JPH08221924A - Ｍｒヘッドを使用したディスクの読出しパルス検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＭＲヘッドの読出し特性の非対称性により、
テスト符号の読出しパルスに生じたシフト量ΔＥを求
め、これを補正した閾値によりテスト符号の両パルスの
良否を検査する。 【構成】 磁気ディスク１のトラックＴ_R に設定された
孤立符号を、ＭＲヘッド４により読出し、その正負の両
パルスｐ_P ’, ｐ_N ’のピーク値のトラック１周におけ
る平均値；ＴＡＡ [ａ], [ｂ] と、その振幅 [ａ＋ｂ]
とを算出し、ついでトラックＴ_R に設定されたテスト符
号をＭＲヘッド４により読出し、両パルスｐ_P,ｐ_N の、
シフトした平均レベル”０”に対するＴＡＡ [ｃ],
[ｄ] と、その振幅 [ｃ＋ｄ] とを算出し、以下計算式
により、シフト量ΔＥと、これを補正した閾値Ｓ_P ’,
Ｓ_N ’を算出し、検査装置のコンパレータ54a,54b にそ
れぞれ設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ＭＲヘッドを使用し
たディスク検査装置における読出しパルスの検査方法に
関する。

【０００２】

【従来の技術】磁気ディスクに対するデータのアクセス
においては、書込みはコイル式の磁気ヘッドが用いられ
ているが、読出しに対しては、磁気抵抗効果を利用した
ＭＲヘッドが開発されて使用されている。磁気抵抗効果
とは、磁界の変化に対応して抵抗値が変化する効果を意
味し、ＭＲヘッドに一定電圧を加圧して磁気ディスクの
トラックを走査すると、これに記録されている正または
負の磁極に従って、読出し信号の電流が正負に変化して
記録データが読出されるものである。

【０００３】ＭＲヘッドを使用したディスクは、その読
出し特性の良否を判定することにより検査を行ってい
る。図３はＭＲヘッドを使用したディスク検査装置の概
略の構成を示し、図４はテスト符号と読出し信号の波形
を示す。図３において、書込部３の符号発生回路31によ
り発生した、図４(a) に示す”１”と”−１”が交互に
連続したのテスト符号は、ドライブアンプ32を経て磁気
ヘッド２に供給され、磁気ディスク１のトラックＴ_R の
１周に書込んで設定される。ディスク１は図示しない回
転機構により、例えば３６００ｒｐｍの高速度で回転し
て、数十ＭＨｚのテスト符号がＭＲヘッド４により逐次
に読出され、読出し信号は、図４(b) に示す”１”に対
する正極パルスｐ_P と”−１”に対する負極パルスｐ_N
よりなる。両パルスｐ_P,ｐ_N は、検査部５のアンプ51a,
51b により適当なレベルに調整され、ＴＡＡ回路52a,52
b 、およびコンパレータ54a,54b の＋端子と−端子にそ
れぞれ入力する。ＴＡＡ回路52a,52b においては、トラ
ックＴ_R の１周における両パルスｐ_P,ｐ_N のピーク値の
平均値（ＴＡＡとよばれる）がそれぞれ算出される。算
出されたパルスｐ_P のＴＡＡ_P と、パルスｐ_N のＴＡＡ
_N は閾値作成回路33により、適当なη％（例えば５０〜
８０％）が乗ぜられて閾値Ｓ_P,Ｓ_N が作成され、これら
はコンパレータ54a,54b の−端子と＋端子にそれぞれ設
定され、これに対して上記の両パルスｐ_P,ｐ_N がそれぞ
れ比較される。図４(b) において、例えば(イ) に示す正
極パルスｐ_P は、ピーク値が閾値Ｓ_Pより小さいのでコ
ンパレータ54a では検出されない。同様に(ロ) の負極パ
ルスｐ_N は、ピーク値が閾値Ｓ_N より小さいのでコンパ
レータ34b では検出されず、これらは検出エラーとな
る。なお、両パルスｐ_P,ｐ_N はピーク値のみでなく、そ
れぞれの幅Ｐ_W についても良否が測定されており、エラ
ー判定回路55よりエラーデータ及びパルス幅データが出
力される。

