JPH06302120A - 磁気ディスク試験装置 - Google Patents

磁気ディスク試験装置

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Publication number
JPH06302120A
JPH06302120A JP8584293A JP8584293A JPH06302120A JP H06302120 A JPH06302120 A JP H06302120A JP 8584293 A JP8584293 A JP 8584293A JP 8584293 A JP8584293 A JP 8584293A JP H06302120 A JPH06302120 A JP H06302120A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk
head
magnetic disk
magnetic
driving part
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8584293A
Other languages
English (en)
Inventor
Masato Dobashi
正人 土橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Proterial Ltd
Original Assignee
Hitachi Metals Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Metals Ltd filed Critical Hitachi Metals Ltd
Priority to JP8584293A priority Critical patent/JPH06302120A/ja
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Pending legal-status Critical Current

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  • Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】磁気ディスク媒体の電磁変換特性または欠陥を
評価するサ−ティファイテスタ−において、最近の高密
度記録化による狭トラック幅ヘッドでの書き込み、読み
だしが行われる場合、キャリッジがホ−ムポジションに
送られた際においてもヘッドのトラック検出が正確には
行われ、欠陥評価において欠陥の位置再現性が良好であ
ること。 【構成】 磁気ディスクを回転させるスピンドル部と前
記磁気ディスク上に磁気ヘッドをロ−ド、アンロ−ド及
び/またはシ−クさせるキャリッジ部を備えるスピンス
タンド、前記スピンドル部用駆動回路、前記キャリッジ
部用駆動回路、磁気ヘッドからの信号によりディスクお
よびヘッドの電磁変換特性を評価をする部分を備え、キ
ャリッジ部駆動部にサ−ボ機構を備える磁気ディスク試
験装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスクの電磁変
換特性を評価する試験装置に関するものであり、特に高
精度位置決めを可能としたものである。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気ディスクの電磁変換特性やデ
ィスク内の欠陥等を評価する磁気ディスク試験装置で
は、欠陥の情報を得る方法として、任意のトラックにお
けるヘッドの平均信号電圧を100%として、ある定め
たしきい値電圧レベルとの比較によって欠陥の有無を判
定している。その時に得られる情報としては欠陥の大き
さ、ディスク面内における位置情報(半径方向の位置、
及び円周方向の位置)などである。ここで特に位置情報
は磁気ディスク試験装置にとって、欠陥の性質を見極め
る上で高精度であることが必要である。現在の磁気ディ
スクの電磁変換特性やディスク内の欠陥等を評価する磁
気ディスク試験装置では、スピンドルの非同期的なぶれ
を少なくし、安定したシグナルを得るために、エア−ベ
アリングを利用したエア−スピンドルが用いられてい
る。また、ディスク面内半径方向のヘッドの位置ぎめ方
式としては、ステッピングモ−タ−、またはVCMモ−
タ−などが利用されている。これらの方式は、ステッピ
ングモ−タ−によりディスクとヘッドの位置関係を制御
し評価を行う方法として用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】最近の高密度記録化に
よる、狭トラック幅ヘッドでの書き込み、読みだしが行
われる場合、再現性良くトラック検出が行われなければ
ならない。しかしながら上述した従来のステッピングモ
−タ−による位置ぎめ方式では、キャリッジがホ−ムポ
ジションに送られた際、メカ的なバッククラッシュによ
って、同一トラックへのヘッドのシ−クは正確には行わ
れず、ディスクの欠陥評価において欠陥の位置再現性が
困難であるという欠点がある。本発明の目的は、上記従
来技術の問題点を解決することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク試
験装置は、キャリッジを再現性良く移動させる信号とし
て、補助記憶装置からのサ−ボ情報を用いるように構成
することにより、上記従来技術の欠点を解消し、高精度
のヘッド位置ぎめを実現し再現性良好なディスク表面の
欠陥情報を得ることができる。
【0005】
【実施例】以下、本発明について図面を参照して説明す
る。但し本発明のが、これらの実施例により限定される
ものではない。 (実施例1)図1は本発明の実施例の構成を示すブロッ
ク図である。ヘッドキャリッジ1は予め任意の位置に移
動させ、2の駆動部A、即ちテスタ−部は、被測定ディ
スク用磁気ヘッド3及び任意のディスク4に、そして5
