JP2003296928A - 光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを検出する装置 - Google Patents
光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを検出する装置Info
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- JP2003296928A JP2003296928A JP2003091323A JP2003091323A JP2003296928A JP 2003296928 A JP2003296928 A JP 2003296928A JP 2003091323 A JP2003091323 A JP 2003091323A JP 2003091323 A JP2003091323 A JP 2003091323A JP 2003296928 A JP2003296928 A JP 2003296928A
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Abstract
(57)【要約】
明細書
【課題】光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを正
確に検出することのできる装置を提供する。 【解決手段】光デイスク１の記録再生エラーの位置と長
さを検出する装置であって、光デイスク１からの再生デ
ータと記録データとを比較する比較器２６と、再生デー
タの位置情報および長さ情報を演算するためのカウンタ
回路２７と、比較器２６からの出力結果とカウンタ回路
２７からの出力結果から記録再生エラーの位置情報を検
出するエラー位置検出回路２８と、トラック、セクター
を認識する回路と、光ヘッドの制御回路とを備えること
を特徴とする。
確に検出することのできる装置を提供する。 【解決手段】光デイスク１の記録再生エラーの位置と長
さを検出する装置であって、光デイスク１からの再生デ
ータと記録データとを比較する比較器２６と、再生デー
タの位置情報および長さ情報を演算するためのカウンタ
回路２７と、比較器２６からの出力結果とカウンタ回路
２７からの出力結果から記録再生エラーの位置情報を検
出するエラー位置検出回路２８と、トラック、セクター
を認識する回路と、光ヘッドの制御回路とを備えること
を特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光デイスクの記録
再生エラーの位置と長さを検出する装置に関する。
再生エラーの位置と長さを検出する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光デイスクの欠陥評価では、デイスク上
からの再生信号にスライスレベルを設けてこのレベルを
超えたものを欠陥として抽出している。また、エラーに
付いても光デイスク上に信号を書き込んだ後、この再生
信号と書き込み信号を比較し、一致しない部分をエラー
として抽出してきた。
からの再生信号にスライスレベルを設けてこのレベルを
超えたものを欠陥として抽出している。また、エラーに
付いても光デイスク上に信号を書き込んだ後、この再生
信号と書き込み信号を比較し、一致しない部分をエラー
として抽出してきた。
【０００３】光デイスクを製造し検査する場合に最も重
要なことは、デイスク上に幾つかの欠陥があり、かつそ
れが実際にデータを書いた場合に、どの程度エラーにな
るかに係る。
要なことは、デイスク上に幾つかの欠陥があり、かつそ
れが実際にデータを書いた場合に、どの程度エラーにな
るかに係る。
【０００４】ここでこれらを現す指標として、エラーレ
ートとか欠陥レートとか言う値が使われ、これによつて
デイスクの善し悪しが判断される。
ートとか欠陥レートとか言う値が使われ、これによつて
デイスクの善し悪しが判断される。
【０００５】これらは、以下の式で現される。
【０００６】欠陥レート＝欠陥個数 ／（測定範囲内に
記録できるデータビツト数） エラーレート＝エラー個数／（測定範囲内の記録できる
データビツト数） なお、公知技術として例えば下記特許文献１などを挙げ
ることができる。
記録できるデータビツト数） エラーレート＝エラー個数／（測定範囲内の記録できる
データビツト数） なお、公知技術として例えば下記特許文献１などを挙げ
ることができる。
【０００７】
【特許文献１】実開平１−４２４４６号公報
【０００８】
【発明が解決しょうとする課題】ここで注目されるの
