JPH0427625B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は磁気デイスク装置内に組込まれる磁気
デイスク媒体と磁気ヘツドとが一体となつた構成
品を試験して、該磁気デイスク媒体の欠陥を検出
し、若し磁気デイスク媒体に欠陥があつた場合、
該欠陥の位置を該磁気デイスク媒体に記録するエ
ラー・テスター・フオーマツタ（以後ETFと略
す）に係り、特に欠陥を検出する試験時間の短縮
を計る磁気デイスク媒体欠陥検出方式に関する。

(b) 従来技術と問題点 最近は磁気デイスク装置に磁気デイスク媒体と
磁気ヘツドとが一体となつた構成品を組込み、完
成品として出荷しているが、該構成品は磁気デイ
スク装置に組込まれる前に磁気デイスク媒体の欠
陥が試験され、その位置が記録される。該試験と
欠陥位置記録を行う動作をサーテイフアイと呼ぶ
が、該サーテイフアイを行う装置がETFである。
従来のETFによる１トラツクのサーテイフアイ
動作は次のの如く磁気デイスク媒体の七回転で完
了していた。即ち、(1)トラツクの牽引から牽引の
間に最高記録密度で書込みを行い、(2)次の一回転
で該記録を読出して平均値を測定し、(3)次の一回
転で振幅変動をチエツクする為のミツシングビツ
トとモジユレーシヨンを検出し、(4)次の一回転で
で書込んだ記録を消去し、(5)磁気ヘツドから発
生するノイズを避ける為一回転待ち、(6)消去後の
ノイズであるエキストラビツトの検出を行い、(7)
次のトラツクに磁気ヘツドの位置付けをするシー
ク動作を行う。

上記の如く磁気デイスク媒体の７回転で１トラ
ツクのサーテイフアイが済むが、(5)の一回転待ち
は磁気ヘツドを消去モードから読出しモードに切
り替える瞬間に発生するノイズを避ける為のもの
であり、短時間で消滅するノイズを避けるのに一
回転待つことは、無駄であり、多数のトラツクを
サーテイフアイするのに工数の増加が避けられぬ
欠点がある。

(c) 発明の目的 本発明は磁気ヘツドを消去モードより読出しモ
ードへ切替える際発生するノイズを避ける一回転
に待ち時間を省略し第６回転の完了までにノイズ
発生時間を避けてエキストラビツトの検出と磁気
ヘツドの次のトラツクへのシーク動作を行なわせ
ることを可能とする磁気デイスク媒体欠陥検出方
式を目的とする。

(d) 発明の構成 この目的は本発明により磁気デイスク媒体のト
ラツクへの書込み、読出しと消去を同一の磁気ヘ
ツドで行なう場合、同一トラツク上における第１
回転の際磁気ヘツドの記録モードで最高記録密度
での書込みが行なわれ、第２回転における磁気ヘ
ツドの読出しモードにより記録が読出され平均値
が測定され、第３回転で振幅変動をチエツクする
ためのミツシングビツトとモジユレーシヨンが検
出され、第４回転で磁気ヘツドの消去モードで書
込んだ記録の消去が行われた後第５回転において
磁気ヘツドの消去モードより読出しモードへの切
替えによるノイズの発生時間ａの経過後、エキス
トラビツトの検出が開始され、第６回転における
最初の時間ａまで継続され、この時間の経過後次
のトラツクへの磁気ヘツドのシーク動作が開始さ
れることを特徴とする磁気デイスク媒体検出方式
によつて達成される。

