JPH10233001A - 磁気ヘッドのウイグル特性検査方法および検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】短時間にウイグル検査ができる磁気ヘッドのウ
イグル特性検査方法および検査装置を提供することにあ
る。 【解決手段】テスト符号を書込む検査トラックをｎ個に
分割し、書込を分割領域の先頭側で行い、その後に前に
書かれたテスト符号を読出すことことで、１回の測定で
ウイグル測定に必要なｎ個の出力電圧の平均値が得ら
れ、さらにモジュレーションの影響を排除するために補
正係数により補正して各分割領域の出力電圧の平均値を
従来と同様な出力電圧の平均値として扱うものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、磁気ヘッドのウ
イグル特性検査方法および検査装置に関し、詳しくは、
短時間に薄膜磁気ヘッドやＭＲ磁気ヘッド（ＭＲヘッ
ド）のウイグル検査をすることができるような磁気ヘッ
ドのウイグル特性検査方法および検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】最近のハードディスク装置では、書込側
ヘッドとして薄膜ヘッドが、そして読出側ヘッドとして
ＭＲヘッドが使用されている。薄膜ヘッドだけのもので
も同様であるが、特に、ＭＲヘッドでは、書込みの後に
読出しを行うと読出信号の幅が変動する。これが、いわ
ゆるウイグルとよばれる磁気ヘッドの特性である。この
振幅変動が大きいと読出データにエラーが生ずるので、
磁気ヘッドは製作後、ウイグル特性の良否が検査されて
いる。図５，図６により、従来の磁気ヘッドのウイグル
の発生とその検査方法について説明する。

【０００３】図５は、書込側の薄膜ヘッドによる書込電
流（図５（ａ））と、これに対応して薄膜ヘッドあるい
はＭＲヘッドが磁気ディスクのトラックから書込データ
を読出したときの読出信号の波形（図５（ｂ））とを示
している。通常、ピーク−ツウ（to）−ピークにより読
出信号電圧Ｖは測定されるが、このとき、正負の各ピー
クの振幅が変動するウイグルという現象が発生する（点
線波形参照）。そのため、図６に示す手順により磁気ヘ
ッドのウイグル検査が行われる。なお、図６は、制御装
置のウイグル検査の際の検査手順の流れ図である。

【０００４】まず、ある検査トラックＴRにヘッドを位
置決めして、この検査トラックＴRをＤＣイレーズする
（ステップ１０１）、次に、検査トラックＴR全体にデ
ィスク１回転分所定のテスト符号を書込む（ステップ１
０２）。そして、トラックＴRについて１回転（１トラ
ック分）の平均出力電圧を測定して、メモリに記憶する
（ステップ１０３）。なお、１トラック分の平均出力電
圧の検出は、図５（ｂ）の読出信号電圧Ｖを測定するた
めに各ピークに対応するピーク追従型の検出回路により
正側ピークと負側ピークに追従する読出電圧を検出する
ことで行われる。平均出力電圧を測定は、このピーク追
従型の検出回路により検出される電圧値から求められ
る。次に、ステップ１０４においてｍ回測定したかの判
定をし、ｍ回の測定が終了していないときには、ステッ
プ１０２へと戻り、所定のテスト符号を書込み、同様な
動作をｍ回繰り返す。なお、この場合のｍは、通常、５
０〜１００回程度である。

【０００５】ｍ回の繰り返し測定が終了すると、メモリ
には、検査トラックＴRについてのそれぞれの回ごとの
平均出力電圧の測定値が記憶されている。そこで、この
ｍ回の測定データから、統計処理により各測定値のばら
つきσを算出し、最大値と最小値とを検出し、平均値を
算出して（ステップ１０５）、ウイグル判定処理におい
て各算出値が所定の基準値の範囲にあるか否かが判定さ
れる（ステップ１０６）。このようにして磁気ヘッドの
ウイグル検査が行われ、前記のステップ１０５の各判定
の結果の組み合わせにより磁気ヘッドの合否が決定され
る。

