JPH10188451A - ディスク装置及び同装置におけるデフェクトに基づく故障予測方法 - Google Patents
ディスク装置及び同装置におけるデフェクトに基づく故障予測方法Info
- Publication number
- JPH10188451A JPH10188451A JP8345190A JP34519096A JPH10188451A JP H10188451 A JPH10188451 A JP H10188451A JP 8345190 A JP8345190 A JP 8345190A JP 34519096 A JP34519096 A JP 34519096A JP H10188451 A JPH10188451 A JP H10188451A
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- Japan
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- time
- defect
- defect occurrence
- disk device
- occurrence
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Abstract
(57)【要約】
【課題】デフェクトの発生率をもとに短時間でデフエク
トが多発する状態を検出して故障予測を行うことによ
り、故障予測の精度向上を図る。 【解決手段】スピンドルモータ3により高速回転するデ
ィスク1へのリード/ライトアクセスがヘッド2を用い
て行われる磁気ディスク装置において、このディスク装
置を最初に使用した時点からの通電時間をタイマ17を
用いて計測し、リード/ライトアクセスが正常に終了せ
ずに代替エリアへの代替処理が行われた場合には、ディ
スク装置を最初に使用した時点から当該代替処理の実行
時点までの通電時間を最も最近のデフェクト発生時刻と
してCPU10がディスク1の所定領域に保存し、故障
予測の診断時には、当該CPU10が、上記所定領域に
保存されている所定数のデフェクト発生時刻をもとに最
新のデフェクト発生率を算出して、そのデフェクト発生
率をもとに故障予測を行う構成とする。
トが多発する状態を検出して故障予測を行うことによ
り、故障予測の精度向上を図る。 【解決手段】スピンドルモータ3により高速回転するデ
ィスク1へのリード/ライトアクセスがヘッド2を用い
て行われる磁気ディスク装置において、このディスク装
置を最初に使用した時点からの通電時間をタイマ17を
用いて計測し、リード/ライトアクセスが正常に終了せ
ずに代替エリアへの代替処理が行われた場合には、ディ
スク装置を最初に使用した時点から当該代替処理の実行
時点までの通電時間を最も最近のデフェクト発生時刻と
してCPU10がディスク1の所定領域に保存し、故障
予測の診断時には、当該CPU10が、上記所定領域に
保存されている所定数のデフェクト発生時刻をもとに最
新のデフェクト発生率を算出して、そのデフェクト発生
率をもとに故障予測を行う構成とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は故障予測機能を備え
たディスク装置及び同装置におけるデフェクトに基づく
故障予測方法に関する。
たディスク装置及び同装置におけるデフェクトに基づく
故障予測方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、故障予測機能を備えた磁気ディス
ク装置が製品化されている。この機能は、磁気ディスク
装置内の故障に関係がありそうなデータをモニターし
(調べ)、そのモニター値から磁気ディスク装置の故障
を予測するものである。モニター値とは故障予測機能で
磁気ディスク装置が危険な状態(故障が近いか)か否か
を判断するための指標となるデータであり、具体的には
通電時間、モータの起動/停止(Start/Stop)回数など
である。
ク装置が製品化されている。この機能は、磁気ディスク
装置内の故障に関係がありそうなデータをモニターし
(調べ)、そのモニター値から磁気ディスク装置の故障
を予測するものである。モニター値とは故障予測機能で
磁気ディスク装置が危険な状態(故障が近いか)か否か
を判断するための指標となるデータであり、具体的には
通電時間、モータの起動/停止(Start/Stop)回数など
である。
【0003】上記モニター値の1つに、メディア(ディ
スク)上のデフェクトに関したものがある。一般に磁気
ディスク装置では、メディア(ディスク)上のデフェク
ト等により正しくリード/ライトしにくいセクタが発生
した場合に、そのセクタを欠陥セクタ(デフェクト)で
あるとして使用するのを止め、予め欠陥セクタの再配置
(代替)用に用意してある代替セクタ(代替エリア)群
の中から代替先セクタを決定して割り当てる代替処理を
行うようになっている。
スク)上のデフェクトに関したものがある。一般に磁気
ディスク装置では、メディア(ディスク)上のデフェク
ト等により正しくリード/ライトしにくいセクタが発生
した場合に、そのセクタを欠陥セクタ(デフェクト)で
あるとして使用するのを止め、予め欠陥セクタの再配置
(代替)用に用意してある代替セクタ(代替エリア)群
の中から代替先セクタを決定して割り当てる代替処理を
行うようになっている。
【0004】通常、上記デフェクト(欠陥セクタ)は、
磁気ディスク装置のヘッドやメディアの劣化などによっ
て増加する。そのため、この種の劣化に伴って代替セク
タ(代替エリア)の残り数も減少していく。そこで従来
は、代替処理(欠陥セクタの再配置に割り当て)が可能
な代替エリアの数、即ち代替エリアの残り数を、デフェ
クトに関するモニター値として適用し、残りの代替エリ
ア数が一定数以下になると警告を出すようにしていた。
磁気ディスク装置のヘッドやメディアの劣化などによっ
て増加する。そのため、この種の劣化に伴って代替セク
タ(代替エリア)の残り数も減少していく。そこで従来
は、代替処理(欠陥セクタの再配置に割り当て)が可能
な代替エリアの数、即ち代替エリアの残り数を、デフェ
クトに関するモニター値として適用し、残りの代替エリ
ア数が一定数以下になると警告を出すようにしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来技
術においては、デフェクト発生を用いた磁気ディスク装
置の故障予測の指標となるモニター値として、デフェク
トの発生によって減少する代替エリアの残り数を適用し
ていた。このように、代替エリアの残り数を磁気ディス
ク装置の故障予測の指標とするということは、即ちデフ
ェクトをもとに故障予測を行うということは、デフェク
トが多発したら故障につながるという考えのもとに成り
立っている。
術においては、デフェクト発生を用いた磁気ディスク装
置の故障予測の指標となるモニター値として、デフェク
トの発生によって減少する代替エリアの残り数を適用し
ていた。このように、代替エリアの残り数を磁気ディス
ク装置の故障予測の指標とするということは、即ちデフ
ェクトをもとに故障予測を行うということは、デフェク
トが多発したら故障につながるという考えのもとに成り
立っている。
【0006】しかしながら、残りの代替エリアが無くな
れば、ライト中などにデフェクトが発生した場合にエラ
ーとなり、磁気ディスク装置の信頼性が低下するもの
の、完全に無くならない限りは磁気ディスク装置は正常
に動作する。デフェクトはいつ発生するか分からず、発
生しない可能性もあり得ることから、残りの代替エリア
の数が少ないことが故障につながるとは限らない。
れば、ライト中などにデフェクトが発生した場合にエラ
ーとなり、磁気ディスク装置の信頼性が低下するもの
の、完全に無くならない限りは磁気ディスク装置は正常
に動作する。デフェクトはいつ発生するか分からず、発
生しない可能性もあり得ることから、残りの代替エリア
の数が少ないことが故障につながるとは限らない。
【0007】したがって、デフェクトが発生すると、そ
れに伴って減少する代替エリア数をモニターし、残り代
替エリア数がある一定以下になった場合に故障が近いと
して警告を出す上記従来技術は、故障予測というより磁
気ディスク装置の信頼性を保つための手段とする意味あ
いが強い。
れに伴って減少する代替エリア数をモニターし、残り代
替エリア数がある一定以下になった場合に故障が近いと
して警告を出す上記従来技術は、故障予測というより磁
気ディスク装置の信頼性を保つための手段とする意味あ
いが強い。
【0008】また従来技術においては、残り代替エリア
数がある一定数以下になるまでの過程は考慮には入れて
いない。即ち、単発的に起こるデフェクトの発生が積み
重なった結果であるか、何らかの原因により短時間で一
