JPH0620236A - 磁気ヘッド自動検査システム - Google Patents

磁気ヘッド自動検査システム

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Publication number
JPH0620236A
JPH0620236A JP3412492A JP3412492A JPH0620236A JP H0620236 A JPH0620236 A JP H0620236A JP 3412492 A JP3412492 A JP 3412492A JP 3412492 A JP3412492 A JP 3412492A JP H0620236 A JPH0620236 A JP H0620236A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measuring device
magnetic head
carriage mechanism
uninspected
head
Prior art date
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Pending
Application number
JP3412492A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumio Hida
文雄 肥田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP3412492A priority Critical patent/JPH0620236A/ja
Publication of JPH0620236A publication Critical patent/JPH0620236A/ja
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 従来の磁気ヘッド自動検査システムの検査ス
ループットを向上する。 【構成】 磁気ヘッドに対する浮上量測定装置4と電磁
変換特性測定装置5を並列に配置し、未検査ヘッド1を
装着して両測定装置の間を移動し、両測定装置のテスト
ディスク4b,5b に対してそれぞれローディングする共
通キャリッジ機構8と、共通キャリッジ機構8を両測定
装置の間に移動する移動機構9とを具備し、未検査用パ
レット6a に収納された未検査ヘッド1をチャックし、
浮上量測定装置4に停止した共通キャリッジ機構8に装
着する供給ロボット機構7a と、電磁変換特性測定装置
5に停止した共通キャリッジ機構8より検査済みヘッド
1'を脱去し、両測定装置の測定結果の良否により検査
済みヘッド1' を良品と不良品に区別して検査済み用パ
レット6b に収納する収納ロボット機構7b とを設けて
構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、磁気ヘッドの特性を
自動的に検査するシステムに関し、詳しくは浮上量測定
装置と電磁変換特性測定装置の間を、被検査の磁気ヘッ
ドを効率的にハンドリングするシステムに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図2(a) は磁気ヘッドに対するヘッドジ
ンバルアッセンブリ(以下単にヘッドアッセンブリとい
う)1の一例を示し、磁気ヘッド1a はジンバルアーム
1b の先端に固定され、後端には取り付け用のベース1
c が形成されている。(b) は磁気ディスク装置における
磁気ヘッド1a の動作を説明するもので、磁気ディスク
2がスピンドル2a に装着されて回転し、これに対して
ヘッドアッセンブリ1はキャリッジ機構3に取り付けら
れ、磁気ヘッド1a がディスク2の表面に移動する。デ
ィスクの回転により生ずるエアフローにより磁気ヘッド
は微小な高さ浮上し、所定のトラックをシークしてデー
タがアクセスされる。磁気ヘッド1a は、製造過程で各
種の特性が測定されて検査される。測定項目は浮上量に
関するものと、データ信号の書込み/読出し特性、すな
わち電磁変換特性に関するものに大別され、前者は浮上
量測定装置により測定され、これが良好であるとつづい
て後者が電磁変換特性測定装置により測定される。当初
においては、両測定装置に対する磁気ヘッドの着脱は手
作業により行われ、ついでこれがロボット機構により自
動化され、さらに検査を効率化するために、両測定装置
間に対する磁気ヘッドのハンドリングにロボット機構を
使用して自動システム化されている。
【0003】図3は、磁気ヘッドに対する従来の自動検
査システムで、4は浮上両測定装置、5は電磁変換特性
測定装置を示す。各測定装置のスピンドル4a,5a には
透明なガラスディスク4b と磁気ディスク5b がそれぞ
れ装着され、また磁気ヘッド1を装着して移動し、対応
するディスク4b または5b にローディングするキャリ
ッジ機構4c,5d が設けられる。浮上量測定装置4には
浮上量測定部4d が、電磁変換特性測定装置5には電磁
特性測定部5d がそれぞれ設けられる。一方、未検査用
パレット6a と、これに収納された未検査の磁気ヘッド
(以下単に未検査ヘッドという)1を測定装置4に供給
するための供給ロボット機構7a が設けられ、同様に検
査済み用パレット6b と、これに対して測定装置5より
の検査済ヘッド1' を収納する収納ロボット機構7b が
設けられる。さらに、測定装置4により測定された未検
査ヘッドを、測定結果の良否により区別して一旦収納す
る中継パレット6c と、これと両測定装置4,5の間で
磁気ヘッドをハンドリングする中継ロボット機構7c が
設けられている。なお、両測定装置の測定時間は相違す
