JPH08203047A

JPH08203047A - 円盤状記録ディスクのテスト方法及び装置

Info

Publication number: JPH08203047A
Application number: JP3182895A
Authority: JP
Inventors: Yasufumi Nakagawa; 康文中川
Original assignee: Kao Corp
Current assignee: Kao Corp
Priority date: 1995-01-30
Filing date: 1995-01-30
Publication date: 1996-08-09

Abstract

(57)【要約】【目的】円盤状記録ディスクの表面品質等をテストす
るに際し、ディスク半径方向に直交する方向におけるテ
ストヘッドの位置決めを簡易、正確、迅速に行ない、テ
ストの信頼性及び作業性を向上すること。【構成】ディスク１の信号品質をテストする円盤状記
録ディスク１のテスト方法において、上記テストに先立
ち、テストヘッド２３をディスク１の表面に対してディ
スク半径方向に沿うＸ方向に直交するＹ方向に移動し、
そのＹ方向各位置で書込信号の読出しを行ない、その読
出しデータの状態が最良となる最良読出位置を求め、デ
ィスク１の外周側トラックと内周側トラックで求めた２
つの最良読出位置を直線近似し、上記テスト時に、テス
トヘッド２３をその直線に沿うディスク半径方向に相対
移動せしめるもの。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク、光磁気
ディスク等の円盤状記録ディスク（記録媒体）のテスト
方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】磁気ディスク装置（ＨＤＤ）は、磁気デ
ィスク（ハードディスク）をスピンドルに固定するとと
もに、磁気ヘッドを備えたヘッドスライダをキャリッジ
に支持し、スピンドルの駆動による磁気ディスクの回転
と、キャリッジの駆動による磁気ヘッドの移動によっ
て、磁気ヘッドを磁気ディスクの表面に対して相対移動
させる。そして、磁気ディスクの指定されたトラックに
同心状もしくはスパイラル状に、磁気ヘッドによって電
気的に一様な幅のデータを書込み、また、指定されたト
ラックから磁気ヘッドによって電気的にデータを読取
る。

【０００３】このとき、磁気ディスク装置では、磁気デ
ィスクとヘッドスライダの隙間がくさび型になるように
して、動作時にディスク回転に誘起される空気流をヘッ
ドスライダの浮上面に設けた凹状の空気流通溝に導いて
該ヘッドスライダをディスク上方に一定の浮上量で浮上
させ、磁気ヘッドとディスクとが接触しないようにして
いる。従って、ヘッドスライダは、ディスクに対し、
(a) 動作時にはディスクの回転開始に伴って静止、滑
走、浮上し、(b) 非動作時にはディスクの回転停止に伴
って浮上、滑走、静止する如くに変化する。このように
動作時にヘッドスライダが浮上することは、高ディスク
回転下でもヘッドスライダとディスクの摩耗を極小と
し、ヘッドスライダとディスクの寿命を向上せしめる。

【０００４】また、磁気ディスクでは、高記録密度を実
現するために、超精密な表面品質を具備する必要があ
り、ディスクの記録膜の欠損等の信号品質をチェックす
るサティファイテストが実施されている。

【０００５】サーティファイテストは磁気ディスクの磁
気記録膜等の欠陥（信号品質）のチェックテストであ
り、サーティファイテスト用磁気ヘッドをヘッドスライ
ダに設けたテストヘッドを用いて、磁気ディスク装置の
ヘッドとディスクの関係を再現させ、ディスクの各１本
のトラック毎に、書込信号（ＨＦ信号）の書込み、読出
し、消去、再読出し等を行ない、ＭＰ（Missing Pulse
）エラー、ＥＰ（ExtraPulse ）エラーの発生数を検出
することにて、欠陥の存在を検出するものである。例え
ば１トラックのビット数（例えば20万個）に対し、上記
ＭＰエラーの数、ＥＰエラーの数がそれぞれ一定比率を
越えるディスクを不良ディスクとする。

【０００６】ここで、サーティファイテストでは、サー
ティファイテスト用磁気ヘッドの軸線が、磁気ディスク
のトラックの接線に対してなす角度、即ちスキュー角を
もつ場合、当該磁気ヘッドがディスク上の単位記録要素
であるビットに対してある角度をなすものとなり、これ
がビットのゆがみとなって出力信号の低下、不安定を
生じ、ヘッド浮上姿勢の不安定を生ずる結果、測定精
度に悪影響を及ぼし、テストの信頼性が得られない。

