JPH02218968A - デイスクカートリツジの検査装置 - Google Patents
デイスクカートリツジの検査装置Info
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- JPH02218968A JPH02218968A JP1039362A JP3936289A JPH02218968A JP H02218968 A JPH02218968 A JP H02218968A JP 1039362 A JP1039362 A JP 1039362A JP 3936289 A JP3936289 A JP 3936289A JP H02218968 A JPH02218968 A JP H02218968A
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- Japan
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- line
- disk cartridge
- discharge
- recording
- taking
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- Pending
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- 238000011056 performance test Methods 0.000 claims description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、磁気ディスクカートリッジ、光デイスクカー
トリッジ、光磁気ディスクカートリッジ等のディスクに
対してディスクカートリッジを組立て、半組立ての状態
で、性能試験を行うディスクカートリッジの検査装置に
関する。
トリッジ、光磁気ディスクカートリッジ等のディスクに
対してディスクカートリッジを組立て、半組立ての状態
で、性能試験を行うディスクカートリッジの検査装置に
関する。
従来のディスクカートリッジの検査装置のラインの一例
を第5図に示した。
を第5図に示した。
同図において、1は可撓性ディスクを内蔵したディスク
カートリッジ(フロッピーディスク)、2は搬送ライン
、3は記録・再生手段からなる性能試験装置、4は取込
み・排出手段である。
カートリッジ(フロッピーディスク)、2は搬送ライン
、3は記録・再生手段からなる性能試験装置、4は取込
み・排出手段である。
上記従来技術は、ディスクカートリッジ1を搬送ライン
2の一例に複数設置された性能試験装置3へ、各性能試
験装置3に対応して設置された取込み・排出手段4によ
って1個ずつ取り込み、当該ディスクカートリッジ1の
ディスクに対する性能試験装置3による試験(エラーの
有無)が完了すると、取込み・排出手段4によってディ
スクカートリッジ1を搬送ライン2へ排出し、再び次の
ディスクカートリッジ1の取込み作業を行うものであっ
た。
2の一例に複数設置された性能試験装置3へ、各性能試
験装置3に対応して設置された取込み・排出手段4によ
って1個ずつ取り込み、当該ディスクカートリッジ1の
ディスクに対する性能試験装置3による試験(エラーの
有無)が完了すると、取込み・排出手段4によってディ
スクカートリッジ1を搬送ライン2へ排出し、再び次の
ディスクカートリッジ1の取込み作業を行うものであっ
た。
上記従来技術においては、搬送ライン2に対する性能試
験装置3への取込みと排出との搬送経路は同じであって
、装置からみると、ディスクカートリッジ1の取込みと
排出との間が持ち時間となり、装置の使用効率が低いと
いう問題があった。
験装置3への取込みと排出との搬送経路は同じであって
、装置からみると、ディスクカートリッジ1の取込みと
排出との間が持ち時間となり、装置の使用効率が低いと
いう問題があった。
本発明の目的は、使用効率の向上が図れるディスクカー
トリッジの検査装置を提供することにある。
トリッジの検査装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、ディスクカート
リッジの供給ラインと排出ラインとを互いに平行に配し
、前記供給ラインと排出ラインとの間にディスク性能試
験を行う記録・再生手段を設置し、さらに前記供給ライ
ンと排出ラインとの間で、かつ前記記録・再生手段の上
方に取込み・排出手段を設けてなり、この取込み・排出
手段によって、ディスクカートリッジに対する供給ライ
ンから記録・再生手段への取込み作動と同時に、試験済
ディスクカートリッジの排出ラインへの排出作動を行う
ように構成したことを特徴としだものである。
リッジの供給ラインと排出ラインとを互いに平行に配し
、前記供給ラインと排出ラインとの間にディスク性能試
験を行う記録・再生手段を設置し、さらに前記供給ライ
ンと排出ラインとの間で、かつ前記記録・再生手段の上
方に取込み・排出手段を設けてなり、この取込み・排出
手段によって、ディスクカートリッジに対する供給ライ
ンから記録・再生手段への取込み作動と同時に、試験済
ディスクカートリッジの排出ラインへの排出作動を行う
ように構成したことを特徴としだものである。
上記手段を採用したことにより、取込み・排出手段がデ
ィスクカートリッジに対する供給ラインから記録・再生
手段への取込み作動と同時に、試験済のディスクカート
リッジの排出ラインへの排出作動を行うように作動し、
ディスクカートリッジの取込み・排出の待ち時間がなく
なる。
ィスクカートリッジに対する供給ラインから記録・再生
手段への取込み作動と同時に、試験済のディスクカート
リッジの排出ラインへの排出作動を行うように作動し、
ディスクカートリッジの取込み・排出の待ち時間がなく
なる。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の詳細な説明する平面図である。
図において、10は供給ライン、11は供給ライン10
