JPS586474A - 磁気デイスク装置の試験方法 - Google Patents
磁気デイスク装置の試験方法Info
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- JPS586474A JPS586474A JP10398881A JP10398881A JPS586474A JP S586474 A JPS586474 A JP S586474A JP 10398881 A JP10398881 A JP 10398881A JP 10398881 A JP10398881 A JP 10398881A JP S586474 A JPS586474 A JP S586474A
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- JP
- Japan
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- medium
- magnetic disk
- information
- circuit
- disk device
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- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 26
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 20
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 4
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、磁気ディスク装置の試験方法に関し。
さらに詳しくは媒体試験工程と、装置試験工程とを含ん
でなる磁気ディスク装置の試験方法に関するＯ 従来よシ磁気ディスク装置の試験は、媒体が装置に組込
まれる以前に先ず磁気ディスク媒体単体にて試験が行彦
われる。そして然る後に周辺回路を含む装置全体の試験
が行なわれる。
でなる磁気ディスク装置の試験方法に関するＯ 従来よシ磁気ディスク装置の試験は、媒体が装置に組込
まれる以前に先ず磁気ディスク媒体単体にて試験が行彦
われる。そして然る後に周辺回路を含む装置全体の試験
が行なわれる。
この装置試験工程では、媒体試験工程にて得られた欠陥
位置情報をもとに媒体上の欠陥位置をスキップして試験
することが行なわれている。
位置情報をもとに媒体上の欠陥位置をスキップして試験
することが行なわれている。
この媒体上の欠陥位置のスキップの方法として２つの方
法が採られている。
法が採られている。
その１つは、実際の稼動状態でよく用いられる固定長ア
ドレス、所謂−セクタアドレスをもとに媒体試験を行な
へ装置試験時における欠陥位置のスキップをセクタ単位
で、フラグを立て一行なう方法である。
ドレス、所謂−セクタアドレスをもとに媒体試験を行な
へ装置試験時における欠陥位置のスキップをセクタ単位
で、フラグを立て一行なう方法である。
他の１つは媒体試験にて判明した欠陥位ｉｌをデータレ
コードの境界部分のギャップとなるようにデータレコー
ド長を調贅しながら行なう、可変長レコード方式を適用
する方法である。
コードの境界部分のギャップとなるようにデータレコー
ド長を調贅しながら行なう、可変長レコード方式を適用
する方法である。
前者轄試験操作は簡単であるが、予め定められたセクタ
単位での欠陥位置情報を用いているため。
単位での欠陥位置情報を用いているため。
フラグを立てた同セクタ内の全ての領域についてチェッ
クをすることができない。このことは換言すれば例えば
媒体試験時のセクタ数以外のセクタ数を実際に適用して
実用に供しようとする場合当然のことながら障害の発生
を招く。
クをすることができない。このことは換言すれば例えば
媒体試験時のセクタ数以外のセクタ数を実際に適用して
実用に供しようとする場合当然のことながら障害の発生
を招く。
後者は前者の如く欠陥位置をセクタ単位で管理する方法
では々いため媒体上の有効エリアを有効に’Ｊ保するこ
とができる反面データレコードが可変長となるためリー
ドライトの制御が複雑となる。
では々いため媒体上の有効エリアを有効に’Ｊ保するこ
とができる反面データレコードが可変長となるためリー
ドライトの制御が複雑となる。
さらにはまた媒体試験稜、装置試旅にて新たに見つかっ
た欠陥についてその欠陥位置を見つけるのに複雑な手順
を必要とする。
た欠陥についてその欠陥位置を見つけるのに複雑な手順
を必要とする。
本発明は叙上の欠点に鑑みてなされたもので。
その目的とするところは、？ｌｌ！年な回路を付加する
