JP2001184602A - 磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置 - Google Patents
磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】磁気ディスク装置の高周波化に対応して磁気記
録媒体または磁気ヘッド検査の高精度化および高速化を
実現する。 【解決手段】ディスク再生信号をＮ分配し且つサンプリ
ングクロックをＮ分配して、該ディスク再生信号または
該サンプリングクロックのいずれかに位相差を与え、デ
ィスク再生信号に対してＮ個配設したＡ／Ｄ変換回路と
メモリとを並列に動作させることで、ディスク再生信号
を高速にディジタル値に変換して該メモリに保持する。
録媒体または磁気ヘッド検査の高精度化および高速化を
実現する。 【解決手段】ディスク再生信号をＮ分配し且つサンプリ
ングクロックをＮ分配して、該ディスク再生信号または
該サンプリングクロックのいずれかに位相差を与え、デ
ィスク再生信号に対してＮ個配設したＡ／Ｄ変換回路と
メモリとを並列に動作させることで、ディスク再生信号
を高速にディジタル値に変換して該メモリに保持する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、書き込みおよび読
み出し可能な磁気記録媒体または磁気ヘッドを検査する
磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置に関する。
み出し可能な磁気記録媒体または磁気ヘッドを検査する
磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ワークステーション等の情報処理
装置において外部記憶装置として磁気記録装置が用いら
れてきた。特に磁気ディスク装置は、近年における磁性
体または磁気ヘッドの改良や信号処理技術の向上等によ
り記録密度の高密度化、記録周波数の高周波化および磁
気ディスク装置の低価格化がすすみ、情報処理装置の高
速化および低価格化の一端を担っていることはよく知ら
れている。
装置において外部記憶装置として磁気記録装置が用いら
れてきた。特に磁気ディスク装置は、近年における磁性
体または磁気ヘッドの改良や信号処理技術の向上等によ
り記録密度の高密度化、記録周波数の高周波化および磁
気ディスク装置の低価格化がすすみ、情報処理装置の高
速化および低価格化の一端を担っていることはよく知ら
れている。
【０００３】また磁気ディスク装置は、外部記憶装置と
して記録／再生したデータに対して高信頼性であること
が要求されており、磁気ディスク装置に用いる磁気ディ
スクあるいは磁気ヘッドの検査は、実使用周波数で磁気
ディスクあるいは磁気ヘッドを用いて試験データの記録
・再生を行って検査する方式がよく用いられている。
して記録／再生したデータに対して高信頼性であること
が要求されており、磁気ディスク装置に用いる磁気ディ
スクあるいは磁気ヘッドの検査は、実使用周波数で磁気
ディスクあるいは磁気ヘッドを用いて試験データの記録
・再生を行って検査する方式がよく用いられている。
【０００４】特に磁気ディスクについては、磁気ディス
クに記録した試験データを記録／再生して、例えば国際
ディスクドライブ協会（ＩＤＥＭＡ）において推奨され
ている試験パラメータである図１１に示すようなディス
ク再生信号の平均振幅であるＴＡＡ（Track Average Am
plitude）または平均振幅（ＴＡＡ）の５０％点におけ
るディスク再生信号の平均パルス幅であるＰＷ５０等を
測定するパラメトリックテストを行って検査対象ディス
クの評価および検査を行う。
クに記録した試験データを記録／再生して、例えば国際
ディスクドライブ協会（ＩＤＥＭＡ）において推奨され
ている試験パラメータである図１１に示すようなディス
ク再生信号の平均振幅であるＴＡＡ（Track Average Am
plitude）または平均振幅（ＴＡＡ）の５０％点におけ
るディスク再生信号の平均パルス幅であるＰＷ５０等を
測定するパラメトリックテストを行って検査対象ディス
クの評価および検査を行う。
【０００５】また、磁気ディスクに対して一定周期デー
タの書き込み／読み出しを行った際に、ディスク再生信
号振幅がデータパルス単位で平均ディスク再生信号振幅
よりも過小な振幅で再生されるミッシングエラーや平均
振幅よりも過大な振幅で再生されるスパイクエラー等を
検出するサーティファイテスト等を行って検査対象ディ
スクの評価および検査を行う。
タの書き込み／読み出しを行った際に、ディスク再生信
号振幅がデータパルス単位で平均ディスク再生信号振幅
よりも過小な振幅で再生されるミッシングエラーや平均
振幅よりも過大な振幅で再生されるスパイクエラー等を
検出するサーティファイテスト等を行って検査対象ディ
スクの評価および検査を行う。
【０００６】図１０は、従来の磁気記録媒体または磁気
ヘッドの検査装置の構成を示す図である。
ヘッドの検査装置の構成を示す図である。
【０００７】図１０に示す検査装置では、まず検査対象
とする磁気ディスク１０１をディスク回転部１０３によ
り回転動作させ、これに対して、テスト信号発生回路６
０２で周波数ｆｏのテスト信号Ｓｔを発生して書き込み
制御回路６０３に加え、書き込み制御回路６０３でテス
トデータを生成し、書込／読出アンプ６０１においてテ
ストデータを所定のレベルの書き込み電流に変換して、
良品または磁気特性を認知しているＲ／Ｗヘッド１０２
を介して磁気ディスク１０１に順次テストデータを書き
込む。
とする磁気ディスク１０１をディスク回転部１０３によ
り回転動作させ、これに対して、テスト信号発生回路６
０２で周波数ｆｏのテスト信号Ｓｔを発生して書き込み
制御回路６０３に加え、書き込み制御回路６０３でテス
トデータを生成し、書込／読出アンプ６０１においてテ
ストデータを所定のレベルの書き込み電流に変換して、
良品または磁気特性を認知しているＲ／Ｗヘッド１０２
を介して磁気ディスク１０１に順次テストデータを書き
込む。
【０００８】書き込み終了後、テストデータを書き込ん
だ磁気ディスク１０１上のトラックに対して、Ｒ／Ｗヘ
ッド１０２により順次に書込／読出アンプ６０１を介し
て正相、逆相の２つの信号としてディスク再生信号を再
生し、レベル調整用アンプ（ＡＭＰ）６０４に送出す
る。ここでレベル調整された２つのディスク再生信号
（それぞれ周波数ｆｏのテスト信号Ｓｔに対応する信
号）Ｓｓ１、Ｓｓ２は、ＴＡＡ検出回路６０５とＰＷ検
出回路６０７と波形比較回路６０８とに入力される。
だ磁気ディスク１０１上のトラックに対して、Ｒ／Ｗヘ
ッド１０２により順次に書込／読出アンプ６０１を介し
て正相、逆相の２つの信号としてディスク再生信号を再
生し、レベル調整用アンプ（ＡＭＰ）６０４に送出す
る。ここでレベル調整された２つのディスク再生信号
（それぞれ周波数ｆｏのテスト信号Ｓｔに対応する信
号）Ｓｓ１、Ｓｓ２は、ＴＡＡ検出回路６０５とＰＷ検
出回路６０７と波形比較回路６０８とに入力される。
【０００９】ＴＡＡ検出回路６０５は、例えば電圧比較
回路（コンパレータ）と制御電流源とコンデンサとトラ
ック１周積分回路とを用いて構成し（図示せず）、コン
デンサ充電電圧とディスク再生波形電圧とを比較して、
コンデンサ充電電圧よりもディスク再生信号電圧が高け
ればコンデンサを充電するように制御電流源をコンパレ
ータにより制御してディスク再生信号のピーク値付近の
包絡線電圧を検出し、トラック１周積分回路によりトラ
ック１周期間の包絡線電圧積分値を検出する。包絡線電
圧積分値に対してトラック１周分の時間で除算処理を行
うこと、すなわちディスク再生信号の包絡線電圧に対し
て平均化処理を行うことでディスク再生信号の平均振幅
値ＴＡＡを検出してスライスレベル作成回路６０６に出
力する。
回路（コンパレータ）と制御電流源とコンデンサとトラ
ック１周積分回路とを用いて構成し（図示せず）、コン
デンサ充電電圧とディスク再生波形電圧とを比較して、
コンデンサ充電電圧よりもディスク再生信号電圧が高け
ればコンデンサを充電するように制御電流源をコンパレ
ータにより制御してディスク再生信号のピーク値付近の
包絡線電圧を検出し、トラック１周積分回路によりトラ
ック１周期間の包絡線電圧積分値を検出する。包絡線電
圧積分値に対してトラック１周分の時間で除算処理を行
うこと、すなわちディスク再生信号の包絡線電圧に対し
て平均化処理を行うことでディスク再生信号の平均振幅
値ＴＡＡを検出してスライスレベル作成回路６０６に出
力する。
【００１０】また制御部１１０のＣＰＵ１１１は、ＴＡ
Ａ検出回路の出力である平均振幅値ＴＡＡを読み込み、
ＴＡＡ計測を行う。
Ａ検出回路の出力である平均振幅値ＴＡＡを読み込み、
ＴＡＡ計測を行う。
【００１１】スライスレベル作成回路６０６では、ＴＡ
Ａの電圧レベルに対して５０％の電圧を閾値（スライス
レベル）としてスライス設定１としてＰＷ検出回路６０
７に出力し、また制御部１１０のＣＰＵ１１１により出
力された制御信号ＰによりＴＡＡの電圧レベルに対して
Ｐ％の電圧値をスライス設定２として波形比較回路６０
８に出力する。
Ａの電圧レベルに対して５０％の電圧を閾値（スライス
レベル）としてスライス設定１としてＰＷ検出回路６０
７に出力し、また制御部１１０のＣＰＵ１１１により出
力された制御信号ＰによりＴＡＡの電圧レベルに対して
Ｐ％の電圧値をスライス設定２として波形比較回路６０
８に出力する。
【００１２】ＰＷ検出回路６０７は、例えば電圧比較回
路（コンパレータ）と制御電流源とコンデンサとトラッ
ク１周積分回路とで構成し（図示せず）、上述のディス
ク再生信号がスライス設定１のレベルを超える時間だけ
コンデンサを充電するように制御電流源をコンパレータ
により制御し、コンデンサ充電電圧をトラック１周積分
回路においてトラック１周期間積分してパルス幅積分値
（電圧）を検出する。制御部１１０のＣＰＵ１１１は、
ＰＷ検出回路６０７の出力であるパルス幅積分値（電
圧）を制御電流源の充電電流値とトラック１周期間のデ
ィスク再生信号パルス数で除算処理することで、前述の
平均パルス幅ＰＷ５０を計測する。
路（コンパレータ）と制御電流源とコンデンサとトラッ
ク１周積分回路とで構成し（図示せず）、上述のディス
ク再生信号がスライス設定１のレベルを超える時間だけ
コンデンサを充電するように制御電流源をコンパレータ
により制御し、コンデンサ充電電圧をトラック１周積分
回路においてトラック１周期間積分してパルス幅積分値
（電圧）を検出する。制御部１１０のＣＰＵ１１１は、
ＰＷ検出回路６０７の出力であるパルス幅積分値（電
圧）を制御電流源の充電電流値とトラック１周期間のデ
ィスク再生信号パルス数で除算処理することで、前述の
平均パルス幅ＰＷ５０を計測する。
【００１３】波形比較回路６０８は、例えば電圧比較回
路（コンパレータ）で構成され、前述のディスク再生信
号の電圧値とスライス設定２の電圧値との比較結果を検
出信号としてエラー検出回路６０９に出力する。エラー
検出回路６０９はゲート回路で構成され、上述のテスト
信号発生回路６０２から送出されるテストデータの各ビ
ットに対応するタイミング信号Tをもとに所定の設定期
間のみディスク再生信号パルスのピーク位置を検出する
ウィンドウパルスを生成し、波形比較回路６０８の出力
である検出信号とウィンドウパルスとから例えばミッシ
ングエラーやスパイクエラー等のエラーを検出して、タ
イミング信号Ｔの各ビットに同期させてビットエラー信
号Ｅｒをエラーメモリ６１０に出力する。エラー検出回
路６０９はまた、制御部１１０のＣＰＵ１１１からの制
御信号Ｐを受けて、上述のミッシングエラーやスパイク
エラー等の各エラーを検出するように、エラーの種別に
応じて動作状態を切り替えられる。
路（コンパレータ）で構成され、前述のディスク再生信
号の電圧値とスライス設定２の電圧値との比較結果を検
出信号としてエラー検出回路６０９に出力する。エラー
検出回路６０９はゲート回路で構成され、上述のテスト
信号発生回路６０２から送出されるテストデータの各ビ
ットに対応するタイミング信号Tをもとに所定の設定期
間のみディスク再生信号パルスのピーク位置を検出する
ウィンドウパルスを生成し、波形比較回路６０８の出力
である検出信号とウィンドウパルスとから例えばミッシ
ングエラーやスパイクエラー等のエラーを検出して、タ
イミング信号Ｔの各ビットに同期させてビットエラー信
号Ｅｒをエラーメモリ６１０に出力する。エラー検出回
路６０９はまた、制御部１１０のＣＰＵ１１１からの制
御信号Ｐを受けて、上述のミッシングエラーやスパイク
エラー等の各エラーを検出するように、エラーの種別に
応じて動作状態を切り替えられる。
【００１４】エラーメモリ６１０は、テスト信号発生回
路が６０２発生するタイミング信号Ｔを受けてエラーメ
モリ６１０のアドレスを順次更新し、またエラー検出回
路６０９が出力するエラー信号Ｅｒを欠陥データ
“１”、“０”として更新されたアドレスに順次記憶す
る。ＣＰＵ１１１は、検査対象とする磁気ディスク１０
１の全周のテストが終了した時点でエラーメモリ６１０
の内容をバスを介してメモリ１１２に読み込んで磁気デ
ィスク１０１の評価を行う。
路が６０２発生するタイミング信号Ｔを受けてエラーメ
モリ６１０のアドレスを順次更新し、またエラー検出回
路６０９が出力するエラー信号Ｅｒを欠陥データ
“１”、“０”として更新されたアドレスに順次記憶す
る。ＣＰＵ１１１は、検査対象とする磁気ディスク１０
１の全周のテストが終了した時点でエラーメモリ６１０
の内容をバスを介してメモリ１１２に読み込んで磁気デ
ィスク１０１の評価を行う。
【００１５】上述は検査対象が磁気ディスクであるが、
検査対象が磁気ヘッドの場合には、図１１の磁気ヘッド
１０１として良品または磁気特性の認識している磁気デ
ィスクを使用することで、同じ構成で、磁気ヘッドであ
るＲ／Ｗヘッド１０２の評価を行う従って図１０に示し
た従来の磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置は、
検査対象とする磁気ディスク１０１に対して上述の回路
動作を行うことで、ＴＡＡまたはＰＷ５０を測定してパ
ラメトリックテストを実現し、またミッシングエラーま
たはスパイクエラーを測定してサーティファイテストを
実現する。本技術に関連した公知例としては、例えば特
開平１０−８３５０１号公報に、従来のサーティファイ
アの概略として述べられている。
検査対象が磁気ヘッドの場合には、図１１の磁気ヘッド
１０１として良品または磁気特性の認識している磁気デ
ィスクを使用することで、同じ構成で、磁気ヘッドであ
るＲ／Ｗヘッド１０２の評価を行う従って図１０に示し
た従来の磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置は、
検査対象とする磁気ディスク１０１に対して上述の回路
動作を行うことで、ＴＡＡまたはＰＷ５０を測定してパ
ラメトリックテストを実現し、またミッシングエラーま
たはスパイクエラーを測定してサーティファイテストを
実現する。本技術に関連した公知例としては、例えば特
開平１０−８３５０１号公報に、従来のサーティファイ
アの概略として述べられている。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来か
らのアナログ方式による磁気記録媒体または磁気ヘッド
の検査装置では、例えば上述の通り包絡線検波回路を用
いてディスク再生信号振幅値を検出するため、図１１に
示したＴＡＡを厳密に計測することについて考慮されて
おらず、さらにトラック１周積分回路を用いて平均化処
理することでディスク再生信号からＴＡＡおよびＰＷ５
０を計測するため、例えば不連続な任意の数のディスク
再生信号パルスにおけるパルス幅または振幅値等を検出
して磁気ディスクに対する詳細で且つ高精度な検査を行
うことについては考慮されていなかった。
らのアナログ方式による磁気記録媒体または磁気ヘッド
の検査装置では、例えば上述の通り包絡線検波回路を用
いてディスク再生信号振幅値を検出するため、図１１に
示したＴＡＡを厳密に計測することについて考慮されて
おらず、さらにトラック１周積分回路を用いて平均化処
理することでディスク再生信号からＴＡＡおよびＰＷ５
０を計測するため、例えば不連続な任意の数のディスク
再生信号パルスにおけるパルス幅または振幅値等を検出
して磁気ディスクに対する詳細で且つ高精度な検査を行
うことについては考慮されていなかった。
【００１７】また、従来からのアナログ方式を用いた磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置では、ディスク
再生信号が高周波になると、例えばＴＡＡ検出回路では
コンパレータの応答が入力の変化に間に合わずＴＡＡ検
出精度が悪化する。今後の磁気ディスク装置の高周波化
に対して従来方式と同様の検出精度でＴＡＡを測定する
場合、例えば現状で利得５４ｄＢ／周波数帯域幅２ＧＨ
ｚである性能のコンパレータに対して周波数帯域幅が８
ＧＨｚ以上と４倍以上のＩＣプロセス性能の向上が必要
であり、現状のＩＣプロセス技術では実現が困難であ
る。従って従来方式では今後の磁気ディスク装置の高周
波化に対して磁気ディスクまたは磁気ヘッドを実使用周
波数で高精度に検査出来ない可能性があり、すなわち高
速／高精度な検査が出来ず、検査対象とする磁気ディス
クまたは磁気ヘッドの信頼性が低下するという課題を有
している。
気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置では、ディスク
再生信号が高周波になると、例えばＴＡＡ検出回路では
コンパレータの応答が入力の変化に間に合わずＴＡＡ検
出精度が悪化する。今後の磁気ディスク装置の高周波化
に対して従来方式と同様の検出精度でＴＡＡを測定する
場合、例えば現状で利得５４ｄＢ／周波数帯域幅２ＧＨ
ｚである性能のコンパレータに対して周波数帯域幅が８
ＧＨｚ以上と４倍以上のＩＣプロセス性能の向上が必要
であり、現状のＩＣプロセス技術では実現が困難であ
る。従って従来方式では今後の磁気ディスク装置の高周
波化に対して磁気ディスクまたは磁気ヘッドを実使用周
波数で高精度に検査出来ない可能性があり、すなわち高
速／高精度な検査が出来ず、検査対象とする磁気ディス
クまたは磁気ヘッドの信頼性が低下するという課題を有
している。
【００１８】また、従来からのアナログ方式を用いた磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置において、ディ
スク再生信号をディジタルサンプリングオシロスコープ
等を用いて波形観測して計測することで磁気ディスク装
置の高周波化に対応した検査方式があるが、非周期的な
任意の検査データ書き込みに対してディジタルサンプリ
ングオシロスコープではディスク再生信号波形を観測し
て計測することが不可能であるという課題を有してい
る。また周期的な検査データを用いてディジタルサンプ
リングオシロスコープ等によりディスク再生信号波形の
計測を行う場合であっても、磁気ディスクの全トラック
に対して試験データを記録／再生する検査を行う場合、
検査時間の高速化が図れず磁気ディスクの検査工程にお
けるスループットが低下するため、磁気ディスクの低価
格化が図れないという課題を有していた。
気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置において、ディ
スク再生信号をディジタルサンプリングオシロスコープ
等を用いて波形観測して計測することで磁気ディスク装
置の高周波化に対応した検査方式があるが、非周期的な
任意の検査データ書き込みに対してディジタルサンプリ
ングオシロスコープではディスク再生信号波形を観測し
て計測することが不可能であるという課題を有してい
る。また周期的な検査データを用いてディジタルサンプ
リングオシロスコープ等によりディスク再生信号波形の
計測を行う場合であっても、磁気ディスクの全トラック
に対して試験データを記録／再生する検査を行う場合、
検査時間の高速化が図れず磁気ディスクの検査工程にお
けるスループットが低下するため、磁気ディスクの低価
格化が図れないという課題を有していた。
【００１９】本発明の目的は、磁気ディスクまたは磁気
ヘッドに対して詳細で且つ高精度な検査が実現可能な磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置を提供すること
にある。
ヘッドに対して詳細で且つ高精度な検査が実現可能な磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置を提供すること
にある。
【００２０】また、本発明の目的は、磁気ディスクまた
は磁気ヘッドに対して詳細で且つより高精度な検査が実
現可能な磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置を提
供することにある。
は磁気ヘッドに対して詳細で且つより高精度な検査が実
現可能な磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置を提
供することにある。
【００２１】また、本発明の目的は、磁気記録媒体また
は磁気ヘッドの検査装置において、磁気ディスクまたは
磁気ヘッドの高速な検査を実現できる磁気記録媒体また
は磁気ヘッドの検査装置を提供することにある。
は磁気ヘッドの検査装置において、磁気ディスクまたは
磁気ヘッドの高速な検査を実現できる磁気記録媒体また
