JPH071612B2 - ディスクドライブ処理のテスト方式 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 ディスク装置のドライブの諸機能を診断するためのディ
スクドライブ処理のテスト方式に関し， 実際のディスク装置の運用に即した形式でテストを実行
できるようにすることを目的とし， テスト実行手段が，テストデータをディスク装置上の指
定された指定シークアドレスに書込むとともに，この書
込まれたテストデータを読取り，書込みと読取りのテス
トデータが一致するか否かを調べることでテストを実行
するディスクドライブ処理のテスト方式において，指定
シークアドレスを順次設定するためのシークアドレステ
ーブルと，テストデータを設定するためのランダムデー
タとを予め乱数発生手段により生成するとともに，この
ランダムデータの参照開始位置を順次指定するためのイ
ンデックス値テーブルと，この参照開始位置からのデー
タ長を順次指定するための実行バイトカウントテーブル
とを予め乱数発生手段により生成しておき，上記テスト
実行手段は，上記インデックス値テーブル及び上記実行
バイトカウントテーブルに従って指定される上記ランダ
ムデータにより設定されるテストデータを，上記シーク
アドレステーブルにより設定される指定シークアドレス
に書込むよう処理するとともに，この書込まれたデータ
をテスト実行のために読取る際，任意の指定シークアド
レス位置に一度読取りのためのディスクヘッドをセット
してから読取るように処理してなるように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は，ディスク装置のドライブの諸機能を診断する
ためのディスクドライブ処理のテスト方式に関し，特
に，実際のディスク装置の運用に即した形式で診断を実
行できるようにするディスクドライブ処理のテスト方式
に関するものである。

ディスク装置と接続されるデータ処理装置に対しては，
ディスク装置のシーク処理動作及びリード／ライト処理
動作の診断を実行するためのテストプログラムを具備さ
せていく必要がある。このようなテストプログラムは，
ディスク装置の運用状況とできるだけ合致するような形
式で診断を実行できるように構成していく必要があるの
である。

〔従来の技術〕

従来のディスクドライブ処理のテスト方式では，テスト
データを特定な固定データとし，読み書き用のディスク
ヘッドを指定されたシークアドレス位置にセットしてこ
のテストデータを書込むとともに，書込みの終了後にデ
ィスクヘッドを再びテストデータの書込みの開始位置に
戻して書込まれたテストデータを読取り，このようにし
て読出されたテストデータを書込んだテストデータと比
較することで，シーク処理動作とリード／ライト処理動
作に異常がないか否かを判断するようにしていたのであ
る。そして，このテストの実行のために順次設定される
シークアドレスは，低位から高位に向けて順次よく設定
されるようになされているたのである。第６図に，この
従来のディスクドライブ処理のテスト方式のフローチャ
ートを示す。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら，このような従来技術によるならば，順次
設定されるシークアドレスが低位から高位に向けてシー
ケンシャルに設定されていくことから，ディスクヘッド
の移動方向が一定であるとともにディスクヘッドの移動
量も小さく，従ってディスク装置に与える機械的負荷が
小さいという問題点があったのである。すなわち，ディ
スク装置は実際にはランダムアクセスモードで使用され
ることから，このような従来技術のテスト方式では，実
際の運用に即していないという問題点があったのであ
る。これから，例えば，テストではディスクヘッドの位
置決め精度がでていると判断されても，実際の運用では
ディスクヘッドの位置決め精度が十分でなくデータに誤
りがでるということがあった。

また従来技術によるならば，テストデータの書込みが複
数のシリンダにまたがらないような場合には，ディスク
ヘッドをテストデータの書込みの開始位置に戻すときに
際してディスクヘッドの移動がなく，ただ単にディスク
の回転を待つだけの動作になる。従って，誤ってディス
クヘッドがトラック以外の所に位置決めされてしまうよ
うなことがあっても，ディスクヘッドが動かないことか
らそれを検出することができないのである。すなわち，
ディスクヘッドがオントラック上に位置決めされたか否
かを確認できないという問題点があったのである。

