JPH09270101A

JPH09270101A - 周波数特性測定方法および装置

Info

Publication number: JPH09270101A
Application number: JP7987296A
Authority: JP
Inventors: Satoru Kondo; 悟近藤; Hiroshi Sugiki; 拓杉木; Yoshihide Niifuku; 吉秀新福
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1996-04-02
Filing date: 1996-04-02
Publication date: 1997-10-14

Abstract

(57)【要約】【課題】測定者が使用する条件と同一の条件で周波数
特性を測定する。【解決手段】Ｍ系列パルスジェネレータ１が発生した
特性Ｍ系列の信号は、ＤＡＴシステム４１において、記
録ヘッド６３で磁気テープ７１に記録される。そして、
その磁気テープ７１の再生を行い、その再生信号をＡＤ
変換器３に供給する。演算装置４のＦＦＴ演算器２３，
２６は、ＡＤ変換器３でＡＤ変換された再生信号のうち
の特性Ｍ系列の信号に対応する部分を高速フーリエ変換
し、その演算結果（ＦＦＴデータ）を演算回路２４また
は演算回路２７に出力する。移動平均フィルタ２５は、
演算回路２４，２７によってＦＦＴデータより抽出され
た振幅特性または位相特性に関するデータをスムーシン
グした後、振幅特性信号および位相特性信号として出力
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、周波数特性測定方
法および装置に関し、特に、データの領域に特性Ｍ系列
の信号が記録された記録媒体を再生した信号から、記録
媒体および記録再生装置の周波数特性を算出する周波数
特性測定方法および装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、所定の装置の周波数特性の測定を
行う場合、注目する周波数帯域において、所定の周波数
おきに、正弦波信号を装置に入力し、各周波数における
入力信号に対する出力信号を検出することにより、周波
数帯域の振幅特性や位相特性を測定する。

【０００３】図９は、ＤＡＴ（Digital Audio Tape）シ
ステムの周波数特性を測定する従来の周波数測定装置の
一例を示している。信号発振器８１は、所定の周波数の
正弦波信号を発生し、ＤＡＴシステム４１に出力する。

【０００４】被測定装置であるＤＡＴシステム４１にお
いては、記録アンプ６１は、入力信号を増幅し、ロータ
リトランス６２を介して記録ヘッド６３に出力する。記
録ヘッド６３は、その信号を、記録媒体である磁気テー
プ７１に記録する。そして、再生ヘッド６５（記録ヘッ
ド６３と同一でもよい）は、磁気テープ７１に記録され
ているデータを電気信号としてロータリトランス６６
（ロータリトランス６２と同一でもよい）を介して再生
アンプ６７に出力する。再生アンプ６７は、その信号を
増幅し、イコライザ（ＥＱ）６８に出力する。イコライ
ザ６８は、その信号をイコライズした後、エラー訂正な
どを行う再生回路（図示せず）に出力する。

【０００５】信号発振器８１より供給された信号は、Ｄ
ＡＴシステム４１において磁気テープ７１に記録され
る。そして、ＤＡＴシステム４１は、磁気テープ７１を
再生し、イコライザ６８が出力する再生信号（エラー訂
正などを行う前の信号）を、スペクトラムアナライザ８
２およびオシロスコープ８３に出力する。

【０００６】オシロスコープ８２は、その再生信号の波
形を測定者に対して表示し、スペクトラムアナライザ８
３は、その再生信号の周波数スペクトルを算出する。

【０００７】従って、測定者は、信号発振器８１が発生
する信号の周波数を、注目する周波数帯域における所定
の周波数に設定した後、ＤＡＴシステム４１に記録再生
を行わせ、ＤＡＴシステム４１より得られる信号をスペ
クトラムアナライザ８２およびオシロスコープ８３で観
察する。そして、測定者は、注目する周波数帯域におい
て、周波数を変化させて所定の回数だけ、この動作を行
って、周波数特性を測定する。

