JP2940871B2 - 記憶ディスク体の非破壊磁気測定方法およびシステム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、ディスクドライブに使用する磁気媒体の非
破壊試験の分野に関し、更に詳しくは、記録体の円周ま
たは半径またはその両方の関数としての保磁力及び残留
磁気−厚さの積の測定に関する。データは、磁気記録体
を製造する場合にプロセスパラメータを調整するために
使用することができる。

（従来技術） 磁気記録体の記録性能は、第１次的には磁気特性、特
に保磁力、残留磁気、及び記録体の厚さによって決めら
れる。これらの磁気特性は、記録ディスク体の信号振
幅、周波数応答、解像度、及びオーバーライト特性を決
定する。

近年、これらの特性を測定するための２つの一般的な
方法があり、それらは振動サンプル磁力計及びヒステリ
ステスターである。前者は、加えられた磁界の関数とし
て磁化を測定し、一方、後者は、磁界の関数として磁束
密度を測定する。この装置を使用して基本的な磁気特
性、すなわち、保磁力、残留磁気、すなわち残留磁気−
厚さの積、並びに飽和磁化を得るには、測定目的のため
に、記録体から限られたエレメントを切断、すなわち、
限定することが必要である。従って、いずれの技術も破
壊的である。更に、両方の技術、すなわち、測定方法
は、記録体の表面の単一または複数の特定の場所の値で
はなくて、サンプル、すなわち、評価のために記録体か
ら分離された限られたエレメントの保磁力または残留磁
気またはその両方の平均値を決定するものである。更
に、このような方法は、不適当な磁気量のために進歩し
たディジタル記録システムに一般的に利用されている薄
膜媒体に対して実用的ではない。

一般的なヒステリスループ、すなわち、Ｂ−Ｈループ
が、第１図に示され、これは、サンプルの評価に必要な
一般的なヒステリス特性を説明している。一般的なディ
ジタル記録媒体は、非磁性有機結合剤中に拡散された磁
気酸化物（ガンマ鉄酸化物）によって構成される。

薄膜媒体は、固有の高い残留磁気と保磁力の値の結
果、微粒子の酸化物媒体に対して優れた記録性能を示す
ことが知られている。しかし、酸化物及び薄膜媒体の磁
気特性は、大部分微粒子の拡散の品質、酸化物微粒子の
配向の程度、及び微粒子のサイズによって決められる。
薄膜媒体の磁気特性は、付着処理のパラメータによって
決められ、例えば、スパッタフィルムの場合、処理温度
及び基板のタイプ、並びにスパッタ圧力が特に重要であ
る。その結果、記録体の磁気特性は、現場で、または事
実に基づいて決定される。現在、生産は、記録の仕様と
一致させるために進捗状況を監視するか、プロセスパラ
メータを調整するか、または、その両方のためには、記
録性能に頼らなければならない。

従って、磁気特性、特に、保磁力及び残留磁気−厚さ
の積を、非破壊的な方法で、迅速に決定する方法に対す
る必要性がある。

本発明の目的は、保磁力並びに残留磁気−厚さの積を
非破壊的な方法で測定するための方法と装置を提供する
ことである。

本発明の関連する目的は、ディスク表面の全ての場所
において前記パラメータの値を最少の程度の平均または
最少の空間的解像度で決定する方法と装置を提供するこ
とである。これは、記録性能の決定と生産工程の制御に
必要なディスクの表面上の保磁力及び残留磁気−厚さの
積の正確な測定を提供する。

（発明の概要） 本発明の目的は、ディスク部材の全ての記録されたト
ラック、すなわち、シリンダーの周囲の保磁力または保
磁力の変化またはその両方を測定し、またはディスク部
材の全ての半径上の場所の保磁力を測定する方法と装置
を提供することである。

別の目的は、すべての記録されたトラック、すなわ
ち、シリンダー及び全ての半径方向の場所における残留
磁気−厚さの積の測定を可能にすることである。その結
果、本発明は、ディスク部材の記録性能を決定する基本
的な磁気特性の決定を可能にする。更に、異なった半径
方向の場所における保磁力または残留磁気−厚さの積ま
たはその両方の繰返し測定は、ディスク記録部材におけ
る基本的な磁気の変化の表面地図を得る手段を提供す
る。

