JPH05249167A - 磁気ディスク検査装置および検査方法 - Google Patents
磁気ディスク検査装置および検査方法Info
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- JPH05249167A JPH05249167A JP4492992A JP4492992A JPH05249167A JP H05249167 A JPH05249167 A JP H05249167A JP 4492992 A JP4492992 A JP 4492992A JP 4492992 A JP4492992 A JP 4492992A JP H05249167 A JPH05249167 A JP H05249167A
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- level
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- magnetic disk
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 より正確なＳ／Ｎ比を測定することが可能な
磁気ディスク検査装置を提供する。 【構成】 まず図３（ａ）に示すように、スペクトルア
ナライザ２９から取り込んだ全データのうち、処理対象
となる区間内のデータ値から、その区間の平均値Ｚ1 を
算出し、この平均値Ｚ1 にピーク判定レベルＰを加えた
しきい値Ｐ1 を設定する。そして、図３（ｂ）に示すよ
うに、設定したしきい値Ｐ1 よりも大きいデータ値を平
均値Ｚ1 に置換する。さらに、置換後のデータ値から平
均値Ｚ2 を算出し、この平均値Ｚ2 に対するしきい値Ｐ
2 よりも大きいデータ値を平均値Ｚ 2 に置き換える（図
３（ｃ））。以上の処理を、置換前後の平均値の差が５
％以内になるまで繰り返し行う。これにより、回路系ノ
イズにより生ずるＳ／Ｎ比の誤差が減少する。
磁気ディスク検査装置を提供する。 【構成】 まず図３（ａ）に示すように、スペクトルア
ナライザ２９から取り込んだ全データのうち、処理対象
となる区間内のデータ値から、その区間の平均値Ｚ1 を
算出し、この平均値Ｚ1 にピーク判定レベルＰを加えた
しきい値Ｐ1 を設定する。そして、図３（ｂ）に示すよ
うに、設定したしきい値Ｐ1 よりも大きいデータ値を平
均値Ｚ1 に置換する。さらに、置換後のデータ値から平
均値Ｚ2 を算出し、この平均値Ｚ2 に対するしきい値Ｐ
2 よりも大きいデータ値を平均値Ｚ 2 に置き換える（図
３（ｃ））。以上の処理を、置換前後の平均値の差が５
％以内になるまで繰り返し行う。これにより、回路系ノ
イズにより生ずるＳ／Ｎ比の誤差が減少する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁気ディスク検査装置に
係り、詳細には、ハードディスク、フロッピーディス
ク、光磁気ディスク等の磁気ディスクのＳ／Ｎ比を測定
するのに好適な磁気ディスク検査装置に関する。
係り、詳細には、ハードディスク、フロッピーディス
ク、光磁気ディスク等の磁気ディスクのＳ／Ｎ比を測定
するのに好適な磁気ディスク検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、磁気ディスクを製造する過程にお
いて磁気ディスクに対する各種の製品検査が行われてい
る。この製品検査の一つに、磁気ディスクの性能を評価
するためのＳ／Ｎ（信号対雑音）比の測定がある。図７
は、このＳ／Ｎ比の測定における、出力信号Ｓとノイズ
（雑音）Ｎの状態を表したものである。
いて磁気ディスクに対する各種の製品検査が行われてい
る。この製品検査の一つに、磁気ディスクの性能を評価
するためのＳ／Ｎ（信号対雑音）比の測定がある。図７
は、このＳ／Ｎ比の測定における、出力信号Ｓとノイズ
（雑音）Ｎの状態を表したものである。
【０００３】Ｓ／Ｎ比は、この図に示した信号出力Ｓ
（ｄＢｍ）を電力（ｍＷ）に換算した値を、斜線で示し
たノイズレベルＮ（ｄＢｍ）を電力（ｍＷ）に換算した
値で割った値となる。ここで、磁気ディスクのノイズレ
ベルＮを測定する場合、装置自体に原因するシステムノ
イズも測定されるため、従来では次のように行ってい
た。すなわち、まず磁気ディスクをスピンドルモータに
セットし磁気ヘッドを磁気ディスク上に移動する。そし