【０００６】なお、ＭＲヘッド（磁気抵抗効果ヘッド）
についてのピーク追従型の検出回路の一例を示せば、図
７のような回路である。図では、負側のピーク追従型の
検出回路は省略してある。これは、差動アンプで構成さ
れる読出アンプ（ＡＭＰ）３０から逆相側の出力を受け
るだけで、回路構成が実質的に同じであるからである。
正側のピーク追従型の検出回路３０につてい簡単に説明
すると、読出アンプ３１からの正相側の出力をコンパレ
ータ（ＣＯＭＰ）３２で受けて出力側に設けられたコン
デンサＣの電圧と入力電圧との差に応じた電流をトラン
ジスタＴｒ1を介してカレントミラー３３の入力トラン
ジスタＴｒ2に加える。そして、カレントミラー３３の
出力トランジスタＴｒ3によりコンデンサＣを充電す
る。あるいは、コンデンサＣの電荷を電流源３４による
電流ｉにより放電する。これによりコンデンサＣの電圧
をコンパレータ３１の入力電圧に追従するような電圧と
して、コンデンサＣの端子に得る。なお、このコンデン
サＣの電圧は、オペアンプで構成されるボルテージフォ
ロア３５を介してＡ／Ｄ変換回路３６に加えられてデジ
タル値として制御装置等に出力される。このような回路
により検出される電圧は、図８に示すような波形の各ピ
ークに追従する電圧となる。図中、点線で示す波形のＶ
pは、検出回路３０の出力電圧であり、実線で示す波形
のＶiは、コンパレータ（ＣＯＭＰ）３２の入力波形で
ある。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、このようなウ
イグル検査方法にあっては、ｍ回として５０〜１００回
程度の測定を繰り返さないと、磁気ヘッドの良否を判定
できるだけの情報が揃わない。特に、ＭＲヘッドにおい
ては、図７に示したように、正極側の平均値と負極側の
平均値とをそれぞれに測定することが必要である。ＭＲ
ヘッドは、出力電圧の対称性までも判定の対象になるか
らである。このようなことからウイグル検査に時間がか
かる問題がある。この発明の目的は、このような従来技
術の問題点を解決するものであって、短時間にウイグル
検査ができる磁気ヘッドのウイグル特性検査方法および
検査装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るためのこの発明は、ウイグル特性検査方法および検査
装置の特徴は、磁気ディスクの任意のトラックをｎ個
（ｎは２以上の整数）の領域に分割して、トラック全体
に所定のテスト符号を書込んだ後に、分割されたｎ個の
領域の先頭側においてテスト符号を所定期間の間書込ん
だ後に先に書込んであるテスト符号を読出して、そのピ
ークについての出力電圧の平均値をｎ個の領域対応に得
る測定をｍ回（ｍは２以上の整数）繰り返し、ｍ回の測
定の任意の１回の測定におけるテスト符号あるいはこの
測定とは別に前記所定のテスト符号を書込んだ後にこの
テスト符号を前記トラック１周分読出して出力電圧の平
均値とｎ個の領域のそれぞれ出力電圧の平均値との比を
補正係数としてｎ個の領域対応に得て、ｍ回の測定にお
けるｍ×ｎ個あるいは残りのｍ−１回の測定値における
（ｍ−１）×ｎ個の出力電圧の平均値に対してｎ個の領
域対応の前記出力電圧の平均値についてその領域対応す
る補正係数により補正した値を得て、得られた値に基づ
いて磁気ヘッドのウイグル特性の検査を行うものであ
る。

【０００９】

【発明の実施の形態】このように、テスト符号を書込む
検査トラックをｎ個に分割し、書込を分割領域の先頭側
で行い、その後に前に書かれたテスト符号を読出すこと
ことで、１回の測定でウイグル測定に必要なｎ個の出力
電圧の平均値が得られる。これによりｎ−１個分、測定
回数を低減させることができる。しかし、このとき得ら
れるｎ個に分割した各領域の出力電圧の平均値は、従来
のトラック１周分の出力電圧の平均値のように多くのデ
ータから得られる平均値ではないので、磁気ディスクの
磁性膜の不均衡等により生じる出力変動の影響、いわゆ
るモジュレーションを受け易い。そのため、このままで
は正確な出力電圧の平均値データとしては使用できな
い。