本発明のこれら及びその他の目的は、保磁力を決定す
るためにディスク上に低周波数または長波長の記録パタ
ーンを書き、DC消去電流の関数としての信号振幅を測定
することによって達成される。それに続く分離された半
パルス幅の計算によって、ディスク媒体の残留磁気−厚
さの積の決定が可能となる。保磁力と残留磁気−厚さの
積は、このようにしてトラックの円周及びトラックの半
径の関数として決定することができ、これによって、デ
ィスク部材の保磁力または残留磁気−厚さの積またはそ
の両方の変化を取得すなわち決定する。このデータは、
ばらつきのない製品の生産を得るために生産工程のパラ
メータを調整するのに使用することができる。

保磁力または分離されたパルス幅またはその両方を測
定するための別の方法は、長い波長、すなわち、低周波
数の書き込みパターン、例えば、500KHzにおける分離さ
れたパルスの面積を測定することである。保磁力は、そ
こでパルスの面積を50％減少させるDC消去電流の大きさ
によって決定され得て、残留磁気−厚さの積は、分離さ
れた半パルス幅から決定される。

本発明の特徴及び利点は、添付図面を参照してなされ
る以下の詳細な説明から一層良く理解されよう。

（好適な実施例の説明） 本発明の基礎をなす理論は、第２図を参照してなされ
る以下の説明から理解されよう。そこに示されているよ
うに、磁気記録媒体の保磁力と残留磁気を試験するため
には、標準化されたテストヘッド４が使用される。記録
ヘッド４におけるエアギャップ２は、磁気記録媒体６と
近接している。ヘッドが起磁力（NI）によって駆動され
る場合、ギャップ２の近傍における洩れ磁束が磁化可能
物質の薄層を飽和させる。従って、媒体がヘッドの磁界
から離れる場合、それはヘッドの磁界の大きさ、媒体の
磁気特性、及び自己減磁によって決定される残留磁気を
保持する。

ギャップの近傍におけるヘッドの磁界は、次の式によ
って表すことができる。

Ｈ＝Hg（g/1a） （１） ここで、Hgは、ギャップにおける均質な磁界、ｇは、
ギャップの長さ、1aは、空気中における磁束通路の長さ
である。1aは、半円であるから、１′ａ＝πｒで代入す
ることができ、ここで、ｒ＝（x²＋y²）^1/2、ｘ、ｙ
は、第２図に示すように、スカラー量の距離である。従
って、 しかし、この式は、ｘ＝ｙ→０の場合、Ｈ→無限大であ
るから、ギャップのすぐ近くでは成立しない。理想化さ
れたヘッドの形状は簡単であるが、この等式の正確な分
析的解法を閉じた形で得ることはできない。距離の関数
としてのヘッドの磁界の分析的近似値は、Karlquist（I
rans.Royal Institute of Technology,Stockholm,Swede
n,No.86,1954）によって説明されており、一般的に次の
ように表される。

ここで、ｇは、ギャップの長さ、ｘは、ヘッド面に平
行なギャップの中心からの距離、ｙは、ヘッド面から垂
直な距離（ｙは、ヘッドの媒体のスペースに媒体の厚さ
の1/2を加えたものに等しい。このようなｙを、有効保
磁力が測定されるヘッドの下の距離という）。その結
果、第２図に示されるように、ｘ、ｙ座標の関数として
の書き込み磁界は、均質ギャップ磁界（Hg）が既知であ
れば決められる。ギャップ内の均質磁界は、次のように
表すことができる。

もし、読出し／書込みヘッドがフェライトであれば、
深いギャップ記録磁界（Hg）がフェライトの飽和磁束密
度（Bs/2）の1/2を超える場合、ギャップのコーナーが
飽和し始めることは十分に成立するように考えられる。
（F.Jeffers他、IEEE Trans.「磁気について」、巻Mag.
16、No.6、1146頁、1982）。これは、ヘッドの透磁率を
約1000から50に減少させ、これはヘッド効率がコアの透
磁率、すなわち、a_w＝Ry/（Rg＋Rc）に関係しているた
めにヘッド効率a_wを減少する。Rc、すなわち、コアのリ
ラクタンスは、次の式によって決められる。