【０００８】しかしながら、このように注目する周波数
帯域において、複数回、測定を行う必要があるため、全
測定を迅速に行うことが困難である。さらに、磁気テー
プなどの記録媒体を介して記録再生を行うような装置に
おいては、磁気テープと、記録または再生ヘッドの当た
りの状態が動的に変化するので、それに伴い周波数特性
も動的に変化する。従って、そのような装置の周波数特
性を測定する場合、スペクトラムアナライザのアベレー
ジング機能や最大値ホールド機能を利用しなければなら
ず簡便に測定を行うことが困難であるという問題があっ
た。

【０００９】そこで、本出願人は、特性Ｍ系列の信号を
利用して、１回の測定動作で、所定の帯域の周波数特性
を測定する方法を、例えば、特願平７−２９９３５９号
として先に開示した。このような方法によれば、特性Ｍ
系列の信号を、被測定装置に入力し、その入力信号に対
応する出力信号を分析することにより、１回の測定動作
で、その装置の周波数特性を測定することができる。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、記録媒
体に対して記録再生を行う装置の周波数特性を測定する
場合、特性Ｍ系列の信号の記録の仕方（フォーマット）
によっては、測定者が実際に使用する条件とは異なる条
件で周波数特性が測定されてしまい、実際の使用条件に
即した周波数特性が正確に測定されないという問題を有
している。

【００１１】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たもので、データの領域に特性Ｍ系列の信号を挿入した
記録信号を記録媒体に記録し、記録媒体を再生した信号
から、記録媒体および記録再生装置の周波数特性を算出
して、一般のユーザが使用する条件と同一の条件で周波
数特性を測定することができるようにするものである。

【００１２】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の周波数
測定方法は、特性Ｍ系列の信号を発生するステップと、
データの領域に特性Ｍ系列の信号を挿入した記録信号を
記録媒体に記録するステップと、記録信号が記録された
記録媒体の再生を行うステップと、記録媒体を再生した
信号から、記録媒体および記録再生装置の周波数特性を
算出するステップとを備えることを特徴とする。

【００１３】請求項９に記載の周波数測定装置は、特性
Ｍ系列の信号を発生する発生手段と、データの領域に特
性Ｍ系列の信号が記録された記録媒体の再生信号から、
記録媒体および記録再生装置の周波数特性を算出する算
出手段とを備えることを特徴とする。

【００１４】請求項１に記載の周波数測定方法において
は、特性Ｍ系列の信号を発生し、データの領域に特性Ｍ
系列の信号を挿入した記録信号を記録媒体に記録し、記
録信号が記録された記録媒体の再生を行い、記録媒体を
再生した信号から、記録媒体および記録再生装置の周波
数特性を算出する。

【００１５】請求項９に記載の周波数測定装置において
は、発生手段は、特性Ｍ系列の信号を発生し、算出手段
は、データの領域に特性Ｍ系列の信号が記録された記録
媒体の再生信号から、記録媒体および記録再生装置の周
波数特性を算出する。

【００１６】

【発明の実施の形態】図１は、本発明の周波数測定装置
の一実施例の構成例を示している。Ｍ系列（Maximum Le
ngth Sequence）パルスジェネレータ１（発生手段）
は、マスタクロック発生回路１１でクロックを発生する
とともに、そのクロックに対応して特性Ｍ系列の信号を
発生するようになされている。Ｍ系列パルスジェネレー
タ１は、発生した特性Ｍ系列の信号をスイッチ回路２に
出力するとともに、マスタクロック発生回路１１で発生
したクロックをＡＤ変換器３に供給するようになされて
いる。

【００１７】図２は、Ｍ系列パルスジェネレータ１に設
けられている、Ｍ系列の信号を発生する電子回路の一例
を示している。

【００１８】シフトレジスタ１５は、初期値としてデー
タ「０００１０１１０」を有する８ビットの記憶素子で
構成され、クロックに対応して、第１番目のビット（図
中左端のビット）の値をＭ系列の信号として出力すると
ともに、第ｉ番目のビット（ｉ＝２，・・・，８）の値
を第（ｉ−１）番目のビットにシフトするようになされ
ている。