と平行に配され、かつ同一方向(X方向)に搬送移動す
る排出ライン、12はディスクカートリッジ、13は前
記供給ライン10と排出ライン11との間に設置され、
かつ前記ディスクカートリッジ12に内蔵されたディス
クに対する性能試験を行う公知の記録・再生手段、14
は供給ライン10と排出ライン11との間で、かつ前記
記録・再生手段13の上方に設置された取込み・排出手
段、15は供給ライン10に連続して設けられたディス
クカートリッジ12の保持部、16は排出ライン11に
連続して設けられたディスクカートリッジ12の保持部
、17は排出ライン11のライン終端部に設けられ、デ
ィスクに対する試験が不合格であった場合にN0部17
aへ、また合格であった場合にOK部17bヘディスク
カートリッジ12を振り分け、かつ積層収納する積層保
持装置である。
と平行に配され、かつ同一方向(X方向)に搬送移動す
る排出ライン、12はディスクカートリッジ、13は前
記供給ライン10と排出ライン11との間に設置され、
かつ前記ディスクカートリッジ12に内蔵されたディス
クに対する性能試験を行う公知の記録・再生手段、14
は供給ライン10と排出ライン11との間で、かつ前記
記録・再生手段13の上方に設置された取込み・排出手
段、15は供給ライン10に連続して設けられたディス
クカートリッジ12の保持部、16は排出ライン11に
連続して設けられたディスクカートリッジ12の保持部
、17は排出ライン11のライン終端部に設けられ、デ
ィスクに対する試験が不合格であった場合にN0部17
aへ、また合格であった場合にOK部17bヘディスク
カートリッジ12を振り分け、かつ積層収納する積層保
持装置である。
同図において、供給ライン10の保持部15に保持され
たディスクカートリッジ12は、取込み・排出手段14
の設置位置に達すると、取込み・排出手段14の作動に
て記録・再生手段13方向へ取り込まれ、ディスクに対
する公知の性能試験が位置Aにて行われる。そして、性
能試験が完了すると、前記取込み・排出手段14の作動
にて試験済のディスクカートリッジ12は排出ライン1
1の保持部16へ排出される。この排出時に同時に次の
ディスクカートリッジ12が取込み・排出手段14の作
動によって供給ライン10の保持部15から記録・再生
手段13へと取り込まれる。
たディスクカートリッジ12は、取込み・排出手段14
の設置位置に達すると、取込み・排出手段14の作動に
て記録・再生手段13方向へ取り込まれ、ディスクに対
する公知の性能試験が位置Aにて行われる。そして、性
能試験が完了すると、前記取込み・排出手段14の作動
にて試験済のディスクカートリッジ12は排出ライン1
1の保持部16へ排出される。この排出時に同時に次の
ディスクカートリッジ12が取込み・排出手段14の作
動によって供給ライン10の保持部15から記録・再生
手段13へと取り込まれる。
前記供給ライン10の保持部15と排出ライン11の保
持部16とは番地管理されており、ディスクカートリッ
ジ12は取込み・排出作動において同一の番地の保持部
15.16に保持されることになる。
持部16とは番地管理されており、ディスクカートリッ
ジ12は取込み・排出作動において同一の番地の保持部
15.16に保持されることになる。
前記排出ライン11の保持部16へ排出されたディスク
カートリッジ12は、ラインの終端部にて積層保持装置
17のN0部17aとOK部17bとに振り分けられ、
積層収納される。
カートリッジ12は、ラインの終端部にて積層保持装置
17のN0部17aとOK部17bとに振り分けられ、
積層収納される。
第2図は取込み・排出手段の正面一部断面図、第3図は
取込み・排出手段部分を示す斜視図であり、20は移動
体、21は移動体の移動を案内する一対のガイド棒、2
2はディスクカートリッジ12に対する取込み作動部2
2aと排出作動部22bとを形成した取込み・排出体、
23は軸23aに枢着され、取込み・排出体22を移動
させる駆動レバー、24は基板、25は基板24の下部
に固定され、かつ上下動可能な棒体、26は棒体25の
受は枠である。
取込み・排出手段部分を示す斜視図であり、20は移動
体、21は移動体の移動を案内する一対のガイド棒、2
2はディスクカートリッジ12に対する取込み作動部2
2aと排出作動部22bとを形成した取込み・排出体、
23は軸23aに枢着され、取込み・排出体22を移動
させる駆動レバー、24は基板、25は基板24の下部
に固定され、かつ上下動可能な棒体、26は棒体25の
受は枠である。
尚、第3図において、27は供給ライン10の一側壁に
形成され、前記取込み部22の移動を可能にするための
切欠部、30は記録・再生手段13のディスク脱着部で
ある。
形成され、前記取込み部22の移動を可能にするための
切欠部、30は記録・再生手段13のディスク脱着部で
ある。
第2.3図において、供給ライン10の保持部工5に保
持されたディスクカートリッジ12は、取込み・排出体
22が駆動レバー23の半時針方向の回動によって左方
向へ移動することによって、取込み作動部22aに引っ
掛けられながら、基板24に達する。この時、基板24
は棒体25の下降作動にて下がり、基板24部分にて後
述するディスク脱着部30へ挿入されて性能試験を受け
る。
持されたディスクカートリッジ12は、取込み・排出体
22が駆動レバー23の半時針方向の回動によって左方
向へ移動することによって、取込み作動部22aに引っ
掛けられながら、基板24に達する。この時、基板24
は棒体25の下降作動にて下がり、基板24部分にて後
述するディスク脱着部30へ挿入されて性能試験を受け
る。
この取込み作動時、既に性能試験が完了し、基板24部
分に存在しているディスクカートリッジ12は排出作動
部22bの押出し作動にて排出ライン11の保持部16
へ排出されている。
分に存在しているディスクカートリッジ12は排出作動
部22bの押出し作動にて排出ライン11の保持部16
へ排出されている。
第4図は記録・再生手段部分のロード機構の概略を説明
するための側面一部所面図であり、30は両端部にコ字