のみで確実に試験を行ない得る磁気ディスク装置の試験
方法を夾現することにある。
のみで確実に試験を行ない得る磁気ディスク装置の試験
方法を夾現することにある。
本発明の目的は、磁気ディスク媒体上の欠陥位置を検出
する媒体試験工程と、該媒体試験工程の後に行なわれ該
媒体に所定の情報を書込む一方該媒体よシ読取られる読
取情報を基準情報と比較して検査を行なう装置試験工程
とを含んでなる磁気ディスク装置の試験方法において、
上記媒体試験工程にて磁気ディスク媒体上の欠陥位置の
アドレス情報を記憶する一方、上記装置試験工程にて該
記憶された欠陥位置のアドレス情報を読出し、以て該欠
陥位置に対応する領域より読出される読取情報の基準情
報との比較結果を無効とすることを特徴とする磁気ディ
スク装置の試験方法とすることによって達成することが
できる。
する媒体試験工程と、該媒体試験工程の後に行なわれ該
媒体に所定の情報を書込む一方該媒体よシ読取られる読
取情報を基準情報と比較して検査を行なう装置試験工程
とを含んでなる磁気ディスク装置の試験方法において、
上記媒体試験工程にて磁気ディスク媒体上の欠陥位置の
アドレス情報を記憶する一方、上記装置試験工程にて該
記憶された欠陥位置のアドレス情報を読出し、以て該欠
陥位置に対応する領域より読出される読取情報の基準情
報との比較結果を無効とすることを特徴とする磁気ディ
スク装置の試験方法とすることによって達成することが
できる。
以下本発明を図面を用いて説明する。
第１図は本発明にか＼る磁気ディスク装置の試験方法を
適用した試験回路の一実施例を示す０尚図示の回路は装
置試験に用いられる試験回路を示している。
適用した試験回路の一実施例を示す０尚図示の回路は装
置試験に用いられる試験回路を示している。
図において、１は磁気ディスク装置、２はカウンタｔ
ａｉｊ比較のための基準データの書込まれた記憶回路
、４は媒体試験において検出された媒体の欠陥位置情報
を蓄積する記憶回路、５は比較回路＋ ６Ｆｉエラー
７ラグレジスタ、７はリードデータバッファ記憶回路で
ある。装置試験にあって杜。
ａｉｊ比較のための基準データの書込まれた記憶回路
、４は媒体試験において検出された媒体の欠陥位置情報
を蓄積する記憶回路、５は比較回路＋ ６Ｆｉエラー
７ラグレジスタ、７はリードデータバッファ記憶回路で
ある。装置試験にあって杜。
磁気ディスク装置ＩＫ対して所定の情報が予め書込まれ
ており、この書込みデータを順次磁気ヘッドにより読出
して比較回路５に入力する。一方比較回路５の一方の入
力端子にはデータ書込みに用いられた書込みデータが入
力され２両データが比較される。
ており、この書込みデータを順次磁気ヘッドにより読出
して比較回路５に入力する。一方比較回路５の一方の入
力端子にはデータ書込みに用いられた書込みデータが入
力され２両データが比較される。
と＼で記憶回路４からはマスク情報が比較回路５に入力
される。すなわち媒体試験時に集積された欠陥位置情報
が、マスク情報として磁気ディスク装置１から送出され
るクロックのもとにカウンタ２を介して順次与えられる
バイトアドレス単位で記憶回路４より比較回路５に入力
される。従って比較回路５はこのマスク情報を受容した
ときのみその比較結果を無効とする。このようにして欠
陥位置をマスクする。さらに比較の結果エラーの存在す
る場合リードデータバッファ記憶回路７に蓄積されたリ
ードデータを読みそのエラー内容を ・チェックする
。このように媒体試験結果を記憶回路４にセットするこ
とで簡単にリードデータのマスクを行うことができる。
される。すなわち媒体試験時に集積された欠陥位置情報
が、マスク情報として磁気ディスク装置１から送出され
るクロックのもとにカウンタ２を介して順次与えられる
バイトアドレス単位で記憶回路４より比較回路５に入力
される。従って比較回路５はこのマスク情報を受容した
ときのみその比較結果を無効とする。このようにして欠
陥位置をマスクする。さらに比較の結果エラーの存在す
る場合リードデータバッファ記憶回路７に蓄積されたリ
ードデータを読みそのエラー内容を ・チェックする
。このように媒体試験結果を記憶回路４にセットするこ
とで簡単にリードデータのマスクを行うことができる。
さらには装置試験時に出てきた欠陥位ｆＩ１．ｔｌ−も
簡単に判別することができる。これは、カウンタ２の内
容によってインデックスからの位置を知ることで行なう
ことができる。
簡単に判別することができる。これは、カウンタ２の内
容によってインデックスからの位置を知ることで行なう
ことができる。
尚上記実施例における記憶回路４については次の方法が
考えられる。
考えられる。
第１の方法はＤＭＡ可能なＲＡＭを用いる方法で媒体試