気にデフェクトが多発した結果であるかなどは考慮され
ない。
数がある一定数以下になるまでの過程は考慮には入れて
いない。即ち、単発的に起こるデフェクトの発生が積み
重なった結果であるか、何らかの原因により短時間で一
気にデフェクトが多発した結果であるかなどは考慮され
ない。
【0009】前者のような場合はそれなりに劣化が進み
故障に近づいていると考えられるので、従来の方法で警
告を出すことも有効であると考えられるが、後者のよう
な例では従来の方法では警告が出される前に磁気ディス
ク装置が故障する可能性が高い。
故障に近づいていると考えられるので、従来の方法で警
告を出すことも有効であると考えられるが、後者のよう
な例では従来の方法では警告が出される前に磁気ディス
ク装置が故障する可能性が高い。
【0010】後者のような場合の例として、ゴミによる
ヘッドとメディアの接触などが挙げられる。実際、ゴミ
の発生原因の1つとして、スピンドルモータ等の機構部
分(メカ部分)からのゴミの発生が挙げられる。そのゴ
ミがメディア上に落ち、ヘッドとメディアの衝突を引き
起こすことがある。ヘッドとメディアが接触すると双方
に傷が付きデフェクトが多発する。このような場合、直
ちに磁気ディスク装置の使用を停止すれば最小限の傷で
済む可能性があるが、残り代替エリア数が一定数以下に
ならないとして、その状態で使用し続けると、メディア
の全面に傷がついてしまう可能性が高い。
ヘッドとメディアの接触などが挙げられる。実際、ゴミ
の発生原因の1つとして、スピンドルモータ等の機構部
分(メカ部分)からのゴミの発生が挙げられる。そのゴ
ミがメディア上に落ち、ヘッドとメディアの衝突を引き
起こすことがある。ヘッドとメディアが接触すると双方
に傷が付きデフェクトが多発する。このような場合、直
ちに磁気ディスク装置の使用を停止すれば最小限の傷で
済む可能性があるが、残り代替エリア数が一定数以下に
ならないとして、その状態で使用し続けると、メディア
の全面に傷がついてしまう可能性が高い。
【0011】本発明は上記事情を考慮してなされたもの
でその目的は、デフェクトの発生率をもとに短時間でデ
フエクトが多発する状態を検出して故障予測を行うこと
により、故障予測の精度が向上できるディスク装置及び
同装置におけるデフェクトに基づく故障予測方法を提供
することにある。
でその目的は、デフェクトの発生率をもとに短時間でデ
フエクトが多発する状態を検出して故障予測を行うこと
により、故障予測の精度が向上できるディスク装置及び
同装置におけるデフェクトに基づく故障予測方法を提供
することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、モータにより
高速回転するディスクへのアクセスがヘッドを用いて行
われるディスク装置において、時間計測を行うためのタ
イマ手段と、上記ディスク装置を最初に使用した時点か
らの通電時間または上記モータの起動時間を上記タイマ
手段を用いて計測する時間計測手段と、上記ディスク装
置を最初に使用した時点からデフェクト発生時までの通
電時間またはモータ起動時間をデフェクト発生時刻とし
て、過去n回(nは2以上の整数)までのデフェクト発
生分だけ保存しておくための不揮発性のデフェクト発生
時刻記憶手段と、デフェクト発生時には、その時点まで
の通電時間またはモータ起動時間を上記時間計測手段に
より計測させて、その計測値を最も最近のデフェクト発
生時刻として上記デフェクト発生時刻記憶手段に保存す
るデフェクト発生時刻保存制御手段と、上記デフェクト
発生時刻記憶手段に保存されている過去n回までのデフ
ェクト発生時刻をもとに最新のデフェクト発生率を算出
し、そのデフェクト発生率をもとに上記ディスク装置の
故障予測を行う診断手段とを備えたことを特徴とする。
高速回転するディスクへのアクセスがヘッドを用いて行
われるディスク装置において、時間計測を行うためのタ
イマ手段と、上記ディスク装置を最初に使用した時点か
らの通電時間または上記モータの起動時間を上記タイマ
手段を用いて計測する時間計測手段と、上記ディスク装
置を最初に使用した時点からデフェクト発生時までの通
電時間またはモータ起動時間をデフェクト発生時刻とし
て、過去n回(nは2以上の整数)までのデフェクト発
生分だけ保存しておくための不揮発性のデフェクト発生
時刻記憶手段と、デフェクト発生時には、その時点まで
の通電時間またはモータ起動時間を上記時間計測手段に
より計測させて、その計測値を最も最近のデフェクト発
生時刻として上記デフェクト発生時刻記憶手段に保存す
るデフェクト発生時刻保存制御手段と、上記デフェクト
発生時刻記憶手段に保存されている過去n回までのデフ
ェクト発生時刻をもとに最新のデフェクト発生率を算出
し、そのデフェクト発生率をもとに上記ディスク装置の
故障予測を行う診断手段とを備えたことを特徴とする。
【0013】このような構成においては、デフェクト
(後発デフェクト)発生毎に、ディスク装置を最初に使
用した時点から当該デフェクト発生時までの通電時間ま
たはモータ起動時間が最も最近のデフェクト発生時刻と
して求められ、デフェクト発生時刻記憶手段に保存され
る。このデフェクト発生時刻記憶手段は、最新の過去n
回(nは2以上の整数)までのデフェクト発生分のデフ
ェクト発生時刻を保存するように、例えばリングバッフ
ァとして管理される。ここで、デフェクト発生時を、デ
ィスクアクセスが正常に行われなかった結果、代替エリ
アへの代替処理が行われた時とすると、デフェクト発生
の検出に特別な手段を必要としないで済む。
(後発デフェクト)発生毎に、ディスク装置を最初に使
用した時点から当該デフェクト発生時までの通電時間ま
たはモータ起動時間が最も最近のデフェクト発生時刻と
して求められ、デフェクト発生時刻記憶手段に保存され
る。このデフェクト発生時刻記憶手段は、最新の過去n
回(nは2以上の整数)までのデフェクト発生分のデフ
ェクト発生時刻を保存するように、例えばリングバッフ
ァとして管理される。ここで、デフェクト発生時を、デ
ィスクアクセスが正常に行われなかった結果、代替エリ
アへの代替処理が行われた時とすると、デフェクト発生
の検出に特別な手段を必要としないで済む。
【0014】ところで、デフェクトの発生率で考える
と、短時間でデフエクトが多発する状態になると、デフ
ェクト発生率は上昇する。一方、単発的にデフェクトが
発生している間は発生率は低い。
と、短時間でデフエクトが多発する状態になると、デフ
ェクト発生率は上昇する。一方、単発的にデフェクトが
発生している間は発生率は低い。
【0015】そこで、診断手段による故障予測の診断時
には、デフェクト発生時刻記憶手段に保存されている過
去n回までのデフェクト発生時刻をもとにデフェクト発
生率を算出して、そのデフェクト発生率から短時間での
デフェクトの多発を検知することで、ディスク装置の故
障予測を高精度に行うことが可能となる。
には、デフェクト発生時刻記憶手段に保存されている過
去n回までのデフェクト発生時刻をもとにデフェクト発
生率を算出して、そのデフェクト発生率から短時間での
デフェクトの多発を検知することで、ディスク装置の故
障予測を高精度に行うことが可能となる。
【0016】特に、過去n回までのデフェクト発生時刻
を時系列順に最近のデフェクト発生時刻群とそれ以前の
デフェクト発生時刻群とにほぼ2等分して、それぞれの
デフェクト発生時刻群毎にデフェクト発生率を算出し、
そのデフェクト発生率の比率をもとに故障予測を行うな
らば、故障の前兆となるような、ある一定時間内でデフ
ェクトの発生回数が急激に増加する状態を確実に検知し
て、警告を発することが可能となる。ここで、デフェク
ト発生時刻群毎のデフェクト発生率は、そのデフェクト
発生時刻群内で最も最近のデフェクト発生時刻と最も以
前のデフェクト発生時刻との時間間隔(即ちデフェクト
の発生間隔)をもとに算出するとよい。その理由は次の
通りである、まず、デフェクトが単発に発生している間
はデフェクト発生率は低い。一方、連続で発生するとデ
フェクト発生率は上昇する。なぜなら、一定時間内に多
くのデフェクトが発生すればデフェクト発生率は高くな
る。一定時間内にデフェクトが多く発生するということ
は、個々のデフェクトの発生間隔が短いことになるから
である。
を時系列順に最近のデフェクト発生時刻群とそれ以前の
デフェクト発生時刻群とにほぼ2等分して、それぞれの
デフェクト発生時刻群毎にデフェクト発生率を算出し、
そのデフェクト発生率の比率をもとに故障予測を行うな
らば、故障の前兆となるような、ある一定時間内でデフ
ェクトの発生回数が急激に増加する状態を確実に検知し
て、警告を発することが可能となる。ここで、デフェク
ト発生時刻群毎のデフェクト発生率は、そのデフェクト
