JPH11144244A - 磁気ディスク媒体検査におけるデータ処理方法 - Google Patents
磁気ディスク媒体検査におけるデータ処理方法Info
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- JPH11144244A JPH11144244A JP31764497A JP31764497A JPH11144244A JP H11144244 A JPH11144244 A JP H11144244A JP 31764497 A JP31764497 A JP 31764497A JP 31764497 A JP31764497 A JP 31764497A JP H11144244 A JPH11144244 A JP H11144244A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 異なるセクタ間にまたがる欠陥でも埋め込み
処理可能にする。 【解決手段】 磁気ディスク媒体上の任意のトラックの
第ｎセクタ先頭からこの第ｎセクタに含まれる欠陥Ｅ１
までのビット数を測定して記憶するとともに、第ｎセク
タ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭までのビット数も、計算
によってではなく実際に測定して記憶することにより、
欠陥Ｅ１から第ｎ＋ｋセクタ先頭までのビット数を正確
に算出できる。これらにより欠陥Ｅ１及びＥ２間のビッ
ト数Ｄ３５が求まるので、欠陥Ｅ１及びＥ２の長さ及び
Ｄ３５を含めたビット数が所定値以内のときには、欠陥
Ｅ１及び欠陥Ｅ２を１つの欠陥として処理（埋め込み処
理）することができる。
処理可能にする。 【解決手段】 磁気ディスク媒体上の任意のトラックの
第ｎセクタ先頭からこの第ｎセクタに含まれる欠陥Ｅ１
までのビット数を測定して記憶するとともに、第ｎセク
タ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭までのビット数も、計算
によってではなく実際に測定して記憶することにより、
欠陥Ｅ１から第ｎ＋ｋセクタ先頭までのビット数を正確
に算出できる。これらにより欠陥Ｅ１及びＥ２間のビッ
ト数Ｄ３５が求まるので、欠陥Ｅ１及びＥ２の長さ及び
Ｄ３５を含めたビット数が所定値以内のときには、欠陥
Ｅ１及び欠陥Ｅ２を１つの欠陥として処理（埋め込み処
理）することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク媒体
検査装置における磁気ディスク媒体検査の検査項目のデ
ータ処理の方法に関する。
検査装置における磁気ディスク媒体検査の検査項目のデ
ータ処理の方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気ディスク装置は、ハードディスクと
も呼ばれ、パソコンなどのコンピュータの大容量記憶装
置として広く利用されている。磁気ディスク装置内部に
は、円盤状の磁気ディスク媒体が設けられ、これを回転
させつつ磁気ヘッドによるデータの書込み及び読み出し
が行われる。磁気ディスク媒体は、製造された後磁気デ
ィスク媒体検査装置を用いた磁気ディスク媒体の検査が
行われる。磁気ディスク媒体上には、表面の磁性層のむ
ら、突起等の欠陥が生じることがあり、これらがエラー
として検出される。
も呼ばれ、パソコンなどのコンピュータの大容量記憶装
置として広く利用されている。磁気ディスク装置内部に
は、円盤状の磁気ディスク媒体が設けられ、これを回転
させつつ磁気ヘッドによるデータの書込み及び読み出し
が行われる。磁気ディスク媒体は、製造された後磁気デ
ィスク媒体検査装置を用いた磁気ディスク媒体の検査が
行われる。磁気ディスク媒体上には、表面の磁性層のむ
ら、突起等の欠陥が生じることがあり、これらがエラー
として検出される。
【０００３】図３は、磁気ディスク媒体検査装置１０の
一例のブロック図である。ロボットハンド等を有する磁
気ディスク媒体移送装置（図示せず）により、検査対象
である被検査磁気ディスク媒体１２が磁気ディスク媒体
検査装置１０のスピンドル１４に移送され固定される。
スピンドル１４に固定した磁気ディスク媒体１２がモー
タ１８からの動力により回転すると、ディスク媒体１２
表面上に形成されるエアフローにより、磁気ヘッド１６
は磁気ディスク媒体１２表面から浮上する。スピンドル
が１回転する毎にインデックス・パルス（インデックス
信号）が生成される。磁気ヘッド１６はキャリッジ２０
に装着され、キャリッジ２０により磁気ディスク媒体１
２上をシーク（移動）させながら、磁気ディスク媒体１
２表面で信号の書込み及び読み出しを行う。演算制御回
路２４は、ＣＰＵ（マイクロプロセッサ）２６や記憶装
置２８等で構成され、モータ１８、キャリッジ２０、媒
体移送装置（図示せず）等の磁気ディスク媒体検査装置
全体を制御する。記憶装置２８は、例えば、ハードディ
スク（磁気ディスク装置）やＲＡＭ（ランダム・アクセ
ス・メモリ）などであり、ＣＰＵ２６が実行するソフト
ウェアを記憶し、また、検査結果データの記憶などでも
使用される。
一例のブロック図である。ロボットハンド等を有する磁
気ディスク媒体移送装置（図示せず）により、検査対象
である被検査磁気ディスク媒体１２が磁気ディスク媒体
検査装置１０のスピンドル１４に移送され固定される。
スピンドル１４に固定した磁気ディスク媒体１２がモー
タ１８からの動力により回転すると、ディスク媒体１２
表面上に形成されるエアフローにより、磁気ヘッド１６
は磁気ディスク媒体１２表面から浮上する。スピンドル
が１回転する毎にインデックス・パルス（インデックス
信号）が生成される。磁気ヘッド１６はキャリッジ２０
に装着され、キャリッジ２０により磁気ディスク媒体１
