JP2001014619A - 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の磁気ヘッド検査方法 - Google Patents
磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の磁気ヘッド検査方法Info
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- JP2001014619A JP2001014619A JP11178525A JP17852599A JP2001014619A JP 2001014619 A JP2001014619 A JP 2001014619A JP 11178525 A JP11178525 A JP 11178525A JP 17852599 A JP17852599 A JP 17852599A JP 2001014619 A JP2001014619 A JP 2001014619A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 磁気ヘッドのフォロイング精度を高めるとと
もに、磁気ヘッドの読み書きが不可能になる前にこれを
察知することが可能な新規な磁気ディスク装置を提供す
ること。 【解決手段】 ダミートラックを有する磁気ディスク2
0と、磁気ディスク20への情報の記録及び磁気ディス
ク20からの情報の再生を行う磁気ヘッド22とを備
え、ダミートラックに磁気ヘッド22のオフセット量を
表すバースト信号52を記録してなる磁気ディスク装置
である。アイドル状態における磁気ヘッド22でバース
ト信号52を再生して書込み時及び非書込み時の磁気ヘ
ッド22の各最大オフセット量X1,X2を求めるとと
もに各最大オフセット量X1,X2の差と所定のしきい
値とを比較して、磁気ヘッド22の特性変動の有無を判
定する判定手段4を備えている。
もに、磁気ヘッドの読み書きが不可能になる前にこれを
察知することが可能な新規な磁気ディスク装置を提供す
ること。 【解決手段】 ダミートラックを有する磁気ディスク2
0と、磁気ディスク20への情報の記録及び磁気ディス
ク20からの情報の再生を行う磁気ヘッド22とを備
え、ダミートラックに磁気ヘッド22のオフセット量を
表すバースト信号52を記録してなる磁気ディスク装置
である。アイドル状態における磁気ヘッド22でバース
ト信号52を再生して書込み時及び非書込み時の磁気ヘ
ッド22の各最大オフセット量X1,X2を求めるとと
もに各最大オフセット量X1,X2の差と所定のしきい
値とを比較して、磁気ヘッド22の特性変動の有無を判
定する判定手段4を備えている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気抵抗効果型素
子を磁気ヘッドに備えた磁気ディスク装置及び磁気ディ
スク装置の磁気ヘッドの検査方法に関わり、特に、磁気
ヘッドに特性変動に伴う磁気ヘッドの感度分布異常が発
生しているか否かを当該磁気ヘッドのアイドル状態にお
いて検査する機能を備えた磁気ディスク装置及び磁気デ
ィスクの磁気ヘッド検査方法に関する。
子を磁気ヘッドに備えた磁気ディスク装置及び磁気ディ
スク装置の磁気ヘッドの検査方法に関わり、特に、磁気
ヘッドに特性変動に伴う磁気ヘッドの感度分布異常が発
生しているか否かを当該磁気ヘッドのアイドル状態にお
いて検査する機能を備えた磁気ディスク装置及び磁気デ
ィスクの磁気ヘッド検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電子計算機の記憶装置として使用されて
いる磁気ディスク装置、特に、磁気抵抗効果型素子を磁
気ヘッドに使用した磁気ディスク装置では、磁気ディス
クの各トラックに、トラック番号を表す信号と、磁気ヘ
ッドのオフセット(磁気ヘッドの幅方向の中心がトラッ
クの幅方向の中心からずれた状態をいう。以下同じ。)
量を表す複数のバースト信号とを含むサーボ情報を複数
記録しておき、このサーボ情報の再生波形に基づいて、
磁気ヘッドが磁気ディスクの各トラックの幅方向の略中
心をフォロイングするように、コントローラが当該磁気
ヘッドを位置決めしてフォロイング精度を保っている。
いる磁気ディスク装置、特に、磁気抵抗効果型素子を磁
気ヘッドに使用した磁気ディスク装置では、磁気ディス
クの各トラックに、トラック番号を表す信号と、磁気ヘ
