JPH05325146A - 磁気ヘッド検査装置 - Google Patents

磁気ヘッド検査装置

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Publication number
JPH05325146A
JPH05325146A JP14985892A JP14985892A JPH05325146A JP H05325146 A JPH05325146 A JP H05325146A JP 14985892 A JP14985892 A JP 14985892A JP 14985892 A JP14985892 A JP 14985892A JP H05325146 A JPH05325146 A JP H05325146A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic head
electromagnetic conversion
disk
measuring
flying height
Prior art date
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Pending
Application number
JP14985892A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Ishimori
英男 石森
Toshinori Sugiyama
敏教 杉山
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP14985892A priority Critical patent/JPH05325146A/ja
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 浮上量と電磁変換特性の両測定ができる磁気
ヘッド測定装置。 【構成】 1枚または2枚のディスクで浮上量と電磁変
換特性の両者の測定用のテストディスクを構成する。テ
ストディスクを装着するスピンドル3a 、モータ3b の
回転機構3と、被検査の磁気ヘッド1を装着移動するキ
ャリッジ機構2、浮上量測定部5、電磁変換特性測定部
7を具備し、スピンドル3a 装着の1枚または2枚のテ
ストディスクに、キャリッジ機構2で磁気ヘッド1をシ
ーク移動して浮上量と電磁変換特性をそれぞれ測定す
る。テストディスクが1枚及び2枚の場合は、前者では
透明なガラスディスク8を半径方向に2分割し、一方を
浮上量測定領域8a 、他には磁性膜を塗布して電磁変換
特性測定領域8b とし、後者では浮上量測定用のガラス
ディスクと、電磁変換特性測定用磁気ディスクとを、ス
ピンドルに上下2段に装着し、キャリッジ機構2に対す
る昇降機構を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、磁気ヘッドの検査装
置に関し、詳しくは1台の測定装置により、磁気ヘッド
の浮上量測定と電磁変換特性の両者をそれぞれ測定でき
る検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気ディスク装置に使用される磁気ヘッ
ドは、製造過程で各種の特性が測定されて検査される。
測定項目は磁気ヘッドの浮上量に関するものと、データ
信号の書込み/読出し特性、すなわち電磁変換特性に関
するものに大別される。
【0003】図3(a) は浮上量測定装置の概略の構成を
示す。石英などのガラスディスク4を装着するスピンド
ル3a 、およびこれを回転するモータ3b よりなる回転
機構3と、被検査の磁気ヘッド1を装着してディスクの
半径方向に移動するキャリッジ機構2、ならびにディス
ク4の上方に配設された干渉光量センサ5a 、およびこ
れを浮上量測定回路5b に接続して構成された浮上量測
定部5よりなる。測定においては、磁気ヘッド1をキャ
リッジ機構に装着して所定のトラックTR に位置決め
し、センサ5a により磁気ヘッド1の浮上高さを検出
し、検出信号を浮上量測定回路5b に入力して浮上量が
測定される。
【0004】図3(b) は電磁変換特性測定装置の概略の
構成を示す。上記の浮上量測定と同様に、スピンドル3
a に磁気ディスク6を装着して回転し、被検査の磁気ヘ
ッド1がキャリッジ機構2に装着されてディスクの半径
方向に移動し、所定のトラックTR に位置決めする。こ
れに対して電磁変換特性測定7を設け、これより出力さ
れるテスト信号を磁気ヘッド1に与えて磁気ディスク6
に対する書込み/読出しを行い、読出し信号により電磁
変換特性が測定される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記においては、浮上
量測定装置と電磁変換特性測定装置は別個の装置であ
り、被検査の磁気ヘッド1は、まず前者に装着されて浮
上量が測定され、これが終了した後、後者に装着替えし
て電磁変換特性が測定される。このような装着替えには
それなりの手間と時間が必要であり、多数の磁気ヘッド
を効率的に測定するためには装着替えを要しない測定方
法が望ましい。ここで両測定装置を別個とする主な理由
は、両測定に対するテストディスクが異なるからであ
る。一方、両測定装置を比較すると、キャリッジ機構2