は磁気ヘッドの検査装置を提供することにある。
【００２２】また、本発明の目的は、磁気記録媒体また
は磁気ヘッドの検査装置において、再生試験データの平
均振幅値ＴＡＡ並びに平均パルス幅ＰＷ５０を高速に計
測することが実現できる磁気記録媒体または磁気ヘッド
の検査装置を提供することにある。
は磁気ヘッドの検査装置において、再生試験データの平
均振幅値ＴＡＡ並びに平均パルス幅ＰＷ５０を高速に計
測することが実現できる磁気記録媒体または磁気ヘッド
の検査装置を提供することにある。
【００２３】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気記録媒体
に磁気ヘッドにより試験用データを記録するとともに、
記録した試験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の
処理をすることで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検
査を行う検査装置において、再生した試験データをディ
ジタル値に変換し、変換したディジタル値より、該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をして、該磁気記
録媒体または磁気ヘッドの検査を行うことを特徴とする
検査装置である。
に磁気ヘッドにより試験用データを記録するとともに、
記録した試験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の
処理をすることで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検
査を行う検査装置において、再生した試験データをディ
ジタル値に変換し、変換したディジタル値より、該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をして、該磁気記
録媒体または磁気ヘッドの検査を行うことを特徴とする
検査装置である。
【００２４】また、本発明は、前記演算処理が、該変換
したディジタル値を用いて任意の該再生試験データの波
高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回る閾値
時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間についての
平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは累積度数
値を算出する統計演算処理または周波数解析演算処理で
あることを特徴とする検査装置である また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験
用データを記録するとともに、記録した試験データを該
磁気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気
記録媒体の検査を行う磁気記録媒体または磁気ヘッドの
検査装置において、再生した試験データをディジタル値
に変換する変換手段と、該変換手段で変換されたディジ
タル値を保持する保持手段と、該保持手段に保持された
ディジタル値より該磁気記録媒体の磁気特性に関する演
算処理をするデータ処理手段とを備え、該磁気記録媒体
または磁気ヘッドの検査を行うことを特徴とする検査装
置である。
したディジタル値を用いて任意の該再生試験データの波
高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回る閾値
時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間についての
平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは累積度数
値を算出する統計演算処理または周波数解析演算処理で
あることを特徴とする検査装置である また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験
用データを記録するとともに、記録した試験データを該
磁気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気
記録媒体の検査を行う磁気記録媒体または磁気ヘッドの
検査装置において、再生した試験データをディジタル値
に変換する変換手段と、該変換手段で変換されたディジ
タル値を保持する保持手段と、該保持手段に保持された
ディジタル値より該磁気記録媒体の磁気特性に関する演
算処理をするデータ処理手段とを備え、該磁気記録媒体
または磁気ヘッドの検査を行うことを特徴とする検査装
置である。
【００２５】また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッ
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体磁気記録媒体のの検査を行う検査
装置において、再生した試験データをディジタル値に変
換するＮ個（Ｎは整数）の変換手段と、該Ｎ個の変換手
段を１個の変換手段につき所定のサンプリング周波数で
動作させるサンプリングクロック制御手段と、該Ｎ個の
変換手段で変換されたディジタル値を保持するＮ個の保
持手段と、該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値
より該磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をする
データ処理手段とを備え、該磁気記録媒体または磁気ヘ
ッドの検査を行うことを特徴とする検査装置である。
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体磁気記録媒体のの検査を行う検査
装置において、再生した試験データをディジタル値に変
換するＮ個（Ｎは整数）の変換手段と、該Ｎ個の変換手
段を１個の変換手段につき所定のサンプリング周波数で
動作させるサンプリングクロック制御手段と、該Ｎ個の
変換手段で変換されたディジタル値を保持するＮ個の保
持手段と、該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値
より該磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をする
データ処理手段とを備え、該磁気記録媒体または磁気ヘ
ッドの検査を行うことを特徴とする検査装置である。
【００２６】また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッ
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検
査装置において、再生した試験データをディジタル値に
変換するＮ個の変換手段と、該Ｎ個の変換手段を１個の
変換手段につきサンプリング周波数ｆADCで動作させる
サンプリングクロック制御手段と、該Ｎ個の変換手段で
変換されたディジタル値を保持するＮ個の保持手段と、
該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の
判定処理をする解析処理手段とを備え、且つ、再生した
試験データの周波数ｆinに対して目標とするサンプリン
グ周波数ｆsとの比であるＭと、該周波数ｆinと、該変
換手段を動作させるサンプリング周波数ｆADCとが、
Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係で且つ整数であるこ
とを特徴とする検査装置である。
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検
査装置において、再生した試験データをディジタル値に
変換するＮ個の変換手段と、該Ｎ個の変換手段を１個の
変換手段につきサンプリング周波数ｆADCで動作させる
サンプリングクロック制御手段と、該Ｎ個の変換手段で
変換されたディジタル値を保持するＮ個の保持手段と、
該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の
判定処理をする解析処理手段とを備え、且つ、再生した
試験データの周波数ｆinに対して目標とするサンプリン
グ周波数ｆsとの比であるＭと、該周波数ｆinと、該変
換手段を動作させるサンプリング周波数ｆADCとが、
Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係で且つ整数であるこ
とを特徴とする検査装置である。
【００２７】また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッ
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検
査装置において、所望の周波数で発振する第１の発振手
段の出力により、該磁気記録媒体を保持する保持回転手
段を回転動作させる回転制御手段と、該保持回転手段上
の該磁気記録媒体に対向して配置される磁気ヘッドによ
り、該磁気記録媒体に該試験用データを記録する記録手
段と、該磁気ヘッドにより該磁気記録媒体に記録された
該試験用データを再生する再生手段と、再生した該試験
データをディジタル値に変換するＮ個の変換手段と、再
生した該試験データを該Ｎ個の変換手段に分配して供給
する再生信号分配手段と、所望の周波数で発振する第２
の発振手段に基づくクロック信号により、該Ｎ個の変換
手段を１個の変換手段につきサンプリング周波数ｆADC
で動作させるサンプリングクロック分配手段と、該Ｎ個
の変換手段で変換されたディジタル値を保持するＮ個の
保持手段と、該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル
値より該磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をす
るデータ処理手段と、該データ処理手段の出力より該磁
気記録媒体の判定処理をする解析処理手段と、該第１の
発振手段と該第２の発振手段の発振周波数および該変換
手段を動作させるサンプリング周波数とを可変する制御
手段とを備え、且つ、再生した試験データの周波数ｆin
に対して目標とするサンプリング周波数ｆsとの比であ
るＭと、該周波数ｆinと、該変換手段を動作させるサン
プリング周波数ｆADCとが、Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC で
ある関係で且つ整数であることを特徴とする磁気記録媒
体の検査装置である。
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検
査装置において、所望の周波数で発振する第１の発振手
段の出力により、該磁気記録媒体を保持する保持回転手
段を回転動作させる回転制御手段と、該保持回転手段上
の該磁気記録媒体に対向して配置される磁気ヘッドによ
り、該磁気記録媒体に該試験用データを記録する記録手
段と、該磁気ヘッドにより該磁気記録媒体に記録された
該試験用データを再生する再生手段と、再生した該試験
データをディジタル値に変換するＮ個の変換手段と、再
生した該試験データを該Ｎ個の変換手段に分配して供給
する再生信号分配手段と、所望の周波数で発振する第２
の発振手段に基づくクロック信号により、該Ｎ個の変換
手段を１個の変換手段につきサンプリング周波数ｆADC
で動作させるサンプリングクロック分配手段と、該Ｎ個
の変換手段で変換されたディジタル値を保持するＮ個の
保持手段と、該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル
値より該磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をす
るデータ処理手段と、該データ処理手段の出力より該磁
気記録媒体の判定処理をする解析処理手段と、該第１の
発振手段と該第２の発振手段の発振周波数および該変換
手段を動作させるサンプリング周波数とを可変する制御
手段とを備え、且つ、再生した試験データの周波数ｆin
に対して目標とするサンプリング周波数ｆsとの比であ
るＭと、該周波数ｆinと、該変換手段を動作させるサン
プリング周波数ｆADCとが、Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC で
ある関係で且つ整数であることを特徴とする磁気記録媒
体の検査装置である。
【００２８】また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッ
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検
査装置において、所望の周波数で発振する第１の発振手
段の出力により、該磁気記録媒体を保持する保持回転手
段を回転動作させる回転制御手段と、該回転制御手段よ
りの回転数を表すインデックス信号および回転位置を表
す該エンコード信号をもとに、スタート信号およびスト
ップ信号に応答して、書き込み開始および終了を表す書
き込みモード信号と、読み出し開始および終了を表す読
み出しモード信号とを生成するモードおよびタイミング
制御手段と、該書き込みモード信号をもとに、該保持回
転手段上の該磁気記録媒体に対向して配置される磁気ヘ
ッドにより、該磁気記録媒体に該試験用データを記録す
る記録手段と、該読み出しモード信号をもとに、該磁気
ヘッドにより該磁気記録媒体に記録された該試験用デー
タを再生する再生手段と、再生した該試験データをディ
ジタル値に変換するＮ個の変換手段と、再生した該試験
データを該Ｎ個の変換手段に分配して供給する再生信号
分配手段と、所望の周波数で発振する第２の発振手段に
基づくクロック信号により、該Ｎ個の変換手段を１個の
変換手段につきサンプリング周波数ｆADCで動作させる
サンプリングクロック分配手段と、該Ｎ個の変換手段で
変換されたディジタル値を保持するＮ個の保持手段と、
該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の
判定処理をする解析処理手段と、該第１の発振手段と該
第２の発振手段の発振周波数および該変換手段を動作さ
せるサンプリング周波数とを可変する制御手段とを備
え、且つ、再生した試験データの周波数ｆinに対して目
標とするサンプリング周波数ｆsとの比であるＭと、該
周波数ｆinと、該変換手段を動作させるサンプリング周
波数ｆADCとが、 Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係
で且つ整数であることを特徴とする磁気記録媒体の検査
装置である。
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検
査装置において、所望の周波数で発振する第１の発振手
段の出力により、該磁気記録媒体を保持する保持回転手
段を回転動作させる回転制御手段と、該回転制御手段よ
りの回転数を表すインデックス信号および回転位置を表
す該エンコード信号をもとに、スタート信号およびスト
ップ信号に応答して、書き込み開始および終了を表す書
き込みモード信号と、読み出し開始および終了を表す読
み出しモード信号とを生成するモードおよびタイミング
制御手段と、該書き込みモード信号をもとに、該保持回
転手段上の該磁気記録媒体に対向して配置される磁気ヘ
ッドにより、該磁気記録媒体に該試験用データを記録す
る記録手段と、該読み出しモード信号をもとに、該磁気
ヘッドにより該磁気記録媒体に記録された該試験用デー
タを再生する再生手段と、再生した該試験データをディ
ジタル値に変換するＮ個の変換手段と、再生した該試験
データを該Ｎ個の変換手段に分配して供給する再生信号
分配手段と、所望の周波数で発振する第２の発振手段に
基づくクロック信号により、該Ｎ個の変換手段を１個の
変換手段につきサンプリング周波数ｆADCで動作させる
サンプリングクロック分配手段と、該Ｎ個の変換手段で
変換されたディジタル値を保持するＮ個の保持手段と、
該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の
判定処理をする解析処理手段と、該第１の発振手段と該
第２の発振手段の発振周波数および該変換手段を動作さ
せるサンプリング周波数とを可変する制御手段とを備
え、且つ、再生した試験データの周波数ｆinに対して目
標とするサンプリング周波数ｆsとの比であるＭと、該
周波数ｆinと、該変換手段を動作させるサンプリング周
波数ｆADCとが、 Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係
で且つ整数であることを特徴とする磁気記録媒体の検査
装置である。
【００２９】また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッ
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検
査装置において、該磁気記録媒体に対向して配置される
Ｌ個の磁気ヘッドにより、該磁気記録媒体に記録された
試験データをＬ個（Ｌは２以上の整数）の個別な信号と
して再生するＬ個の再生手段と、再生した試験データを
ディジタル値に変換するＮ個（Ｎは２以上の整数）の変
換手段と、再生した該試験データを所望の接続状態にし
て該Ｎ個の変換手段に分配して供給する再生信号分配手
段と、該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につき所定の
サンプリング周波数で動作させるサンプリングクロック
制御手段と、該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル
値を保持するＮ個の保持手段と、該Ｎ個の保持手段に保
持されたディジタル値より該磁気記録媒体の磁気特性に
関する演算処理をするデータ処理手段とを備え、該磁気
記録媒体または磁気ヘッドの検査を行うことを特徴とす
る検査装置である。
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検
査装置において、該磁気記録媒体に対向して配置される
Ｌ個の磁気ヘッドにより、該磁気記録媒体に記録された
試験データをＬ個（Ｌは２以上の整数）の個別な信号と
して再生するＬ個の再生手段と、再生した試験データを
ディジタル値に変換するＮ個（Ｎは２以上の整数）の変
換手段と、再生した該試験データを所望の接続状態にし
て該Ｎ個の変換手段に分配して供給する再生信号分配手
段と、該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につき所定の
サンプリング周波数で動作させるサンプリングクロック
制御手段と、該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル
値を保持するＮ個の保持手段と、該Ｎ個の保持手段に保
持されたディジタル値より該磁気記録媒体の磁気特性に
関する演算処理をするデータ処理手段とを備え、該磁気
記録媒体または磁気ヘッドの検査を行うことを特徴とす
る検査装置である。
【００３０】また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッ
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体の検査を行う磁気記録媒体または
磁気ヘッドの検査装置において、 再生した試験データ
をディジタル値に変換し、変換したディジタル値より、
該磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をして、該
磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検査装置で
あって、該演算処理は、該変換したディジタル値をもと
に複数の計数手段を選択的に計数動作させる第１の頻度
計測手段と、該第１の頻度計測手段の出力をもとにヒス
トグラム演算処理により再生波形の平均振幅値を計測し
て出力する第１のヒストグラム処理手段と、該第１のヒ
ストグラム処理手段の出力に１／２の計数を乗算する係
数手段と、該係数手段の出力と該変換手段の出力とを大
小比較して比較結果を出力する比較手段と、該比較手段
の出力が所定のレベルである期間においてのみ、所望の
周波数で発振動作するクロック信号パルスを計数動作す
るパルス計数手段と、該比較手段の出力の変化に基づい
て動作し該パルス計数手段の出力したパルスをもとに複
数の計数手段を選択的に計数動作させる第２の頻度計測
手段と、該第１の頻度計測手段の出力をもとにヒストグ
ラム演算処理により再生波形の平均パルス幅を計測して
出力する第２のヒストグラム処理手段とを備え、所望の
期間における該再生波形の平均振幅値および平均パルス
幅を計測することにより、該磁気記録媒体または磁気ヘ
ッドの検査を行うことを特徴とする検査装置である。
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体の検査を行う磁気記録媒体または
磁気ヘッドの検査装置において、 再生した試験データ
をディジタル値に変換し、変換したディジタル値より、
該磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をして、該
磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検査装置で
あって、該演算処理は、該変換したディジタル値をもと
に複数の計数手段を選択的に計数動作させる第１の頻度
計測手段と、該第１の頻度計測手段の出力をもとにヒス
トグラム演算処理により再生波形の平均振幅値を計測し
て出力する第１のヒストグラム処理手段と、該第１のヒ
ストグラム処理手段の出力に１／２の計数を乗算する係
数手段と、該係数手段の出力と該変換手段の出力とを大
小比較して比較結果を出力する比較手段と、該比較手段
の出力が所定のレベルである期間においてのみ、所望の
周波数で発振動作するクロック信号パルスを計数動作す
るパルス計数手段と、該比較手段の出力の変化に基づい
て動作し該パルス計数手段の出力したパルスをもとに複
数の計数手段を選択的に計数動作させる第２の頻度計測
手段と、該第１の頻度計測手段の出力をもとにヒストグ
ラム演算処理により再生波形の平均パルス幅を計測して
出力する第２のヒストグラム処理手段とを備え、所望の
期間における該再生波形の平均振幅値および平均パルス
幅を計測することにより、該磁気記録媒体または磁気ヘ
ッドの検査を行うことを特徴とする検査装置である。
【００３１】また、本発明は、磁気記録媒体に磁気ヘッ
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体の検査を行う磁気記録媒体または
磁気ヘッドの検査装置において、再生した試験データを
ディジタル値に変換し、変換したディジタル値より、該
磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をして、該磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検査装置であ
って、該演算処理は、該変換したディジタル値をもと
に、該ディジタル値に対応した第１のメモリのアドレス
に書き込まれたデータを第１の加算回路を用いて加算し
て同じアドレスに書き込むことで頻度を計測する第１の
頻度値保持手段と、該第１の頻度値保持手段の出力をも
とにヒストグラム演算処理により再生波形の平均振幅値
を計測して出力する第１のヒストグラム処理手段と、
所定の閾値データを保持する閾値保持手段と、該閾値保
持手段の出力と該変換手段の出力とを比較して比較結果
を出力する比較手段と、該比較手段の出力が所定のレベ
ルである期間においてのみ、所望の周波数のクロック信
号パルスを計数動作するパルス計数手段と、該パルス計
数手段の出力をもとに、該ディジタル値に対応した第２
のメモリのアドレスに書き込まれたデータを第２の加算
回路を用いて加算して同じアドレスに書き込むことで頻
度を計測する第２の頻度値保持手段と、該第２の頻度値
保持手段の出力をもとにヒストグラム演算処理により所
定の閾値における再生波形の平均パルス値を計測して出
力する第２のヒストグラム処理手段とを備え、所望の期
間における該再生波形の平均振幅値および平均パルス幅
を計測することにより、該磁気記録媒体または磁気ヘッ
ドの検査を行うことを特徴とする検査装置である。
ドにより試験用データを記録するとともに、記録した試
験データを該磁気ヘッドにより再生し所望の処理をする
ことで該磁気記録媒体の検査を行う磁気記録媒体または
磁気ヘッドの検査装置において、再生した試験データを
ディジタル値に変換し、変換したディジタル値より、該
磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をして、該磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う検査装置であ
って、該演算処理は、該変換したディジタル値をもと
に、該ディジタル値に対応した第１のメモリのアドレス
に書き込まれたデータを第１の加算回路を用いて加算し
て同じアドレスに書き込むことで頻度を計測する第１の
頻度値保持手段と、該第１の頻度値保持手段の出力をも
とにヒストグラム演算処理により再生波形の平均振幅値
を計測して出力する第１のヒストグラム処理手段と、
所定の閾値データを保持する閾値保持手段と、該閾値保
持手段の出力と該変換手段の出力とを比較して比較結果
を出力する比較手段と、該比較手段の出力が所定のレベ
ルである期間においてのみ、所望の周波数のクロック信
号パルスを計数動作するパルス計数手段と、該パルス計
数手段の出力をもとに、該ディジタル値に対応した第２
のメモリのアドレスに書き込まれたデータを第２の加算
回路を用いて加算して同じアドレスに書き込むことで頻
度を計測する第２の頻度値保持手段と、該第２の頻度値
保持手段の出力をもとにヒストグラム演算処理により所
定の閾値における再生波形の平均パルス値を計測して出
力する第２のヒストグラム処理手段とを備え、所望の期
間における該再生波形の平均振幅値および平均パルス幅
を計測することにより、該磁気記録媒体または磁気ヘッ
ドの検査を行うことを特徴とする検査装置である。
【００３２】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図を
用いて説明する。
用いて説明する。
【００３３】図１は本発明の第１の実施の形態について
示す構成図であり、例えば磁気記録媒体に対して設定し
た試験用データを記録し、該磁気記録媒体に記録した該
試験データを再生し、該試験データ再生信号を用いて該
磁気記録媒体または磁気記録ヘッドの良否判定、あるい
は特性測定を行う磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査
装置の構成図である。
示す構成図であり、例えば磁気記録媒体に対して設定し
た試験用データを記録し、該磁気記録媒体に記録した該
試験データを再生し、該試験データ再生信号を用いて該
磁気記録媒体または磁気記録ヘッドの良否判定、あるい
は特性測定を行う磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査
装置の構成図である。
【００３４】図１に示す磁気記録媒体または磁気記録ヘ
ッドの検査装置１では、記録動作として、ディスク回転
部１０３において磁気記録媒体であるディスク１０１を
保持して回転動作させ、書き込みデータ生成部１２１に
おいて検査に用いる試験用データを生成して出力し、該
書き込みデータ生成部１２１の該出力を書込アンプ１２
２において増幅して出力し、ディスク１０１において試
験目標とするトラック上にＲ／Ｗヘッド１０２を配置し
て、該書込アンプ１２２の該出力をもとに該Ｒ／Ｗヘッ
ド１０２の磁界を変化させて磁気特性を有する該ディス
ク１０１に対して書き込み動作させて回転動作中の該デ
ィスク１０１の試験目標トラックに該試験用データを円
周方向に記録する。
ッドの検査装置１では、記録動作として、ディスク回転
部１０３において磁気記録媒体であるディスク１０１を
保持して回転動作させ、書き込みデータ生成部１２１に
おいて検査に用いる試験用データを生成して出力し、該
書き込みデータ生成部１２１の該出力を書込アンプ１２
２において増幅して出力し、ディスク１０１において試
験目標とするトラック上にＲ／Ｗヘッド１０２を配置し
て、該書込アンプ１２２の該出力をもとに該Ｒ／Ｗヘッ
ド１０２の磁界を変化させて磁気特性を有する該ディス
ク１０１に対して書き込み動作させて回転動作中の該デ
ィスク１０１の試験目標トラックに該試験用データを円
周方向に記録する。
【００３５】また、再生動作として、回転動作する該デ
ィスク１０１に記録した試験データに基づく磁界の変化
をＲ／Ｗヘッド１０２において検出し、該検出信号を再
生アンプ１３１により増幅してディスク再生信号を出力
し、該ディスク再生信号をディスク再生信号分配回路１
３２により４分配（Ｎ＝４）し、４分配された該ディス
ク再生信号をそれぞれ独立なサンプリングクロック信号
を用いて４個（Ｎ＝４）配設したＡ／Ｄ変換回路１４１
〜１４４により各々独立にディジタル値に変換して出力
し、該Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４が出力するディジ
タル値をメモリ１５１〜１５４に保持する。
ィスク１０１に記録した試験データに基づく磁界の変化
をＲ／Ｗヘッド１０２において検出し、該検出信号を再
生アンプ１３１により増幅してディスク再生信号を出力
し、該ディスク再生信号をディスク再生信号分配回路１
３２により４分配（Ｎ＝４）し、４分配された該ディス
ク再生信号をそれぞれ独立なサンプリングクロック信号
を用いて４個（Ｎ＝４）配設したＡ／Ｄ変換回路１４１
〜１４４により各々独立にディジタル値に変換して出力
し、該Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４が出力するディジ
タル値をメモリ１５１〜１５４に保持する。
【００３６】該メモリ１５１〜１５４に保持されたディ
ジタル値化した該ディスク再生信号データをもとにデー
タ処理部１３５において該ディスク再生信号に対して目
標とする測定値を演算処理等によって算出して出力し、
該データ処理部１３５により出力した該ディスク再生信
号の測定値をもとに、解析処理部１３６において検査対
象とする該ディスクが正常であるか否かを演算して判定
処理する判定動作とを行うことで、検査対象とする磁気
ディスクまたは磁気ヘッドの検査を行う。
ジタル値化した該ディスク再生信号データをもとにデー
タ処理部１３５において該ディスク再生信号に対して目
標とする測定値を演算処理等によって算出して出力し、
該データ処理部１３５により出力した該ディスク再生信
号の測定値をもとに、解析処理部１３６において検査対
象とする該ディスクが正常であるか否かを演算して判定
処理する判定動作とを行うことで、検査対象とする磁気
ディスクまたは磁気ヘッドの検査を行う。
【００３７】ディスク回転制御部１０３は、制御部１１
０に配設したＣＰＵ１１１の制御により所定の周波数で
発振する可変周波数発振回路１１３の出力をもとに、デ
ィスク回転制御信号を生成して、ディスク回転部１０３
に対してディスク１０１を所定の回転数で一定に回転動
作するように制御する。ＣＰＵ１１１は上述の可変周波
数発振回路１１３と後述する可変周波数発振回路１１４
とを独立に制御するため、ディスク１０１は試験データ
の書き込みおよび読み出しとは独立に一定回転動作する
ように制御される。
０に配設したＣＰＵ１１１の制御により所定の周波数で
発振する可変周波数発振回路１１３の出力をもとに、デ
ィスク回転制御信号を生成して、ディスク回転部１０３
に対してディスク１０１を所定の回転数で一定に回転動
作するように制御する。ＣＰＵ１１１は上述の可変周波
数発振回路１１３と後述する可変周波数発振回路１１４
とを独立に制御するため、ディスク１０１は試験データ
の書き込みおよび読み出しとは独立に一定回転動作する
ように制御される。
【００３８】またディスク回転制御部１０４は、ディス
ク回転部１０３が出力するディスク回転数検出信号をも
とにモード切替／タイミング制御部１３７に対してイン
デックス信号（ディスク１回転あたり１パルス出力）あ
るいはエンコーダ信号（例えばディスク１回転あたり１
０２４あるいは２０４８パルス出力）を出力する。
ク回転部１０３が出力するディスク回転数検出信号をも
とにモード切替／タイミング制御部１３７に対してイン
デックス信号（ディスク１回転あたり１パルス出力）あ
るいはエンコーダ信号（例えばディスク１回転あたり１
０２４あるいは２０４８パルス出力）を出力する。
【００３９】該モード切替／タイミング制御部１３７
は、制御部１１０に配設したＣＰＵ１１１の制御により
所定の周波数で発振する可変周波数発振回路１１４の出
力である基準クロック信号を受けて回路動作し、内部の
記録再生セクタ判別部（図示せず）において、例えばカ
ウンタ等のパルス計数回路により、セクタカウンタを設
けて、図２に示すごとく該ディスク回転制御部１０４が
出力した該インデックス信号を用いて該セクタカウンタ
を０にリセットし且つ該エンコーダ信号のパルス数を計
数動作することで該Ｒ／Ｗヘッド１０２により試験デー
タの記録／再生を行う該ディスクのセクタ位置（以下、
セクタ位置と記す）を判別する。
は、制御部１１０に配設したＣＰＵ１１１の制御により
所定の周波数で発振する可変周波数発振回路１１４の出
力である基準クロック信号を受けて回路動作し、内部の
記録再生セクタ判別部（図示せず）において、例えばカ
ウンタ等のパルス計数回路により、セクタカウンタを設
けて、図２に示すごとく該ディスク回転制御部１０４が
出力した該インデックス信号を用いて該セクタカウンタ
を０にリセットし且つ該エンコーダ信号のパルス数を計
数動作することで該Ｒ／Ｗヘッド１０２により試験デー
タの記録／再生を行う該ディスクのセクタ位置（以下、
セクタ位置と記す）を判別する。
【００４０】また設定したスタートセクタ値およびスト
ップセクタ値と該セクタカウンタの出力値であるセクタ
位置とを一致比較することでスタート検出信号およびス
トップ検出信号を内部的に生成して該ディスク１０１に
対する書き込みモードあるいは読み出しモードの開始／
終了のタイミングを判別し、書込みモード信号あるいは
読み出しモード信号の生成を行って検査装置１の各部に
対してモード切り替えとタイミング制御を行う。
ップセクタ値と該セクタカウンタの出力値であるセクタ
位置とを一致比較することでスタート検出信号およびス
トップ検出信号を内部的に生成して該ディスク１０１に
対する書き込みモードあるいは読み出しモードの開始／
終了のタイミングを判別し、書込みモード信号あるいは
読み出しモード信号の生成を行って検査装置１の各部に
対してモード切り替えとタイミング制御を行う。
【００４１】図２(1)は、インデックス信号とエンコー
ダ信号とを用いて任意のセクタを検査する例を示すもの
で、例えばディスク回転制御部１０４においてエンコー
ダ信号をディスク１回転あたり２０４８パルス出力し、
スタートセクタ値を２でストップセクタ値を２０４４と
した場合について、検査対象期間の判別および書き込み
モード信号／読み出しモード信号の切り替え動作を行う
例を示した図である。
ダ信号とを用いて任意のセクタを検査する例を示すもの
で、例えばディスク回転制御部１０４においてエンコー
ダ信号をディスク１回転あたり２０４８パルス出力し、
スタートセクタ値を２でストップセクタ値を２０４４と
した場合について、検査対象期間の判別および書き込み
モード信号／読み出しモード信号の切り替え動作を行う
例を示した図である。
【００４２】ここで、書き込みおよび読み出しの各モー
ド期間は検査装置１のユーザが決定する所定の期間であ
り、制御部１１０内のメモリ１１２に保持したテストプ
ログラムによりＣＰＵ１１１を介して、該モード切替／
タイミング制御部１３７内のレジスタ等にスタートセク
タ値およびストップセクタ値として設定する。該モード
切替／タイミング制御部１３７において配設した上述の
記録再生セクタ判別部により、スタート検出信号はセク
タ位置とスタートセクタ値とが一致する期間のみ有効状
態を表す電圧レベルを出力し、ストップ検出信号はセク
タ位置とストップセクタ値とが一致する期間のみ効状態
を表す電圧レベルを出力する。
ド期間は検査装置１のユーザが決定する所定の期間であ
り、制御部１１０内のメモリ１１２に保持したテストプ
ログラムによりＣＰＵ１１１を介して、該モード切替／
タイミング制御部１３７内のレジスタ等にスタートセク
タ値およびストップセクタ値として設定する。該モード
切替／タイミング制御部１３７において配設した上述の
記録再生セクタ判別部により、スタート検出信号はセク
タ位置とスタートセクタ値とが一致する期間のみ有効状
態を表す電圧レベルを出力し、ストップ検出信号はセク
タ位置とストップセクタ値とが一致する期間のみ効状態
を表す電圧レベルを出力する。
【００４３】従って該モード切替／タイミング制御部１
３７では、スタート検出信号パルス出力時からストップ
検出信号出力時までの間を検査対象期間として判別可能
であり、図２(1)に図示するように例えばディスクＮ回
転目において検査対象とする期間に書き込みモード信号
を生成し、ディスクＮ＋１回転において検査対象とする
期間に書き込みモード信号の生成を行うことで、ディス
ク１０１の任意のセクタに対して試験が可能となる。
３７では、スタート検出信号パルス出力時からストップ
検出信号出力時までの間を検査対象期間として判別可能
であり、図２(1)に図示するように例えばディスクＮ回
転目において検査対象とする期間に書き込みモード信号
を生成し、ディスクＮ＋１回転において検査対象とする
期間に書き込みモード信号の生成を行うことで、ディス
ク１０１の任意のセクタに対して試験が可能となる。
【００４４】また図１および図２には特に図示していな
いが、記録再生セクタ判別部において試験データ書き込
み時と読み出し時とにおいて各々スタートセクタ値とス
トップセクタ値とをモード毎に個別に設定できる構成と
することで、試験データの書き込み期間と読み出し期間
とを各々独立して設定することが可能である。またイン
デックス信号計数回路を配設してディスク回転数判別機
能を加えることで、任意の回転数で且つ任意のセクタに
対して試験データの書き込みと読み出しとが可能とな
る。
いが、記録再生セクタ判別部において試験データ書き込
み時と読み出し時とにおいて各々スタートセクタ値とス
トップセクタ値とをモード毎に個別に設定できる構成と
することで、試験データの書き込み期間と読み出し期間
とを各々独立して設定することが可能である。またイン
デックス信号計数回路を配設してディスク回転数判別機
能を加えることで、任意の回転数で且つ任意のセクタに
対して試験データの書き込みと読み出しとが可能とな
る。
【００４５】次に図２(2)にインデックス信号のみを用
いてディスク検査を行う例を示す。図２(2)は書き込み
モード信号あるいは読み出しモード信号が有効になって
最初のインデックス信号パルスをスタートパルスとして
出力し、書き込みあるいは読み出しモードにおいてスタ
ートパルスとして用いたインデックス信号パルスの次の
パルスをストップパルスとして出力することで、ディス
ク１回転分の書き込みあるいは読み出し動作を行う、す
なわち磁気ディスク１０１のトラック毎の検査を行う例
を示したものである。
いてディスク検査を行う例を示す。図２(2)は書き込み
モード信号あるいは読み出しモード信号が有効になって
最初のインデックス信号パルスをスタートパルスとして
出力し、書き込みあるいは読み出しモードにおいてスタ
ートパルスとして用いたインデックス信号パルスの次の
パルスをストップパルスとして出力することで、ディス
ク１回転分の書き込みあるいは読み出し動作を行う、す
なわち磁気ディスク１０１のトラック毎の検査を行う例
を示したものである。
【００４６】図２(2)では例えばディスク１０１のＮ回
転目とＮ＋２回転目とでスタートパルスを出力し、ディ
スク１０１のＮ＋１回転目とＮ＋３回転目とでストップ
パルスを出力する例を示している。ここで、図２(2)で
はディスク１０１に対して回転数単位で書き込みあるい
は読み出し動作を行う例を示しているが、記録再生セク
タ判別部において任意の周波数のクロック信号で動作し
且つ該インデックス信号でリセット動作するような計数
回路を配設して図２(1)と同様にセクタ計数動作を行う
機能を持たせることで、任意のセクタに対して検査する
ことが可能となることはいうまでもない。
転目とＮ＋２回転目とでスタートパルスを出力し、ディ
スク１０１のＮ＋１回転目とＮ＋３回転目とでストップ
パルスを出力する例を示している。ここで、図２(2)で
はディスク１０１に対して回転数単位で書き込みあるい
は読み出し動作を行う例を示しているが、記録再生セク
タ判別部において任意の周波数のクロック信号で動作し
且つ該インデックス信号でリセット動作するような計数
回路を配設して図２(1)と同様にセクタ計数動作を行う
機能を持たせることで、任意のセクタに対して検査する
ことが可能となることはいうまでもない。
【００４７】また該モード切替／タイミング制御部１３
７は、上述のセクタ判別動作に加えて、検査装置１の各
部に対して例えば書き込み動作と読み出し動作と解析処
理動作とからなる三つの動作状態について制御を行う。
すなわち第一の動作状態である書き込み動作時におい
て、該モード切替／タイミング制御部１３７は、前述の
セクタ検出機能により書き込みセクタの判別を行って生
成した書き込みモード信号をもとに、ディスク１０１へ
の記録ビット周波数に等しく設定したデータ生成信号タ
イミング信号を書き込みデータ生成部１２１に対して出
力して書き込みデータ生成制御を行い、またＲ／Ｗヘッ
ド１０２において試験データに応じて書き込み磁界を変
化させるため該書き込みモード信号により書き込みアン
プ１２２の出力端子を出力可能になるように制御するこ
とで、該ディスク１０１に対してデータの書き込み動作
を制御する。
７は、上述のセクタ判別動作に加えて、検査装置１の各
部に対して例えば書き込み動作と読み出し動作と解析処
理動作とからなる三つの動作状態について制御を行う。
すなわち第一の動作状態である書き込み動作時におい
て、該モード切替／タイミング制御部１３７は、前述の
セクタ検出機能により書き込みセクタの判別を行って生
成した書き込みモード信号をもとに、ディスク１０１へ
の記録ビット周波数に等しく設定したデータ生成信号タ
イミング信号を書き込みデータ生成部１２１に対して出
力して書き込みデータ生成制御を行い、またＲ／Ｗヘッ