【０００７】然るに、従来技術では、ディスク上のビッ
トに対するサーティファイテスト用磁気ヘッドの位置決
めを、(a) ディスク半径方向については、磁気ディスク
に書込んだ書込信号の出力検出等による自動位置決めを
行ない、(b) ディスク半径方向に直交する方向について
は、作業者の目視による手動位置決めを行なうこととし
ている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】従来技術では、ディス
ク上のビットに対するサーティファイテスト用磁気ヘッ
ドの位置決めを、ディスク半径方向に直交する方向につ
いては、作業者の目視による手動位置決めで行なうしか
ない。ところが、ディスクの寸法が小型化するに従い、
ディスク半径方向に直交する方向でのテストヘッドの位
置決めが重要になり、従来の目視による方法では位置決
め誤差が大きくなり、テストの信頼性及び作業性を大き
く損なう。

【０００９】本発明は、円盤状記録ディスクの表面品質
等をテストするに際し、ディスク半径方向に直交する方
向におけるテストヘッドの位置決めを簡易、正確、迅速
に行ない、テストの信頼性及び作業性を向上することを
目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の本発明
は、円盤状記録ディスクを回転させるとともに、テスト
ヘッドをディスクの表面に対してディスク半径方向に相
対移動し、ディスクの各トラックに対する書込信号の書
込み、読出しを行ない、その読出しデータからディスク
の信号品質をテストする円盤状記録ディスクのテスト方
法において、上記テストに先立ち、テストヘッドをディ
スクの表面に対して上記ディスク半径方向に沿うＸ方向
に直交するＹ方向に移動し、そのＹ方向各位置で書込信
号の読出しを行ない、その読出しデータの状態が最良と
なる最良読出位置を求め、ディスクの外周側トラック上
で求めた上記最良読出位置と、内周側トラック上で求め
た上記最良読出位置とを直線近似し、上記テスト時に、
テストヘッドをその直線に沿うディスク半径方向に相対
移動せしめるようにしたものである。

【００１１】請求項２に記載の本発明は、請求項１に記
載の本発明において更に、前記最良読出位置を求めるた
めのディスクへの書込信号の書込みをテストヘッド自体
で行ない、テストヘッドは前記Ｙ方向各位置で書込信号
の書込み、読出しを繰り返し前記最良読出位置を求める
ようにしたものである。

【００１２】請求項３に記載の本発明は、請求項１に記
載の本発明において更に、前記最良読出位置を求めるた
めのディスクへの書込信号の書込みを、テストヘッドと
異なる他の書込みヘッドで行ない、テストヘッドは前記
Ｙ方向各位置で上記書込信号の読出しを繰り返し、他の
書込みヘッドに対する前記最良読出位置を求めるように
したものである。

【００１３】請求項４に記載の本発明は、ディスクを回
転させるスピンドルと、スピンドルを駆動制御するスピ
ンドルコントローラと、テストヘッドと、テストヘッド
を支持し、該テストヘッドをディスクの表面に沿って該
ディスクのトラックに交差する方向に移動させるキャリ
ッジと、キャリッジを駆動制御するキャリッジコントロ
ーラと、テストヘッドがディスクに相対しているテスト
位置をスピンドルコントローラとキャリッジコントロー
ラの制御信号から求めるとともに、テストヘッドの出力
を得て当該テスト位置でのテストデータを求めるテスト
回路と、スピンドルコントローラとキャリッジコントロ
ーラを制御するとともに、テスト回路を制御する制御部
とを有してなる円盤状記録ディスクのテスト装置におい
て、上記制御部が、上記テストに先立ち、テストヘッド
をディスクの表面に対して上記ディスク半径方向に沿う
Ｘ方向に直交するＹ方向に移動し、そのＹ方向各位置で
書込信号の読出しを行ない、その読出しデータの状態が
最良となる最良読出位置を求め、ディスクの外周側トラ
ック上で求めた上記最良読出位置と、内周側トラック上
で求めた上記最良読出位置とを直線近似し、上記テスト
時に、テストヘッドをその直線に沿うディスク半径方向
に相対移動せしめることを可能としてなるようにしたも
のである。

【００１４】

【作用】請求項１〜４に記載の本発明によれば下記、
の作用がある。ディスクに書込んだ書込信号の読出状態が最良となる
最良読出位置を求め、この最良読出位置から、テスト時
におけるテストヘッドの移動方向を定めるものであるか
ら、簡易、正確、迅速にテストヘッドがディスクのトラ
ックに対してなすスキュー角をなくすことができる。