は、これらの式の中で欠陥の大きさやエラーの大きさ・
長さが無視されている点である。実際の欠陥は、デイス
ク上のピンホールや異物が付いている場合がほとんどで
ある。この為、欠陥には元々長さがあるのが普通であ
る。欠陥測定では、光デイスク上からの反射信号にスラ
イスを設けて、そのしきい値を超えるものを欠陥として
カウントしている。この為、一つの欠陥から一つの欠陥
信号が出れば問題ないのだが、実際は一つの欠陥から複
数の欠陥信号が出る場合がある。こうなると欠陥レート
は、上式から上がることは明らかであり、実際の欠陥個
数とは掛け離れた値を示すことになる。
は、これらの式の中で欠陥の大きさやエラーの大きさ・
長さが無視されている点である。実際の欠陥は、デイス
ク上のピンホールや異物が付いている場合がほとんどで
ある。この為、欠陥には元々長さがあるのが普通であ
る。欠陥測定では、光デイスク上からの反射信号にスラ
イスを設けて、そのしきい値を超えるものを欠陥として
カウントしている。この為、一つの欠陥から一つの欠陥
信号が出れば問題ないのだが、実際は一つの欠陥から複
数の欠陥信号が出る場合がある。こうなると欠陥レート
は、上式から上がることは明らかであり、実際の欠陥個
数とは掛け離れた値を示すことになる。
【０００９】一方、エラーに付いても上記の欠陥の影響
を受けてエラーが出る場合は、エラーが数ビツトにわた
つて発生する。しかし、数ビツトにわたつてエラーが発
生しても実際のデータ再生時には複数のエラーとはなら
ない。なぜならば、光デイスク装置にはＥＣＣやＣＲＣ
等の強力なエラー訂正機能があるためで、数ビツト長程
度の連続エラーでは１つのエラーとはなるが、実際の再
生時には問題なくデータが読めてしまうからである。し
かし、上記検査方法でエラーを測定している場合は、一
つ一つのコンペーアチエツクは一つ一つのエラーとして
カウントされるので、実際の記録再生のエラーより多く
のエラーを発生しているように表示されてしまう問題が
あつた。
を受けてエラーが出る場合は、エラーが数ビツトにわた
つて発生する。しかし、数ビツトにわたつてエラーが発
生しても実際のデータ再生時には複数のエラーとはなら
ない。なぜならば、光デイスク装置にはＥＣＣやＣＲＣ
等の強力なエラー訂正機能があるためで、数ビツト長程
度の連続エラーでは１つのエラーとはなるが、実際の再
生時には問題なくデータが読めてしまうからである。し
かし、上記検査方法でエラーを測定している場合は、一
つ一つのコンペーアチエツクは一つ一つのエラーとして
カウントされるので、実際の記録再生のエラーより多く
のエラーを発生しているように表示されてしまう問題が
あつた。
【００１０】この発明は、前述した従来技術の欠点を解
消し、光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを正確
に検出することのできる装置を提供することを目的とす
るものである。
消し、光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを正確
に検出することのできる装置を提供することを目的とす
るものである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的は、光デイスク
の記録再生エラーの位置と長さを検出する装置におい
て、前記光デイスクからの再生データと記録データとを
比較する比較器と、前記再生データの位置情報および長
さ情報を演算するためのカウンタ回路と、前記比較器か
らの出力結果と、前記カウンタ回路からの出力結果か
ら、前記記録再生エラーの位置情報を検出するエラー位
置検出回路と、トラック、セクターを認識する回路と、
光ヘッドの制御回路とを備えることによって達成でき
る。
の記録再生エラーの位置と長さを検出する装置におい
て、前記光デイスクからの再生データと記録データとを
比較する比較器と、前記再生データの位置情報および長
さ情報を演算するためのカウンタ回路と、前記比較器か
らの出力結果と、前記カウンタ回路からの出力結果か
ら、前記記録再生エラーの位置情報を検出するエラー位
置検出回路と、トラック、セクターを認識する回路と、
光ヘッドの制御回路とを備えることによって達成でき
る。
【００１２】また上記目的は、光デイスクの記録再生エ
ラーの位置と長さを検出する装置において、前記光デイ
スクからの再生データと記録データとを比較する比較器
と、前記再生データの位置情報および長さ情報を演算す
るためのカウンタ回路と、前記比較器からの出力結果