発生時刻群内で最も最近のデフェクト発生時刻と最も以
前のデフェクト発生時刻との時間間隔(即ちデフェクト
の発生間隔)をもとに算出するとよい。その理由は次の
通りである、まず、デフェクトが単発に発生している間
はデフェクト発生率は低い。一方、連続で発生するとデ
フェクト発生率は上昇する。なぜなら、一定時間内に多
くのデフェクトが発生すればデフェクト発生率は高くな
る。一定時間内にデフェクトが多く発生するということ
は、個々のデフェクトの発生間隔が短いことになるから
である。
【0017】この他、過去n回までのデフェクト発生時
刻群のうちの最も最近のデフェクト発生時刻と最も以前
のデフェクト発生時刻との時間間隔をもとにデフェクト
発生率を算出し、そのデフェクト発生率をもとに(例え
ば基準の発生率と比較することで)故障予測を行うよう
にしてもよい。
刻群のうちの最も最近のデフェクト発生時刻と最も以前
のデフェクト発生時刻との時間間隔をもとにデフェクト
発生率を算出し、そのデフェクト発生率をもとに(例え
ば基準の発生率と比較することで)故障予測を行うよう
にしてもよい。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につき
図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施形態に
係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施形態に
係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【0019】図1において、1はデータが記録される媒
体(メディア)であるディスク(磁気ディスク)、2は
ディスク1へのデータ書き込み(データ記録)及びディ
スク1からのデータ読み出し(データ再生)に用いられ
るヘッド(磁気ヘッド)である。ここでは、ディスク1
は複数枚(図では3枚)積層して設けられており、ヘッ
ド2は各ディスク1の各データ面に対応してそれぞれ設
けられている。
体(メディア)であるディスク(磁気ディスク)、2は
ディスク1へのデータ書き込み(データ記録)及びディ
スク1からのデータ読み出し(データ再生)に用いられ
るヘッド(磁気ヘッド)である。ここでは、ディスク1
は複数枚(図では3枚)積層して設けられており、ヘッ
ド2は各ディスク1の各データ面に対応してそれぞれ設
けられている。
【0020】ディスク1の両面には同心円状の多数のト
ラックが形成され、各トラックには、位置決め制御等に
用いられる(シリンダ番号を示すシリンダコード及び当
該シリンダコードの示すシリンダ内の位置誤差を波形の
振幅で示すためのバーストデータを含む)サーボデータ
が記録された複数のサーボ領域が等間隔で配置されてい
る。これらのサーボ領域は、ディスク1上では中心から
各トラックを渡って放射状に配置されている。サーボ領
域間はユーザ領域となっている。各サーボ領域間のユー
ザ領域には、複数のデータセクタが設定される。
ラックが形成され、各トラックには、位置決め制御等に
用いられる(シリンダ番号を示すシリンダコード及び当
該シリンダコードの示すシリンダ内の位置誤差を波形の
振幅で示すためのバーストデータを含む)サーボデータ
が記録された複数のサーボ領域が等間隔で配置されてい
る。これらのサーボ領域は、ディスク1上では中心から
各トラックを渡って放射状に配置されている。サーボ領
域間はユーザ領域となっている。各サーボ領域間のユー
ザ領域には、複数のデータセクタが設定される。
【0021】各ディスク1の各面の(例えば内周側の)
所定領域には、図2に示すように、それぞれシステムエ
リア101が割り当てられている。このシステムエリア
101は、データエリア102とは別の領域に設定され
ており、対応するディスク面のディフェクトの情報等の
保存に用いられる。
所定領域には、図2に示すように、それぞれシステムエ
リア101が割り当てられている。このシステムエリア
101は、データエリア102とは別の領域に設定され
ており、対応するディスク面のディフェクトの情報等の
保存に用いられる。
【0022】また、各ディスク1の各面に設けられたシ
ステムエリア101のうち、少なくとも2つのシステム
エリア101には、図2に示すように、過去n回、例え
ば過去11回のデフェクト発生時の時刻(の履歴)を記
憶しておくためのデフェクト発生時刻記憶領域103
と、次のデフェクト発生時の時刻のデフェクト発生時刻
記憶領域103内書き込み先を指定するためのポインタ
(書き込み先ポインタ)を記憶しておくための書き込み
先ポインタ記憶領域104と、図1の磁気ディスク装置
を初めて使用した時点からの(トータルの)通電時間T
を記憶しておくための通電時間記憶領域105とが確保
されている。ここで、デフェクト発生時の時刻には、本
装置を初めて使用した時点から当該デフェクト発生時ま
での通電時間が用いられる。
ステムエリア101のうち、少なくとも2つのシステム
エリア101には、図2に示すように、過去n回、例え
ば過去11回のデフェクト発生時の時刻(の履歴)を記
憶しておくためのデフェクト発生時刻記憶領域103
と、次のデフェクト発生時の時刻のデフェクト発生時刻
記憶領域103内書き込み先を指定するためのポインタ
(書き込み先ポインタ)を記憶しておくための書き込み
先ポインタ記憶領域104と、図1の磁気ディスク装置
を初めて使用した時点からの(トータルの)通電時間T
を記憶しておくための通電時間記憶領域105とが確保
されている。ここで、デフェクト発生時の時刻には、本
装置を初めて使用した時点から当該デフェクト発生時ま
での通電時間が用いられる。
【0023】なお、少なくとも2つのシステムエリア1
01に上記各領域103〜105が確保されているの
は、1つのシステムエリア101上の領域103〜10
5が異常となっても、他のシステムエリア101上の領
域103〜105のデータが使用できるようにしたため
である。上記各領域103〜105は、ディスク1(の
システムエリア101)以外の書き換え可能な不揮発性
記憶装置、例えばEEPROM13に用意されるもので
あっても構わない。
01に上記各領域103〜105が確保されているの
は、1つのシステムエリア101上の領域103〜10
5が異常となっても、他のシステムエリア101上の領
域103〜105のデータが使用できるようにしたため
である。上記各領域103〜105は、ディスク1(の
システムエリア101)以外の書き換え可能な不揮発性
記憶装置、例えばEEPROM13に用意されるもので
あっても構わない。
【0024】ディスク1はスピンドルモータ(SPM)
3により高速に回転する。ヘッド2はキャリッジ4と称
するヘッド移動機構に取り付けられて、このキャリッジ
4の移動によりディスク1の半径方向に移動する。キャ
リッジ4は、ボイスコイルモータ(VCM)5により駆
動される。
3により高速に回転する。ヘッド2はキャリッジ4と称
するヘッド移動機構に取り付けられて、このキャリッジ
4の移動によりディスク1の半径方向に移動する。キャ
リッジ4は、ボイスコイルモータ(VCM)5により駆
動される。
【0025】スピンドルモータ3及びボイスコイルモー
タ5は、モータドライバ6に接続されている。モータド
ライバ6は、スピンドルモータ3に制御電流を流して当
該モータ3を駆動する他、ボイスコイルモータ5に制御
電流を流して当該モータ5を駆動する。この制御電流の
値(制御量)は、CPU(マイクロプロセッサ)10の
計算処理で決定され、例えばディジタル値で与えられ
る。
タ5は、モータドライバ6に接続されている。モータド
ライバ6は、スピンドルモータ3に制御電流を流して当
該モータ3を駆動する他、ボイスコイルモータ5に制御
電流を流して当該モータ5を駆動する。この制御電流の
値(制御量)は、CPU(マイクロプロセッサ)10の
計算処理で決定され、例えばディジタル値で与えられ
る。
【0026】各ヘッド2は例えばフレキシブルプリント
配線板(FPC)に実装されたヘッドアンプ回路7と接
続されている。ヘッドアンプ回路7は、ヘッド2の切り
替え、ヘッド2との間のリード/ライト信号の入出力等
を司るもので、ヘッド2で読み取られたアナログ出力を
増幅するヘッドアンプ71を有する。またヘッドアンプ
回路10は、リード/ライト回路11から送られてくる
書き込みデータに従いヘッド2にライト信号(ライト電
流)を出力するライトドライバ(図示せず)も有する。
配線板(FPC)に実装されたヘッドアンプ回路7と接
続されている。ヘッドアンプ回路7は、ヘッド2の切り
替え、ヘッド2との間のリード/ライト信号の入出力等
を司るもので、ヘッド2で読み取られたアナログ出力を
増幅するヘッドアンプ71を有する。またヘッドアンプ
