JPH02108215A - 薄膜ヘッドのウイグルの検査方式および検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分升コ この発明は、磁気ディスクに対して記録／１１生する薄
膜ヘッドにおいて、１１ｆ生された信号波形のピークに
生ずるウィグル（揺れ）に対する検査方式および装置に
関するものである。

［従来の技術］ 人型電ｒ１）１算機においては、記録媒体のハード磁気
ディスクに対して使用される磁気ヘッドとして、最近で
は、磁極ポールが微小で高密度記録に適する薄膜ヘッド
がＩ流となっている。しかし、薄膜ヘッドは、外部磁界
及びその変動の影響を受は易いために、その読み出した
４ｒ’；　”Ｅ波形のピーク点がｔＥ現の位置に対して
、前方または後方に変移する、いわゆるウィグル現象が
発生する問題がある。これを第４図により説明する。

第４図において、（イ）は、例として薄膜ヘッドに通ず
るオール（ＡＬＬ）　　“１”の記録（磁化）電流の波
形を示す。このような電流によりＪＦ込まれた記録を読
出すときは、薄膜ヘッドの磁極ポールが外部磁界の影響
を受けてその読出し信号の波形は（０）に示すようにウ
ィルグルの発生する場所は波形が磁化反転位置より前方
または後方に変移する。したがって、これを検出したピ
ークパルスは、（ハ）に示すように、正規の位置（位相
）に対してシフトΔＬを生じ、これが大きいときは読出
し信号エラーとなる。そこで、薄膜ヘッドの設計段階に
おいては、ウィグルを実測して発生メカニズムを検討し
、また、薄膜ヘッド製品に対してはそのウィグル特性の
検査をして良品を選択することが必要である。

〔解決しようとする課題］ 以１−のウィグルに対する測定方法としてオンロスコー
プにより１１視することが考えられるが、ウィグルはラ
ンダムに発生し、ときには突発的に生ずるので、この方
法は作業効率が極めて悪い。これに対して、スペクトル
アナライザによりウィグルしたパルスの周波数成分を検
出する方法があるが、ウィグルが小範囲の場合には変動
波形の周波数スペクトル成分が小さく、検出が困難であ
る。

一方、ランダムに発生するウィグルに対しては、個々の
波形ピークのウィグルを捉えることが理想であるが、な
にふんにもピーク点の数が膨大であるので、可及的に／
！ＩＩ＋定範囲を狭くとって測定し、その平均値的な見
方で良否を判定することがよい。

これに対してｌ二記の２方法はいずれも不適当である。

次に、ウィグルは前記したように、リード／ライト時（
Ｒ／Ｗ時）における外部磁界の状態に依存するので、そ
の関係を検討するために、４！１１定においては、積極
的に外部磁界、すなわち加速磁界を加えて行うことが効
果的である。

この発明は、以トに鑑みてなされたもので、マイクロプ
ロセッサの制御および処理により、薄膜ヘッドに外部磁
界を加えてテスト信す・のＭ込みと、セクタ分割による
小範囲ごとの読出しを連続して多数回行い、小範囲ごと
のピーク間隔（ウィグル）の平均値を算出して、外部磁
界のウィグルに対する影響を測定し、かつ薄膜へ、ドの
良否を、正確、迅速に検査する方式とその装置を提供す
ることを目的とするものである。