２上をシーク（移動）させながら、磁気ディスク媒体１
２表面で信号の書込み及び読み出しを行う。演算制御回
路２４は、ＣＰＵ（マイクロプロセッサ）２６や記憶装
置２８等で構成され、モータ１８、キャリッジ２０、媒
体移送装置（図示せず）等の磁気ディスク媒体検査装置
全体を制御する。記憶装置２８は、例えば、ハードディ
スク（磁気ディスク装置）やＲＡＭ（ランダム・アクセ
ス・メモリ）などであり、ＣＰＵ２６が実行するソフト
ウェアを記憶し、また、検査結果データの記憶などでも
使用される。
【０００４】磁気ディスク媒体は、同心円状に複数のト
ラックで区切られ、さらに各トラックは複数のセクタに
区切られる。各トラックのセクタは、磁気ディスク媒体
が１回転する毎に１回発生するインデックス信号を起点
に、１周を等間隔に分割するセクタ信号によって区切ら
れる。各トラックのビット数は書込み信号の周波数と回
転数により一意に決まるので、各セクタのビット数も計
算によって算出することができる。
ラックで区切られ、さらに各トラックは複数のセクタに
区切られる。各トラックのセクタは、磁気ディスク媒体
が１回転する毎に１回発生するインデックス信号を起点
に、１周を等間隔に分割するセクタ信号によって区切ら
れる。各トラックのビット数は書込み信号の周波数と回
転数により一意に決まるので、各セクタのビット数も計
算によって算出することができる。
【０００５】磁気ディスク媒体の磁気的特性の検査項目
には、ミッシングエラーやエキストラエラーなどがあ
る。夫々の検査においては、必要なテスト信号（例え
ば、オール”１”など）が磁気ヘッドによって磁気ディ
スクのトラックに予め書き込まれる。このテスト信号を
磁気ヘッドによって読み出して分析することにより、ト
ラック上の欠陥が検出される。
には、ミッシングエラーやエキストラエラーなどがあ
る。夫々の検査においては、必要なテスト信号（例え
ば、オール”１”など）が磁気ヘッドによって磁気ディ
スクのトラックに予め書き込まれる。このテスト信号を
磁気ヘッドによって読み出して分析することにより、ト
ラック上の欠陥が検出される。
【０００６】図２は、磁気ディスク媒体上の欠陥（エラ
ー）とセクタとの関係を示すチャート図である。欠陥検
査において欠陥の位置を特定しようとするならば、各セ
クタ先頭からのビット数を測定すれば良い。具体的に
は、磁気ヘッドで読み出したテスト信号の周波数をカウ
ントする周波数カウンタ３０を設け、各セクタ信号が生
じる時点（Ａｎ、Ａｎ＋１・・・）でこの周波数カウン
タをリセットし、各セクタ毎に周波数カウンタでテスト
信号の周波数をカウントすることによってセクタ先頭か
ら欠陥までのビット数を測定する。なお、周波数カウン
タ３０は、ハードウェアで設けるのが好ましいが、ＣＰ
Ｕ２６を用いてソフトウェア的に実現しても良い。な
お、ｎは任意の整数である。
ー）とセクタとの関係を示すチャート図である。欠陥検
査において欠陥の位置を特定しようとするならば、各セ
クタ先頭からのビット数を測定すれば良い。具体的に
は、磁気ヘッドで読み出したテスト信号の周波数をカウ
ントする周波数カウンタ３０を設け、各セクタ信号が生
じる時点（Ａｎ、Ａｎ＋１・・・）でこの周波数カウン
タをリセットし、各セクタ毎に周波数カウンタでテスト
信号の周波数をカウントすることによってセクタ先頭か
ら欠陥までのビット数を測定する。なお、周波数カウン
タ３０は、ハードウェアで設けるのが好ましいが、ＣＰ
Ｕ２６を用いてソフトウェア的に実現しても良い。な
お、ｎは任意の整数である。
【０００７】例えば、欠陥ｅ１は第ｎセクタ先頭Ａｎの
位置からＬ１ｓの距離にその先端があり、Ｌ１ｅの距離
に後端がある。また、欠陥Ｅ３は第ｎセクタ先頭Ａｎの
位置からＬ２ｓの距離に先端があり、Ｌ２ｅの距離に後
端がある。従ってＬ２ｓ及びＬ１ｅの差を取ることによ
って、欠陥ｅ１及びＥ３の間にはＤ１２（＝Ｌ２ｓ−Ｌ
１ｅ）の距離（ビット数）があることがわかる。
位置からＬ１ｓの距離にその先端があり、Ｌ１ｅの距離
に後端がある。また、欠陥Ｅ３は第ｎセクタ先頭Ａｎの
位置からＬ２ｓの距離に先端があり、Ｌ２ｅの距離に後
端がある。従ってＬ２ｓ及びＬ１ｅの差を取ることによ
って、欠陥ｅ１及びＥ３の間にはＤ１２（＝Ｌ２ｓ−Ｌ
１ｅ）の距離（ビット数）があることがわかる。
【０００８】なお、第ｎセクタ先頭Ａｎから欠陥ｅ１の
後端までの距離Ｌ１ｅを求めるのには、欠陥ｅ１の先端
までの距離Ｌ１ｓに欠陥ｅ１の長さ（ビット数）Ｄｅ１
を加算する（Ｌｅ１＝Ｌ１ｓ＋Ｄｅ１）ことによって求
めても良い。つまり、距離Ｌ１ｅを測定する代わりに、
欠陥ｅ１の長さＤｅ１を測定によって求め、その後に距
離Ｌ１ｅを計算により求めるようにしても良い。これ
は、欠陥ｅ２や、以下で説明する欠陥Ｅ１、Ｅ２及びＥ
３などについても同様に適用できる。
後端までの距離Ｌ１ｅを求めるのには、欠陥ｅ１の先端
までの距離Ｌ１ｓに欠陥ｅ１の長さ（ビット数）Ｄｅ１
を加算する（Ｌｅ１＝Ｌ１ｓ＋Ｄｅ１）ことによって求
めても良い。つまり、距離Ｌ１ｅを測定する代わりに、
欠陥ｅ１の長さＤｅ１を測定によって求め、その後に距
離Ｌ１ｅを計算により求めるようにしても良い。これ
は、欠陥ｅ２や、以下で説明する欠陥Ｅ１、Ｅ２及びＥ
３などについても同様に適用できる。
【０００９】ところで、近年のハードディスクの高密度
化やエラー訂正技術の向上に伴い、検査装置においても
単にエラー（欠陥）の位置を検出するのみでなく、以下
に示すようなデータ処理が要求されるようになった。
化やエラー訂正技術の向上に伴い、検査装置においても
単にエラー（欠陥）の位置を検出するのみでなく、以下
に示すようなデータ処理が要求されるようになった。
【００１０】埋め込み処理（不連続なエラービット情
報に対して指定された長さのビットを埋め込み連続した