と、前記カウンタ回路からの出力結果から、前記記録再
生エラーの位置情報を検出するエラー位置検出回路と、
そのエラー位置検出回路の出力結果を演算するための演
算回路と、トラック、セクターを認識する回路と、光ヘ
ッドの制御回路とを備えることによって達成できる。
ラーの位置と長さを検出する装置において、前記光デイ
スクからの再生データと記録データとを比較する比較器
と、前記再生データの位置情報および長さ情報を演算す
るためのカウンタ回路と、前記比較器からの出力結果
と、前記カウンタ回路からの出力結果から、前記記録再
生エラーの位置情報を検出するエラー位置検出回路と、
そのエラー位置検出回路の出力結果を演算するための演
算回路と、トラック、セクターを認識する回路と、光ヘ
ッドの制御回路とを備えることによって達成できる。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例を図１に示す。
図１で、１は光デイスク（の記録面）、２は光デイスク
の記録面上に光を収光させるオートフオーカス用レン
ズ、３は反射光と入射光を分離する偏光ビームスプリツ
タ、４はレーザ光を平行光にするレンズ、５は偏光面を
回転させるλ／２板、６はビーム成形用プリズム、７は
光を二つに分ける偏光ビームスプリツタ、８は反射光を
検出するデイテクタ、９は半導体レーザ、１０は反射信
号の和を作る加算アンプ、１１は加算アンプ１０で足さ
れた反射信号（ＲＤ信号）である。
図１で、１は光デイスク（の記録面）、２は光デイスク
の記録面上に光を収光させるオートフオーカス用レン
ズ、３は反射光と入射光を分離する偏光ビームスプリツ
タ、４はレーザ光を平行光にするレンズ、５は偏光面を
回転させるλ／２板、６はビーム成形用プリズム、７は
光を二つに分ける偏光ビームスプリツタ、８は反射光を
検出するデイテクタ、９は半導体レーザ、１０は反射信
号の和を作る加算アンプ、１１は加算アンプ１０で足さ
れた反射信号（ＲＤ信号）である。
【００１４】図２において、１２はＲＤ信号１１から２
値化信号を作る２値化回路、１３，１３はＲＤ信号１１
から欠陥を検出するコンパレータ回路、１４，１４はコ
ンパレータ１３のスライスレベルを決めるスライス回
路、１５はこの２値化信号からヘツダに含まれている同
期信号、または、増幅信号を検出する同期信号検出回
路、１６は明欠陥信号と暗欠陥信号のＯＲを取るＯＲ回
路、１７はＡＭ１からカウントを始めて欠陥の位置情報
を生成するカウンタ回路、１８はＯＲ回路１６からの欠
陥検出信号にセクター内アドレス情報を付け、欠陥生デ
ータを生成する欠陥位置生成回路、１９は欠陥位置生成
回路１８から得られたデータを基に欠陥生データを生成
しそれに重み付けを行い、かつ連結を行うかどうかを判
断し実行するＣＰＵである。なお、本評価装置には、こ
れ以外に、ＡＦサーボ系、ＴＲサーボ系、コース系、レ
ーザ制御系、スピンドルサーボ系等のサーボ回路や２値
化データからトラツク、セクターを認識し、光ヘツドを
動かす制御回路等を持つているものとする。
値化信号を作る２値化回路、１３，１３はＲＤ信号１１
から欠陥を検出するコンパレータ回路、１４，１４はコ
ンパレータ１３のスライスレベルを決めるスライス回
路、１５はこの２値化信号からヘツダに含まれている同
期信号、または、増幅信号を検出する同期信号検出回
路、１６は明欠陥信号と暗欠陥信号のＯＲを取るＯＲ回
路、１７はＡＭ１からカウントを始めて欠陥の位置情報
を生成するカウンタ回路、１８はＯＲ回路１６からの欠
陥検出信号にセクター内アドレス情報を付け、欠陥生デ
ータを生成する欠陥位置生成回路、１９は欠陥位置生成
回路１８から得られたデータを基に欠陥生データを生成
しそれに重み付けを行い、かつ連結を行うかどうかを判
断し実行するＣＰＵである。なお、本評価装置には、こ
れ以外に、ＡＦサーボ系、ＴＲサーボ系、コース系、レ
ーザ制御系、スピンドルサーボ系等のサーボ回路や２値
化データからトラツク、セクターを認識し、光ヘツドを
動かす制御回路等を持つているものとする。
【００１５】図１で、光デイスク１上からの反射信号
は、デイテクター８で電気信号に変えられ、加算アンプ
１０で増幅され、ＲＤ信号１１として検出される。
は、デイテクター８で電気信号に変えられ、加算アンプ
１０で増幅され、ＲＤ信号１１として検出される。
【００１６】図３で、ＲＤ信号１１の上下にスライスを
掛け欠陥を抽出するところを示す。検出信号（欠陥信
号）は２０のように現される。この欠陥信号２０は、Ａ
Ｍ１からのカウンタにより欠陥の大きさ及び欠陥位置を
知ることができる。
