JPS60243877A - サ−ボ円板検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ）発明の技術分野 本発明は、サーボ円板上の隣接する２つのトラックの出
力信号差を測定し、前記出力信号差が規格値を越えるも
のを不良とすることにより９問題ある該サーボ円板を摘
出する号−ボ円板検査方法に関する。

（ｂ）技術の背景 最近の磁気ディスクは高密度記録達成のため。

ヘッド浮上量が微小化され、又記録媒体としては均一な
磁化特性が得られる塗膜を使用し、書込み磁束の量がぎ
りぎりの状態となっている。このため、ヘッド浮上量の
微少な変動や磁化特性の微少なバラツキがあると読出し
レベルが変動して、トランク上のヘッド位置設定に誤差
が発生する原因となる。

一方、磁気ディスク装置を効率的に高速に動作させるた
めには、目標トランク上の位置設定が高速にしかも高精
度で行われる必要があり、そのためには高品質なサーボ
円板が必要となる。このような状況に基づき、更に高品
質なサーボ円板を保証するサーボ円板検査方法の実用化
が要望されていた。

（Ｃ）従来技術と問題点 次に、従来実施されていた号−ボ円板検査方法を図面を
参照して説明する。

第１図は従来のサーボ円板検査機能プロ・ツク図を示す
。

第１図はトラック上の位置設定用サーボデータが書込ま
れるサーボ円板１゜ サーボ円板１上のサーボデータを読出すサーボヘッド２
゜ ポジショニング制御回路４の制御のもとにサーボヘッド
２を所定位置に移動し位置付けるへ・ノドポジショナ３
゜ サーボヘッド２の位置付は位置をレーザ測長器（図示し
てない）で計測しながらヘッドポジショナ３の移動を制
御するボジショニング制御回路４゜サーボ円板１検査用
特定情報の書込みや読取りを行うリード／ライト回路５
゜ リード／ライト回路５で読出したデータをもとにサーボ
円板１の良否を判定するための検査測定を指示する検査
モード情報を出力する検査モード指示回路６゜ リード／ライト回路５で読出したデータの出力レベルを
検出するレベル検出回路７゜ 検査モード指示回路６からの指示によりレベル検出回路
７の出力から分解能を測定しその結果を出力する分解能
測定回路８゜ 同じくレベル検出回路７の出力からオーバライドを測定
しその結果を出力するオーバライド測定回路９゜ 同じくレベル検出回路７の出力からエラーを測定しその
結果を出力するエラー測定回路１０゜レベル検出回路７
の出力レベルと各測定回路８゜９．１０の出力データと
によりサーボ円板１の良否を判定する良否判定回路１１
゜ から構成されている。

尚サーボ円板１上の検査用データは周波数Ｆｌ、Ｆ２及
び直流（ＤＣ）イレーズの３モードで書込みするものと
する。

次に、上記３つの測定回路（分解能測定回路８゜オーバ
ライド測定回路９．エラー測定回路１０）の測定内容に
ついて説明する。

周波数Ｆ１で書込んだ検査用データを読出し、その時の
読出しレベルをＶｌ、周波数Ｆ２で書込んだ検査用デー
タを読出し、その時の続出しレベルをｖ２とするする時
（但し、　Ｆｌ＞Ｆ２）　、　Ｖｌ／Ｖ２が７５％以上
あるかどうかを測定するのを分解能測定と言う。

又オーバライド測定は前に例えば周波数Ｆ２で書込まれ
ている個所へ周波数Ｆｌのデータを書込み。

読取った時の周波数Ｆ２成分レベルが周波数Ｆ１成分レ
ベルに対して一２５ｄＢ以下であるかどうかを測定する
。

又エラー測定は検査用データを読取った時のエラーデー
タがどの位かを測定することである。

従来の単体サーボ円板１の良否判定検査は、単体サーボ
円板ｌを検査用装着装置（図示してない）に装着し、ヘ
ッドポジショナ３に搭載されているサーボヘッド２を所
定書込み位置にボジショニング制御回路４にて位置付け
し、リード／ライト回路５を検査モート指示回路６によ
りライト機能にし、リード／ライト回路５に格納してい
る検査用データをサーボヘッド２を通じて書込む。

次に、検査モード指示回路６によりリード／ライト回路
５をリード機能にし、この検査用データをサーボヘッド
２を通じて読取りレベル検出回路７に出力する。検査モ
ード指示回路６はこの時。

読取りデータから分解能測定、オーバライド測定。

エラー測定をするよう指示信号を出力する。

良否判定回路１１はレベル検出回路７の出力レベルと、
各測定回路８．　９．　１０の測定結果を入力し良否判
定回路１１に格納している基準データと照合して良否の
判定をすることにより、単体でのサーボ円板１検査を行
っていた。

しかし、サーボ円板１として必要な特性条件は以上の特
性条件の他に、サーボ円板１上の隣接トランクの読出し
レベル出力差の変動を如何に小さくするかが大きな必要
要件となっている。

即ち、サーボ円板１上に書込まれているサーボデータ信
号の品質としては、サーボ円板１欠陥によって左右され
るばかりでなく、隣接トランクの読出し出力信号の差の
大小によっても大きく左右される。しかし、この必要要
件に対応する検査が従来の検査方法では不充分であった
。