ド１０２において試験データに応じて書き込み磁界を変
化させるため該書き込みモード信号により書き込みアン
プ１２２の出力端子を出力可能になるように制御するこ
とで、該ディスク１０１に対してデータの書き込み動作
を制御する。
【００４８】また、書き込み動作時において該モード切
替／タイミング制御部１３７は読み出しモード信号を不
可状態とすることで、該サンプリングクロック分配回路
１３２と該Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４と該メモリ制
御信号分配回路１３４と該メモリ１５１〜１５４とに対
して各々の動作を停止するように各制御信号を出力し
て、該ディスク１０１への書き込み信号をディスク再生
信号として誤って読み出すことのないように各部を制御
する。上述の書き込み動作は、図２に示す検査対象期間
（書き込み）中における検査装置の動作状態について述
べたものである。
替／タイミング制御部１３７は読み出しモード信号を不
可状態とすることで、該サンプリングクロック分配回路
１３２と該Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４と該メモリ制
御信号分配回路１３４と該メモリ１５１〜１５４とに対
して各々の動作を停止するように各制御信号を出力し
て、該ディスク１０１への書き込み信号をディスク再生
信号として誤って読み出すことのないように各部を制御
する。上述の書き込み動作は、図２に示す検査対象期間
（書き込み）中における検査装置の動作状態について述
べたものである。
【００４９】第二の動作状態である読み出し動作時にお
いて、該モード切替／タイミング制御部１３７は、上述
のセクタ検出機能により読み出しセクタの判別を行って
生成した読み出しモード信号をもとに、ディスク再生信
号分配回路１３２によって分配したディスク再生信号を
Ｎ個配設した該Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４において
サンプリングするため、サンプリングクロック分配回路
１３３において設定したタイミングでサンプリングクロ
ックＣＬＫ１，ＣＬＫ２，ＣＬＫ３，ＣＬＫ４を生成し
て出力するように読み出しモード信号とサンプリングク
ロックとをサンプリングクロック分配回路１３３に出力
する。
いて、該モード切替／タイミング制御部１３７は、上述
のセクタ検出機能により読み出しセクタの判別を行って
生成した読み出しモード信号をもとに、ディスク再生信
号分配回路１３２によって分配したディスク再生信号を
Ｎ個配設した該Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４において
サンプリングするため、サンプリングクロック分配回路
１３３において設定したタイミングでサンプリングクロ
ックＣＬＫ１，ＣＬＫ２，ＣＬＫ３，ＣＬＫ４を生成し
て出力するように読み出しモード信号とサンプリングク
ロックとをサンプリングクロック分配回路１３３に出力
する。
【００５０】また同時に該モード切替／タイミング制御
部１３７は、上述のサンプリング動作により得たディス
ク再生信号のディジタル値を該メモリ１５１〜１５４に
おいてメモリアドレスを切り替えて順次メモリへ書き込
み保持を行うため、アドレス制御信号およびライトイネ
ーブル信号等からなるメモリ制御信号と読み出しモード
信号とを該サンプリングクロックと等しいかまたはそれ
以下の周波数でメモリ制御信号分配回路１３４に出力す
ることで、ディジタル値化したディスク再生信号データ
の読み出し動作のタイミング制御を行う。
部１３７は、上述のサンプリング動作により得たディス
ク再生信号のディジタル値を該メモリ１５１〜１５４に
おいてメモリアドレスを切り替えて順次メモリへ書き込
み保持を行うため、アドレス制御信号およびライトイネ
ーブル信号等からなるメモリ制御信号と読み出しモード
信号とを該サンプリングクロックと等しいかまたはそれ
以下の周波数でメモリ制御信号分配回路１３４に出力す
ることで、ディジタル値化したディスク再生信号データ
の読み出し動作のタイミング制御を行う。
【００５１】また該モード切替／タイミング制御部１３
７は、該書き込みデータ生成部１２１に対する該データ
生成信号タイミング信号を停止して書き込みデータ生成
部１２１を出力停止状態に制御し、且つ該書き込みアン
プ１２２の出力端子を例えば高インピーダンス状態等に
して出力を停止させるため該書き込みモード信号を無効
状態に制御することで、読み出し動作中における該ディ
スクへの書き込み動作を停止させる。
７は、該書き込みデータ生成部１２１に対する該データ
生成信号タイミング信号を停止して書き込みデータ生成
部１２１を出力停止状態に制御し、且つ該書き込みアン
プ１２２の出力端子を例えば高インピーダンス状態等に
して出力を停止させるため該書き込みモード信号を無効
状態に制御することで、読み出し動作中における該ディ
スクへの書き込み動作を停止させる。
【００５２】つまり該モード切替／タイミング制御部１
３７は、上述の書き込み動作と読み出し動作とを同時に
行わないように制御するため、書き込みモード信号と読
み出しモード信号とを同時に有効にならないように相互
に排他的に制御する。上述の読み込み動作は、図２に示
す検査対象期間（読み込み）中における検査装置の動作
状態について述べたものである。
３７は、上述の書き込み動作と読み出し動作とを同時に
行わないように制御するため、書き込みモード信号と読
み出しモード信号とを同時に有効にならないように相互
に排他的に制御する。上述の読み込み動作は、図２に示
す検査対象期間（読み込み）中における検査装置の動作
状態について述べたものである。
【００５３】第三の動作状態である解析処理動作におい
て、該モード切替／タイミング制御部１３７は、該メモ
リ１５１〜１５４に保持したディジタル値（以下データ
と記す）をもとにディスク再生信号の平均波高値（ＴＡ
Ａ）やパルス幅（ＰＷ５０）等を求める演算処理を該デ
ータ処理部１３５において行うため、該メモリ１５１〜
１５４に書き込まれたデータが有効であるか否かを示す
データ処理タイミング信号を該データ処理部１３５に出
力し、該解析処理部１３６において演算処理に用いる該
データ処理部１３５の演算処理結果が有効であるか否か
を示す解析処理タイミング信号を該解析処理部１３６に
出力する。
て、該モード切替／タイミング制御部１３７は、該メモ
リ１５１〜１５４に保持したディジタル値（以下データ
と記す）をもとにディスク再生信号の平均波高値（ＴＡ
Ａ）やパルス幅（ＰＷ５０）等を求める演算処理を該デ
ータ処理部１３５において行うため、該メモリ１５１〜
１５４に書き込まれたデータが有効であるか否かを示す
データ処理タイミング信号を該データ処理部１３５に出
力し、該解析処理部１３６において演算処理に用いる該
データ処理部１３５の演算処理結果が有効であるか否か
を示す解析処理タイミング信号を該解析処理部１３６に
出力する。
【００５４】例えばメモリ１５１〜１５４に書き込まれ
たデータが有効であれば上述の読み出し動作中または書
き込み動作中であっても解析処理は可能であり、該デー
タ処理タイミング信号あるいは該解析処理タイミング信
号は書き込みモード信号および読み出しモード信号とは
独立に制御される。すなわち上述の解析処理動作は、図
２に示す検査対象期間（書き込み／読み出し）あるいは
非検査対象期間の何れとも独立に並行して動作する検査
装置の動作状態について述べたものである。
たデータが有効であれば上述の読み出し動作中または書
き込み動作中であっても解析処理は可能であり、該デー
タ処理タイミング信号あるいは該解析処理タイミング信
号は書き込みモード信号および読み出しモード信号とは
独立に制御される。すなわち上述の解析処理動作は、図
２に示す検査対象期間（書き込み／読み出し）あるいは
非検査対象期間の何れとも独立に並行して動作する検査
装置の動作状態について述べたものである。
【００５５】また図１に示す磁気記録媒体または磁気ヘ
ッドの検査装置１において、制御部１１０に配設した中
央演算処理ユニット（ＣＰＵ）１１１は、メモリ１１２
に書き込まれた動作制御プログラムに従って検査装置全
体の動作を制御する。
ッドの検査装置１において、制御部１１０に配設した中
央演算処理ユニット（ＣＰＵ）１１１は、メモリ１１２
に書き込まれた動作制御プログラムに従って検査装置全
体の動作を制御する。
【００５６】すなわち図１において、ＣＰＵ１１１は、
可変周波数発振回路１１３、１１４に対する発振周波数
制御と、モード切替／タイミング制御部１３７に対する
スタート／ストップセクタ値等のタイミング制御データ
および書き込み／読み出しモード等の設定と、書き込み
データ生成部１２１に対する書き込みデータの設定と、
解析処理部１３６の出力である検査対象磁気ディスクま
たは磁気ヘッドの良否判定結果あるいは検査装置各部の
動作状態等を読み出してメモリ１１２に保持する保持動
作と、外部に配設したホストコンピュータ２との通信処
理とを行う。
可変周波数発振回路１１３、１１４に対する発振周波数
制御と、モード切替／タイミング制御部１３７に対する
スタート／ストップセクタ値等のタイミング制御データ
および書き込み／読み出しモード等の設定と、書き込み
データ生成部１２１に対する書き込みデータの設定と、
解析処理部１３６の出力である検査対象磁気ディスクま
たは磁気ヘッドの良否判定結果あるいは検査装置各部の
動作状態等を読み出してメモリ１１２に保持する保持動
作と、外部に配設したホストコンピュータ２との通信処
理とを行う。
【００５７】また図１に示すように、検査装置１では、
表示装置１６０を配設し、該ＣＰＵ１１１の制御により
該データ処理部１３５で得たディスク再生信号の測定
値、演算処理結果、判定処理結果あるいは検査装置各部
の動作状態等を検査装置ユーザに対して表示する。
表示装置１６０を配設し、該ＣＰＵ１１１の制御により
該データ処理部１３５で得たディスク再生信号の測定
値、演算処理結果、判定処理結果あるいは検査装置各部
の動作状態等を検査装置ユーザに対して表示する。
【００５８】ここで、図１に示す磁気記録媒体または磁
気ヘッドの検査装置１において、データ処理部１３５は
例えばディジタル信号処理を行うＤＳＰ（Digital Sign
al Processor）等の論理回路によって構成され、メモリ
１５１に保持したディスク再生信号のディジタル値をも
とに補間処理等を行って、任意のセクタ位置あるいは任
意の数のディスク再生信号パルスに対してパルス毎の振
幅値または平均振幅値または任意の閾値におけるパルス
毎のパルス幅または平均パルス幅を演算処理して算出す
る。
気ヘッドの検査装置１において、データ処理部１３５は
例えばディジタル信号処理を行うＤＳＰ（Digital Sign
al Processor）等の論理回路によって構成され、メモリ
１５１に保持したディスク再生信号のディジタル値をも
とに補間処理等を行って、任意のセクタ位置あるいは任
意の数のディスク再生信号パルスに対してパルス毎の振
幅値または平均振幅値または任意の閾値におけるパルス
毎のパルス幅または平均パルス幅を演算処理して算出す
る。
【００５９】すなわち本発明に係る磁気記録媒体または
磁気ヘッドの検査装置は、任意のデータ再生期間あるい
は全データ再生期間においてディスク再生信号をディジ
タル化してメモリに保持するため、保持した該ディジタ
ル値をもとに図３に示す如くディスク再生信号の振幅値
あるいは任意の閾値におけるパルス幅に対して、平均
値、分散値、偏差値、累積度数値等を算出する統計演算
処理を行い、または保持した該離散値に対してＦＦＴ
（Fast Fourier Transform）等の周波数解析演算処理を
行うことで磁気記録媒体または磁気ヘッドに対して詳細
な検査を行うことが可能である。なお、図３では説明の
ためディスク再生信号のパルスについて、ａ＜ｂである
ａ番目からｂ番目の連続するディスク再生信号パルスに
対する統計演算処理を示しているが、本発明はこれに限
定するものではなく、任意の数のディスク再生信号パル
ス、例えばひとつおきのディスク再生信号パルス等の不
連続なパルスについても演算処理可能であることはいう
までもない。
磁気ヘッドの検査装置は、任意のデータ再生期間あるい
は全データ再生期間においてディスク再生信号をディジ
タル化してメモリに保持するため、保持した該ディジタ
ル値をもとに図３に示す如くディスク再生信号の振幅値
あるいは任意の閾値におけるパルス幅に対して、平均
値、分散値、偏差値、累積度数値等を算出する統計演算
処理を行い、または保持した該離散値に対してＦＦＴ
（Fast Fourier Transform）等の周波数解析演算処理を
行うことで磁気記録媒体または磁気ヘッドに対して詳細
な検査を行うことが可能である。なお、図３では説明の
ためディスク再生信号のパルスについて、ａ＜ｂである
ａ番目からｂ番目の連続するディスク再生信号パルスに
対する統計演算処理を示しているが、本発明はこれに限
定するものではなく、任意の数のディスク再生信号パル
ス、例えばひとつおきのディスク再生信号パルス等の不
連続なパルスについても演算処理可能であることはいう
までもない。
【００６０】また、上述の図１に示す磁気記録媒体また
は磁気ヘッドの検査装置１では、検査対象として磁気記
録媒体であるディスク１０１を用いた構成について述べ
ているが、磁気記録媒体として良品または磁気特性の認
知しているディスクと検査対象とする磁気ヘッドとを用
いてディスクへの記録・再生を行うことで、磁気ヘッド
の検査を行うことが可能である。
は磁気ヘッドの検査装置１では、検査対象として磁気記
録媒体であるディスク１０１を用いた構成について述べ
ているが、磁気記録媒体として良品または磁気特性の認
知しているディスクと検査対象とする磁気ヘッドとを用
いてディスクへの記録・再生を行うことで、磁気ヘッド
の検査を行うことが可能である。
【００６１】また、図２では、ディスク回転制御部１０
４からのインデックス信号あるいはエンコーダ信号を用
いてディスク１０１上の記録／再生トラックにおける検
査対象区間の判別を用いる構成および方法について説明
しているが、本発明における検査装置はこれに限定する
ものではなく、例えばディスク１０１の記録／再生トラ
ックに対してセクタ判別信号あるいは検査区間開始／終
了信号を記録して、該セクタ判別信号あるいは検査区間
開始／終了信号を再生して判別することで検査対象区間
の判別を行い且つ磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査
が可能である。
４からのインデックス信号あるいはエンコーダ信号を用
いてディスク１０１上の記録／再生トラックにおける検
査対象区間の判別を用いる構成および方法について説明
しているが、本発明における検査装置はこれに限定する
ものではなく、例えばディスク１０１の記録／再生トラ
ックに対してセクタ判別信号あるいは検査区間開始／終
了信号を記録して、該セクタ判別信号あるいは検査区間
開始／終了信号を再生して判別することで検査対象区間
の判別を行い且つ磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査
が可能である。
【００６２】また図２(2)において、ディスク回転制御
部１０４からのインデックス信号を用いたディスク回転
数単位での検査について説明しているが、本発明におけ
る検査装置はこれに限定するものではなく、例えばディ
スク１０１の回転数とディスク１０１への記録時間を計
測して記録時間の判別／制御を行う、あるいは再生時間
を計測して再生時間の判別／制御を行うことで、磁気記
録媒体または磁気ヘッドの検査が可能である。
部１０４からのインデックス信号を用いたディスク回転
数単位での検査について説明しているが、本発明におけ
る検査装置はこれに限定するものではなく、例えばディ
スク１０１の回転数とディスク１０１への記録時間を計
測して記録時間の判別／制御を行う、あるいは再生時間
を計測して再生時間の判別／制御を行うことで、磁気記
録媒体または磁気ヘッドの検査が可能である。
【００６３】次に、図１に示す本発明に係る第１の実施
形態におけるディスク再生信号のディジタル値への変換
動作について、図４を用いて説明する。
形態におけるディスク再生信号のディジタル値への変換
動作について、図４を用いて説明する。
【００６４】図４はＡ／Ｄ変換回路およびメモリを各々
４個配設した際（Ｎ＝４）のディジタル値変換動作につ
いて読み出しモード信号が有効になってからの変換動作
例を示すものであり、Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４は
各々サンプリング周波数ｆADCでサンプリング動作およ
びディジタル値変換動作を行い、またメモリ１５１〜１
５４は各々ｆADCと等しい周波数でディジタル値データ
の保持動作を行う。
４個配設した際（Ｎ＝４）のディジタル値変換動作につ
いて読み出しモード信号が有効になってからの変換動作
例を示すものであり、Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４は
各々サンプリング周波数ｆADCでサンプリング動作およ
びディジタル値変換動作を行い、またメモリ１５１〜１
５４は各々ｆADCと等しい周波数でディジタル値データ
の保持動作を行う。
【００６５】各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４の動作制
御を行うサンプリングクロックは、ディスク再生信号に
対して周波数が目標とするサンプリング周波数ｆsであ
り、図５に示した例では各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４
４のサンプリング周波数ｆADCの４倍（Ｎ＝４）である
サンプリングクロックＣＬＫ０をモード切替／タイミン
グ制御部１３７において読み出しモード信号が有効であ
る期間に生成し、サンプリングクロック分配回路１３３
で該サンプリングクロックＣＬＫ０を４分周してＡ／Ｄ
変換回路１４１〜１４４のうち１つのＡ／Ｄ変換回路に
対してＣＬＫ０が４パルスあたり１パルスを出力するよ
うに分周制御することでＣＬＫ１〜４に分配してそれぞ
れＡ／Ｄ変換回路１４１〜１４４に入力する。
御を行うサンプリングクロックは、ディスク再生信号に
対して周波数が目標とするサンプリング周波数ｆsであ
り、図５に示した例では各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４
４のサンプリング周波数ｆADCの４倍（Ｎ＝４）である
サンプリングクロックＣＬＫ０をモード切替／タイミン
グ制御部１３７において読み出しモード信号が有効であ
る期間に生成し、サンプリングクロック分配回路１３３
で該サンプリングクロックＣＬＫ０を４分周してＡ／Ｄ
変換回路１４１〜１４４のうち１つのＡ／Ｄ変換回路に
対してＣＬＫ０が４パルスあたり１パルスを出力するよ
うに分周制御することでＣＬＫ１〜４に分配してそれぞ
れＡ／Ｄ変換回路１４１〜１４４に入力する。
【００６６】またメモリ制御信号は、各Ａ／Ｄ変換回路
１４１〜１４４に接続した各メモリ１５１〜１５４に対
して読み出しモード信号が有効になってから周波数ｆAD
Cで順次メモリアドレスを増加させるようにアドレス制
御信号を出力し、また前述のアドレス制御信号と同一の
周波数で且つ同位相でライトイネーブル信号を出力する
ことで、該Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４で変換して得
たディジタル値を該アドレス制御信号により制御したメ
モリアドレスに書き込み動作するように制御される。
１４１〜１４４に接続した各メモリ１５１〜１５４に対
して読み出しモード信号が有効になってから周波数ｆAD
Cで順次メモリアドレスを増加させるようにアドレス制
御信号を出力し、また前述のアドレス制御信号と同一の
周波数で且つ同位相でライトイネーブル信号を出力する
ことで、該Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４で変換して得
たディジタル値を該アドレス制御信号により制御したメ
モリアドレスに書き込み動作するように制御される。
【００６７】ここで、サンプリングクロック分配回路１
３３においてＣＬＫ１〜４のサンプリングクロック間の
位相差を例えばｆＡＤＣの逆数であるＡ／Ｄ変換回路１
回路当たりのサンプリング時間のＮ分の１に設定してデ
ィスク再生信号に対して各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４
４を並列動作するように制御することで、各Ａ／Ｄ変換
回路１４１〜１４４はディスク再生信号を時分割でディ
ジタル値に変換し、サンプリングデータＤａｔａ１〜４
のＳ１→Ｓ２→Ｓ３→Ｓ４→Ｓ５→Ｓ６→…の時分割順
で出力する。
３３においてＣＬＫ１〜４のサンプリングクロック間の
位相差を例えばｆＡＤＣの逆数であるＡ／Ｄ変換回路１
回路当たりのサンプリング時間のＮ分の１に設定してデ
ィスク再生信号に対して各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４
４を並列動作するように制御することで、各Ａ／Ｄ変換
回路１４１〜１４４はディスク再生信号を時分割でディ
ジタル値に変換し、サンプリングデータＤａｔａ１〜４
のＳ１→Ｓ２→Ｓ３→Ｓ４→Ｓ５→Ｓ６→…の時分割順