【００１５】ディスクヘッドがディスクのトラックに
対してなすスキュー角をなくすことができるから、テス
トヘッドのテスト用磁気ヘッドをディスク上のビットに
対して正確に合致させることができ、より正確なテスト
データを得ることができる。また、Ｓ／Ｎの向上によ
り、エラー測定時間を短縮できる。

【００１６】

【実施例】図１は本発明に係る磁気ディスクテスト装置
の一実施例を示す模式図、図２は磁気ディスクテスト装
置の制御系統図、図３はテストヘッドの一例を示す模式
図、図４はテストヘッドの浮上原理を示す模式図、図５
は磁気ディスクのＹ方向各位置での読出し出力を示す模
式図である。

【００１７】磁気ディスクテスト装置１０は、磁気ディ
スク（ハードディスク）１のサーティファイテストを行
なう。

【００１８】磁気ディスクテスト装置１０は、図１に示
す如く、定盤１０Ａの上に設けたサーボモータ１１の出
力軸にスピンドル１２を連結し、サーボモータ１１をス
ピンドルコントローラ１３により駆動制御している。制
御部３０は、スピンドル１２が所定の回転数となるよう
にスピンドルコントローラ１３を制御する。

【００１９】磁気ディスクテスト装置１０は、定盤１０
Ａの上に設けたＸモータ（パルスモータ）１６Ａにより
Ｘ方向キャリッジ１５ＡをＸ方向に移動可能とし、Ｘ方
向キャリッジ１５Ａの上に設けたＹモータ（パルスモー
タ）１６ＢによりＹ方向キャリッジ１５Ｂを移動可能と
している。キャリッジ１５Ａ、１５Ｂはキャリッジコン
トローラ１８により駆動制御される。Ｙ方向キャリッジ
１５Ｂはヘッドブロック２１を支持し、ヘッドブロック
２１にはサスペンション（ばね）２２の基端部が結合さ
れ、サスペンション２２の先端部にはテストヘッド２３
が設けられている。制御部３０は、テストヘッド２３が
磁気ヘッド１の表面に沿って磁気ヘッド１の磁気トラッ
クに交差する該磁気ディスク１の半径方向の所定位置に
移動するようにキャリッジコントローラ１８を制御す
る。テストヘッド２３は、図３に示す如く、そのヘッド
スライダ２５に、サーティファイテスト用磁気ヘッド２
７を設けている。

【００２０】尚、磁気ディスクテスト装置１０は、磁気
ディスク１の表裏両面のそれぞれに別個に対応する２個
のテストヘッド２３を有しており（磁気ディスク１の片
面にのみ対応する１個のテストヘッド２３を有するもの
でも良い）、各テストヘッド２３毎に上述のＸ方向キャ
リッジ１５Ａ、Ｙ方向キャリッジ１５Ｂ、Ｘモータ１６
Ａ、Ｙモータ１６Ｂを具備し、各テストヘッド２３を互
いに独立に移動制御可能としている（独立でなく、１つ
のキャリッジ１５Ｂだけで表裏２個のテストヘッド２３
の中間点を採用することもできる）。

【００２１】ヘッドスライダ２５は、図４に示す如く、
磁気ディスク１の表裏面に相対する左右の浮上面２５Ａ
の中間に空気流通溝２５Ｂを設けるとともに、ヘッドス
ライダ２５の先端側の浮上面２５Ａをくさび面２５Ｃと
している。これにより、磁気ディスクテスト装置１０の
動作時に磁気ディスク１の回転に誘起される空気流をく
さび面２５Ｃの側から空気流通溝２５Ｂに導いてヘッド
スライダ２５を磁気ディスク１の上方に一定の浮上量で
浮上させるようにしている。

【００２２】サーティファイテスト用磁気ヘッド２７
は、ヘッドスライダ２５の基端側の端面に接合されてい
る。磁気ヘッド２７は、例えば薄膜磁気ヘッドであり、
薄膜素子（磁気コア、コイル）からなる。