エラーとする。） インヒビット処理（1つのエラーから指定ビット数の
区間内に検出されたエラーを無視する。）
報に対して指定された長さのビットを埋め込み連続した
エラーとする。） インヒビット処理（1つのエラーから指定ビット数の
区間内に検出されたエラーを無視する。）
【００１１】及びの処理は、いずれも複数の近接し
た欠陥を１つとして扱うことで、結果としてエラー検出
個数を少なくし、製品検査における良品率を上げるよう
に作用する。こうした処理が行われるのは、指定した所
定ビット数内で近接する欠陥（エラ）ーを１つの欠陥と
して処理したとしても、実際の磁気ディスク媒体の使用
において特に問題は生じないので、不必要に検査基準を
厳しくすることは単に製造コストを上昇させるだけとな
るからである。
た欠陥を１つとして扱うことで、結果としてエラー検出
個数を少なくし、製品検査における良品率を上げるよう
に作用する。こうした処理が行われるのは、指定した所
定ビット数内で近接する欠陥（エラ）ーを１つの欠陥と
して処理したとしても、実際の磁気ディスク媒体の使用
において特に問題は生じないので、不必要に検査基準を
厳しくすることは単に製造コストを上昇させるだけとな
るからである。
【００１２】これら及びの処理を欠陥ｅ１及びｅ２
に関して適用するには、これら欠陥間にある正常な部分
も含めて１つの欠陥として処理すれば良いことになる。
そのためには、これら欠陥間の距離Ｄ１２（ビット数）
がわかれば良い。これによって、欠陥ｅ１から欠陥ｅ２
までを１つの欠陥とみなして処理（埋め込み処理）でき
る。
に関して適用するには、これら欠陥間にある正常な部分
も含めて１つの欠陥として処理すれば良いことになる。
そのためには、これら欠陥間の距離Ｄ１２（ビット数）
がわかれば良い。これによって、欠陥ｅ１から欠陥ｅ２
までを１つの欠陥とみなして処理（埋め込み処理）でき
る。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】上述した欠陥ｅ１及び
ｅ２は、同じセクタ内に存在し、この場合の埋め込み処
理は特に問題なく実施できていた。ところが、異なるセ
クタに欠陥が存在する場合には、埋め込み処理ができず
にいた。これを説明するため、図２の欠陥Ｅ１及びＥ３
を例にして、異なるセクタに属する欠陥の埋め込み処理
について考察する。この例では、欠陥Ｅ１は第ｎセクタ
の最後付近に存在し、欠陥Ｅ３は第ｎ＋１セクタ先頭付
近に存在するものとする。
ｅ２は、同じセクタ内に存在し、この場合の埋め込み処
理は特に問題なく実施できていた。ところが、異なるセ
クタに欠陥が存在する場合には、埋め込み処理ができず
にいた。これを説明するため、図２の欠陥Ｅ１及びＥ３
を例にして、異なるセクタに属する欠陥の埋め込み処理
について考察する。この例では、欠陥Ｅ１は第ｎセクタ
の最後付近に存在し、欠陥Ｅ３は第ｎ＋１セクタ先頭付
近に存在するものとする。
【００１４】第ｎ＋１セクタ先頭から欠陥Ｅ３先頭まで
距離Ｌ４ｓは、周波数カウンタ３０でテスト信号の周波
数をカウントすることによって求めることできる。一
方、欠陥Ｅ１の後端から第ｎ＋１セクタ先頭までのビッ
ト数（距離）を求めるには、第ｎセクタの総ビット数Ｄ
nから第ｎセクタ先頭から欠陥Ｅ１の後端までのビット
数Ｌ３ｅを引けば良いことになる。このとき、第ｎセク
タの総ビット数Ｄnは、上述のように計算によって算出
でき、第ｎセクタ先頭から欠陥Ｅ１の後端までのビット
数Ｌ３ｅは周波数カウンタで測定することによって求め
ることができる。
距離Ｌ４ｓは、周波数カウンタ３０でテスト信号の周波
数をカウントすることによって求めることできる。一
方、欠陥Ｅ１の後端から第ｎ＋１セクタ先頭までのビッ
ト数（距離）を求めるには、第ｎセクタの総ビット数Ｄ
nから第ｎセクタ先頭から欠陥Ｅ１の後端までのビット
数Ｌ３ｅを引けば良いことになる。このとき、第ｎセク
タの総ビット数Ｄnは、上述のように計算によって算出
でき、第ｎセクタ先頭から欠陥Ｅ１の後端までのビット
数Ｌ３ｅは周波数カウンタで測定することによって求め
ることができる。
【００１５】ところが第ｎセクタの総ビット数Ｄn、つ
まり、第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭までに含
まれる総ビット数Ｄnは、磁気ディスク媒体１２の回転
むら（ジッター）のために実際には一定ではなく、回転
の度に数ビットの変動がある。
まり、第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭までに含
まれる総ビット数Ｄnは、磁気ディスク媒体１２の回転
むら（ジッター）のために実際には一定ではなく、回転
の度に数ビットの変動がある。
【００１６】従って、欠陥Ｅ１の後端から第ｎ＋ｋセク
タ先頭までのビット数が正確に求められず、よって欠陥
Ｅ１及びＥ３間のビット数（距離）を正確に求めること
はできなかった。このため、従来は異なるセクタにまた
がる複数の欠陥を１つの欠陥として扱うデータ処理（埋
め込み処理）ができなかった。
タ先頭までのビット数が正確に求められず、よって欠陥
Ｅ１及びＥ３間のビット数（距離）を正確に求めること
はできなかった。このため、従来は異なるセクタにまた
がる複数の欠陥を１つの欠陥として扱うデータ処理（埋
め込み処理）ができなかった。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気ディスク
媒体検査装置におけるデータ処理の１つの方法を提供す
る。本発明の方法によれば、磁気ディスク媒体検査装置
によって磁気ディスク媒体上の任意のトラックの第ｎセ
クタ（ｎは整数）を検査する場合において、第ｎセクタ
先頭から第ｎセクタ中の欠陥Ｅ１までのビット数を測定