で出力する。
【００６８】つまり、ディスク再生信号に対してＮ倍の
ｆADCでの高速サンプリングおよびディジタル値への変
換を実現するものである。また上述の説明では、ディス
ク再生信号に位相差を与えずに分配し、且つサンプリン
グクロックに位相差を与えて分配することで高速サンプ
リングを実現することを述べているが、これとは逆にサ
ンプリングクロック分配回路１３３においてサンプリン
グクロックに位相差を与えずに分配し、且つディスク再
生信号分配回路１３２においてディスク再生信号に位相
差を与えて分配してサンプリングしても同様に高速サン
プリングが実現できることはいうまでもない。
ｆADCでの高速サンプリングおよびディジタル値への変
換を実現するものである。また上述の説明では、ディス
ク再生信号に位相差を与えずに分配し、且つサンプリン
グクロックに位相差を与えて分配することで高速サンプ
リングを実現することを述べているが、これとは逆にサ
ンプリングクロック分配回路１３３においてサンプリン
グクロックに位相差を与えずに分配し、且つディスク再
生信号分配回路１３２においてディスク再生信号に位相
差を与えて分配してサンプリングしても同様に高速サン
プリングが実現できることはいうまでもない。
【００６９】図１および図４ではＮ＝４の場合について
説明しているが、Ａ／Ｄ変換回路の並列数Ｎと、ディス
ク再生信号周波数ｆinと、Ａ／Ｄ変換回路１回路あたり
のサンプリング周波数ｆADCと、ｆinに対して目標とす
るサンプリング周波数ｆsとの比Ｍ（図４ではＭ＝１
６）との間には数１に示す関係が成立する。ただしｆin
は、ディスク再生信号に対して目標とするパルス部分を
計測するためのディスク再生信号周波数のｎ次高調波成
分ｆinaと、ディスク再生信号パルスの繰り返し周波数
成分ｆinbとのどちらかを用いる。図４に示したディス
ク再生信号波形では説明のため正弦波を用いており、正
弦波は一般に知られるようにｎ次高調波成分を持たず繰
り返し周波数と基本波周波数成分が同一で、従ってｆin
aとｆinbとが一致している場合である。
説明しているが、Ａ／Ｄ変換回路の並列数Ｎと、ディス
ク再生信号周波数ｆinと、Ａ／Ｄ変換回路１回路あたり
のサンプリング周波数ｆADCと、ｆinに対して目標とす
るサンプリング周波数ｆsとの比Ｍ（図４ではＭ＝１
６）との間には数１に示す関係が成立する。ただしｆin
は、ディスク再生信号に対して目標とするパルス部分を
計測するためのディスク再生信号周波数のｎ次高調波成
分ｆinaと、ディスク再生信号パルスの繰り返し周波数
成分ｆinbとのどちらかを用いる。図４に示したディス
ク再生信号波形では説明のため正弦波を用いており、正
弦波は一般に知られるようにｎ次高調波成分を持たず繰
り返し周波数と基本波周波数成分が同一で、従ってｆin
aとｆinbとが一致している場合である。
【００７０】
【数１】 Ｎ≧Ｍ×ｆin／ｆADC ただし数１においてＮは１以上の整数である。ディスク
再生信号周波数ｆinは制御部１１０に配設したＣＰＵ１
１１により上述の可変周波数発振回路１１３、１１４の
発振周波数を可変することで制御され、すなわち書き込
みデータの記録周波数および記録／再生時のディスク回
転数およびデータパターンにより決定される。またｆin
と目標サンプリング周波数との比Ｍは、検査対象とする
磁気記録媒体または磁気ヘッドの特性に対して目標とす
る測定精度等を用いて規定するものであり、Ａ／Ｄ変換
回路１回路あたりのサンプリング周波数ｆADCはＡ／Ｄ
変換回路の最高サンプリング周波数を上限として、モー
ド切替／タイミング制御部１３７において生成するサン
プリングクロックを分配した周波数である。
再生信号周波数ｆinは制御部１１０に配設したＣＰＵ１
１１により上述の可変周波数発振回路１１３、１１４の
発振周波数を可変することで制御され、すなわち書き込
みデータの記録周波数および記録／再生時のディスク回
転数およびデータパターンにより決定される。またｆin
と目標サンプリング周波数との比Ｍは、検査対象とする
磁気記録媒体または磁気ヘッドの特性に対して目標とす
る測定精度等を用いて規定するものであり、Ａ／Ｄ変換
回路１回路あたりのサンプリング周波数ｆADCはＡ／Ｄ
変換回路の最高サンプリング周波数を上限として、モー
ド切替／タイミング制御部１３７において生成するサン
プリングクロックを分配した周波数である。
【００７１】従って、上述のｆin、ｆADC、Ｍは、図１
に示す磁気記録媒体または磁気ディスクの検査装置１に
おいて、既知の値で且つ検査装置ユーザが意図する値に
設定可能である。
に示す磁気記録媒体または磁気ディスクの検査装置１に
おいて、既知の値で且つ検査装置ユーザが意図する値に
設定可能である。
【００７２】従って、上述の構成によりディスク再生信
号に対して時間軸方向で精細にサンプリングすること
で、例えばディスク再生信号の急峻な変動を高精度にデ
ィジタル値に変換することが可能となり、例えばＴＡＡ
またはＰＷ５０等をディジタル演算処理により算出する
際に高精度なディジタル値データを用いることで磁気デ
ィスクまたは磁気ヘッドの高精度な検査が可能となる。
号に対して時間軸方向で精細にサンプリングすること
で、例えばディスク再生信号の急峻な変動を高精度にデ
ィジタル値に変換することが可能となり、例えばＴＡＡ
またはＰＷ５０等をディジタル演算処理により算出する
際に高精度なディジタル値データを用いることで磁気デ
ィスクまたは磁気ヘッドの高精度な検査が可能となる。
【００７３】すなわち本発明は、磁気記録媒体または磁
気ヘッドの検査装置において、再生した試験データをデ
ィジタル値に変換し、変換したディジタル値より、該磁
気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をして、該磁気
記録媒体の検査を行うことで、磁気記録媒体または磁気
ヘッドに対して詳細で且つ高精度な検査が実現可能であ
る。
気ヘッドの検査装置において、再生した試験データをデ
ィジタル値に変換し、変換したディジタル値より、該磁
気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をして、該磁気
記録媒体の検査を行うことで、磁気記録媒体または磁気
ヘッドに対して詳細で且つ高精度な検査が実現可能であ
る。
【００７４】また本発明は、磁気記録媒体または磁気ヘ
ッドの検査装置において、再生した試験データをディジ
タル値に変換するＮ個（Ｎは整数）の変換手段と、該Ｎ
個の変換手段を１個の変換手段につき所定のサンプリン
グ周波数で動作させるサンプリングクロック制御手段
と、該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持
するＮ個の保持手段と、該Ｎ個の保持手段に保持された
ディジタル値より該磁気記録媒体の磁気特性に関する演
算処理をするデータ処理手段とを備え、該磁気記録媒体
の検査を行うことで、磁気記録媒体または磁気ヘッドに
対して詳細で且つより高精度な検査が実現可能である。
ッドの検査装置において、再生した試験データをディジ
タル値に変換するＮ個（Ｎは整数）の変換手段と、該Ｎ
個の変換手段を１個の変換手段につき所定のサンプリン
グ周波数で動作させるサンプリングクロック制御手段
と、該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持
するＮ個の保持手段と、該Ｎ個の保持手段に保持された
ディジタル値より該磁気記録媒体の磁気特性に関する演
算処理をするデータ処理手段とを備え、該磁気記録媒体
の検査を行うことで、磁気記録媒体または磁気ヘッドに
対して詳細で且つより高精度な検査が実現可能である。
【００７５】また本発明は、磁気記録媒体または磁気ヘ
ッドの検査装置において、上述の一実施の形態のよう
に、 Ｎ個の変換手段とサンプリングクロック再生手段
とＮ個の保持手段とデータ処理手段と解析処理手段とを
配設することで、磁気記録媒体または磁気ヘッドに対し
て高速な検査を実現できる。 したがって、今後のディ
スク再生信号の高周波化に対応して高精度に磁気ディス
クまたは磁気ヘッドの検査を行うことができる。
ッドの検査装置において、上述の一実施の形態のよう
に、 Ｎ個の変換手段とサンプリングクロック再生手段
とＮ個の保持手段とデータ処理手段と解析処理手段とを
配設することで、磁気記録媒体または磁気ヘッドに対し
て高速な検査を実現できる。 したがって、今後のディ
スク再生信号の高周波化に対応して高精度に磁気ディス
クまたは磁気ヘッドの検査を行うことができる。
【００７６】次に、本発明に係る第２の実施の形態につ
いて図５を用いて説明する。図５では、検査対象とする
磁気記録媒体であるディスクに対して、Ｌ個のＲ／Ｗヘ
ッドと各Ｒ／Ｗヘッドに対応した再生アンプとを配設
し、例えば異なるトラックあるいはセクタにおけるディ
スク再生信号を、各Ｒ／Ｗヘッドにより検出して再生ア
ンプにより増幅してＬ個のディスク再生信号を得るとと
もに、Ｎ個配設した複数のＡ／Ｄ変換回路に対してディ
スク再生信号分配回路において分配制御信号により切り
替えスイッチＳＷを制御してディスク再生信号の分配数
および分配先を切り替えて出力し、各Ａ／Ｄ変換回路に
おいてサンプリング周波数ｆADCでディジタル値に変換
してメモリに出力する。
いて図５を用いて説明する。図５では、検査対象とする
磁気記録媒体であるディスクに対して、Ｌ個のＲ／Ｗヘ
ッドと各Ｒ／Ｗヘッドに対応した再生アンプとを配設
し、例えば異なるトラックあるいはセクタにおけるディ
スク再生信号を、各Ｒ／Ｗヘッドにより検出して再生ア
ンプにより増幅してＬ個のディスク再生信号を得るとと
もに、Ｎ個配設した複数のＡ／Ｄ変換回路に対してディ
スク再生信号分配回路において分配制御信号により切り
替えスイッチＳＷを制御してディスク再生信号の分配数
および分配先を切り替えて出力し、各Ａ／Ｄ変換回路に
おいてサンプリング周波数ｆADCでディジタル値に変換
してメモリに出力する。
【００７７】図５では、４個（Ｌ＝４）のＲ／Ｗヘッド
３０１〜３０４と再生アンプ３１１〜３１４とをディス
ク再生信号分配回路１３２に入力し、分配制御信号Ｓ
１，Ｓ２を切り替えて該ディスク再生信号分配回路１３
２の入出力間の接続状態を変更することで、４個（Ｎ＝
４）配設したＡ／Ｄ変換回路１４１〜１４４に対してデ
ィスク再生信号の分配数を可変制御する構成例を示して
いる。
３０１〜３０４と再生アンプ３１１〜３１４とをディス
ク再生信号分配回路１３２に入力し、分配制御信号Ｓ
１，Ｓ２を切り替えて該ディスク再生信号分配回路１３
２の入出力間の接続状態を変更することで、４個（Ｎ＝
４）配設したＡ／Ｄ変換回路１４１〜１４４に対してデ
ィスク再生信号の分配数を可変制御する構成例を示して
いる。
【００７８】またサンプリングクロック分配回路１３３
は、図1のモード切替／タイミング制御部１３７が出力
したサンプリングクロックを用いてカウンタ３３１を動
作させ、読み出しモード時に、Ｎ個配設した比較回路３
３２〜３３５において、該カウンタ３３１の出力とＮ個
の設定値とが一致した時のみサンプリングパルスを出力
するように構成し、該サンプリングクロックをＮ分周し
且つ各サンプリングパルス間の位相差がＮ分周したサン
プリングクロックの周期をＮ等分した時間に等しいＮ相
のクロックに変換する構成とし、１つのＡ／Ｄ変換回路
の動作周波数であるサンプリング周波数ｆADCのＮ倍の
周波数であるサンプリングクロックを該モード切替／タ
イミング制御部１３７により生成することで、各Ａ／Ｄ
変換回路に対してサンプリング周波数がｆADCで且つＮ
相の位相差でサンプリングクロックを供給する。ここで
はサンプリングクロック分配回路１３３としてカウンタ
３３１と比較回路３３２〜３３５を用いた構成を用いて
述べているが、回路構成としてはこれに限らず、例えば
遅延素子等を用いてサンプリングクロックをＮ相の位相
差で且つＮ分配する構成としてもよい。
は、図1のモード切替／タイミング制御部１３７が出力
したサンプリングクロックを用いてカウンタ３３１を動
作させ、読み出しモード時に、Ｎ個配設した比較回路３
３２〜３３５において、該カウンタ３３１の出力とＮ個
の設定値とが一致した時のみサンプリングパルスを出力
するように構成し、該サンプリングクロックをＮ分周し
且つ各サンプリングパルス間の位相差がＮ分周したサン
プリングクロックの周期をＮ等分した時間に等しいＮ相
のクロックに変換する構成とし、１つのＡ／Ｄ変換回路
の動作周波数であるサンプリング周波数ｆADCのＮ倍の
周波数であるサンプリングクロックを該モード切替／タ
イミング制御部１３７により生成することで、各Ａ／Ｄ
変換回路に対してサンプリング周波数がｆADCで且つＮ
相の位相差でサンプリングクロックを供給する。ここで
はサンプリングクロック分配回路１３３としてカウンタ
３３１と比較回路３３２〜３３５を用いた構成を用いて
述べているが、回路構成としてはこれに限らず、例えば
遅延素子等を用いてサンプリングクロックをＮ相の位相
差で且つＮ分配する構成としてもよい。
【００７９】図５では、４倍（Ｎ＝４）のｆADCである
周波数のサンプリングクロックをサンプリングクロック
分配回路１３３に入力してカウンタ３３１を動作させ、
カウンタ３３１の４つの出力状態すなわち00,01,10,11
と設定値とを比較回路３３２〜３３５で比較し、遅延回
路３３０で遅延したサンプリングクロックＣＬＫ０を該
各比較回路３３２〜３３５の一致出力をもとにＡＮＤゲ
ート３３６〜３３９でゲートして、該ＡＮＤゲート３３
６〜３３９の出力をサンプリングクロックＣＬＫ１〜４
として各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４に対して出力す
る構成を示している。
周波数のサンプリングクロックをサンプリングクロック
分配回路１３３に入力してカウンタ３３１を動作させ、
カウンタ３３１の４つの出力状態すなわち00,01,10,11
と設定値とを比較回路３３２〜３３５で比較し、遅延回
路３３０で遅延したサンプリングクロックＣＬＫ０を該
各比較回路３３２〜３３５の一致出力をもとにＡＮＤゲ
ート３３６〜３３９でゲートして、該ＡＮＤゲート３３
６〜３３９の出力をサンプリングクロックＣＬＫ１〜４
として各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４に対して出力す
る構成を示している。
【００８０】なお、各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４の
出力は図1に図示と同様のメモリ１５１〜１５４に供給
され、その出力はデータ処理部１３５および解析処理部
１３６に接続される。
出力は図1に図示と同様のメモリ１５１〜１５４に供給
され、その出力はデータ処理部１３５および解析処理部
１３６に接続される。
【００８１】図６は図５に示した本発明に係る第２の実
施の形態について、図1のモード切替／タイミング制御
部１３７（図５では図示せず）においてスタートセクタ
を判別し読み出しモード信号を有効にしてサンプリング
動作を開始した際のサンプリング回路動作を説明するも
のであり、図５に示した該分配制御信号がＳ１＝‘Ｌ’
で且つＳ２＝‘Ｈ’である場合について示したものであ
る。
施の形態について、図1のモード切替／タイミング制御
部１３７（図５では図示せず）においてスタートセクタ
を判別し読み出しモード信号を有効にしてサンプリング
動作を開始した際のサンプリング回路動作を説明するも
のであり、図５に示した該分配制御信号がＳ１＝‘Ｌ’
で且つＳ２＝‘Ｈ’である場合について示したものであ
る。
【００８２】ここでディスク再生信号ｉｎ１はＲ／Ｗヘ
ッド１０１および再生アンプ３１１からの出力信号であ
りＡ／Ｄ変換回路１４１および１４３に分配して入力さ
れ、ディスク再生信号ｉｎ２はＲ／Ｗヘッド３０２およ
び再生アンプ３１２からの出力信号でありＡ／Ｄ変換回
路１４２および１４４に分配して入力される例を示すも
のであり、すなわちディスク再生信号分配回路１３２に
おいて出力するディスク再生信号が２種類（Ｌ＝２）で
ある例である。また、２つのディスク再生信号ｉｎ１、
ｉｎ２に対してディスク再生信号ｉｎ１の再生セクタ番
号が２であることを判別してサンプリング動作を開始す
る例を示している。
ッド１０１および再生アンプ３１１からの出力信号であ
りＡ／Ｄ変換回路１４１および１４３に分配して入力さ
れ、ディスク再生信号ｉｎ２はＲ／Ｗヘッド３０２およ
び再生アンプ３１２からの出力信号でありＡ／Ｄ変換回
路１４２および１４４に分配して入力される例を示すも
のであり、すなわちディスク再生信号分配回路１３２に
おいて出力するディスク再生信号が２種類（Ｌ＝２）で
ある例である。また、２つのディスク再生信号ｉｎ１、
ｉｎ２に対してディスク再生信号ｉｎ１の再生セクタ番
号が２であることを判別してサンプリング動作を開始す
る例を示している。
【００８３】すなわち各ディスク再生信号に対するサン
プリング動作は、図６に示すように、Ａ／Ｄ変換回路１
４１および１４３に分配したディスク再生信号をそれぞ
れサンプリングクロックＣＬＫ１およびＣＬＫ３のタイ
ミングでサンプリングしてサンプリングデータＤａｔａ
１およびＤａｔａ３に変換し、且つＡ／Ｄ変換回路１４
２および１４４に分配したディスク再生信号をそれぞれ
サンプリングクロックＣＬＫ２およびＣＬＫ４のタイミ
ングでサンプリングしてサンプリングデータＤａｔａ２
およびＤａｔａ４に変換する。
プリング動作は、図６に示すように、Ａ／Ｄ変換回路１
４１および１４３に分配したディスク再生信号をそれぞ
れサンプリングクロックＣＬＫ１およびＣＬＫ３のタイ
ミングでサンプリングしてサンプリングデータＤａｔａ
１およびＤａｔａ３に変換し、且つＡ／Ｄ変換回路１４
２および１４４に分配したディスク再生信号をそれぞれ
サンプリングクロックＣＬＫ２およびＣＬＫ４のタイミ
ングでサンプリングしてサンプリングデータＤａｔａ２
およびＤａｔａ４に変換する。
【００８４】従って、最終的にディスク再生信号ｉｎ１
はサンプリングデータとしてS1→S3→S5→S7→…の順に
メモリ１５１および１５３（図示せず）に書き込まれ、
またディスク再生信号ｉｎ２はサンプリングデータとし
てS2→S4→S6→S8→…の順にメモリ１５２および１５４
（図示せず）に書き込まれる。
はサンプリングデータとしてS1→S3→S5→S7→…の順に
メモリ１５１および１５３（図示せず）に書き込まれ、
またディスク再生信号ｉｎ２はサンプリングデータとし
てS2→S4→S6→S8→…の順にメモリ１５２および１５４
（図示せず）に書き込まれる。
【００８５】なお、ここでは説明のため２つのディスク
再生信号ｉｎ１、ｉｎ２に対してディスク再生信号ｉｎ
１の再生セクタ番号のみをサンプリング動作の開始判別
に用いているが、実際には各ディスク再生信号に対して
例えば個別にセクタ番号の判別を行い、設定した任意ト
ラックあるいはセクタ区間に対してそれぞれ独立に検査
することも可能である。
再生信号ｉｎ１、ｉｎ２に対してディスク再生信号ｉｎ
１の再生セクタ番号のみをサンプリング動作の開始判別
に用いているが、実際には各ディスク再生信号に対して
例えば個別にセクタ番号の判別を行い、設定した任意ト
ラックあるいはセクタ区間に対してそれぞれ独立に検査
することも可能である。
【００８６】また図５に示すディスク再生信号分配回路
１３２において分配制御信号をＳ１＝“Ｌ”で且つＳ２
＝“Ｌ”に設定した場合、これはディスク再生信号ｉｎ
１〜ｉｎ４を各々４個（Ｎ＝４）配設したＡ／Ｄ変換回
路１４１〜１４４に対して各々１：１で分配することに
なり（Ｌ＝４）、ディスク再生信号ｉｎ１〜ｉｎ４を周
波数ｆADCでサンプリングすることになる。
１３２において分配制御信号をＳ１＝“Ｌ”で且つＳ２
＝“Ｌ”に設定した場合、これはディスク再生信号ｉｎ
１〜ｉｎ４を各々４個（Ｎ＝４）配設したＡ／Ｄ変換回
路１４１〜１４４に対して各々１：１で分配することに
なり（Ｌ＝４）、ディスク再生信号ｉｎ１〜ｉｎ４を周
波数ｆADCでサンプリングすることになる。
【００８７】また図５に示すディスク再生信号分配回路
１３２において分配制御信号をＳ１＝“Ｈ”に設定した
場合、これはディスク再生信号ｉｎ１のみを４個（Ｎ＝
４）配設したＡ／Ｄ変換回路１４１〜１４４に対して分
配することになり、この場合検査装置１の回路動作は図
２に示した回路動作と等しく、ディスク再生信号ｉｎ１
をｆADCの４倍の周波数でサンプリングすることと等し
くなり、従ってディスク再生信号ｉｎ１に対してS1→S2
→S3→S4→S5→…の順にディジタル値に変換することに
なる。
１３２において分配制御信号をＳ１＝“Ｈ”に設定した
場合、これはディスク再生信号ｉｎ１のみを４個（Ｎ＝
４）配設したＡ／Ｄ変換回路１４１〜１４４に対して分
配することになり、この場合検査装置１の回路動作は図
２に示した回路動作と等しく、ディスク再生信号ｉｎ１
をｆADCの４倍の周波数でサンプリングすることと等し
くなり、従ってディスク再生信号ｉｎ１に対してS1→S2
→S3→S4→S5→…の順にディジタル値に変換することに
なる。
【００８８】ここで、各Ａ／Ｄ変換回路１４１〜１４４
のサンプリング周波数をｆADCとしてひとつのディスク
再生信号に対するサンプリング周波数ｆsampleについて
着目すると、ｆsampleは（Ｎ／Ｌ）×ｆADCに等しくな
り、ディスク再生信号に対して分配制御信号を切り替え
ることでサンプリング周波数を可変制御可能となる。
のサンプリング周波数をｆADCとしてひとつのディスク