［課題を解決するためのｒ段］ この発明は、磁気ディスクに対して記録／１４生を行う
薄膜ヘッドにおける、読出し信号の波形ピークに生ずる
ウィグルの検査方式と検査装置である。検査方式は、コ
ンピュータの制御のもとに、磁気ディスクの任意に選択
したトラックをＤ　Ｃ電流により消磁した後、薄膜ヘッ
ドにより、トラックに対して適当な周波数のテスト信号
の３込みをｍ回繰り返す。つづいて、薄膜ヘッドの磁気
作用部分に対して一定強度の外部磁界を加えてトラ、ツ
タにテスト信号を１鰺込み、読出しにおいては、全セク
タの長さを１周期とする＋Ｅ弦波の外部磁界を加え、か
つトラ、りを８個のセクタに分割して外部磁界の強弱に
よるウィグル発生のイ１無をディスク１回転のうちにチ
エツクする。このような書込みと読出しを交互に【１回
繰り返し、読出されたテスト信号の各セクタにおけるＩ
Ｅ側および負側の波形ピークのうちの、それぞれｒ個に
ついてピーク間隔を測定し、コンピュータの処理により
、各セクタごとに正側および負側に対するｒ個の測定デ
ータの平均値を算出し、この平均値を一定の許容値と比
較して、薄膜ヘッドの良否を判定する。

また、その検査装置は、磁気ディスクに対して記録／＋
Ｉ生を行う薄膜ヘッドと、ＤＣ消磁回路と、磁気ディス
クのトラックにテスト信号を、ｔ）込むテスト信号δき
込み部と、読出し信号よりトラックを８個のセクタに分
割して各セクタごとに、テストイ５″；ｊの波形ピーク
の間隔を測定するウィグル測定部、および薄膜ヘッドの
磁気作用部分に外部磁界を加える加速磁界ヘッドとによ
り構成され、その検査においては、コンピュータの制御
により、１１記検査方式に従い、選定されたトラックを
ＤＣ消磁した後、各セクタに対するテスト４８号のＭ込
みをｍ回繰り返す。つづいて、各セクタに対して、加速
磁界ヘッドにより　一定強度の外部磁界を加えてテスト
信号を−を込み、読出しにおいては、全セクタの長さを
１周期とする正弦波の外部磁界を加え、かつトラックを
８個のセクタに分割し、各セクタに対して好う。この書
込みと読出しを交互にｎ回繰り返して行い、読出された
テスト信号の、正側および負側の波形ピークの、それぞ
れｒ個について、ピーク間隔？ｌｌｌ定部によりピーク
間隔を測定する。コンピュータの処理により、各セクタ
ごとに、正側および負側に対するｒ個の測定データの平
均値を算出し、これを一定の許容値と比較して、薄膜ヘ
ッドの良否を判定するものである。

［作用コ 以１−の構成によるこの発明の薄膜ヘッドのウィグルの
検り方式及びその検り装置にあっては、コンピュータの
制御により、Ｉ）Ｃ消磁により未記録伏咀とされたトラ
ックに対して、ｍ回のノを込みによりトラックは改めて
、繰り返し使用した状態となる。このδ込みは、いわゆ
るオーバレイ方式であり、前回のデータが消されて、新
たなデータに更新されるものである。つぎに、トラック
に−を込まれる際にテスト信号は、薄膜ヘッドに加えら
れた一定強度の外部磁界により波形ピークの位置が正側
と負側に対して異なる影響をうけ、さらに読出しにおい
ては、各セクタは、それぞれの位相における外部磁界の
正弦波の振幅に応じた影響をうけて、両者の影響により
ウィグルが加速される。

ｎ回のトライによりえられた各セクタに対する、正側と
負側のｒ個の波形ピークの間隔の測定値は、コンピュー
タにより処理されて・「均値が算出される。平均値のデ
ータは、外部磁界の強度に関係づけられて、これらがウ
ィグルに影響する程度が判明する。ただし外部磁界の強
度は、適当に変えて行うことができる。また、テスト信
号の周波数はウィグルに関係するので、種々の周波数を
選定して測定を行い、その特性が知られる。なお、！−
記ノ回Ｆｔ　ｍ　１ｒｌｓ個数ｒなどのパラメータは、
実情に合わせて適当に設定する。