Rc＝1/uΣ（1c/Ac） ここで、Acは、コアの断面、1cは、Acに対応するその
結果としてコアの長さである。その結果、短波長におけ
る記録性能は、透磁率の減少並びにヘッド磁界の勾配の
減少によって大きく影響される。所与のR/Wヘッドに対
する飽和電流は、Hg、ギャップ長さ、効率及び巻回数の
値を代入することによって（４）式から決定される。そ
の結果、45マイクロインチのギャップ、19巻回数、およ
び１の効率のMnZnのフェライトのヘッド（ウインチェス
タータイプ）の場合、最小飽和電流は、次の式によって
決定される。

（３）式におけるHg、すなわち、ギャップ内の均質磁
界を代入すると、ギャップ（ｘ、ｙ）からの距離の関数
としての記録磁界は、次のように表される。

従って、保磁力（Hc＝Hx_0,y）を決める式は、次の式
によって与えられることを強調しておく。

しかし、a_wの正確な値は、それが周波数やコアのリラ
クタンスを含むヘッドの幾何学的形状に依存しているの
で、既知でない。従って、既知の保磁力の値を有する媒
体を利用してa_wの値を決定することが必要である。

その結果、未知の媒体の保磁力は、a_wが標準ディスク
の校正によって得られるから、（６）式から決定するこ
とができる。薄膜媒体に対する残留磁気−厚さの積の決
定は、直接または次に示すように分離された遷移パルス
の下の面積を積分することによって決められ得る分離さ
れたパルスの幅の測定を必要とするだけである。

ここで、T50＝分離された遷移（時間）の半パルス幅 Ep＝分離されたパルス（ボルト）の最大振幅 t＝時間（秒） その結果、 Ap＝πEpT50 （８） T50＝Pw50/速度 （９） Pw50＝速度Ap/Epπ （10） 残留磁気−厚さの積の決定は、そこで次の式を基礎にし
て既知の分離された半パルス幅から計算される。

Pw50＝〔g²＋４（ａ＋ｄ）^２〕^1/2 （11） ａ＝〔462Mr T d/Hc〕^1/2 （12） ここで、ｄ＝媒体とヘッド、すなわち、フライング高
さの間の分離距離 ｇ＝R/Wヘッドのギャップの長さ ａ＝遷移パラメータ 従って、（11）式に代入して残留磁気−厚さの積を解
くと、保磁力（Hc）、分離された半パルス幅（Pw50）、
R/Wヘッドのギャップの長さ（ｇ）、及び分離長さ、す
なわち、フライング高さ（ｄ）の関数としてのMrTに対
する式は、すなわち、次の通りとなる。

保磁力または残留磁気−厚さの積またはその両方を測
定するために利用される装置すなわちテストスタンド
が、第３図及び第４図に示されている。装置は、評価さ
れる部材６、ギャップ２において記録を行うヘッド４を
有するR/Wヘッド及びアームアッセンブリ８、半径の関
数として測定を行うためにギャップ２を位置決めするた
めのR/Wヘッド位置決めキャリッジ10、及びR/W増幅器1
2、例えば、SSI117チップによって構成される。R/W増幅
器12の出力ｄφ/dtは、A/D変換器14を介して直接マイク
ロプロセッサ16に接続される。同じ出力は、ピーク、す
なわち、包絡線検出器18を介して第2A/D変換器20に接続
される。ギャップ２の位置を受信中のデータと関連づけ
るために、R/W制御回路22及びプログラマブル遅延発生
器24がいずれも共通のINDX信号を受信する。R/W制御回
路22は、増幅器12を制御して情報を読取りこれを媒体６
に記録する。プログラマブル遅延発生器24は、同じINDX
信号に応答してディスク上の選択された点からのリード
バックされたデータを読み取らせ記憶させる。

ディスク部材の保磁力を測定するために、次のテスト
シーケンスが、マイクロプロセッサ16によって開始され
制御される。必要なプログラムは、一般的な技術水準の
ものであり、ここでは詳述しない。実施されるステップ
の概要は、第13図に示されている。

（１）分離された遷移（低周波数、すなわち、長波長
の）のシーケンスが、ヘッド８及び制御回路22を使用し
て、外側のトラックから内側のトラックのディスクの円
周に最適書込み電流で記録される（ステップ50）。

