JPH07169246A - 多連磁気ディスク検査装置 - Google Patents
多連磁気ディスク検査装置Info
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- JPH07169246A JPH07169246A JP34168293A JP34168293A JPH07169246A JP H07169246 A JPH07169246 A JP H07169246A JP 34168293 A JP34168293 A JP 34168293A JP 34168293 A JP34168293 A JP 34168293A JP H07169246 A JPH07169246 A JP H07169246A
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Abstract
査能力が大きく、かつ点検修理の容易な検査装置を提供
する。 【構成】 共通フレーム4と、これに出し入れ自由とし
て並列に配列された複数組(図の場合4組)の検査デッ
キ5A,5B,5Cおよび5D、共通フレーム4に隣接
して設けたディスク供受給部6、ならびにディスク供受
給部6と各検査デッキ5A〜5Dの間に配設されたディ
スク搬送機構7とにより構成される。
Description
ク検査デッキよりなる多連の磁気ディスク検査装置に関
する。
ド磁気ディスク(以下単にディスクという)は、製造過
程でその性能が検査される。検査項目には、ディスクの
表面に存在する突起に対するグライド検査と、テストデ
ータの書込み/読出しによるサーティファイなどがあ
り、それぞれに適した磁気ヘッドを使用して検査され
る。最近におけるディスクは、ますます小型化され各種
のサイズのものが混在している。またその需要も増加
し、これに対応して生産量が飛躍的に増大しており、こ
れらの各種、多量の磁気ディスクの検査を自動化して効
率的に行うことが必要とされている。以上に対して同出
願人により、各種のサイズのディスクに対する磁気ヘッ
ドの交換などが容易なヘッドローディング機構が考案さ
れ、「磁気ヘッドのローディング機構」として特許出願
中である。
ィング機構3の概略の構成を示す。被検査のディスク1
は、回転機構(図示省略)のスピンドル2に装着されて
回転する。これに対するローディング機構3は、ベース
31にそれぞれ固定されたキャリッジ機構32と、2組の駆
動機構33A,33Bを有するローディングユニット33、お
よび、それぞれ2個の磁気ヘッド(以下単にヘッドとい
う)341a,341b を有し、キャリッジ機構32の移動子323
に着脱自由に装着された2組のヘッドユニット34A,34
Bよりなる。
機構32のキャリッジモータ321 によりボールねじ322 を
回転すると、その移動子323 とともに、各ヘッドユニッ
ト34A,34Bの両ヘッド341a,341b が移動して、ディス
ク1の所定のトラックをシークする。ここでグライド検
査側の駆動機構33Aのロードモータ331 を動作すると、
その回動アーム332 が左右に回動して、ヘッドユニット
34Aの両ヘッド341a,341b がディスク1の表面と裏面に
それぞれローディングされ、グライド検査がなされる。
この検査中は、サーティファイのヘッドユニット34Bは
その両ヘッドがアンロードの状態で待機しており、グラ
イド検査終了後、グライドヘッドをアンロードし、サー
ティファイをローディングする。従って2種類の検査が
停止することなく継続されて検査効率が向上する。な
お、上記のローディング機構3においては、両ヘッドの
ローディング動作は、各駆動機構33A,33Bの回動アー
ム332 に係合したリンク機構(図示省略)を介して、い
わば間接的になされるので、各駆動機構の振動は両ヘッ
ドで減衰して、ヘッドローディングとデータアクセスが
良好になされることが特徴である。
構3は、2種類の検査を停止せず実行できるなど、検査
装置の稼働率の向上に役立つものである。しかし、多量
のディスクを迅速に検査するには1台の検査装置では検
査能力が十分でない。そこで、ディスク回転機構と上記
のローディング機構3、制御部およびデータ処理部など
により検査デッキを構成し、その複数組を配列して並行
に稼働すれば、検査能力が複数倍に増加することは明ら
かである。ただしこの場合は、複数組の検査デッキが配
列されると、その点検修理が不便または不自由となるの
で、これに対する配慮が必要である。また、各検査デッ
キに対してディスクを搬送する搬送機構が必要である
が、これに対して各検査デッキの位置が正確でないと、
その搬送制御が面倒になるので、各検査デッキの位置決
めを考慮することが必要である。この発明は以上の考え
によりなされたもので、各種のサイズのディスクに対応
できる検査デッキを複数組具備して検査能力が大きく、
かつ各検査デッキの点検修理が容易な、多連磁気ディス
ク検査装置を提供することを目的とする。
スク検査装置であって、制御およびデータ処理部が内蔵
された筐体と、筐体の上部に弾性的に支持されたベース
盤と、ベース盤にそれぞれ配列され、ディスクを装着し
て回転するスピンドルを有する回転機構、ならびに、キ
