JP3246403B2 - 情報記録再生装置の検査方法及び情報記録再生装置の検査装置 - Google Patents
情報記録再生装置の検査方法及び情報記録再生装置の検査装置Info
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- JP3246403B2 JP3246403B2 JP20287797A JP20287797A JP3246403B2 JP 3246403 B2 JP3246403 B2 JP 3246403B2 JP 20287797 A JP20287797 A JP 20287797A JP 20287797 A JP20287797 A JP 20287797A JP 3246403 B2 JP3246403 B2 JP 3246403B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報記録再生装置
の検査方法及び情報記録再生装置の検査装置にかかり、
特に、磁気記録再生装置におけるディスクの異常突起や
ヘッドの浮上量を検査する方法及びその検査装置に関す
る。
の検査方法及び情報記録再生装置の検査装置にかかり、
特に、磁気記録再生装置におけるディスクの異常突起や
ヘッドの浮上量を検査する方法及びその検査装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来より、情報記録再生装置のうち、特
に磁気記録再生装置におけるヘッドの浮上量異常の検査
方法は、光学的な方法が主流であった。即ち、検査専用
の平滑なガラスディスクを用いて、このガラスディスク
とヘッドの間隔に依存して変化する光の干渉を検出し、
ディスクに対するヘッドの浮上量が測定されていた。ヘ
ッドの浮上量は、情報の記録再生の精度に大きな影響を
及ぼすものであるので、正確に把握しておく必要があ
る。
に磁気記録再生装置におけるヘッドの浮上量異常の検査
方法は、光学的な方法が主流であった。即ち、検査専用
の平滑なガラスディスクを用いて、このガラスディスク
とヘッドの間隔に依存して変化する光の干渉を検出し、
ディスクに対するヘッドの浮上量が測定されていた。ヘ
ッドの浮上量は、情報の記録再生の精度に大きな影響を
及ぼすものであるので、正確に把握しておく必要があ
る。
【０００３】一方、特開平６−２８８０３号公報に開示
された発明では、ヘッドによって得られる信号振幅の磁
気スペーシング依存性を利用している。即ち、検査した
い条件下での信号振幅を検出すると共に、ディスクの回
転数を徐々に低下させて、実質的に浮上量がゼロになっ
た状態での信号振幅を求める。そして、各信号振幅の比
から浮上量を求める方法である。
された発明では、ヘッドによって得られる信号振幅の磁
気スペーシング依存性を利用している。即ち、検査した
い条件下での信号振幅を検出すると共に、ディスクの回
転数を徐々に低下させて、実質的に浮上量がゼロになっ
た状態での信号振幅を求める。そして、各信号振幅の比
から浮上量を求める方法である。
【０００４】また、ディスク上に存在する異常突起も、
ヘッドとの接触に起因して情報の記録再生特性に大きな
影響を及ぼすのでヘッドとディスクの接触を検査してお
く必要がある。従来の磁気記録再生装置におけるディス
ク表面の異常突起の検査手法としては、以下のようなも
のがある。即ち、ヘッドスライダなどにピエゾ圧電素子
を備えた検査用の特殊なヘッドを用い、ヘッドスライダ
とディスク上の異常突起との接触に伴って発生するピエ
ゾ圧電素子の出力を検出し、ディスク上の突起を検出す
るものである。また、ヘッドスライダを支持する部分に
アコースティックエミッション（ＡＥ）センサを備えた
ヘッドを用い、ヘッドとディスク上の異常突起との接触
に伴って発生するＡＥを検出する手法も用いられてい
る。ここで、アコースティックエミッションとは、固体
が変形するときに、それまで蓄えられていた歪みエネル
ギーが開放されて、弾性波を生じる現象をいう。
ヘッドとの接触に起因して情報の記録再生特性に大きな
影響を及ぼすのでヘッドとディスクの接触を検査してお
く必要がある。従来の磁気記録再生装置におけるディス
ク表面の異常突起の検査手法としては、以下のようなも
のがある。即ち、ヘッドスライダなどにピエゾ圧電素子
を備えた検査用の特殊なヘッドを用い、ヘッドスライダ
とディスク上の異常突起との接触に伴って発生するピエ