と回転機構3は全く同一であるので、これらは両測定に
共通に使用することが可能であり、これに対して両測定
に対応できるテストディスクを使用すれば、測定装置を
1台に集約することができる。これにより磁気ヘッドの
装着替えが不要となり、その手間と時間が省略される。
この発明は以上に鑑みてなされたもので、浮上量と電磁
変換特性の両測定に対応できるテストディスクを使用し
て、従来の別個の装置を集約した磁気ヘッド測定装置を
提供することを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成する磁気ヘッド測定装置であって、1枚または2枚
のディスクにより、磁気ヘッドの浮上量測定と電磁変換
特性測定の両者に対するテストディスクを構成する。テ
ストディスクを装着するスピンドル、およびスピンドル
を回転するモータよりなる回転機構と、磁気ヘッドを装
着して移動するキャリッジ機構と、浮上量測定部、およ
び電磁変換特性測定とを具備する。スピンドルに装着さ
れたテストディスクに対して、キャリッジ機構により磁
気ヘッドをシーク移動し、磁気ヘッドの浮上量と電磁変
換特性をそれぞれ測定する。上記の1枚のテストディス
クは、透明なガラスディスクを半径方向に2分割し、分
割された一方を浮上量測定領域として構成する。上記の
2枚のテストディスクは、浮上量測定に対する透明なガ
ラスディスクと、電磁変換特性測定に対する磁気ディス
クとにより構成し、スピンドルに両ディスクを上下2段
に装着する。装着されたガラスディスクと磁気ディスク
の高さ位置に対して、キャリッジ機構を移動して停止す
る昇降機構を設けたものである。
【0007】
【作用】上記の磁気ヘッド測定装置においては、1枚ま
たは2枚のディスクにより、浮上量と電磁変換特性の両
者の測定用のテストディスクが構成され、これがスピン
ドルに装着されてモータにより回転し、キャリッジ機構
に装着された被検査の磁気ヘッドがテストディスクの所
定のトラックをシークし、浮上量測定部により磁気ヘッ
ドの浮上量が、また電磁変換特性測定により電磁変換特
性がそれぞれ測定される。テストディスクが1枚の場合
は、透明なガラスディスクを半径方向に2分割し、分割
された一方を浮上量測定領域とし、他方に対して磁性膜
を塗布して電磁変換特性測定領域として構成され、キャ
リッジ機構により磁気ヘッドを各領域に移動して上記の
各測定をそれぞれ行う。また、テストディスクが2枚の
場合は、浮上量測定に対する透明なガラスディスクと、
電磁変換特性測定に対する磁気ディスクとにより構成
し、スピンドルに両ディスクを上下2段に装着する。こ
れに対して設けられた昇降機構により、キャリッジ機構
に装着された被検査の磁気ヘッドを各ディスクの高さ位
置に移動して、上記の各測定をそれぞれ行う。以上によ
り、従来別個であった浮上量測定装置と電磁変換特性測
定装置が1台の測定装置に集約され、必要とされた磁気
ヘッドの装着替えが不要となって、その手間と時間が省
略される。
【0008】
【実施例】図1はこの発明の第1の実施例を示す。キャ
リッジ機構2、回転機構3、浮上量測定部5、および電
磁変換特性測定7を具備する。この実施例はテストディ
スクが1枚の場合で、1枚の透明なガラスディスクを素
材とし、これを半径方向に外周領域8a と内周領域8b
の2つ領域に分割する。外周領域8a はそのまま浮上量
測定に充当し、内周領域8b には磁気ディスクと同一の
磁性膜を塗布して電磁変換特性測定に充当してテストデ
ィスク8を構成する。この場合、外周領域8a と内周領
域8b の境界に段差が生じないように、予め内周領域を
磁性膜の厚さだけ凹ませておき、境界部分を研磨などに
より滑らかにすることが必要である。磁気ヘッド1の検
査においては、キャリッジ機構2をディスク8より退避
して磁気ヘッド1を装着し、ついで外周領域8a に移動
して所定のトラックをシークし、従来と同様に浮上量測
定部5により磁気ヘッド1の浮上量を測定する。これが
終了後、磁気ヘッドを内周領域8b に移動して、従来と
同様に電磁変換特性測定7より出力されるテスト信号を
磁気ヘッド1に与えて磁性膜に対する書込み/読出しを
行い、読出し信号により電磁変換特性が測定される。
【0009】図2はこの発明の第2の実施例を示す。キ
ャリッジ機構2、回転機構3、浮上量測定部5、および
電磁変換特性測定7は第1の実施例と同一とする。この
実施例はテストディスクが2枚の場合で、2枚のテスト
ディスクには、前記した図3(a) の透明なガラスディス
ク4と図3(b) の磁気ディスク6を使用し、これらをス
ピンドル3a に上下2段に装着する。また、磁気ヘッド
1をディスク4と6の間に移動するために、キャリッジ
機構2を昇降する昇降機構9を設ける。磁気ヘッドの検
査においては、まずキャリッジ機構2を磁気ヘッド1の
装着位置に退避してこれを装着し、昇降機構9によりキ
ャリッジ機構2を上昇または下降してディスク4の高さ
位置に停止する。キャリッジ機構2により磁気ヘッド1
を水平移動して所定のトラックにシークし、従来と同様
に浮上量測定部5により浮上量を測定する。測定終了
後、磁気ヘッド1を退避し、昇降機構9によりディスク
6の高さ位置に停止して水平移動により所定のトラック
にシークし、従来と同様に電磁変換特性測定7により電