して記憶するとともに、第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋ
（ｋは１以上の整数）セクタ先頭までのビット数も測定
して記憶することにより、欠陥Ｅ１から第ｎ＋ｋセクタ
先頭までのビット数を算出できる。
媒体検査装置におけるデータ処理の１つの方法を提供す
る。本発明の方法によれば、磁気ディスク媒体検査装置
によって磁気ディスク媒体上の任意のトラックの第ｎセ
クタ（ｎは整数）を検査する場合において、第ｎセクタ
先頭から第ｎセクタ中の欠陥Ｅ１までのビット数を測定
して記憶するとともに、第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋ
（ｋは１以上の整数）セクタ先頭までのビット数も測定
して記憶することにより、欠陥Ｅ１から第ｎ＋ｋセクタ
先頭までのビット数を算出できる。
【００１８】更に、磁気ディスク媒体検査装置によって
磁気ディスク媒体上の任意のトラックの第ｎ（ｎは整
数）セクタから第ｎ＋ｋ（ｋは１以上の整数）セクタま
での欠陥を検査する場合において、第ｎセクタ中の欠陥
Ｅ１と第ｎ＋ｋセクタ中の欠陥Ｅ２間のビット数を算出
できる。即ち、第１ステップで第ｎセクタ先頭から第ｎ
セクタ中の欠陥Ｅ１までのビット数を測定して記憶し、
第２ステップで第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭
までに含まれるセクタ夫々の総ビット数を測定して記憶
し、第３ステップで第ｎ＋ｋセクタ先頭から第ｎ＋ｋセ
クタ中の欠陥Ｅ２までのビット数Ｌ５ｓを測定して記憶
する。そして、第１〜第３ステップで得られたデータを
用いることにより、異なるセクタに存在する欠陥Ｅ１及
び欠陥Ｅ２間のビット数を算出できる。
磁気ディスク媒体上の任意のトラックの第ｎ（ｎは整
数）セクタから第ｎ＋ｋ（ｋは１以上の整数）セクタま
での欠陥を検査する場合において、第ｎセクタ中の欠陥
Ｅ１と第ｎ＋ｋセクタ中の欠陥Ｅ２間のビット数を算出
できる。即ち、第１ステップで第ｎセクタ先頭から第ｎ
セクタ中の欠陥Ｅ１までのビット数を測定して記憶し、
第２ステップで第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭
までに含まれるセクタ夫々の総ビット数を測定して記憶
し、第３ステップで第ｎ＋ｋセクタ先頭から第ｎ＋ｋセ
クタ中の欠陥Ｅ２までのビット数Ｌ５ｓを測定して記憶
する。そして、第１〜第３ステップで得られたデータを
用いることにより、異なるセクタに存在する欠陥Ｅ１及
び欠陥Ｅ２間のビット数を算出できる。
【００１９】欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２間のビット数が求ま
れば、欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２を含めたビット数を算出で
きる。そして、欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２を含めたビット数
が所定値（判別の基準となるビット数）以内の場合に
は、異なるセクタに存在する欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２を１
つの欠陥として埋め込み処理を行う。
れば、欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２を含めたビット数を算出で
きる。そして、欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２を含めたビット数
が所定値（判別の基準となるビット数）以内の場合に
は、異なるセクタに存在する欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２を１
つの欠陥として埋め込み処理を行う。
【００２０】上述の処理において磁気ディスク媒体上の
ビット数を測定するには、磁気ディスク媒体検査装置に
よってテスト信号を磁気ディスク媒体に予め書込み、テ
スト信号を読み出してその周波数をカウントすれば良
い。
ビット数を測定するには、磁気ディスク媒体検査装置に
よってテスト信号を磁気ディスク媒体に予め書込み、テ
スト信号を読み出してその周波数をカウントすれば良
い。
【００２１】上記した処理をより具体的に説明すると、
第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭までに含まれる
セクタ夫々の総ビット数及びＬ５ｓを順次加算するとと
もに、第ｎセクタ先頭から欠陥Ｅ１までのビット数Ｌ３
ｅを引き算することにより、異なるセクタに存在する欠
陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２間のビット数Ｄ３５を算出してい
る。そしてこのＤ３５が求まれば、これに欠陥Ｅ１のビ
ット数及び欠陥Ｅ２のビット数を加算して得られる数値
が任意に設定可能な所定値と比較され、埋め込み処理を
行うかどうかが判断される。
第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭までに含まれる
セクタ夫々の総ビット数及びＬ５ｓを順次加算するとと
もに、第ｎセクタ先頭から欠陥Ｅ１までのビット数Ｌ３
ｅを引き算することにより、異なるセクタに存在する欠
陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２間のビット数Ｄ３５を算出してい
る。そしてこのＤ３５が求まれば、これに欠陥Ｅ１のビ
ット数及び欠陥Ｅ２のビット数を加算して得られる数値
が任意に設定可能な所定値と比較され、埋め込み処理を
行うかどうかが判断される。