更に従来技術によるならば，シークアドレスが更新され
てもテストデータとしては同一のものを使用していたこ
とから，同一のボリュームに対して何度もテストを繰返
して実行しようとする場合には，前回の書込みによるテ
ストデータなのか今回の書込みによるテストデータなの
かわからなくなるために，その度毎に初期化処理を実行
しなければならないという問題点があったのである。

このように従来のディスクドライブ処理のテスト方式で
は，実際のディスク装置の運用状況に即していないこと
から，テストとして十分な機能を果していないという問
題点があったのである。

本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって，実
際のディスク装置の運用に即した形式でディスク装置の
ドライブの諸機能をテストできるようにするディスクド
ライブ処理のテスト方式の提供を目的とするものであ
る。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は，本発明の原理構成図である。

図中,10は本発明のテスト方式を実装するディスクドラ
イブテスト装置,20はディスク装置である。11はテスト
実行手段であって，テストデータをディスク装置20上の
指定シークアドレスに書込むとともに，この書込まれた
テストデータを読取り，書込みと読取りのテストデータ
の一致を調べることでテストを実行する。12は乱数発生
手段であって，乱数を発生する。13はシークアドレステ
ーブルであって，乱数発生手段12により予め生成される
複数の指定シークアドレスを格納する。この指定シーク
アドレスが順次読出されて，テストデータの書込みのた
めの指定シークアドレスとなる。14はランダムデータで
あって，乱数発生手段12により予め生成される複数のテ
ストデータを格納する。15はインデックス値テーブルで
あって，乱数発生手段12により予め生成される複数のイ
ンデックス値を格納する。このインデックス値は，ラン
ダムデータ14の参照開始位置を表わすものである。16は
実行バイトカウントテーブルであって，乱数発生手段12
により予め生成される複数の実行バイトカウント値を格
納する。この実行バイトカウント値は，インデックス値
からのデータ長をバイトカウント数をもって表わすもの
である。インデックス値テーブル15から順次読出される
インデックス値と，実行バイトカウントテーブル16から
順次読出される実行バイトカウント値とに従って順次特
定されていくことになるランダムデータ14のテストデー
タがテストデータとして使われるよう構成される。

〔作 用〕

本発明では，テスト実行手段11は，インデックス値テー
ブル15及び実行バイトカウントテーブル16に従って特定
されるランダムデータ14のテストデータを，シークアド
レステーブル13により設定される指定シークアドレスに
書込むよう処理するとともに，この書込まれたテストデ
ータをテスト実行のために読取る際に，任意の指定シー
クアドレス位置に一度ディスクヘッドをセットしてから
読取るよう処理するものである。

従って，指定シークアドレスとテストデータが乱数より
なることから，ランダムアクセスモードでディスクドラ
イブ機能をテストできるようになる。しかも，テストデ
ータを読取る際に別の指定シークアドレスにとディスク
ヘッドを移動させてからテストデータを読取るので，デ
ィスクヘッドの位置決め精度も正確に確認できることに
なる。このように，本発明によれば，実際の運用に即し
た高負荷の形式でディスク装置のドライブ機能をテスト
できるようになるのである。

〔実施例〕

以下，実施例に従って本発明を詳細に説明する。

本発明のディスクドライブ処理のテスト方式では，テス
トデータを書込むことになるディスク装置20上のシーク
アドレス（以下，指定シークアドレスという）を従来の
ように低位から高位に向けてシーケンシャルに設定して
いくのではなく，ランダムに設定していくために，テス
ト回数分の指定シークアドレスを予め乱数発生手段12に
より生成し，この生成された指定シークアドレスを使わ
れる順序に従って並べてテーブル化しておくように構成
するものである。第２図に，このようにして生成される
シークアドレステーブル13を示す。ここで，図中の指定
シークアドレスｉは乱数値を表わしている。