以ヒにより得られたウィグルの（１シ均値データは、一
定の≦１容値に比較されて、薄膜ヘッドの良否が判定さ
れるものである。

［実施例コ 第１図（ａ　）　、　（ｂ　）　、　（ｃ　）　、　（
ｄ　）および（ｅ）は、この発明による薄膜ヘッドのウ
ィグルの検査方式および検査装置の実施例に対する、テ
スト信号の潜込みと読出し、および薄膜ヘッドに加える
外部磁界の説明図で、第２図は第１図の各図に対する処
理手順のフローチャートである。

第１図（ａ）において、Ｉｆ）Ｘは磁気ディスクに設け
られているインデックスマークの検出信号で、この検出
信号を始点として、任、αに選定されたトラックがＤＣ
消磁（ＤＣＥ）される。消磁の時間ＴＯはトラックの１
回転に相当し、以後の３込みおよび読出しは、これと同
一である。ＤＣ消磁につづいて、テスト信号のｍ回のオ
ーバレイ（更新）による８込み（Ｗｌ〜Ｗｍ）がなされ
る。ｍは例えば、１０回とする。ついで一定強度の外部
磁界ΦＷを、薄膜ヘッドの磁気作用部分に加えた状態で
の書込み（Ｗｌ）と、正弦波の外部磁界ΦＲを加えた状
態の読出しくＲ１）がなされる。この−Ｆ込み／読出し
は、不良が検出されるまでｆ’１回、例えば２０回行わ
れる。図（ｂ）はテスト信号を示すもので、全セクタに
対する終端付近で振幅を漸次小さくして終端で零とし、
讐！Ｆ込みを終ｒする。

第１図（ｃ）は、Ｉ−記の読出しくＲ１−Ｒｎ）に対す
る外部磁界ΦＲを示すもので、トラックを８個（例えば
３３個）のセクタ８ｌ−８ｓに分割し、各セクタＳに対
して正弦波の変化をなして、セクタの番号に振幅が対応
することを示す。図（ｄ）は、各セクタＳにおいて読出
されたテスト信号の波形のピーク間隔の測定範囲を説明
するもので、セクタＳの時間幅Ｔ１のなかで、例えば先
に正から負への正→負間のインタバル測定をｒ個につい
て行い、その後、負から正への負→ＩＥ間のインタバル
測定をｒ個について行う。テスト信号の周波数は、適当
にい（つかの値に変えられるので、その周波数に対応し
てｒの数を設定する。実例として、ｒ＝２５５が使われ
る。図（ｅ）に、測定する波形ピーク間隔（時間）を４
＜す。（ｔｌ〜ｔｒ）は正→ｔ’を間、（ｔｌ’〜ｔｒ
’）は負→正間のピーク間隔である。

第２図のフローチャートにより、検査目頭の概略を説明
すると、Ｄ　Ｃ消磁■においζ、任愈に選定されたトラ
ックが消磁されて未記録状態となり、ついで、第１図（
ｂ）のテスト信号が、ｍ回オーバレイ方法で書込まれる
■。次に、外部磁界を加えた書込みが１回なされ■、こ
れが読出されて各セクタごとに、正→負間、負→正間の
ｒ個のピーク点の間隔が測定され、適当なメモリに記憶
される■。なお、書込み、消去時には、外部磁界は、定
レベルとされ、読出し時には、インデツクス（Ｉ　ＤＸ
）に同期して＋Ｅ弦波に変化させるものである。

記憶された測定データは、コンピュータにより処理され
て、セクタごとに、正→負間、負→正間の別に平均値か
算出され■、・（ｌ均値及び両値の差は、一定の許容値
に比較されて薄膜ヘッドの良否が判定される■。不良の
場合は以後の測定は中口−される。ＯＫの場合、測定回
数がチエツクされ■、ｎ回に達していないときは、ステ
ップ■に戻って次回以降の測定を行い、回数がｎとなっ
て終ｒする。■における不良の場合を含めて、判定結果
が測定データとともに出力される■。

