CN100395826C - 光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法 - Google Patents
光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN100395826C CN100395826C CNB2004100485579A CN200410048557A CN100395826C CN 100395826 C CN100395826 C CN 100395826C CN B2004100485579 A CNB2004100485579 A CN B2004100485579A CN 200410048557 A CN200410048557 A CN 200410048557A CN 100395826 C CN100395826 C CN 100395826C
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- block
- flaw
- discs
- group
- blocks
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
本发明是为一种缺陷区块决定方法，应用于一光盘读取装置对一光盘片的处理过程，该缺陷区块决定方法包含下列步骤：对该光盘片进行一第一阶段缺陷侦测手段，得到一第一组缺陷区块；对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块；以及决定该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块为相对应该光盘片的缺陷区块。另一方面，本发明是为一种排除缺陷区块写入方法，尤指应用于一光盘写入装置对一光盘片的处理过程。
Description
技术领域
本发明是为一种缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法，尤指应用于光盘读写装置对光盘片的处理过程中的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法。
背景技术
可复写式光盘片(Compact Disc-ReWritable，简称CD-RW)，是一种可以将资料重复存取或修改的光盘片，而CD-Mount Rainier Written(简称CD-MRW)则是一种较CD-RW在格式上更为进步的光盘片，即CD-MRW本身可在存取资料的驱动过程中对于光盘片本身作一整体的缺陷管理(defect management)以及一背景格式化(background formatting)，当光盘读取写入装置欲在一CD-MRW光盘片上的某一区块(block)作记录，却发现是该区块是一个损坏的区块时，该区块就会被隐藏而不作使用。而现有的缺陷侦测(defect detection)通常是以下面的技术手段来完成。
请参阅图1，此是为一现有光盘机内部的信号处理示意图，其主要由一光学读取头20读取一光盘片10上的一区块11后将读取的信号传至一前置放大器21， 接着产生一副光束总合信号(SBAD，Sub Beam ADdSignal)，该副光束总合信号(SBAD)的电压值是代表该光学读取头20以一激光光束打入该光盘片10某一区块上所反射回来的一光量，该副光束总合信号会与经由一副光束总合信号低通信号过滤器(SBAD Low Passfilter)22所产生的一副光束总合信号低通信号部份(SBADlow pass)，传至一数字信号处理器23进行处理，之后会将判断结果传至一微控制单元24，用以标示出何者为缺陷区块。
请参阅图2，此是为该现有光盘机内部的信号处理流程图，是故目前光盘读取装置对光盘片上的缺陷区块的现有侦测技术便是以此SBAD处理技术进行侦测，方法即是以SBAD与SBADlow pass的差值的绝对值大小：SBAD SBADlow pass，和一预设的门槛值进行比对，由此比较的结果来判断该区块是否为一缺陷区块，进而决定出该光盘片上所有的缺陷区块，并将所侦测到的缺陷区块传送到该微控制单元24中进行记录，用以提供后续的写入过程作判断，进而避免光盘写入装置将资料写入于损坏的区块之上。
请参阅图3，其是一光盘片上存在一刮痕的示意图，由图所示可得知，在光盘片30上存在著一刮痕S，而以上述现有SBAD处理技术对该光盘片30进行侦测的结果是得到一第一组缺陷区块40，该第一组缺陷区块40由缺陷区块A、B、C和D等四个缺陷区块所组成。然而很明显地，在该刮痕S上，可能由于该预设的门槛值较高或信号杂讯干扰等的缘故，以SBAD处理技术仅能侦测出的缺陷区块A和该缺陷区块B而已，因此由图所示可得知，在该刮痕S上，该缺陷区块A和该缺陷区块B之间的缺陷区块将无法被侦测到，导致后续的资料写入动作，仍会将资料写入刮痕S上的其它区块内，导致将来进行资料读取时将产生问题。是故提出一个能避免将光盘片上的缺陷区块漏侦测，且避免将资料读取错误并将资料写入于正常的区块中的机制，便是本发明发展的主要目的。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法，其可避免将资料读取错误并将资料写入于正常的区块中的机制，便是本发明发展的主要目的。
本发明是为一种光盘片的缺陷区块决定方法，应用于一光盘读取装置对一光盘片的处理过程，其特征在于，该缺陷区块决定方法包含下列步骤：