更に本発明のディスクドライブ処理のテスト方式では，
指定シークアドレスに書込むためのテストデータを従来
のように固定のものにするのではなく，テストシーケン
ス毎に異なるものを用いるようにとするものである。こ
れを実現するために，本発明では，テストデータとなる
大量のランダムデータ14を予め乱数発生手段12により生
成し，ランダムデータ14の参照開始位置を示すインデッ
クス値と，この参照開始位置からのデータ長を示す実行
バイトカウント値とをもって，このランダムデータ14の
どれをテストデータとして使うかということを指定する
ものである。

そして，このインデックス値をランダムに設定していく
ために，テスト回数分のインデックス値を予め乱数発生
手段12により生成し，この生成されたインデックス値を
使われる順序に従って並べてテーブル化しておくように
するとともに，この実行バイトカウント値をランダムに
設定していくために，テスト回数分の実行バイトカウン
ト値を予め乱数発生手段12により生成し，この生成され
た実行バイトカウント値を使われる順序に従って並べて
テーブル化しておくように構成するものである。第３図
に，このようにして生成されるインデックス値テーブル
15及び実行バイトカウントテーブル16を，ランダムデー
タ14と対応付けて示す。ここで，図中のインデックス値
ｉと実行バイトカウント値ｉは乱数値を表わしている。

このように，シークアドレステーブル13,ランダムデー
タ14,インデックス値テーブル15及び実行バイトカウン
トテーブル16の乱数によるデータ生成を，すべてテスト
シーケンスに入る前に行ってしまうのは，乱数生成をテ
ストシーケンス中に逐次行うと，その生成時間によりデ
ィスク装置20に対してアクセスする時間間隔が長くなっ
てしまい，実際の運用状況と離れたものになってしまう
ことになるからである。そして，ランダムデータ14をイ
ンデックス値をもって指定するようにしたことから，ラ
ンダムデータ14をテスト回数分用意しなくても足りるこ
とになる。なお，このランダムデータ14は，サイクリッ
クに利用されることでデータ不足とならないようなされ
ることになる。また，実行バイトカウントテーブル16を
もたすようにしたことから，テストデータのデータ長も
テスト毎に変化するようになるのである。

次に，第４図に示すフローチャートに従って，本発明
が，このように生成されるシークアドレステーブル13,
ランダムデータ14,インデックス値テーブル15及び実行
バイトカウントテーブル16を使って，どのようにディス
ク装置20のドライブ機能をテストしていくことになるの
かについて説明する。

ｎ番目のテストシーケンスであることを想定すると，ス
テップ１で，シークアドレステーブル13のｎ番目に格納
される指定シークアドレスｎを読出し，ディスクヘッド
をこの指定シークアドレスｎの位置にセットする。続い
てステップ２で，インデックス値テーブル15のｎ番目に
格納されるインデックス値ｎと実行バイトカウントテー
ブル16のｎ番目に格納される実行バイトカウント値ｎと
を読出して，このインデックス値ｎ及び実行バイトカウ
ント値ｎに従って特定されるランダムデータ14のテスト
データを求め，このテストデータを指定シークアドレス
ｎ位置に書込むよう処理する。

続いてステップ３で，ディスクヘッド１つ前のテストシ
ーケンスに当るシークアドレステーブル13の（ｎ−１）
番目の指定シークアドレス（ｎ−１）の位置にとセット
し，次のステップ４で，この指定シークアドレス（ｎ−
１）位置に書込まれているデータを１セクタ分だけ読取
るよう処理する。このように，ステップ２の処理の後
で，全く別の指定シークアドレス位置にディスクヘッド
を移動させたのは，従来技術の欠点をなくして，ステッ
プ２で書込まれたテストデータがオントラック上に正し
く書込まれたかを確認できるようにするためである。そ
して,1セクタ分だけ読取るようにしたのは，ディスクヘ
ッドが確かに別の指定シークアドレス位置に移動したと
いうことを確認できるようにするためである。これから
１セクタ分ではなくて，データのすべてを読取るように
してもよいし，あるいはデータを読取らないようにする
ことも可能である。