回路10は、リード/ライト回路11から送られてくる
書き込みデータに従いヘッド2にライト信号(ライト電
流)を出力するライトドライバ(図示せず)も有する。
【0027】リード/ライト回路(リード/ライトI
C)8は、ヘッド2によりディスク1から読み取られて
ヘッドアンプ回路7内のヘッドアンプ71で増幅された
アナログ出力(ヘッド2のリード信号)を入力し、デー
タ再生動作に必要な信号処理を行うデコード機能(リー
ドチャネル)と、ディスク1へのデータ記録に必要な信
号処理を行うエンコード機能(ライトチャネル)と、ヘ
ッド位置決め制御等のサーボ処理に必要なサーボデータ
中のバーストデータを抽出する処理を行う信号処理機能
とを有する。
C)8は、ヘッド2によりディスク1から読み取られて
ヘッドアンプ回路7内のヘッドアンプ71で増幅された
アナログ出力(ヘッド2のリード信号)を入力し、デー
タ再生動作に必要な信号処理を行うデコード機能(リー
ドチャネル)と、ディスク1へのデータ記録に必要な信
号処理を行うエンコード機能(ライトチャネル)と、ヘ
ッド位置決め制御等のサーボ処理に必要なサーボデータ
中のバーストデータを抽出する処理を行う信号処理機能
とを有する。
【0028】サーボ処理回路9は、リード/ライト回路
8で再生されたデータを受けてサーボ処理に必要な信号
処理を実行する。即ちサーボ処理回路9は、リード/ラ
イト回路8で再生されたデータからサーボ領域の期間だ
け有効となるサーボゲート等の各種タイミング信号を生
成するタイミング生成機能、サーボ領域に記録されてい
るサーボデータ中のシリンダコードを抽出・復号するデ
コード機能を有する。またサーボ処理回路9は、リード
/ライト回路8で抽出されたバーストデータ(アナログ
信号)をA/D(アナログ/ディジタル)変換してCP
U10に出力するA/D変換機能も有する。
8で再生されたデータを受けてサーボ処理に必要な信号
処理を実行する。即ちサーボ処理回路9は、リード/ラ
イト回路8で再生されたデータからサーボ領域の期間だ
け有効となるサーボゲート等の各種タイミング信号を生
成するタイミング生成機能、サーボ領域に記録されてい
るサーボデータ中のシリンダコードを抽出・復号するデ
コード機能を有する。またサーボ処理回路9は、リード
/ライト回路8で抽出されたバーストデータ(アナログ
信号)をA/D(アナログ/ディジタル)変換してCP
U10に出力するA/D変換機能も有する。
【0029】サーボ処理回路9は、例えばゲートアレイ
(GA)により構成される。CPU10は、例えばワン
チップのマイクロプロセッサである。このCPU10
は、ROM11に格納されている制御用プログラムに従
って磁気ディスク装置内の各部を制御する。即ちCPU
10は、サーボ処理回路9により抽出されたサーボデー
タ中のシリンダコード及びリード/ライト回路8により
抽出されたサーボデータ中のバーストデータに従って
(モータドライバ6を介してボイスコイルモータ5を駆
動制御することで)ヘッド2を目的位置に移動させるた
めのシーク・位置決め制御、HDC14を制御すること
によるリード/ライトデータの転送制御など周知の制御
を行う。
(GA)により構成される。CPU10は、例えばワン
チップのマイクロプロセッサである。このCPU10
は、ROM11に格納されている制御用プログラムに従
って磁気ディスク装置内の各部を制御する。即ちCPU
10は、サーボ処理回路9により抽出されたサーボデー
タ中のシリンダコード及びリード/ライト回路8により
抽出されたサーボデータ中のバーストデータに従って
(モータドライバ6を介してボイスコイルモータ5を駆
動制御することで)ヘッド2を目的位置に移動させるた
めのシーク・位置決め制御、HDC14を制御すること
によるリード/ライトデータの転送制御など周知の制御
を行う。
【0030】またCPU10は、ディスク1へのリード
/ライト時にデフェクト(欠陥セクタ)が新たに発生し
たために代替処理が行われた場合に、その時刻(デフェ
クト発生時刻)を求めてディスク1のシステムエリア1
01上のデフェクト発生時刻記憶領域103に保存する
処理と、磁気ディスク装置の通電終了時に、システムエ
リア101上の通電時間記憶領域105の内容(通電時
間T)を更新する処理と、ホスト装置からの故障予測の
診断を指示するコマンドが発行された場合に、デフェク
ト発生時刻記憶領域103に保存されているデフェクト
発生時刻をもとにデフェクト発生率を調査して、その調
査結果に応じて故障予測を行う処理とを実行する。
/ライト時にデフェクト(欠陥セクタ)が新たに発生し
たために代替処理が行われた場合に、その時刻(デフェ
クト発生時刻)を求めてディスク1のシステムエリア1
01上のデフェクト発生時刻記憶領域103に保存する
処理と、磁気ディスク装置の通電終了時に、システムエ
リア101上の通電時間記憶領域105の内容(通電時
間T)を更新する処理と、ホスト装置からの故障予測の
診断を指示するコマンドが発行された場合に、デフェク
ト発生時刻記憶領域103に保存されているデフェクト
発生時刻をもとにデフェクト発生率を調査して、その調
査結果に応じて故障予測を行う処理とを実行する。
【0031】CPU10には、磁気ディスク装置内の各
部を制御するための制御用プログラム等が格納されてい
るROM(Read Only Memory)11と、CPU10のワ
ーク領域、CPU10が使用する制御用パラメータの記
憶領域等を提供するRAM(Random Access Memory)1
2とが接続されている。
部を制御するための制御用プログラム等が格納されてい
るROM(Read Only Memory)11と、CPU10のワ
ーク領域、CPU10が使用する制御用パラメータの記
憶領域等を提供するRAM(Random Access Memory)1
2とが接続されている。
【0032】CPU10にはまた、磁気ディスク装置の
制御用のパラメータの保存などに用いられる書き換え可
能な不揮発性メモリとしてのEEPROM(Electrical
ly Erasable and Programmable Read Only Memory )1
3と、ディスクコントローラ(HDC)14とが接続さ
れている。
制御用のパラメータの保存などに用いられる書き換え可
能な不揮発性メモリとしてのEEPROM(Electrical
ly Erasable and Programmable Read Only Memory )1
3と、ディスクコントローラ(HDC)14とが接続さ
れている。
【0033】ディスクコントローラ(HDC)14は、
ホスト装置(図示せず)との間のコマンド、データの通
信を制御すると共に、リード/ライト回路8(を介して
ディスク1)との間のデータの通信を制御する。このH
DC14には、リード/ライトデータがキャッシュ方式
で格納される、例えばRAM等で構成されるバッファメ
モリ(バッファRAM)15と、ホストインタフェース
16とが接続されている。ホストインタフェース16
は、HDC14とホスト装置とのインタフェースをなし
ており、HDC14は当該ホストインタフェース16を
介してホスト装置との間のコマンド、データの通信を行
う。
ホスト装置(図示せず)との間のコマンド、データの通
信を制御すると共に、リード/ライト回路8(を介して
ディスク1)との間のデータの通信を制御する。このH
DC14には、リード/ライトデータがキャッシュ方式
で格納される、例えばRAM等で構成されるバッファメ
モリ(バッファRAM)15と、ホストインタフェース
16とが接続されている。ホストインタフェース16
は、HDC14とホスト装置とのインタフェースをなし
ており、HDC14は当該ホストインタフェース16を
介してホスト装置との間のコマンド、データの通信を行
う。
【0034】CPU10にはまた、当該CPU10が使
用する時間カウント用のタイマ17が接続されている。
このタイマ17は、例えば磁気ディスク装置の通電開始
時に起動されて時間カウントを開始する。このタイマ1
7の時間カウントは、磁気ディスク装置の通電終了時ま
で続けられる。
用する時間カウント用のタイマ17が接続されている。
このタイマ17は、例えば磁気ディスク装置の通電開始
時に起動されて時間カウントを開始する。このタイマ1
7の時間カウントは、磁気ディスク装置の通電終了時ま
で続けられる。
【0035】次に、図1の構成の動作を図3乃至図6の
フローチャートを参照して説明する。まずCPU10
は、磁気ディスク装置への通電が開始されると、タイマ
17を起動し(ステップS1)、更に装置の初期化処理
を行い(ステップS2)、しかる後にホスト装置からの
コマンドを待つアイドルルーチンに進む。タイマ17
は、CPU10により起動されると、時間カウントを開
始する。、今、アイドルルーチンにおいて、ホスト装置