ッドのオフセット(磁気ヘッドの幅方向の中心がトラッ
クの幅方向の中心からずれた状態をいう。以下同じ。)
量を表す複数のバースト信号とを含むサーボ情報を複数
記録しておき、このサーボ情報の再生波形に基づいて、
磁気ヘッドが磁気ディスクの各トラックの幅方向の略中
心をフォロイングするように、コントローラが当該磁気
ヘッドを位置決めしてフォロイング精度を保っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、磁気ヘッド
に磁気的な特性変動が生じた場合には、磁気ヘッドから
の再生波形の振幅が小さくなると共に感度分布の中心位
置がずれる現象が起こる(以下、この現象を感度分布中
心ずれともいう)。この現象が発生すると、感度分布が
正常に戻るまでは正確な位置情報が得られないため、磁
気ヘッドがオフセット状態となり、データ書き込み時に
は、隣接トラックのデータの読みとりマージンを狭める
か、場合によっては、既存のデータに上書きして当該デ
ータを破壊してしまうおそれがある。
に磁気的な特性変動が生じた場合には、磁気ヘッドから
の再生波形の振幅が小さくなると共に感度分布の中心位
置がずれる現象が起こる(以下、この現象を感度分布中
心ずれともいう)。この現象が発生すると、感度分布が
正常に戻るまでは正確な位置情報が得られないため、磁
気ヘッドがオフセット状態となり、データ書き込み時に
は、隣接トラックのデータの読みとりマージンを狭める
か、場合によっては、既存のデータに上書きして当該デ
ータを破壊してしまうおそれがある。
【0004】例えば、図4に示したように、磁気ヘッド
HがA,Bの2つのバースト信号を有するトラックTを
フォロイングしている場合、データ書き込み時において
磁気ヘッドHが正常な感度分布を有している状態(同図
(a))では、磁気ヘッドHの幅方向中心位置とトラッ
クTの幅方向中心位置はオフセット量が0となる。しか
し、感度分布中心ずれが生じた状態(同図(b))で
は、磁気ヘッドHが実質的に狭まった状態となり、磁気
ヘッドHがオフセット量Pを持つ。そして、磁気ヘッド
Hに書込指令が出されてその書込ヘッドに書込電流が流
れると、磁気ヘッドHの感度分布が突然正常な状態に戻
り、コントローラが、次のバースト信号から磁気ヘッド
Hがオフセットしていると判断し、再び磁気ヘッドHの
位置を正常な位置に戻す制御を行うポジション跳ねが起
ってしまい、フォロイング精度が悪くなる。
HがA,Bの2つのバースト信号を有するトラックTを
フォロイングしている場合、データ書き込み時において
磁気ヘッドHが正常な感度分布を有している状態(同図
(a))では、磁気ヘッドHの幅方向中心位置とトラッ
クTの幅方向中心位置はオフセット量が0となる。しか
し、感度分布中心ずれが生じた状態(同図(b))で
は、磁気ヘッドHが実質的に狭まった状態となり、磁気
ヘッドHがオフセット量Pを持つ。そして、磁気ヘッド
Hに書込指令が出されてその書込ヘッドに書込電流が流
れると、磁気ヘッドHの感度分布が突然正常な状態に戻
り、コントローラが、次のバースト信号から磁気ヘッド
Hがオフセットしていると判断し、再び磁気ヘッドHの
位置を正常な位置に戻す制御を行うポジション跳ねが起
ってしまい、フォロイング精度が悪くなる。
【0005】このような磁気ヘッドの特性変動に伴う感
度分布中心ずれは、磁気ヘッドからのバースト信号が所
定のしきい値(トラック幅、読みとりマージンなどによ
って定まる周知のしきい値。以下このしきい値を書込禁
止スライスともいう。)を越える場合には、コントロー
ラがデータの書込みを禁止状態にする処理を行い、この
処理の回数をエラー回数として検査し、これが所定のエ
ラー回数を越えたか否かを磁気ヘッドが正常か異常かの
判定基準とし、特性変動の因子を持つ磁気ヘッドを選別
して除去している。
度分布中心ずれは、磁気ヘッドからのバースト信号が所
定のしきい値(トラック幅、読みとりマージンなどによ
って定まる周知のしきい値。以下このしきい値を書込禁
止スライスともいう。)を越える場合には、コントロー
ラがデータの書込みを禁止状態にする処理を行い、この
処理の回数をエラー回数として検査し、これが所定のエ
ラー回数を越えたか否かを磁気ヘッドが正常か異常かの
判定基準とし、特性変動の因子を持つ磁気ヘッドを選別
して除去している。
【0006】しかしながら、上述のバースト信号の書込
禁止スライスのみで判定する方法では、次のような問題
があった。すなわち、コントローラは、磁気ヘッドのラ