【０００４】さて前記した磁気抵抗効果には、正極と負
極の両符号に対する抵抗変化特性に非対称性があり、従
ってＭＲヘッド４にも非対称性がある。この非対称性
は、図４(b) の波形にもみられるが、その影響などにつ
いて図５により説明する。図５(a) は両パルスｐ_P,ｐ_N
の波形を示し、両者を比較すると、ピーク値と幅Ｐ_W は
正極パルスｐ_P が負極パルスｐ_N より大きく、従って面
積は正極パルスｐ_P の方がより大きい。上記のテスト符
号に対するＭＲヘッド４の読出しパルスは、このような
非対称のパルス波形が連続しているため、両アンプ51a,
51b の出力する両パルスｐ_P,ｐ_N の平均レベルは、両者
の面積が等しくなるようにシフトする。図示の”０’”
は平均レベルを示し、ＭＲヘッド４と検査部５の接地レ
ベル”０”に対して、シフト量ΔＥだけシフトしてい
る。このようなΔＥのシフトにより、両コンパレータ54
a,54b に設定された閾値Ｓ_P,Ｓ_N は、図５(b) に示すよ
うに、正極パルスｐ_P に対して（Ｓ_P −ΔＥ）に、また
負極パルスｐ_N に対して（Ｓ_N ＋ΔＥ）に相対的に変化
するので、所定のη％とならず、例えば、(b) に示す負
極パルスｐ_N は検出ミスとなるなど、両パルスｐ_P,ｐ_N
に対して所定のレベルで比較動作がなされず、検出エラ
ーや幅Ｐ_W の測定エラーが生じている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記により平均レベル
がシフトした両パルスｐ_P,ｐ_N に対して、両閾値Ｓ_P,Ｓ
_N を所定のη％に設定するには、なんらかの手段により
シフト量ΔＥを求めて、両閾値Ｓ_P,Ｓ_N をそれぞれ補正
することが必要である。この発明は以上に鑑みてなされ
たもので、ＭＲヘッドの読出し特性の非対称性により、
テスト符号の読出しパルスに生じたシフト量ΔＥを求
め、これを補正した閾値Ｓ_P ’, Ｓ_N ’により、両パル
スｐ_P, ｐ_N の良否を検査する方法を提供することを目
的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この発明は、ＭＲヘッド
の読出しパルス検査方法であって、前記のＭＲヘッド検
査装置において、磁気ディスクのトラックの１周に対し
て、適当に離隔されて孤立した複数の”１”と”−１”
よりなる孤立符号を設定し、これをＭＲヘッドにより読
出した正負の両パルスのＴＡＡ [ａ], [ｂ] と、その振
幅 [ａ＋ｂ] とをそれぞれ算出する。ついでトラックの
１周に前記のテスト符号を設定し、ＭＲヘッドにより読
出された正負の両パルスの、ＭＲヘッドの読出し特性の
正極と負極に対する非対称性に起因してシフトした平均
レベルに対する、ＴＡＡ [ｃ], [ｄ] と、その振幅 [ｃ
＋ｄ] とをそれぞれ算出する。両振幅の比数Ｒを次式
(1) ： [ａ＋ｂ] ／ [ｃ＋ｄ] ＝Ｒ ………(1) により求め、次式(2) ，(3) ： [ａ] ×Ｒ＝ [ｅ] ………(2) [ｂ] ×Ｒ＝ [ｆ] ………(3) により算出された [ｅ], [ｆ] を、テスト符号の正負の
両パルスの接地レベルに対するピーク値とし、次式(4)
： [ｅ] − [ｃ] ＝ [ｄ] − [ｆ] ＝ΔＥ ………(4) により算出されたΔＥを平均レベルのシフト量とする。
また、次式(5) ，(6) ： [ｅ] ×η％＋ΔＥ＝Ｓ_P ’ ………(5) [ｆ] ×η％−ΔＥ＝Ｓ_N ’ ………(6) により算出されたＳ_P ’, Ｓ_N ’を、テスト符号の正負
の両パルスに対する閾値として、前記の検査装置の２個
のコンパレータに設定するものである。