の駆動部Bの記録装置は任意の位置にヘッド10により
デ−タ−が書き込まれる。駆動部Aのディスクについて
磁性流体等により、またデ−タ位置が既知なるディスク
を用いてその書かれた正確な位置を確認し、CPU6に
入力される。ここでディスク7に書かれた情報がサ−ボ
情報となる。その後一度キャレッジ全体はホ−ムポジシ
ョンに戻される。以上を初期設定として以下にサ−ティ
ファイ測定法を説明する。サ−ティファイ開始時テスタ
−部のヘッド3はアンロ−ド状態であり駆動部Bがヘッ
ドロ−ドおよびデ−タ−読みだし状態となる。駆動部B
によりサ−ボ情報が発見され、その信号はピ−ク検出回
路8によりサ−ボデ−タの最大値が検出される。それと
同時にCPU6は、計数回路13により、ステッピング
モ−タ−9のパルスの計数を開始し、任意の位置がトラ
ック検出され、駆動部Aのスピンドルの回転と磁気ヘッ
ド3のロ−ドによりサ−ティファイテストが開始され
る。このようにステッピングモ−タ−の位置をサ−ティ
ファイテスト開始時に補助記憶装置のサ−ボ情報が確認
し、再現性ある位置にヘッドが移動できる構成となって
いる。
【0006】(実施例2)次に上記構成を用いた場合と
用いない場合との比較を行った。ディスク上既知トラッ
クに、信号を書き込み、最もトラック検出が困難と考え
られるポジションとしてキャレッジをホ−ムポジション
から、上記既知トラックへシ−クし、その出力再現テス
トを行った。その結果は、図2に示す。結果に示される
ように本発明における出力再現性は良好であり、本発明
を用いない場合出力変動最大値20%に対して本発明を
用いた場合最大変動2%未満であった。
【0007】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の位置ぎめ
方式は、従来と比較して、正確な位置情報を再現性良く
得られることが出来るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の構成に関する実施例の模式図である。
【図2】本発明の効果について出力再現性の結果を例に
とり具体的に示した例である。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気ディスクを回転させるスピンドル部
    と前記磁気ディスク上に磁気ヘッドをロ−ド、アンロ−
    ド及び/またはシ−クさせるキャリッジ部を備えるスピ
    ンスタンド、前記スピンドル部用駆動回路、前記キャリ
    ッジ部用駆動回路、磁気ヘッドからの信号によりディス
    クおよびヘッドの電磁変換特性およびディスクの欠陥を
    評価をする機構を備える装置において、前記キャリッジ
    部用駆動回路にサ−ボ機構を備えることを特徴とする磁
    気ディスク試験装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、前記サ−ボ機構は光
    ディスク、磁気ディスク等による補助記憶装置を利用す
    るものである磁気ディスク試験装置。
  3. 【請求項3】 請求項1において、前記キャリッジ部用
    駆動回路とサ−ボ機構の駆動装置が一体化されている磁
    気ディスク試験装置。
  4. 【請求項4】 請求項1において、サ−ボ信号の最大値
    の検出を行うピ−ク検出装置を有する磁気ディスク試験
    装置。
JP8584293A 1993-04-13 1993-04-13 磁気ディスク試験装置 Pending JPH06302120A (ja)

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JP8584293A JPH06302120A (ja) 1993-04-13 1993-04-13 磁気ディスク試験装置

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JP8584293A JPH06302120A (ja) 1993-04-13 1993-04-13 磁気ディスク試験装置

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JPH06302120A true JPH06302120A (ja) 1994-10-28

Family

ID=13870124

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8584293A Pending JPH06302120A (ja) 1993-04-13 1993-04-13 磁気ディスク試験装置

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JP (1) JPH06302120A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5936807A (en) * 1997-01-21 1999-08-10 Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. Magnetic head loading mechanism and method for testing a magnetic disk surface therefor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5936807A (en) * 1997-01-21 1999-08-10 Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. Magnetic head loading mechanism and method for testing a magnetic disk surface therefor

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