JPH06302120A - 磁気ディスク試験装置 - Google Patents
磁気ディスク試験装置Info
- Publication number
- JPH06302120A JPH06302120A JP8584293A JP8584293A JPH06302120A JP H06302120 A JPH06302120 A JP H06302120A JP 8584293 A JP8584293 A JP 8584293A JP 8584293 A JP8584293 A JP 8584293A JP H06302120 A JPH06302120 A JP H06302120A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- head
- magnetic disk
- magnetic
- driving part
- Prior art date
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- Pending
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- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】磁気ディスク媒体の電磁変換特性または欠陥を
評価するサ−ティファイテスタ−において、最近の高密
度記録化による狭トラック幅ヘッドでの書き込み、読み
だしが行われる場合、キャリッジがホ−ムポジションに
送られた際においてもヘッドのトラック検出が正確には
行われ、欠陥評価において欠陥の位置再現性が良好であ
ること。 【構成】 磁気ディスクを回転させるスピンドル部と前
記磁気ディスク上に磁気ヘッドをロ−ド、アンロ−ド及
び／またはシ−クさせるキャリッジ部を備えるスピンス
タンド、前記スピンドル部用駆動回路、前記キャリッジ
部用駆動回路、磁気ヘッドからの信号によりディスクお
よびヘッドの電磁変換特性を評価をする部分を備え、キ
ャリッジ部駆動部にサ−ボ機構を備える磁気ディスク試
験装置。
評価するサ−ティファイテスタ−において、最近の高密
度記録化による狭トラック幅ヘッドでの書き込み、読み
だしが行われる場合、キャリッジがホ−ムポジションに
送られた際においてもヘッドのトラック検出が正確には
行われ、欠陥評価において欠陥の位置再現性が良好であ
ること。 【構成】 磁気ディスクを回転させるスピンドル部と前
記磁気ディスク上に磁気ヘッドをロ−ド、アンロ−ド及
び／またはシ−クさせるキャリッジ部を備えるスピンス
タンド、前記スピンドル部用駆動回路、前記キャリッジ
部用駆動回路、磁気ヘッドからの信号によりディスクお
よびヘッドの電磁変換特性を評価をする部分を備え、キ
ャリッジ部駆動部にサ−ボ機構を備える磁気ディスク試
験装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスクの電磁変
換特性を評価する試験装置に関するものであり、特に高
精度位置決めを可能としたものである。
換特性を評価する試験装置に関するものであり、特に高
精度位置決めを可能としたものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、磁気ディスクの電磁変換特性やデ
ィスク内の欠陥等を評価する磁気ディスク試験装置で
は、欠陥の情報を得る方法として、任意のトラックにお
けるヘッドの平均信号電圧を１００％として、ある定め
たしきい値電圧レベルとの比較によって欠陥の有無を判
定している。その時に得られる情報としては欠陥の大き
さ、ディスク面内における位置情報（半径方向の位置、
及び円周方向の位置）などである。ここで特に位置情報
は磁気ディスク試験装置にとって、欠陥の性質を見極め
る上で高精度であることが必要である。現在の磁気ディ
スクの電磁変換特性やディスク内の欠陥等を評価する磁
気ディスク試験装置では、スピンドルの非同期的なぶれ
を少なくし、安定したシグナルを得るために、エア−ベ
アリングを利用したエア−スピンドルが用いられてい
る。また、ディスク面内半径方向のヘッドの位置ぎめ方
式としては、ステッピングモ−タ−、またはＶＣＭモ−
タ−などが利用されている。これらの方式は、ステッピ
ングモ−タ−によりディスクとヘッドの位置関係を制御
し評価を行う方法として用いられている。
ィスク内の欠陥等を評価する磁気ディスク試験装置で
は、欠陥の情報を得る方法として、任意のトラックにお
けるヘッドの平均信号電圧を１００％として、ある定め
たしきい値電圧レベルとの比較によって欠陥の有無を判
定している。その時に得られる情報としては欠陥の大き
さ、ディスク面内における位置情報（半径方向の位置、
及び円周方向の位置）などである。ここで特に位置情報
は磁気ディスク試験装置にとって、欠陥の性質を見極め
る上で高精度であることが必要である。現在の磁気ディ
スクの電磁変換特性やディスク内の欠陥等を評価する磁
気ディスク試験装置では、スピンドルの非同期的なぶれ
を少なくし、安定したシグナルを得るために、エア−ベ