【００１０】そこで、ｍ回の測定のいずれか１回の測定
値あるいは別個にモジュレーションの影響を排除するよ
うな補正係数を分割されたｎ個の各領域対応に求める。
この場合の補正係数は、検査トラックＴR全体の出力電
圧の平均値と各分割領域の平均電圧値との比になる。こ
のような補正係数をｍ回の測定におけるｍ×ｎ個あるい
は残りの（ｍ−１）×ｎ個の出力電圧の平均値に対して
ｎ個の分割領域対応に補正する。このようにすること
で、各分割領域の出力電圧の平均値を従来と同様な出力
電圧の平均値として扱うことができる。その結果、測定
回数ｍを少なくしても、理論的にはｍ×ｎ倍あるいは
（ｍ−１）×ｎ倍のデータを得ることができ、その分、
実際上のウイグル検査時間を短くすることができる。

【００１１】

【実施例】図１は、この発明の磁気ヘッドのウイグル特
性検査方法を適用した検査装置のブロック図、図２は、
その検査処理のフローチャート、図３は、書込／読出信
号とモジュレーションとディスクの状態との関係の説明
図であって、（ａ）は、磁気ディスクの検査トラックの
読出電圧についての説明図、（ｂ）は、磁気ディスクの
検査トラックにおける書込／読出領域の説明図、図４
は、分割領域の書込／読出を説明するためのタイミング
信号と動作説明図であって、（ａ）は、そのインデンク
ス信号の説明図、（ｂ）は、書込制御信号の説明図、
（ｃ）は、書込と読出と分割領域の説明図、（ｄ）は、
各分割領域についての補正係数の説明図である。図１に
おいて、１は、磁気ヘッドであり、書込用のインダクテ
ィブ薄膜ヘッド１ａと読出用のＭＲヘッド１ｂとからな
る。薄膜ヘッド１ａは、書込／読出制御回路２における
書込回路２ａを介して書込データ作成回路３からのテス
ト符号のデータを受けて磁気ディスク２０（以下ディス
ク２０）の所定の検査トラックＴRにテスト符号を書込
む。なお、２１は、ディスク２０を回転させるスピンド
ルモータであり、２２は、ディスク２０の回転基準信号
と回転量を角度信号としてパルスで出力するエンコーダ
（ＥＮＣ）である。

【００１２】４は、書込データメモリであって、制御装
置５からの制御信号ＳTに応じて書込データ作成回路３
がアクセスして指定されたテスト符号に対応する所定の
テストデータを読出し、書込アンプ２ａへと送出する。
６は、ヘッド駆動機構であり、ディスク２０のトラック
への磁気ヘッド１を移動させるキャリッジ等の位置決め
機構を含むものである。ＭＲヘッド１ｂは、検査トラッ
クＴRから書込まれたテスト符号を書込／読出制御回路
２における読出回路２ｂにより読出して、ここで増幅さ
れた信号は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）７を経て高周
波ノイズ成分が除去され、差動アンプ（ＡＭＰ）８によ
り増幅されて位相が１８０度相違する２つの信号として
出力される。ここでの読出回路２ｂとローパスフィルタ
（ＬＰＦ）７と差動アンプ（ＡＭＰ）８との構成が図７
におけるアンプ３１に対応している。差動アンプ（ＡＭ
Ｐ）８の正相と逆相の出力信号は、図７で述べたピーク
追従型の検出回路９に入力される。

【００１３】ピーク追従型の検出回路９は、正側ピーク
に追従する正極ピーク追従検出回路９ａと負極ピーク追
従検出回路９ｂとからなり、正極ピーク追従検出回路９
ａが正相側出力を差動アンプ８から受け、負極ピーク追
従検出回路９ｂが逆相側出力を差動アンプ８から受け
る。それぞれの出力電圧値は、Ａ／Ｄ変換回路（Ａ／
Ｄ）１０ａと１０ｂにそれぞれ入力され、タイミング信
号発生回路１２からのサンプリング信号ＳLに応じてそ
れぞれの信号が所定の周期でサンプリングされ、メモリ
回路１１ａ，１１ｂに取込まれる。なお、タイミング信
号発生回路１２は、サンプリング信号ＳLをエンコーダ
（ＥＮＣ）２２からのディスクの回転量を示すパルスあ
るいはこれに同期して生成した内部クロックを分周する
形で発生するピークに対応させて発生する。メモリ回路
１１ａ，１１ｂは、内部にアドレスカウンタを有してい
て、タイミング信号発生回路１２からの取込制御信号Ｓ
Eに応じてアドレスカウンタをインクリメントしながら
順次Ａ／Ｄ変換された正極ピーク値の電圧値、例えば、
８ビットをメモリ回路１１ａが内部メモリの各アドレス
に記憶していき、Ａ／Ｄ変換された負極ピーク値の電圧
値、例えば、８ビットをメモリ回路１１ｂが内部メモリ
の各アドレスに記憶していく。