掛け欠陥を抽出するところを示す。検出信号（欠陥信
号）は２０のように現される。この欠陥信号２０は、Ａ
Ｍ１からのカウンタにより欠陥の大きさ及び欠陥位置を
知ることができる。
【００１７】これらのことは、図で２０の信号線の下の
数字で現している。例えば、図４の欠陥は、ＡＭ１を０
とすると１０ビツトから１１ビツトに現れ、次に１４か
ら１５に現れたことを示している。これを処理すると欠
陥長は共に１ビツトであることがわかる。これらの処理
はＣＰＵ１９で行う。
数字で現している。例えば、図４の欠陥は、ＡＭ１を０
とすると１０ビツトから１１ビツトに現れ、次に１４か
ら１５に現れたことを示している。これを処理すると欠
陥長は共に１ビツトであることがわかる。これらの処理
はＣＰＵ１９で行う。
【００１８】これらの欠陥生情報を基に、ソフトで重み
付け処理を行う。重み付け処理の概念図を図４に示す。
図より、まず最初の欠陥について重み付けを行う。重み
付けはまず、前の欠陥の前後数ビツトに欠陥幅を拡大す
る。例えば、１０ビツトから１１ビツトの欠陥があり４
ビツトの重み付けを行うと、欠陥は６ビツトから１４ビ
ツトにあることになる。このとき、この範囲内に別の欠
陥がある場合は、これは一つのデイスク上の欠陥から出
たものとして、欠陥のつなぎ込みを行う。この場合は、
１４から１５に欠陥があるのでつなぎ込みを行い、１０
から１５に欠陥があるものとする。その結果、欠陥長も
５ビツトになる。
付け処理を行う。重み付け処理の概念図を図４に示す。
図より、まず最初の欠陥について重み付けを行う。重み
付けはまず、前の欠陥の前後数ビツトに欠陥幅を拡大す
る。例えば、１０ビツトから１１ビツトの欠陥があり４
ビツトの重み付けを行うと、欠陥は６ビツトから１４ビ
ツトにあることになる。このとき、この範囲内に別の欠
陥がある場合は、これは一つのデイスク上の欠陥から出
たものとして、欠陥のつなぎ込みを行う。この場合は、
１４から１５に欠陥があるのでつなぎ込みを行い、１０
から１５に欠陥があるものとする。その結果、欠陥長も
５ビツトになる。
【００１９】図５の場合も同じように、欠陥を広げてみ
るが前後に欠陥がないので、一つの孤立欠陥として結局
３０から３１の欠陥となる。この操作を順次、欠陥が現
れる度に行う。このように欠陥を連結すると、欠陥の総
数は減少し、結果的に欠陥レートの式からレートは減少
する。しかし、前にも述べたように、欠陥レートには長
さの概念がなく、かつ実際のデイスク上の欠陥にあつた
欠陥レートを提供することになる。このように欠陥デー
タを連結することにより、よりデイスク上の欠陥と同じ
形態で欠陥の大きさや位置がわかり、よりデイスクの本
当の状態にあつた欠陥レートが計算できる。
るが前後に欠陥がないので、一つの孤立欠陥として結局
３０から３１の欠陥となる。この操作を順次、欠陥が現
れる度に行う。このように欠陥を連結すると、欠陥の総
数は減少し、結果的に欠陥レートの式からレートは減少
する。しかし、前にも述べたように、欠陥レートには長
さの概念がなく、かつ実際のデイスク上の欠陥にあつた
欠陥レートを提供することになる。このように欠陥デー
タを連結することにより、よりデイスク上の欠陥と同じ
形態で欠陥の大きさや位置がわかり、よりデイスクの本
当の状態にあつた欠陥レートが計算できる。
【００２０】本発明の他の実施例を図６に示す。なお、
図１に示す実施例と同一個所には同一符号を付して重複
する説明は省略する。
図１に示す実施例と同一個所には同一符号を付して重複
する説明は省略する。
【００２１】３０は加算アンプ１０で得られた光磁気信
号（ＲＤ信号）、２１は光デイスク１上にデータを書き
込むためのＷＲパワー制御系、２２はＷＲパターンを生
成するＷＲパターン生成器、２３は差動信号から微分信
号を作る微分回路、２４は微分信号から２値化信号を作
る２値化回路、２５はデータ領域を識別するデータ抽出
回路、２６はＷＲデータ、ＲＤデータを比較しエラーを
抽出するエラー抽出器、２７はプリピツト中のＡＭ１か
らカウントを始めるカウント回路、２８はエラー信号と
カウンタの値からエラー位置信号を作るエラー位置検出
回路、２９はエラー位置信号からエラーの重み付け、つ
なぎ込みを行うＣＰＵである。なお、本評価装置には、
これ以外にＡＦサーボ系、ＴＲサーボ系、コース系、レ
ーザ制御系、スピンドルサーボ系等のサーボ回路や、２
値化データからトラツク、セクターを認識し光ヘツドを
動かす制御回路等を持つているものとする。
号（ＲＤ信号）、２１は光デイスク１上にデータを書き
込むためのＷＲパワー制御系、２２はＷＲパターンを生
