JP2012128931A - チャネル回路及び磁気ディスク装置の欠陥検出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】磁気ディスク装置の欠陥検出をより効率的にすることができる技術を提供する。
【解決手段】メディアに書かれた単一周波数パターンの再生信号の信号振幅をサンプリングし、あるしきい値を下回る、または超える振幅の変化を検出する検出手段と、この再生信号を復号回路で復号可能かを判定する判定手段とを備えたチャネル回路。また、前記チャネル回路を有し、振幅の変化を検出したセクタを欠陥として登録する第一の手段と、再生不能なセクタを欠陥として登録する第二の手段を用いた、磁気ディスク装置の欠陥検出方法。
【選択図】 図3
【解決手段】メディアに書かれた単一周波数パターンの再生信号の信号振幅をサンプリングし、あるしきい値を下回る、または超える振幅の変化を検出する検出手段と、この再生信号を復号回路で復号可能かを判定する判定手段とを備えたチャネル回路。また、前記チャネル回路を有し、振幅の変化を検出したセクタを欠陥として登録する第一の手段と、再生不能なセクタを欠陥として登録する第二の手段を用いた、磁気ディスク装置の欠陥検出方法。
【選択図】 図3
Description
本発明の実施形態は、チャネル回路及び磁気ディスク装置の欠陥検出方法に関する。
磁気ディスク装置のディフェクトスキャン(例えば、特許文献1参照。)による欠陥検出では、過検出や誤検出を避けるために信号振幅との兼ね合いによる適切な閾値を設ける必要があるが、機種ばらつきやヘッド・メディアばらつきが大きい場合は、1つの閾値を全ての欠陥に適切な値を設定することは困難である。そのため、本閾値は平均的な信号振幅を見込んだ値を設定し、欠陥検出漏れは実リード動作にて判定しなければならないが、この方法を用いると、ディフェクトスキャンのためのWrite/Read、LDPC(Low Density Parity Check)復号のためのWrite/Readと2回の動作が必要となり、製造工程内における検査時間が2倍になってしまうという問題点があった。
この検査時間において短縮の技術への要望があるが、かかる要望を実現するための手段は知られていない。
本発明は、磁気ディスク装置の欠陥検出をより効率的にすることができる技術を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、実施形態によればチャネル回路は、メディアに書かれた単一周波数パターンの再生信号の信号振幅をサンプリングし、あるしきい値を下回る、または超える振幅の変化を検出する検出手段と、同時にこの再生信号を復号回路で復号可能かを判定する判定手段とを備えた。
以下、本発明の実施形態を図1乃至図4を参照して説明する。
[ディスクドライブの構成]
図1は、この発明の一実施形態のブロック構成図を示している。図1に示すように、本実施形態のディスクドライブ10は、磁気記録媒体であるディスク11と、スピンドルモータ12と、ヘッド13と、ヘッドアンプ14と、システムオンチップ(SOC)15と、バッファメモリ16とを有する。スピンドルモータ12は、ディスク11を回転させる。ヘッド13は、リードヘッド素子とライトヘッド素子とを含み、ディスク11からデータを読み出し、またデータを書き込む。
[ディスクドライブの構成]
図1は、この発明の一実施形態のブロック構成図を示している。図1に示すように、本実施形態のディスクドライブ10は、磁気記録媒体であるディスク11と、スピンドルモータ12と、ヘッド13と、ヘッドアンプ14と、システムオンチップ(SOC)15と、バッファメモリ16とを有する。スピンドルモータ12は、ディスク11を回転させる。ヘッド13は、リードヘッド素子とライトヘッド素子とを含み、ディスク11からデータを読み出し、またデータを書き込む。
ヘッドアンプ14は、ヘッド13により読み出された信号(リードデータ)を増幅して、システムオンチップ15に伝送する。また、ヘッドアンプ14は、システムオンチップ15から出力される信号(ライトデータ)をライト電流に変換してヘッド13に伝送する。
システムオンチップ15は、リード/ライト(R/W)チャネル17及びハードディスクコントローラ(HDC、単にコントローラと表記する)を含む。R/Wチャネル17は、データ記録再生の信号処理回路であり、ヘッド13により読み出されたリードデータをデコードし、またライトデータをエンコードする機能を有する。なお、後述の図3の主な構成要素は、システムオンチップ15内にある。