【００２２】ところで、欠陥Ｅ１のビット数に第ｎセク
タ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭までに含まれるセクタ夫
々の総ビット数を加算する過程の途中で得られる中間合
計値Ｄｓｕｍとすると、この中間合計値Ｄｓｕｍを任意
に設定可能な所定値と随時比較し、中間合計値Ｄｓｕｍ
が所定値を越えた場合には、中間合計値Ｄｓｕｍをリセ
ットするようにすると良い。上述の所定値を越えたら、
最後まで計算するまでもなく埋め込み処理を行うことは
ないからである。
タ先頭から第ｎ＋ｋセクタ先頭までに含まれるセクタ夫
々の総ビット数を加算する過程の途中で得られる中間合
計値Ｄｓｕｍとすると、この中間合計値Ｄｓｕｍを任意
に設定可能な所定値と随時比較し、中間合計値Ｄｓｕｍ
が所定値を越えた場合には、中間合計値Ｄｓｕｍをリセ
ットするようにすると良い。上述の所定値を越えたら、
最後まで計算するまでもなく埋め込み処理を行うことは
ないからである。
【００２３】なお、中間合計値Ｄｓｕｍと上記所定値と
の比較は、磁気ディスク媒体検査装置によるセクタ信号
の発生に合わせて行うと良い。これは、第ｎセクタ先頭
から第ｎ＋ｋセクタ先頭までに含まれるセクタ夫々の総
ビット数は、どれも対応するセクタ信号が発生した時点
で求まる数値なので、セクタ信号の発生に合わせて比較
を行えば効率的だからである。
の比較は、磁気ディスク媒体検査装置によるセクタ信号
の発生に合わせて行うと良い。これは、第ｎセクタ先頭
から第ｎ＋ｋセクタ先頭までに含まれるセクタ夫々の総
ビット数は、どれも対応するセクタ信号が発生した時点
で求まる数値なので、セクタ信号の発生に合わせて比較
を行えば効率的だからである。
【００２４】
【発明の実施の形態】図２を用いて、本発明の好適な実
施例を説明する。本発明の実施に使用する磁気ディスク
媒体検査装置は、図３に示すものとハードウェア的には
大きく変わることがない。ただし、ＣＰＵ２６が処理す
るソフトウェア及び記憶装置の利用の仕方が従来と異な
り、必要に応じてＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモ
リ）などの動作の高速なメモリの増設が要求される。
施例を説明する。本発明の実施に使用する磁気ディスク
媒体検査装置は、図３に示すものとハードウェア的には
大きく変わることがない。ただし、ＣＰＵ２６が処理す
るソフトウェア及び記憶装置の利用の仕方が従来と異な
り、必要に応じてＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモ
リ）などの動作の高速なメモリの増設が要求される。
【００２５】本発明においても、従来と同じく被検査磁
気ディスク媒体１２には所定のテスト信号が予め書き込
まれ、これを磁気ヘッド１６で読み出すことにより磁気
ディスク媒体１２の検査が行われる。磁気ヘッド１６で
読み出したテスト信号は、その周波数が周波数カウンタ
３０によってカウントされ、これによってビット数が測
定できる。
気ディスク媒体１２には所定のテスト信号が予め書き込
まれ、これを磁気ヘッド１６で読み出すことにより磁気
ディスク媒体１２の検査が行われる。磁気ヘッド１６で
読み出したテスト信号は、その周波数が周波数カウンタ
３０によってカウントされ、これによってビット数が測
定できる。
【００２６】まず、図２に示す任意のトラックの第ｎセ
クタ及び第ｎ＋１セクタに夫々存在する欠陥Ｅ１及びＥ
３の埋め込み処理を例にして説明する。これら欠陥Ｅ１
及びＥ３は、夫々属するセクタが異なっていることに注
意されたい。なお、ｎは任意の整数であり、第ｎ＋１セ
クタは第ｎセクタの次に存在するセクタを意味してい
る。
クタ及び第ｎ＋１セクタに夫々存在する欠陥Ｅ１及びＥ
３の埋め込み処理を例にして説明する。これら欠陥Ｅ１
及びＥ３は、夫々属するセクタが異なっていることに注
意されたい。なお、ｎは任意の整数であり、第ｎ＋１セ
クタは第ｎセクタの次に存在するセクタを意味してい
る。
【００２７】本発明では、磁気ディスク媒体上の任意の
トラックの第ｎセクタ（ｎは任意の整数）中の欠陥Ｅ１
の後端の位置を第ｎセクタ先頭からテスト信号を周波数
カウンタ３０で測定することによって求め、そのビット
数Ｌ３ｅ（第ｎセクタ先頭からのビット数）を記憶装置
２８に記憶する。これと同時に、第ｎセクタ先頭から欠
陥Ｅ３を含む第ｎ＋１セクタ先頭までのビット数、つま
り、第ｎセクタの総ビット数Ｄnも周波数カウンタ３０
で測定して記憶装置２８に記憶する。
トラックの第ｎセクタ（ｎは任意の整数）中の欠陥Ｅ１
の後端の位置を第ｎセクタ先頭からテスト信号を周波数
カウンタ３０で測定することによって求め、そのビット
数Ｌ３ｅ（第ｎセクタ先頭からのビット数）を記憶装置
２８に記憶する。これと同時に、第ｎセクタ先頭から欠
陥Ｅ３を含む第ｎ＋１セクタ先頭までのビット数、つま
り、第ｎセクタの総ビット数Ｄnも周波数カウンタ３０
で測定して記憶装置２８に記憶する。
【００２８】このやり方は別の見方をすると、欠陥Ｅ１
を含む第ｎセクタの総ビット数Ｄnを計算によって求め
ずに、第ｎセクタの中の欠陥Ｅ１の位置（セクタ先頭か
らのビット数Ｌ３ｅ）を周波数カウンタ３０で測定する
度に、欠陥Ｅ１を含む第ｎセクタの総ビット数Ｄnも同
じ周波数カウンタ３０で実際に測定して求めるものであ
る。
を含む第ｎセクタの総ビット数Ｄnを計算によって求め
ずに、第ｎセクタの中の欠陥Ｅ１の位置（セクタ先頭か
らのビット数Ｌ３ｅ）を周波数カウンタ３０で測定する
度に、欠陥Ｅ１を含む第ｎセクタの総ビット数Ｄnも同
じ周波数カウンタ３０で実際に測定して求めるものであ
る。
【００２９】これによって、欠陥Ｅ１のように、第ｎセ
クタ中に存在するものの第ｎセクタ先頭から遠い場所に
