JP2002024052A - コンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法 - Google Patents
コンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法Info
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- JP2002024052A JP2002024052A JP2000200574A JP2000200574A JP2002024052A JP 2002024052 A JP2002024052 A JP 2002024052A JP 2000200574 A JP2000200574 A JP 2000200574A JP 2000200574 A JP2000200574 A JP 2000200574A JP 2002024052 A JP2002024052 A JP 2002024052A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 コンピュータ周辺機器において、不具合再現
試験を短時間で行うこと。 【解決手段】 ステップＳ１で周辺機器の不具合が発生
すればステップＳ２に進み、コマンド実行履歴をログで
取得し、エラー情報を取得する。ステップＳ３ではコマ
ンド種類及び発行時間を抽出する。ステップ４ではステ
ップＳ２で取得したコマンド実行ログから、コマンドシ
ーケンスを最新のものからそれ以前のものへ徐々に遡
リ、再現試験を行うための最短シーケンスを設定する。
ステップＳ６で不具合が再現されたら、不具合発生の最
短コマンドシーケンスを確定する。
試験を短時間で行うこと。 【解決手段】 ステップＳ１で周辺機器の不具合が発生
すればステップＳ２に進み、コマンド実行履歴をログで
取得し、エラー情報を取得する。ステップＳ３ではコマ
ンド種類及び発行時間を抽出する。ステップ４ではステ
ップＳ２で取得したコマンド実行ログから、コマンドシ
ーケンスを最新のものからそれ以前のものへ徐々に遡
リ、再現試験を行うための最短シーケンスを設定する。
ステップＳ６で不具合が再現されたら、不具合発生の最
短コマンドシーケンスを確定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータ周辺
機器のエラー再現試験方法に関する。
機器のエラー再現試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のコンピュータ周辺機器のエラー再
現試験方法は、例えば特開平06-139093 号公報に示すよ
うに、不具合発生時に取得したログのコマンドシーケン
スを、そのまま対象機器に処理させることで再現試験を
行っていた。
現試験方法は、例えば特開平06-139093 号公報に示すよ
うに、不具合発生時に取得したログのコマンドシーケン
スを、そのまま対象機器に処理させることで再現試験を
行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、取得し
た全コマンドシーケンスの再現試験は、不具合解析のた
めに複数回行う必要があり、不具合解析のための時間が
かかる。例えば、コマンド実行ログが、通常コマンド
１、コマンド２、・・・コマンド（ｎ−１）、コマンド
ｎ、コマンド（ｎ＋１）とあり、コマンド（ｎ＋１）が
発行されてから不具合が発生するものとする。不具合が
発生するまでのコマンドが多くなると、不具合の原因解
析において、全コマンド実行ログの中からどのコマンド
実行シーケンスに問題があるかを特定するため、人手に
よる試行錯誤を行う必要があり、不具合解析に時間がか
かり過ぎるという問題があった。
た全コマンドシーケンスの再現試験は、不具合解析のた
めに複数回行う必要があり、不具合解析のための時間が
かかる。例えば、コマンド実行ログが、通常コマンド
１、コマンド２、・・・コマンド（ｎ−１）、コマンド
ｎ、コマンド（ｎ＋１）とあり、コマンド（ｎ＋１）が
発行されてから不具合が発生するものとする。不具合が
発生するまでのコマンドが多くなると、不具合の原因解
析において、全コマンド実行ログの中からどのコマンド
実行シーケンスに問題があるかを特定するため、人手に
よる試行錯誤を行う必要があり、不具合解析に時間がか
かり過ぎるという問題があった。
【０００４】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたものであって、短時間で対象機器の動作にお
ける不具合を検出し、確実に再現試験を可能にするコン
ピュータ周辺機器のエラー再現試験方法を実現すること
を目的とする。
てなされたものであって、短時間で対象機器の動作にお
ける不具合を検出し、確実に再現試験を可能にするコン
ピュータ周辺機器のエラー再現試験方法を実現すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本願の請求項１の発明
は、エラー発生時に取得したコンピュータ周辺機器のコ
マンド実行ログを基に前記コンピュータ周辺機器のエラ
ー再現試験を行う際、エラー発生時に処理した最新のコ
マンドから徐々に遡って繰り返し再現試験していくこと
により、不具合が発生する最短のコマンドシーケンスを