【０００７】

【作用】上記の読出しパルス検査方法においては、磁気
ディスクのトラックの１周に対して設定された孤立符号
は、ＭＲヘッドにより読出され、その正負の両パルスよ
り算出されたＴＡＡ [ａ], [ｂ] と、その振幅 [ａ＋
ｂ] は、正負の両パルスが孤立しているため、平均レベ
ルがシフトしないので、接地レベルに対するものであ
る。ついで、トラックの１周に前記のテスト符号が設定
されてＭＲヘッドにより読出され、正負の両パルスは、
それぞれのＴＡＡ [ｃ], [ｄ] と、その振幅 [ｃ＋ｄ]
とが算出される。ただしこの場合の正負の両パルスは、
ＭＲヘッドの読出し特性の非対称性に起因して、平均レ
ベルがシフトしているため、算出されたＴＡＡ [ｃ],
[ｄ] はシフトした平均レベルに対するものである。ま
た、両振幅[ａ＋ｂ] と [ｃ＋ｄ] は、シフトに無関係
である。以上により算出された両振幅 [ａ＋ｂ] と [ｃ
＋ｄ] の比数Ｒが式(1) により求められ、これらを用い
て式(2) ，(3) により、テスト符号の正負の両パルスの
接地レベルに対するＴＡＡ [ｅ], [ｆ] が、また式(4)
により平均レベルのシフト量ΔＥが算出される。さらに
式(5) ，(6) により、テスト符号の正負の両パルスに対
する閾値Ｓ_P ’, Ｓ_N ’が算出され、これらは、式(5),
(6) が示すようにシフトした平均レベルに対するＴＡＡ
[ｃ], [ｄ] に対してη％が乗ぜられ、さらにシフト量
ΔＥが加算または減算して補正されており、これらが検
査装置の２個のコンパレータ54a,54b に設定されるの
で、両パルスｐ_P,ｐ_N に対して実効的に、ＴＡＡ [ｃ],
[ｄ] のη％の点で比較動作が正しくなされるわけであ
る。

【０００８】

【実施例】図１および図２はこの発明の一実施例を示
し、図１は、この発明の読出しパルス検査方法を適用し
たＭＲヘッドを使用したディスク検査装置の概略の構成
図、図２は、図１に対する動作説明図である。図１に示
すＭＲヘッドを使用したディスク検査装置は、前記した
図３の検査装置に対して、メモリ（ＭＥＭ）61と、振幅
比数算出回路62、およびシフト量算出回路63よりなるデ
ータ演算部６を付加して、図示のように接続して構成さ
れ、その他の各構成要素は、図３と同一であり、同一番
号により示す。ただし、符号発生回路31は孤立符号を発
生できるものとし、また従来の検査装置に適当なメモリ
や演算回路があれば、これらを利用してメモリ（ＭＥ
Ｍ）61と各算出回路62,63とを構成する。

【０００９】以下、図１と図２により上記のＭＲヘッド
を使用したディスク検査装置の動作を説明する。まず符
号発生回路31により孤立符号を発生し、ドライブアンプ
32を経て磁気ヘッド２により、磁気ディスク１のトラッ
クＴ_R の１周に書込む。孤立符号は、図２(a) に示すよ
うに、適当に離隔されて孤立した複数の”１”と”−
１”よりなる。この離隔間隔を、例えば、前記したテス
ト符号の符号間隔の５０倍とすると、ディスク１の回転
速度を、前記のテスト符号と同一の例えば３６００ｒｐ
ｍとしても、孤立符号の繰り返し周波数はテスト符号の
場合の５０分の１の１ＭＨｚ程度となり、これをＭＲヘ
ッド４により読出した正負の両パルスｐ_P ’，ｐ
_N ’（’は孤立符号を示す）の平均レベルはシフトぜ
ず、ピーク値が正確に検出されて両パルスの正しいＴＡ
Ａがえられる。