続くステップ５では，ディスクヘッドをステップ２で書
込んだテストデータの開始位置に戻すべく，ステップ１
の指定シークアドレスｎの位置にセットする。そして次
のステップ６で，ステップ２で書込んだテストデータを
読出すとともに，ステップ７で，書込んだテストデータ
と読出したテストデータとを比較することで，ディスク
装置20のドライブ機能が正常であるか否かを判断するの
である。そして，このステップ１ないしステップ７の処
理をテスト回数分だけ繰返してテストを完了する。

以上に説明した本発明のディスクドライブ処理のテスト
方式の処理内容を，第５図に模式的に示す。ここで，図
中の数字は，第４図のステップ番号を表わしている。

このように，本発明によれば，ランダムアクセスモード
でディスク装置のディスクドライブ機能をテストできる
ようになる。しかも，予めデータを乱数により生成して
おくことから，テストを高負荷の状態で実行できるよう
になるのである。

以上，図示実施例について説明したが，本発明はこれに
限定されるものではない。例えば，第４図のステップ３
で説明したディスクヘッドを別の指定シークアドレス位
置に移動させる処理は,1つ前のテストシーケンスの指定
シークアドレス位置に戻すものに限られるものではない
のである。

〔発明の効果〕

このように，本発明によれば，ディスクドライブ機能を
実際の運用状況に即した高負荷の形式でテストできるこ
とになることから，テストの信頼性を高めることができ
ることになる。そして，初期化処理を施さずに同一のボ
リュームに対して何度もテストを繰返すことができるよ
うになるとともに，ランダムデータは，インデックス値
テーブルによって何度もランダムにテストデータとして
利用できるので，テスト回数分のテストデータを用意す
る必要がなく，極めて実用性の高いテスト装置となすこ
とができるようになるのである。

【図面の簡単な説明】

第１図は原理構成図， 第２図はシークアドレステーブルの説明図， 第３図はインデックス値テーブル及び実行バイトカウン
トテーブルの説明図， 第４図は本発明の実行するフローチャート， 第５図は本発明の処理内容の説明図， 第６図は従来のテスト方式のフローチャートである。 図中,11はテスト実行手段,12は乱数発生手段,13はシー
クアドレステーブル,14はランダムデータ,15はインデッ
クス値テーブル,16は実行バイトカウントテーブル,20は
ディスク装置である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ディスクドライブ処理のテストを実行する
   テスト実行手段（11）を備え，そのテスト実行手段（1
   1）が，テストデータをディスク装置（20）上の指定さ
   れた指定シークアドレスに書込むとともに，この書込ま
   れたテストデータを読取り，書込んだテストデータと読
   取ったテストデータとが一致するか否かを調べること
   で，ディスクドライブ処理のテストを実行するディスク
   ドライブ処理のテスト方式において， 指定シークアドレスを順次設定するためのシークアドレ
   ステーブル（13）と，テストデータを設定するためのラ
   ンダムデータ（14）とを予め乱数発生手段（12）により
   生成するとともに，このランダムデータ（14）の参照開
   始位置を順次指定するためのインデックス値テーブル
   （15）と，この参照開始位置からのデータ長を順次指定
   するための実行バイトカウントテーブル（16）とを予め
   乱数発生手段（12）により生成しておき， 上記テスト実行手段（11）は，上記インデックス値テー
   ブル（15）及び上記実行バイトカウントテーブル（16）
   に従って指定される上記ランダムデータ（14）により設
   定されるテストテータを，上記シークアドレステーブル
   （13）により設定される指定シークアドレスに書込むよ
   う処理するとともに，この書込まれたテストデータをテ
   スト実行のために読取る際に，任意の指定シークアドレ
   ス位置に一度読取りのためのディスクヘッドをセットし
   てから読取るよう処理してなることを， 特徴とするディスクドライブ処理のテスト方式。