再生信号に対するサンプリング周波数ｆsampleについて
着目すると、ｆsampleは（Ｎ／Ｌ）×ｆADCに等しくな
り、ディスク再生信号に対して分配制御信号を切り替え
ることでサンプリング周波数を可変制御可能となる。
【００８９】すなわち、上述したように磁気記録媒体ま
たは磁気ヘッドの検査装置においてディスク再生信号周
波数ｆinは制御可能で既知の値であることから、数１に
示した関係を用いて定めたＡ／Ｄ変換回路の並列数Ｎに
対して、ディスク再生信号分配回路においてＬ個のディ
スク再生信号との接続状態を制御することで、ひとつの
ディスク再生信号に対するサンプリング周波数ｆsample
を数２に示す関係をもって制御可能となる。
たは磁気ヘッドの検査装置においてディスク再生信号周
波数ｆinは制御可能で既知の値であることから、数１に
示した関係を用いて定めたＡ／Ｄ変換回路の並列数Ｎに
対して、ディスク再生信号分配回路においてＬ個のディ
スク再生信号との接続状態を制御することで、ひとつの
ディスク再生信号に対するサンプリング周波数ｆsample
を数２に示す関係をもって制御可能となる。
【００９０】
【数２】 ｆsample＝（Ｎ／Ｌ）×ｆADC 従って、例えばディスク再生信号に対して計測目標とす
る周波数成分がＡ／Ｄ変換回路のサンプリング周波数に
対して高い場合に数２に示した関係でＬ＝１すなわち１
個のＲ／Ｗヘッドと再生アンプおよびＮ個のＡ／Ｄ変換
回路とを用いて、高速なサンプリング動作を実現する磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置において、測定
対象とするディスクまたは磁気ヘッドを用いた際に計測
目標とするディスク再生信号の周波数成分がＡ／Ｄ変換
回路のサンプリング周波数に対して高くない場合または
測定精度に余裕がある場合等に、数２に示した関係でＬ
＞１（図５ではＬ＝２）すなわちＬ個のＲ／Ｗヘッドと
再生アンプおよびＮ個のＡ／Ｄ変換回路とを用いること
でディスクの異なったトラックをＬ個の複数ヘッドを用
いて同時に測定が可能となり、ディスクあるいは磁気ヘ
ッドの検査工程におけるスループットの向上が可能とな
る。
る周波数成分がＡ／Ｄ変換回路のサンプリング周波数に
対して高い場合に数２に示した関係でＬ＝１すなわち１
個のＲ／Ｗヘッドと再生アンプおよびＮ個のＡ／Ｄ変換
回路とを用いて、高速なサンプリング動作を実現する磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置において、測定
対象とするディスクまたは磁気ヘッドを用いた際に計測
目標とするディスク再生信号の周波数成分がＡ／Ｄ変換
回路のサンプリング周波数に対して高くない場合または
測定精度に余裕がある場合等に、数２に示した関係でＬ
＞１（図５ではＬ＝２）すなわちＬ個のＲ／Ｗヘッドと
再生アンプおよびＮ個のＡ／Ｄ変換回路とを用いること
でディスクの異なったトラックをＬ個の複数ヘッドを用
いて同時に測定が可能となり、ディスクあるいは磁気ヘ
ッドの検査工程におけるスループットの向上が可能とな
る。
【００９１】また本発明における検査装置では、検査す
るディスク数を限定するものではなく、例えば複数枚の
ディスクに対して複数個の磁気ヘッドと該磁気ヘッドに
対応した再生アンプを用いることで、複数枚ディスクあ
るいは複数磁気ヘッドの同時測定が可能であり、またデ
ィスク検査のスループット向上を図るべくディスクの搬
送装置を有する構成としてもよい。
るディスク数を限定するものではなく、例えば複数枚の
ディスクに対して複数個の磁気ヘッドと該磁気ヘッドに
対応した再生アンプを用いることで、複数枚ディスクあ
るいは複数磁気ヘッドの同時測定が可能であり、またデ
ィスク検査のスループット向上を図るべくディスクの搬
送装置を有する構成としてもよい。
【００９２】ここで図５および図６では、本発明に係る
第２の実施の形態について説明のため、可変周波数発振
回路および試験データの書き込み機能およびディスク再
生波形をディジタル値化したディジタル値データの保持
機能および該ディジタル値データから所望の測定値を算
出する演算処理機能およびタイミング制御機能等につい
て記載をしていないが、これらの機能については図１に
示した本発明に係る第１の実施の形態と同じであり、本
発明に係る磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置で
はこれらの機能を有している。
第２の実施の形態について説明のため、可変周波数発振
回路および試験データの書き込み機能およびディスク再
生波形をディジタル値化したディジタル値データの保持
機能および該ディジタル値データから所望の測定値を算
出する演算処理機能およびタイミング制御機能等につい
て記載をしていないが、これらの機能については図１に
示した本発明に係る第１の実施の形態と同じであり、本
発明に係る磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置で
はこれらの機能を有している。
【００９３】また、図５および図６では説明のため各Ａ
／Ｄ変換回路毎にサンプリングクロックの位相を固定し
て供給する構成としているが、本発明はこれに限定する
ものではなく、例えばディスク再生信号分配回路１３２
への分配制御信号に応じてサンプリングクロック分配回
路１３３において分配するサンプリングクロックの位相
差を切り替える構成としても可能であり、Ｌ個のディス
ク再生信号に対して各々数２に示すサンプリング周波数
でサンプリングすることを実現するものであればよい。
また、分配制御信号の制御すなわち１つの再生信号に対
するＡ／Ｄ変換回路の並列数に応じてサンプリングクロ
ック周波数を可変制御する構成としてもよい。
／Ｄ変換回路毎にサンプリングクロックの位相を固定し
て供給する構成としているが、本発明はこれに限定する
ものではなく、例えばディスク再生信号分配回路１３２
への分配制御信号に応じてサンプリングクロック分配回
路１３３において分配するサンプリングクロックの位相
差を切り替える構成としても可能であり、Ｌ個のディス
ク再生信号に対して各々数２に示すサンプリング周波数
でサンプリングすることを実現するものであればよい。
また、分配制御信号の制御すなわち１つの再生信号に対
するＡ／Ｄ変換回路の並列数に応じてサンプリングクロ
ック周波数を可変制御する構成としてもよい。
【００９４】すなわち本実施の形態では、磁気記録媒体
または磁気ヘッドの検査装置において、該磁気記録媒体
に記録した試験データを読み出して磁気記録媒体媒体ま
たは磁気ヘッドの試験を行う際に、 Ｌ個配設したＲ／
Ｗヘッドおよび再生アンプより出力されるＬ個のディス
ク再生信号をＮ個配設したＡ／Ｄ変換回路に再生信号分
配回路を用いて分配する構成としたことで、複数の再生
信号を並列で且つ別個にディジタル値に変換して処理す
ることで、磁気記録媒体または磁気ヘッド検査の高速化
を実現することができる。
または磁気ヘッドの検査装置において、該磁気記録媒体
に記録した試験データを読み出して磁気記録媒体媒体ま
たは磁気ヘッドの試験を行う際に、 Ｌ個配設したＲ／
Ｗヘッドおよび再生アンプより出力されるＬ個のディス
ク再生信号をＮ個配設したＡ／Ｄ変換回路に再生信号分
配回路を用いて分配する構成としたことで、複数の再生
信号を並列で且つ別個にディジタル値に変換して処理す
ることで、磁気記録媒体または磁気ヘッド検査の高速化
を実現することができる。
【００９５】次に、本発明に係る第３の実施の形態につ
いて説明する。磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装
置では、上述の通りディスク再生信号に対して平均振幅
ＴＡＡおよび平均パルス幅ＰＷ５０を計測することで磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う。ＴＡＡおよ
びＰＷ５０は、ディスク再生波形の振幅およびパルス幅
を計測し、図１１に示す如く例えばディスク１周分につ
いて平均値処理することで得るものである。
いて説明する。磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装
置では、上述の通りディスク再生信号に対して平均振幅
ＴＡＡおよび平均パルス幅ＰＷ５０を計測することで磁
気記録媒体または磁気ヘッドの検査を行う。ＴＡＡおよ
びＰＷ５０は、ディスク再生波形の振幅およびパルス幅
を計測し、図１１に示す如く例えばディスク１周分につ
いて平均値処理することで得るものである。
【００９６】ここで、ディスク再生波形を一定の時間間
隔でサンプリングする場合、ディスク再生波形の時間に
対する電圧変化率すなわち傾きが大きい部分では振幅方
向に関してサンプリング密度が低くなり、またディスク
再生波形の傾きが小さい部分振幅方向に関してサンプリ
ング密度が高くなる。
隔でサンプリングする場合、ディスク再生波形の時間に
対する電圧変化率すなわち傾きが大きい部分では振幅方
向に関してサンプリング密度が低くなり、またディスク
再生波形の傾きが小さい部分振幅方向に関してサンプリ
ング密度が高くなる。
【００９７】例えば図８(1)に示すようなディスク再生
信号では、サンプル値の発生頻度は０［Ｖ］付近とピー
ク値付近とで高くなる。この場合、ディスク再生信号ピ
ーク値付近で最も発生頻度が高いサンプル値は、図１１
に示したディスク再生信号の平均振幅ＴＡＡとほぼ等価
になる。従って、ディスク再生信号サンプル値の発生頻
度を計測し、該発生頻度がピーク値であるサンプル値を
判別することでＴＡＡ計測が可能である。
信号では、サンプル値の発生頻度は０［Ｖ］付近とピー
ク値付近とで高くなる。この場合、ディスク再生信号ピ
ーク値付近で最も発生頻度が高いサンプル値は、図１１
に示したディスク再生信号の平均振幅ＴＡＡとほぼ等価
になる。従って、ディスク再生信号サンプル値の発生頻
度を計測し、該発生頻度がピーク値であるサンプル値を
判別することでＴＡＡ計測が可能である。
【００９８】また、図８(2)に示す如くディスク再生信
号パルス毎にディスク再生信号振幅が閾値電圧よりも大
きい間の時間計測用パルスのパルス数を計測し、該パル
ス数について上述のＴＡＡ計測と同様にパルス数毎の発
生頻度を計測して、発生頻度が最も高い該パルス数を検
出する。ここで該閾値電圧は、前述のＴＡＡ値の５０％
の値を用いる。該時間計測用パルスの発振周波数の逆数
に該パルス数を乗算処理することで得たパルス幅時間は
図１１に示したディスク再生信号の平均パルス幅ＰＷ５
０とほぼ等価になる。従って、ディスク再生信号のパル
ス幅を再生信号パルス毎に計測し、該パルス幅の発生頻
度がピーク値であるパルス幅を判別することでＰＷ５０
計測が可能である。
号パルス毎にディスク再生信号振幅が閾値電圧よりも大
きい間の時間計測用パルスのパルス数を計測し、該パル
ス数について上述のＴＡＡ計測と同様にパルス数毎の発
生頻度を計測して、発生頻度が最も高い該パルス数を検
出する。ここで該閾値電圧は、前述のＴＡＡ値の５０％
の値を用いる。該時間計測用パルスの発振周波数の逆数
に該パルス数を乗算処理することで得たパルス幅時間は
図１１に示したディスク再生信号の平均パルス幅ＰＷ５
０とほぼ等価になる。従って、ディスク再生信号のパル
ス幅を再生信号パルス毎に計測し、該パルス幅の発生頻
度がピーク値であるパルス幅を判別することでＰＷ５０
計測が可能である。
【００９９】図７は、本発明に係る磁気記録媒体または
磁気ヘッドの検査装置において、磁気ディスクに書き込
んだ試験データを再生して磁気ディスクまたは磁気ヘッ
ドの検査を行う際に、上述の計測方式をもとにディスク
再生信号波形の平均振幅ＴＡＡおよび平均パルス幅ＰＷ
５０を計測する装置の構成について示した図である。
磁気ヘッドの検査装置において、磁気ディスクに書き込
んだ試験データを再生して磁気ディスクまたは磁気ヘッ
ドの検査を行う際に、上述の計測方式をもとにディスク
再生信号波形の平均振幅ＴＡＡおよび平均パルス幅ＰＷ
５０を計測する装置の構成について示した図である。
【０１００】すなわち図７に示す磁気記録媒体または磁
気ヘッドの検査装置では、ディスク回転部１０３により
回転動作し且つ試験データを書き込まれた磁気ディスク
１０１からＲ／Ｗヘッド１０２と再生アンプ１３１とを
介して試験データの波形再生を行い、これをＡ／Ｄ変換
回路４０３においてサンプリングクロックＣＬＫ１に従
ってサンプリングしてディジタル値に変換する。
気ヘッドの検査装置では、ディスク回転部１０３により
回転動作し且つ試験データを書き込まれた磁気ディスク
１０１からＲ／Ｗヘッド１０２と再生アンプ１３１とを
介して試験データの波形再生を行い、これをＡ／Ｄ変換
回路４０３においてサンプリングクロックＣＬＫ１に従
ってサンプリングしてディジタル値に変換する。
【０１０１】頻度計測部４０４は、例えば、Ａ／Ｄ変換
回路４０３が出力するディジタル値毎に頻度カウンタを
内部に配設し、サンプリングクロックＣＬＫ１と同一周
波数の頻度カウントクロックをもとに、該Ａ／Ｄ変換回
路４０３が出力したディジタル値に対応した頻度カウン
タのカウント値を増加動作させる。ヒストグラム処理部
４０６はゲート回路からなり、例えばディスク１０１の
１周分の読み出し動作の終了と同時に該頻度計測部４０
４に配設した複数の該頻度カウンタ出力を順次読み出
し、ディスク再生波形振幅付近のピーク値をＴＡＡ計測
値として出力する。
回路４０３が出力するディジタル値毎に頻度カウンタを
内部に配設し、サンプリングクロックＣＬＫ１と同一周
波数の頻度カウントクロックをもとに、該Ａ／Ｄ変換回
路４０３が出力したディジタル値に対応した頻度カウン
タのカウント値を増加動作させる。ヒストグラム処理部
４０６はゲート回路からなり、例えばディスク１０１の
１周分の読み出し動作の終了と同時に該頻度計測部４０
４に配設した複数の該頻度カウンタ出力を順次読み出
し、ディスク再生波形振幅付近のピーク値をＴＡＡ計測
値として出力する。
【０１０２】また図７に示す磁気記録媒体または磁気ヘ
ッドの検査装置では、ディジタルコンパレータ４０８に
おいて該Ａ／Ｄ変換回路４０３の出力値と該ヒストグラ
ム処理部４０４が出力するＴＡＡを５０％の値にした閾
値データとを比較して、ディスク再生信号パルス数と同
一のパルス数であるカウンタイネーブル信号Ｅｎを生成
する。カウンタ４０９は発振回路４０２において生成さ
れた既知の周波数の時間計測用クロックＣＬＫ２と該カ
ウンタイネーブル信号Ｅｎとでカウント動作し、Ｅｎパ
ルス毎にＥｎが有効である期間のＣＬＫ２のパルス数を
計測する。
ッドの検査装置では、ディジタルコンパレータ４０８に
おいて該Ａ／Ｄ変換回路４０３の出力値と該ヒストグラ
ム処理部４０４が出力するＴＡＡを５０％の値にした閾
値データとを比較して、ディスク再生信号パルス数と同
一のパルス数であるカウンタイネーブル信号Ｅｎを生成
する。カウンタ４０９は発振回路４０２において生成さ
れた既知の周波数の時間計測用クロックＣＬＫ２と該カ
ウンタイネーブル信号Ｅｎとでカウント動作し、Ｅｎパ
ルス毎にＥｎが有効である期間のＣＬＫ２のパルス数を
計測する。
【０１０３】頻度計測部４０５は、例えば該カウンタ４
０９が出力する離散値毎に頻度カウンタを内部に配設
し、該カウンタイネーブル信号Ｅｎを頻度カウントクロ
ックとして、該カウンタ４０９が出力した離散値に対応
した頻度カウンタのカウント値を増加動作させる。ヒス
トグラム処理部４０７はゲート回路からなり、例えばデ
ィスク１０１の１周分の読み出し動作の終了と同時に該
頻度計測部４０５に配設した複数の該頻度カウンタ出力
を順次読み出し、該頻度カウンタ出力値が最大である該
頻度カウンタに対応する該カウンタ値をＰＷ計測値とし
て出力する。
０９が出力する離散値毎に頻度カウンタを内部に配設
し、該カウンタイネーブル信号Ｅｎを頻度カウントクロ
ックとして、該カウンタ４０９が出力した離散値に対応
した頻度カウンタのカウント値を増加動作させる。ヒス
トグラム処理部４０７はゲート回路からなり、例えばデ
ィスク１０１の１周分の読み出し動作の終了と同時に該
頻度計測部４０５に配設した複数の該頻度カウンタ出力
を順次読み出し、該頻度カウンタ出力値が最大である該
頻度カウンタに対応する該カウンタ値をＰＷ計測値とし
て出力する。
【０１０４】ここでＰＷ計測値は該時間測定用クロック
ＣＬＫ２のパルス数で与えられるが、該時間測定用クロ
ックＣＬＫ２の発振周波数が既知であることから、制御
部に配設したＣＰＵ（図示せず）等により該時間計測用
クロックＣＬＫ２の発振周波数の逆数に該パルス数を乗
算処理することでＰＷ値を得る。
ＣＬＫ２のパルス数で与えられるが、該時間測定用クロ
ックＣＬＫ２の発振周波数が既知であることから、制御
部に配設したＣＰＵ（図示せず）等により該時間計測用
クロックＣＬＫ２の発振周波数の逆数に該パルス数を乗
算処理することでＰＷ値を得る。
【０１０５】上述の説明では頻度計測部４０４、４０５
において複数のカウンタを用いる構成について述べてい
るが、本発明はこれに限定するものではなく、例えば図
９に示すようにメモリ５１１、５２１並びに加算回路５
１２、５２２を用いた構成としてもよい。
において複数のカウンタを用いる構成について述べてい
るが、本発明はこれに限定するものではなく、例えば図
９に示すようにメモリ５１１、５２１並びに加算回路５
１２、５２２を用いた構成としてもよい。
【０１０６】すなわちＴＡＡ計測においてはＡ／Ｄ変換
回路４０３で変換されたディスク再生信号の離散値をも
とに、メモリ５１１を用いて該ディジタル値に対応した
該メモリ５１１のアドレスに書き込まれたデータを加算
回路５１２を用いて加算して同じアドレスに書き込むこ
とで頻度を計測することも可能である。ＰＷ５０計測に
ついても、メモリ５２１を用いてカウンタ５２５の出力
値に対応した該メモリ５２１のアドレスに書き込まれた
データを加算回路５２２を用いて加算して同じアドレス
に書き込むことで頻度を計測することも可能である。
回路４０３で変換されたディスク再生信号の離散値をも
とに、メモリ５１１を用いて該ディジタル値に対応した
該メモリ５１１のアドレスに書き込まれたデータを加算
回路５１２を用いて加算して同じアドレスに書き込むこ
とで頻度を計測することも可能である。ＰＷ５０計測に
ついても、メモリ５２１を用いてカウンタ５２５の出力
値に対応した該メモリ５２１のアドレスに書き込まれた
データを加算回路５２２を用いて加算して同じアドレス
に書き込むことで頻度を計測することも可能である。
【０１０７】また、図９では任意の閾値データを保持し
たレジスタ５２３とＡ／Ｄ変換回路４０３との出力をデ
ィジタルコンパレータ５２４を用いて比較することでカ
ウンタ５２５の動作制御を行う構成例であり，すなわち
本構成によれば任意の閾値に対する平均パルス幅を計測
することが可能であり、またＰＷ５０を計測する際には
前述のＴＡＡ測定値の５０％のデータをレジスタ５２３
に設定して計測すればよいことは言うまでもない。
たレジスタ５２３とＡ／Ｄ変換回路４０３との出力をデ
ィジタルコンパレータ５２４を用いて比較することでカ
ウンタ５２５の動作制御を行う構成例であり，すなわち
本構成によれば任意の閾値に対する平均パルス幅を計測
することが可能であり、またＰＷ５０を計測する際には
前述のＴＡＡ測定値の５０％のデータをレジスタ５２３
に設定して計測すればよいことは言うまでもない。
【０１０８】また特に図示してはいないが、ＰＷ５０に
ついては、試験データ読み出し期間中におけるカウンタ
イネーブル信号Ｅｎのパルス幅の合計とパルス数とを計
測し、読み出し終了後に該パルス幅の合計値を該パルス
数で除算して平均値処理することでも計測可能である。
ついては、試験データ読み出し期間中におけるカウンタ
イネーブル信号Ｅｎのパルス幅の合計とパルス数とを計
測し、読み出し終了後に該パルス幅の合計値を該パルス
数で除算して平均値処理することでも計測可能である。
【０１０９】また、図７および図８および図９では、本
発明に係る第３の実施の形態について説明のため、試験
データの書き込み機能およびタイミング制御機能等につ
いて記載をしていないが、これらの機能については図１
に示した本発明に係る第１の実施の形態と同じであり、
本発明に係る磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置
ではこれらの機能を有する。
発明に係る第３の実施の形態について説明のため、試験
データの書き込み機能およびタイミング制御機能等につ
いて記載をしていないが、これらの機能については図１
に示した本発明に係る第１の実施の形態と同じであり、
本発明に係る磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置
ではこれらの機能を有する。
【０１１０】すなわち本発明は、ディスク再生波形の平
均振幅ＴＡＡあるいは任意の閾値レベルにおける平均パ
ルス幅ＰＷを計測する磁気記録媒体または磁気ヘッドの
検査装置において、計測値の頻度を求めることでＴＡＡ
とＰＷとの両方あるいはいずれかを統計的に処理して計
測することを特徴とする。
均振幅ＴＡＡあるいは任意の閾値レベルにおける平均パ
ルス幅ＰＷを計測する磁気記録媒体または磁気ヘッドの
検査装置において、計測値の頻度を求めることでＴＡＡ
とＰＷとの両方あるいはいずれかを統計的に処理して計
測することを特徴とする。
【０１１１】
【発明の効果】本発明によれば、磁気記録媒体または磁
気ヘッドの検査装置において、磁気記録媒体よりの再生