【００１０】上記により読出された正負の両パルス
ｐ_P ’，ｐ_N ’は、アンプ51a,51b を経てＴＡＡ回路52
a,52b に入力し、図２(b) に示すように、接地レベル”
０”に対するＴＡＡ [ａ], [ｂ] がそれぞれ算出され
て、ＭＥＭ61に記憶される。次に、符号発生回路31によ
り従来と同様にテスト符号を発生して上記のトラックＴ
_R に書込み、これをＭＲヘッド４により読出して、正負
の両パルスｐ_P,ｐ_NをＴＡＡ回路52a,52b に入力し、図
２(c) に示すように、平均レベル”０’”に対するＴＡ
Ａ [ｃ] と [ｄ] がそれぞれ算出されて、ＭＥＭ61に記
憶される。以上によりＭＥＭ61に記憶された各データを
振幅比数算出回路62に取り込み、[ａ＋ｂ] と、 [ｃ＋
ｄ] をそれぞれ算出する。 [ａ＋ｂ] は、(a) に示すよ
うに、孤立符号の両パルスｐ_P ’, ｐ_N ’のピーク値
（ただしＴＡＡ）の和、すなわち上下の振幅であり、ま
た [ｃ＋ｄ] は、(b) に示すように、テスト符号の両パ
ルスｐ_P,ｐ_N のピーク値の和、すなわち上下の振幅であ
る。両振幅は前記したようにシフト量ΔＥには無関係で
ある。振幅比数算出回路62においては、さらに、前記の
式(1) により両振幅の比数Ｒを算出する。なお、このよ
うに比数Ｒを求める理由は、孤立符号の周波数に比較し
てテスト符号のそれが非常に高いため、テスト符号のパ
ルスはピーク値が低下することがあるからである。シフ
ト量算出回路63においては、算出された比数ＲとＭＥＭ
61に記憶されているＴＡＡ [ａ] ， [ｂ] とを式(2),
(3) に代入して、テスト符号の両パルスｐ_P,ｐ_N の接地
レベル”０”に対するＴＡＡ [ｅ], [ｆ] をそれぞれ算
出し、さらにこれらと、ＭＥＭ61のＴＡＡ [ｃ] ，
[ｄ] とを式(4) に代入して、シフト量ΔＥが算出され
る。上記により算出されたＴＡＡ [ｅ], [ｆ] とシフト
量ΔＥは、閾値作成回路53に転送されて、式(5),(6) に
より、 [ｅ], [ｆ] に対してη％が乗ぜられ、さらにシ
フト量ΔＥが加算または減算され、図２(d) に示すよう
に、ＭＲヘッド４の接地レベル”０”に対して補正され
た閾値Ｓ_P ’, Ｓ_N ’がそれぞれ作成され、これらは２
個のコンパレータ54a,54b に設定される。以上により両
閾値Ｓ_P ’, Ｓ_N ’の設定が終了すると、ふたたびテス
ト符号がＭＲヘッド４により読出されて、両パルスｐ_P,
ｐ_N が閾値Ｓ_P ’, Ｓ_N ’にそれぞれ比較され、それぞ
れの良否が検査される。

【００１１】なお付言すると、上記の検査方法により多
数のディスクを検査する場合は、基準ディスクを使用し
てＭＲヘッド４ついてのみ孤立符号の書込み／読出しを
行い、その両パルスｐ_P ’, ｐ_N ’のＴＡＡ [ａ],
[ｂ] 、またはシフト量ΔＥを、次以降のディスクの検
査に適用することができ、検査時間がその分短縮され
る。また上記の実施例においては、孤立符号とテスト符
号を同一のトラックＴ_R に対して、前後して書込む方法
であるが、両符号を別のトラックＴ_R に書込むことも可
能であり、この方が便利である。

【００１２】

【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明の読出し
パルスの検査方法においては、ＭＲヘッドの読出し特性
の非対称性に起因して、テスト符号の読出しパルスに生
じたシフト量ΔＥに対して、正確な算出方法が開示され
ており、シフト量ΔＥを補正した閾値Ｓ_P ’, Ｓ_N ’に
より、テスト符号の正負の両パルスｐ_P,ｐ_N の良否が正
しく検査されるもので、ＭＲヘッドを使用したディスク
の検査装置の信頼性の向上に寄与する効果には、大きい
ものがある。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、この発明を適用したＭＲヘッドを使用
したディスク検査装置の概略構成図である。