存在する欠陥の位置を測定する場合では、仮に第ｎセク
タ先頭から欠陥Ｅ１後端までのビット数Ｌ３ｅが測定す
る度に数ビット異なったとしても、第ｎセクタ先頭から
第ｎ＋１セクタ先頭までの実測したビット数も同じだけ
異なることになるので、欠陥Ｅ１後端から第ｎ＋１セク
タ先頭までのビット数Ｄ３ａは正確に算出できる。
クタ中に存在するものの第ｎセクタ先頭から遠い場所に
存在する欠陥の位置を測定する場合では、仮に第ｎセク
タ先頭から欠陥Ｅ１後端までのビット数Ｌ３ｅが測定す
る度に数ビット異なったとしても、第ｎセクタ先頭から
第ｎ＋１セクタ先頭までの実測したビット数も同じだけ
異なることになるので、欠陥Ｅ１後端から第ｎ＋１セク
タ先頭までのビット数Ｄ３ａは正確に算出できる。
【００３０】従来は欠陥の位置（セクタ先頭からの距離
（ビット数））は測定しても、第ｎセクタの総ビット数
Ｄnを周波数カウンタ３０で測定することはなかった。
これは、測定するまでもなく、必要であれば計算によっ
て算出することができたからである。しかし、本発明で
は、あえて計算によらず実際に測定して第ｎセクタの総
ビット数Ｄnを求めることにより、第ｎセクタに含まれ
る欠陥Ｅ１後端から第ｎ＋１セクタ先頭までのビット数
（距離）を正確に求めることができるようになる。これ
によって、異なるセクタに含まれる欠陥Ｅ１及びＥ３間
の距離（ビット数）Ｄ３４を求めることができる。
（ビット数））は測定しても、第ｎセクタの総ビット数
Ｄnを周波数カウンタ３０で測定することはなかった。
これは、測定するまでもなく、必要であれば計算によっ
て算出することができたからである。しかし、本発明で
は、あえて計算によらず実際に測定して第ｎセクタの総
ビット数Ｄnを求めることにより、第ｎセクタに含まれ
る欠陥Ｅ１後端から第ｎ＋１セクタ先頭までのビット数
（距離）を正確に求めることができるようになる。これ
によって、異なるセクタに含まれる欠陥Ｅ１及びＥ３間
の距離（ビット数）Ｄ３４を求めることができる。
【００３１】異なるセクタに含まれる欠陥Ｅ１及びＥ３
間のビット数Ｄ３４が求まった段階で、従来と同様にし
て求めておいた欠陥Ｅ１及びＥ３夫々の長さ（ビット
数）ＤＥ１及びＤＥ３並びにＤ３４を合わせたビット数
が、操作者が任意に設定可能な所定値（判別基準ビット
数Ｌｒｅｆ）以下のときには欠陥Ｅ１及びＥ３を１つの
欠陥とみなすデータ処理（埋め込み処理）を行い、大き
ければ欠陥Ｅ１及びＥ３を別々の欠陥として扱う。判別
基準ビット数Ｌｒｅｆは、埋め込み処理を行うかどうか
を判断するためのいわば“ものさし”であって、磁気デ
ィスク媒体検査装置の操作者が任意に設定すれば良い。
このように本発明の方法によれば、異なるセクタ間にま
たがる欠陥でも埋め込み処理が可能になる。
間のビット数Ｄ３４が求まった段階で、従来と同様にし
て求めておいた欠陥Ｅ１及びＥ３夫々の長さ（ビット
数）ＤＥ１及びＤＥ３並びにＤ３４を合わせたビット数
が、操作者が任意に設定可能な所定値（判別基準ビット
数Ｌｒｅｆ）以下のときには欠陥Ｅ１及びＥ３を１つの
欠陥とみなすデータ処理（埋め込み処理）を行い、大き
ければ欠陥Ｅ１及びＥ３を別々の欠陥として扱う。判別
基準ビット数Ｌｒｅｆは、埋め込み処理を行うかどうか
を判断するためのいわば“ものさし”であって、磁気デ
ィスク媒体検査装置の操作者が任意に設定すれば良い。
このように本発明の方法によれば、異なるセクタ間にま
たがる欠陥でも埋め込み処理が可能になる。
【００３２】図１は、本発明の他の実施例を説明するた
めのチャート図である。図２では、隣り合うセクタに夫
々存在する欠陥Ｅ１及びＥ３を１つにまとめる埋め込み
処理を例にして説明したが、場合によっては隣り合って
いない、離れたセクタに夫々存在する欠陥の埋め込み処
理を行うこともある。つまり、上述した判別基準ビット
数Ｌｒｅｆの設定によってはこうした処理も起こり得
る。なお、ｋは、１以上の整数である。
めのチャート図である。図２では、隣り合うセクタに夫
々存在する欠陥Ｅ１及びＥ３を１つにまとめる埋め込み
処理を例にして説明したが、場合によっては隣り合って
いない、離れたセクタに夫々存在する欠陥の埋め込み処
理を行うこともある。つまり、上述した判別基準ビット
数Ｌｒｅｆの設定によってはこうした処理も起こり得
る。なお、ｋは、１以上の整数である。
【００３３】第ｎセクタ先頭からの欠陥Ｅ１後端の距離
Ｌ３ｅは、上述と同様にして周波数カウンタ３０で実測
によって求めれば良い。次に、第ｎセクタ先頭から第ｎ
＋ｋセクタ先頭までに含まれるセクタ（Ｄn・・・Ｄ
n+k-1）夫々の総ビット数を周波数カウンタでカウント
することで測定する。続いて、第ｎ＋ｋセクタ先頭から
欠陥Ｅ２先頭までの距離Ｌ５ｓについても、周波数カウ
ンタ３０でテスト信号の周波数をカウントすることによ
って求める。これら測定で得られたビット数のデータ
は、夫々記憶装置２８に記憶され、後にこれらを用いて
計算することによって、欠陥Ｅ１の後端から欠陥Ｅ２の
先端までの距離Ｄ３５が求められる。つまり、第ｎセク
タ以降の各セクタの総ビット数を夫々Ｄn・・・Ｄn+k-1
をすれば、欠陥Ｅ１及びＥ２間距離Ｄ３５は次の数１で
表される。
Ｌ３ｅは、上述と同様にして周波数カウンタ３０で実測
によって求めれば良い。次に、第ｎセクタ先頭から第ｎ
＋ｋセクタ先頭までに含まれるセクタ（Ｄn・・・Ｄ
n+k-1）夫々の総ビット数を周波数カウンタでカウント
することで測定する。続いて、第ｎ＋ｋセクタ先頭から
欠陥Ｅ２先頭までの距離Ｌ５ｓについても、周波数カウ
ンタ３０でテスト信号の周波数をカウントすることによ
って求める。これら測定で得られたビット数のデータ
は、夫々記憶装置２８に記憶され、後にこれらを用いて
計算することによって、欠陥Ｅ１の後端から欠陥Ｅ２の
先端までの距離Ｄ３５が求められる。つまり、第ｎセク