イトヘッドに書込電流が流れて感度分布が正常に戻り次
のバースト信号の再生結果からの結果が書込禁止スライ
スを越える場合にデータを破壊しないようにデータの書
き込みを禁止状態にするので、磁気ヘッドの感度分布が
正常に戻り、次のバースト信号を再生するまでは磁気ヘ
ッドがオフセットしたままデータを書き込むこととな
り、隣接トラックのデータのリードマージンを減らす
か、データを破壊してしまうこととなる。また、書込禁
止スライスのみで判定しているので、フォロイング精度
をさらに向上させるには限界があった。
禁止スライスのみで判定する方法では、次のような問題
があった。すなわち、コントローラは、磁気ヘッドのラ
イトヘッドに書込電流が流れて感度分布が正常に戻り次
のバースト信号の再生結果からの結果が書込禁止スライ
スを越える場合にデータを破壊しないようにデータの書
き込みを禁止状態にするので、磁気ヘッドの感度分布が
正常に戻り、次のバースト信号を再生するまでは磁気ヘ
ッドがオフセットしたままデータを書き込むこととな
り、隣接トラックのデータのリードマージンを減らす
か、データを破壊してしまうこととなる。また、書込禁
止スライスのみで判定しているので、フォロイング精度
をさらに向上させるには限界があった。
【0007】従って、本発明は、磁気ヘッドにその特性
変動に伴う感度分布中心ずれが発生しているか否かを当
該磁気ヘッドのアイドル状態においてダミートラック
で、書込禁止スライスより小さいしきい値で判定し、フ
ォロイング精度を高めるとともに、磁気ヘッドの読み書
きが不可能になる前にこれを察知することで装置の信頼
性を向上することができる新規な磁気ディスク装置及び
磁気ディスク装置の磁気ヘッド検査方法を提供すること
にある。
変動に伴う感度分布中心ずれが発生しているか否かを当
該磁気ヘッドのアイドル状態においてダミートラック
で、書込禁止スライスより小さいしきい値で判定し、フ
ォロイング精度を高めるとともに、磁気ヘッドの読み書
きが不可能になる前にこれを察知することで装置の信頼
性を向上することができる新規な磁気ディスク装置及び
磁気ディスク装置の磁気ヘッド検査方法を提供すること
にある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、ダミートラックを有する磁気ディスクと、該
磁気ディスクへの情報の記録及び該磁気ディスクからの
情報の再生を行う磁気ヘッドとを備え、前記ダミートラ
ックに前記磁気ヘッドのオフセット量を表すバースト信
号を記録してなる磁気ディスク装置であって、アイドル
状態における前記磁気ヘッドで前記バースト信号を再生
して書込み時及び非書込み時の各最大オフセット量を求
めるとともに該各最大オフセット量の差と所定のしきい
値とを比較して、前記磁気ヘッドの特性変動の有無を判
定する判定手段を備えていることを特徴としている。
本発明は、ダミートラックを有する磁気ディスクと、該
磁気ディスクへの情報の記録及び該磁気ディスクからの
情報の再生を行う磁気ヘッドとを備え、前記ダミートラ
ックに前記磁気ヘッドのオフセット量を表すバースト信
号を記録してなる磁気ディスク装置であって、アイドル
状態における前記磁気ヘッドで前記バースト信号を再生
して書込み時及び非書込み時の各最大オフセット量を求
めるとともに該各最大オフセット量の差と所定のしきい
値とを比較して、前記磁気ヘッドの特性変動の有無を判
定する判定手段を備えていることを特徴としている。
【0009】また、本発明は、ダミートラックを有する
磁気ディスクと、該磁気ディスクへの情報の記録及び該
磁気ディスクからの情報の再生を行う磁気ヘッドとを備
え、前記ダミートラックに、前記磁気ヘッドのオフセッ
ト量を表すバースト信号を記録してなる磁気ディスク装
置の磁気ヘッド検査方法であって、アイドル状態の前記
磁気ヘッドを前記ダミートラックにシークして前記バー
スト信号から書込み時及び非書込み時における該磁気ヘ
ッドの各最大オフセット量を求め、該各最大オフセット
量の差と所定のしきい値とを比較して前記磁気ヘッドの
特性変動の有無を判定することを特徴としている。
磁気ディスクと、該磁気ディスクへの情報の記録及び該
磁気ディスクからの情報の再生を行う磁気ヘッドとを備
え、前記ダミートラックに、前記磁気ヘッドのオフセッ
ト量を表すバースト信号を記録してなる磁気ディスク装
置の磁気ヘッド検査方法であって、アイドル状態の前記
磁気ヘッドを前記ダミートラックにシークして前記バー