（ｄ）発明の目的 本発明は、上記欠点を解消した新規なサーボ円板検査方
法を提供することを目的とし、特により高信頼度なサー
ボデータ信号が確保出来るサーボ円板を検出することが
可能なサーボ円板検査方法を実現することにある。

（ｅ）発明の構成 本発明は、サーボ円板上の隣接する２つのトラックから
同時に続出した信号の出力差により、前記サーボ円板上
におけるヘッド位置の設定を行う磁気ディスク装置にお
いて、前記サーボ円板上の隣接する２つのトラック上の
１周を複数の測定点に分割し、前記複数の測定点の出力
信号差の測定を指示する検査指示手段にて出力信号差を
測定し。

該出力信号差が所定規格値以内にあるかどうかを判定手
段にて判定し、前記判定手段の結果にて該サーボ円板の
良否を検出することにより、より高信頼度なサーボデー
タ信号を確保出来るサーボ円板が検出可能なことを特徴
とするサーボ円板検査方法により達成することが出来る
。

（ｆ）発明の実施例 以下本発明を図面を参照して説明する。

第２図は本発明に係るサーボ円板検査方法の一実施例を
示す。

尚全図を通じて同一記号は同一対象物又は内容を示す。

本実施例は第１図で説明した従来の構成部分（但し、良
否判定回路１１を除く）と。

サーボ円板１の所定トラックの１周を複数の測定点に分
割しそれぞれの個所での出力信号レベルを記憶するレベ
ル記憶回路１２゜ レベル記憶回路１２と同様の方法でレベル記憶回路１２
で記憶した隣接トラックの出力信号レベルを記憶するレ
ベル記憶回路１３゜ レベル記憶回路１２で記憶している出力信号レベルとレ
ベル記憶回路１３で記憶している出力信号レベルとの差
を取り出す比較回路１４゜レベル検出回路７の出力レベ
ル、各測定回路８゜９．１０の出力データ、比較回路１
４の出力レベルによりサーボ円板１の良否を判定する良
否判定回路１５゜ とから構成されている。

次に本実施例の動作を説明する。尚本実施例の動作説明
は、「Ｃ」項で説明していない隣接トラック間のレベル
検出に関連する動作を主体として説明する。

通常、磁気ディスク装置等におＬ）る記録／再生ヘッド
（図示してない）の移動制御はサーボ円板１上の隣接す
るトラック（例えｔ♂、所定トランクをｎとするとｎ対
ｎ＋１．又はｎ対ｎ−１を言う）から同時にサーボデー
タを読出し、読出し信号の出力差でもってトラック上の
位置の設定を行う。

隣接するトランクｎ、ｎ＋ｌ　（又はｎ−１）間の出力
信号に差が有ると、その差をゼロにすべく図示してない
制御回路が動作するが、追従し過ぎると発振しやすくな
り、追従しないと追従誤差エラーとなってしまう。

そこで１本実施例ではサーボ円板１の単体時点で、上記
追従誤差エラーを発生するサーボ円板ｌを検索摘出する
検査項目を追加導入した。

まず、サーボ円板１の検査に当たってサーボ円板１上の
９例えばトランクｎの１周を複数個所（例えば２０００
個所）に分割して、それぞれの部分のレベル検出回路７
の出力信号レベルをレベル記憶回路１２又は１３で記憶
させる。°次に、同様にｎ＋１のトラックの出力信号レ
ベルをレベル記憶回路１３又は１２で記憶させ、比較回
路１４で隣接するトラックｎ、ｎ＋１間の出力信号差を
検出する。即ち、レベル記憶回路１２又は１３で隣接す
る各トランクの読出し出力信号レベルを交互に記憶させ
、その出力信号差を検出し規定値以内にあるどうかを比
較回路１４で測定する。

上記規格値は１本実施例ではレベル検出回路７で検出す
る出力信号レベルの５％以内として判別する。又合否判
定方法としては２０００個所のうち１個所でも規格値を
オーバするものがあれば、そのサーボ円板１は不良とす
る。

（ｇ）発明の効果 以上のような本発明によれば、より高信頼度なサーボデ
ータ信号が確保出来るサーボ円板を検出選別することが
出来ると言う効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のサーボ円板検査機能ブロック図。 第２図は本発明に係るサーボ円板検査方法の一実施例を
それぞれ示す。 図において、１はサーボ円板、２はサーボヘッド、３は
へソドポジショナ、４はポジショニング制御回路、５は
リード／ライト回路、６は検査モード指示回路、７はレ
ベル検出回路、８は分解能測定回路、９はオーバライド
測定回路、１０はエラー測定回路、１１．１５は良否判
定回路、１２゜１３はレベル記憶回路、１４は比較回路
をそれぞれ示す。 １　−′ 代理人　弁理士　松岡宏四部゛　。 逐一１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 サーボ円板上の隣接する２つのトランクから同時に読出
   した信号の出力差により、前記サーボ円板上におけるヘ
   ッド位置の設定を行う磁気ディスク装置において、前記
   サーボ円板上の隣接する２つのトランク上の１周を複数
   の測定点に分割し。 前記複数の測定点の出力信号差の測定を指示する検査指
   示手段にて出力信号差を測定し、該出力信号差が所定規
   格値以内にあるかどうかを判定手段にて判定し、前記判
   定手段の結果にて該サーボ円板の良否を検出することを
   特徴とするサーボ円板検査方法。