第３図は、この発明による磁気ディスクにおけるウィグ
ルの検り装置の実施例に対するブロック構成図である。

図において、磁気ディスク２はモータ３のスピンドルに
装着され、コンピュータ５の指令をうけたモータコント
ローラ４により一定角速度で回転する。まず、磁気ディ
スクの適当なトラックを選定して、消磁回路６によりＤ
Ｃ７ｒ１磁を行う。磁気ディスクに対向して薄膜ヘッド
ｌが設けられ、コンピュータの指令をうけたテスト信号
３込み部７よりテスト信りが出力されて、Ｒ／Ｗ−ＡＭ
Ｐ８により適当なレベルに調整され、薄膜へノドｌによ
り書込みが杼われる。次に、読出されたテスト信号−は
、同様にレベルが調整されてウィグル測定部９に人力し
、ここでトラックを８個に分割して、各セクタごとに波
形ピークの間隔ｉ’１ｌｌｌ定かなされる。この場合は
磁気デ、イスクに対してセクタマークが記録されていな
いので、セクタの識別は、ウィグル測定部８の内部でテ
スト信号・のパルス数をカウントして行い、セクタの境
界信号は自己作成されて、必殻な箇所に転送する力法を
とる。なお、ピーク間隔の測定は従来からの公知技術に
よるので、詳細には触れない。

次に、外部磁界について述べると、薄膜ヘッドｌの近傍
に、加速磁界ヘッド１３を設ける。加速磁界ヘッドは、
１つの電磁石と、コイルを平衡して設けたもので、磁気
ディスクの媒体にはほとんど無影響の状態として、薄膜
へノドの磁気作用部分に強弱に変動する外部磁界が加え
られる。これに対する励磁力法は、コンピュータ５の指
令と、磁気ディスクに設けられたインデックスマークの
検出信号ＩＤＸおよび上記のセクタ境界イ、ｊ号により
、外部磁界コントローラ＋ｏ、Ｉ）／Ａ変換器１１およ
び電流供給回路Ｉ２により加速磁界ヘラｔ’１３に所定
電流が供給される。外部磁界ΦＷ、ΦＲの強度は、ｒ・
めコンピュータにプロゲラ１１される。

以ｌ〕により、外部磁界が加えられた状態で、ウィグル
測定部９による測定データは、Ａ／Ｄｆ換Ｚ４１４によ
りデジタル化されてセクタごとにデータメモ１月５に記
憶され、適時にコンピュータ５に転送されて前記した・
Ｖ、均値計算と薄膜ヘッドの良否の判定が行われる。こ
の場合の判定は、第２図のフローチャートに示したよう
に、１回でも許容値に合格しないときは不貞とされ、そ
の結果がプリント出力される。なお、この発明において
は、第３図に示すビットエラー検出器１Ｇを設け、読出
したテスト信号に磁気ディスク等の不良でエラーがあっ
たときは、エラー（：１号を出力して測定を停ｄ・する
ものである。

［発明の効果コ 以１−の説明により明らかなように、この発明による薄
膜ヘッドのウィグルのＪｅ！杏方式および検査装置は、
薄膜ヘッドに一定または正弦波の外部磁界を加えた状態
で、トラックを多数（Ｓ）に分割した小範囲のセクタご
とのウィグルの平均値を算出し、これを一定の許容値に
比較して真否を判定するもので、ある程度突発的なウィ
グルにも対処でき、測定は多数（ｒｉ　）回行われて信
頼性が高い。