ゾ圧電素子の出力を検出し、ディスク上の突起を検出す
るものである。また、ヘッドスライダを支持する部分に
アコースティックエミッション（ＡＥ）センサを備えた
ヘッドを用い、ヘッドとディスク上の異常突起との接触
に伴って発生するＡＥを検出する手法も用いられてい
る。ここで、アコースティックエミッションとは、固体
が変形するときに、それまで蓄えられていた歪みエネル
ギーが開放されて、弾性波を生じる現象をいう。
【０００５】さらに、ヘッドに磁気抵抗（ＭＲ）素子を
用いた磁気記録再生装置においては、特開平８−１６７
１２１号公報や特開平８−０８２５０４号公報に開示さ
れているように、ＭＲ素子とディスクとの接触に伴って
発生するサーマルアスペリティー（ＴＡ）を検出するこ
とにより、ディスク上の突起が検出されている。ここ
で、サーマルアスペリティーとは、ヘッドとディスクと
の接触によって熱が発生し、この熱の影響でＭＲヘッド
の出力が変化することをいう。
用いた磁気記録再生装置においては、特開平８−１６７
１２１号公報や特開平８−０８２５０４号公報に開示さ
れているように、ＭＲ素子とディスクとの接触に伴って
発生するサーマルアスペリティー（ＴＡ）を検出するこ
とにより、ディスク上の突起が検出されている。ここ
で、サーマルアスペリティーとは、ヘッドとディスクと
の接触によって熱が発生し、この熱の影響でＭＲヘッド
の出力が変化することをいう。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記各
従来例には以下のような不都合が生じていた。即ち、磁
気記録再生装置における光学的なヘッドの浮上量異常の
検査は、検査用の特殊なガラスディスク上で測定を行う
必要があるため、実際に記録再生に用いるディスク上で
の浮上特性が測定できない、という不都合を生じてい
た。
従来例には以下のような不都合が生じていた。即ち、磁
気記録再生装置における光学的なヘッドの浮上量異常の
検査は、検査用の特殊なガラスディスク上で測定を行う
必要があるため、実際に記録再生に用いるディスク上で
の浮上特性が測定できない、という不都合を生じてい
た。
【０００７】また、ＡＥを用いたディスクの異常突起の
検査においては、ヘッドスライダに専用のＡＥセンサを
別途設置する必要があるため、製造コストが増大する、
という不都合を生じていた。
検査においては、ヘッドスライダに専用のＡＥセンサを
別途設置する必要があるため、製造コストが増大する、
という不都合を生じていた。
【０００８】また、以上に記載したヘッドの浮上量検査
及びディスクの突起検査では、ヘッド、ディスク、それ
ぞれ単体での検査しか行えないため、情報記録再生装置
として組み上がった状態においては、組立公差の影響な
どにより、必ずしもヘッド及びディスクそれぞれ単体で
の検査とは異なる検査結果が出る可能性がある。これに
もかかわらず、磁気ディスク再生装置として組み上がっ
た状態での検査が行えない、という不都合を生じてい
た。
及びディスクの突起検査では、ヘッド、ディスク、それ
ぞれ単体での検査しか行えないため、情報記録再生装置
として組み上がった状態においては、組立公差の影響な
どにより、必ずしもヘッド及びディスクそれぞれ単体で
の検査とは異なる検査結果が出る可能性がある。これに
もかかわらず、磁気ディスク再生装置として組み上がっ
た状態での検査が行えない、という不都合を生じてい
た。
【０００９】さらに、サーマルアスペリティー（ＴＡ）
を検出するディスクの突起検査については、ディスクと
ヘッドとの接触がＭＲ素子のごく近傍で発生した場合だ
けしかＴＡ信号が発生しないため、ヘッドとディスクの
接触検知の感度が悪い。また、ＴＡ信号の強度がヘッド
に対するディスクの周速に依存するため、ディスクの内
外周で感度が異なる、という不都合を生じていた。
を検出するディスクの突起検査については、ディスクと
ヘッドとの接触がＭＲ素子のごく近傍で発生した場合だ
けしかＴＡ信号が発生しないため、ヘッドとディスクの
接触検知の感度が悪い。また、ＴＡ信号の強度がヘッド
に対するディスクの周速に依存するため、ディスクの内
外周で感度が異なる、という不都合を生じていた。
【００１０】特開平６−２８８０３号公報に開示された
ヘッドの浮上量測定法では、ディスクの回転数の変化に
伴うヘッドの再生振幅の変化が飽和した状態をもって、
