JPH04126357U - 磁気デイスク装置のテスト装置 - Google Patents
磁気デイスク装置のテスト装置Info
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- JPH04126357U JPH04126357U JP3244591U JP3244591U JPH04126357U JP H04126357 U JPH04126357 U JP H04126357U JP 3244591 U JP3244591 U JP 3244591U JP 3244591 U JP3244591 U JP 3244591U JP H04126357 U JPH04126357 U JP H04126357U
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 16
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Abstract
(57)【要約】
【目的】後発エラーの処理を自動化して検査時間を短縮
させる。 【構成】W/Rコントロール回路部1は、磁気ディスク
装置8のフォーマットの1トラック分の各セクタの「D
ATA部」をリードし書き込みデータと一致することを
確認する。すべてのセクタのデータが一致していれば次
のヘッドあるいは次のシリンダの検査へ移る。もし一致
しない箇所があった場合、W/Rコントロール回路部1
はエラーが発生したシリンダ,ヘッド,インデックスか
らの位置及びエラーの長さを記憶する。また、エラーの
発生したセクタを不良セクタとして処理し、ID W/
R回路部3をコントロールして再フォーマットを行う。
再フォーマット後再び「ID部」リード,「DATA
部」ライト及び「DATA部」リードを行い、エラーの
ないことを確認する。前記テストを全シリンダ,ヘッド
について行った後MAP W/R回路部2によって後発
エラーを媒体欠陥専用トラックに追記し、結果をプリン
タ部7に出力する。
させる。 【構成】W/Rコントロール回路部1は、磁気ディスク
装置8のフォーマットの1トラック分の各セクタの「D
ATA部」をリードし書き込みデータと一致することを
確認する。すべてのセクタのデータが一致していれば次
のヘッドあるいは次のシリンダの検査へ移る。もし一致
しない箇所があった場合、W/Rコントロール回路部1
はエラーが発生したシリンダ,ヘッド,インデックスか
らの位置及びエラーの長さを記憶する。また、エラーの
発生したセクタを不良セクタとして処理し、ID W/
R回路部3をコントロールして再フォーマットを行う。
再フォーマット後再び「ID部」リード,「DATA
部」ライト及び「DATA部」リードを行い、エラーの
ないことを確認する。前記テストを全シリンダ,ヘッド
について行った後MAP W/R回路部2によって後発
エラーを媒体欠陥専用トラックに追記し、結果をプリン
タ部7に出力する。
Description
【0001】
本考案は磁気ディスク装置のテスト装置に関し、特にコンピュータの外部記憶
装置である磁気ディスク装置のテスト装置に関する。
【0002】
従来、この種の磁気ディスク装置のテスト装置は、図2に示すように、あらか
じめフォーマットされた(例えばセクタフォーマット)磁気ディスク装置17を
接続するディスクインターフェイス15と、セクタフォーマット内のID部をリ
ードするID RD回路部12と、セクタフォーマット内のDATA部をライト
・リードするDATA W/R回路部13と、ID部とDATA部とのデータを
切り換えるデータセレクタ14と、各部をコントロールしデータ比較を行うW/
Rコントロール回路部11と、結果を出力するプリンタ部16とを有している。
【0003】
次にセクタフォーマットされた磁気ディスク装置をテストする場合の本従来例
の動作について説明する。
【0004】
図2に示す従来の磁気ディスク装置のテスト装置(以下DTS)20は、媒体
欠陥情報に基づき図3に示すようにフォーマットされた各セクタのID部の情報
をID RD回路部12でリードし、DATA部にDATA W/R回路部13
がデータを書き込む。このとき、ID部のFLAGバイト21の内容が不良セク
タ(FLAG=“02”)であれば、そのセクタはライト・リードしない。
【0005】
次に、各セクタのDATA部をDATA W/R回路部13が読み出して書き
込みデータと比較し、正常にライト・リードできるか検査を行う。もしリード時
に書き込みデータと違うデータが読み出された場合、エラーの起きたフォーマッ
ト内のシリンダ,ヘッド,インデックスからの位置(バイト数)及びエラーの長
さ(バイト数)をプリンタ部16にプリントアウトする。
【0006】
このDTS20において後発エラーが発生すると、前工程(フォーマット)へ
戻り手入力で後発エラーを追加(不良セクタ処理)して、再フォーマットし、再
びDTS20で検査が行われる。
【0007】
ここでDTS20は磁気ディスク装置17の最終出荷検査機として使用される
。
【0008】
上述した従来のDTSでは、ライト・リード試験中に起きた後発エラーを媒体
欠陥情報専用トラックに追加書き込みできないため、後発エラーが発生した場合
、前工程に戻り欠陥情報を書き換え、再フォーマットし、再びDTSで検査を行
うため、後発エラーが起きた場合、再検査に時間がかかり手入力で数値を入力す
るため信頼性に欠けるという欠点がある。
【0009】
本考案のDTSは、磁気ディスク装置のフォーマットに基づきライト・リード
試験を行う試験手段と、前記ライト・リード試験で発生した後発エラーをスキッ
プして、該当トラックを再フォーマットするフォーマット手段と、前記ライト・
リード試験で発生した後発エラーを媒体欠陥情報専用トラックに追加書込みする
書込手段とを備えている。
【0010】
次に、本考案について図面を参照して説明する。
【0011】
図1は本考案の一実施例を示すブロック図、図3は磁気ディスク装置における
1トラック分のセクタフォーマットの一例を示す図である。
【0012】
図1において、本実施例のDTS10は磁気ディスク装置8のセクタフォーマ
ットの「DATA部」にライト・リード試験を行うデータ書込・読取(DATA
W/R)回路部4と、媒体欠陥情報の専用トラックにライト・リードを行うマ