对该光盘片进行一第一阶段缺陷侦测手段，由一光学读取头读取该光盘片上的一区块后将读取的信号传至一前置放大器，接着产生一副光束总合信号，该副光束总合信号的电压值是代表该光学读取头以一激光光束打入该光盘片的该区块上所反射回来的一光量，该副光束总合信号会与经由一副光束总合信号低通信号过滤器所产生的一副光束总合信号低通信号部份，传至一数字信号处理器进行处理，之后会将判断结果传至一微控制单元，用以标示出何者为缺陷区块，方法即是以该副光束总合信号与该副光束总合信号低通信号部分的差值的绝对值和一预设的门槛值进行比对，若大于该预设的门槛值，则判断该区块为缺陷区块，并且得到该第一组缺陷区块；
对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中任意取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块，将该两个缺陷区块间直线的区间以外，该直线所延伸经过的区块，列入该第二组缺陷区块之中；以及
决定该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块为相对应该光盘片的缺陷区块。
其中该预定值是指定为一个位整数。
本发明一种光盘片的排除缺陷区块写入方法，应用于一光盘写入装置对一光盘片的处理过程，其特征在于，该排除缺陷区块写入方法包含下列步骤：
对该光盘片进行一第一阶段缺陷侦测手段，由一光学读取头读取该光盘片上的一区块后将读取的信号传至一前置放大器，接着产生一副光束总合信号，该副光束总合信号的电压值是代表该光学读取头以一激光光束打入该光盘片的该区块上所反射回来的一光量，该副光束总合信号会与经由一副光束总合信号低通信号过滤器所产生的一副光束总合信号低通信号部份，传至一数字信号处理器进行处理，之后会将判断结果传至一微控制单元，用以标示出何者为缺陷区块，方法即是以该副光束总合信号与该副光束总合信号低通信号部分的差值的绝对值和一预设的门槛值进行比对，若大于该预设的门槛值，则判断该区块为缺陷区块，并且得到该第一组缺陷区块；
对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块；以及
对该光盘片进行一写入手段时，排除对该光盘片的该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块的写入。
其中该预定值是指定为一个位整数。
其中该第二阶段缺陷侦测手段还包含一区间外缺陷决定手段，是指由该第一组缺陷区块之中取出的该两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于该预定值时，将该两个缺陷区块间直线的区间以外，该直线所延伸经过的至少一个的区块，列入该第二组缺陷区块之中。
其中将该光盘片的该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块定义为一光盘片缺陷区块组，而将其余的区块定义为一光盘片正常区块组，当该光盘写入装置对该光盘片进行该写入手段时，则排除对该光盘片缺陷区块组的写入，而对该光盘片正常区块组进行写入。
附图说明
为进一步说明本发明的技术内容，以下结合实施例及附图详细说明如后，以便更深入的了解，其中：
图1是为现有光盘机内部的信号处理示意图。
图2是为现有光盘机内部的信号处理流程图。
图3其是一光盘片上存在一刮痕的示意图。
图4是为运用本发明的光盘机内部的信号处理示意图。
图5是以本发明较佳实施例举例说明，在第二阶段缺陷侦测手段中，所得到的第二组缺陷区块。
图6是以本发明较佳实施例举例说明，在第二阶段缺陷侦测手段中，对其他缺陷区块的判断。
图7是为本发明较佳实施例，光盘读取写入装置对光盘片的缺陷区块决定及排除缺陷区块写入的流程图。
具体实施方式
请参阅图4，是为运用本发明的光盘机内部的信号处理示意图，由图3所示可知我们将现有的副光束总合信号(SBAD)处理技术作为一第一阶段缺陷侦测手段，对该光盘片30进行该第一阶段缺陷侦测手段，由一光学读取头50读取一光盘片30上的一区块31后将读取的信号传至一前置放大器51，接着产生一副光束总合信号(SBAD)，该副光束总合信号(SBAD)的电压值是代表该光学读取头50以一激光光束打入该光盘片30某一区块上所反射回来的一光量，该副光束总合信号会与经由一副光束总合信号低通信号过滤器(SBAD Low Pass filter)52所产生的一副光束总合信号低通信号部份(SBADlow pass)，传至一数字信号处理器53进行处理，之后会将判断结果传至一微控制单元54，用以标示出何者为缺陷区块，方法即是以SBAD与SBADlow pass的差值的绝对值大小：SBADSBADlow pass，和一预设的门槛值进行比对，若大于该预设的门槛值，则判断该区块为缺陷区块，并且得到该第一组缺陷区块40。