アリングを利用したエア−スピンドルが用いられてい
る。また、ディスク面内半径方向のヘッドの位置ぎめ方
式としては、ステッピングモ−タ−、またはＶＣＭモ−
タ−などが利用されている。これらの方式は、ステッピ
ングモ−タ−によりディスクとヘッドの位置関係を制御
し評価を行う方法として用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】最近の高密度記録化に
よる、狭トラック幅ヘッドでの書き込み、読みだしが行
われる場合、再現性良くトラック検出が行われなければ
ならない。しかしながら上述した従来のステッピングモ
−タ−による位置ぎめ方式では、キャリッジがホ−ムポ
ジションに送られた際、メカ的なバッククラッシュによ
って、同一トラックへのヘッドのシ−クは正確には行わ
れず、ディスクの欠陥評価において欠陥の位置再現性が
困難であるという欠点がある。本発明の目的は、上記従
来技術の問題点を解決することにある。
よる、狭トラック幅ヘッドでの書き込み、読みだしが行
われる場合、再現性良くトラック検出が行われなければ
ならない。しかしながら上述した従来のステッピングモ
−タ−による位置ぎめ方式では、キャリッジがホ−ムポ
ジションに送られた際、メカ的なバッククラッシュによ
って、同一トラックへのヘッドのシ−クは正確には行わ
れず、ディスクの欠陥評価において欠陥の位置再現性が
困難であるという欠点がある。本発明の目的は、上記従
来技術の問題点を解決することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク試
験装置は、キャリッジを再現性良く移動させる信号とし
て、補助記憶装置からのサ−ボ情報を用いるように構成
することにより、上記従来技術の欠点を解消し、高精度
のヘッド位置ぎめを実現し再現性良好なディスク表面の
欠陥情報を得ることができる。
験装置は、キャリッジを再現性良く移動させる信号とし
て、補助記憶装置からのサ−ボ情報を用いるように構成
することにより、上記従来技術の欠点を解消し、高精度
のヘッド位置ぎめを実現し再現性良好なディスク表面の
欠陥情報を得ることができる。
【０００５】
【実施例】以下、本発明について図面を参照して説明す
る。但し本発明のが、これらの実施例により限定される
ものではない。 （実施例１）図１は本発明の実施例の構成を示すブロッ
ク図である。ヘッドキャリッジ１は予め任意の位置に移
動させ、２の駆動部Ａ、即ちテスタ−部は、被測定ディ
スク用磁気ヘッド３及び任意のディスク４に、そして５
の駆動部Ｂの記録装置は任意の位置にヘッド１０により
デ−タ−が書き込まれる。駆動部Ａのディスクについて
磁性流体等により、またデ−タ位置が既知なるディスク
を用いてその書かれた正確な位置を確認し、ＣＰＵ６に
入力される。ここでディスク７に書かれた情報がサ−ボ
情報となる。その後一度キャレッジ全体はホ−ムポジシ
ョンに戻される。以上を初期設定として以下にサ−ティ
ファイ測定法を説明する。サ−ティファイ開始時テスタ
−部のヘッド３はアンロ−ド状態であり駆動部Ｂがヘッ
ドロ−ドおよびデ−タ−読みだし状態となる。駆動部Ｂ
によりサ−ボ情報が発見され、その信号はピ−ク検出回
路８によりサ−ボデ−タの最大値が検出される。それと
同時にＣＰＵ６は、計数回路１３により、ステッピング
モ−タ−９のパルスの計数を開始し、任意の位置がトラ
ック検出され、駆動部Ａのスピンドルの回転と磁気ヘッ
ド３のロ−ドによりサ−ティファイテストが開始され
る。このようにステッピングモ−タ−の位置をサ−ティ
ファイテスト開始時に補助記憶装置のサ−ボ情報が確認
し、再現性ある位置にヘッドが移動できる構成となって
いる。
る。但し本発明のが、これらの実施例により限定される
ものではない。 （実施例１）図１は本発明の実施例の構成を示すブロッ
ク図である。ヘッドキャリッジ１は予め任意の位置に移
動させ、２の駆動部Ａ、即ちテスタ−部は、被測定ディ
スク用磁気ヘッド３及び任意のディスク４に、そして５
の駆動部Ｂの記録装置は任意の位置にヘッド１０により
デ−タ−が書き込まれる。駆動部Ａのディスクについて
磁性流体等により、またデ−タ位置が既知なるディスク
を用いてその書かれた正確な位置を確認し、ＣＰＵ６に
入力される。ここでディスク７に書かれた情報がサ−ボ
情報となる。その後一度キャレッジ全体はホ−ムポジシ
ョンに戻される。以上を初期設定として以下にサ−ティ
ファイ測定法を説明する。サ−ティファイ開始時テスタ
−部のヘッド３はアンロ−ド状態であり駆動部Ｂがヘッ
ドロ−ドおよびデ−タ−読みだし状態となる。駆動部Ｂ
によりサ−ボ情報が発見され、その信号はピ−ク検出回
路８によりサ−ボデ−タの最大値が検出される。それと
同時にＣＰＵ６は、計数回路１３により、ステッピング
モ−タ−９のパルスの計数を開始し、任意の位置がトラ
ック検出され、駆動部Ａのスピンドルの回転と磁気ヘッ
ド３のロ−ドによりサ−ティファイテストが開始され
る。このようにステッピングモ−タ−の位置をサ−ティ
ファイテスト開始時に補助記憶装置のサ−ボ情報が確認
し、再現性ある位置にヘッドが移動できる構成となって
いる。