【００１９】演算器１６は、クロックに対応して、シフ
トレジスタ１５の第１番目のビットの値、および第５番
目乃至第７番目のビットの値の排他的論理和を計算し、
その計算結果をシフトレジスタ１５の第８番目のビット
に供給するようになされている。

【００２０】Ｍ系列パルスジェネレータ１は、このよう
な電子回路で発生したＭ系列の信号を所定のビット毎に
サンプリングし、サンプリングした信号（符号）が元の
Ｍ系列の信号（符号）と同一の信号（符号）となる信号
である特性Ｍ系列の信号を生成する。この実施例におい
ては、Ｍ系列の信号を７ビットおきにサンプリングして
第１の特性Ｍ系列の信号（Ｍ８＿７）を生成するととも
に、Ｍ系列の信号を３１ビットおきにサンプリングして
第２の特性Ｍ系列の信号（Ｍ８＿３１）を生成するよう
になされている。

【００２１】そして、Ｍ系列パルスジェネレータ１は、
特性Ｍ系列部の開始を示す２５６ビットの同期信号（ｓ
ｙｎｃ）を最初に出力した後、２５５ビットの第１の特
性Ｍ系列の信号と２５５ビットの第２の特性Ｍ系列の信
号で構成されるブロック（５１０ビット）を、所定の数
だけ連続して、スイッチ回路２に特性Ｍ系列部として出
力するようになされている。

【００２２】また、Ｍ系列パルスジェネレータ１のマス
タクロック発生回路１１は、ＤＡＴにおいて通常、記録
再生されるデータのクロック周波数４．７ＭＨｚの２．
５倍の周波数である１１．７５ＭＨｚで、特性Ｍ系列の
信号のためのクロックを発生するようになされている。

【００２３】このクロック周波数が、ＤＡＴにおいて通
常、記録再生されるデータのクロック周波数４．７ＭＨ
ｚの２倍以下である場合、図３に示すように、サンプリ
ングによる折り返しの歪み（エリアシング）が高域側
（４．７ＭＨｚより高い帯域）で顕著に現れる。従っ
て、マスタクロック発生回路１１は、ＤＡＴにおいて通
常、記録再生されるデータのクロック周波数４．７ＭＨ
ｚの２．５倍である１１．７５ＭＨｚでクロックを発生
している。

【００２４】このように、ＤＡＴにおいて通常、記録再
生されるデータのクロック周波数の２倍より大きい周波
数のクロックを使用することにより、（例えば、図４に
示すように、クロック周波数が、４．７ＭＨｚの４倍の
１８．８ＭＨｚである場合）、高域側（４．７ＭＨｚよ
り高い帯域）における折り返しの歪みを低減することが
できる。

【００２５】なお、１１．７５ＭＨｚのクロック周波数
で特性Ｍ系列を記録するので、ＤＡＴシステム４１の回
転ヘッドの回転速度が２，０００ｒｐｍであり、データ
部（データの記録領域）に対応する磁気テープの巻付角
度が５８．７７６度である場合、データ部の記録時間
は、４．８９８ｍｓｅｃ（＝６０／２０００×（５８．
７７６／３６０）ｓｅｃ）となり、最大１１２ブロック
（≒４．８９８ｍｓｅｃ／（５１０ビット／１１．７５
ＭＨｚ））の特性Ｍ系列を１トラックのデータ部に記録
することができる。

【００２６】このように、Ｍ系列パルスジェネレータ１
は、マスタクロック発生回路１１で、１１．７５ＭＨｚ
のクロックを発生し、そのクロックに対応させて、第１
特性Ｍ系列の信号と第２特性Ｍ系列の信号を生成するよ
うになされている。