て、磁気ディスクの回転を停止したままの状態で、シス
テムノイズＱを測定する。その後、磁気ディスクを回転
させて磁気ディスクをＤＣ消去（直流電圧による消去）
した後に、ＤＣ消去後のノイズＲを測定する。
（ｄＢｍ）を電力（ｍＷ）に換算した値を、斜線で示し
たノイズレベルＮ（ｄＢｍ）を電力（ｍＷ）に換算した
値で割った値となる。ここで、磁気ディスクのノイズレ
ベルＮを測定する場合、装置自体に原因するシステムノ
イズも測定されるため、従来では次のように行ってい
た。すなわち、まず磁気ディスクをスピンドルモータに
セットし磁気ヘッドを磁気ディスク上に移動する。そし
て、磁気ディスクの回転を停止したままの状態で、シス
テムノイズＱを測定する。その後、磁気ディスクを回転
させて磁気ディスクをＤＣ消去（直流電圧による消去）
した後に、ＤＣ消去後のノイズＲを測定する。
【０００４】そして、ＤＣ消去後のノイズＲからシステ
ムノイズＱを引いた値をノイズレベルＮとしている。
ムノイズＱを引いた値をノイズレベルＮとしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ＤＣ消去後の
ノイズＲと、システムノイズＱとの測定を行った場合、
図７に示すように、ベースとなるノイズに比較して出力
レベルの高い回路系ノイズＴも測定されてしまう。この
回路系ノイズＴは、例えばＣＰＵのクロックや測定装置
等によって発生するノイズである。そして回路系のノイ
ズは、システムノイズＱとＤＣ消去後のノイズＲとに共
通して発生するわけではなく、Ｔ′のように、ＤＣ消去
後のノイズＲにのみ発生するものもある。またＴ″のよ
うにレベルの異なるものもある。このため従来測定して
いたノイズレベルＢは誤差を含んだ値となり、Ｓ／Ｎ比
も誤差を含んでしまっていた。
ノイズＲと、システムノイズＱとの測定を行った場合、
図７に示すように、ベースとなるノイズに比較して出力
レベルの高い回路系ノイズＴも測定されてしまう。この
回路系ノイズＴは、例えばＣＰＵのクロックや測定装置
等によって発生するノイズである。そして回路系のノイ
ズは、システムノイズＱとＤＣ消去後のノイズＲとに共
通して発生するわけではなく、Ｔ′のように、ＤＣ消去
後のノイズＲにのみ発生するものもある。またＴ″のよ
うにレベルの異なるものもある。このため従来測定して
いたノイズレベルＢは誤差を含んだ値となり、Ｓ／Ｎ比
も誤差を含んでしまっていた。
【０００６】そこで本発明の目的は、より正確なＳ／Ｎ
比を測定することが可能な磁気ディスク検査装置を提供
することにある。
比を測定することが可能な磁気ディスク検査装置を提供
することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、図８に原理的に示すように、検査対象となる磁気デ
ィスクに検査用信号の記録および再生を行う記録再生手
段１００と、この記録再生手段で再生された出力信号の
レベルを測定する信号レベル測定手段１０１と、装置に
起因するシステムノイズを測定するシステムノイズ測定
手段１０２と、前記記録再生手段１００で消去した後の
前記磁気ディスクのノイズを測定する消去後ノイズ測定
手段１０３と、この消去後ノイズ測定手段と前記システ
ムノイズ測定手段で測定した両ノイズを周波数で複数の
区間に分割する分割手段１０４と、この分割手段１０４
で分割された各区間の平均値を算出し、この平均値より
も大きい値を平均値に置き換える平均値置換手段１０５
と、この平均値置換手段１０５で置き換えた後のシステ
ムノイズと消去後ノイズとからノイズレベルを算出する
ノイズレベル算出手段１０６と、このノイズレベル算出
手段１０６で算出されたノイズレベルと前記信号レベル
測定手段で測定された出力信号のレベルとからＳ／Ｎ比
を求めるＳ／Ｎ比算出手段１０７とを磁気ディスク検査
装置に具備させて、前記目的を達成する。
は、図８に原理的に示すように、検査対象となる磁気デ
ィスクに検査用信号の記録および再生を行う記録再生手
段１００と、この記録再生手段で再生された出力信号の
レベルを測定する信号レベル測定手段１０１と、装置に
起因するシステムノイズを測定するシステムノイズ測定
手段１０２と、前記記録再生手段１００で消去した後の
前記磁気ディスクのノイズを測定する消去後ノイズ測定
手段１０３と、この消去後ノイズ測定手段と前記システ
ムノイズ測定手段で測定した両ノイズを周波数で複数の
区間に分割する分割手段１０４と、この分割手段１０４