スト信号から書込み時及び非書込み時における該磁気ヘ
ッドの各最大オフセット量を求め、該各最大オフセット
量の差と所定のしきい値とを比較して前記磁気ヘッドの
特性変動の有無を判定することを特徴としている。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を添付
図面に基づいて説明する。なお、本発明は本実施形態に
限定されるものではない。
図面に基づいて説明する。なお、本発明は本実施形態に
限定されるものではない。
【0011】図1は、本発明の一実施形態を示したもの
である。同図において、符号1は、磁気ディスク装置を
示している。
である。同図において、符号1は、磁気ディスク装置を
示している。
【0012】図1に示したように、磁気ディスク装置1
は、ヘッドディスクアセンブリー(以下、HDAともい
う)2と、位置決めコントローラ3を備えた制御・演算
回路基板4(判定手段)とを主体として構成されてい
る。
は、ヘッドディスクアセンブリー(以下、HDAともい
う)2と、位置決めコントローラ3を備えた制御・演算
回路基板4(判定手段)とを主体として構成されてい
る。
【0013】HDA2は、複数のトラックを有する複数
の磁気ディスク20と、これら磁気ディスク20を回転
駆動させるスピンドルモータ(ディスク駆動源)21
と、トラックへの情報の記録及びトラックからの情報の
再生を行う磁気ヘッド22と、磁気ヘッド22を所定位
置に位置決めする位置決め機構23とを備えている。
の磁気ディスク20と、これら磁気ディスク20を回転
駆動させるスピンドルモータ(ディスク駆動源)21
と、トラックへの情報の記録及びトラックからの情報の
再生を行う磁気ヘッド22と、磁気ヘッド22を所定位
置に位置決めする位置決め機構23とを備えている。
【0014】磁気ディスク20は、その盤面に同心円状
の複数のトラック(図示せず)を有しており、これらの
トラックは、ユーザーが使用するユーザートラックと、
後述する磁気ヘッド22の特性変動を判定する際に使用
するダミートラックとから構成されている。
の複数のトラック(図示せず)を有しており、これらの
トラックは、ユーザーが使用するユーザートラックと、
後述する磁気ヘッド22の特性変動を判定する際に使用
するダミートラックとから構成されている。
【0015】磁気ヘッド22は、磁気抵抗効果型の再生
専用ヘッド及び書込専用のインダクティブヘッドを備え
た通常の複合型の磁気ヘッドである。
専用ヘッド及び書込専用のインダクティブヘッドを備え
た通常の複合型の磁気ヘッドである。
【0016】位置決め機構23は、磁気ヘッド22を磁
気ディスク20の記録面上に支持するアクチュエータ2
4と、アクチュエータ24を駆動し磁気ヘッド22を磁
気ディスク20の任意のトラック上に移動位置決めする
ボイスコイルモータ(以下、VCMともいう。)25と
を備えている。
気ディスク20の記録面上に支持するアクチュエータ2
4と、アクチュエータ24を駆動し磁気ヘッド22を磁
気ディスク20の任意のトラック上に移動位置決めする
ボイスコイルモータ(以下、VCMともいう。)25と
を備えている。
【0017】なお、HDA2は、磁気ヘッド22との記
録情報の送受信を行う記録再生IC26を備えている。
録情報の送受信を行う記録再生IC26を備えている。
【0018】上記位置決めコントローラ3は、後述する
サーボ制御回路40の出力に基づくVCM25の駆動及
び磁気ヘッド22の位置決め制御、並びに後述する磁気
ヘッド22の特性変動の有無を判定するための演算処理
を行うものである。
サーボ制御回路40の出力に基づくVCM25の駆動及
び磁気ヘッド22の位置決め制御、並びに後述する磁気
ヘッド22の特性変動の有無を判定するための演算処理
を行うものである。
【0019】また、制御・演算回路基板4には、磁気ヘ
ッド22からのサーボ信号を復調するサーボ制御回路4
0と、記録再生IC26との記録再生情報の送受信及び
サーボ制御回路40にサーボ信号を出力する記録再生チ
ャンネル41aを有する記録再生制御回路41と、VC
M25に駆動電流を印加するVCMドライバ42と、ス
ピンドルモータ21を制御するスピンドルモータドライ
バ43と、上位装置Uとの入出力にかかわるインターフ
ェース回路44とが配設されている。
ッド22からのサーボ信号を復調するサーボ制御回路4
0と、記録再生IC26との記録再生情報の送受信及び