特定し、以降のエラー発生の再現試験を特定した前記コ
マンドシーケンスで行うことを特徴とするものである。
は、エラー発生時に取得したコンピュータ周辺機器のコ
マンド実行ログを基に前記コンピュータ周辺機器のエラ
ー再現試験を行う際、エラー発生時に処理した最新のコ
マンドから徐々に遡って繰り返し再現試験していくこと
により、不具合が発生する最短のコマンドシーケンスを
特定し、以降のエラー発生の再現試験を特定した前記コ
マンドシーケンスで行うことを特徴とするものである。
【０００６】本願の請求項２の発明は、請求項１のコン
ピュータ周辺機器のエラー再現試験方法において、前記
最短のコマンドシーケンスの特定方法は、最初に不具合
が発生した直前のコマンドに戻って再現試験を行い、最
初に不具合が発生しない場合は、更に１つ前のコマンド
に戻って再現試験を行うことにより、不具合が発生する
するまで遡って繰り返し再現試験を行うことを特徴とす
るものである。
ピュータ周辺機器のエラー再現試験方法において、前記
最短のコマンドシーケンスの特定方法は、最初に不具合
が発生した直前のコマンドに戻って再現試験を行い、最
初に不具合が発生しない場合は、更に１つ前のコマンド
に戻って再現試験を行うことにより、不具合が発生する
するまで遡って繰り返し再現試験を行うことを特徴とす
るものである。
【０００７】本願の請求項３の発明は、請求項１又は２
のコンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法におい
て、不具合が発生する最短のコマンドシーケンスが特定
できた場合の新しいログを、前記コマンドと共に格納す
ることを特徴とするものである。
のコンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法におい
て、不具合が発生する最短のコマンドシーケンスが特定
できた場合の新しいログを、前記コマンドと共に格納す
ることを特徴とするものである。
【０００８】本願の請求項４の発明は、請求項１又は２
のコンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法におい
て、不具合が発生する最短のコマンドシーケンスが特定
できた場合の新しいログを、前記コマンド実行ログに置
き換えて格納することを特徴とするものである。
のコンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法におい
て、不具合が発生する最短のコマンドシーケンスが特定
できた場合の新しいログを、前記コマンド実行ログに置
き換えて格納することを特徴とするものである。
【０００９】このような方法によれば、コンピュータ周
辺機器のエラー再現試験方法で不具合解析のための再現
試験を複数回行う場合において、短時間で確実に再現試
験が可能となる。
辺機器のエラー再現試験方法で不具合解析のための再現
試験を複数回行う場合において、短時間で確実に再現試
験が可能となる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態にお
けるコンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法につい
て説明する。図１はエラー再現試験方法を適用するホス
トコンピュータとコンピュータ周辺機器（以下、対象機
器という）との関係を示すブロック図である。ホストコ
ンピュータ１０は対象機器３０に対して試験を行うため
のプログラム等を格納するメモリ（ＲＡＭ）１１や、メ
モリ１１に対してデータの記録及びデータの読み出しを
行うと共に、内蔵の各コントローラを制御するためのＣ
ＰＵ１２を有している。このメモリ１１には対象機器３
０のメモリ（ＲＡＭ）に格納されたログを取得するため
のプログラム、及び最短不具合シーケンスを特定するプ
ログラムも格納される。
けるコンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法につい
て説明する。図１はエラー再現試験方法を適用するホス
トコンピュータとコンピュータ周辺機器（以下、対象機
器という）との関係を示すブロック図である。ホストコ
ンピュータ１０は対象機器３０に対して試験を行うため
のプログラム等を格納するメモリ（ＲＡＭ）１１や、メ
モリ１１に対してデータの記録及びデータの読み出しを
行うと共に、内蔵の各コントローラを制御するためのＣ
ＰＵ１２を有している。このメモリ１１には対象機器３
０のメモリ（ＲＡＭ）に格納されたログを取得するため
のプログラム、及び最短不具合シーケンスを特定するプ
ログラムも格納される。
【００１１】ホストコンピュータ１０はインタフェース
コントローラ１３を介して、予め決められたインタフェ
ース制御手段を用いて対象機器３０に動作要求を行う。
ＣＰＵ１２はメモリ（ＲＯＭ）１４に格納されたプログ
ラムを実行して、ハードディスクコントローラ１５、フ
ロッピー（登録商標）ディスクコントローラ１６、ディ
スプレイコントローラ１７、キーボードコントローラ１
８、インタフェースコントローラ１３を制御し、ハード
ディスク１９、フロッピーディスク２０、ディスプレイ
２１、キーボード２２を動作させる。
コントローラ１３を介して、予め決められたインタフェ