で分割された各区間の平均値を算出し、この平均値より
も大きい値を平均値に置き換える平均値置換手段１０５
と、この平均値置換手段１０５で置き換えた後のシステ
ムノイズと消去後ノイズとからノイズレベルを算出する
ノイズレベル算出手段１０６と、このノイズレベル算出
手段１０６で算出されたノイズレベルと前記信号レベル
測定手段で測定された出力信号のレベルとからＳ／Ｎ比
を求めるＳ／Ｎ比算出手段１０７とを磁気ディスク検査
装置に具備させて、前記目的を達成する。
【０００８】これらの各手段は、例えば、ＲＯＭ（リー
ド・オンリ・メモリ）に格納された複数のプログラム、
このプログラムを実行するＣＰＵ（中央処理装置）、作
業領域としてのＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモ
リ）、各種測定機器、この各測定機器とＣＰＵとのイン
ターフェイス等によって構成される。請求項２記載の磁
気ディスク検査方法では、検査対象となる磁気ディスク
の検査用信号を再生して出力信号のレベルを測定する第
１工程と、装置に起因するシステムノイズを測定する第
２工程と、検査対象となる磁気ディスクの検査用信号を
消去した後に前記磁気ディスクの消去後ノイズを測定す
る第３工程と、この第３工程と前記第２工程で測定した
両ノイズを周波数で複数の区間に分割する第４工程と、
この第４工程で分割された各区間の平均値を算出し、こ
の平均値よりも大きい値を平均値に置き換える第５工程
と、この第５工程で平均値に置き換えた後のシステムノ
イズと消去後ノイズとからノイズレベルを算出する第６
工程と、この第６工程で算出されたノイズレベルと前記
第１工程で測定された出力信号のレベルとからＳ／Ｎ比
を求める第７工程により磁気ディスクを検査する。
ド・オンリ・メモリ）に格納された複数のプログラム、
このプログラムを実行するＣＰＵ（中央処理装置）、作
業領域としてのＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモ
リ）、各種測定機器、この各測定機器とＣＰＵとのイン
ターフェイス等によって構成される。請求項２記載の磁
気ディスク検査方法では、検査対象となる磁気ディスク
の検査用信号を再生して出力信号のレベルを測定する第
１工程と、装置に起因するシステムノイズを測定する第
２工程と、検査対象となる磁気ディスクの検査用信号を
消去した後に前記磁気ディスクの消去後ノイズを測定す
る第３工程と、この第３工程と前記第２工程で測定した
両ノイズを周波数で複数の区間に分割する第４工程と、
この第４工程で分割された各区間の平均値を算出し、こ
の平均値よりも大きい値を平均値に置き換える第５工程
と、この第５工程で平均値に置き換えた後のシステムノ
イズと消去後ノイズとからノイズレベルを算出する第６
工程と、この第６工程で算出されたノイズレベルと前記
第１工程で測定された出力信号のレベルとからＳ／Ｎ比
を求める第７工程により磁気ディスクを検査する。
【０００９】
【作用】本発明の磁気ディスク検査装置および検査方法
では、装置に起因するシステムノイズと磁気ディスクを
消去した後の前記磁気ディスクのノイズとを測定し、両
ノイズを周波数による分割手段１０４で複数の区間に分
割する。そして、分割された各区間の平均値を算出し、
この平均値よりも大きい値を平均値置換手段１０５で平
均値に置き換える。これにより、回路系ノイズによって
生ずるＳ／Ｎ比の誤差が減少する。
では、装置に起因するシステムノイズと磁気ディスクを
消去した後の前記磁気ディスクのノイズとを測定し、両
ノイズを周波数による分割手段１０４で複数の区間に分
割する。そして、分割された各区間の平均値を算出し、
この平均値よりも大きい値を平均値置換手段１０５で平
均値に置き換える。これにより、回路系ノイズによって
生ずるＳ／Ｎ比の誤差が減少する。
【００１０】
【実施例】以下本発明の磁気ディスク検査装置における
好適な実施例について、図１ないし図６を参照して詳細
に説明する。図１は磁気ディスク検査装置の回路構成を
表したものである。この図１に示すように、磁気ディス
ク検査装置は、ＣＰＵ１を備えている。このＣＰＵ１
は、図示しないＲＯＭやワーキングメモリとしてのＲＡ
Ｍを備えている。ＣＰＵ１は、ＲＯＭに格納された各種
プログラムに従って、検査対象となっている磁気ディス
クＤのＳ／Ｎ比の測定を行うようになっている。
好適な実施例について、図１ないし図６を参照して詳細