【図２】図２は、図１に対する動作説明図である。

【図３】図３は、この発明に対する先行技術のＭＲヘッ
ドを使用したディスク検査装置の構成図である。

【図４】図４は、テスト符号と読出し信号の波形図であ
る。

【図５】図５は、ＭＲヘッドの読出し特性の非対称性に
よる、テスト符号の読出しパルスのシフト現象の説明図
である。

【符号の説明】

１…磁気ディスク、２…磁気ヘッド、３…書込部、31…
符号発生回路、32…ドライブアンプ、４…ＭＲヘッド、
５…検査部、51a,51b …アンプ、52a,52b …ＴＡＡ回
路、53…閾値作成回路、54a,54b …コンパレータ、55…
エラー判定回路、６…データ演算処理部、61…メモリ
（ＭＥＭ）、62…振幅比数算出回路、63…シフト量算出
回路、ｐ_P …テスト符号の正極パルス、ｐ_N …同負極パ
ルス、ｐ_P ’…孤立符号の正極パルス、ｐ_N ’…同負極
パルス、”０”…ＭＲヘッドの接地レベル、”０’”…
シフトした平均レベル、ＴＡＡ…パルスのピーク値のト
ラック１周における平均値、[ａ], [ｂ] …孤立符号の
両パルスの、接地レベルに対するＴＡＡ、[ｃ], [ｄ]
…テスト符号の両パルスの、平均レベルに対するＴＡ
Ａ、[ｅ], [ｆ] …テスト符号の両パルスの、接地レベ
ルに対するＴＡＡ、ΔＥ…テスト符号の両パルスの平均
レベルのシフト量、Ｓ_P,Ｓ_N …補正以前の閾値、Ｓ
_P ’，Ｓ_N ’…補正された閾値。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気ディスクを高速度で回転し、そのトラ
   ックの１周に設定された”１”と”−１”の連続するテ
   スト符号をＭＲヘッドにより読出し、該読出した正極と
   負極の両パルスのピーク値の該１周における平均値；Ｔ
   ＡＡをそれぞれ算出し、該各ＴＡＡのη％を閾値Ｓ_P,Ｓ
   _N として２個のコンパレータに設定し、該各閾値Ｓ_P,Ｓ
   _N に対して該両パルスを比較して、それぞれの良否を検
   査するＭＲヘッドを使用したディスク検査装置におい
   て、 前記トラックの１周に対して、適当に離隔されて孤立し
   た複数の”１”と”−１”よりなる孤立符号を設定し、
   該孤立符号を前記ＭＲヘッドにより読出した正負の両パ
   ルスのＴＡＡ [ａ], [ｂ] と、その振幅 [ａ＋ｂ] とを
   それぞれ算出し、ついで、前記トラックの１周に前記テ
   スト符号を設定し、前記ＭＲヘッドにより読出した正負
   の両パルスの、該ＭＲヘッドの読出し特性の正極と負極
   に対する非対称性に起因してシフトした平均レベルに対
   する、ＴＡＡ [ｃ], [ｄ] と、その振幅 [ｃ＋ｄ] とを
   それぞれ算出し、該両振幅の比数Ｒを次式(1) ： [ａ＋ｂ] ／ [ｃ＋ｄ] ＝Ｒ ………(1) により求め、次式(2) ，(3) ： [ａ] ×Ｒ＝ [ｅ] ………(2) [ｂ] ×Ｒ＝ [ｆ] ………(3) により算出された [ｅ], [ｆ] を、前記テスト符号の正
   負の両パルスの接地レベルに対するＴＡＡとし、次式
   (4) ： [ｅ] − [ｃ] ＝ [ｄ] − [ｆ] ＝ΔＥ ………(4) により算出されたΔＥを前記平均レベルのシフト量と
   し、かつ、 次式(5) ，(6) ： [ｅ] ×η％＋ΔＥ＝Ｓ_P ’ ………(5) [ｆ] ×η％−ΔＥ＝Ｓ_N ’ ………(6) により算出されたＳ_P’, Ｓ_N’を、前記テスト符号の正
   負の両パルスに対する閾値として、前記２個のコンパレ
   ータに設定することを特徴とする、ＭＲヘッドを使用し
   たディスクの読出しパルス検査方法。