【００２３】磁気ディスクテスト装置１０は、図２に示
す如く、制御部３０、サーティファイテスト回路３２、
表示部３３を有している。

【００２４】サーティファイテスト回路３２は、テスト
ヘッド２３が磁気ディスク１に相対しているテスト位置
を、スピンドルコントローラ１３の制御信号（周方向位
置信号）とキャリッジコントローラ１８の制御信号（半
径方向位置信号）から求めるとともに、磁気ヘッド２７
の出力をアンプ３５から得て当該テスト位置でのサーテ
ィファイテストデータを求める。

【００２５】制御部３０は、スピンドルコントローラ１
３とキャリッジコントローラ１８を前述した如くに制御
するとともに、サーティファイテスト回路３２を制御す
る。

【００２６】制御部３０は、サーティファイテスト回路
３２から取り込んだデータ、サーティファイテスト結果
等を表示部３３に表示する。

【００２７】以下、磁気ディスクテスト装置１０による
テスト手順の一例について説明する。 (1) 磁気ディスク１をスピンドル１２に取付ける。そし
て、スピンドルコントローラ１３により所定のスピンド
ル回転数でスピンドル１２を駆動する。

【００２８】(2) キャリッジコントローラ１８によりテ
ストヘッド２３を磁気ディスク１上のロード位置（テス
ト開始位置）（例えば最外周トラック位置）に位置付
け、不図示のヘッドロード／アンロード機構によりテス
トヘッド２３を磁気ディスク１上で浮上させ、サーティ
ファイテストを行なう。

【００２９】サーティファイテストは、磁気ディスク１
の各１本のトラック毎に、下記〜のテストシーケン
スによってなされる。指定されたトラックに書込信号（ＨＦ信号）を書込
む。

【００３０】上記の書込信号を読出し、トラック平
均読出電圧（ＴＡＡ）を算出する。

【００３１】上記の読出信号について、上記のＴ
ＡＡに対するスライスレベル（ 1〜99％、例えば70％）
を下回るパルス信号をＭＰ（Missing Pulse)エラーとす
る。そして、例えばディスクの１トラックのビット数
（例えば20万ビット）に対し上記ＭＰエラーの数が一定
比率を越えるディスクを不良ディスクとする。

【００３２】上記の書込信号をイレーズ（消去）す
る。

【００３３】上記のイレーズ後に再読出しを行な
う。そして、上記のＴＡＡに対するスライスレベル
（ 1〜99％、例えば25％）を越える消残りパルス信号を
ＥＰ（Extra Pulse ）エラーとする。そして、例えばデ
ィスクの１トラックのビット数（例えば20万ビット）に
対し上記ＥＰエラーの数が一定比率を越えるディスクを
不良ディスクとする。

【００３４】磁気ディスク１が上記、で不良ディス
クと判定されたときその時点でテスト終了とする。

【００３５】(3) テストヘッド２３が磁気ディスク１上
のアンロード位置（テスト終了位置）（例えば最内周ト
ラック位置）に到達して、その位置での上記サーティフ
ァイテストを終了したら、不図示のヘッドロード／アン
ロード機構によりテストヘッド２３を磁気ディスク１か
ら強制的に離し、テスト終了とする。

【００３６】然るに、磁気ディスクテスト装置１０の制
御部３０は、上記サーティファイテストの信頼性及び作
業性向上のため、下記(1) 、(2) の機能を具備してい
る。 (1) 制御部３０は、サーティファイテストに先立ち、テ
ストヘッド２３を磁気ディスク１の表面に対してディス
ク半径方向に沿うＸ方向に直交するＹ方向に移動し、そ
のＹ方向各位置で書込信号の読出しを行ない、その読出
しデータの状態（出力、もしくは孤立波形幅、ＭＰエラ
ー数最小、ＥＰエラー数最大）が最良となる最良検出位
置Ｙ₀ を求める。この最良検出位置Ｙ₀ は、磁気ディス
ク１の外周側トラック上の最良検出位置（Ｘ_a ，Ｙ₀ ）
と、磁気ディスク１の内周側トラック上の最良検出位置
（Ｘ_b ，Ｙ₀ ）の少なくとも２位置について求める。

【００３７】尚、読出しデータの最良検出位置は、(a)
読出しデータの出力状態を見る場合には、最大出力発生
位置であり、(b) 読出しデータの孤立波形幅（孤立波形
の出力高さの50％高さ位置での波形幅）の最小幅発生位
置である。これは、テストヘッド２３が磁気ディスク１
のトラックに対してなすスキュー角がなくなり、磁気ヘ
ッド２７が磁気ディスク１上のビットに対して正確に合
致するとき、読出し出力は最大値を示し、読出し孤立波
形幅は最小値を示すことに基づく。