成するＷＲパターン生成器、２３は差動信号から微分信
号を作る微分回路、２４は微分信号から２値化信号を作
る２値化回路、２５はデータ領域を識別するデータ抽出
回路、２６はＷＲデータ、ＲＤデータを比較しエラーを
抽出するエラー抽出器、２７はプリピツト中のＡＭ１か
らカウントを始めるカウント回路、２８はエラー信号と
カウンタの値からエラー位置信号を作るエラー位置検出
回路、２９はエラー位置信号からエラーの重み付け、つ
なぎ込みを行うＣＰＵである。なお、本評価装置には、
これ以外にＡＦサーボ系、ＴＲサーボ系、コース系、レ
ーザ制御系、スピンドルサーボ系等のサーボ回路や、２
値化データからトラツク、セクターを認識し光ヘツドを
動かす制御回路等を持つているものとする。
【００２２】図６で、光デイスク１上からの反射信号
は、デイテクタ８で電気信号に変えられ、加算アンプ１
０で増幅され、ＲＤ信号３０として検出される。それは
図７に示すように出力されてくる。図７で、ＲＤ信号３
０とコンパレート信号を比較しエラーを抽出するところ
を示す。検出信号は３１のように現される。このエラー
信号３１は、ＡＭ１からのカウンタによりエラーの大き
さ及びエラー位置を知ることができる。これらのことは
図８のエラー信号３１の信号線の下の数字で現してい
る。例えば、図８のエラーは、ＡＭ１を０とすると６６
ビツトから６７ビツトに現れ、次に６８から６９にその
次、次、次と現れたことを示している。これを処理する
とエラー長はすべて１ビツトであることがわかる。これ
らの処理はＣＰＵ２９で行う。これらのエラー生情報を
基に、ソフトで重み付け処理を行う。重み付け処理の概
念を前述した図８に示す。図よりまず、最初のエラーに
ついて重み付けを行う。重み付けはまず、前のエラーの
前後数ビツトにエラー幅を拡大する。例えば、６６ビツ
トから６７ビツトにエラーがあり４ビツトの重み付けを
行うと、エラーは６２ビツトから７１ビツトにあること
になる。この時、この範囲内に別のエラーがある場合
は、これは一つのデイスク上の欠陥から出たものとして
エラーのつなぎ込みを行う。この場合は、６８から７１
にエラーがあるのでつなぎ込みを行い、６６から７１に
エラーがあるものとする。その結果、エラー長も３ビツ
トになる。次にこのエラーに重み付けをさらに行うと、
後ろは７５になる。そして、ここにも別のエラーがあれ
ばこれもつなぎ込むと。以後、この操作を順番に続けて
行き、最終的には長さ９ビツトのエラーが一つあること
になる。
は、デイテクタ８で電気信号に変えられ、加算アンプ１
０で増幅され、ＲＤ信号３０として検出される。それは
図７に示すように出力されてくる。図７で、ＲＤ信号３
０とコンパレート信号を比較しエラーを抽出するところ
を示す。検出信号は３１のように現される。このエラー
信号３１は、ＡＭ１からのカウンタによりエラーの大き
さ及びエラー位置を知ることができる。これらのことは
図８のエラー信号３１の信号線の下の数字で現してい
る。例えば、図８のエラーは、ＡＭ１を０とすると６６
ビツトから６７ビツトに現れ、次に６８から６９にその
次、次、次と現れたことを示している。これを処理する
とエラー長はすべて１ビツトであることがわかる。これ
らの処理はＣＰＵ２９で行う。これらのエラー生情報を
基に、ソフトで重み付け処理を行う。重み付け処理の概
念を前述した図８に示す。図よりまず、最初のエラーに
ついて重み付けを行う。重み付けはまず、前のエラーの
前後数ビツトにエラー幅を拡大する。例えば、６６ビツ
トから６７ビツトにエラーがあり４ビツトの重み付けを
行うと、エラーは６２ビツトから７１ビツトにあること
になる。この時、この範囲内に別のエラーがある場合
は、これは一つのデイスク上の欠陥から出たものとして
エラーのつなぎ込みを行う。この場合は、６８から７１
にエラーがあるのでつなぎ込みを行い、６６から７１に
エラーがあるものとする。その結果、エラー長も３ビツ
トになる。次にこのエラーに重み付けをさらに行うと、
後ろは７５になる。そして、ここにも別のエラーがあれ
ばこれもつなぎ込むと。以後、この操作を順番に続けて
行き、最終的には長さ９ビツトのエラーが一つあること
になる。
【００２３】このようにエラーデータを連結することに
より、よりデイスク上の欠陥と同じ形態で、エラーの大
きさや位置がわかり、よりデイスクの本当の状態にあつ
たエラーレートが計算できる。このことにより、より実
際のデイスク評価が可能になる効果がある。
より、よりデイスク上の欠陥と同じ形態で、エラーの大
きさや位置がわかり、よりデイスクの本当の状態にあつ