に説明する。図１は磁気ディスク検査装置の回路構成を
表したものである。この図１に示すように、磁気ディス
ク検査装置は、ＣＰＵ１を備えている。このＣＰＵ１
は、図示しないＲＯＭやワーキングメモリとしてのＲＡ
Ｍを備えている。ＣＰＵ１は、ＲＯＭに格納された各種
プログラムに従って、検査対象となっている磁気ディス
クＤのＳ／Ｎ比の測定を行うようになっている。
【００１１】ＣＰＵ１には、各種ディスプレイやプリン
タ等の出力装置１５、キーボード等の入力装置１７が接
続されており、また、データバス等のバスライン２を介
して、ＴＡＡ（トラック・アンプリチュード・アベレー
ジ）検出回路３、記録制御回路９、モータ制御回路１
１、タイミング発生回路１３が接続されている。磁気デ
ィスク検査装置は、モータ制御回路１１の制御によって
磁気ディスクＤを回転させるスピンドルモータＭ、およ
び、記録制御回路９からの制御信号によってＲ／Ｗ（再
生／記録）回路２１で磁気ディスクＤに信号の記録およ
び再生を行う磁気ヘッドＨを備えている。スピンドルモ
ータＭには、エンコーダ１９が取付けられており、この
エンコーダ１９からは、１回転当たり１パルスの信号で
セクタの基準となるインデックス信号、および、１回転
当たり複数パルスの信号でセクタ分割の基準となるクロ
ック信号が出力され、両信号は、タイミング発生回路１
３に供給されるようになっている。
タ等の出力装置１５、キーボード等の入力装置１７が接
続されており、また、データバス等のバスライン２を介
して、ＴＡＡ（トラック・アンプリチュード・アベレー
ジ）検出回路３、記録制御回路９、モータ制御回路１
１、タイミング発生回路１３が接続されている。磁気デ
ィスク検査装置は、モータ制御回路１１の制御によって
磁気ディスクＤを回転させるスピンドルモータＭ、およ
び、記録制御回路９からの制御信号によってＲ／Ｗ（再
生／記録）回路２１で磁気ディスクＤに信号の記録およ
び再生を行う磁気ヘッドＨを備えている。スピンドルモ
ータＭには、エンコーダ１９が取付けられており、この
エンコーダ１９からは、１回転当たり１パルスの信号で
セクタの基準となるインデックス信号、および、１回転
当たり複数パルスの信号でセクタ分割の基準となるクロ
ック信号が出力され、両信号は、タイミング発生回路１
３に供給されるようになっている。
【００１２】磁気ヘッドＨで再生された信号は、Ｒ／Ｗ
回路２１を介してアンプ２３に供給されて増幅された
後、ＴＡＡ検出回路３、およびスペクトルアナライザ２
９に供給されるようになっている。次に、このように構
成された磁気ディスク検査装置によるＳ／Ｎ比測定動作
の概要について説明する。システムノイズＱの測定 まず、測定対象の磁気ディスクをスピンドルモータＭに
設置する。そして、磁気ヘッドＨを磁気ディスクＤ上に
ローディングし、スピンドルモータＭを停止した状態、
すなわち磁気ディスクＤが停止した状態で再生を行う。
回路２１を介してアンプ２３に供給されて増幅された
後、ＴＡＡ検出回路３、およびスペクトルアナライザ２
９に供給されるようになっている。次に、このように構
成された磁気ディスク検査装置によるＳ／Ｎ比測定動作
の概要について説明する。システムノイズＱの測定 まず、測定対象の磁気ディスクをスピンドルモータＭに
設置する。そして、磁気ヘッドＨを磁気ディスクＤ上に
ローディングし、スピンドルモータＭを停止した状態、
すなわち磁気ディスクＤが停止した状態で再生を行う。
【００１３】この再生信号をスペクトルアナライザ２９
に取り込む。この取り込んだ再生信号に対してＣＰＵ１
は、図２に示すように平均値置換処理を行う。すなわ
ち、測定する周波数の範囲内をＤ等分（例えば１０等
分）し、各区間Ｎ1 、Ｎ2 、…、ＮD 内で信号出力レベ
ルの平均値を計算する。この平均値に比較して、所定の
しきい値であるピーク判定レベルＰ、例えば＋５ｄＢｍ
よりも大きい出力レベルの信号を平均値に置換する。
に取り込む。この取り込んだ再生信号に対してＣＰＵ１
は、図２に示すように平均値置換処理を行う。すなわ
ち、測定する周波数の範囲内をＤ等分（例えば１０等
分）し、各区間Ｎ1 、Ｎ2 、…、ＮD 内で信号出力レベ
ルの平均値を計算する。この平均値に比較して、所定の
しきい値であるピーク判定レベルＰ、例えば＋５ｄＢｍ
よりも大きい出力レベルの信号を平均値に置換する。
【００１４】図３は平均値置換処理の詳細を表したもの
である。まず図３（ａ）に示すように、スペクトルアナ