【００２７】図１に戻り、スイッチ回路２は、ＤＡＴシ
ステム４１の制御回路６０より供給される、記録ヘッド
６３の回転に同期して１回転に１個発生されるＰＧ信号
に応じて、スイッチングパルス（ＳＷＰ）信号を生成
し、そのＳＷＰ信号のレベルがハイであるとき、Ｍ系列
パルスジェネレータ１からの特性Ｍ系列部の信号をＤＡ
Ｔシステムの制御回路６０に出力し、ＳＷＰ信号のレベ
ルがローであるとき、ＤＡＴシステム４１の所定の回路
（図示せず）より供給された内部信号（ランダム信号）
を制御回路６０に出力するようになされている。従っ
て、ＳＷＰ信号のレベルをハイからローに変化させるこ
とにより、１つのトラックに特性Ｍ系列部の信号と内部
信号を、両方記録することができる。

【００２８】また、ＤＡＴシステム４１の制御回路６０
は、ＰＬＬの引き込みのための信号、データ部に付随す
る情報を有するサブコード、およびトラッキングサーボ
のためのＡＴＦ（Automatic Track Finding）情報を有
するプリアンブル部およびポストアンブル部を生成し、
プリアンブル部の後にデータ部（特性Ｍ系列部および内
部信号）を連続させて、最後にポストアンブル部を付加
して記録信号を生成し、記録アンプ６１に出力するよう
になされている。

【００２９】ＡＤ変換器３は、Ｍ系列パルスジェネレー
タ１のマスタクロック発生回路１１より供給されたクロ
ックの周波数またはその整数倍の周波数でサンプリング
を行い、ＤＡＴシステム４１のイコライザ６８より供給
された再生信号をデジタル信号にＡＤ（Analog-to-Digi
tal）変換し、そのデジタル信号を演算装置４（算出手
段）の相関演算器２１およびＦＦＴ（Fast Fourier Tra
nsformation）演算器２３，２６に出力するようになさ
れている。なお、ＤＡＴシステム４１のイコライザ６８
は、磁気テープ７１に記録された記録信号のうちの特性
Ｍ系列部の信号を、ＡＤ変換器３に再生信号として供給
する。この再生信号は、２５５ビットの第１の特性Ｍ系
列と２５５ビットの第２の特性Ｍ系列に対応する５１０
ビットのブロックが連続したアナログ信号として供給さ
れる。

【００３０】また、ＡＤ変換器３は、１トラック分のデ
ータ（ＡＤ変換後の再生信号）を記憶するバッファメモ
リを備え、そのメモリに１トラックのすべてデータを一
旦記憶するので、ＤＡＴシステム４１より供給されたブ
ロックの順番に関係なく、所定のブロックのデータより
周波数特性を算出することができる。

【００３１】演算装置４は、ＡＤ変換器３より供給され
たＡＤ変換後の再生信号より、ＤＡＴシステム４１の周
波数特性（振幅特性信号および位相特性信号）を算出
し、出力するようになされている。

【００３２】演算装置４においては、相関演算器２１
は、ＲＡＭ２２から、予め記憶されている５１０ビット
の特性Ｍ系列のデータ（Ｍ系列パルスジェネレータ１で
発生するものと同一の特性Ｍ系列のデータ）を読み出
し、この５１０ビットのデータとＡＤ変換器３より供給
された再生信号の相互相関を計算し、その計算結果をＦ
ＦＴ演算器２３，２６に出力するようになされている。

【００３３】ＦＦＴ演算器２３は、相関演算器２１より
供給された相互相関の信号のピークを検出したとき（即
ち、再生信号におけるブロックの先頭がＡＤ変換器３よ
り出力されたとき）をＦＦＴの開始点として、ＡＤ変換
器３より供給された再生信号のうちの２５５ビットのＭ
８＿７のデータを高速フーリエ変換し、その演算結果
（ＦＦＴデータ）を演算回路２４に出力するようになさ
れている。