たエラーレートが計算できる。このことにより、より実
際のデイスク評価が可能になる効果がある。
【００２４】なお、このデイスクとは、追記型、光磁気
型のほか、相変化型、その他の光デイスクにも有効であ
る。
型のほか、相変化型、その他の光デイスクにも有効であ
る。
【００２５】
【発明の効果】本発明は前述のような構成になってお
り、光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを正確に
検出することのできる。
り、光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを正確に
検出することのできる。
【図１】本発明による光デイスクの欠陥検出回路の一実
施例の前段部の構成図である。
施例の前段部の構成図である。
【図２】本発明による光デイスクの欠陥検出回路の一実
施例の後段部の構成図である。
施例の後段部の構成図である。
【図３】本発明による光デイスク欠陥検出のタイミング
図である。
図である。
【図４】本発明による光デイスク欠陥検出のタイミング
図である。
図である。
【図５】本発明による光デイスク欠陥検出のタイミング
図である。
図である。
【図６】本発明による光デイスクのエラー検出回路の一
実施例の構成図である。
実施例の構成図である。
【図７】本発明による光デイスクエラー検出のタイミン
グ図である。
グ図である。
【図８】本発明による光デイスクエラー検出のタイミン
グ図である。
グ図である。
１ 光デイスク
１０ 加算アンプ
１２ ２値化回路
１３ コンパレータ回路
１４ スライス回路
１５ 同期信号検出回路
１６ ＯＲ回路
１７ カウンタ回路
１８ 欠陥位置生成回路
１９ ＣＰＵ
２１ ＷＲパワー制御系
２２ ＷＲパターン生成器
２３ 微分回路
２４ ２値化回路
２５ データ抽出回路
２６ エラー抽出器
２７ カウント回路
２８ エラー位置検出回路
２９ ＣＰＵ
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｃ
５７２Ｆ
５７６ ５７６Ｃ
５７６Ｆ
23/00 23/00 Ｈ
(72)発明者 飯田 保
大阪府茨木市丑寅一丁目１番88号 日立マ
クセル株式会社内
(72)発明者 桑原 勝実
大阪府茨木市丑寅一丁目１番88号 日立マ
クセル株式会社内
Ｆターム(参考） 5D090 AA01 BB04 CC18 DD03 FF38
GG28
5D121 AA01 HH01 HH18
Claims (3)
- 【請求項１】 光デイスクの記録再生エラーの位置と長
さを検出する装置において、 前記光デイスクからの再生データと記録データとを比較
する比較器と、 前記再生データの位置情報および長さ情報を演算するた
めのカウンタ回路と、 前記比較器からの出力結果と、前記カウンタ回路からの
出力結果から、前記記録再生エラーの位置情報を検出す
るエラー位置検出回路と、 トラック、セクターを認識する回路と、 光ヘッドの制御回路とを備えることを特徴とする光デイ
スクの記録再生エラーの位置と長さを検出する装置。 - 【請求項２】 光デイスクの記録再生エラーの位置と長
さを検出する装置において、 前記光デイスクからの再生データと記録データとを比較
する比較器と、 前記再生データの位置情報および長さ情報を演算するた
めのカウンタ回路と、 前記比較器からの出力結果と、前記カウンタ回路からの
出力結果から、前記記録再生エラーの位置情報を検出す
るエラー位置検出回路と、 そのエラー位置検出回路の出力結果を演算するための演
算回路と、 トラック、セクターを認識する回路と、 光ヘッドの制御回路とを備えることを特徴とする光デイ
スクの記録再生エラーの位置と長さを検出する装置。 - 【請求項３】 請求項１または請求項２に記載の光デイ
スクの記録再生エラーの位置と長さを検出する装置にお
いて、 さらに同期信号検出回路を備えていることを特徴とする
光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを検出する装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003091323A JP3585480B2 (ja) | 2003-03-28 | 2003-03-28 | 書き換え型光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを検出する装置 |
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