タ以降の各セクタの総ビット数を夫々Ｄn・・・Ｄn+k-1
をすれば、欠陥Ｅ１及びＥ２間距離Ｄ３５は次の数１で
表される。
【００３４】数１ Ｄ３５＝Ｄn−Ｌ３ｅ＋Ｄn+1＋・・・＋Ｄn+k-1＋Ｌ５
ｓ
ｓ
【００３５】算出されたＤ３５は欠陥Ｅ１及びＥ２の長
さ（ビット数）ＤＥ１及びＤＥ２と加算され、判別基準
ビット数Ｌｒｅｆと比較される。ＤＥ１＋Ｄ３５＋ＤＥ
２が判別基準ビット数Ｌｒｅｆ以下ならば欠陥Ｅ１及び
Ｅ２に対して埋め込み処理が行われる。ＤＥ１＋Ｄ３５
＋ＤＥ２がＬｒｅｆより大きければ、埋め込み処理は行
われない。
さ（ビット数）ＤＥ１及びＤＥ２と加算され、判別基準
ビット数Ｌｒｅｆと比較される。ＤＥ１＋Ｄ３５＋ＤＥ
２が判別基準ビット数Ｌｒｅｆ以下ならば欠陥Ｅ１及び
Ｅ２に対して埋め込み処理が行われる。ＤＥ１＋Ｄ３５
＋ＤＥ２がＬｒｅｆより大きければ、埋め込み処理は行
われない。
【００３６】ところで、数１の右辺にあるＤn・・・Ｄ
n+k-1の項は、どれも対応するセクタ信号が発生した時
点で求まる数値である。そこで、ＤＥ１＋Ｄ３５＋ＤＥ
２を算出する途中の数値（中間合計値）をＤｓｕｍとす
れば、次の数２で示される。
n+k-1の項は、どれも対応するセクタ信号が発生した時
点で求まる数値である。そこで、ＤＥ１＋Ｄ３５＋ＤＥ
２を算出する途中の数値（中間合計値）をＤｓｕｍとす
れば、次の数２で示される。
【００３７】数２ Ｄｓｕｍ＝ＤＥ１＋−Ｌ３ｅ＋Ｄn＋Ｄn+1＋Ｄn+2＋・
・・
・・
【００３８】もしＤｓｕｍが最終的にＤＥ１＋Ｄ３５＋
ＤＥ２に達する以前に、判別基準ビット数Ｌｒｅｆを越
えたならば、欠陥Ｅ１及びＥ２の埋め込む処理は行わな
いことは明らかなので、ＤＥ１＋Ｄ３５＋ＤＥ２を算出
する必要はない。よって、Ｄ３５を得るために求めた各
セクタの総ビット数Ｄn+1・・・Ｄn+k-1のデータもＤｓ
ｕｍを求めることを目的としては、記憶しておく必要は
なくなる。そこで、ＤｓｕｍにＤＥ２が加算される前に
判別基準ビット数Ｌｒｅｆより大きな値になった場合に
は、Ｄｓｕｍをリセットするようにしても良い。また、
数１の右辺を構成するデータも、他に用途がないならば
記憶装置２８から消去するようにしても良い。
ＤＥ２に達する以前に、判別基準ビット数Ｌｒｅｆを越
えたならば、欠陥Ｅ１及びＥ２の埋め込む処理は行わな
いことは明らかなので、ＤＥ１＋Ｄ３５＋ＤＥ２を算出
する必要はない。よって、Ｄ３５を得るために求めた各
セクタの総ビット数Ｄn+1・・・Ｄn+k-1のデータもＤｓ
ｕｍを求めることを目的としては、記憶しておく必要は
なくなる。そこで、ＤｓｕｍにＤＥ２が加算される前に
判別基準ビット数Ｌｒｅｆより大きな値になった場合に
は、Ｄｓｕｍをリセットするようにしても良い。また、
数１の右辺を構成するデータも、他に用途がないならば
記憶装置２８から消去するようにしても良い。
【００３９】Ｄｓｕｍの数値と判別基準ビット数Ｌｒｅ
ｆとの比較は随時でも良いが、セクタ信号の発生に合わ
せて行うのが効率的である。その理由は、上述のように
Ｄn・・・Ｄn+k-1の項は、どれも対応するセクタ信号が
発生した時点で求まる数値だからである。Ｄｓｕｍをリ
セットした後は、上述したＥ１を検出する過程と同様
に、リセットを行ったセクタ信号が生じた時点のセクタ
の先頭からビット数の測定を再開すれば良い。
ｆとの比較は随時でも良いが、セクタ信号の発生に合わ
せて行うのが効率的である。その理由は、上述のように
Ｄn・・・Ｄn+k-1の項は、どれも対応するセクタ信号が
発生した時点で求まる数値だからである。Ｄｓｕｍをリ
セットした後は、上述したＥ１を検出する過程と同様
に、リセットを行ったセクタ信号が生じた時点のセクタ
の先頭からビット数の測定を再開すれば良い。
【図１】本発明の一実施例における欠陥とセクタとの関
係を説明するチャート図である。
係を説明するチャート図である。
【図２】本発明の他の実施例を説明するチャート図であ
る。
る。
【図３】本発明を実施するのに適した磁気ディスク媒体
検査装置の１例のブロック図である。
検査装置の１例のブロック図である。
１０ 磁気ディスク媒体検査装置 １２ 被検査磁気ディスク媒体 １４ スピンドル １６ 磁気ヘッド １８ モータ ２０ キャリッジ ２２ 増幅回路 ２４ 演算制御回路 ２６ ＣＰＵ（マイクロプロセッサ） ２８ 記憶装置（ハードディスク、ＲＡＭなど） ３０ 周波数カウンタ Ｌ３ｅ 第ｎセクタ先頭から欠陥Ｅ１の後端までのビッ
ト数 Ｄ３ａ 欠陥Ｅ１から第ｎ＋１セクタ先頭までのビット
数 Ｄ３５ 欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２間のビット数 Ｌ５ｓ 第ｎ＋ｋセクタ先頭から欠陥Ｅ２までのビット
数 Ｄn 第ｎセクタの総ビット数
ト数 Ｄ３ａ 欠陥Ｅ１から第ｎ＋１セクタ先頭までのビット
数 Ｄ３５ 欠陥Ｅ１及び欠陥Ｅ２間のビット数 Ｌ５ｓ 第ｎ＋ｋセクタ先頭から欠陥Ｅ２までのビット
数 Ｄn 第ｎセクタの総ビット数
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ
Claims (7)
- 【請求項１】 磁気ディスク媒体検査装置によって磁気
ディスク媒体上の任意のトラックの第ｎセクタ（ｎは整
数）を検査する場合において、 上記第ｎセクタ先頭から上記第ｎセクタに含まれる欠陥
Ｅ１までのビット数を測定して記憶するとともに、上記
第ｎセクタ先頭から第ｎ＋ｋセクタ（ｋは１以上の整
数）先頭までのビット数も測定して記憶することによ
り、上記欠陥Ｅ１から上記第ｎ＋ｋセクタ先頭までのビ
ット数を算出できることを特徴とする磁気ディスク媒体
検査におけるデータ処理方法。 - 【請求項２】 磁気ディスク媒体検査装置によって磁気