【００１４】タイミング信号発生回路１２は、エンコー
ダ２２からあるインデックス信号を受けてから次のイン
デックス信号を受けたときにディスク２０が１回転した
ものとして、制御信号Ｓ1を制御装置５に送出する。制
御装置５は、タイミング信号発生回路１２からの制御信
号Ｓ1に応じてメモリ回路１１ａ，１１ｂに記録された
１トランク分（ディスク１回転分）の正極，負極ピーク
値の電圧値を読込み、ウイグル検査を行う。さらに、タ
イミング信号発生回路１２は、制御装置５からの制御信
号Ｓ2，Ｓ3に応じて動作する。制御信号Ｓ2は、補正係
数採取のときに発生する制御信号であり、制御信号Ｓ3
は、ウイグル検査処理を行うときの制御信号である。

【００１５】まず、タイミング信号発生回路１２が制御
装置５から制御信号Ｓ2を受けたときには、タイミング
信号発生回路１２は、書込／読出制御回路２と書込デー
タ作成回路３とに所定の制御信号を送出して、インデン
クス信号ＩＮＤＥＸ（図４（ａ）参照）に応じてテスト
符号を検査トラックＴRに対して１トラック分書込み、
次に１トラック分のテスト符号を読出す制御をする。ま
た、タイミング信号発生回路１２が制御装置５から制御
信号Ｓ3を受けたときには、書込／読出制御回路２と書
込データ作成回路３とに図４（ｂ）に示す書込制御信号
ＷSをインデンクス信号ＩＮＤＥＸ（図４（ａ）参照）
に応じて送出する。この書込制御信号ＷSは、ｔ期間の
間、ＨＩＧＨレベル（以下“Ｈ”）の信号であり、（周
期Ｔで１回転にｎ個発生する（図４（ｂ）参照）。

【００１６】書込データ作成回路３は、書込制御信号Ｗ
Sを受けたときには、書込制御信号ＷSが“Ｈ”の期間ｔ
の間テスト符号を書込／読出制御回路２に送出する。書
込／読出制御回路２は、書込制御信号ＷSを受けたとき
には、書込制御信号ＷSが“Ｈ”の期間ｔに書込データ
作成回路３から受けたテスト符号をディスク２０のトラ
ックに書込む。また、書込／読出制御回路２は、書込制
御信号ＷSがＬＯＷレベル（以下“Ｌ”）の期間、トラ
ックからデータを読出す。その結果、書込制御信号ＷS
に応じてディスク２０の検査トラックＴRには、図４
（ｃ）に示すように、書込期間ｔと読出期間（Ｔ−ｔ）
とが周期Ｔで繰り返される分割領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒn
が生成される（図３（ｂ）参照）。

【００１７】制御装置５は、検査トラックＴR全体にテ
スト符号を書込み、所定の補正係数を求めた後に、前記
の制御信号Ｓ2をタイミング信号発生回路１２に送出し
て分割領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnに対して書込と読出を行
わせて、各分割領域の読出信号の電圧値を得る。タイミ
ング信号発生回路１２は、インデックス信号ＩＮＤＥＸ
に応じてｎ個の書込制御信号ＷSを発生することで分割
領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnに対して書込と読出を行い、メ
モリ回路１１ａ，１１ｂにｎ個に分割された各領域につ
いての読出信号に追従する、図８の点線で示す読出電圧
データを記憶する。このような処理を行うために、制御
装置５は、ＭＰＵ（マイクロプロセッサ）５１とメモリ
５２とディスプレイ５３等がバス５４を介して相互に接
続され、さらに、メモリ回路１１ａ，１１ｂもバス５４
に接続されている。メモリ５２には、分割領域補正係数
算出プログラム５２ａとウイグル検査プログラム５２
ｂ、補正係数データ領域５２ｃ等を有している。