【００３４】このように、ＦＦＴの開始点を相関の信号
より検出するので、記録系（Ｍ系列パルスジェネレータ
１から記録ヘッド６３まで）と、再生系（再生ヘッド６
５から演算装置４まで）を非同期で動作させることがで
き、測定が容易になる。

【００３５】演算回路２４は、ＦＦＴ演算器２３より供
給されたＦＦＴデータより、振幅特性と位相特性に関す
るデータを抽出し、そのデータを移動平均フィルタ２５
に出力するようになされている。

【００３６】ＦＦＴ演算器２６は、相関演算器２１より
供給された相互相関の信号のピークを検出してから、さ
らに２５５ビットの再生信号が供給されたときをＦＦＴ
の開始点として、ＡＤ変換器３より供給された再生信号
のうちの２５５ビットのＭ８＿３１のデータを高速フー
リエ変換し、その演算結果（ＦＦＴデータ）を演算回路
２７に出力するようになされている。

【００３７】演算回路２７は、ＦＦＴ演算器２３より供
給されたＦＦＴデータより、振幅特性と位相特性に関す
るデータを抽出し、そのデータを移動平均フィルタ２５
に出力するようになされている。

【００３８】移動平均フィルタ２５は、演算回路２４お
よび演算回路２７より供給された振幅特性と位相特性に
関するデータをスムーシング（平滑）し、振幅特性信号
および位相特性信号として出力するようになされてい
る。

【００３９】なお、演算装置４の代わりに、所謂コンピ
ュータを使用し、ＧＰＩＢなどのインターフェース端子
を介してＡＤ変換後の再生信号をコンピュータに供給
し、ソフトウェア的にＤＡＴシステム４１の周波数特性
を算出するようにすることもできる。

【００４０】次に、図５のフローチャートおよび図６の
タイミングチャートを参照して、図１の実施例の動作に
ついて説明する。

【００４１】最初にステップＳ１において、制御回路６
０は、記録アンプ６１およびロータリトランス６２を介
して記録ヘッド６３で、記録信号（図６（Ｅ））におけ
るプリアンブル部を磁気テープ７１に記録する。

【００４２】ステップＳ２において、スイッチ回路２
は、制御回路６０からのＰＧ信号（図６（Ａ））に同期
して生成したＳＷＰ信号（図６（Ｂ））のレベルがハイ
であるか否かを判断し、ＳＷＰ信号のレベルがハイであ
ると判断した場合、ステップＳ３において、Ｍ系列パル
スジェネレータ１より供給された特性Ｍ系列部の信号
（図６（Ｄ））を制御回路６０に出力する。そして、制
御回路６０は、記録アンプ６１およびロータリトランス
６２を介して記録ヘッド６３で、その特性Ｍ系列部を、
記録信号の一部として磁気テープ７１に記録する。

【００４３】なお、特性Ｍ系列部（図６（Ｄ））におい
ては、図６（Ｅ−１）および図６（Ｅ−２）に示すよう
に、２５６ビットの同期信号（ｓｙｎｃ）を先頭にし
て、第１の特性Ｍ系列の信号（Ｍ８＿７）と第２の特性
Ｍ系列の信号（Ｍ８＿３１）が２５５ビットずつ交互に
連続している。

【００４４】一方、ステップＳ２において、ＳＷＰ信号
のレベルがハイではないと判断された場合、ステップＳ
４において、スイッチ回路２は、ＤＡＴシステム４１の
所定の回路（図示せず）より供給された内部信号（ラン
ダム信号）を制御回路６０に出力する。そして、制御回
路６０は、記録アンプ６１およびロータリトランス６２
を介して記録ヘッド６３で、その内部信号を磁気テープ
７１に記録する。

【００４５】次にステップＳ５において、制御回路６０
は、所定の量のデータを記録したか否かを判断し、所定
の量のデータを記録したと判断した場合、ポストアンブ
ル部を記録した後、データの記録を終了し、ステップＳ
６に進む。一方、ステップＳ５において、所定の量のデ
ータをまだ記録していないと判断した場合、ステップＳ
２に戻り、データの記録を継続する。