【０００６】（実施例２）次に上記構成を用いた場合と
用いない場合との比較を行った。ディスク上既知トラッ
クに、信号を書き込み、最もトラック検出が困難と考え
られるポジションとしてキャレッジをホ−ムポジション
から、上記既知トラックへシ−クし、その出力再現テス
トを行った。その結果は、図２に示す。結果に示される
ように本発明における出力再現性は良好であり、本発明
を用いない場合出力変動最大値２０％に対して本発明を
用いた場合最大変動２％未満であった。
用いない場合との比較を行った。ディスク上既知トラッ
クに、信号を書き込み、最もトラック検出が困難と考え
られるポジションとしてキャレッジをホ−ムポジション
から、上記既知トラックへシ−クし、その出力再現テス
トを行った。その結果は、図２に示す。結果に示される
ように本発明における出力再現性は良好であり、本発明
を用いない場合出力変動最大値２０％に対して本発明を
用いた場合最大変動２％未満であった。
【０００７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の位置ぎめ
方式は、従来と比較して、正確な位置情報を再現性良く
得られることが出来るという効果がある。
方式は、従来と比較して、正確な位置情報を再現性良く
得られることが出来るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の構成に関する実施例の模式図である。
【図２】本発明の効果について出力再現性の結果を例に
とり具体的に示した例である。
とり具体的に示した例である。
Claims (4)
- 【請求項１】 磁気ディスクを回転させるスピンドル部
と前記磁気ディスク上に磁気ヘッドをロ−ド、アンロ−
ド及び／またはシ−クさせるキャリッジ部を備えるスピ
ンスタンド、前記スピンドル部用駆動回路、前記キャリ
ッジ部用駆動回路、磁気ヘッドからの信号によりディス
クおよびヘッドの電磁変換特性およびディスクの欠陥を
評価をする機構を備える装置において、前記キャリッジ
部用駆動回路にサ−ボ機構を備えることを特徴とする磁
気ディスク試験装置。 - 【請求項２】 請求項１において、前記サ−ボ機構は光
ディスク、磁気ディスク等による補助記憶装置を利用す
るものである磁気ディスク試験装置。 - 【請求項３】 請求項１において、前記キャリッジ部用
駆動回路とサ−ボ機構の駆動装置が一体化されている磁
気ディスク試験装置。 - 【請求項４】 請求項１において、サ−ボ信号の最大値
の検出を行うピ−ク検出装置を有する磁気ディスク試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8584293A JPH06302120A (ja) | 1993-04-13 | 1993-04-13 | 磁気ディスク試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8584293A JPH06302120A (ja) | 1993-04-13 | 1993-04-13 | 磁気ディスク試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06302120A true JPH06302120A (ja) | 1994-10-28 |
Family
ID=13870124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8584293A Pending JPH06302120A (ja) | 1993-04-13 | 1993-04-13 | 磁気ディスク試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06302120A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5936807A (en) * | 1997-01-21 | 1999-08-10 | Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. | Magnetic head loading mechanism and method for testing a magnetic disk surface therefor |
-
1993
- 1993-04-13 JP JP8584293A patent/JPH06302120A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5936807A (en) * | 1997-01-21 | 1999-08-10 | Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. | Magnetic head loading mechanism and method for testing a magnetic disk surface therefor |
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