サーボ制御回路40にサーボ信号を出力する記録再生チ
ャンネル41aを有する記録再生制御回路41と、VC
M25に駆動電流を印加するVCMドライバ42と、ス
ピンドルモータ21を制御するスピンドルモータドライ
バ43と、上位装置Uとの入出力にかかわるインターフ
ェース回路44とが配設されている。
【0020】サーボ制御回路40は、記録再生チャンネ
ル23aからのサーボ信号の検出を位置決めコントロー
ラ3に出力するサーボデータ検出回路40aと、後述の
バースト信号を全波整流するための全波整流回路40b
と、この全波整流された信号のピーク電圧を取得するピ
ークホールド回路40cと、このピークホールド回路4
0cの出力をアナログ/ディジタル変換するA/D変換
器40dと、位置決めコントローラ3からVCMドライ
バ43への出力をディジタル/アナログ変換するD/A
変換器40eとを備えている。
ル23aからのサーボ信号の検出を位置決めコントロー
ラ3に出力するサーボデータ検出回路40aと、後述の
バースト信号を全波整流するための全波整流回路40b
と、この全波整流された信号のピーク電圧を取得するピ
ークホールド回路40cと、このピークホールド回路4
0cの出力をアナログ/ディジタル変換するA/D変換
器40dと、位置決めコントローラ3からVCMドライ
バ43への出力をディジタル/アナログ変換するD/A
変換器40eとを備えている。
【0021】なお、図には示していないが、制御・演算
回路基板4には、後述するフォロイング精度、書込禁止
スライス及び異常判定しきい値を記憶しておくレジスタ
並びに磁気ヘッドの検査結果をログ情報として記録する
メモリーを搭載している。
回路基板4には、後述するフォロイング精度、書込禁止
スライス及び異常判定しきい値を記憶しておくレジスタ
並びに磁気ヘッドの検査結果をログ情報として記録する
メモリーを搭載している。
【0022】図2に示したように、磁気ディスク20の
各トラック(ダミートラック及びユーザートラック)に
は、磁気ヘッド22の位置を制御するためのサーボ信号
を記録したサーボ部5と、データを記録するデータ部6
とから構成されている。サーボ部5は、AM部50、グ
レイコード51及びバースト部(バースト信号)52か
ら構成されている。AM部50は、グレイコード51及
びバースト部52の信号を取得するための基準となるタ
イミングを表す信号であり、グレイコード51はトラッ
ク番号を表す信号であり、バースト部52は磁気ヘッド
22のオフセット量を表す信号である。
各トラック(ダミートラック及びユーザートラック)に
は、磁気ヘッド22の位置を制御するためのサーボ信号
を記録したサーボ部5と、データを記録するデータ部6
とから構成されている。サーボ部5は、AM部50、グ
レイコード51及びバースト部(バースト信号)52か
ら構成されている。AM部50は、グレイコード51及
びバースト部52の信号を取得するための基準となるタ
イミングを表す信号であり、グレイコード51はトラッ
ク番号を表す信号であり、バースト部52は磁気ヘッド
22のオフセット量を表す信号である。
【0023】なお、ダミートラックは、ユーザートラッ
クの使用を制限しない場所であれば特に限定無く設ける
ことができる。また、サーボ部5におけるバースト部5
2は、ユーザートラックとダミートラックとで同じ構成
にすることが好ましいが、ユーザートラックと、ダミー
トラックとで異なる構成としてもよい。
クの使用を制限しない場所であれば特に限定無く設ける
ことができる。また、サーボ部5におけるバースト部5
2は、ユーザートラックとダミートラックとで同じ構成
にすることが好ましいが、ユーザートラックと、ダミー
トラックとで異なる構成としてもよい。
【0024】次に、上記構成の磁気ディスク装置1にお
ける磁気ヘッドの検査方法について図3に基づいて説明
する。
ける磁気ヘッドの検査方法について図3に基づいて説明
する。
【0025】まず、位置決めコントローラ3は、磁気ヘ
ッド22がアイドルの状態において検査を開始し(st
ep1)、検査対象となる磁気ヘッドをダミートラック
にシーク(step2,3)するように指示を出す。
ッド22がアイドルの状態において検査を開始し(st
ep1)、検査対象となる磁気ヘッドをダミートラック
にシーク(step2,3)するように指示を出す。
【0026】次いで、位置決めコントローラ3は、磁気
ヘッド22の非書込時及び書込時におけるダミートラッ
クのバースト信号の再生波形から当該磁気ヘッド22の