コントローラ18はバッファメモリ16を使用して、R/Wチャネル17とホストシステム20とのデータ転送を制御するインターフェースである。また、コントローラ18は、R/Wチャネル17を介してデータ記録再生動作を制御し、本実施形態に関するデータ復元処理を実行する。コントローラ18は、例えばデータ復元処理で必要なXOR演算モジュール19を含む。
バッファメモリ16は、コントローラ18により制御されてリードデータ及びライデータを一時的に格納する。ホストシステム20は、ディスクドライブ10を外部記憶装置として使用するパーソナルコンピュータやディジタルテレビなどのディジタル機器である。
さて磁気ディスク装置のリードチャネルの中に、ディフェクトスキャンという機能があり、振幅の落ち込みなどの変動を検出する回路を持っている。
磁気ディスク装置の製造メーカーは、製造工程において、その機能を使って、磁気ディスクの初期欠陥を検出し、ディフェクトリストに登録する。
ディフェクトスキャンは、検査対象トラックに単一周波数のデータパターン(単に、単一周波数パターンと表記する)をライトし、リードチャネルをディフェクトスキャンモードに設定し、リードする。信号振幅に、設定した、閾値を下回る、または上回る変動があると、フラグがコントローラに通知され、セクタ番号などの位置表示がメモリにロギングされる。このように、ディフェクトスキャンでは、主に、ディスク製作時の表面凹凸による磁性膜の欠落によって生じる、信号振幅の変動を検出することができる。一般に、11001100・・・のように磁化反転のタイミングが2Tとなるパターン(通常、2Tパターンと呼ぶ)が用いられるがその限りではない。
磁気ディスク装置の製造メーカーは、製造工程において、その機能を使って、磁気ディスクの初期欠陥を検出し、ディフェクトリストに登録する。
ディフェクトスキャンは、検査対象トラックに単一周波数のデータパターン(単に、単一周波数パターンと表記する)をライトし、リードチャネルをディフェクトスキャンモードに設定し、リードする。信号振幅に、設定した、閾値を下回る、または上回る変動があると、フラグがコントローラに通知され、セクタ番号などの位置表示がメモリにロギングされる。このように、ディフェクトスキャンでは、主に、ディスク製作時の表面凹凸による磁性膜の欠落によって生じる、信号振幅の変動を検出することができる。一般に、11001100・・・のように磁化反転のタイミングが2Tとなるパターン(通常、2Tパターンと呼ぶ)が用いられるがその限りではない。
ディフェクトスキャンによる欠陥検出では、過検出や誤検出を避けるために信号振幅との兼ね合いによる適切な閾値を設ける必要があるが、機種ばらつきやヘッド・メディアばらつきが大きい場合は、1つの閾値を全ての欠陥に適切な値を設定することは困難である。そのため、本閾値は平均的な信号振幅を見込んだ値を設定し、欠陥検出漏れは実リード動作にて判定しなければならない。しかし、ディフェクトスキャンのためにメディアに書いた単一周波数パターンはLDPC復号器ではReadできない。そのため、ディフェクトスキャンのためのWrite/Read、LDPC復号のためのWrite/Readと2回の動作が必要となり、製造工程内における検査時間が2倍になってしまう。
既存の従来技術では、ランダムデータをメディアにライトしながら、FIR outputなどのデジタルデータにおける信号振幅の落ち込みを確認し、LDPCでの訂正結果も併せて判断しているが、この方式だとランダムデータをメディアにライトする必要があるため、単一周波数パターンで検査するディフェクトスキャン機能に比べ、欠陥を正確に検出できる保証はない。
このような問題に対し、本実施形態では、単周波数一パターンの信号をLDPCによる復号も可能とするディフェクトスキャン専用の検査行列を用意する。これによって、単一周波数パターンのディフェクト検出を行いながら、その該当セクタがLDPCで復号可能かどうかも判断できる。また、本実施形態による、磁気ディスク装置の製造工程におけるディフェクト検出工程では、ディフェクトスキャン機能によって検出されたセクタをディフェクトとして登録する第一の検出手段と、LDPCによる復号によって再生不能なセクタをディフェクトとして登録する第二の検出手段を有している。
通常、11001100・・・のような単一周波数パターンを符号化したときに生成されるパリティビットは単一周波数パターンではなく、かつ、データの間にパリティビットを挿入しているため、メディアには単一周波数パターンのデータがライトされない。