【００１８】ＭＰＵ５１は、分割領域補正係数算出プロ
グラム５２ａを実行して、次のような処理をする。ま
ず、ＭＰＵ５１は、ヘッド駆動機構６を制御して検査ト
ラックＴRに磁気ヘッド１を位置決めして検査トラック
ＴRをＤＣイレーズしてこのトラックのデータを消去す
る。次に、制御信号ＳTを書込みデータ作成回路３に送
出し、所定のテスト符号を選択させる。そして、制御装
置５からの制御信号Ｓ2をタイミング信号発生回路１２
に送出して検査トラックＴR全体にテスト符号を書込
み、検査トラックＴR全体の読出電圧をメモリ回路１１
ａ，１１ｂから得る。このときの読出電圧をアナログ値
として部分的に示したのが、図３（ａ）である。Ｐが正
極側の追従読出電圧であり、Ｎが負極側の追従読出電圧
値である。それぞれのピーク値の追従電圧には、うねり
（モジュレーション）がある。なお、波形Ｆは、ＬＰＦ
７の出力であり、ＰMは、正極側の１トラック分の平均
値、ＮMは、負極側の１トラック分の平均値である。

【００１９】そこで、ＭＰＵ５１は、メモリ回路１１
ａ，１１ｂをアクセスして、そのデータを読出して、正
極側の追従電圧Ｐの検査トラックＴRの１トラックの平
均電圧値ＰMと、負極側の追従電圧Ｎの検査トラックＴR
の１トラックの平均電圧値ＮMとを算出してメモリ５２
に記憶する。次に、ｎ個の書込制御信号ＷSにより分割
される各領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnごとの追従電圧Ｐの平
均電圧値Ｐ1，Ｐ2，…，Ｐnと、ｎ個の書込制御信号ＷS
により分割される各領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnごとの追従
電圧Ｎの平均電圧値Ｎ1，Ｎ2，…，Ｎnとを算出してメ
モリ５２に記憶する。そして、ぞれぞれについて検査ト
ラックＴRの１トラックの平均電圧値と各分割領域の平
均電圧値との比を補正係数として領域Ｒ1についてはＰM
／Ｐ1，ＮM／Ｎ1，Ｐ2については、ＰM／Ｐ2，ＮM／Ｎ2
…，ＰnについてはＰM／ＰP，ＮM／ＮPをそれぞれ算出
してメモリ５２の補正係数データ領域５２ｃに記憶す
る。

【００２０】また、ＭＰＵ５１は、ウイグル検査プログ
ラム５２ｂを実行して、次のような処理をする。まず、
制御信号ＳTを書込みデータ作成回路３に送出し、所定
のテスト符号を選択させる。そして、制御装置５からの
制御信号Ｓ3をタイミング信号発生回路１２に送出して
タイミング信号発生回路１２に書込制御信号ＷSを発生
させ、この信号に応じてディスク２０の検査トラックＴ
Rの各分割領域Ｒ1の先頭部分に期間ｔに亙ってテスト符
号を書込み、テスト符号を書込んだ後に即座に書込制御
信号ＷSの“Ｌ”の期間において先の分割領域補正係数
算出プログラム５２ａを実行して書込まれたテスト符号
のうち（Ｔ−ｔ）期間におけるテスト符号を読出す。こ
れを各分割領域Ｒ2，…，Ｒnについて順次行う。その結
果として、ディスク１の検査トラックＴRは、図３
（ｂ）のように状態になる。そして、検査トラックＴR
の１回の検査値について記憶されたメモリ回路１１ａ，
１１ｂのデータをアクセスして、分割領域Ｒ1，Ｒ2，
…，Ｒnに対応してそれぞれの正極側の各分割領域Ｒ1，
…，Ｒnの平均電圧値ＰV1，ＰV2，…，ＰVnと、負極側
の各分割領域Ｒ1，…，Ｒnの平均電圧値ＮV1，ＮV2，
…，ＮVnとを得て、それぞれについて各領域に対応する
補正係数ＰM／Ｐ1，ＮM／Ｎ1，ＰM／Ｐ2，ＮM／Ｎ2…，
ＰM／Ｐn，ＮM／Ｎnを掛けることで補正した平均電圧値
＊ＰV1，＊ＰV2，…，＊ＰVnと、＊ＮV1，＊ＮV2，…，
＊ＮVnとを各分割領域Ｒ1，…，Ｒnについて得て、これ
をメモリ５２の所定の領域に記憶する。