各最大オフセット量X1,X2を演算する(step
4,5)。
ヘッド22の非書込時及び書込時におけるダミートラッ
クのバースト信号の再生波形から当該磁気ヘッド22の
各最大オフセット量X1,X2を演算する(step
4,5)。
【0027】次いで、位置決めコントローラ3は、これ
ら最大オフセット量X1,X2の差を演算し、この差と
異常判定しきい値Δとを比較演算する(step6,
7)。
ら最大オフセット量X1,X2の差を演算し、この差と
異常判定しきい値Δとを比較演算する(step6,
7)。
【0028】ここで、異常判定しきい値は、フォロイン
グ精度Xより大きく、かつ書込禁止スライスWより小さ
い値α(X<α<W)で定める値(Δ=α−X)であ
り、書込禁止スライスWは、トラック幅、読みとりマー
ジン等の値で定まるしきい値である。また、フォロイン
グ精度Xは、ダミートラックにおいてデータの書き込み
位置でデータ書き込みをしていない場合のオフセット量
であり、予め複数のヘッドで測定したものの平均値であ
る。
グ精度Xより大きく、かつ書込禁止スライスWより小さ
い値α(X<α<W)で定める値(Δ=α−X)であ
り、書込禁止スライスWは、トラック幅、読みとりマー
ジン等の値で定まるしきい値である。また、フォロイン
グ精度Xは、ダミートラックにおいてデータの書き込み
位置でデータ書き込みをしていない場合のオフセット量
であり、予め複数のヘッドで測定したものの平均値であ
る。
【0029】また、アイドル状態の磁気ヘッドで非書込
時と書込時の最大オフセット量X1,X2を求める場合
の測定回数Nは、磁気ヘッドのアクセス頻度などに応じ
て適宜設定することができるが、例えば、1000〜2
000回とすることが好ましい。
時と書込時の最大オフセット量X1,X2を求める場合
の測定回数Nは、磁気ヘッドのアクセス頻度などに応じ
て適宜設定することができるが、例えば、1000〜2
000回とすることが好ましい。
【0030】そして、位置決めコントローラ3は、最大
オフセット量の差が異常判定しきい値Δを超えた場合
に、当該磁気ヘッド22の特性変動に伴う感度分布中心
ずれが起こっていると判定する。このようにして判定し
た結果を、ログ情報としてメモリに記録する(step
8)。
オフセット量の差が異常判定しきい値Δを超えた場合
に、当該磁気ヘッド22の特性変動に伴う感度分布中心
ずれが起こっていると判定する。このようにして判定し
た結果を、ログ情報としてメモリに記録する(step
8)。
【0031】上述の手順の検査を、磁気ディスクに搭載
しているアイドル状態のすべての磁気ヘッドについて行
い、検査を終了する(step9〜11)。
しているアイドル状態のすべての磁気ヘッドについて行
い、検査を終了する(step9〜11)。
【0032】このようにして磁気ヘッドの特性変動に伴
う感度分布異常の有無を、そのアイドル状態においてダ
ミートラックで、従来の書込禁止スライスに比べて小さ
なしきい値を用いて判定することで、磁気ヘッドのフォ
ロイング精度を高めるとともに磁気ヘッドが読み書き不
能になる前にこれを察知し、ディスク装置の信頼性を向
上することができる。
う感度分布異常の有無を、そのアイドル状態においてダ
ミートラックで、従来の書込禁止スライスに比べて小さ
なしきい値を用いて判定することで、磁気ヘッドのフォ
ロイング精度を高めるとともに磁気ヘッドが読み書き不
能になる前にこれを察知し、ディスク装置の信頼性を向
上することができる。
【0033】〔実施例〕以下、実施例により、本発明を
さらに具体的に説明する。本実施例では、特性変動が生
じ感度分布中心ずれがある磁気ヘッドを1本含む合計2
0本の磁気ヘッドを備えた上記構成の磁気ディスク装置
を使用し、感度分布中心ずれ判定シーケンス(図3参
照)に従い検査を行った。測定条件を以下に示す。
さらに具体的に説明する。本実施例では、特性変動が生
じ感度分布中心ずれがある磁気ヘッドを1本含む合計2
0本の磁気ヘッドを備えた上記構成の磁気ディスク装置
を使用し、感度分布中心ずれ判定シーケンス(図3参
照)に従い検査を行った。測定条件を以下に示す。
【0034】繰り返し測定回数N:1トラック中のサー
ボ数×2000周 書込禁止スライスW:1.0μmp-p フォロイング精度X:0.4μmp-p 異常判定しきい値Δ:0.3μmp-p ここで、異常判定しきい値Δは、X<α<Wを満たす様
に、α=0.7μmp-pから換算し、Δ=α−X=0.
