JPH04126357U - 磁気デイスク装置のテスト装置 - Google Patents

磁気デイスク装置のテスト装置

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JPH04126357U
JPH04126357U JP3244591U JP3244591U JPH04126357U JP H04126357 U JPH04126357 U JP H04126357U JP 3244591 U JP3244591 U JP 3244591U JP 3244591 U JP3244591 U JP 3244591U JP H04126357 U JPH04126357 U JP H04126357U
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JP
Japan
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section
data
magnetic disk
sector
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Pending
Application number
JP3244591U
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English (en)
Inventor
尚久 高山
Original Assignee
日本電気株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】後発エラーの処理を自動化して検査時間を短縮
させる。 【構成】W/Rコントロール回路部1は、磁気ディスク
装置8のフォーマットの1トラック分の各セクタの「D
ATA部」をリードし書き込みデータと一致することを
確認する。すべてのセクタのデータが一致していれば次
のヘッドあるいは次のシリンダの検査へ移る。もし一致
しない箇所があった場合、W/Rコントロール回路部1
はエラーが発生したシリンダ,ヘッド,インデックスか
らの位置及びエラーの長さを記憶する。また、エラーの
発生したセクタを不良セクタとして処理し、ID W/
R回路部3をコントロールして再フォーマットを行う。
再フォーマット後再び「ID部」リード,「DATA
部」ライト及び「DATA部」リードを行い、エラーの
ないことを確認する。前記テストを全シリンダ,ヘッド
について行った後MAP W/R回路部2によって後発
エラーを媒体欠陥専用トラックに追記し、結果をプリン
タ部7に出力する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は磁気ディスク装置のテスト装置に関し、特にコンピュータの外部記憶 装置である磁気ディスク装置のテスト装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、この種の磁気ディスク装置のテスト装置は、図2に示すように、あらか じめフォーマットされた(例えばセクタフォーマット)磁気ディスク装置17を 接続するディスクインターフェイス15と、セクタフォーマット内のID部をリ ードするID RD回路部12と、セクタフォーマット内のDATA部をライト ・リードするDATA W/R回路部13と、ID部とDATA部とのデータを 切り換えるデータセレクタ14と、各部をコントロールしデータ比較を行うW/ Rコントロール回路部11と、結果を出力するプリンタ部16とを有している。
【0003】 次にセクタフォーマットされた磁気ディスク装置をテストする場合の本従来例 の動作について説明する。
【0004】 図2に示す従来の磁気ディスク装置のテスト装置(以下DTS)20は、媒体 欠陥情報に基づき図3に示すようにフォーマットされた各セクタのID部の情報 をID RD回路部12でリードし、DATA部にDATA W/R回路部13 がデータを書き込む。このとき、ID部のFLAGバイト21の内容が不良セク タ(FLAG=“02”)であれば、そのセクタはライト・リードしない。
【0005】 次に、各セクタのDATA部をDATA W/R回路部13が読み出して書き 込みデータと比較し、正常にライト・リードできるか検査を行う。もしリード時 に書き込みデータと違うデータが読み出された場合、エラーの起きたフォーマッ ト内のシリンダ,ヘッド,インデックスからの位置(バイト数)及びエラーの長 さ(バイト数)をプリンタ部16にプリントアウトする。
【0006】 このDTS20において後発エラーが発生すると、前工程(フォーマット)へ 戻り手入力で後発エラーを追加(不良セクタ処理)して、再フォーマットし、再 びDTS20で検査が行われる。
【0007】 ここでDTS20は磁気ディスク装置17の最終出荷検査機として使用される 。
【0008】
【考案が解決しようとする課題】
上述した従来のDTSでは、ライト・リード試験中に起きた後発エラーを媒体 欠陥情報専用トラックに追加書き込みできないため、後発エラーが発生した場合 、前工程に戻り欠陥情報を書き換え、再フォーマットし、再びDTSで検査を行 うため、後発エラーが起きた場合、再検査に時間がかかり手入力で数値を入力す るため信頼性に欠けるという欠点がある。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本考案のDTSは、磁気ディスク装置のフォーマットに基づきライト・リード 試験を行う試験手段と、前記ライト・リード試験で発生した後発エラーをスキッ プして、該当トラックを再フォーマットするフォーマット手段と、前記ライト・ リード試験で発生した後発エラーを媒体欠陥情報専用トラックに追加書込みする 書込手段とを備えている。
【0010】
【実施例】
次に、本考案について図面を参照して説明する。
【0011】 図1は本考案の一実施例を示すブロック図、図3は磁気ディスク装置における 1トラック分のセクタフォーマットの一例を示す図である。
