corp | 磁気特性検査方法及び装置 |
-
2001
- 2001-01-16 JP JP2001008145A patent/JP2002216326A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7368905B2 (en) | 2004-09-30 | 2008-05-06 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | System, method, and apparatus for use of micro coils within a single slider test nest |
| JP2010092532A (ja) * | 2008-10-07 | 2010-04-22 | Tdk Corp | 磁気特性検査方法及び装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080401 |