から図1の磁気ディスク装置にリード/ライトコマンド
が発行されたものとする。このリード/ライトコマンド
は、ホストインタフェース16及びHDC14を介して
CPU10に渡される。
フローチャートを参照して説明する。まずCPU10
は、磁気ディスク装置への通電が開始されると、タイマ
17を起動し(ステップS1)、更に装置の初期化処理
を行い(ステップS2)、しかる後にホスト装置からの
コマンドを待つアイドルルーチンに進む。タイマ17
は、CPU10により起動されると、時間カウントを開
始する。、今、アイドルルーチンにおいて、ホスト装置
から図1の磁気ディスク装置にリード/ライトコマンド
が発行されたものとする。このリード/ライトコマンド
は、ホストインタフェース16及びHDC14を介して
CPU10に渡される。
【0036】CPU10は、ホスト装置からのリード/
ライトコマンドを受け取ると、モータドライバ6を介し
てVCM5を駆動することでヘッド2を目標位置(目標
シリンダ位置)に位置決めした状態で目的のセクタを対
象とするリード/ライト動作をリード/ライト回路8、
ヘッドアンプ回路7を介して実行させる(ステップS1
1)。
ライトコマンドを受け取ると、モータドライバ6を介し
てVCM5を駆動することでヘッド2を目標位置(目標
シリンダ位置)に位置決めした状態で目的のセクタを対
象とするリード/ライト動作をリード/ライト回路8、
ヘッドアンプ回路7を介して実行させる(ステップS1
1)。
【0037】もし、目的セクタを正常にリード/ライト
アクセスできなかった場合には、CPU10はリード/
ライトアクセスのリトライを行い、所定回数のリトライ
を実行してもアクセスに成功しなかった異常終了時には
(ステップS12)、目的セクタが新たにデフェクト
(欠陥セクタ)となったものとして、即ち後発デフェク
トが検出されたものとして代替処理を行う(ステップS
13)。この代替処理では、CPU10は、その時点に
おいて残っている代替セクタの中から代替先を選択し、
その選択した代替セクタを目的セクタに割り当てる。
アクセスできなかった場合には、CPU10はリード/
ライトアクセスのリトライを行い、所定回数のリトライ
を実行してもアクセスに成功しなかった異常終了時には
(ステップS12)、目的セクタが新たにデフェクト
(欠陥セクタ)となったものとして、即ち後発デフェク
トが検出されたものとして代替処理を行う(ステップS
13)。この代替処理では、CPU10は、その時点に
おいて残っている代替セクタの中から代替先を選択し、
その選択した代替セクタを目的セクタに割り当てる。
【0038】本実施形態では、各ディスク1の各面に設
けられたシステムエリア101のうち、少なくとも2つ
のシステムエリア101には、ディスク1に予め用意さ
れている全ての代替セクタについて、欠陥セクタの代替
先として割り当てられているか(使用済みであるか)否
かを示す代替セクタ使用状況テーブルと、欠陥セクタの
位置情報(ヘッド番号、シリンダ番号及びセクタ番号)
と、当該欠陥セクタの代替先として割り当てられている
代替セクタの位置情報(ヘッド番号、シリンダ番号及び
セクタ番号)とを示す代替先割り当て状況テーブル(い
ずれも図示せず)が記憶されている。
けられたシステムエリア101のうち、少なくとも2つ
のシステムエリア101には、ディスク1に予め用意さ
れている全ての代替セクタについて、欠陥セクタの代替
先として割り当てられているか(使用済みであるか)否
かを示す代替セクタ使用状況テーブルと、欠陥セクタの
位置情報(ヘッド番号、シリンダ番号及びセクタ番号)
と、当該欠陥セクタの代替先として割り当てられている
代替セクタの位置情報(ヘッド番号、シリンダ番号及び
セクタ番号)とを示す代替先割り当て状況テーブル(い
ずれも図示せず)が記憶されている。
【0039】したがって、代替セクタ使用状況テーブル
を参照することで代替先を決定することができる。ま
た、リード/ライトアクセス時には、代替先割り当て状
況テーブルを参照することで、対象となるセクタが欠陥
セクタであるために代替セクタ(が存在するトラックに
シークして当該代替セクタ)をアクセスする必要がある
か否かを判断することができる。
を参照することで代替先を決定することができる。ま
た、リード/ライトアクセス時には、代替先割り当て状
況テーブルを参照することで、対象となるセクタが欠陥
セクタであるために代替セクタ(が存在するトラックに
シークして当該代替セクタ)をアクセスする必要がある
か否かを判断することができる。
【0040】なお、これらのテーブルの情報は、CPU
10が高速にアクセスできるように、先の初期化処理
(ステップS2)でRAM12上に読み込まれて使用さ
れる。CPU10は、ステップS13の代替処理を行っ
た場合、ディスク1のシステムエリア101上の通電時
間記憶領域105に記憶されている通電時間T(磁気デ
ィスク装置が初めて使用されてから今回新たに通電され
る前までのトータルの通電時間T)と、今回通電が開始
されてから現時点(代替処理時点)までの通電時間を示
すタイマ17の現在の時間カウント値(タイマ値)tと
の加算を行って、その加算値T+t、即ち磁気ディスク
装置が初めて使用されてから現時点までのトータルの通
電時間を、デフェクト発生時刻として求める(ステップ
S14)。
10が高速にアクセスできるように、先の初期化処理
(ステップS2)でRAM12上に読み込まれて使用さ
れる。CPU10は、ステップS13の代替処理を行っ
た場合、ディスク1のシステムエリア101上の通電時
間記憶領域105に記憶されている通電時間T(磁気デ
ィスク装置が初めて使用されてから今回新たに通電され
る前までのトータルの通電時間T)と、今回通電が開始
されてから現時点(代替処理時点)までの通電時間を示
すタイマ17の現在の時間カウント値(タイマ値)tと
の加算を行って、その加算値T+t、即ち磁気ディスク
装置が初めて使用されてから現時点までのトータルの通
電時間を、デフェクト発生時刻として求める(ステップ
S14)。
【0041】次にCPU10は、求めたデフェクト発生
時刻を、システムエリア101上のポインタ記憶領域1
04に設定されている書き込み先ポインタの指し示すデ
フェクト発生時刻記憶領域103内の書き込み先に書き
込む(ステップS15)。このときCPU10は、ポイ
ンタ記憶領域104内の書き込み先ポインタを、デフェ
クト発生時刻記憶領域103内の次の書き込み先を示す
ように更新する。このデフェクト発生時刻記憶領域10
3は、11回分のデフェクト発生時刻の記憶領域を有し
ており、リングバッファとして使用される。したがっ
て、デフェクト発生時刻記憶領域103が満杯の場合、
即ちデフェクト発生時刻記憶領域103に11回分のデ
フェクト発生時刻が既に記憶されている場合には、上記
ステップS15では、その時点で最も以前に記憶された
デフェクト発生時刻が、今回ステップS14で求められ
た最新のデフェクト発生時刻に書き換えられる。これに
より、デフェクト発生時刻記憶領域103には、現時点
を基準とする過去11回までのデフェクト発生時の時刻
(即ち、最近の11回のデフェクト発生分のデフェクト
発生時刻)が保存されることになる。
時刻を、システムエリア101上のポインタ記憶領域1
04に設定されている書き込み先ポインタの指し示すデ
フェクト発生時刻記憶領域103内の書き込み先に書き
込む(ステップS15)。このときCPU10は、ポイ
ンタ記憶領域104内の書き込み先ポインタを、デフェ
クト発生時刻記憶領域103内の次の書き込み先を示す
ように更新する。このデフェクト発生時刻記憶領域10
3は、11回分のデフェクト発生時刻の記憶領域を有し
ており、リングバッファとして使用される。したがっ
て、デフェクト発生時刻記憶領域103が満杯の場合、
即ちデフェクト発生時刻記憶領域103に11回分のデ
フェクト発生時刻が既に記憶されている場合には、上記
ステップS15では、その時点で最も以前に記憶された
デフェクト発生時刻が、今回ステップS14で求められ
た最新のデフェクト発生時刻に書き換えられる。これに
より、デフェクト発生時刻記憶領域103には、現時点
を基準とする過去11回までのデフェクト発生時の時刻
(即ち、最近の11回のデフェクト発生分のデフェクト
発生時刻)が保存されることになる。
【0042】次に、システムエリア101のデフェクト
発生時刻記憶領域103に過去11回までのデフェクト
発生時の時刻が保存されている状態で、ホスト装置から
故障予測の診断を行うコマンド(診断コマンド)が発行
されたものとする。
発生時刻記憶領域103に過去11回までのデフェクト
発生時の時刻が保存されている状態で、ホスト装置から
故障予測の診断を行うコマンド(診断コマンド)が発行