状の受部30a、30bを形成したディスク脱着部、3
1は支持枠、32はディスク脱着部30に一端を固定し
、且つ支持枠31に上下動可能に支承されている回転軸
、33は記録・再生用ヘッド、34はローディングアー
ムである。
するための側面一部所面図であり、30は両端部にコ字
状の受部30a、30bを形成したディスク脱着部、3
1は支持枠、32はディスク脱着部30に一端を固定し
、且つ支持枠31に上下動可能に支承されている回転軸
、33は記録・再生用ヘッド、34はローディングアー
ムである。
同図において、上述したようにディスクカートリッジ1
2がディスク脱着部30の受部30a。
2がディスク脱着部30の受部30a。
30b間に挿入されると、回転軸32が下降してディス
ク脱着部30が下がり、同時にローディングアーム34
が反時計方向に回動し、記録・再生用ヘッド33がディ
スクカートリッジ12内のディスクの記録面に接してロ
ーディング状態になる。
ク脱着部30が下がり、同時にローディングアーム34
が反時計方向に回動し、記録・再生用ヘッド33がディ
スクカートリッジ12内のディスクの記録面に接してロ
ーディング状態になる。
そして回転軸32が回転駆動して公知の性能試験が行わ
れることになる。
れることになる。
以上説明したように、本発明によれば、ディスクカート
リッジの記録・再生手段に対する取込み・排出が同時に
行えるため、取込み・排出時の待ち時間が無く、使用効
率の向上が図れるディスクカートリッジの検査装置を提
供できる。
リッジの記録・再生手段に対する取込み・排出が同時に
行えるため、取込み・排出時の待ち時間が無く、使用効
率の向上が図れるディスクカートリッジの検査装置を提
供できる。
第1図〜第4図は本発明の一実施例を示し、第1図は装
置全体を説明するための平面図、第2図は取込み・排出
手段の正面一部所面図、第3図は取込み・排出手段の斜
視図、第4図はロード機構の側面一部所面図、第5図は
従来例のラインを示す平面図である。 10・・・供給ライン、11・・・排出ライン、12・
・・ディスクカートリッジ、13・・・記録・再生手段
、14・・・取込み・排出手段。
置全体を説明するための平面図、第2図は取込み・排出
手段の正面一部所面図、第3図は取込み・排出手段の斜
視図、第4図はロード機構の側面一部所面図、第5図は
従来例のラインを示す平面図である。 10・・・供給ライン、11・・・排出ライン、12・
・・ディスクカートリッジ、13・・・記録・再生手段
、14・・・取込み・排出手段。
Claims (1)
- ディスクカートリッジの供給ラインと排出ラインとを互
いに平行に配し、前記供給ラインと排出ラインとの間に
ディスク性能試験を行う記録・再生手段を配置し、さら
に前記供給ラインと排出ラインとの間で、かつ前記記録
・再生手段の上方に取込み・排出手段を設けてなり、こ
の取込み・排出手段によつて、ディスクカートリッジに
対する供給ラインから記録・再生手段への取込み作動と
同時に、試験済ディスクカートリッジの排出ラインへの
排出作動を行うように構成したことを特徴とするディス
クカートリッジの検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1039362A JPH02218968A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | デイスクカートリツジの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1039362A JPH02218968A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | デイスクカートリツジの検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02218968A true JPH02218968A (ja) | 1990-08-31 |
Family
ID=12550955
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1039362A Pending JPH02218968A (ja) | 1989-02-21 | 1989-02-21 | デイスクカートリツジの検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02218968A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63142523A (ja) * | 1986-12-04 | 1988-06-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フロツピ−デイスク検査装置 |
JPS63298714A (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-06 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | フロッピ−ディスク検査方式 |
-
1989
- 1989-02-21 JP JP1039362A patent/JPH02218968A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63142523A (ja) * | 1986-12-04 | 1988-06-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フロツピ−デイスク検査装置 |
JPS63298714A (ja) * | 1987-05-28 | 1988-12-06 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | フロッピ−ディスク検査方式 |
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