【0012】 図1において、本実施例のDTS10は磁気ディスク装置8のセクタフォーマ ットの「DATA部」にライト・リード試験を行うデータ書込・読取(DATA W/R)回路部4と、媒体欠陥情報の専用トラックにライト・リードを行うマ ップ書込・読取(MAP W/R)回路部2と、媒体欠陥情報をもとにセクタフ ォーマットの「ID部」に不良フラッグの書込みを行うアイディ書込・読取(I D W/R)回路部3と、データの生成及び前記各回路部のコントロールを行う 書込・読取(W/R)コントロール回路部1と、MAP,ID,DATAの各W /R回路部2,3,4を選択するデータセレクタ5と、被テストの磁気ディスク 装置8にインタフェースするディスクインタフェース6と、テスト結果を印字す るプリンタ部7とを有して構成している。
【0013】 次に、本実施例の動作について図1,図3を併用して説明する。
【0014】 前工程ですでにフォーマットされた磁気ディスク装置8は、DTS10内のデ ィスクインターフェイス6と接続され、DTS10によりセクタフォーマットの 「DATA部」のライト・リード試験が行われる。まず、W/Rコントロール回 路部1から、ディスクインターフェイス6を介して磁気ディスク装置8のターゲ ットシリンダへシーク動作を行い、ヘッドをセレクトする。
【0015】 次に、W/Rコントロール回路部1は、データセレクタ5,ID W/R回路 部3及びDATA W/R回路部4をコントロールし、1トラック分の各セクタ の「ID部」をリードし「DATA部」にデータを書き込む。この時「ID部」 のFLAGバイトの内容が不良セクタ(欠陥があるセクタFLAG=“02”) であればそのセクタの「DATA部」の書き込み、読み込みは行わない。
【0016】 次に、W/Rコントロール回路部1は、1トラック分の各セクタの「DATA 部」をリードし、書き込みデータと一致することを確認する。すべてのセクタの データが一致していれば、次のヘッドあるいは次のシリンダの検査へ移る。
【0017】 もし、一致しない箇所があった場合、W/Rコントロール回路部1はエラーが 発生したシリンダ,ヘッド,インデックスからの位置及びエラーの長さを記憶す る。また、エラーの発生したセクタを不良セクタとして処理し(FLAGバイト に“02”を書き込む)、ID W/R回路部3をコントロールして再フォーマ ットを行う。再フォーマット後再び前述の「ID部」リード,「DATA部」ラ イト及び「DATA部」リードを行い、エラーのないことを確認する。 前記テストを全シリンダ,ヘッドについて行った後、後発エラーを以下の手順で 媒体欠陥専用トラックに追記する。
【0018】 W/Rコントロール回路部1はデータセレクタ5とMAP W/R回路部2を コントロールし、媒体欠陥情報を読み出す。次に後発エラーをシリンダ,ヘッド の小さい順に欠陥情報の該当箇所に挿入していく。(欠陥情報はシリンダヘッド の小さい順に書かれているため。) 最後にすべての後発エラーを含んだ欠陥情報を専用トラックに書き込み、結果 をプリンタ部7に出力して検査を終了する。
【0019】
【考案の効果】
以上説明したように本考案は、磁気ディスク装置のフォーマットの「DATA 部」のライトリード試験により発生した後発エラーをもとに再フォーマットする フォーマット手段及び媒体欠陥情報専用トラックに後発エラーを追記する書込手 段とを有することにより、後発エラーの処理を自動化できるので検査時間を従来 より短縮し信頼性を向上させることができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示すブロック図である。
【図2】従来の磁気ディスク装置のテスト装置の一例を
示すブロック図である。
【図3】磁気ディスク装置における1トラック分のセク
タフォーマットの一例を示す図である。
【符号の説明】
1 書込・読取(W/R)コントロール回路部 2 マップ書込・読取(MAP W/R)回路部 3 アイディ書込・読取(ID W/R)回路部 4 データ書込・読取(DATA W/R)回路部 5 データセレクタ 6 ディスクインターフェイス 7 プリンタ部 8 磁気ディスク装置 10 磁気ディスク装置のテスト装置(DTS) 11 W/Rコントロール回路部 12 アイディリード(ID RD)回路部 13 データ書込・読取(DATA W/R)回路部 14 データセレクタ 15 ディスクインターフェイス 16 プリンタ部 17 磁気ディスク装置 20 磁気ディスク装置のテスト装置(DTS) 21 FLAGバイト

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気ディスク装置のフォーマットに基づ
    きライト・リード試験を行う試験手段と、前記ライト・
    リード試験で発生した後発エラーをスキップして、該当
    トラックを再フォーマットするフォーマット手段と、前
    記ライト・リード試験で発生した後発エラーを媒体欠陥
    情報専用トラックに追加書込みする書込手段とを備える
    ことを特徴とする磁気ディスク装置のテスト装置。
JP3244591U 1991-05-10 1991-05-10 磁気デイスク装置のテスト装置 Pending JPH04126357U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3244591U JPH04126357U (ja) 1991-05-10 1991-05-10 磁気デイスク装置のテスト装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3244591U JPH04126357U (ja) 1991-05-10 1991-05-10 磁気デイスク装置のテスト装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04126357U true JPH04126357U (ja) 1992-11-18

Family

ID=31915379

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3244591U Pending JPH04126357U (ja) 1991-05-10 1991-05-10 磁気デイスク装置のテスト装置

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JP (1) JPH04126357U (ja)

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