されたものとする。
【0043】CPU10は、ホスト装置からの診断コマ
ンドを受信すると、図5のフローチャートに従う診断処
理(診断コマンド受信時処理)を次のように実行する。
まずCPU10は、ディスク1のシステムエリア101
のデフェクト発生時刻記憶領域103の保存内容をRA
M12に読み出し、そのうちの過去6回目のデフェクト
発生時刻から過去1回目のデフェクト発生時刻(最も最
近のデフェクト発生時刻)をもとに、過去6回目から過
去1回目までのデフェクト発生間隔(時間間隔)I1を
算出する(ステップS21)。ここで過去1回目のデフ
ェクト発生時刻は、ポインタ記憶領域104内の書き込
み先ポインタの示す書き込み先の直前の領域に設定され
ている。
ンドを受信すると、図5のフローチャートに従う診断処
理(診断コマンド受信時処理)を次のように実行する。
まずCPU10は、ディスク1のシステムエリア101
のデフェクト発生時刻記憶領域103の保存内容をRA
M12に読み出し、そのうちの過去6回目のデフェクト
発生時刻から過去1回目のデフェクト発生時刻(最も最
近のデフェクト発生時刻)をもとに、過去6回目から過
去1回目までのデフェクト発生間隔(時間間隔)I1を
算出する(ステップS21)。ここで過去1回目のデフ
ェクト発生時刻は、ポインタ記憶領域104内の書き込
み先ポインタの示す書き込み先の直前の領域に設定され
ている。
【0044】同様にCPU10は、過去11回目のデフ
ェクト発生時刻から過去6回目のデフェクト発生時刻を
もとに、過去11回目から過去6回目までのデフェクト
発生間隔(時間間隔)I2を算出する(ステップS2
2)。
ェクト発生時刻から過去6回目のデフェクト発生時刻を
もとに、過去11回目から過去6回目までのデフェクト
発生間隔(時間間隔)I2を算出する(ステップS2
2)。
【0045】このように本実施形態では、デフェクトの
発生率を調べるのに、デフェクトの発生間隔(時間間
隔)を調べるようにしている。なぜなら、デフェクトの
発生率を考えると、デフェクトが単発に発生している間
は発生率は低い。連続で発生すると発生率は上昇する。
発生率は一定時間内に多くのデフェクトが発生すれば高
くなる。一定定時間内に多く発生するということは、1
つ1つの発生間隔が短いことになるからである。
発生率を調べるのに、デフェクトの発生間隔(時間間
隔)を調べるようにしている。なぜなら、デフェクトの
発生率を考えると、デフェクトが単発に発生している間
は発生率は低い。連続で発生すると発生率は上昇する。
発生率は一定時間内に多くのデフェクトが発生すれば高
くなる。一定定時間内に多く発生するということは、1
つ1つの発生間隔が短いことになるからである。
【0046】CPU10は、過去6回目から過去1回目
までのデフェクト発生間隔I1と、過去11回目から過
去6回目までのデフェクト発生間隔(時間間隔)I2と
を算出すると、I1がI2の所定割合以下、例えば1/
2以下であるか否かを調べ(ステップS23)、1/2
以下であるならば、デフェクトの発生率が急上昇し、近
いうちに故障する可能性があるものとして、ホスト装置
に警告メッセージを通知する(ステップS24)。
までのデフェクト発生間隔I1と、過去11回目から過
去6回目までのデフェクト発生間隔(時間間隔)I2と
を算出すると、I1がI2の所定割合以下、例えば1/
2以下であるか否かを調べ(ステップS23)、1/2
以下であるならば、デフェクトの発生率が急上昇し、近
いうちに故障する可能性があるものとして、ホスト装置
に警告メッセージを通知する(ステップS24)。
【0047】ここで、ステップS23での判定の基準と
なる値(1/2)は、ROM11に格納されている制御
プログラム上で固定的に設定されていても、ホスト装置
から書き換え可能なようにEEPROM13等の書き換
え可能不揮発性メモリに設定されていても構わない。ま
た、判定に用いる過去のデフェクト発生時刻の数(ここ
では11)も必ずしも固定である必要はなく、ホスト装
置から変更可能なようにEEPROM13等に設定され
る構成としても構わない。
なる値(1/2)は、ROM11に格納されている制御
プログラム上で固定的に設定されていても、ホスト装置
から書き換え可能なようにEEPROM13等の書き換
え可能不揮発性メモリに設定されていても構わない。ま
た、判定に用いる過去のデフェクト発生時刻の数(ここ
では11)も必ずしも固定である必要はなく、ホスト装
置から変更可能なようにEEPROM13等に設定され
る構成としても構わない。
【0048】また、図5のフローチャートでは、デフェ
クト発生時刻をモニター値とした故障予測についてのみ
示されているが、ホスト装置からの診断コマンド受信時
には、他の起動/停止(Start/Stop)回数などのモニタ
ー値に基づく故障予測も行われ、いずれか1つでも異常
と判定された場合には、警告が出される。
クト発生時刻をモニター値とした故障予測についてのみ
示されているが、ホスト装置からの診断コマンド受信時
には、他の起動/停止(Start/Stop)回数などのモニタ
ー値に基づく故障予測も行われ、いずれか1つでも異常
と判定された場合には、警告が出される。
【0049】以上に述べたように本実施形態において
は、現時点を基準として過去n回(ここでは11回)ま
でのデフェクト発生時刻をディスク1のシステムエリア
101に確保されたデフェクト発生時刻記憶領域103
に保存し、そのデフェクト発生時刻をもとに最近の5回
分の発生間隔で示されるデフェクト発生率(I1)と、
それ以前の5回分の発生間隔で示されるデフェクト発生
率(I2)とから、デフェクト発生率が上昇しているか
否かを判断することにより、デフェクトを用いた故障予
測が高精度に行えるようになる。
は、現時点を基準として過去n回(ここでは11回)ま
でのデフェクト発生時刻をディスク1のシステムエリア
101に確保されたデフェクト発生時刻記憶領域103
に保存し、そのデフェクト発生時刻をもとに最近の5回
分の発生間隔で示されるデフェクト発生率(I1)と、
それ以前の5回分の発生間隔で示されるデフェクト発生
率(I2)とから、デフェクト発生率が上昇しているか
否かを判断することにより、デフェクトを用いた故障予
測が高精度に行えるようになる。
【0050】なお、デフェクト発生時刻記憶領域103
が満杯となるまでの期間、即ち初めて過去11回までの
デフェクトが記憶されるまでの期間に、ホスト装置から
診断コマンドが発行された場合には、上記の故障診断は
できないが、この時点ではトータルのデフェクト(後発
デフェクト)発生数自体が少ないことから(残り代替エ
リア数も多いことから)、故障の恐れなしと診断するよ
うにしても構わない。
が満杯となるまでの期間、即ち初めて過去11回までの
デフェクトが記憶されるまでの期間に、ホスト装置から
診断コマンドが発行された場合には、上記の故障診断は
できないが、この時点ではトータルのデフェクト(後発
デフェクト)発生数自体が少ないことから(残り代替エ
リア数も多いことから)、故障の恐れなしと診断するよ
うにしても構わない。
【0051】以上の実施形態では、上記のデフェクト発
生率(I1,I2)の算出に過去11回までのデフェク
ト発生時刻を用いているが、これに限るものではなく、
短時間でデフェクトが多発する状態が検出できる程度の
数n(nは2以上の整数)であればよい。ただし、nが
偶数(2mとする)の場合には、過去1回目から過去2
m回目までを2等分できないことから、例えば過去1回
目から過去m回目までのデフェクト発生間隔(時間間
隔)I1(m−1回分)と、過去m回目から過去2m回
目までのデフェクト発生間隔(時間間隔)I2(m回
分)とを求め、m−1,mをその発生間隔I1,I2で
割ることにより、それぞれ単位時間当たりのデフェクト
発生率を求め、その発生率を比較すればよい。
生率(I1,I2)の算出に過去11回までのデフェク
ト発生時刻を用いているが、これに限るものではなく、
短時間でデフェクトが多発する状態が検出できる程度の
数n(nは2以上の整数)であればよい。ただし、nが
偶数(2mとする)の場合には、過去1回目から過去2
m回目までを2等分できないことから、例えば過去1回
目から過去m回目までのデフェクト発生間隔(時間間
隔)I1(m−1回分)と、過去m回目から過去2m回
目までのデフェクト発生間隔(時間間隔)I2(m回
分)とを求め、m−1,mをその発生間隔I1,I2で
割ることにより、それぞれ単位時間当たりのデフェクト
発生率を求め、その発生率を比較すればよい。
【0052】また、過去n回までのデフェクト発生時刻
のうちの最も以前の発生時刻から最も最近のデフェクト
発生時刻までのデフェクト発生間隔を求めて、それをデ
フェクト発生率とするとか、上記nをそのデフェク発生