ース制御手段を用いて対象機器３０に動作要求を行う。
ＣＰＵ１２はメモリ（ＲＯＭ）１４に格納されたプログ
ラムを実行して、ハードディスクコントローラ１５、フ
ロッピー（登録商標）ディスクコントローラ１６、ディ
スプレイコントローラ１７、キーボードコントローラ１
８、インタフェースコントローラ１３を制御し、ハード
ディスク１９、フロッピーディスク２０、ディスプレイ
２１、キーボード２２を動作させる。
【００１２】対象機器３０はＣＰＵ３１、メモリ（ＲＡ
Ｍ）３２、メモリ（ＲＯＭ）３３、インタフェースコン
トローラ３４、ドライバ３５を有している。ＣＰＵ３１
がインタフェースコントローラ３４を制御することで、
ホストコンピュータ１０からのコマンドを受け取り、コ
マンド解析を行い、関係する処理を実行する。この際必
要であれば、関係するドライバ３５を駆動する。また対
象機器３０は実動作に必要なプログラムの他に、コマン
ド種類、処理内容、処理結果のログを記録するためプロ
グラムや、ログデータをメモリ３２に記録する。
Ｍ）３２、メモリ（ＲＯＭ）３３、インタフェースコン
トローラ３４、ドライバ３５を有している。ＣＰＵ３１
がインタフェースコントローラ３４を制御することで、
ホストコンピュータ１０からのコマンドを受け取り、コ
マンド解析を行い、関係する処理を実行する。この際必
要であれば、関係するドライバ３５を駆動する。また対
象機器３０は実動作に必要なプログラムの他に、コマン
ド種類、処理内容、処理結果のログを記録するためプロ
グラムや、ログデータをメモリ３２に記録する。
【００１３】図２のフローチャートを用いてコンピュー
タ周辺機器のエラー再現試験方法を説明する。先ず特定
のインターフェース制御手段に従ってホストコンピュー
タ１０は、メモリ１１上にある試験プログラムを動作さ
せ、対象機器３０に対して動作要求を行う。
タ周辺機器のエラー再現試験方法を説明する。先ず特定
のインターフェース制御手段に従ってホストコンピュー
タ１０は、メモリ１１上にある試験プログラムを動作さ
せ、対象機器３０に対して動作要求を行う。
【００１４】対象機器３０はホストコンピュータ１０か
ら受け取ったコマンドに対する処理を行う。このとき対
象機器３０は、コマンド種類、処理内容、処理結果、処
理時間をメモリ３２にログとして記録保持する。図２の
ステップＳ１では、対象機器３０に異常が発生したか否
か検知する。異常が発生した場合はステップＳ２に移
り、ホストコンピュータ１０は対象機器３０のメモリ３
２に保存されているログ、即ちコマンド実行履歴及びエ
ラー情報を取得する。そしてホストコンピュータ１０は
取得した情報をメモリ１１に取り込む。
ら受け取ったコマンドに対する処理を行う。このとき対
象機器３０は、コマンド種類、処理内容、処理結果、処
理時間をメモリ３２にログとして記録保持する。図２の
ステップＳ１では、対象機器３０に異常が発生したか否
か検知する。異常が発生した場合はステップＳ２に移
り、ホストコンピュータ１０は対象機器３０のメモリ３
２に保存されているログ、即ちコマンド実行履歴及びエ
ラー情報を取得する。そしてホストコンピュータ１０は
取得した情報をメモリ１１に取り込む。
【００１５】ステップＳ１において対象機器３０に異常
が発生してないと判定された場合は何もしない。ステッ
プＳ２からステップＳ３に進むと、ホストコンピュータ
１０は取得したコマンド実行履歴から、処理したコマン
ドの種類及びコマンド発行時間を抽出する。
が発生してないと判定された場合は何もしない。ステッ
プＳ２からステップＳ３に進むと、ホストコンピュータ
１０は取得したコマンド実行履歴から、処理したコマン
ドの種類及びコマンド発行時間を抽出する。
【００１６】ステップＳ４に進むと、抽出したコマンド
シーケンスから、例えば最初のエラー発生時の最新のコ
マンド（ｎ＋１）のシーケンスを再度設定し、最新の一
つ前のコマンドｎと最新のコマンドの組み合わせで２回
目の再現試験を行う。再現試験開始コマンドを、エラー
発生時のコマンドから時系列に１つづつ遡って設定し、
再現試験終了コマンドをエラー発生時コマンドとするこ
とで、再現試験のための最短コマンドシーケンスを機械
的に絞り込んで設定する。
シーケンスから、例えば最初のエラー発生時の最新のコ
マンド（ｎ＋１）のシーケンスを再度設定し、最新の一
つ前のコマンドｎと最新のコマンドの組み合わせで２回
目の再現試験を行う。再現試験開始コマンドを、エラー
発生時のコマンドから時系列に１つづつ遡って設定し、
再現試験終了コマンドをエラー発生時コマンドとするこ
とで、再現試験のための最短コマンドシーケンスを機械
的に絞り込んで設定する。
【００１７】ステップＳ５に進むと、設定されたコマン
ドシーケンス通り動作するように対象機器３０をホスト
コンピュータ１０から制御し、再現試験を実施する。次
のステップＳ６では、そのコマンドシーケンスで不具合
が再現したか否かを検知する。不具合が再現された場合
はステップＳ７に移り、不具合が再現したコマンドシー
ケンスを、最短の不具合再現シーケンスとして登録す
る。またステップＳ６で不具合が再現されない場合はス
テップＳ４に戻り、コマンドシーケンスの時系列を過去
に対して１つ戻し、同様の処理を行う。ステップＳ７で
最短シーケンスが設定されると、以降の再現試験をこの
最短コマンドシーケンスで実施する。
ドシーケンス通り動作するように対象機器３０をホスト