ャリッジ機構、ローディングユニットおよびヘッドユニ
ットを有するヘッドローディング機構よりなる検査デッ
キを複数組具備し、各検査デッキを出し入れ自由として
共通フレームと並列に配列する。共通フレームに隣接し
て配設され、複数個のディスクマガジンを載置して回転
する回転テーブルを有するディスク供受給部と、ディス
ク供受給部と各検査デッキとの間に配設され、ディスク
を搬送するロボットハンドを有するディスク搬送機構と
により構成される。上記において、各検査デッキのベー
ス盤および共通フレームの3箇所に配設され、各検査デ
ッキのスピンドルを直線上に位置決めするデッキ位置決
め機構を有するものである。
ディスク供受給部の回転テーブルに載置された複数個の
ディスクマガジンは、回転テーブルの回転により所定の
位置にそれぞれ停止し、これらに収容されたディスクは
ロボットハンドにチャックされて逐次に各検査デッキに
搬送され、それぞれのスピンドルに装着されて所定の検
査が並行してなされる。検査が終了したディスクは、ロ
ボットハンドにより脱去されて回転テーブルの所定のマ
ガジンに収容される。上記において、各スピンドルは、
デッキ位置決め機構により直線上に位置決めされている
ので、ロボットハンドは直線的に移動するのみで、その
制御は容易であり、ディスクは各スピンドルに対して安
定確実に装着または脱去される。また、各種のサイズの
ディスクに対してヘッドを交換するときや、検査デッキ
が故障したときは、共通フレームからこれを引出してヘ
ッド交換または点検修理が容易になされ、これが終了す
ると再び共通フレームに押し込まれてスピンドルが位置
決めされる。以上により、各検査デッキに安定確実に装
着された各ディスクは迅速に検査され、またヘッド交換
と検査デッキの点検修理が容易になされ、検査効率と検
査能力がともに向上したものである。
1は多連磁気ディスク検査装置10の全体の構成図、図
2はデッキ位置決め機構8の構成図、図3はデッキ位置
決め機構8の部分詳細図である。
10は、共通フレーム4と、これに出し入れ自由として
並列に配列された複数組(この場合4組)の検査デッキ
5A,5B,5Cおよび5Dを具備する。共通フレーム
4に隣接してディスク供受給部6を設け、ディスク供受
給部6と各検査デッキ5A〜5Dの間にディスク搬送機
構7を配設して構成される。各検査デッキ5A〜5Dは
同一で、制御およびデータ処理部(図示省略)を内蔵し
た筐体51と、その上部に弾性的に支持されたベース盤52
を設け、ベース盤52に対して、スピンドル2を有する2
組の回転機構(図示省略)と、各スピンドル2に装着さ
れたディスク1に対して、それぞれ2組のローディング
機構3a,3b、および3c,3d を図示のように対向して
配設して構成される。この場合、各検査デッキ5は、図
2で説明するデッキ位置決め機構9により、それぞれの
スピンドル2が一直線Lをなすように位置決めされる。
なお図示を省略するが、各検査デッキの出し入れを容易
にするために筐体51の底面にキャスターが設けられる。
各ローディング機構は前記した図4のローディング機構
3と同一とし、一方の組のローディング機構3a,3b
は、例えばグライド検査を実行している間は、他方の組
のローディング機構3c,3d は、サーティファイを実行
している。ディスク供受給部6は、回転テーブル61を設
け、これに複数のディスクマガジン62が放射状に載置さ
れる。ディスク搬送機構7は、ガイドレール71と、これ
に沿って移動する移動部72、および移動部72に取付られ
たロボットハンド73よりなり、それぞれは図示しない制
御部により制御されて動作する。
は、筐体51の4箇所に弾性支持具53により弾性的に支持
されている。デッキ位置決め機構8は、ベース盤52の図
示の3箇所と、これに対応した共通フレーム4の3箇所
に、それぞれ固設された位置決め具81a,81b と、82a,82
b 、および83a,83b よりなる。図3(a) は位置決め具81
a,81b を示し、81a は固定された平ローラー811 と、平
ローラー811 へスプリング813 により付勢された平ロー
ラー811 よりなり、81b はテーパー付きの丸棒よりな
り、これが両ローラーの間に嵌入すると、平ローラー81
1 を基準としてこの部分のZ方向が位置決めされる。
(b) は位置決め具82a,82b を示し、82a は固定された溝
付きローラー821 とスプリング823 により溝付ローラー
821 に付勢された平ローラー822 よりなり、81b はテー
パー付きの丸棒よりなり、これが両ローラーの間に嵌入
して溝付ローラーを基準としてXおよびZ方向が位置決
めされる。(c) は位置決め具83a,83b を示し、83b はテ
ーパー付きの丸棒で、83a は3個の平ローラー831,832,
833 よりなり、それぞれの表面が丸棒の対称的な3点
(線)に接触するように配設されたもので、嵌入した丸
棒が各平ローラーの表面に接触することにより、X,
Y,Z方向が位置決めされる。以上により、ヘッド交換
や点検修理のために共通フレーム4から引出された検査
デッキ5は、これが終了すると共通フレーム4に押し込