験結果に基いてその内容をＤＭＡ可能なＲＡＭに書込み
装置からのリードデータに同期させて比較回路を制御す
る方法である。
験結果に基いてその内容をＤＭＡ可能なＲＡＭに書込み
装置からのリードデータに同期させて比較回路を制御す
る方法である。
第２の方法は第２図に示すように欠陥位置情報を入力さ
れるレジスタ４′と７リツプフロツプ８を用いる方法で
ある。この方法は媒体試験にて得られた欠陥位置情報を
レジスタ４′に入れ、その内容と第１図図示のカウンタ
２がらの出方が一致する時点でマスクのためのフリップ
フロップ８をセットしてマスク情報とする方法である。
れるレジスタ４′と７リツプフロツプ８を用いる方法で
ある。この方法は媒体試験にて得られた欠陥位置情報を
レジスタ４′に入れ、その内容と第１図図示のカウンタ
２がらの出方が一致する時点でマスクのためのフリップ
フロップ８をセットしてマスク情報とする方法である。
第１図は本発明にか＼る磁気ディスク装置の試験方法を
適用した試験回路の一実施例、第２図は本発明を適用し
た試験回路の他の実施例を示す。 図において、１は磁気ディスク装置、２はカウンタ、３
は比較回路、４は欠陥位置記憶回路、５は比較回路、７
はリードデータバッファＲＡＭである。
適用した試験回路の一実施例、第２図は本発明を適用し
た試験回路の他の実施例を示す。 図において、１は磁気ディスク装置、２はカウンタ、３
は比較回路、４は欠陥位置記憶回路、５は比較回路、７
はリードデータバッファＲＡＭである。
Claims (1)
- 磁気ディスク媒体上の欠陥位ｉを検出する媒体試験工程
と、該媒体試験工程の後に行なわれ該媒体に所定の情報
′ｆｔ＊込む一方該媒体よ＃）読取られる読取情報を基
準情報と比較して検査を行なう装置試験工程とを含んで
なる磁気ディスク装置の試験方法において、上記媒体試
験工程にて磁気ディスク媒体上の欠陥位置のアドレス情
報を記憶する一方、上記装抛゛試験工程にて核記憶され
た欠陥位置のアドレス＋に報２ｉｌ−軌出し、以て該欠
陥位置に対応する領域よシ読出される読取情報の基１￥
悄帳との比較結果を無効とすること全特徴とする磁気デ
ィスク装置の試験方法０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10398881A JPS586474A (ja) | 1981-07-03 | 1981-07-03 | 磁気デイスク装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10398881A JPS586474A (ja) | 1981-07-03 | 1981-07-03 | 磁気デイスク装置の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS586474A true JPS586474A (ja) | 1983-01-14 |
Family
ID=14368678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10398881A Pending JPS586474A (ja) | 1981-07-03 | 1981-07-03 | 磁気デイスク装置の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS586474A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1993018414A1 (en) * | 1992-03-06 | 1993-09-16 | Maxtor Corporation | Data recording system incorporating flaw detection circuitry |
-
1981
- 1981-07-03 JP JP10398881A patent/JPS586474A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5247254A (en) * | 1990-12-21 | 1993-09-21 | Maxtor Corporation | Data recording system incorporating flaw detection circuitry |
| WO1993018414A1 (en) * | 1992-03-06 | 1993-09-16 | Maxtor Corporation | Data recording system incorporating flaw detection circuitry |
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