これによってディスク６のトラックは、磁化状態にな
り、ここには、正と負の方向（遷移）に面した同数の磁
気領域がある。遷移には、十分な間隔が設けられ、その
結果、それらは低周波数の書き込みによってお互いに干
渉することはない。遷移がヘッドを通って移動するに従
って、信号（ｄφ/dt）が磁気遷移によってヘッド８に
誘起される。この信号の振幅は、変換器14によってディ
ジタル化され、マイクロプロセッサ16によって一つの値
（Ep）として記憶される（ステップ52）。ここで、用語
「遷移」または「磁気遷移」は、磁化方向の変化を意味
している。従って、ディスクの回転中にヘッドに対して
それらの遷移が通過するとき、そのヘッドには、時間に
関する位相変化信号（ｄφ/dt）が誘起される。また、
用語「分離された」は、低周波数の書込み信号の結果と
してそれらの遷移が互いに意図的に分離していることを
意味している。

（２）DC消去磁界が、記録ヘッド８を通して少量の電流
を供給することによって加えられる（この磁界の大きさ
は、（６）式によって決められる）（ステップ54）。

（３）リードバックされた信号の振幅は、再び測定さ
れ、記憶される（ステップ56）。

（４）増幅器12及びヘッド８を介して加えられたDC消去
磁界は、少量インクリメントされ（ステップ58）、ステ
ップ２および３が繰り返される。ここで、インクリメン
トされたとは、測定の所望の解像度に対して決定され
る。すなわち、測定可能な範囲で少量ずつ増大されるこ
とを意味している。例えば、Ｘの電流範囲に亘って電流
変化の効果を測定したい場合に、その範囲を10個のイン
クリメント（増分量）に分けて、各測定に対する少量の
変化量をX/10とするようなことである。これに代わる方
法は、増幅器12及びヘッド８を介して加えられたDC消去
磁界が、最適書込み電流（ステップ１）でリライトされ
た後でのみインクリメントされるものである。ステップ
２、３、および４は、信号が基本的にゼロ信号水準に減
少され、信号振幅が書込み磁界消去マグニチュードまた
は書込み消去電流またはその両方の関数としてプロット
されるまで繰り返される。

（５）ディスクの保磁力は、50％損失の信号値における
DC消去磁界の大きさ、すなわち、−6dBの信号レベル対D
C消去電流値（DC磁界）として定義される（ステップ6
0）。これは、アナログ値、すなわち、振動サンプル磁
力計で測定されヒステリシスループ（Ｍ−Ｈループ）に
よって得られた保磁力、すなわち磁化を半分逆転するの
に必要な磁界に相当する（第１図参照）。Ｍ−Ｈループ
において、保磁力は、サンプルを飽和状態から磁化ゼロ
の状態にするのに必要な磁界と定義されている。しか
し、磁化ゼロの状態において、物質は多数の強磁性磁区
によって構成され、その中には同数の正と負の方向があ
り、これによって自分自身をキャンセルして合計ゼロの
モーメントを生み出している。説明した記録状態では、
遷移のみが信号に貢献しており、従って、状況は若干異
なる。磁化が加えられたDC磁界（消去磁界）の方向と一
致する領域は、それらが最初からその方向で飽和してい
るために、安定している。DC消去磁界は、磁化方向が加
えられたDC消去磁界と逆である領域にのみ影響を及ぼ
す。従って、信号において50％の削減を達成するために
必要とされる磁界（許容された磁区の50％の切り替え）
は、保磁力に相当する。

（６）実施上、ステップ２−４で使用されている磁界の
インクリメントは、一般的に50Oeである。磁界解像度の
この制約を解消するために、プログラムは、当業者によ
く知られている公知の数学的手順に従って50％の信号損
失点を一括するデータポイントの間の補間を行う。これ
は、650Oeのディスク部材に1.0Oeの解像度と3.0Oeの精
度を与えるのに十分である。記録されたトラックに沿っ
た保磁力の変化（方位角の変化）に関する情報を得るた
めに、ある固定された指標に対するトラックに沿う異な
った角度位置における測定列を得るために、プログラマ
ブル遅延発生器が、振幅検出器と組合わされて使用され
る。所与の測定列に対して、保磁力の値を見い出だす原
理は同じである。更に、異なった半径位置における測定
を繰り返すことが可能であり（ステップ60）、これによ
って、ディスク表面上の保磁力の変化の表面地図を得る
ことができる。