【００３８】また、テストヘッド２３が磁気ディスク１
のトラックに対しスキュー角を持つ場合には、読出し出
力は小となり、ＭＰエラー数は多く、ＥＰエラー数は少
なくなる。他方、スキュー角が０になれば、読出し出力
は大となり、ＭＰエラー数は少なく、ＥＰエラー数は多
くなる。よって、ＭＰエラー数最小位置、ＥＰエラー数
最大位置を、読出しデータの最良検出位置として取り扱
うこともできる。

【００３９】このとき、読出しデータの最良検出位置を
求める方法としては、具体的には、下記の第１の方法と
第２の方法がある。（第１の方法）最良検出位置を求めるための磁気ディスク１への書込
信号の書込みをテストヘッド２３の磁気ヘッド２７自体
で行なう。

【００４０】テストヘッド２３の磁気ヘッド２７をＹ
モータ１６ＢによりＹ方向各位置に切替え、各位置で書
込信号（書込電流、周波数一定）を書込み、読出しを繰
り返す。最大読出し出力又は最小読出し孤立波形幅が得
られた位置を最良検出位置とする。

【００４１】上記の最良検出位置を磁気ディスク１
の外周側トラックと内周側トラックのそれぞれにおいて
求める。

【００４２】（第２の方法）最良検出位置を求めるための磁気ディスク１への書込
信号の書込みを、テストヘッド２３と異なる他の書込ヘ
ッドで行なう。この他の書込ヘッドにより、磁気ディス
ク１の外周側トラックと内周側トラックの２つのトラッ
クのそれぞれに、書込信号（書込電流、周波数一定）を
書込む。

【００４３】テストヘッド２３の磁気ヘッド２７をＹ
モータ１６ＢによりＹ方向各位置に切替え、そのＹ方向
各位置でＸモータ１６Ａにより磁気ヘッド２７をＸ方向
に振ることにて内外トラックをスキャンして内外各位置
で上記書込信号を読出す。この内外各位置での書込信号
の読出しを、Ｙ方向各位置で繰り返す。最大読出出力又
は最大読出孤立波形幅が得られた位置を最良検出位置と
する。

【００４４】上記の最良検出位置が磁気ディスク１
の外周側トラックと内周側トラックのそれぞれにおいて
求められる。

【００４５】尚、上記第１の方法、第２の方法のいずれ
にあっても、の外周側トラックと内周側トラックは磁
気ディスク１の直径に応じて予め指定したトラックとす
るのが良い。これによれば、磁気ディスク１の直径の変
化にかかわらず、信頼性の高い検出結果が得られる。最
外周側トラックと最内周側トラックが格別好適である。

【００４６】(2) 制御部３０は、上記(1) によって磁気
ディスク１の外周側トラック上の最良検出位置（Ｘ_a ，
Ｙ₀ ）と、磁気ディスク１の内周側トラック上の最良検
出位置（Ｘ_b ，Ｙ₀ ）とを直線近似し、前述したサーテ
ィファイテスト時に、キャリッジコントローラ１８を制
御することにより、テストヘッド２３をその直線に沿う
ディスク半径方向に相対移動せしめる。

【００４７】尚、上記(1) 、(2) は、指定の頻度（例え
ば、50枚の磁気ディスク検査毎等）で行なうことができ
る。上記(1) 、(2) は、磁気ディスク１の表裏両面のそ
れぞれに別個（別個に設けなくても良い）に対応して設
けてある２個のテストヘッド２３のそれぞれについて、
相互に独立になされる（独立ではなく、表裏ヘッドの中
間点とすることもできる）。

【００４８】以下、本実施例の作用について説明する。ディスク１に書込んだ書込信号の読出状態が最良とな
る最良読出位置を求め、この最良読出位置から、テスト
時におけるテストヘッド２３の移動方向を定めるもので
あるから、簡易、正確、迅速にテストヘッド２３がディ
スク１のトラックに対してなすスキュー角をなくすこと
ができる。

【００４９】ディスクヘッド２３がディスク１のトラ
ックに対してなすスキュー角をなくすことができるか
ら、テストヘッド２３のテスト用磁気ヘッド２７をディ
スク１上のビットに対して正確に合致させることがで
き、より正確なテストデータを得ることができる。ま
た、Ｓ／Ｎの向上により、エラー測定時間を短縮でき
る。