【００４６】このようにして、所定の量の記録信号（図
６（Ｅ））（特性Ｍ系列および内部信号）を磁気テープ
７１に記録する。なお、記録信号は、図７に示すよう
に、磁気テープ７１において、各トラック毎に、プリア
ンブル部、データ部（特性Ｍ系列部、内部信号（ランダ
ム信号））、ポストアンブル部の順番で記録される。

【００４７】次に、ステップＳ６において、ＤＡＴシス
テム４１で、磁気テープ７１の再生を行い、その再生信
号（イコライザ６８の出力信号、即ち、エラー訂正前の
もの）をＡＤ変換器３に供給する。なお、再生アンプ６
７の出力信号を再生信号として、ＡＤ変換器３に供給す
るようにしてもよい。

【００４８】そして、ステップＳ７において、ＡＤ変換
器３は、その再生信号をデジタル信号にＡＤ変換し、演
算装置４の相関演算器２１およびＦＦＴ演算器２３，２
６に出力する。

【００４９】ステップＳ８において、ＦＦＴ演算器２３
は、相関演算器２１より供給された相関の信号のピーク
を検出したときに高速フーリエ変換を開始し、再生信号
のうちの第１の特性Ｍ系列の信号Ｍ８＿７に対応する部
分を高速フーリエ変換し、その演算結果を演算回路２４
に出力する。また、ＦＦＴ演算器２６は、相関演算器２
１より供給された相関の信号のピークを検出してから、
さらに再生信号の２５５ビット後に高速フーリエ変換を
開始し、再生信号のうちの第２の特性Ｍ系列の信号Ｍ８
＿３１に対応する部分を高速フーリエ変換し、その演算
結果を演算回路２７に出力する。

【００５０】ステップＳ９において、演算回路２４およ
び演算回路２７は、ＦＦＴ演算器２３より供給されたデ
ータより振幅特性と位相特性に関するデータを抽出し、
そのデータを移動平均フィルタ２５に出力する。

【００５１】そして、移動平均フィルタ２５は、それら
のデータをスムーシング（平滑）した後、振幅特性信号
および位相特性信号として出力する。

【００５２】原理的には、１種類の特性Ｍ系列データを
記録再生すればよいが、２種類として、その平均を求め
ることで、より正確な測定が可能となる。

【００５３】以上のようにして、データの領域に特性Ｍ
系列の信号を記録媒体に記録し、その記録媒体を再生し
た信号から、ＤＡＴシステム４１の周波数特性を算出す
る。

【００５４】なお、本実施例においては、データ領域に
特性Ｍ系列の信号とともに内部信号（ランダム信号）を
記録することにより、エラーレートの測定を行うことが
できる。その場合、図８に示すように、ＤＡＴシステム
４１において、イコライザ６８の出力信号（内部信号
（ランダム信号）に対応する部分）をリミッタ９１で整
形し、整形した信号を、位相比較器１０１、ローパスフ
ィルタ１０２、および電圧制御発振器１０３で構成され
るＰＬＬ回路９２およびＤフリップフロップ９３で同期
化する。そして、その信号のエラー訂正をエラー訂正回
路９４で行い、エラーレートカウンタ９５が、エラー訂
正回路９４が出力するエラー訂正の情報より、エラーレ
ートを算出する。

【００５５】このようにして、周波数特性の測定ととも
に、エラーレートの測定を行うことができる。

【００５６】なお、本実施例においては、ＤＡＴシステ
ム４１の周波数特性を測定したが、本発明は、ＤＡＴシ
ステムに限らず、例えば、磁気ディスクなどの他の記録
媒体に対して記録再生を行うシステムの周波数特性の測
定に応用することが可能であることは云うまでもない。