校 正 例 厚さが4.0マイクロインチ（Ｘ線蛍光分析によって決
められた）、校正された振動サンプル磁力計によって決
められた620Oeの既知の保磁力を有するディスク部材
が、標準ディスクとして使用された。標準読出し／書込
みヘッドは、MnZnフェライトヘッドによって構成され、
これは、ギャップ長さが40マイクロインチ、トラック幅
が0.72ミル、フライング高さが1.8インチのディスク半
径（５−1/4″のディスク）で19.4マイクロインチ、二
本巻きで19巻回数であった。信号の振幅が、そこで第５
図に示されるように、DC消去電流またはヘッド磁界また
はその両方の関数としてプロットされた。保磁力に相当
する−6dBの信号レベルにおけるDC消去電流値が、そこ
でこの場合6.3ミリアンペアと決められた。従って、
（６）式におけるa_wの値は、次のように計算される。

留意するべきことは、消去中のR/Wヘッドの効率a
_wは、40マイクロインチのギャップのR/Wヘッドを使用す
る場合、DC消去電流の大きさの関数であることである。
これは、既知の増加する保磁力の値、すなわち、550Oe
から967Oe（振動サンプル磁力計）を有する標準ディス
クを利用することによって決定された。結果は、第６図
に示されている。その結果、DC消去電流値ゼロにおける
保磁力対DC消去電流をプロットする場合、保磁力の値
は、第７図に示されたままである。これは、より大きい
DC消去電流における書込み電流または部分ギャップの飽
和またはその両方の関数としてのヘッドコアの透磁性に
おける非直線変化によると考えられる。この影響は、ギ
ャップの大きなR/Wヘッドを利用することによって排除
または最小にされ得る。従って、40マイクロインチのよ
うなギャップの小さなヘッドを使用する場合に保磁力の
正確な値を決定するためには、DC消去電流（−6dBの信
号）を決め、その特定のDC消去電流値に対する効率a_wを
評価することが望ましい。その特定のDC消去電流に対す
る保磁力は、そこで第８図から決定され得て、そこにお
いて保磁力対書込み電流時間効率がプロットされ、これ
は直線で、DC消去電流ゼロで保磁力ゲロを通る。しか
し、一般的に40マイクロインチのR/Wヘッドに対して
は、次の例において0.877の効率が利用された。

１）保磁力の評価 円周（外側のトラックの半径の周りで30度の間隔）の
関数としての未知のディスク媒体の保磁力が、0.877のa
_wの値を有する（６）式を使用して−6dBの信号レベルの
電流値から決定された。R/Wヘッドのギャップの長さ
は、40マイクロインチ（Ｎ−２本巻き19巻回数）であっ
た。

トラックの周りの平均保磁力は、625.5Oeであった。
最大保磁力は、651Oeであり、一方、最低保磁力は、605
Oeであった。保磁力の範囲は、460Oeであり、標準偏差
は、180Oeであった。角度の関数としての保磁力は、第
９図に示されている。

２）残留磁気−厚さの積の評価 信号の振幅の分離された半パルス幅、Pw50（周波数＝
500KHz）が、そこで円周（外側のトラックの半径の周り
で90度の間隔）の関数として決定され、残留磁気−厚さ
の積、Mrは、上に示す角度の関数としての保磁力と共同
して（13）式を利用して測定された（ステップ64）。結
果は、次に示す通りである。

その結果、媒体の平均残留磁気−厚さの積は、2049.7
emu/ccマイクロインチ、すなわち、2.57マイクロインチ
Tesla（2049.7×４×10^-6）であった。角度の関数とし
ての残留磁気−厚さの積のグラフ、すなわち、ディスプ
レイは、第10図に示されている。

３）保磁力の評価 外側トラックの半径（ｒ＝2.32″）と内側トラックの
半径（ｒ＝1.32″）上の円周（30度の間隔）の関数とし
ての未知のディスク媒体の保磁力が、23マイクロインチ
で外側トラック半径をフライングし、16マイクロインチ
で内側トラック半径をフライングし、ギャップが40マイ
クロインチのR/Wヘッドを利用して決定された。巻回数
は、２本巻きで19であった。保磁力は、例１に示される
ように、すなわち、0.877のa_w値を利用し、（６）式に
基づいて決定された。結果は、次の表に示されている
が、ここで、I_DCは、ミリアンペアのDC消去電流であり
（−6dB信号レベルにおける）、Hcは、対応する保磁力
の値である。