【００５０】以上、本発明の実施例を図面により詳述し
たが、本発明の具体的な構成はこの実施例に限られるも
のではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変
更等があっても本発明に含まれる。例えば、サーティフ
ァイテスト回路によるテスト内容は、上記実施例のもの
に限らず、いかなるものであっても良い。また、本発明
は、磁気ディスクに限らず、光磁気ディスクにも適用で
きる。

【００５１】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、円盤状記
録ディスクの表面品質等をテストするに際し、ディスク
半径方向に直交する方向におけるテストヘッドの位置決
めを簡易、正確、迅速に行ない、テストの信頼性及び作
業性を向上することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明に係る磁気ディスクテスト装置の
一実施例を示す模式図である。

【図２】図２は磁気ディスクテスト装置の制御系統図で
ある。

【図３】図３はテストヘッドの一例を示す模式図であ
る。

【図４】図４はテストヘッドの浮上原理を示す模式図で
ある。

【図５】図５は磁気ディスクのＹ方向各位置での読出し
出力を示す模式図である。

【符号の説明】

１磁気ディスク１０磁気ディスクテスト装置１２スピンドル１３スピンドルコントローラ１５ＡＸ方向キャリッジ１５ＢＹ方向キャリッジ１６ＡＸモータ１６ＢＹモータ１８キャリッジコントローラ２３テストヘッド２７サーティファイテスト用磁気ヘッド３０制御部３２サーティファイテスト回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ 9558−5Ｄ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】円盤状記録ディスクを回転させるととも
に、テストヘッドをディスクの表面に対してディスク半
径方向に相対移動し、ディスクの各トラックに対する書
込信号の書込み、読出しを行ない、その読出しデータか
らディスクの信号品質をテストする円盤状記録ディスク
のテスト方法において、上記テストに先立ち、テストヘッドをディスクの表面に
対して上記ディスク半径方向に沿うＸ方向に直交するＹ
方向に移動し、そのＹ方向各位置で書込信号の読出しを
行ない、その読出しデータの状態が最良となる最良読出
位置を求め、ディスクの外周側トラック上で求めた上記最良読出位置
と、内周側トラック上で求めた上記最良読出位置とを直
線近似し、上記テスト時に、テストヘッドをその直線に
沿うディスク半径方向に相対移動せしめることを特徴と
する円盤状記録ディスクのテスト方法。
【請求項２】前記最良読出位置を求めるためのディス
クへの書込信号の書込みをテストヘッド自体で行ない、テストヘッドは前記Ｙ方向各位置で書込信号の書込み、
読出しを繰り返し前記最良読出位置を求める請求項１記
載の円盤状記録ディスクのテスト方法。
【請求項３】前記最良読出位置を求めるためのディス
クへの書込信号の書込みを、テストヘッドと異なる他の
書込みヘッドで行ない、テストヘッドは前記Ｙ方向各位置で上記書込信号の読出
しを繰り返し、他の書込みヘッドに対する前記最良読出
位置を求める請求項１記載の円盤状記録ディスクのテス
ト方法。
【請求項４】ディスクを回転させるスピンドルと、スピンドルを駆動制御するスピンドルコントローラと、テストヘッドと、テストヘッドを支持し、該テストヘッドをディスクの表
面に沿って該ディスクのトラックに交差する方向に移動
させるキャリッジと、キャリッジを駆動制御するキャリッジコントローラと、テストヘッドがディスクに相対しているテスト位置をス
ピンドルコントローラとキャリッジコントローラの制御
信号から求めるとともに、テストヘッドの出力を得て当
該テスト位置でのテストデータを求めるテスト回路と、スピンドルコントローラとキャリッジコントローラを制
御するとともに、テスト回路を制御する制御部とを有し
てなる円盤状記録ディスクのテスト装置において、上記制御部が、上記テストに先立ち、テストヘッドをデ
ィスクの表面に対して上記ディスク半径方向に沿うＸ方
向に直交するＹ方向に移動し、そのＹ方向各位置で書込
信号の読出しを行ない、その読出しデータの状態が最良
となる最良読出位置を求め、ディスクの外周側トラック上で求めた上記最良読出位置
と、内周側トラック上で求めた上記最良読出位置とを直
線近似し、上記テスト時に、テストヘッドをその直線に
沿うディスク半径方向に相対移動せしめることを可能と
してなることを特徴とする円盤状記録ディスクのテスト
装置。