【００５７】

【発明の効果】以上のごとく、請求項１に記載の周波数
測定方法および請求項９に記載の周波数測定装置によれ
ば、データの領域に特性Ｍ系列の信号を挿入した記録信
号を記録媒体に記録し、その記録媒体を再生した信号か
ら、記録媒体および記録再生装置の周波数特性を算出す
るようにしたので、一般のユーザが使用する条件と同一
の条件で記録媒体および記録再生装置の周波数特性を測
定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の周波数特性測定装置の一実施例の構成
例を示すブロック図である。

【図２】Ｍ系列を発生する電子回路の一例を示すブロッ
ク図である。

【図３】図１１のマスタクロック発生回路１１が９．４
ＭＨｚのクロックを発生した場合の振幅特性の一例を示
す図である。

【図４】図１１のマスタクロック発生回路１１が１８．
８ＭＨｚのクロックを発生した場合の振幅特性の一例を
示す図である。

【図５】図１の実施例の動作を説明するフローチャート
である。

【図６】図１の実施例の動作を説明するタイミングチャ
ートである。

【図７】磁気テープ７１に記録された記録信号の配置を
示す図である。

【図８】被測定システムであるＤＡＴシステム４１の一
例を示すブロック図である。

【図９】従来の周波数特性測定装置の一構成例を示すブ
ロック図である。

【符号の説明】

１Ｍ系列パルスジェネレータ，２スイッチ回路，
３ＡＤ変換器，４演算装置，１１マスタクロ
ック発生回路，２１相関演算器，２２ＲＡＭ，
２３，２６ＦＦＴ演算器，４１ＤＡＴシステム，
６０制御回路，７１磁気テープ，９５エラ
ーレートカウンタ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】データに所定の制御情報を付加した記録
信号を記録媒体に記録する記録再生装置の周波数特性を
測定する周波数測定方法において、特性Ｍ系列の信号を発生するステップと、前記データの領域に前記特性Ｍ系列の信号を挿入した前
記記録信号を前記記録媒体に記録するステップと、前記記録信号が記録された前記記録媒体の再生を行うス
テップと、前記記録媒体を再生した信号から、前記記録媒体および
前記記録再生装置の周波数特性を算出するステップとを
備えることを特徴とする周波数特性測定方法。
【請求項２】高速フーリエ変換を利用して、前記記録
媒体を再生した信号から前記周波数特性を算出すること
を特徴とする請求項１に記載の周波数特性測定方法。
【請求項３】前記制御情報は、ＡＴＦ情報を含むこと
を特徴とする請求項１に記載の周波数特性測定方法。
【請求項４】前記特性Ｍ系列の信号は、先頭部分に同
期信号を有することを特徴とする請求項１に記載の周波
数特性測定方法。
【請求項５】７ビット以上のシフトレジスタによって
前記特性Ｍ系列を発生することを特徴とする請求項１に
記載の周波数測定方法。
【請求項６】前記記録媒体から再生した信号から、さ
らにエラーレートを測定することを特徴とする請求項１
に記載の周波数測定方法。
【請求項７】前記特性Ｍ系列の信号のクロック周波数
は、前記記録信号のクロック周波数の２倍より大きいこ
とを特徴とする請求項１に記載の周波数測定方法。
【請求項８】前記再生された信号を、前記記録信号の
クロック周波数の２倍より大きいサンプリング周波数で
ＡＤ変換した後、前記記録媒体および前記記録再生装置
の周波数特性を算出することを特徴とする請求項１に記
載の周波数測定方法。
【請求項９】データに所定の制御情報を付加した記録
信号を記録媒体に記録する記録再生装置の周波数特性を
測定する周波数測定装置において、特性Ｍ系列の信号を発生する発生手段と、前記データの領域に前記特性Ｍ系列の信号が記録された
前記記録媒体の再生信号から、前記記録媒体および前記
記録再生装置の周波数特性を算出する算出手段とを備え
ることを特徴とする周波数特性測定装置。