の試験データをディジタル値に変換し、変換したディジ
タル値より、該磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処
理をすることで、磁気ディスクまたは磁気ヘッドに対し
て詳細で且つ高精度な検査を実現できる効果を奏する。
気ヘッドの検査装置において、磁気記録媒体よりの再生
の試験データをディジタル値に変換し、変換したディジ
タル値より、該磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処
理をすることで、磁気ディスクまたは磁気ヘッドに対し
て詳細で且つ高精度な検査を実現できる効果を奏する。
【０１１２】また、本発明によれば、磁気記録媒体より
の再生の試験データを、Ｎ個の変換手段を用いて高速に
ディジタル値に変換し、変換したディジタル値より、該
磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をすること
で、磁気ディスクまたは磁気ヘッドに対して詳細で且つ
より高精度な検査を実現でき、今後の磁気ディスク装置
の高周波化に対応した検査を実現できる効果を奏する。
の再生の試験データを、Ｎ個の変換手段を用いて高速に
ディジタル値に変換し、変換したディジタル値より、該
磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をすること
で、磁気ディスクまたは磁気ヘッドに対して詳細で且つ
より高精度な検査を実現でき、今後の磁気ディスク装置
の高周波化に対応した検査を実現できる効果を奏する。
【０１１３】また本発明によれば、磁気記録媒体または
磁気ヘッドの検査装置において、複数の再生試験データ
を、個別にディジタル値に変換して処理することで磁気
記録媒体または磁気ヘッドの高速な検査を実現できる効
果を奏する。
磁気ヘッドの検査装置において、複数の再生試験データ
を、個別にディジタル値に変換して処理することで磁気
記録媒体または磁気ヘッドの高速な検査を実現できる効
果を奏する。
【０１１４】また本発明によれば、磁気記録媒体または
磁気ヘッドの検査装置において、再生試験データの平均
振幅値ＴＡＡ並びに平均パルス幅ＰＷ５０を高速に計測
することが実現できる効果を奏する。
磁気ヘッドの検査装置において、再生試験データの平均
振幅値ＴＡＡ並びに平均パルス幅ＰＷ５０を高速に計測
することが実現できる効果を奏する。
【図１】本発明に係る磁気記録媒体または磁気ヘッドの
検査装置における第一の実施の形態を示す図である。
検査装置における第一の実施の形態を示す図である。
【図２】図１の動作を示す図である。
【図３】ディスク再生信号の波高値およびパルス幅につ
いての統計演算処理を説明する図である。
いての統計演算処理を説明する図である。
【図４】図１の第一の実施形態について、複数のＡ／Ｄ
変換回路を用いてディスク再生信号をサンプリングして
ディジタル値に変換する動作を説明する図である。
変換回路を用いてディスク再生信号をサンプリングして
ディジタル値に変換する動作を説明する図である。
【図５】本発明に係る磁気記録媒体または磁気ヘッドの
検査装置において第二の実施の形態を示す図である。
検査装置において第二の実施の形態を示す図である。
【図６】図２の第二の実施の形態について、複数のＡ／
Ｄ変換回路を用いて、複数のディスク再生信号を個別に
サンプリングしてディジタル値に変換する動作を説明す
る図である。
Ｄ変換回路を用いて、複数のディスク再生信号を個別に
サンプリングしてディジタル値に変換する動作を説明す
る図である。
【図７】本発明に係る磁気記録媒体または磁気ヘッドの
検査装置において第三の実施の形態を示す図である。
検査装置において第三の実施の形態を示す図である。
【図８】図７の第三の実施の形態について、ディスク再
生波形の平均振幅値ＴＡＡおよび平均パルス幅ＰＷ５０
を計測する原理を説明する図である。
生波形の平均振幅値ＴＡＡおよび平均パルス幅ＰＷ５０
を計測する原理を説明する図である。
【図９】図７の第三の実施の形態についての、別の実施
の形態を示す図である。
の形態を示す図である。
【図１０】従来の磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査
装置の構成を示す図である。
装置の構成を示す図である。
【図１１】ディスク再生信号に対するディスク再生信号
平均振幅（ＴＡＡ）およびＴＡＡの５０％点におけるデ
ィスク再生信号平均パルス幅（ＰＷ５０）の定義を説明
する図である。
平均振幅（ＴＡＡ）およびＴＡＡの５０％点におけるデ
ィスク再生信号平均パルス幅（ＰＷ５０）の定義を説明
する図である。
１…磁気ディスク／磁気ヘッド検査装置、２…ホストコ
ンピュータ、１０１…ディスク、１０２…Ｒ／Ｗヘッ
ド、１０３…ディスク回転部、１０４…ディスク回転制
御部、１１０…制御部、１１１…ＣＰＵ、１１２…メモ
リ、１１３、１１４…可変周波数発振回路、１２１…書
き込みデータ生成部、１２２…書込アンプ、１３１…再
生アンプ、１３２…ディスク再生信号分配回路、１３３
…サンプリングクロック分配回路、１３４…メモリ制御
信号分配回路、１３５…データ処理部、１３６…解析処
理部、１３７…モード切替／タイミング制御部、１４
１、１４２、１４３、１４４…Ａ／Ｄ変換回路、１５
１、１５２、１５３、１５４…メモリ、１６０…表示装
置、３０１、３０２、３０３、３０４…Ｒ／Ｗヘッド、
３１１、３１２、３１３、３１４…再生アンプ、３２
１、３２２、３２３、３２４、３２５、３２６、３２
７、３２８…バッファアンプ（Ｂｕｆ）、３３０…遅延
回路、３３１…カウンタ、３３２、３３３、３３４、３
３５…比較回路、３３６、３３７、３３８、３３９…Ａ
ＮＤゲート、４０１、４０２…発振回路、４０３…Ａ／
Ｄ変換回路、４０４、４０５…頻度計測部、４０６、４
０７…ヒストグラム処理部、４０８…ディジタルコンパ
レータ、４０９…カウンタ、４１０…係数回路、５０
１、５０２…発振回路、５０３、５０４…遅延回路、５
１１、５２１…メモリ、５２１、５２２…加算回路、５
２３…レジスタ、５２４…ディジタルコンパレータ、５
２５…カウンタ、６０１…書込／読出アンプ、６０２…
テスト信号発生回路、６０３…書込制御回路、６０４…
レベル調整用アンプ（ＡＭＰ）、６０５…ＴＡＡ検出回
路、６０６…スライスレベル作成回路、６０７…ＰＷ検
出回路、６０８…波形比較回路、６０９…エラー検出回
路、６１０…エラーメモリ。
ンピュータ、１０１…ディスク、１０２…Ｒ／Ｗヘッ
ド、１０３…ディスク回転部、１０４…ディスク回転制
御部、１１０…制御部、１１１…ＣＰＵ、１１２…メモ
リ、１１３、１１４…可変周波数発振回路、１２１…書
き込みデータ生成部、１２２…書込アンプ、１３１…再
生アンプ、１３２…ディスク再生信号分配回路、１３３
…サンプリングクロック分配回路、１３４…メモリ制御
信号分配回路、１３５…データ処理部、１３６…解析処
理部、１３７…モード切替／タイミング制御部、１４
１、１４２、１４３、１４４…Ａ／Ｄ変換回路、１５
１、１５２、１５３、１５４…メモリ、１６０…表示装
置、３０１、３０２、３０３、３０４…Ｒ／Ｗヘッド、
３１１、３１２、３１３、３１４…再生アンプ、３２
１、３２２、３２３、３２４、３２５、３２６、３２
７、３２８…バッファアンプ（Ｂｕｆ）、３３０…遅延
回路、３３１…カウンタ、３３２、３３３、３３４、３
３５…比較回路、３３６、３３７、３３８、３３９…Ａ
ＮＤゲート、４０１、４０２…発振回路、４０３…Ａ／
Ｄ変換回路、４０４、４０５…頻度計測部、４０６、４
０７…ヒストグラム処理部、４０８…ディジタルコンパ
レータ、４０９…カウンタ、４１０…係数回路、５０
１、５０２…発振回路、５０３、５０４…遅延回路、５
１１、５２１…メモリ、５２１、５２２…加算回路、５
２３…レジスタ、５２４…ディジタルコンパレータ、５
２５…カウンタ、６０１…書込／読出アンプ、６０２…
テスト信号発生回路、６０３…書込制御回路、６０４…
レベル調整用アンプ（ＡＭＰ）、６０５…ＴＡＡ検出回
路、６０６…スライスレベル作成回路、６０７…ＰＷ検
出回路、６０８…波形比較回路、６０９…エラー検出回
路、６１０…エラーメモリ。
フロントページの続き (72)発明者 折橋 律郎 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 中條 徳男 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 高橋 昌義 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 林 良彦 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 本間 真司 東京都渋谷区東三丁目16番３号 日立電子 エンジニアリング株式会社内 Ｆターム(参考） 5D091 AA08 BB06 CC01 FF02 FF04 HH20 JJ30
Claims (32)
- 【請求項１】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用デ
ータを記録するとともに、記録した試験データを該磁気
ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記録
媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換し、変換した
ディジタル値より、該磁気記録媒体の磁気特性に関する
演算処理をして、該磁気記録媒体の検査を行うことを特
徴とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項２】請求項１記載において、前記演算処理は、
該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験デー
タの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回
る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間につ
いての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは累
積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析演算
処理であることを特徴とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項３】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用デ
ータを記録するとともに、記録した試験データを該磁気
ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記録
媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換する変換手段
と、該変換手段で変換されたディジタル値を保持する保
持手段と、該保持手段に保持されたディジタル値より該
磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ
処理手段とを備え、該磁気記録媒体の検査を行うことを
特徴とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項４】請求項３記載において、前記演算処理は、
該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験デー
タの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回
る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間につ
いての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは累
積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析演算
処理であることを特徴とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項５】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用デ
ータを記録するとともに、記録した試験データを該磁気
ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記録
媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換するＮ個（Ｎ
は整数）の変換手段と、該Ｎ個の変換手段を１個の変換
手段につき所定のサンプリング周波数で動作させるサン
プリングクロック制御手段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段とを備え、該磁気記録媒体の検査を行うことを特徴
とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項６】請求項５記載において、前記演算処理は、
該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験デー
タの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回
る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間につ
いての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは累
積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析演算
処理であることを特徴とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項７】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用デ
ータを記録するとともに、記録した試験データを該磁気
ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記録
媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換するＮ個の変
換手段と、 該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につきサンプリング
周波数ｆADCで動作させるサンプリングクロック制御手
段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、 該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の判定処理
をする解析処理手段とを備え、且つ、 再生した試験データの周波数ｆinに対して目標とするサ
ンプリング周波数ｆsとの比であるＭと、該周波数ｆin
と、該変換手段を動作させるサンプリング周波数ｆADC
とが、 Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係で且つ整数であることを特徴とする磁気記録
媒体の検査装置。 - 【請求項８】請求項７記載において、前記演算処理は、
該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験デー
タの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回
る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間につ
いての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは累
積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析演算
処理であることを特徴とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項９】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用デ
ータを記録するとともに、記録した試験データを該磁気
ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記録
媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 所望の周波数で発振する第１の発振手段の出力により、
該磁気記録媒体を保持する保持回転手段を回転動作させ
る回転制御手段と、 該保持回転手段上の該磁気記録媒体に対向して配置され
る磁気ヘッドにより、該磁気記録媒体に該試験用データ
を記録する記録手段と、 該磁気ヘッドにより該磁気記録媒体に記録された該試験
用データを再生する再生手段と、 再生した該試験データをディジタル値に変換するＮ個の
変換手段と、 再生した該試験データを該Ｎ個の変換手段に分配して供
給する再生信号分配手段と、 所望の周波数で発振する第２の発振手段に基づくクロッ
ク信号により、該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につ
きサンプリング周波数ｆADCで動作させるサンプリング
クロック分配手段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、 該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の判定処理
をする解析処理手段と、 該第１の発振手段と該第２の発振手段の発振周波数およ
び該変換手段を動作させるサンプリング周波数とを可変
する制御手段とを備え、且つ、 再生した試験データの周波数ｆinに対して目標とするサ
ンプリング周波数ｆsとの比であるＭと、該周波数ｆin
と、該変換手段を動作させるサンプリング周波数ｆADC
とが、 Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係で且つ整数であることを特徴とする磁気記録
媒体の検査装置。 - 【請求項１０】請求項９記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値の任意の数における、波高
値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回る時間に
ついて、平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは
累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析演
算処理であることを特徴とする磁気記録媒体の検査装
置。 - 【請求項１１】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記
録媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 所望の周波数で発振する第１の発振手段の出力により、
該磁気記録媒体を保持する保持回転手段を回転動作させ
る回転制御手段と、 該回転制御手段よりの回転数を表すインデックス信号お
よび回転位置を表す該エンコード信号をもとに、スター
ト信号およびストップ信号に応答して、書き込み開始お
よび終了を表す書き込みモード信号と、読み出し開始お
よび終了を表す読み出しモード信号とを生成するモード
およびタイミング制御手段と、 該書き込みモード信号をもとに、該保持回転手段上の該
磁気記録媒体に対向して配置される磁気ヘッドにより、
該磁気記録媒体に該試験用データを記録する記録手段
と、 該読み出しモード信号をもとに、該磁気ヘッドにより該
磁気記録媒体に記録された該試験用データを再生する再
生手段と、 再生した該試験データをディジタル値に変換するＮ個の
変換手段と、 再生した該試験データを該Ｎ個の変換手段に分配して供
給する再生信号分配手段と、 所望の周波数で発振する第２の発振手段に基づくクロッ
ク信号により、該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につ
きサンプリング周波数ｆADCで動作させるサンプリング
クロック分配手段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、 該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の判定処理
をする解析処理手段と、 該第１の発振手段と該第２の発振手段の発振周波数およ
び該変換手段を動作させるサンプリング周波数とを可変
する制御手段とを備え、且つ、 再生した試験データの周波数ｆinに対して目標とするサ
ンプリング周波数ｆsとの比であるＭと、該周波数ｆin
と、該変換手段を動作させるサンプリング周波数ｆADC
とが、 Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係で且つ整数であることを特徴とする磁気記録
媒体の検査装置。 - 【請求項１２】請求項１１記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値の任意の数における、波高