間隔で割ることにより単位時間当たりのデフェクト発生
率を求め、そのデフェクト発生率が基準値以上である場
合に、警告を出すようにしても構わない。更に、両者を
組み合わせて故障診断に用いても構わない。
のうちの最も以前の発生時刻から最も最近のデフェクト
発生時刻までのデフェクト発生間隔を求めて、それをデ
フェクト発生率とするとか、上記nをそのデフェク発生
間隔で割ることにより単位時間当たりのデフェクト発生
率を求め、そのデフェクト発生率が基準値以上である場
合に、警告を出すようにしても構わない。更に、両者を
組み合わせて故障診断に用いても構わない。
【0053】また、以上の実施形態では、デフェクトに
基づく故障予測に残り代替エリア数を用いていないが、
本実施形態で求められるデフェクト発生率と組み合わせ
て故障診断に用い、残り代替エリア数が少なく、且つデ
フェクト発生率が高い状態で警告を出せばより高精度の
故障予測が可能となる。
基づく故障予測に残り代替エリア数を用いていないが、
本実施形態で求められるデフェクト発生率と組み合わせ
て故障診断に用い、残り代替エリア数が少なく、且つデ
フェクト発生率が高い状態で警告を出せばより高精度の
故障予測が可能となる。
【0054】次に、磁気ディスク装置の通電停止時の動
作を説明する。CPU10は、磁気ディスク装置への通
電が停止されると、タイマ17を停止させる(ステップ
S31)。続いてCPU10は、ディスク1のシステム
エリア101上の通電時間記憶領域105に記憶されて
いる通電時間T(磁気ディスク装置が初めて使用されて
から今回新たに通電される前までのトータルの通電時間
T)と、今回通電が開始されてから現時点(通電停止時
点)までの通電時間を示すタイマ17の現在の時間カウ
ント値(タイマ値)tとの加算を行って、その加算値T
+t、即ち磁気ディスク装置が初めて使用されてから現
時点(通電停止時点)までのトータルの通電時間を求め
る(ステップS32)。そしてCPU10は、通電時間
記憶領域105に記憶されている通電時間Tを、ステッ
プS32で求めた通電時間T+tに更新する(ステップ
S33)。
作を説明する。CPU10は、磁気ディスク装置への通
電が停止されると、タイマ17を停止させる(ステップ
S31)。続いてCPU10は、ディスク1のシステム
エリア101上の通電時間記憶領域105に記憶されて
いる通電時間T(磁気ディスク装置が初めて使用されて
から今回新たに通電される前までのトータルの通電時間
T)と、今回通電が開始されてから現時点(通電停止時
点)までの通電時間を示すタイマ17の現在の時間カウ
ント値(タイマ値)tとの加算を行って、その加算値T
+t、即ち磁気ディスク装置が初めて使用されてから現
時点(通電停止時点)までのトータルの通電時間を求め
る(ステップS32)。そしてCPU10は、通電時間
記憶領域105に記憶されている通電時間Tを、ステッ
プS32で求めた通電時間T+tに更新する(ステップ
S33)。
【0055】なお、以上に述べた実施形態では、磁気デ
ィスク装置を初めて使用した時点から、デフェクト(後
発デフェクト)の発生時点(代替処理時点)までのトー
タルの通電時間を、デフェクト発生時刻としているが、
通電時間に代えてスピンドルモータ3の起動時間を用い
るようにしてもよい。
ィスク装置を初めて使用した時点から、デフェクト(後
発デフェクト)の発生時点(代替処理時点)までのトー
タルの通電時間を、デフェクト発生時刻としているが、
通電時間に代えてスピンドルモータ3の起動時間を用い
るようにしてもよい。
【0056】一般に、デフェクト(後発デフェクト)の
発生の最大の要因は、ディスク1が回転している状態で
のゴミによるヘッド2とディスク1との接触である。一
方、近年の磁気ディスク装置では、通電されている場合
でも、一定時間ホスト装置からのコマンドがない場合に
は、パワーセーブモードとなって、スピンドルモータ
(3)が停止されるものが多い。したがって、このよう
な磁気ディスク装置では、通電時間よりもスピンドルモ
ータ(3)の起動時間を測定して、デフェクト発生時刻
の算出に用いるようにした方が、デフェクトを用いた故
障予測を一層高精度に行うことができる。
発生の最大の要因は、ディスク1が回転している状態で
のゴミによるヘッド2とディスク1との接触である。一
方、近年の磁気ディスク装置では、通電されている場合
でも、一定時間ホスト装置からのコマンドがない場合に
は、パワーセーブモードとなって、スピンドルモータ
(3)が停止されるものが多い。したがって、このよう
な磁気ディスク装置では、通電時間よりもスピンドルモ
ータ(3)の起動時間を測定して、デフェクト発生時刻
の算出に用いるようにした方が、デフェクトを用いた故
障予測を一層高精度に行うことができる。
【0057】スピンドルモータ(3)の起動時間(或い
は当該起動時間に基づくデフェクト発生時刻)を測定す
るには、前記実施形態のようにタイマ17を通電開始時
に起動させて通電終了時に停止させる場合であれば、ス
ピンドルモータ3の起動時にタイマ17のタイマ値を読
み取って記憶しておき、その値とスピンドルモータ3の
停止時(或いはデフェクト発生時の)のタイマ17のタ
イマ値とから、1回分のスピンドルモータ3の起動時間
(1回分のスピンドルモータ3の起動時からデフェクト
発生時までの起動時間)を求めればよい。また、タイマ
17をスピンドルモータ3の起動時に起動させて当該モ
ータ3の停止時に停止させるならば、当該スピンドルモ
ータ3の停止時(或いはデフェクト発生時)のタイマ1
7のタイマ値を読み取って、1回分のスピンドルモータ
3の起動時間(1回分のスピンドルモータ3の起動時か
らデフェクト発生時までの起動時間)とすればよい。そ
して、求めた起動時間を、それまでのトータルの起動時
間(磁気ディスク装置を初めて使用した際のスピンドル
モータ3の起動時からのスピンドルモータ3の停止時ま
でのトータルの起動時間)に加算すればよい。
は当該起動時間に基づくデフェクト発生時刻)を測定す
るには、前記実施形態のようにタイマ17を通電開始時
に起動させて通電終了時に停止させる場合であれば、ス
ピンドルモータ3の起動時にタイマ17のタイマ値を読
み取って記憶しておき、その値とスピンドルモータ3の
停止時(或いはデフェクト発生時の)のタイマ17のタ
イマ値とから、1回分のスピンドルモータ3の起動時間
(1回分のスピンドルモータ3の起動時からデフェクト
発生時までの起動時間)を求めればよい。また、タイマ
17をスピンドルモータ3の起動時に起動させて当該モ
ータ3の停止時に停止させるならば、当該スピンドルモ
ータ3の停止時(或いはデフェクト発生時)のタイマ1
7のタイマ値を読み取って、1回分のスピンドルモータ
3の起動時間(1回分のスピンドルモータ3の起動時か
らデフェクト発生時までの起動時間)とすればよい。そ
して、求めた起動時間を、それまでのトータルの起動時
間(磁気ディスク装置を初めて使用した際のスピンドル
モータ3の起動時からのスピンドルモータ3の停止時ま
でのトータルの起動時間)に加算すればよい。
【0058】以上は本発明を磁気ディスク装置に実施し
た場合について説明したが、本発明は、ヘッドを用いて
ディスク(メディア)のアクセスが行われるディスク装
置であれば、光磁気ディスク装置、フロッピーディスク
装置、CD−ROM装置など、磁気ディスク装置以外の
ディスク装置にも適用可能である。
た場合について説明したが、本発明は、ヘッドを用いて
ディスク(メディア)のアクセスが行われるディスク装
置であれば、光磁気ディスク装置、フロッピーディスク
装置、CD−ROM装置など、磁気ディスク装置以外の
ディスク装置にも適用可能である。
【0059】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、デ
フェクトの発生率をもとに短時間でデフエクトが多発す
る状態を検出して故障予測を行うようにしたので、故障
予測の精度が向上できる。
フェクトの発生率をもとに短時間でデフエクトが多発す
る状態を検出して故障予測を行うようにしたので、故障
予測の精度が向上できる。
【図1】本発明の一実施形態に係る磁気ディスク装置の
構成を示すブロック図。
構成を示すブロック図。
【図2】図1中のディスク1に対するシステムエリア1
01の配置と、そのシステムエリア101上に割り当て
られる同実施形態に特有の領域を示す図。
01の配置と、そのシステムエリア101上に割り当て
られる同実施形態に特有の領域を示す図。
【図3】同実施形態における通電開始時の処理を説明す
るためのフローチャート。
るためのフローチャート。
【図4】同実施形態におけるリード/ライトコマンド実
行処理を説明するためのフローチャート。
行処理を説明するためのフローチャート。