请参阅图5，对该光盘片30进行一第二阶段缺陷侦测手段，是为改善该第一阶段缺陷侦测手段中漏侦测的过程所作的进一步侦测，在该第二阶段缺陷侦测手段中，由该第一组缺陷区块40中任意取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值(例如一个位整数)时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块60。以图5所示的实施例而言，由于该缺陷区块A和该缺陷区块B两者间以直线相连所跨过的轨道数小于该预定值，所以在该缺陷区块A和该缺陷区块B两者间直线所经过的区块中就可决定出一缺陷区块S1和一缺陷区块S2。另外在该第二阶段缺陷侦测手段中，我们更设计了一区间外缺陷决定手段，即由该第一组缺陷区块40之中取出的两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一个位整数时，将该两个缺陷区块间直线的区间以外，该直线所延伸经过的区块，列入该第二组缺陷区块60之中。在本发明较佳实施例中，将该缺陷区块A和该缺陷区块B两者间直线的区间以外，该直线所延伸经过的至少一个的区块，因此就可决定出一缺陷区块S3和一缺陷区块S4，列入该第二组缺陷区块60之中。是故在此较佳实施例之中，该刮痕S上可能因为漏侦测而未被决定出的该缺陷区块S1、S2和S3就可以在该第二阶段缺陷侦测手段被决定出来，然而同样也是被决定出的该缺陷区块S4虽然并不在该刮痕S之上，亦不是真正存在的缺陷区块，但根据本发明发展的初衷，其目的是为了避免将资料写入损坏的区块之中，经由该第二阶段缺陷侦测手段虽可能将正常的区块判断为损坏的区块，而使得该光盘片减少写入的空间，但却也因此更能提高将资料写入于正常的区块中的成功率，进而更能确保资料写入与读取的正确。
请参阅图6，是在该第一阶段缺陷侦测手段中，以本发明较佳实施例举例说明所得到的该缺陷区块C，由于该缺陷区块C和该第一组缺陷区块40中其他该缺陷区块A、B和D，两者间以直线相连所跨过的轨道数都超过了该预定值，因此由该第二阶段缺陷侦测手段的决定方法，对于在该缺陷区块C和该缺陷区块A、B和D相连直线所经过的区块，以及该直线区间所向外延伸经过的至少一个的区块，则不判断为缺陷区块。另外虽然该缺陷区块D和该缺陷区块A、B之间不存在如该刮痕S的损坏，但因为该第二阶段缺陷侦测手段的决定方法使得该缺陷区块D和该缺陷区块A、B之间相连直线所经过的区块，以及该直线区间所向外延伸经过的至少一个的区块，则判断为缺陷区块，因而得到了一缺陷区块N1、N2、N3、N4、N5和N6，列入该第二组缺陷区块60之中。依本发明较佳实施例，虽然该缺陷区块N1、N2、N3、N4、N5和N6原本是正常的区块，但同样地根据本发明发展的初衷与目的，如此仍是为了提高将资料写入于正常的区块中的成功率，进而更能确保资料写入与读取的正确。
再者当该第一阶段缺陷侦测手段与该第二阶段缺陷侦测手段决定后，我们就可以定义出该第一组缺陷区块40和该第二组缺陷区块60为一光盘片缺陷区块组，而将其余的区块定义为一光盘片正常区块组。当一光盘写入装置对该光盘片30进行一写入手段时，则排除对该光盘片缺陷区块组的写入，而对该光盘片正常区块组进行写入。
请参阅图7，是为在本发明较佳实施例中，该光盘读取写入装置对该光盘片30的缺陷区块决定及排除缺陷区块写入的流程图。首先对该光盘片进行一第一阶段缺陷侦测手段，得到一第一组缺陷区块，例如取得该光盘读取装置对一区块所得到的一副光束总合信号(SBAD)，使该副光束总合信号减去该副光束总合信号的低通信号部份，得到一数值，接着使该数值的绝对值和一门槛值进行相比，若该数值的绝对值大于该门槛值，则判断该区块为缺陷区块。然后对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块，并且将该两个缺陷区块间直线的区间以外，该直线所延伸经过的至少一个的区块，一并列入该第二组缺陷区块之中，最后再将该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块为相对应该光盘片的缺陷区块，如此，于执行写入动作时便能排除对该光盘片缺陷区块组的写入，而仅对该光盘片正常区块组进行写入。
因此根据上述的步骤，我们除了能利用现有的侦测技术来找出可能存在于光盘片上的缺陷区块的外，更进一步的还能以一决定方法来决定出可能为缺陷区块但却是在现有的侦测技术的下所不能被发现的缺陷区块，因此能达到避免将资料写入于损坏的区块之中，是故成功地达成了发展本发明的主要目的。
Claims (6)
1.一种光盘片的缺陷区块决定方法，应用于一光盘读取装置对一光盘片的处理过程，其特征在于，该缺陷区块决定方法包含下列步骤：
对该光盘片进行第一阶段缺陷侦测手段，由一光学读取头读取一光盘片上的一区块后将读取的信号传至一前置放大器，接着产生一副光束总合信号，该副光束总合信号的电压值是代表该光学读取头以一激光光束打入该光盘片某一区块上所反射回来的一光量，该副光束总合信号会与经由一副光束总合信号低通信号过滤器所产生的一副光束总合信号低通信号部份，传至一数字信号处理器进行处理，之后会将判断结果传至一微控制单元，用以标示出何者为缺陷区块，方法即是以副光束总合与该副光束总合信号低通信号部分的差值的绝对值和一预设的门槛值进行比对，若大于该预设的门槛值，则判断该区块为缺陷区块，并且得到第一组缺陷区块；
对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中任意取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块，将该两个缺陷区块间直线的区间以外，该直线所延伸经过的区块，列入该第二组缺陷区块之中；以及
决定该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块为相对应该光盘片的缺陷区块。