その結果、内側トラック半径における平均保磁力は、
677Oe、最大保磁力は、691Oeであり、最小保磁力は、65
6Oe（350Oeの範囲）であった。これらの結果は、第11図
に示されている。

計算された値は、特に磁気ディスクの生産工程を変更
する場合に有用である。現在、既知のテストシステムに
よって与えられるような破壊試験を行わない場合、生産
は、記録の仕様と一致させるために進捗状況を監視する
か、信号プロセスのパラメータを調整するか、またはそ
の両方のためには、記録性能に頼らなければならない。
一般的に、もし記録性能が使用されれば、高周波数にお
ける信号の振幅が、生産工程のパラメータを調整するた
めに利用される。しかし、高周波数における信号の振幅
は、残留磁気（Mr）、保磁力（Hc）、及び磁気媒体
（Ｔ）の厚さの複雑な関数である。従って、Mr（研
磨）、Hc（Crの厚さ）、温度等、またはＴ（タイムパワ
ー）のいずれを調整するかが問題となる。厚さは、Ｘ線
蛍光によって便利に監視することができる。しかし、Mr
またはHcを調整するかどうかを決めるためには、Mrと独
立してHcを規定するために、別の情報が必要とされる。

決められる必要があり、ディスクの開発工程の監視で
役立つ２つの別の記録パラメータは、分離された信号の
半パルス幅（Pw50）と最適書込み電流（Iw）である。

これらの値の計算は、上に示されている。最適書込み
電流（最大2fの信号振幅に対して最小書込み電流におい
て予め決められている）は、Mrから独立し、所与の読出
し／書込みヘッド及びスペースに対してHcに直接、Ｔに
間接に依存している。その結果、Iwの変化は、既知の厚
さに対してHcの変化に対応している。もし、Iwの値が一
定で、しかし、Pw50が変化すれば、Mrのみを変更する必
要がある。従って、信号の振幅、Pw50、Tw、及び厚さを
監視し比較することによって、MrまたはHcのいずれが調
整を必要としているかを決めることができる。

磁気特性の評価と見積もりを行いスパッタされたディ
スクの生産を最適化するための必要な調整を行う手順
は、第12図に示されている。監視工程は、先ず、このケ
ースでは、Co−Crの磁気媒体の厚さを測定する（ステッ
プ70）。ステップ72の仕様から変化している範囲に対し
て、厚さ（一般的には付着時間）を調整することができ
る（ステップ74）。もし、厚さの仕様が満足されていれ
ば、−6dBの信号振幅が、特定のDC消去電流I_DCで決めら
れ（ステップ76）、これが保磁力の決定を可能にする。
もし、Hcが、Hcの仕様未満またはこれを超えていれば、
プロセスパラメータを調整する（ステップ80、82）。も
し、保磁力が仕様を満足すれば（ステップ78）、分離さ
れた半パルス幅が測定される（ステップ84）。分離され
た半パルス幅（Pw50）から、残留磁気−厚さの積（Mr
T）が決定され得て、また、厚さが既知であるから、Mr
が決められ得る。もし、MrTの積またはMrが、仕様を超
えているか未満であれば（ステップ86）、残留磁気、す
なわち、Mrが変化し、ディスク表面の研磨／組織は、再
評価されなければならない（ステップ88）。もし、MrT
の積またはMrが、仕様を満足していれば、スパッタシス
テム、すなわち、ディスク工程は、満足できるものであ
り、ディスクはそこで保証される（ステップ90）。