【図5】同実施形態における診断コマンド受信時処理を
説明するためのフローチャート。
説明するためのフローチャート。
【図6】同実施形態における通電終了時の処理を説明す
るためのフローチャート。
るためのフローチャート。
1…ディスク、 2…ヘッド、 3…スピンドルモータ(SPM)、 10…CPU(時間計測手段、デフェクト発生時刻保存
制御手段、診断手段)、 11…ROM、 17…タイマ、 101…システムエリア、 103…デフェクト発生時刻記憶領域(デフェクト発生
時刻記憶手段)、 104…書き込み先ポインタ記憶領域、 105…通電時間記憶領域(時間記憶手段)。
制御手段、診断手段)、 11…ROM、 17…タイマ、 101…システムエリア、 103…デフェクト発生時刻記憶領域(デフェクト発生
時刻記憶手段)、 104…書き込み先ポインタ記憶領域、 105…通電時間記憶領域(時間記憶手段)。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI G11B 20/18 572 G11B 20/18 572B 572F
Claims (6)
- 【請求項1】 モータにより高速回転するディスクへの
アクセスがヘッドを用いて行われるディスク装置におい
て、 時間計測を行うためのタイマ手段と、 前記ディスク装置を最初に使用した時点からの通電時間
または前記モータの起動時間を前記タイマ手段を用いて
計測する時間計測手段と、 前記ディスク装置を最初に使用した時点からデフェクト
発生時までの通電時間またはモータ起動時間をデフェク
ト発生時刻として、過去n回(nは2以上の整数)まで
のデフェクト発生分だけ保存しておくための不揮発性の
デフェクト発生時刻記憶手段と、 デフェクト発生時には、その時点までの前記通電時間ま
たはモータ起動時間を前記時間計測手段により計測させ
て、その計測値を最も最近のデフェクト発生時刻として
前記デフェクト発生時刻記憶手段に保存するデフェクト
発生時刻保存制御手段と、 前記デフェクト発生時刻記憶手段に保存されている過去
n回までのデフェクト発生時刻をもとに最新のデフェク
ト発生率を算出し、そのデフェクト発生率をもとに前記
ディスク装置の故障予測を行う診断手段とを具備するこ
とを特徴とするディスク装置。 - 【請求項2】 前記ディスク装置を最初に使用した時点
から前回の通電終了時までの通電時間またはモータ停止
時までのモータ起動時間を保存しておくための不揮発性
の時間記憶手段を更に具備し、 前記時間計測手段は、前記通電開始時または前記モータ
起動時からの時間を前記タイマ手段を用いて計測し、そ
の計測値と前記時間記憶手段に保存されている通電時間
またはモータ起動時間とを加算することで、前記ディス
ク装置を最初に使用した時点からその計測時点までの通
電時間またはモータ起動時間を算出することを特徴とす
る請求項1記載のディスク装置。 - 【請求項3】 前記診断手段は、ホスト装置から故障予
測の診断を指示する診断コマンドが与えられた場合に、
前記デフェクト発生率に基づく故障予測を行って、その
予測結果に応じて前記ホスト装置に警告を通知すること
を特徴とする請求項1記載のディスク装置。 - 【請求項4】 前記診断手段は、前記デフェクト発生時
刻記憶手段に保存されている過去n回までのデフェクト
発生時刻を時系列順に最近のデフェクト発生時刻群とそ
れ以前のデフェクト発生時刻群とにほぼ2等分して、そ
れぞれのデフェクト発生時刻群毎にデフェクト発生率を
算出し、そのデフェクト発生率の比率をもとに前記ディ
スク装置の故障予測を行うことを特徴とする請求項1記
載のディスク装置。 - 【請求項5】 前記診断手段は、前記デフェクト発生時
刻記憶手段に保存されている過去n回までのデフェクト
発生時刻のうちの最も最近のデフェクト発生時刻と最も
以前のデフェクト発生時刻との時間間隔をもとにデフェ
クト発生率を算出し、そのデフェクト発生率をもとに前
記ディスク装置の故障予測を行うことを特徴とする請求
項1記載のディスク装置。 - 【請求項6】 モータにより高速回転するディスクへの
アクセスがヘッドを用いて行われるディスク装置におけ
るデフェクトに基づく故障予測方法であって、 前記ディスク装置を最初に使用した時点からの通電時間
または前記モータの起動時間を計測し、 デフェクト発生毎に、前記ディスク装置を最初に使用し
た時点から当該デフェクト発生時までの通電時間または
モータ起動時間を取得して、その取得した前記通電時間
または前記モータ起動時間を最も最近のデフェクト発生
時刻として、順次不揮発性のデフェクト発生時刻記憶手
段に保存することにより、当該記憶手段に、最新の過去
n回までのデフェクト発生時刻を保存するようにし、 故障予測の診断時には、前記デフェクト発生時刻記憶手
段に保存されている過去n回までのデフェクト発生時刻
をもとに最新のデフェクト発生率を算出し、そのデフェ
クト発生率をもとに前記ディスク装置の故障予測を行う
ようにしたことを特徴とするデフェクトに基づく故障予
測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8345190A JPH10188451A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | ディスク装置及び同装置におけるデフェクトに基づく故障予測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8345190A JPH10188451A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | ディスク装置及び同装置におけるデフェクトに基づく故障予測方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10188451A true JPH10188451A (ja) | 1998-07-21 |
Family
ID=18374910
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8345190A Pending JPH10188451A (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | ディスク装置及び同装置におけるデフェクトに基づく故障予測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10188451A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8116182B2 (en) | 2009-03-24 | 2012-02-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information processing apparatus and fault symptom determination method |
CN103390429A (zh) * | 2013-07-29 | 2013-11-13 | 华为技术有限公司 | 一种硬盘的在线检测方法及服务器 |
CN111508532A (zh) * | 2019-01-31 | 2020-08-07 | 马维尔亚洲私人有限公司 | 用于磁存储介质的健康管理 |
-
1996
- 1996-12-25 JP JP8345190A patent/JPH10188451A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8116182B2 (en) | 2009-03-24 | 2012-02-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information processing apparatus and fault symptom determination method |
CN103390429A (zh) * | 2013-07-29 | 2013-11-13 | 华为技术有限公司 | 一种硬盘的在线检测方法及服务器 |
CN103390429B (zh) * | 2013-07-29 | 2016-07-27 | 华为技术有限公司 | 一种硬盘的在线检测方法及服务器 |
CN111508532A (zh) * | 2019-01-31 | 2020-08-07 | 马维尔亚洲私人有限公司 | 用于磁存储介质的健康管理 |
CN111508532B (zh) * | 2019-01-31 | 2023-11-03 | 马维尔亚洲私人有限公司 | 用于磁存储介质的健康管理 |
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