7−0.4=0.3μmp-pに設定。なお、各単位μmp
-pは、読みとったバースト信号の再生波形を全波整流波
形したもののピーク値の間隔である。判定結果を〔表
1〕に示した。
ボ数×2000周 書込禁止スライスW:1.0μmp-p フォロイング精度X:0.4μmp-p 異常判定しきい値Δ:0.3μmp-p ここで、異常判定しきい値Δは、X<α<Wを満たす様
に、α=0.7μmp-pから換算し、Δ=α−X=0.
7−0.4=0.3μmp-pに設定。なお、各単位μmp
-pは、読みとったバースト信号の再生波形を全波整流波
形したもののピーク値の間隔である。判定結果を〔表
1〕に示した。
【0035】
【表1】
【0036】同表に示したように。非書込み時の200
0周分のオフセット量の最大値X1と、書込み時の20
00周分のオフセット量の最大値X2との差は、正常ヘ
ッド(Head#10以外)では0.1μm以下となり、正常
と判定されたのに対し、異常ヘッド(Head#10)では
0.76μmとなり、異常判定しきい値Δ(=0.3μ
m)を超えて異常と判定された。従って、本実施例の磁
気ディスク装置及びこの磁気ヘッド検査方法により、従
来の書込禁止スライスのみでは判定できないような感度
分布中止ずれが生じた磁気ヘッドを、確実に異常と判定
できることが確認された。
0周分のオフセット量の最大値X1と、書込み時の20
00周分のオフセット量の最大値X2との差は、正常ヘ
ッド(Head#10以外)では0.1μm以下となり、正常
と判定されたのに対し、異常ヘッド(Head#10)では
0.76μmとなり、異常判定しきい値Δ(=0.3μ
m)を超えて異常と判定された。従って、本実施例の磁
気ディスク装置及びこの磁気ヘッド検査方法により、従
来の書込禁止スライスのみでは判定できないような感度
分布中止ずれが生じた磁気ヘッドを、確実に異常と判定
できることが確認された。
【0037】なお、上記実施形態では、磁気ヘッドの感
度分布が異常であると判定した場合には、この判定をロ
グ情報として制御・演算回路基板4のメモリ(図示せ
ず)に記録するように構成したが、本発明の方法は、こ
れに限定されるものではなく、例えば、上記判定結果を
ログ情報として正常な磁気ディスクの管理エリア上に異
常ヘッド情報を記録するように構成してもよい。また、
磁気ディスク側でログ情報として記録する代わりに、上
位装置から磁気ディスクに何らかのアクセスがあった場
合に判定結果を当該上位装置に報告し、上位装置側で処
理を行うように構成してもよい。
度分布が異常であると判定した場合には、この判定をロ
グ情報として制御・演算回路基板4のメモリ(図示せ
ず)に記録するように構成したが、本発明の方法は、こ
れに限定されるものではなく、例えば、上記判定結果を
ログ情報として正常な磁気ディスクの管理エリア上に異
常ヘッド情報を記録するように構成してもよい。また、
磁気ディスク側でログ情報として記録する代わりに、上
位装置から磁気ディスクに何らかのアクセスがあった場
合に判定結果を当該上位装置に報告し、上位装置側で処
理を行うように構成してもよい。
【0038】また、アイドル状態において異常と判定さ
れた磁気ヘッドに対応する磁気ディスク上に書かれたデ
ータを、当該磁気ヘッドで読みとった後に、予め他の磁
気ディスクに退避させるように構成し、データの消去を
未然に防止するようにしてもよい。
れた磁気ヘッドに対応する磁気ディスク上に書かれたデ
ータを、当該磁気ヘッドで読みとった後に、予め他の磁
気ディスクに退避させるように構成し、データの消去を
未然に防止するようにしてもよい。
【0039】
【発明の効果】本発明によれば、磁気ヘッドにその特性
変動に伴う感度分布の異常が発生しているかどうかを磁
気ヘッドのアイドル状態においてダミートラックで検査
し、フォロイング精度を高めるとともに読み書きが不可
能になる前に察知することで装置の信頼性を向上するこ
とができる。
変動に伴う感度分布の異常が発生しているかどうかを磁
気ヘッドのアイドル状態においてダミートラックで検査
し、フォロイング精度を高めるとともに読み書きが不可
能になる前に察知することで装置の信頼性を向上するこ
とができる。
【図1】本発明に係る磁気ディスク装置の一実施形態の
概略ブロック図である。
概略ブロック図である。
【図2】同実施形態の磁気ディスク装置における磁気デ