実質的に浮上量がゼロになった状態と判定する、という
方法が開示されている。しかし、実際には浮上量がゼロ
になった状態を精度良く判定するのは困難である、とい
う不都合を生じていた。
ヘッドの浮上量測定法では、ディスクの回転数の変化に
伴うヘッドの再生振幅の変化が飽和した状態をもって、
実質的に浮上量がゼロになった状態と判定する、という
方法が開示されている。しかし、実際には浮上量がゼロ
になった状態を精度良く判定するのは困難である、とい
う不都合を生じていた。
【００１１】
【発明の目的】本発明は、上記した従来例の有する不都
合を改善し、特に、精度良くヘッドとディスクの接触を
検出すると共に、ヘッドのディスクに対する浮上量を正
確に算出できる情報記録再生装置の検査方法及び情報記
録再生装置の検査装置を提供することを、その目的とす
る。
合を改善し、特に、精度良くヘッドとディスクの接触を
検出すると共に、ヘッドのディスクに対する浮上量を正
確に算出できる情報記録再生装置の検査方法及び情報記
録再生装置の検査装置を提供することを、その目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記した目的
を達成するために、請求項１記載の発明では、予め規則
的に変化する検査用信号が記録されたディスクに所定の
ヘッドを近接させて当該検査用信号を再生し、この再生
信号の波形を表すパラメータの変動の増加に基づいてデ
ィスクとヘッドとの接触を判断する、という構成を採っ
ている。
を達成するために、請求項１記載の発明では、予め規則
的に変化する検査用信号が記録されたディスクに所定の
ヘッドを近接させて当該検査用信号を再生し、この再生
信号の波形を表すパラメータの変動の増加に基づいてデ
ィスクとヘッドとの接触を判断する、という構成を採っ
ている。
【００１３】再生信号の波形に関するパラメータ、例え
ば、振幅やパルス幅などは磁気スペーシングに依存する
ことが知られている。ヘッドとディスクとが接触するこ
とにより、接触の衝撃によって浮上量、磁気スペーシン
グが変動するため、それに伴って信号振幅やパルス幅に
変動が生じる。そこで、逆に、信号振幅やパルス幅の変
動を測定することによって、ヘッドとディスクの接触を
検知することが可能となる。
ば、振幅やパルス幅などは磁気スペーシングに依存する
ことが知られている。ヘッドとディスクとが接触するこ
とにより、接触の衝撃によって浮上量、磁気スペーシン
グが変動するため、それに伴って信号振幅やパルス幅に
変動が生じる。そこで、逆に、信号振幅やパルス幅の変
動を測定することによって、ヘッドとディスクの接触を
検知することが可能となる。
【００１４】請求項２記載の発明では、パラメータの変
動は、標準偏差若しくは変動係数で評価するという方法
を採り、その他は請求項１記載の発明と同様である。
動は、標準偏差若しくは変動係数で評価するという方法
を採り、その他は請求項１記載の発明と同様である。
【００１５】請求項３記載の発明では、パラメータが再
生信号の振幅であるという手段を採り、その他は請求項
１又は２記載の発明と同様である。
生信号の振幅であるという手段を採り、その他は請求項
１又は２記載の発明と同様である。
【００１６】請求項４記載の発明では、検査用信号がパ
ルス状の信号であって、パラメータが前記再生信号のパ
ルス幅であるという手段を採り、その他は請求項１又は
２記載の発明と同様である。
ルス状の信号であって、パラメータが前記再生信号のパ
ルス幅であるという手段を採り、その他は請求項１又は
２記載の発明と同様である。
【００１７】請求項５記載の発明では、予め規則的に変
化する検査用信号が記録されたディスクと、このディス
クから検査用信号を再生するヘッドと、再生信号の波形
を表すパラメータの変動の増加を測定する手段と、この
変動の増加に基づいてディスクとヘッドとの接触を判断
する接触判断手段を備えた、という構成を採っている。
化する検査用信号が記録されたディスクと、このディス
クから検査用信号を再生するヘッドと、再生信号の波形
を表すパラメータの変動の増加を測定する手段と、この
変動の増加に基づいてディスクとヘッドとの接触を判断
する接触判断手段を備えた、という構成を採っている。
【００１８】請求項６記載の発明では、予め規則的に変
化する検査用信号が記録されたディスクから所定のヘッ
ドを近接させて当該検査用信号を再生してヘッドのディ