ライザ２９から取り込んだ全データのうち、処理対象と
なる区間内のデータ値から、その区間の平均値Ｚ1 を算
出し、この平均値Ｚ1 にピーク判定レベルＰを加えたし
きい値Ｐ1 を設定する。そして、図３（ｂ）に示すよう
に、設定したしきい値Ｐ1 よりも大きいデータ値を平均
値Ｚ1 に置換する。さらに、置換後のデータ値から平均
値Ｚ2 を算出し、この平均値Ｚ2 に対するしきい値Ｐ2
よりも大きいデータ値を平均値Ｚ2 に置き換える（図３
（ｃ））。以上の処理を、置換前後の平均値の差が例え
ば５％以内になるまで繰り返し行う。
である。まず図３（ａ）に示すように、スペクトルアナ
ライザ２９から取り込んだ全データのうち、処理対象と
なる区間内のデータ値から、その区間の平均値Ｚ1 を算
出し、この平均値Ｚ1 にピーク判定レベルＰを加えたし
きい値Ｐ1 を設定する。そして、図３（ｂ）に示すよう
に、設定したしきい値Ｐ1 よりも大きいデータ値を平均
値Ｚ1 に置換する。さらに、置換後のデータ値から平均
値Ｚ2 を算出し、この平均値Ｚ2 に対するしきい値Ｐ2
よりも大きいデータ値を平均値Ｚ2 に置き換える（図３
（ｃ））。以上の処理を、置換前後の平均値の差が例え
ば５％以内になるまで繰り返し行う。
【００１５】以上の平均値置換処理を行った後の信号か
らシステムノイズＱを測定する。ＤＣ消去後のノイズＲの測定 スピンドルモータＭを回転させて磁気ディスクＤを磁気
ヘッドＨで消去する。消去後の信号を磁気ヘッドＨで再
生し、スペクトルアナライザ２９に取り込む。この取り
込んだ再生信号に対して、平均値置換処理を行う。
らシステムノイズＱを測定する。ＤＣ消去後のノイズＲの測定 スピンドルモータＭを回転させて磁気ディスクＤを磁気
ヘッドＨで消去する。消去後の信号を磁気ヘッドＨで再
生し、スペクトルアナライザ２９に取り込む。この取り
込んだ再生信号に対して、平均値置換処理を行う。
【００１６】以上の置き換え処理を行った後の信号をも
とに、ＤＣ消去後のノイズＲを測定する。ノイズレベルＮの算出 で測定したＤＣ消去後のノイズＲから、で測定した
システムノイズＱを減算して磁気ディスクＤのノイズレ
ベルＮとする。出力信号レベルＳの測定 磁気ディスクＤ上に磁気ヘッドＨで信号を指定された周
波数で記録する。この記録した信号を磁気ヘッドＨで再
生し、スペクトルアナライザ２９に取り込む。スペクト
ルアナライザ２９に表示された再生信号としては、図４
に示すように、１次、２次、３次…の高調波が得られ
る。ここで、予め指定された次数までの高調波の出力レ
ベルを測定し、これを出力信号レベルＳとする。すなわ
ち、３次までの高調波を出力信号レベルとする場合はＳ
＝Ａ＋Ｂ＋Ｃとし、１次のみの場合にはＳ＝Ａとする。Ｓ／Ｎ比の算出 で測定した出力信号レベルＳと、で算出したノイズ
レベルＮとから、Ｓ／Ｎ比を算出する。
とに、ＤＣ消去後のノイズＲを測定する。ノイズレベルＮの算出 で測定したＤＣ消去後のノイズＲから、で測定した
システムノイズＱを減算して磁気ディスクＤのノイズレ
ベルＮとする。出力信号レベルＳの測定 磁気ディスクＤ上に磁気ヘッドＨで信号を指定された周
波数で記録する。この記録した信号を磁気ヘッドＨで再
生し、スペクトルアナライザ２９に取り込む。スペクト
ルアナライザ２９に表示された再生信号としては、図４
に示すように、１次、２次、３次…の高調波が得られ
る。ここで、予め指定された次数までの高調波の出力レ
ベルを測定し、これを出力信号レベルＳとする。すなわ
ち、３次までの高調波を出力信号レベルとする場合はＳ
＝Ａ＋Ｂ＋Ｃとし、１次のみの場合にはＳ＝Ａとする。Ｓ／Ｎ比の算出 で測定した出力信号レベルＳと、で算出したノイズ
レベルＮとから、Ｓ／Ｎ比を算出する。
【００１７】次に、システムノイズＱとＤＣ消去後のノ
イズＲの測定の際に、ＣＰＵ１で処理される平均値置換
処理の動作について図５および図６を参照して詳細に説
明する。まず、ＣＰＵ１はスペクトルアナライザ（ＳＰ
Ａ）２９に取り込まれた再生信号の全データを磁気ディ
スク検査装置に取り込む。ここで、全データ数をｄと
し、これら各データの値をｄａｔａ〔ｄ〕とする（ステ
ップ１）。そして、入力装置１７から入力されたピーク
判定レベルＰとデータ分割数Ｄを取り込むとともに、平
均値置換処理を行う区間を示す開始点ａおよび終了点ｂ
を０に初期設定する（ステップ２）。そして、全データ
数ｄをデータ分割数Ｄで割った商を区間幅ｉとする（ス
テップ３）。
イズＲの測定の際に、ＣＰＵ１で処理される平均値置換