ィスクのサーボ信号の構成を示す図である。
ィスクのサーボ信号の構成を示す図である。
【図3】磁気ヘッドの特性変動に伴う感度分布中心ずれ
の検査フローチャートである。
の検査フローチャートである。
【図4】感度分布中心ずれを来した磁気ヘッドのオフセ
ット状態を説明する図であり、(a)は正常時における
概略平面図、(b)は特性変動に伴う感度分布中心ずれ
を来したときのオフセット状態を示す概略平面図であ
る。
ット状態を説明する図であり、(a)は正常時における
概略平面図、(b)は特性変動に伴う感度分布中心ずれ
を来したときのオフセット状態を示す概略平面図であ
る。
1:磁気ディスク装置、4:制御・演算回路基板(判定
手段)20:磁気ディスク、22:磁気ヘッド、52:
バースト部(バースト信号)、X1:非書込時の最大オ
フセット量、X2:書込時の最大オフセット量。
手段)20:磁気ディスク、22:磁気ヘッド、52:
バースト部(バースト信号)、X1:非書込時の最大オ
フセット量、X2:書込時の最大オフセット量。
Claims (2)
- 【請求項1】 ダミートラックを有する磁気ディスク
と、該磁気ディスクへの情報の記録及び該磁気ディスク
からの情報の再生を行う磁気ヘッドとを備え、前記ダミ
ートラックに前記磁気ヘッドのオフセット量を表すバー
スト信号を記録してなる磁気ディスク装置であって、ア
イドル状態における前記磁気ヘッドで前記バースト信号
を再生して書込み時及び非書込み時の該磁気ヘッドの各
最大オフセット量を求めるとともに該各最大オフセット
量の差と所定のしきい値とを比較して、前記磁気ヘッド
の特性変動の有無を判定する判定手段を備えていること
を特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項2】 ダミートラックを有する磁気ディスク
と、該磁気ディスクへの情報の記録及び該磁気ディスク
からの情報の再生を行う磁気ヘッドとを備え、前記ダミ
ートラックに、前記磁気ヘッドのオフセット量を表すバ
ースト信号を記録してなる磁気ディスク装置の磁気ヘッ
ド検査方法であって、アイドル状態の前記磁気ヘッドを
前記ダミートラックにシークして前記バースト信号から
書込み時及び非書込み時における該磁気ヘッドの各最大
オフセット量を求め、該各最大オフセット量の差と所定
のしきい値とを比較して前記磁気ヘッドの特性変動の有
無を判定することを特徴とする磁気ディスク装置の磁気
ヘッド検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11178525A JP2001014619A (ja) | 1999-06-24 | 1999-06-24 | 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の磁気ヘッド検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11178525A JP2001014619A (ja) | 1999-06-24 | 1999-06-24 | 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の磁気ヘッド検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001014619A true JP2001014619A (ja) | 2001-01-19 |
Family
ID=16050007
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11178525A Pending JP2001014619A (ja) | 1999-06-24 | 1999-06-24 | 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置の磁気ヘッド検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001014619A (ja) |
-
1999
- 1999-06-24 JP JP11178525A patent/JP2001014619A/ja active Pending
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