また、一定強度の外部磁界による、正または負側のウィ
グルに対する特性が判明し、正弦波の外部磁界の振幅に
セクタ番ジノ・が対応しているので、ウィグルに対する
外部磁界の強度の影響が効果的に判定できる。さらに、
この発明による検査方式および装置はコンピュータの支
援により、多数のサンプルに対して、迅速、正確に検査
できるもので、薄膜ヘッドのウィグル検査に寄！−ｊす
るところには大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、（ｂ）　、（ｃ）　、（ｄ）および（ｅ
）は、この発明による薄膜ヘッドのウィグルの検査方式
および検査装置に対する、テスト信号の書込み／読出し
と、外部磁界の説明図、第２図は第１図の各図に対する
、処理り順のフローチャート、第３図はこの発明による
薄膜ヘッドのウィグル検査装置の実施例におけるブロッ
ク構成図、第４図は、薄膜ヘッドによる磁気ディスクへ
の信号の−）込み／読出しの際に発生するウィグル現象
の説明図である。 ｌ・・・薄膜ヘッド、　　　　２・・・磁気ディスク、
３・・・スピンドルモータ、４・・・モータコントロー
ラ５・・・コンピュータ、　　６・・・消磁回路、７・
・・テスト信号古込部、８・・・Ｒ／Ｗ−ＡＭＰ１９・
・・ウィグル測定部、　１０・・・外部磁界コントロー
ラ、■・・・Ｄ／Ａ変換器、　　Ｉ２・・・電流供給回
路、１３・・・加速磁界ヘッド、１４・・・Ａ／Ｄ変換
器、１５・・・データメモリ、１Ｇ・・・ビットエラー
検出器。 第１図 （ａ）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）磁気ディスクに対して記録／再生を行う薄膜ヘッ
   ドにおいて、コンピュータの制御のもとに、該磁気ディ
   スクの任意に選択したトラックをＤＣ電流により消磁し
   た後、該トラックに対して該薄膜ヘッドによる適当な周
   波数のテスト信号の書込みをｍ回繰り返して行い、つづ
   いて、該薄膜ヘッドの磁気作用部分に対して、一定強度
   の外部磁界を加えて行う、上記トラックに対する上記テ
   スト信号の書込みと、上記全セクタの長さを１周期とす
   る正弦波の外部磁界を加え、かつ上記トラックをＳ個の
   セクタに分割して行う、上記テスト信号の読出しとを交
   互にｎ回繰り返して行い、該ｎ回読出された上記テスト
   信号の各セクタにおける、正側および負側の波形ピーク
   の、それぞれｒ個についてピーク間隔を測定し、上記コ
   ンピュータの処理により、上記各セクタごとに、該正側
   および負側に対する上記に個の測定データの平均値を算
   出し、該平均値を一定の許容値と比較して、上記薄膜ヘ
   ッドの良否を判定することを特徴とする、薄膜ヘッドの
   ウイグルの検査方式。
2. （２）磁気ディスクに対して記録／再生を行う薄膜ヘッ
   ド、ＤＣ消磁回路、該磁気ディスクのトラックにテスト
   信号を書込むテスト信号書込み部、読出し信号より上記
   トラックをＳ個のセクタに分割して、該セクタごとに、
   テスト信号の波形ピークの間隔を測定するウイグル測定
   部、および上記薄膜ヘッドの磁気作用部分に外部磁界を
   加える加速条件用の磁界ヘッドとを有し、コンピュータ
   の制御により、上記磁気ディスクの任意に選択したトラ
   ックを上記ＤＣ消磁回路によりＤＣ消磁した後、上記各
   セクタに対するｍ回のテスト信号の書込みと、上記各セ
   クタに対して、上記加速磁界ヘッドによる、一定強度の
   上記外部磁界を加えて行うテスト信号の書込み、および
   、全セクタの長さを１周期とする正弦波の上記外部磁界
   を加え、かつ上記トラックをＳ個のセクタに分割して該
   セクタごとに行う該テスト信号の読出しのｎ回の繰り返
   しと、該読出されたテスト信号に対する、正側および負
   側の波形ピークの、それぞれｒ個についての上記ウイグ
   ル測定部によるピーク間隔の測定とをなし、上記コンピ
   ュータの処理により、上記各セクタごとに、該正側およ
   び負側に対する上記ｒ個の測定データの平均値の算出と
   、該平均値を一定の許容値と比較して、上記薄膜ヘッド
   の良否の判定とをなすことを特徴とする、薄膜ヘッドの
   ウイグルの検査装置。