処理の動作について図５および図６を参照して詳細に説
明する。まず、ＣＰＵ１はスペクトルアナライザ（ＳＰ
Ａ）２９に取り込まれた再生信号の全データを磁気ディ
スク検査装置に取り込む。ここで、全データ数をｄと
し、これら各データの値をｄａｔａ〔ｄ〕とする（ステ
ップ１）。そして、入力装置１７から入力されたピーク
判定レベルＰとデータ分割数Ｄを取り込むとともに、平
均値置換処理を行う区間を示す開始点ａおよび終了点ｂ
を０に初期設定する（ステップ２）。そして、全データ
数ｄをデータ分割数Ｄで割った商を区間幅ｉとする（ス
テップ３）。
【００１８】次に、ＣＰＵ１は、区間の終了点ｂが全デ
ータ数ｄと等しいか否かを判断し、終了点ｂが小さい場
合（ステップ４；Ｎ）、終了点ｂをａ＋ｉとすると共
に、ｆを０に設定する（ステップ５）。更にＣＰＵ１は
終了点ｂが全データ数ｄよりも大きいか否かを判断する
（ステップ６）。ここで、終了点ｂが全データ数ｄより
も大きい場合（ステップ６；Ｙ）とは、ステップ３にお
いて全データ数ｄをデータ分割数Ｄで割り切れずに余り
が出た場合の余りに該当する区間について平均値置換処
理を行う場合で、この場合には処理区間の終了点ｂを全
データ数ｄとする（ステップ７）。
ータ数ｄと等しいか否かを判断し、終了点ｂが小さい場
合（ステップ４；Ｎ）、終了点ｂをａ＋ｉとすると共
に、ｆを０に設定する（ステップ５）。更にＣＰＵ１は
終了点ｂが全データ数ｄよりも大きいか否かを判断する
（ステップ６）。ここで、終了点ｂが全データ数ｄより
も大きい場合（ステップ６；Ｙ）とは、ステップ３にお
いて全データ数ｄをデータ分割数Ｄで割り切れずに余り
が出た場合の余りに該当する区間について平均値置換処
理を行う場合で、この場合には処理区間の終了点ｂを全
データ数ｄとする（ステップ７）。
【００１９】そして、ＣＰＵ１は、旧平均（前回の処理
で求めた平均値）を１とする（ステップ８）。ここで、
旧平均を１とするのは、区間に対する第１回目の処理で
必ず後述するステップ１０の式が５％以上となるように
するためである。更に、ＣＰＵ１は、ＳＰＡから取り込
んだデータのうち、ａ＋１からｂ間のデータの平均値を
求め、これを現平均と定義する（ステップ９）。この現
平均と旧平均とから次の式（１）によりｅを算出する
（ステップ１０）。
で求めた平均値）を１とする（ステップ８）。ここで、
旧平均を１とするのは、区間に対する第１回目の処理で
必ず後述するステップ１０の式が５％以上となるように
するためである。更に、ＣＰＵ１は、ＳＰＡから取り込
んだデータのうち、ａ＋１からｂ間のデータの平均値を
求め、これを現平均と定義する（ステップ９）。この現
平均と旧平均とから次の式（１）によりｅを算出する
（ステップ１０）。
【００２０】 ｅ＝（旧平均−現平均）×１００／旧平均 …（１） この値ｅの絶対値が５以下か否かを判断し、５以下でな
い場合（ステップ１１；Ｎ）、旧平均を現平均とする
（ステップ１２）。更に、ｇを１に設定する。そしてＣ
ＰＵ１は、区間の開始点ａにｇを加えた値が終了点ｂよ
りも大きくなるまで（ステップ１４；Ｙ）、ＳＰＡから
取り込んだデータのうち、区間内の各データに対して以
下の平均値置換の判断を行う。すなわち、ａ＋ｇのデー
タｄａｔａ〔ａ＋ｇ〕が、ステップ９で求めた現平均よ
りもピーク判定レベルＰ（ｄＢｍ）以上大きい場合（ス
テップ１５；Ｙ）、そのｄａｔａ〔ａ＋ｇ〕を現平均に
置き換える（ステップ１６）。一方、、またはｄａｔａ
〔ａ＋ｇ〕が現平均からピーク判定レベルＰの範囲内に
ある場合には（ステップ１５；Ｎ）、そのままの値とす
る。その後ＣＰＵ１は、次のデータの判断を行うために
ｇをｇ＋１とする（ステップ１７）。
い場合（ステップ１１；Ｎ）、旧平均を現平均とする
（ステップ１２）。更に、ｇを１に設定する。そしてＣ
ＰＵ１は、区間の開始点ａにｇを加えた値が終了点ｂよ
りも大きくなるまで（ステップ１４；Ｙ）、ＳＰＡから
取り込んだデータのうち、区間内の各データに対して以
下の平均値置換の判断を行う。すなわち、ａ＋ｇのデー
タｄａｔａ〔ａ＋ｇ〕が、ステップ９で求めた現平均よ
りもピーク判定レベルＰ（ｄＢｍ）以上大きい場合（ス
テップ１５；Ｙ）、そのｄａｔａ〔ａ＋ｇ〕を現平均に
置き換える（ステップ１６）。一方、、またはｄａｔａ
〔ａ＋ｇ〕が現平均からピーク判定レベルＰの範囲内に
ある場合には（ステップ１５；Ｎ）、そのままの値とす
る。その後ＣＰＵ１は、次のデータの判断を行うために