コンピュータ１０から制御し、再現試験を実施する。次
のステップＳ６では、そのコマンドシーケンスで不具合
が再現したか否かを検知する。不具合が再現された場合
はステップＳ７に移り、不具合が再現したコマンドシー
ケンスを、最短の不具合再現シーケンスとして登録す
る。またステップＳ６で不具合が再現されない場合はス
テップＳ４に戻り、コマンドシーケンスの時系列を過去
に対して１つ戻し、同様の処理を行う。ステップＳ７で
最短シーケンスが設定されると、以降の再現試験をこの
最短コマンドシーケンスで実施する。
【００１８】このようにホストコンピュータ１０により
特定されたコマンドシーケンスを対象機器３０に発行
し、不具合が再現するかどうか確認するが、不具合が再
現しなければ、再現するまでコマンドシーケンスを遡っ
ていき、不具合コマンドシーケンスを最終決定する。
特定されたコマンドシーケンスを対象機器３０に発行
し、不具合が再現するかどうか確認するが、不具合が再
現しなければ、再現するまでコマンドシーケンスを遡っ
ていき、不具合コマンドシーケンスを最終決定する。
【００１９】このような再試験方法によれば、不具合が
発生する最短のコマンドシーケンスとして、可能性の高
いものから順に機械的に絞り込むため、不具合が再現さ
れるコマンドシーケンスが決まった後は、不具合の再現
試験を短時間で実施することができる。
発生する最短のコマンドシーケンスとして、可能性の高
いものから順に機械的に絞り込むため、不具合が再現さ
れるコマンドシーケンスが決まった後は、不具合の再現
試験を短時間で実施することができる。
【００２０】なお、不具合が発生するまでコマンドを１
つづつ遡って再現試験するように記載したが、２〜３つ
のコマンドを遡り、不具合の発生する範囲を縮めるよう
に約半分位置、更にその半分位置まで戻って再現試験を
行ってもよい。そして、このように特定された最短のコ
マンドシーケンスを、新しいログとして対象機器３０内
のメモリに格納するか、あるいはコマンド実行ログに置
き換えて格納すれば、周辺機器の履歴となって周辺機器
の増設、変更、及び修理の際に役立つものとなる。
つづつ遡って再現試験するように記載したが、２〜３つ
のコマンドを遡り、不具合の発生する範囲を縮めるよう
に約半分位置、更にその半分位置まで戻って再現試験を
行ってもよい。そして、このように特定された最短のコ
マンドシーケンスを、新しいログとして対象機器３０内
のメモリに格納するか、あるいはコマンド実行ログに置
き換えて格納すれば、周辺機器の履歴となって周辺機器
の増設、変更、及び修理の際に役立つものとなる。
【００２１】
【発明の効果】以上のように、本発明の再現試験方法に
よれば、不具合が再現する最短コマンドシーケンスを機
械的に特定することができ、以降の不具合再現試験では
特定した最短コマンドシーケンスを使用することによ
り、短時間で再現試験が実施できる。
よれば、不具合が再現する最短コマンドシーケンスを機
械的に特定することができ、以降の不具合再現試験では
特定した最短コマンドシーケンスを使用することによ
り、短時間で再現試験が実施できる。
【図１】本発明のエラー再現試験方法を適用するホスト
コンピュータとコンピュータ周辺機器（対象機器）との
関係を示すブロック図である。
コンピュータとコンピュータ周辺機器（対象機器）との
関係を示すブロック図である。
【図２】本実施の形態によるコンピュータ周辺機器のエ
ラー再現試験方法の信号処理図である。
ラー再現試験方法の信号処理図である。
１０ ホストコンピュータ ３０ 対象機器
Claims (4)
- 【請求項１】 エラー発生時に取得したコンピュータ周
辺機器のコマンド実行ログを基に前記コンピュータ周辺
機器のエラー再現試験を行う際、エラー発生時に処理し
た最新のコマンドから徐々に遡って繰り返し再現試験し
ていくことにより、不具合が発生する最短のコマンドシ
ーケンスを特定し、以降のエラー発生の再現試験を特定
した前記コマンドシーケンスで行うことを特徴とするコ
ンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法。 - 【請求項２】 前記最短のコマンドシーケンスの特定方
法は、最初に不具合が発生した直前のコマンドに戻って
再現試験を行い、最初に不具合が発生しない場合は、更
に１つ前のコマンドに戻って再現試験を行うことによ
り、不具合が発生するするまで遡って繰り返し再現試験
を行うことを特徴とする請求項１記載のコンピュータ周
辺機器のエラー再現試験方法。 - 【請求項３】 不具合が発生する最短のコマンドシーケ
ンスが特定できた場合の新しいログを、前記コマンドと
共に格納することを特徴とする請求項１又は２記載のコ
ンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法。 - 【請求項４】 不具合が発生する最短のコマンドシーケ
ンスが特定できた場合の新しいログを、前記コマンド実
行ログに置き換えて格納することを特徴とする請求項１