以下に述べる実施形態では、通常モードとは別に、特殊なモードを用意し、生成されたパリティビットを、1ビット単位でデータの間に挿入せず、データと同じ単一周波数パターンになるように、並び替えを行い、データの最後に配置し、単一周波数パターンのデータを作成し、それをメディアにライトする。並び替えられたパリティビットは、データの最後に配置するとしたが、データの先頭でもよいし、1周期単位(上記例では、1100という4ビット単位)でデータの間に挿入してもよい。
再生時には、すでにどのように配置し、並び替えたか、分かっているので、パリティビットを元の並びに並び替え、再生データをLDPCによる復号を行い、再生する。
なお、パリティビットの1と0の数が同数でない場合、単一周波数パターンに並び替えることができない。その際は、同数となるように余分なビットを付加するように構成する。復号時は、どこに余分なビットを付加したか、分かっているので、そのビットを破棄すればよい。
図2に、リード/ライト(R/W)チャネル17の概略ブロック図を示す。コントローラ18の出力はHRRLLエンコーダ21へ導かれ、このHRRLLエンコーダ21の出力はLDPCエンコーダ22へ導かれている。またこのLDPCエンコーダ22の出力はPECLドライバ23へ導かれている。このPECLドライバ23の出力はヘッドアンプ14へ導かれている。
以上のライトチャネルに対しリードチャネルは、ヘッドアンプ14の出力がアナログフロントエンド24に導かれ、このアナログフロントエンド24の出力が後述するディフェクトスキャン回路25とIterativeデコーダ26へと導かれている。このIterativeデコーダ26の出力はHRRLLデコーダ27へ導かれ、このHRRLLデコーダ27とディフェクトスキャン回路25の出力はコントローラ18へと導かれている。
なお、後述のスルーモードでは、コントローラ18の出力はPECLドライバ23へ導かれるよう構成されている。また、扱い対象セクタが、再生可能かどうかの判定信号がIterativeデコーダ26からコントローラ18に送られるよう構成されている。
コントローラ18よりDSCANモードが設定されると、HRRLLエンコーダ21はDisableとなり、コントローラから送られてきたデータ(11001100・・・)はLDPCエンコーダ22に入力される構成となっている。
図3は、符号器と復号器をより詳細に表したブロック図である。データは、LDPC符号器22によりパリティが求められる。
次に、図4のように、そのパリティをデータと同じ周期となるように並び替えを行う。1と0の数が同数でない場合、余ったビットは最後に並べておく。図4では、0の数が多く、1の数が少ない例を示している。次に、マルチプレクサ22bにより、データとパリティを結合する。パリティビットの1と0が同数でない時は、並び替えられたパリティに余分なパッドビットを挿入し、データと同じ周期となるようにマルチプレクスする。図4の例では、余分なパッドビットとして1を6ビット準備しており、マルチプレクサ22bにより、パリティビットの最後に並べられた00の間に挿入する。
次に、図4のように、そのパリティをデータと同じ周期となるように並び替えを行う。1と0の数が同数でない場合、余ったビットは最後に並べておく。図4では、0の数が多く、1の数が少ない例を示している。次に、マルチプレクサ22bにより、データとパリティを結合する。パリティビットの1と0が同数でない時は、並び替えられたパリティに余分なパッドビットを挿入し、データと同じ周期となるようにマルチプレクスする。図4の例では、余分なパッドビットとして1を6ビット準備しており、マルチプレクサ22bにより、パリティビットの最後に並べられた00の間に挿入する。
このように生成された単一周波数パターンをメディアにライトする。なお、ここで、DSCANモードで符号化し生成した単一周波数パターンでなくとも、結果的に単一周波数パターンとなることが分かっているので、符号化回路をスルーしてダイレクトに単一周波数パターンをメディアにライトしてもよい。