【００２１】このような測定をこれをｍ回繰り返すこと
で、正極側と負極側とに対応してｎ×ｍ個の補正された
平均電圧値データを得る。こうして得られた各分割領域
Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnの平均値電圧データ＊ＰV1，＊ＰV
2，…，＊ＰVnと、平均値電圧データ＊ＮV1，＊ＮV2，
…，＊ＮVnとについて、従来と同様に、検査トラックＴ
Rの平均値ＰM，ＮMからのばらつきσ、最大値と最小値
とが所定の出力範囲に入っているか、各分割領域電圧出
力の平均値はある値以上となっているかの判定を行い、
ウイグル検査を行う。なお、ここでの判定の基準となる
各基準データは、実際の実験値や経験値に従って適切な
値を採用するとよい。

【００２２】次に、制御装置５のウイグル検査処理の全
体的な手順について説明する。図２は、その処理の流れ
図であって、まず、ＭＰＵ５１は、メインプログラムを
実行して、分割領域補正係数算出プログラム５２ａをコ
ールし、次にこれを実行して、検査トラックＴRにヘッ
ドを位置決めし（ステップ２０１）、検査トラックＴR
をＤＣイレーズする（ステップ２０２）。次に、制御信
号Ｓ2を出力して、検査トラックＴR、１トラック分にテ
スト符号を書込み（ステップ２０３）、検査トラックＴ
Rからテスト符号を読出す（ステップ２０４）。そし
て、各分割領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnについて補正係数を
算出する（ステップ２０５）。

【００２３】続いて、ＭＰＵ５１は、ウイグル検査プロ
グラム５２ｂをコールして実行して、制御信号Ｓ3を発
生して各分割領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnの先頭位置でテス
ト符号を書込んで、その後に読出すことで、各分割領域
Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnの読出電圧の取込み（ステップ２０
６）、各分割領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnについて平均電圧
値を算出し（ステップ２０７）、各分割領域Ｒ1，Ｒ2，
…，Ｒnについて平均電圧値を補正し（ステップ２０
８）、各補正値をメモリに記憶する（ステップ２０
９）。そして、測定回数がｍか否か判定することで、測
定終了か否かの判定をする（ステップ２１０）。この判
定で、測定回数がｍ回に至っていないときには、ＮＯと
なり、ステップ２０６へと戻る。

【００２４】このようにしてｍ回の測定が終了すると、
ＹＥＳとなり、各分割領域Ｒ1，Ｒ2，…，Ｒnの補正さ
れた平均電圧値について、ばらつきσ、最大値、最小
値、平均値がそれぞれ算出されて（ステップ２１１）、
それぞれについて設けられた所定の基準値と比較するウ
イグル判定に入り（ステップ２１２）、判定結果をディ
スプレイ５４等に出力して（ステップ２１３）、この処
理を終了する。なお、前記のｍ回の測定としては、分割
数ｎ＝１６とした場合に従来１００回程度の測定につい
ては、７回の測定でのウイグル検査が可能になる。これ
によりウイグル検査の時間が大きく短縮される。

【００２５】以上説明してきたが、実施例では、補正係
数を最初の測定で得るようにしているが、最初からＤＣ
イレーズして検査トラックＴR全体にテスト符号を書込
んでウイグル測定のデータを採取しておき、それをメモ
リに記憶するようにすれば、途中で検査トラックＴRを
ＤＣイレーズして検査トラックＴR全体にテスト符号を
書込んで補正係数を採取することができ、また、最後に
同様な手順で補正係数を採取してもよい。このようにし
て採取した補正係数により記憶済みの各分割領域の読出
電圧の平均値に対して補正処理をしてウイグル検査の判
定を行ってもよい。 また、各分割領域の先頭位置で書
込みを行う時間ｔは、特定の時間ではなく、任意に設定
することができ、先頭位置は、読出領域が多く採れる限
りは、多少ずれていてもよく、読出に対して書込が先頭
側にあればよい。