2.如权利要求1所述的光盘片的缺陷区块决定方法，其特征在于，其中该预定值是指定为一个位整数。
3.一种光盘片的排除缺陷区块写入方法，应用于一光盘写入装置对一光盘片的处理过程，其特征在于，该排除缺陷区块写入方法包含下列步骤：
对该光盘片进行第一阶段缺陷侦测手段，由一光学读取头读取一光盘片上的一区块后将读取的信号传至一前置放大器，接着产生一副光束总合信号，该副光束总合信号的电压值是代表该光学读取头以一激光光束打入该光盘片某一区块上所反射回来的一光量，该副光束总合信号会与经由一副光束总合信号低通信号过滤器所产生的一副光束总合信号低通信号部份，传至一数字信号处理器进行处理，之后会将判断结果传至一微控制单元，用以标示出何者为缺陷区块，方法即是以该副光束总合信号与该副光束总合信号低通信号部分的差值的绝对值和一预设的门槛值进行比对，若大于该预设的门槛值，则判断该区块为缺陷区块，并且得到第一组缺陷区块；
对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块；以及
对该光盘片进行一写入手段时，排除对该光盘片的该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块的写入。
4.如权利要求3所述的光盘片的排除缺陷区块写入方法，其特征在于，其中该预定值是指定为一个位整数。
5.如权利要求3所述的光盘片的排除缺陷区块写入方法，其特征在于，其中该第二阶段缺陷侦测手段还包含一区间外缺陷决定手段，是指由该第一组缺陷区块之中取出的该两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于该预定值时，将该两个缺陷区块间直线的区间以外，该直线所延伸经过的至少一个的区块，列入该第二组缺陷区块之中。
6.如权利要求3所述的光盘片的排除缺陷区块写入方法，其特征在于，其中将该光盘片的该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块定义为一光盘片缺陷区块组，而将其余的区块定义为一光盘片正常区块组，当该光盘写入装置对该光盘片进行该写入手段时，则排除对该光盘片缺陷区块组的写入，而对该光盘片正常区块组进行写入。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNB2004100485579A CN100395826C (zh) | 2004-06-08 | 2004-06-08 | 光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CNB2004100485579A CN100395826C (zh) | 2004-06-08 | 2004-06-08 | 光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN1707627A CN1707627A (zh) | 2005-12-14 |
| CN100395826C true CN100395826C (zh) | 2008-06-18 |
Family
ID=35581485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CNB2004100485579A Expired - Fee Related CN100395826C (zh) | 2004-06-08 | 2004-06-08 | 光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN100395826C (zh) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1390352A (zh) * | 1999-10-28 | 2003-01-08 | 西加特技术有限责任公司 | 同步字节填充 |
| JP2003036613A (ja) * | 2001-07-25 | 2003-02-07 | Sony Corp | 光記録媒体の検査方法 |
| US20030223335A1 (en) * | 2002-06-04 | 2003-12-04 | Chih-Yuan Chen | Method of defect detection for optical disc drives |
| US20040059987A1 (en) * | 2002-09-20 | 2004-03-25 | Chien-Li Hung | Method for preventing an optical recording device from erroneous defect detecting during writing |
| CN1492404A (zh) * | 2002-10-23 | 2004-04-28 | 建兴电子科技股份有限公司 | 有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法 |
-
2004
- 2004-06-08 CN CNB2004100485579A patent/CN100395826C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1390352A (zh) * | 1999-10-28 | 2003-01-08 | 西加特技术有限责任公司 | 同步字节填充 |