ディスク媒体上の任意のトラックの第ｎ（ｎは整数）セ
クタから第ｎ＋ｋ（ｋは１以上の整数）セクタまでの欠
陥を検査する場合において、 上記第ｎセクタ先頭から上記第ｎセクタ中の欠陥Ｅ１ま
でのビット数を測定して記憶する第１ステップと、 上記第ｎセクタ先頭から上記第ｎ＋ｋセクタ先頭までに
含まれるセクタ夫々の総ビット数を測定して記憶する第
２ステップと、 上記第ｎ＋ｋセクタ先頭から上記第ｎ＋ｋセクタ中の欠
陥Ｅ２までのビット数Ｌ５ｓを測定して記憶する第３ス
テップとを具え、 異なる上記セクタに存在する上記欠陥Ｅ１及び上記欠陥
Ｅ２間のビット数を算出することを特徴とする磁気ディ
スク媒体検査におけるデータ処理方法。 - 【請求項３】 上記欠陥Ｅ１及びＥ２夫々のビット数並
びに上記欠陥Ｅ１及びＥ２間のビット数を合わせたビッ
ト数を算出し、該ビット数が所定値以内の場合には、異
なるセクタに存在する上記欠陥Ｅ１及び上記欠陥Ｅ２を
１つの欠陥として埋め込み処理することを特徴とする請
求項２記載の磁気ディスク媒体検査におけるデータ処理
方法。 - 【請求項４】 上記磁気ディスク媒体検査装置によって
テスト信号を上記磁気ディスク媒体に予め書込み、上記
テスト信号を読み出してその周波数をカウントすること
により、上記ビット数を測定することを特徴とする請求
項１、２及び３記載の磁気ディスク媒体検査におけるデ
ータ処理方法。 - 【請求項５】 上記第ｎセクタ先頭から上記第ｎ＋ｋセ
クタ先頭までに含まれるセクタ夫々の総ビット数及び上
記Ｌ５ｓを順次加算するとともに、上記第ｎセクタ先頭
から上記欠陥Ｅ１までのビット数Ｌ３ｅを引き算するこ
とにより、異なる上記セクタに存在する上記欠陥Ｅ１及
び上記欠陥Ｅ２間のビット数Ｄ３５を算出することを特
徴とする請求項２、３又は４記載の磁気ディスク媒体検
査におけるデータ処理方法。 - 【請求項６】 請求項５記載の磁気ディスク媒体検査に
おけるデータ処理方法において、上記欠陥Ｅ１のビット
数に上記第ｎセクタ先頭から上記第ｎ＋ｋセクタ先頭ま
でに含まれるセクタ夫々の総ビット数を加算する過程の
途中で得られる中間合計値Ｄｓｕｍを、任意に設定可能
な上記所定値と随時比較し、上記中間合計値Ｄｓｕｍが
上記所定値を越えた場合には、上記中間合計値Ｄｓｕｍ
をリセットすることを特徴とする請求項５記載の磁気デ
ィスク媒体検査におけるデータ処理方法。 - 【請求項７】 請求項６記載の磁気ディスク媒体検査に
おけるデータ処理方法において、 上記中間合計値Ｄｓｕｍと任意に設定可能な上記所定値
との比較を、上記磁気ディスク媒体検査装置によるセク
タ信号の発生に合わせて行うことを特徴とする請求項６
記載の磁気ディスク媒体検査におけるデータ処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31764497A JPH11144244A (ja) | 1997-11-04 | 1997-11-04 | 磁気ディスク媒体検査におけるデータ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31764497A JPH11144244A (ja) | 1997-11-04 | 1997-11-04 | 磁気ディスク媒体検査におけるデータ処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11144244A true JPH11144244A (ja) | 1999-05-28 |
Family
ID=18090453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31764497A Pending JPH11144244A (ja) | 1997-11-04 | 1997-11-04 | 磁気ディスク媒体検査におけるデータ処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11144244A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100524937B1 (ko) * | 2002-12-12 | 2005-10-31 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크상의 임의 방향 스크래치 처리 장치 및 방법 |
| JP2010108545A (ja) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Fujitsu Ltd | ディスク装置、データ移動プログラム及び方法 |
-
1997
- 1997-11-04 JP JP31764497A patent/JPH11144244A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100524937B1 (ko) * | 2002-12-12 | 2005-10-31 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크상의 임의 방향 스크래치 처리 장치 및 방법 |
| JP2010108545A (ja) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Fujitsu Ltd | ディスク装置、データ移動プログラム及び方法 |
| JP4690447B2 (ja) * | 2008-10-30 | 2011-06-01 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、データ移動プログラム及び方法 |
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