まれ、上記の3箇所の位置決めにより、そのスピンドル
2が直線Lに位置決めされる。
スク検査装置10によるディスクの検査手順と、その検
査能力を説明する。回転テーブル71を回転して、被検査
のディスク1を収納したディスクマガジン72を所定の位
置に停止し、これに対してディスク搬送機構7の移動部
72を移動して、そのロボットハンド73によりディスク1
をチャックし、例えば検査デッキ5Aのスピンドル2に
装着する。ついでローディング機構3a の動作により、
その両ヘッド341a,341b をディスク1の表面と裏面にロ
ーディングして、両面がグライド検査される。これが終
了すると、両ヘッド341a,341b はアンローディングさ
れ、これに代わってローディング機構3bの両ヘッド341
a,341b が同様にローディングされて両面がサーティフ
ァイされる。その終了により、ディスク1はロボットハ
ンド73によりスピンドル2から脱去されて回転テーブル
61まで搬送され、検査結果の良否により区別されて検査
良好または不良用のマガジン62にそれぞれ収納される。
このような検査手順が他の各検査デッキ5B〜5Cによ
っても並行して行われる。検査装置10の稼働実績によ
ると、4組の検査デッキの、都合8個のスピンドル2と
16組のローディング機構3のフル稼働により、ディス
ク1の検査スループットは毎時約120枚に達し、昼夜
24時間の連続稼働を一月間に25日行うと、月当たり
7万枚以上の検査能力がえられるものである。
気ディスク検査装置においては、各検査デッキのスピン
ドルが位置決めされて、ディスクが安定確実に装着さ
れ、また故障した検査デッキの点検修理が容易になされ
るもので、各種のサイズを有する多量の磁気ディスクの
検査の効率化と迅速化に寄与するものである。
の、一実施例における全体の構成図である。
決め機構9の構成図である。
略の構成図である。
3,3a 〜3d …ローディング機構、31…ベース、32…
キャリッジ機構、321 …キャリッジモータ、322 …ボー
ルねじ、323 …移動子、33…ローディングユニット、33
A,33B…駆動機構、331 …ロードモータ、332 …回動
アーム、34A,34B…ヘッドユニット、341a,341b …ヘ
ッド、4…共通フレーム、5A〜5D…検査デッキ、51
…筐体、52…ベース盤、53…弾性支持具、6…ディスク
供受給部、61…回転テーブル、62…ディスクマガジン、
7…ディスク搬送機構、71…ガイドレール、72…移動
部、73…ロボットハンド8…デッキ位置決め機構、81a,
81b,82a,82b,83a,83b …位置決め具、811,812,822,831,
832,833 …平ローラー、821 …溝付きローラー、813,82
3 …スプリング、10…この発明の多連磁気ディスク検
査装置。
Claims (2)
- 【請求項1】 制御およびデータ処理部が内蔵された筐
体と、該筐体の上部に弾性的に支持されたベース盤と、
該ベース盤にそれぞれ配列され、磁気ディスクを装着し
て回転する回転機構、ならびに、キャリッジ機構、ロー
ディングユニットおよびヘッドユニットを有するヘッド
ローディング機構よりなる検査デッキを複数組具備し、
該各検査デッキを共通フレームに出し入れ自由として並
列に配列し、該共通フレームに隣接して配設され、複数
個のディスクマガジンを載置して回転する回転テーブル
を有するディスク供受給部と、該ディスク供受給部と前
記各検査デッキとの間に配設され、前記磁気ディスクを
搬送するロボットハンドを有するディスク搬送機構とに
より構成されたことを特徴とする、多連磁気ディスク検
査装置。 - 【請求項2】 前記各検査デッキのベース盤および前記
共通フレームの3箇所に配設され、該各検査デッキのス
ピンドルを直線上に位置決めするデッキ位置決め機構を
有することを特徴とする、請求項1記載の多連磁気ディ
スク検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34168293A JP2970830B2 (ja) | 1993-12-10 | 1993-12-10 | 多連磁気ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34168293A JP2970830B2 (ja) | 1993-12-10 | 1993-12-10 | 多連磁気ディスク検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH07169246A true JPH07169246A (ja) | 1995-07-04 |
JP2970830B2 JP2970830B2 (ja) | 1999-11-02 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2970830B2 (ja) |
-
1993
- 1993-12-10 JP JP34168293A patent/JP2970830B2/ja not_active Expired - Fee Related
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