ｇをｇ＋１とする（ステップ１７）。
【００２１】該当する区間内の全データに対して平均値
の置換判断が終了した場合、すなわち、ａ＋ｇがｂより
も大きくなった場合（ステップ１４；Ｙ）、ｆが１に設
定されているか否かを判断する（ステップ１８）。ここ
で、該当区間について、ステップ１１で旧平均との差が
５％以内となっていない場合、ｆは、ステップ５で設定
した“０”のままなので（ステップ１８；Ｎ）、ステッ
プ９に戻る。そして、ステップ１４乃至ステップ１７の
平均値の置換後の平均値（現平均）から求めたｅの絶対
値が５以下となるまでステップ９からステップ１８の処
理を繰り返し、５以下となった段階で（ステップ１１；
Ｙ）、ｆを１とする（ステップ１９）。その後、もう一
度平均値の置換を行った後（ステップ１４からステップ
１７）、ステップ１８でｆが１と判断され（Ｙ）、当該
区間についての平均値置換処理を終了して次の区間に移
行する。
の置換判断が終了した場合、すなわち、ａ＋ｇがｂより
も大きくなった場合（ステップ１４；Ｙ）、ｆが１に設
定されているか否かを判断する（ステップ１８）。ここ
で、該当区間について、ステップ１１で旧平均との差が
５％以内となっていない場合、ｆは、ステップ５で設定
した“０”のままなので（ステップ１８；Ｎ）、ステッ
プ９に戻る。そして、ステップ１４乃至ステップ１７の
平均値の置換後の平均値（現平均）から求めたｅの絶対
値が５以下となるまでステップ９からステップ１８の処
理を繰り返し、５以下となった段階で（ステップ１１；
Ｙ）、ｆを１とする（ステップ１９）。その後、もう一
度平均値の置換を行った後（ステップ１４からステップ
１７）、ステップ１８でｆが１と判断され（Ｙ）、当該
区間についての平均値置換処理を終了して次の区間に移
行する。
【００２２】次の区間に移行するため、新たな区間の開
始点ａを終了した区間の終了点ｂとし（ステップ２
０）、ステップ４に戻る。そして、終了した区間の終了
点ｂが全データ数ｄと等しくなるまで、以上のステップ
４からステップ２０までの処理を繰り返す（ステップ
４；Ｎ）。一方、終了した区間の終了点ｂが全データ数
ｄと等しい場合（ステップ４；Ｙ）、データ分割数Ｄに
分割した全区間について平均値置換処理が終了し、ＣＰ
Ｕ１は処理を終了する。
始点ａを終了した区間の終了点ｂとし（ステップ２
０）、ステップ４に戻る。そして、終了した区間の終了
点ｂが全データ数ｄと等しくなるまで、以上のステップ
４からステップ２０までの処理を繰り返す（ステップ
４；Ｎ）。一方、終了した区間の終了点ｂが全データ数
ｄと等しい場合（ステップ４；Ｙ）、データ分割数Ｄに
分割した全区間について平均値置換処理が終了し、ＣＰ
Ｕ１は処理を終了する。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
本来測定されるべきでない、装置等を原因とする特定周
波数のノイズを減少させることができる構成としたの
で、磁気ディスク自体のノイズをより正確に測定でき
る。従って、Ｓ／Ｎ比の測定精度を向上させることがで
きる。
本来測定されるべきでない、装置等を原因とする特定周
波数のノイズを減少させることができる構成としたの
で、磁気ディスク自体のノイズをより正確に測定でき
る。従って、Ｓ／Ｎ比の測定精度を向上させることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の磁気ディスク検査装置における一実施
例の電気回路図である。
例の電気回路図である。
【図２】同上、平均値置換処理の概要を示す説明図であ
る。
る。
【図３】同上、平均値置換処理の詳細を示す説明図であ
る。
る。
【図４】同上、出力信号の１次、２次、３次…の高調波
を説明する説明図である。
を説明する説明図である。
【図５】同上、磁気ディスク検査装置による平均値置換
処理の動作を示すフローチャートの一部である
処理の動作を示すフローチャートの一部である
【図６】同上、磁気ディスク検査装置による平均値置換
処理の動作を示すフローチャートの他の一部である。
処理の動作を示すフローチャートの他の一部である。
【図７】従来のＳ／Ｎ比測定の対象となる信号を説明す
るための説明図である。
るための説明図である。
【図８】本発明の磁気ディスク検査装置の原理図であ
る。
る。