(e) 発明の実施例 第１図は本発明の一実施例を示す回路のブロツ
ク図で、第２図は第１図の動作を説明するタイム
チヤートである。マイクロプロセツサ１２は書込
制御回路８を制御して、端子Ａよりトラツクの索
引が検出された信号が入ると、書込増幅器３を駆
動し、切替器２を経て磁気ヘツド１に最高記録密
度の符合を送出し、次に磁気デイスク媒体が一回
転して又該索引の検出された信号が端子Ａより入
力される迄に示す如く磁気デイスク媒体に書込
む。次に該索引検出により切替器２を切り替えて
磁気ヘツド１を読出しモードとし、読出制御回路
５を制御し、読出増幅器４に磁気ヘツド１から入
る信号を増幅させ、で示す如く索引から索引の
間である第２回転間信号レベルの平均値をマイク
ロプロセツサ１２に報告させる。マイクロプロセ
ツサ１２は該平均値をプリンタ１１に印字させ
る。次の第３回転間マイクロプロセツサ１２はミ
ツシングビツト・チエツクゲート７のゲートを
の開閉かせ、読出増幅器４の出力よりミツシング
ビツト／モジユレーシヨン検出回路１０にミツシ
ングビツトとモジユレーシヨンを検出させ、その
結果をプリンタ１１に印字させる。次の第４回転
間マイクロプロセツサ１２は書込制御回路８を制
御して、書込増幅器３より切替器２を経て磁気ヘ
ツド１に消去信号を送出させ、に示す如くで
記録した符合の消去を行わせる。上記〜の動
作は従来と同様である。次の第５回転でマイクロ
プロセツサ１２は切替器２を切り替えて磁気ヘツ
ド１を消去モードから読出しモードに変えるが、
これによる第５回転の最初の短時間ａはノイズが
発生する為、のａで示す間エキストラビツト・
チエツクゲート６のゲートを開く時間を延長させ
る。本実施例では約50μsである。エキストラビツ
ト検出回路９は時間ａの経過後エキストラビツ
ト・チエツクゲートが開くことで第５回転中にエ
キストラビツトの検出を行なうが、これは次の第
６回転における最初の時間ａまで引き続いて行な
われる。このためエキストラビツト・チエツクゲ
ート６は第６回転の索引検出信号Ａが到来して後
も時間ａ経過後まで開放していることになる。

第２図ではの時間ａの経過後の実線はエキス
トラビツトの検出を行なつている時間を示し、そ
れはの上部に記載されている実線で示す時間ａ
の間まで継続される。それ以後の点線は磁気ヘツ
ドが次のトラツクへシークする時間であり、第６
回転の終わりには磁気ヘツドは次のトラツクに移
行する。磁気デイスク媒体が一回転するのに必要
な時間は15ms程度あり、50μs程度遅延してチー
ク動作を開始しても問題は無い。

(f) 発明の効果 以上説明した如く、本発明は従来磁気デイスク
媒体の７回転で完了していたサーテイを６回転で
完了させることが出来る為、サーテイフアイに必
要な工数を14％短縮することが可能と成つた。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路のブロツ
ク図、第２図は第１図の動作を説明するタイムチ
ヤートである。 １は磁気ヘツド、２は切替器、３は書込増幅
器、４は読出増幅器、５は読出制御回路、６はエ
キストラビツト・チエツクゲート、７はミツシン
グビツト・チエツクゲート、８は書込制御回路、
９はエキストラビツト検出回路、１０はミツシン
グト／モジユレーシヨン検出回路、１１はプリン
タ、１２はマイクロプロセツサである。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １磁気デイスク媒体のトラツクへの書込み、読出
   しと消去を同一の磁気ヘツドで行なう場合、同一
   トラツク上における第１回転の際磁気ヘツドの記
   録モードで最高記録密度での書込みが行なわれ、
   第２回転における磁気ヘツドの読出しモードによ
   り記録が読出され平均値が測定され、第３回転で
   振幅変動をチエツクするためのミツシングビツト
   とモジユレーシヨンが検出され、第４回転で磁気
   ヘツドの消去モードで書込んだ記録の消去が行な
   われた後第５回転において磁気ヘツドの消去モー
   ドより読出しモードへの切替えによるノイズの発
   生時間ａの経過後、エキストラビツトの検出が開
   始され、第６回転における最初の時間ａまで継続
   され、この時間の経過後次のトラツクへの磁気ヘ
   ツドのシーク動作が開始されることを特徴とする
   磁気デイスク媒体欠陥検出方式。