値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回る時間に
ついて、平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは
累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析演
算処理であることを特徴とする磁気記録媒体の検査装
置。 - 【請求項１３】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記
録媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 該磁気記録媒体に対向して配置されるＬ個の磁気ヘッド
により、該磁気記録媒体に記録された試験データをＬ個
（Ｌは２以上の整数）の個別な信号として再生するＬ個
の再生手段と、 再生した試験データをディジタル値に変換するＮ個（Ｎ
は２以上の整数）の変換手段と、 再生した該試験データを所望の接続状態にして該Ｎ個の
変換手段に分配して供給する再生信号分配手段と、 該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につき所定のサンプ
リング周波数で動作させるサンプリングクロック制御手
段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段とを備え、該磁気記録媒体の検査を行うことを特徴
とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項１４】請求項１３記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験
データの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは
下回る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間
についての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるい
は累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析
演算処理であることを特徴とする磁気記録媒体の検査装
置。 - 【請求項１５】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記
録媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換し、変換した
ディジタル値より、該磁気記録媒体の磁気特性に関する
演算処理をして、該磁気記録媒体の検査を行う磁気記録
媒体の検査装置であって、 該演算処理は、該変換したディジタル値をもとに複数の
計数手段を選択的に計数動作させる第１の頻度計測手段
と、該第１の頻度計測手段の出力をもとにヒストグラム
演算処理により再生波形の平均振幅値を計測して出力す
る第１のヒストグラム処理手段と、 該第１のヒストグラム処理手段の出力に１／２の計数を
乗算する係数手段と、 該係数手段の出力と該変換手段の出力とを大小比較して
比較結果を出力する比較手段と、 該比較手段の出力が所定のレベルである期間においての
み、所望の周波数で発振動作するクロック信号パルスを
計数動作するパルス計数手段と、 該比較手段の出力の変化に基づいて動作し該パルス計数
手段の出力したパルスをもとに複数の計数手段を選択的
に計数動作させる第２の頻度計測手段と、 該第１の頻度計測手段の出力をもとにヒストグラム演算
処理により再生波形の平均パルス幅を計測して出力する
第２のヒストグラム処理手段とを備え、 所望の期間における該再生波形の平均振幅値および平均
パルス幅を計測することにより、該磁気記録媒体の検査
を行うことを特徴とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項１６】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気記
録媒体の検査を行う磁気記録媒体の検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換し、変換した
ディジタル値より、該磁気記録媒体の磁気特性に関する
演算処理をして、該磁気記録媒体の検査を行う磁気記録
媒体の検査装置であって、 該演算処理は、該変換したディジタル値をもとに、該デ
ィジタル値に対応した第１のメモリのアドレスに書き込
まれたデータを第１の加算回路を用いて加算して同じア
ドレスに書き込むことで頻度を計測する第１の頻度値保
持手段と、 該第１の頻度値保持手段の出力をもとにヒストグラム演
算処理により再生波形の平均振幅値を計測して出力する
第１のヒストグラム処理手段と、 所定の閾値データを保持する閾値保持手段と、 該閾値保持手段の出力と該変換手段の出力とを比較して
比較結果を出力する比較手段と、 該比較手段の出力が所定のレベルである期間においての
み、所望の周波数のクロック信号パルスを計数動作する
パルス計数手段と、 該パルス計数手段の出力をもとに、該ディジタル値に対
応した第２のメモリのアドレスに書き込まれたデータを
第２の加算回路を用いて加算して同じアドレスに書き込
むことで頻度を計測する第２の頻度値保持手段と、 該第２の頻度値保持手段の出力をもとにヒストグラム演
算処理により所定の閾値における再生波形の平均パルス
値を計測して出力する第２のヒストグラム処理手段とを
備え、 所望の期間における該再生波形の平均振幅値および平均
パルス幅を計測することにより、該磁気記録媒体の検査
を行うことを特徴とする磁気記録媒体の検査装置。 - 【請求項１７】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換し、変換した
ディジタル値より、該磁気記録媒体の磁気特性に関する
演算処理をして、該磁気ヘッドの検査を行うことを特徴
とする磁気ヘッドの検査装置。 - 【請求項１８】請求項１７記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験
データの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは
下回る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間
についての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるい
は累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析
演算処理であることを特徴とする磁気ヘッドの検査装
置。 - 【請求項１９】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換する変換手段
と、該変換手段で変換されたディジタル値を保持する保
持手段と、該保持手段に保持されたディジタル値より該
磁気記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ
処理手段とを備え、該磁気ヘッドの検査を行うことを特
徴とする磁気ヘッドの検査装置。 - 【請求項２０】請求項１９記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験
データの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは
下回る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間
についての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるい
は累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析
演算処理であることを特徴とする磁気ヘッドの検査装
置。 - 【請求項２１】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換するＮ個（Ｎ
は整数）の変換手段と、 該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につき所定のサンプ
リング周波数で動作させるサンプリングクロック制御手
段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段とを備え、該磁気ヘッドの検査を行うことを特徴と
する磁気ヘッドの検査装置。 - 【請求項２２】請求項２１記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験
データの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは
下回る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間
についての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるい
は累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析
演算処理であることを特徴とする磁気ヘッドの検査装
置。 - 【請求項２３】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換するＮ個の変
換手段と、 該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につきサンプリング
周波数ｆADCで動作させるサンプリングクロック制御手
段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、 該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の判定処理
をする解析処理手段とを備え、且つ、 再生した試験データの周波数ｆinに対して目標とするサ
ンプリング周波数ｆsとの比であるＭと、該周波数ｆin
と、該変換手段を動作させるサンプリング周波数ｆADC
とが、 Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係で且つ整数であることを特徴とする磁気ヘッ
ドの検査装置。 - 【請求項２４】請求項２３記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験
データの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは
下回る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間
についての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるい
は累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析
演算処理であることを特徴とする磁気ヘッドの検査装
置。 - 【請求項２５】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 所望の周波数で発振する第１の発振手段の出力により、
該磁気記録媒体を保持する保持回転手段を回転動作させ
る回転制御手段と、 該保持回転手段上の該磁気記録媒体に対向して配置され
る磁気ヘッドにより、該磁気記録媒体に該試験用データ
を記録する記録手段と、 該磁気ヘッドにより該磁気記録媒体に記録された該試験
用データを再生する再生手段と、 再生した該試験データをディジタル値に変換するＮ個の
変換手段と、 再生した該試験データを該Ｎ個の変換手段に分配して供
給する再生信号分配手段と、 所望の周波数で発振する第２の発振手段に基づくクロッ
ク信号により、該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につ
きサンプリング周波数ｆADCで動作させるサンプリング
クロック分配手段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、 該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の判定処理
をする解析処理手段と、 該第１の発振手段と該第２の発振手段の発振周波数およ
び該変換手段を動作させるサンプリング周波数とを可変
する制御手段とを備え、且つ、 再生した試験データの周波数ｆinに対して目標とするサ
ンプリング周波数ｆsとの比であるＭと、該周波数ｆin
と、該変換手段を動作させるサンプリング周波数ｆADC
とが、 Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係で且つ整数であることを特徴とする磁気ヘッ
ドの検査装置。 - 【請求項２６】請求項２５記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値を用いて任意の該再生試験
データの波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは
下回る閾値時間を計測し、該波高値あるいは該閾値時間
についての平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるい
は累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析
演算処理であることを特徴とする磁気ヘッドの検査装
置。 - 【請求項２７】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 所望の周波数で発振する第１の発振手段の出力により、
該磁気記録媒体を保持する保持回転手段を回転動作させ
る回転制御手段と、 該回転制御手段よりの回転数を表すインデックス信号お
よび回転位置を表す該エンコード信号をもとに、スター
ト信号およびストップ信号に応答して、書き込み開始お
よび終了を表す書き込みモード信号と、読み出し開始お
よび終了を表す読み出しモード信号とを生成するモード
およびタイミング制御手段と、 該書き込みモード信号をもとに、該保持回転手段上の該
磁気記録媒体に対向して配置される磁気ヘッドにより、
該磁気記録媒体に該試験用データを記録する記録手段
と、 該読み出しモード信号をもとに、該磁気ヘッドにより該
磁気記録媒体に記録された該試験用データを再生する再
生手段と、 再生した該試験データをディジタル値に変換するＮ個の
変換手段と、 再生した該試験データを該Ｎ個の変換手段に分配して供
給する再生信号分配手段と、 所望の周波数で発振する第２の発振手段に基づくクロッ
ク信号により、該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につ
きサンプリング周波数ｆADCで動作させるサンプリング
クロック分配手段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段と、 該データ処理手段の出力より該磁気記録媒体の判定処理
をする解析処理手段と、 該第１の発振手段と該第２の発振手段の発振周波数およ
び該変換手段を動作させるサンプリング周波数とを可変
する制御手段とを備え、且つ、 再生した試験データの周波数ｆinに対して目標とするサ
ンプリング周波数ｆｓとの比であるＭと、該周波数ｆｉ
ｎと、該変換手段を動作させるサンプリング周波数ｆAD
Cとが、 Ｎ≧ Ｍ×ｆin／ｆADC である関係で且つ整数であることを特徴とする磁気ヘッ
ドの検査装置。 - 【請求項２８】請求項２７記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値の任意の数における、波高
値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回る時間に
ついて、平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは
累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析演
算処理であることを特徴とする磁気ヘッドの検査装置。 - 【請求項２９】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 該磁気記録媒体に対向して配置されるＬ個の磁気ヘッド
により、該磁気記録媒体に記録された試験データをＬ個
（Ｌは２以上の整数）の個別な信号として再生するＬ個
の再生手段と、 再生した試験データをディジタル値に変換するＮ個（Ｎ
は２以上の整数）の変換手段と、 再生した該試験データを所望の接続状態にして該Ｎ個の
変換手段に分配して供給する再生信号分配手段と、 該Ｎ個の変換手段を１個の変換手段につき所定のサンプ
リング周波数で動作させるサンプリングクロック制御手
段と、 該Ｎ個の変換手段で変換されたディジタル値を保持する
Ｎ個の保持手段と、 該Ｎ個の保持手段に保持されたディジタル値より該磁気
記録媒体の磁気特性に関する演算処理をするデータ処理
手段とを備え、該磁気ヘッドの検査を行うことを特徴と
する磁気ヘッドの検査装置。 - 【請求項３０】請求項２９記載において、前記演算処理
は、該変換したディジタル値の任意の数における、波高
値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは下回る時間に
ついて、平均値あるいは分散値あるいは偏差値あるいは
累積度数値を算出する統計演算処理または周波数解析演
算処理であることを特徴とする磁気ヘッドの検査装置。
前記演算処理は、該変換したディジタル値の任意の数に
おける、波高値あるいは任意の閾値を越えるかもしくは
下回る時間について、平均値あるいは分散値あるいは偏
差値あるいは累積度数値を算出する統計演算処理または
周波数解析演算処理であることを特徴とする磁気ヘッド
の検査装置。 - 【請求項３１】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換し、変換した
ディジタル値より、該磁気記録媒体の磁気特性に関する
演算処理をして、該磁気記録媒体の検査を行う磁気ヘッ
ドの検査装置であって、 該演算処理は、該変換したディジタル値をもとに複数の
計数手段を選択的に計数動作させる第１の頻度計測手段
と、該第１の頻度計測手段の出力をもとにヒストグラム
演算処理により再生波形の平均振幅値を計測して出力す
る第１のヒストグラム処理手段と、 該第１のヒストグラム処理手段の出力に１／２の計数を
乗算する係数手段と、 該係数手段の出力と該変換手段の出力とを大小比較して
比較結果を出力する比較手段と、 該比較手段の出力が所定のレベルである期間においての
み、所望の周波数で発振動作するクロック信号パルスを
計数動作するパルス計数手段と、 該比較手段の出力の変化に基づいて動作し該パルス計数
手段の出力したパルスをもとに複数の計数手段を選択的
に計数動作させる第２の頻度計測手段と、 該第１の頻度計測手段の出力をもとにヒストグラム演算
処理により再生波形の平均パルス幅を計測して出力する
第２のヒストグラム処理手段とを備え、 所望の期間における該再生波形の平均振幅値および平均
パルス幅を計測することにより、該磁気ヘッドの検査を
行うことを特徴とする磁気ヘッドの検査装置。 - 【請求項３２】磁気記録媒体に磁気ヘッドにより試験用
データを記録するとともに、記録した試験データを該磁
気ヘッドにより再生し所望の処理をすることで該磁気ヘ
ッドの検査を行う磁気ヘッドの検査装置において、 再生した試験データをディジタル値に変換し、変換した
ディジタル値より、該磁気記録媒体の磁気特性に関する
演算処理をして、該磁気記録媒体の検査を行う磁気ヘッ
ドの検査装置であって、 該演算処理は、該変換したディジタル値をもとに、該デ
ィジタル値に対応した第１のメモリのアドレスに書き込
まれたデータを第１の加算回路を用いて加算して同じア
ドレスに書き込むことで頻度を計測する第１の頻度値保
持手段と、 該第１の頻度値保持手段の出力をもとにヒストグラム演
算処理により再生波形の平均振幅値を計測して出力する
第１のヒストグラム処理手段と、 所定の閾値データを保持する閾値保持手段と、 該閾値保持手段の出力と該変換手段の出力とを比較して
比較結果を出力する比較手段と、 該比較手段の出力が所定のレベルである期間においての
み、所望の周波数のクロック信号パルスを計数動作する
パルス計数手段と、 該パルス計数手段の出力をもとに、該ディジタル値に対
応した第２のメモリのアドレスに書き込まれたデータを
第２の加算回路を用いて加算して同じアドレスに書き込
むことで頻度を計測する第２の頻度値保持手段と、 該第２の頻度値保持手段の出力をもとにヒストグラム演
算処理により所定の閾値における再生波形の平均パルス
値を計測して出力する第２のヒストグラム処理手段とを
備え、 所望の期間における該再生波形の平均振幅値および平均
パルス幅を計測することにより、該磁気ヘッドの検査を
行うことを特徴とする磁気ヘッドの検査装置。
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