るので、磁気ヘッドの受け渡しのタイミングを合わせる
ために、中継パレット6c はバッファの役目をなしてい
る。上記の各キャリッジ機構4c,5c 、および各ロボッ
ト機構7a,7b,7c は、図示しないマイクロプロセッサ
によりそれぞれ制御されてシステムが構成されており、
その動作を説明すると、未検査用パレット6a の未検査
ヘッド1は供給ロボット機構7a によりハンドリングさ
れ、測定装置4のキャリッジ機構4c に装着されて浮上
量測定部4d により浮上量が測定される。これが終了し
た未検査ヘッドは検査結果の良否により区別されて、中
継ロボット機構7c により中継パレット6c に一旦収納
され、適当なタイミングに中継ロボット機構7c が動作
し、未検査ヘッドを測定装置5のキャリッジ機構5c に
装着替えして、電磁特性測定部5d により電磁変換特性
が測定される。これにより検査が終了し、検査済みヘッ
ド1' は収納ロボット機構7b によりハンドリングさ
れ、検査結果により良品と不良品に区別されて検査済み
用パレット6b に収納される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】最近における磁気ヘッ
ドの需要の増加に対応して、上記の検査システムのスル
ープットをさらに向上することが要請されている。上記
のシステムにおいては、それぞれ独立した両測定装置
4,5を中継ロボット機構7c により単純に結合したも
のであり、この点に改善の余地がある。すなわち、スル
ープットに大きく関与する要素にはキャリッジ機構4c,
5c に対する磁気ヘッドの着脱があり、両キャリッジ機
構4c,5c を比較すると、両者は全く同一の構造で同一
動作をなしているので、これらの代わりに1個のキャリ
ッジ機構を共通に使用すれば、中継ロボット6c と、こ
れによる磁気ヘッドの装着替えが不要となってスループ
ット時間を短縮することができる筈である。この発明は
以上の考えにより、検査のスループットを向上した磁気
ヘッド自動検査システムを提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記の目的
を達成する磁気ヘッド自動検査システムであって、磁気
ヘッドに対する浮上量測定装置と電磁変換特性測定装置
とを並列に配置する。被検査の磁気ヘッドを装着して両
測定装置の間を移動し、両測定装置のテストディスクに
対してそれぞれローディングする共通キャリッジ機構
と、共通キャリッジ機構を両測定装置間に移動する移動
機構とを具備する。未検査用パレットに収納された未検
査ヘッドをチャックし、浮上量測定装置の位置に停止し
た共通キャリッジ機構に装着する供給ロボット機構と、
電磁変換特性測定装置の位置に停止した共通キャリッジ
機構より検査済みヘッドを脱去し、両測定装置の測定結
果の良否により検査済みヘッドを区別して検査済み用パ
レットに収納する収納ロボット機構とを設けて構成され
る。
【0006】
【作用】上記の自動検査システムにおいては、浮上量測
定装置の位置に停止している共通キャリッジ機構に対し
て、供給ロボット機構が未検査用パレットより未検査ヘ
ッドをチャックして装着する。装着された未検査ヘッド
は浮上量測定装置のテストディスクにローディングされ
て浮上量が測定され、これが終了すると移動機構により
共通キャリッジ機構が電磁変換特性測定装置の位置まで
移動し、そのテストディスクに未検査ヘッドをローディ
ングして電磁変換特性が測定される。この測定により検
査が終了し、検査済みヘッドは両測定装置の測定結果に
より良品と不良品に区別され、収納ロボット機構により
検査済み用パレットに収納される。上記においては、両
測定装置のテストディスクに対する未検査ヘッドのロー
ディングは1個の共通したキャリッジ機構により行われ
るので、別個のキャリッジ機構を使用した従来のシステ
ムに比較して、キャリッジ機構に対する未検査ヘッドの
着脱と、そのための中継ロボット機構および中継用パレ
ットが不要となり、検査のスループットが著しく向上す
るものである。
【0007】
【実施例】図1はこの発明の一実施例を示す。浮上量測
定装置4と電磁変換特性測定装置5を並列に配置する。
浮上量測定装置4にはそのスピンドル4a にガラスディ
スク4b が装着され、浮上量測定部4d が設けられ、ま
た、電磁変換特性測定装置5にはそのスピンドル5a に
磁気ディスク5b が装着され、電磁特性測定部5dが設
けられている。両測定装置に対して共通する共通キャリ
ッジ機構8と、両測定装置間に敷設されたガイドレール
9a 、これに沿ってキャリッジ機構8を移動させる駆動
部9b および駆動部に対する制御回路9c よりなる移動
機構9とを設ける。また、前記した図3の従来のシステ
ムと同様に、未検査用パレット6a 、検査済み用パレッ
ト6b 、供給ロボット機構7a および収納ロボット機構
7b をそれぞれ配設する。なお、共通キャリッジ機構8
のローディング動作と、各ロボット機構7a,7b のハン
ドリング動作をそれぞれ制御するためにマイクロプロセ
ッサによる制御系(図示省略)が設けられる。
【0008】上記により構成された自動検査システムの
動作を説明すると、まず制御回路9c により駆動部9b
を制御して共通キャリッジ機構8を移動し、浮上量測定
装置4の位置に停止する。未検査用パレット6a に収納
されている未検査ヘッド1を、供給ロボット機構7a が
チャックして共通キャリッジ機構8に装着し、回転する
ガラスディスク4b にローディングして浮上量が測定さ
れる。測定終了により未検査ヘッドはアンローディング
され、共通キャリッジ機構8が電磁変換特性測定装置5
の位置に移動して停止し、回転する磁気ディスク5b に