| JP2003036613A (ja) * | 2001-07-25 | 2003-02-07 | Sony Corp | 光記録媒体の検査方法 |
| US20030223335A1 (en) * | 2002-06-04 | 2003-12-04 | Chih-Yuan Chen | Method of defect detection for optical disc drives |
| US20040059987A1 (en) * | 2002-09-20 | 2004-03-25 | Chien-Li Hung | Method for preventing an optical recording device from erroneous defect detecting during writing |
| CN1492404A (zh) * | 2002-10-23 | 2004-04-28 | 建兴电子科技股份有限公司 | 有效避免光盘烧录机在烧录时误侦测瑕疵点的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1707627A (zh) | 2005-12-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2385510C2 (ru) | Система, способ и устройство управления дефектной зоной неперезаписываемого оптического носителя записи | |
| KR100714876B1 (ko) | 하드디스크 드라이브, 하드디스크 드라이브의 스크래치처리방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한기록매체 | |
| JP2007272977A (ja) | ヘッド検査装置および方法 | |
| CN100395826C (zh) | 光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法 | |
| US7385894B2 (en) | Method for determining defective blocks of optical disc | |
| TWI247281B (en) | Method of determining defect detection mode for optical storage device | |
| US20050286378A1 (en) | Data writing method | |
| JP3585480B2 (ja) | 書き換え型光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを検出する装置 | |
| JP4012793B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| KR100392398B1 (ko) | 픽업 유니트 검사장치 | |
| RU2009127808A (ru) | Способ проверки оптического носителя записи информации, устройство проверки, оптический носитель записи информации и способ записи | |
| KR100604931B1 (ko) | 정보 저장 수단의 품질 검사 방법 및 그 장치 | |
| KR20070084345A (ko) | 데이터 오차 측정값 기반 속도 제어 | |
| JP4011023B2 (ja) | 光ディスク検査方法 | |
| JPH05159507A (ja) | 光ディスクの検査装置および方法 | |
| JPH1131380A (ja) | Ｃｄ−ｒの検査装置 | |
| JP2002008323A (ja) | 情報記録再生装置の検査方法、情報記録再生装置 | |
| JP3585429B2 (ja) | 書き換え型光デイスクの記録再生エラーの位置と長さを検出する方法 | |
| JPS63117375A (ja) | 光デイスク検査装置 | |
| JPH11110754A (ja) | 記録媒体欠陥検出システム | |
| JPH0877615A (ja) | 追記型光情報記録媒体の検査方法 | |
| JPH10233057A (ja) | 光学式記録媒体の情報記録再生装置及び方法 | |
| JPH06180957A (ja) | 光情報記録媒体の欠陥検査方法 | |
| JPH06223527A (ja) | Ｃｄ−ｒディスク欠陥検査機 | |
| KR20080085972A (ko) | 데이터 기록용 광 디스크의 표면 검사 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C17 | Cessation of patent right | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20080618 Termination date: 20100608 |