ップ書込・読取(MAP W/R)回路部2と、媒体欠陥情報をもとにセクタフ
ォーマットの「ID部」に不良フラッグの書込みを行うアイディ書込・読取(I
D W/R)回路部3と、データの生成及び前記各回路部のコントロールを行う
書込・読取(W/R)コントロール回路部1と、MAP,ID,DATAの各W
/R回路部2,3,4を選択するデータセレクタ5と、被テストの磁気ディスク
装置8にインタフェースするディスクインタフェース6と、テスト結果を印字す
るプリンタ部7とを有して構成している。
【0013】
次に、本実施例の動作について図1,図3を併用して説明する。
【0014】
前工程ですでにフォーマットされた磁気ディスク装置8は、DTS10内のデ
ィスクインターフェイス6と接続され、DTS10によりセクタフォーマットの
「DATA部」のライト・リード試験が行われる。まず、W/Rコントロール回
路部1から、ディスクインターフェイス6を介して磁気ディスク装置8のターゲ
ットシリンダへシーク動作を行い、ヘッドをセレクトする。
【0015】
次に、W/Rコントロール回路部1は、データセレクタ5,ID W/R回路
部3及びDATA W/R回路部4をコントロールし、1トラック分の各セクタ
の「ID部」をリードし「DATA部」にデータを書き込む。この時「ID部」
のFLAGバイトの内容が不良セクタ(欠陥があるセクタFLAG=“02”)
であればそのセクタの「DATA部」の書き込み、読み込みは行わない。
【0016】
次に、W/Rコントロール回路部1は、1トラック分の各セクタの「DATA
部」をリードし、書き込みデータと一致することを確認する。すべてのセクタの
データが一致していれば、次のヘッドあるいは次のシリンダの検査へ移る。
【0017】
もし、一致しない箇所があった場合、W/Rコントロール回路部1はエラーが
発生したシリンダ,ヘッド,インデックスからの位置及びエラーの長さを記憶す
る。また、エラーの発生したセクタを不良セクタとして処理し(FLAGバイト
に“02”を書き込む)、ID W/R回路部3をコントロールして再フォーマ
ットを行う。再フォーマット後再び前述の「ID部」リード,「DATA部」ラ
イト及び「DATA部」リードを行い、エラーのないことを確認する。
前記テストを全シリンダ,ヘッドについて行った後、後発エラーを以下の手順で
媒体欠陥専用トラックに追記する。
【0018】
W/Rコントロール回路部1はデータセレクタ5とMAP W/R回路部2を
コントロールし、媒体欠陥情報を読み出す。次に後発エラーをシリンダ,ヘッド
の小さい順に欠陥情報の該当箇所に挿入していく。(欠陥情報はシリンダヘッド
の小さい順に書かれているため。)
最後にすべての後発エラーを含んだ欠陥情報を専用トラックに書き込み、結果
をプリンタ部7に出力して検査を終了する。
【0019】
以上説明したように本考案は、磁気ディスク装置のフォーマットの「DATA
部」のライトリード試験により発生した後発エラーをもとに再フォーマットする
フォーマット手段及び媒体欠陥情報専用トラックに後発エラーを追記する書込手
段とを有することにより、後発エラーの処理を自動化できるので検査時間を従来
より短縮し信頼性を向上させることができるという効果を有する。
【図1】本考案の一実施例を示すブロック図である。
【図2】従来の磁気ディスク装置のテスト装置の一例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図3】磁気ディスク装置における1トラック分のセク
タフォーマットの一例を示す図である。
タフォーマットの一例を示す図である。
1 書込・読取(W/R)コントロール回路部
2 マップ書込・読取(MAP W/R)回路部
3 アイディ書込・読取(ID W/R)回路部
4 データ書込・読取(DATA W/R)回路部
5 データセレクタ
6 ディスクインターフェイス
7 プリンタ部
8 磁気ディスク装置
10 磁気ディスク装置のテスト装置(DTS)
11 W/Rコントロール回路部
12 アイディリード(ID RD)回路部
13 データ書込・読取(DATA W/R)回路部
14 データセレクタ
15 ディスクインターフェイス
16 プリンタ部
17 磁気ディスク装置
20 磁気ディスク装置のテスト装置(DTS)
21 FLAGバイト
Claims (1)
- 【請求項1】 磁気ディスク装置のフォーマットに基づ
きライト・リード試験を行う試験手段と、前記ライト・
リード試験で発生した後発エラーをスキップして、該当
トラックを再フォーマットするフォーマット手段と、前
記ライト・リード試験で発生した後発エラーを媒体欠陥
情報専用トラックに追加書込みする書込手段とを備える
ことを特徴とする磁気ディスク装置のテスト装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3244591U JPH04126357U (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 磁気デイスク装置のテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3244591U JPH04126357U (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 磁気デイスク装置のテスト装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04126357U true JPH04126357U (ja) | 1992-11-18 |
Family
ID=31915379
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3244591U Pending JPH04126357U (ja) | 1991-05-10 | 1991-05-10 | 磁気デイスク装置のテスト装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04126357U (ja) |
-
1991
- 1991-05-10 JP JP3244591U patent/JPH04126357U/ja active Pending
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