又は２記載のコンピュータ周辺機器のエラー再現試験方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000200574A JP2002024052A (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | コンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000200574A JP2002024052A (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | コンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002024052A true JP2002024052A (ja) | 2002-01-25 |
Family
ID=18698427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000200574A Pending JP2002024052A (ja) | 2000-07-03 | 2000-07-03 | コンピュータ周辺機器のエラー再現試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002024052A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006263949A (ja) * | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Fuji Xerox Co Ltd | 機器および後処理装置 |
| EP1336932A3 (en) * | 2002-02-15 | 2006-11-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Reproduction test service apparatus for medical systems, maintenance support information management apparatus, X-ray ct system, and maintenance service centre apparatus |
| JP2010017597A (ja) * | 2009-10-28 | 2010-01-28 | Toshiba Corp | 医用システムの再現試験サービス装置 |
| JP2010271879A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Fujitsu Ltd | ディスクアレイ装置の障害再現方法及び障害再現装置 |
| GB2494268A (en) * | 2011-08-30 | 2013-03-06 | Ibm | Performing code optimization |
-
2000
- 2000-07-03 JP JP2000200574A patent/JP2002024052A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1336932A3 (en) * | 2002-02-15 | 2006-11-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Reproduction test service apparatus for medical systems, maintenance support information management apparatus, X-ray ct system, and maintenance service centre apparatus |
| US8015443B2 (en) | 2002-02-15 | 2011-09-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Reproduction test service apparatus for medical systems, maintenance support information management apparatus, X-ray CT system, and maintenance service center apparatus |
| JP2006263949A (ja) * | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Fuji Xerox Co Ltd | 機器および後処理装置 |
| JP4661286B2 (ja) * | 2005-03-22 | 2011-03-30 | 富士ゼロックス株式会社 | 後処理装置 |
| JP2010271879A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Fujitsu Ltd | ディスクアレイ装置の障害再現方法及び障害再現装置 |
| JP2010017597A (ja) * | 2009-10-28 | 2010-01-28 | Toshiba Corp | 医用システムの再現試験サービス装置 |
| GB2494268A (en) * | 2011-08-30 | 2013-03-06 | Ibm | Performing code optimization |
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