【００２６】

【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明にあって
は、テスト符号を書込む検査トラックをｎ個に分割し、
書込を分割領域の先頭側で行い、その後に前に書かれた
テスト符号を読出すことことで、１回の測定でウイグル
測定に必要なｎ個の出力電圧の平均値が得られ、さらに
モジュレーションの影響を排除するために補正係数によ
り補正しているので、各分割領域の出力電圧の平均値を
従来と同様な出力電圧の平均値として扱うことができ
る。その結果、測定回数ｍを少なくしても、理論的には
ｍ×ｎ倍あるいは（ｍ−１）×ｎ倍のデータを得ること
ができ、その分、実際上のウイグル検査時間を短くする
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、この発明の磁気ヘッドのウイグル特性
検査方法を適用した検査装置のブロック図である。

【図２】図２は、その検査処理のフローチャートであ
る。

【図３】図３は、書込／読出信号とモジュレーションと
ディスクの状態との関係の説明図であって、（ａ）は、
磁気ディスクの検査トラックの読出電圧についての説明
図、（ｂ）は、磁気ディスクの検査トラックにおける書
込／読出領域の説明図である。

【図４】図４は、分割領域の書込／読出を説明するため
のタイミング信号と動作説明図であって、（ａ）は、そ
のインデンクス信号の説明図、（ｂ）は、書込制御信号
の説明図、（ｃ）は、書込と読出と分割領域の説明図、
（ｄ）は、各分割領域についての補正係数の説明図であ
る。

【図５】図５は、一般的な読出信号のウイグルについて
の説明図であって、（ａ）は、書込信号の説明図、
（ｂ）は、読出信号の説明図である。

【図６】 図６は、従来のウイグル検査処理のフローチ
ャートである。

【図７】 図７は、ピーク追従型回路の一例の説明図で
ある。

【符号の説明】

１…磁気ヘッド、１ａ…インダクティブ薄膜ヘッド、１
ｂ…ＭＲヘッド、２…書込／読出制御回路、２ａ…書込
回路、２ｂ…読出回路、３…書込データ作成回路、４…
書込データメモリ、５…制御装置、６…再生アンプ、７
…ローパスフィルタ（ＬＰＦ）、８…アンプ、９…ピー
ク追従型の検出回路、９ａ…正極ピーク追従検出回路、
９ｂ…負極ピーク追従検出回路、１０ａ，１０ｂ…Ａ／
Ｄ変換回路（Ａ／Ｄ）、１１ａ，１１ｂ…メモリ回路、
１２…タイミング信号発生回路、２０…磁気ディスク、
２１…スピンドルモータ、２２…エンコーダ、５１…Ｍ
ＰＵ（マイクロプロセッサ）、５２…メモリ、５２ａ…
分割領域補正係数算出プログラム、５２ｂ…ウイグル検
査プログラム、５２ｃ…補正係数データ領域、５３…デ
ィスプレイ、５４…バス。

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成９年４月１１日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】図面の簡単な説明

【補正方法】変更

【補正内容】

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は、この発明の磁気ヘッドのウイグル特性
検査方法を適用した検査装置のブロック図である。

【図２】図２は、その検査処理のフローチャートであ
る。

【図３】図３は、書込／読出信号とモジュレーションと
ディスクの状態との関係の説明図であって、（ａ）は、
磁気ディスクの検査トラックの読出電圧についての説明
図、（ｂ）は、磁気ディスクの検査トラックにおける書
込／読出領域の説明図である。

【図４】図４は、分割領域の書込／読出を説明するため
のタイミング信号と動作説明図であって、（ａ）は、そ
のインデンクス信号の説明図、（ｂ）は、書込制御信号
の説明図、（ｃ）は、書込と読出と分割領域の説明図、
（ｄ）は、各分割領域についての補正係数の説明図であ
る。