磁変換特性が測定される。
【0010】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による磁
気ヘッド検査装置においては、浮上量と電磁変換特性の
両者の測定用の1枚または2枚のテストディスクを使用
することにより、従来別個であった浮上量測定装置と電
磁変換特性測定装置が1台の測定装置に集約され、磁気
ヘッドの装着替えの手間と時間が省略されて検査時間が
短縮されるもので、検査装置の台数の減少による設備経
費の節減と、検査効率の向上とに寄与するところには大
きいものがある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の第1の実施例に対する構成図を示
す。
【図2】 この発明の第2の実施例に対する構成図を示
す。
【図3】 (a) は磁気ヘッドに対する従来の浮上量測定
装置の構成図を示し、(b) は同じく従来の電磁変換特性
測定装置の構成図を示す。
【符号の説明】
1…磁気ヘッド、2…キャリッジ機構、3…回転機構、
3a …スピンドル、3b …モータ、4…ガラスディス
ク、5…浮上量測定部、5a …干渉光量センサ、5b …
浮上量測定回路、6…磁気ディスク、7…電磁変換特性
測定、8…テストディスク、8a …浮上量測定領域、8
b …電磁変換測定領域、9…昇降機構。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1枚または2枚のディスクにより、磁気
    ヘッドの浮上量測定と電磁変換特性測定の両者に対する
    テストディスクを構成し、該テストディスクを装着する
    スピンドル、および該スピンドルを回転するモータより
    なる回転機構と、前記磁気ヘッドを装着して移動するキ
    ャリッジ機構と、浮上量測定部、および電磁変換特性測
    定とを具備し、該スピンドルに装着された前記テストデ
    ィスクに対して、該キャリッジ機構により該磁気ヘッド
    をシーク移動し、該磁気ヘッドの浮上量と電磁変換特性
    をそれぞれ測定することを特徴とする、磁気ヘッド検査
    装置。
  2. 【請求項2】 前記1枚のテストディスクは、透明なガ
    ラスディスクを半径方向に2分割し、該2分割された一
    方を前記浮上量測定に対する測定領域とし、他方に対し
    て磁性膜を塗布して前記電磁変換特性測定に対する測定
    領域として構成する、請求項1記載の磁気ヘッド検査装
    置。
  3. 【請求項3】 前記2枚のテストディスクは、前記浮上
    量測定に対する透明なガラスディスクと、前記電磁変換
    特性測定に対する磁気ディスクとにより構成し、前記ス
    ピンドルに該ガラスディスクと該磁気ディスクを上下2
    段に装着し、該装着されたガラスディスクと磁気ディス
    クの高さ位置に対して、前記キャリッジ機構を移動して
    停止する昇降機構を設けたことを特徴とする、請求項1
    記載の磁気ヘッド検査装置。
JP14985892A 1992-05-18 1992-05-18 磁気ヘッド検査装置 Pending JPH05325146A (ja)

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JP14985892A JPH05325146A (ja) 1992-05-18 1992-05-18 磁気ヘッド検査装置

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JP14985892A JPH05325146A (ja) 1992-05-18 1992-05-18 磁気ヘッド検査装置

Publications (1)

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JPH05325146A true JPH05325146A (ja) 1993-12-10

Family

ID=15484192

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JP14985892A Pending JPH05325146A (ja) 1992-05-18 1992-05-18 磁気ヘッド検査装置

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JP (1) JPH05325146A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013120608A (ja) * 2011-12-06 2013-06-17 Hitachi High-Technologies Corp ヘッドテスタおよびヘッドテスト方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013120608A (ja) * 2011-12-06 2013-06-17 Hitachi High-Technologies Corp ヘッドテスタおよびヘッドテスト方法

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