１ ＣＰＵ ３ ＴＡＡ検出回路 １５ 出力装置 １７ 入力装置 １９ エンコーダ ２１ Ｒ／Ｗ回路 ２３ アンプ ２９ スペクトルアナライザ Ｄ 磁気ディスク Ｈ 磁気ヘッド Ｍ スピンドルモータ １００ 記録再生手段 １０１ 信号レベル測定手段 １０２ システムノイズ測定手段 １０３ 消去後ノイズ測定手段 １０４ 分割手段 １０５ 平均値置換手段 １０６ ノイズレベル算出手段 １０７ Ｓ／Ｎ比算出手段
Claims (2)
- 【請求項１】 検査対象となる磁気ディスクに検査用信
号の記録および再生を行う記録再生手段と、 この記録再生手段で再生された出力信号のレベルを測定
する信号レベル測定手段と、 装置に起因するシステムノイズを測定するシステムノイ
ズ測定手段と、 前記記録再生手段で消去した後の前記磁気ディスクのノ
イズを測定する消去後ノイズ測定手段と、 この消去後ノイズ測定手段と前記システムノイズ測定手
段で測定した両ノイズを周波数で複数の区間に分割する
分割手段と、 この分割手段で分割された各区間の平均値を算出し、こ
の平均値よりも大きい値を平均値に置き換える平均値置
換手段と、 この平均値置換手段で置き換えた後のシステムノイズと
消去後ノイズとからノイズレベルを算出するノイズレベ
ル算出手段と、 このノイズレベル算出手段で算出されたノイズレベルと
前記信号レベル測定手段で測定された出力信号のレベル
とからＳ／Ｎ比を求めるＳ／Ｎ比算出手段とを具備する
ことを特徴とする磁気ディスク検査装置。 - 【請求項２】 検査対象となる磁気ディスクの検査用信
号を再生して出力信号のレベルを測定する第１工程と、 装置に起因するシステムノイズを測定する第２工程と、 検査対象となる磁気ディスクの検査用信号を消去した後
に前記磁気ディスクの消去後ノイズを測定する第３工程
と、 この第３工程と前記第２工程で測定した両ノイズを周波
数で複数の区間に分割する第４工程と、 この第４工程で分割された各区間の平均値を算出し、こ
の平均値よりも大きい値を平均値に置き換える第５工程
と、 この第５工程で平均値に置き換えた後のシステムノイズ
と消去後ノイズとからノイズレベルを算出する第６工程
と、 この第６工程で算出されたノイズレベルと前記第１工程
で測定された出力信号のレベルとからＳ／Ｎ比を求める
第７工程とからなることを特徴とする磁気ディスク検査
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4492992A JPH05249167A (ja) | 1992-03-02 | 1992-03-02 | 磁気ディスク検査装置および検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4492992A JPH05249167A (ja) | 1992-03-02 | 1992-03-02 | 磁気ディスク検査装置および検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05249167A true JPH05249167A (ja) | 1993-09-28 |
Family
ID=12705170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4492992A Pending JPH05249167A (ja) | 1992-03-02 | 1992-03-02 | 磁気ディスク検査装置および検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05249167A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009259310A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Showa Denko Kk | 磁気記録媒体のシーク評価方法およびシーク評価装置 |
-
1992
- 1992-03-02 JP JP4492992A patent/JPH05249167A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009259310A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Showa Denko Kk | 磁気記録媒体のシーク評価方法およびシーク評価装置 |
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