工程におけるこれらの調整によって、磁気記録媒体の
破壊試験を行わない一貫した生産が達成される。大量の
磁気ディスクの一貫した試験も同様に達成される。

本発明は、特定の実施例を参照して詳細に説明された
が、当業者にとって、種々の変更と変形が本発明の精神
と範囲から逸脱することなく行われ得ることは明らかで
ある。特に、より大きなギャップ長さのR/Wヘッドが、
記録部材の保磁力の分布、または残留磁気−厚さの積、
またはその両方を測定するために使用され得る。理解す
べきことは、本特許請求の範囲の請求項は、ここに説明
された発明の全ての包括的及び特定の特徴、及びそれら
の中間にあるといわれる可能性のある発明の範囲の全て
を包含することを意図しているものであるということで
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、飽和磁化（Ms）、残留磁気（Mr）及び保磁力
（Hc）を示す磁気材料の代表的なヒステリシスループを
示す図である。 第２図は、代表的なヘッド−媒体のインターフェースの
形状を示す図である。 第３図は、本発明の装置の要素を示す図である。 第４図は、本発明の電子部品の幾つかを示すブロック図
である。 第５図は、本発明の装置の校正曲線を示す図である。 第６図は、−6dBの信号値におけるDC消去電流の関数と
してのR/Wヘッドの消去効率を示す図である。 第７図は、−6dBの電流レベルにおけるDC消去電流の関
数としての保磁力を示す図である。 第８図は、−6dBの信号レベルにおけるDC消去電流値に
よって乗じられたR/Wヘッドの効率（a_w）の関数として
の保磁力を示す図である。 第９図は、角度の関数としての保磁力を示す図である。 第10図は、残留磁気−厚さの積対角度を示す図である。 第11図は、角度の関数としての保磁力を示す図である。 第12図は、本発明によって制御される製造工程のステッ
プのフローチャートを示す図である。 第13図は、本発明の方法に関与する場合に使用される測
定と計算の手順のフローチャートを示す図である。 ２……ギャップ ６……評価部材（ディスク部材） ８……R/Wヘッド 10……ステップモータヘッドキャリッジ 12……R/W増幅器 13……低ノイズ広帯域増幅器 14……第1A/D変換器 18……包絡線検出器 20……第2A/D変換器 24……プログラマブル遅延発生器

フロントページの続き (72)発明者 ジェイソン ローソン プリセスキ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94025 メンロ パーク グリーンウッ ド ドライヴ 1039 (56)参考文献 特開 昭48−32505（ＪＰ，Ａ) 特開 昭48−32516（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−110072（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G11B 5/84 G11B 5/02

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気媒体部材の磁気特性を媒体の種々の既
   知の座標位置で決定する方法において、 前記既知の座標位置に一連の分離された磁気遷移を記録
   するために、記録ヘッドのギャップを介して書き込み電
   流を加えるステップと、 の関係によって決定される前記ヘッドを通る電流量を供
   給することによって、DC消去磁界を加えるステップであ
   って、ここにおいて、ｙは、ヘッドと媒体との間のスペ
   ース、ｇは、ギャップ幅、Ｉは、ヘッドに加えられた電
   流、Ｎは、ヘッドの巻回数、a_wは、 によって決められるヘッドの形状に基づく校正定数であ
   るようなステップと、 結果として発生するリードバックされた信号を測定する
   ステップと、 加えられる磁界を測定可能な少量ずつ増加するステップ
   と、 前記信号のリードバックと加えられた磁界の関係をプロ
   ットするステップと、を備えており、これによって、信
   号値における50％の損失を表す点が、前記媒体の保磁力
   を規定するものとして選択されることを特徴とする方
   法。
2. 【請求項２】磁気媒体部材の磁気特性を媒体の種々の既
   知の座標位置で決定するシステムにおいて、 前記既知の座標位置に一連の分離された磁気遷移を記録
   するために、記録ヘッドのギャップを介して書き込み電
   流を加える手段と、 の関係によって決定される前記ヘッドを通る電流量を供
   給することによって、DC消去磁界を加える手段であっ
   て、ここにおいて、ｙは、ヘッドと媒体との間のスペー
   ス、ｇは、ギャップ幅、Ｉは、ヘッドに加えられた電
   流、Ｎは、ヘッドの巻回数、a_wは、 によって決められるヘッドの形状に基づく校正定数であ
   るような手段と、 結果として発生するリードバックされた信号を測定する
   手段と、 加えられる磁界を測定可能な少量ずつ増加する手段と、 前記信号のリードバックと加えられた磁界の関係をプロ
   ットする手段と、を備えており、これによって、信号値
   における50％の損失を表す点が、前記媒体の保磁力を規
   定するものとして選択されることを特徴とするシステ
   ム。
3. 【請求項３】前記プロット手段に応答して、前記リード
   バックされた信号の−6dBの値におけるDC消去電流を選
   択する手段と、前記リードバックされた信号に基づいて
   保磁力を計算する手段とを備える請求項２記載のシステ
   ム。
4. 【請求項４】前記プロット手段に応答して、半パルス幅
   の値を選択する手段と、前記半パルス幅の値を処理して
   残留磁気−厚さの積を計算するための手段とを備える請
   求項２記載のシステム。