次に、そのメディアにライトした信号を再生する。再生されたこの信号は等化器24でアナログ信号処理され、一方は、ディフェクトスキャン回路25で信号振幅の落ち込みなどを検出する。もう一方は、Iterativeデコーダ26に入力される。まず、SOVA(Soft Output Viterbi Algorithm)復号器31を通り、デマルチプレクサ32により、データとパリティと余分なパッドビットに分離される。余分なパッドビットは破棄される。パリティは元に戻す並び替えを行い、データと共にLDPC復号器35に入力し、LDPCによる復号が行われる。さらに、マルチプレクサ36により、データと並び替えを行ったパリティと余分なパッドビットを結合し、SOVA復号器31に入力する。このように反復復号を行い、最終的にそのセクタが、再生可能かどうかの判定信号がコントローラに送られる。コントローラは、上記ディフェクトスキャン回路25とIterativeデコーダ26との2つの手段の結果から、欠陥の検出を行う。
上記実施形態で説明した手段により、媒体表面キズなどで生じる振幅変動による欠陥と、実際の復号回路で再生できるかを同時に確認でき、欠陥検出のために費やされる時間を以下のような構成にて短縮することができる。
(1)メディアに単一周波数パターンを書き、その再生信号の信号振幅をサンプリングし、あるしきい値を下回る、または超える振幅の変化を検出する手段を有し、同時に、その再生信号を復号回路で復号可能かを判断できる手段を有したことを特徴とした、リードチャネル回路。
(2)単一周波数パターンとなるデータを符号化したときに生成されるパリティを、単一周波数パターンとなるように並び替え、ディスクに書き込む手段を有したことを特徴とした、上記1のリードチャネル回路。
(3)上記2において、パリティビットの0と1の数が同数でない場合、余分なビットを付加し、単一周波数パターンを形成することを特徴とした、上記2のリードチャネル回路。
(4)単一周波数パターンの再生時、パリティビットに相当するデータの並び替え、および余分なビットの破棄を行い、データの復号を行うことを特徴とした、上記1のリードチャネル回路。
(5)上記1のリードチャネル回路を有し、振幅の変化を検出したセクタを欠陥として登録する第一の手段と、同時に、再生信号を復号回路で復号し、再生不能なセクタを欠陥として登録する第二の手段を用いた、磁気ディスク装置の欠陥検出方法。
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
また、上記した実施の形態に開示されている複数の構成要素を適宜に組み合わせることにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても良いものである。さらに、異なる実施の形態に係わる構成要素を適宜組み合わせても良いものである。
また、上記した実施の形態に開示されている複数の構成要素を適宜に組み合わせることにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても良いものである。さらに、異なる実施の形態に係わる構成要素を適宜組み合わせても良いものである。
10…ディスクドライブ、11…ディスク、12…スピンドルモータ、
13…ヘッド、14…ヘッドアンプ、15…システムオンチップ(SOC)、
16…バッファメモリ、17…リード/ライト(R/W)チャネル、
18…ハードディスクコントローラ(HDC)、19…XOR演算モジュール、20…ホストシステム。
13…ヘッド、14…ヘッドアンプ、15…システムオンチップ(SOC)、
16…バッファメモリ、17…リード/ライト(R/W)チャネル、
18…ハードディスクコントローラ(HDC)、19…XOR演算モジュール、20…ホストシステム。
Claims (5)
- メディアに書かれた単一周波数パターンの再生信号の信号振幅をサンプリングし、あるしきい値を下回る、または超える振幅の変化を検出する検出手段と、
この再生信号を復号回路で復号可能かを判定する判定手段とを
備えたチャネル回路。 - 単一周波数パターンとなるデータを符号化したときに生成されるパリティを、単一周波数パターンとなるように並び替え、メディアに書き込む書込手段を更に備えた請求項1に記載のチャネル回路。
- 前記書込手段は、前記パリティのビットの0と1の数が同数でない場合、余分なビットを付加し、単一周波数パターンを形成する請求項2に記載のチャネル回路。
- 前記判定手段は、再生信号に、前記パリティのビットに相当するデータの並び替え、および余分なビットの破棄を行い、データの復号を行う請求項1に記載のチャネル回路。
- 請求項1に記載のチャネル回路を有し、振幅の変化を検出したセクタを欠陥として登録する第一の手段と、再生不能なセクタを欠陥として登録する第二の手段を用いた、磁気ディスク装置の欠陥検出方法。
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