【図５】図５は、一般的な読出信号のウイグルについて
の説明図であって、（ａ）は、書込信号の説明図、
（ｂ）は、読出信号の説明図である。

【図６】 図６は、従来のウイグル検査処理のフローチ
ャートである。

【図７】 図７は、ピーク追従型回路の一例の説明図で
ある。

【図８】 図８は、ピーク追従型回路の動作を説明する
ための波形図である。

【符号の説明】 １…磁気ヘッド、１ａ…インダクティブ薄膜ヘッド、１
ｂ…ＭＲヘッド、２…書込／読出制御回路、２ａ…書込
回路、２ｂ…読出回路、３…書込データ作成回路、４…
書込データメモリ、５…制御装置、６…再生アンプ、７
…ローパスフィルタ（ＬＰＦ）、８…アンプ、９…ピー
ク追従型の検出回路、９ａ…正極ピーク追従検出回路、
９ｂ…負極ピーク追従検出回路、１０ａ，１０ｂ…Ａ／
Ｄ変換回路（Ａ／Ｄ）、１１ａ，１１ｂ…メモリ回路、
１２…タイミング信号発生回路、２０…磁気ディスク、
２１…スピンドルモータ、２２…エンコーダ、５１…Ｍ
ＰＵ（マイクロプロセッサ）、５２…メモリ、５２ａ…
分割領域補正係数算出プログラム、５２ｂ…ウイグル検
査プログラム、５２ｃ…補正係数データ領域、５３…デ
ィスプレイ、５４…バス。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】磁気ディスクの任意のトラックをｎ個（ｎ
   は２以上の整数）の領域に分割して、前記トラック全体
   に所定のテスト符号を書込んだ後に、分割された前記ｎ
   個の領域の先頭側にテスト符号を所定期間の間書込んだ
   後に先に書込んである前記テスト符号を読出して、その
   ピークについての出力電圧の平均値を前記ｎ個の領域対
   応に得る測定をｍ回（ｍは２以上の整数）繰り返し、前
   記ｍ回の測定の任意の１回の測定におけるテスト符号あ
   るいはこの測定とは別に前記所定のテスト符号を書込ん
   だ後にこのテスト符号を前記トラック１周分読出して前
   記出力電圧の平均値と前記ｎ個の領域のそれぞれ前記出
   力電圧の平均値との比を補正係数として前記ｎ個の領域
   対応に得て、ｍ回の測定におけるｍ×ｎ個あるいは残り
   のｍ−１回の測定値における（ｍ−１）×ｎ個の前記出
   力電圧の平均値に対して前記ｎ個の領域対応の前記出力
   電圧の平均値についてその領域対応する前記補正係数に
   より補正した値を得て、得られた値に基づいて磁気ヘッ
   ドのウイグル特性の検査を行う磁気ヘッドのウイグル特
   性検査方法。
2. 【請求項２】前記補正係数は、前記トラックをＤＣイレ
   ーズし、前記トラック全体に所定のテスト符号を書込ん
   だ後に前記トラック１周分を読出すことで前記トラック
   １周分の前記出力電圧の平均値と前記ｎ個の領域の平均
   値とを得て算出される請求項１記載の磁気ヘッドのウイ
   グル特性検査方法。
3. 【請求項３】磁気ディスクと、 この磁気ディスクのトラックにテスト符号を書込み、こ
   のトラックに書込まれたテスト符号を読出す書込／読出
   回路と、 この書込／読出回路を制御して前記磁気ディスクのトラ
   ックをｎ個（ｎは２以上の整数）の領域に分割して先頭
   側の所定期間に書込みを行なった後に読出しを行う書込
   ／読出制御回路と、 前記書込／読出回路から得られる読出信号のピークに追
   従する電圧信号を発生する検出回路と、 前記書込／読出制御回路を制御して、前記トラック全体
   に所定のテスト符号を書込んだ後に、分割された前記ｎ
   個の領域の先頭側においてテスト符号を所定期間の間書
   込んだ後に先に書込んである前記テスト符号を読出し
   て、その出力電圧の平均値を前記検出回路から得て前記
   ｎ個の領域対応に得る測定をｍ回（ｍは２以上の整数）
   繰り返し、前記ｍ回の測定の任意の１回の測定における
   テスト符号あるいはこの測定とは別に前記所定のテスト
   符号を書込んだ後にこのテスト符号を前記トラック１周
   分読出して前記出力電圧の平均値と前記ｎ個の領域のそ
   れぞれ前記出力電圧の平均値との比を補正係数として前
   記ｎ個の領域対応に得て、ｍ回の測定におけるｍ×ｎ個
   あるいは残りのｍ−１回の測定値における（ｍ−１）×
   ｎ個の前記出力電圧の平均値に対して前記ｎ個の領域対
   応の前記出力電圧の平均値についてその領域対応する前
   記補正係数により補正した値を得て、得られた値に基づ
   いて磁気ヘッドのウイグル特性の検査を行う制御装置と
   を備える磁気ヘッドのウイグル特性検査装置。