未検査ヘッドがローディングされて電磁変換特性が測定
される。この測定の終了により検査が完了し、検査済み
ヘッド1' は検査結果の良否により良品と不良品に区別
され、収納ロボット機構7b により検査済みパレット6
b の所定の位置に収納される。
【0009】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による磁
気ヘッドの自動検査システムにおいては、浮上量測定装
置と電磁変換特性測定装置のそれぞれのテストディスク
に対する未検査ヘッドのローディングが、1個の共通し
たキャリッジ機構により行われるので、別個のキャリッ
ジ機構を使用した従来のシステムに比較して、キャリッ
ジ機構に対する磁気ヘッドの着脱と、そのための中継ロ
ボット機構および中継用パレットが不要となり、検査の
スループットと装置のコストパフォーマンスがともに向
上する効果には大きいものがある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施例を示す。
【図2】 (a) は磁気ヘッドに対するヘッドアッセンブ
リ1の一例を示し、(b) はその動作説明図である。
【図3】 磁気ヘッドに対する従来の自動検査システム
の構成を示す。
【符号の説明】
1…ヘッドジンバルアッセンブリ(ヘッドアッセンブ
リ)、1a …磁気ヘッド 1b …ジンバルアーム、1c …取り付けベース、2…磁
気ディスク、2a …スピンドル、3…キャリッジ機構、
4…浮上量測定装置、4a …スピンドル、4b …ガラス
ディスク、4c …キャリッジ機構、4d …浮上量測定
部、5…電磁変換特性測定装置、5a …スピンドル、5
b …磁気ディスク、5c …キャリッジ機構、5d …電磁
特性測定部、6a …未検査用パレット、6b …検査済み
用パレット、6c …中継パレット、7a …供給ロボット
機構、7b …収納ロボット機構、7c …中継ロボット機
構 8…共通キャリッジ機構、9…移動機構、9a …ガイド
レール、9b …駆動部、9c …制御回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気ヘッドに対する浮上量測定装置と電
    磁変換特性測定装置とを並列に配置し、被検査の磁気ヘ
    ッドを装着して前記両測定装置の間を移動し、前記両測
    定装置のテストディスクに対してそれぞれローディング
    する共通キャリッジ機構と、該共通キャリッジ機構を前
    記両測定装置間に移動する移動機構とを具備し、未検査
    用パレットに収納された未検査の磁気ヘッドをチャック
    し、前記浮上量測定装置の位置に停止した前記共通キャ
    リッジ機構に装着する供給ロボット機構と、前記電磁変
    換特性測定装置の位置に停止した前記共通キャリッジ機
    構より検査済みの磁気ヘッドを脱去し、前記両測定装置
    の測定結果の良否により該検査済みヘッドを区別して検
    査済み用パレットに収納する収納ロボット機構とを設け
    て構成されたことを特徴とする、磁気ヘッド自動検査シ
    ステム。
JP3412492A 1992-01-24 1992-01-24 磁気ヘッド自動検査システム Pending JPH0620236A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3412492A JPH0620236A (ja) 1992-01-24 1992-01-24 磁気ヘッド自動検査システム

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JP3412492A JPH0620236A (ja) 1992-01-24 1992-01-24 磁気ヘッド自動検査システム

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Publication Number Publication Date
JPH0620236A true JPH0620236A (ja) 1994-01-28

Family

ID=12405495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3412492A Pending JPH0620236A (ja) 1992-01-24 1992-01-24 磁気ヘッド自動検査システム

Country Status (1)

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JP (1) JPH0620236A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6058335A (en) * 1996-10-30 2000-05-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Automated technique for manufacturing hard disk drive
US7288935B2 (en) 2005-04-15 2007-10-30 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv System, method, and apparatus for dynamic electrical testing of workpieces by multiplexing test sites with shared electronics

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