スクに対する浮上量を検査する情報記録再生装置の検査
方法において、ディスクの回転数を制御して得られる再
生信号の波形を表すパラメータの変動の増加に基づいて
ディスクとヘッドとの接触を判断し、当該接触が発生し
た状態を基準状態とし、所定の測定条件における再生信
号の波形を表すパラメータ値と、基準状態における再生
信号の波形を表すパラメータ値と、再生信号の波形を表
すパラメータと磁気スペーシングとの関係に基づいて測
定条件における浮上量を検査する、という構成を採って
いる。
化する検査用信号が記録されたディスクから所定のヘッ
ドを近接させて当該検査用信号を再生してヘッドのディ
スクに対する浮上量を検査する情報記録再生装置の検査
方法において、ディスクの回転数を制御して得られる再
生信号の波形を表すパラメータの変動の増加に基づいて
ディスクとヘッドとの接触を判断し、当該接触が発生し
た状態を基準状態とし、所定の測定条件における再生信
号の波形を表すパラメータ値と、基準状態における再生
信号の波形を表すパラメータ値と、再生信号の波形を表
すパラメータと磁気スペーシングとの関係に基づいて測
定条件における浮上量を検査する、という構成を採って
いる。
【００１９】請求項７記載の発明では、前記パラメータ
の変動は、標準偏差若しくは変動係数で評価するという
手段を採り、その他の構成は請求項６記載の発明と同様
である。
の変動は、標準偏差若しくは変動係数で評価するという
手段を採り、その他の構成は請求項６記載の発明と同様
である。
【００２０】
【発明の実施の形態】本発明の一実施形態を図面に基づ
いて説明する。本実施形態にかかる情報記録再生装置１
の検査方法は、予め規則的に変化する検査用信号が記録
されたディスクに所定のヘッドを近接させて当該検査用
信号を再生し、この再生信号の波形を表すパラメータの
変動の増加に基づいてディスクとヘッドとの接触を判断
するものである。
いて説明する。本実施形態にかかる情報記録再生装置１
の検査方法は、予め規則的に変化する検査用信号が記録
されたディスクに所定のヘッドを近接させて当該検査用
信号を再生し、この再生信号の波形を表すパラメータの
変動の増加に基づいてディスクとヘッドとの接触を判断
するものである。
【００２１】検査用信号としては、パルス状の矩形波が
ディスク３のトラックに沿って磁気的に記録されてい
る。
ディスク３のトラックに沿って磁気的に記録されてい
る。
【００２２】この検査用信号は、一定の振幅で且つ一定
のパルス幅となっている。検査用信号はディスク３に一
周設けるようにしても良いし、一周の半分や４分の１程
度でもよい。即ち、複数の矩形波が記録されていればよ
い。
のパルス幅となっている。検査用信号はディスク３に一
周設けるようにしても良いし、一周の半分や４分の１程
度でもよい。即ち、複数の矩形波が記録されていればよ
い。
【００２３】また、図２に示すように、ディスク３の近
傍に配設されているヘッド５は、ディスク３の表面に近
接して、当該ディスク３に記録されている検査用信号を
再生するものである。従って、当該ヘッド５によって再
生される再生信号もパルス状の矩形波となる。
傍に配設されているヘッド５は、ディスク３の表面に近
接して、当該ディスク３に記録されている検査用信号を
再生するものである。従って、当該ヘッド５によって再
生される再生信号もパルス状の矩形波となる。
【００２４】検査用信号はヘッド５で再生され、得られ
た再生信号のパラメータの変動が測定される。
た再生信号のパラメータの変動が測定される。
【００２５】
【実施例】［第１の実施例］ 以下に本発明の具体的な実施例を説明する。先ず、図４
に示すような周速と浮上量の関係を有するヘッドと、グ
ライド高さ３０ｎｍのディスクを用いる。そして、ディ
スクの中心から半径２２．６ｍｍの位置において、ディ
スクを７２００ｒｐｍ（周速約１７ｍ／ｓ）で回転させ
ながら、検査用信号として７ＭＨｚの矩形波記録を行っ
た。その後、ディスクの回転数を徐々に下げながら検査
用信号を再生し、その再生信号の振幅及びパルス幅のば
らつき（変動）を測定した。この測定結果を図５に示
す。尚、この測定時のスキュー角は０度である。
に示すような周速と浮上量の関係を有するヘッドと、グ
ライド高さ３０ｎｍのディスクを用いる。そして、ディ
スクの中心から半径２２．６ｍｍの位置において、ディ
スクを７２００ｒｐｍ（周速約１７ｍ／ｓ）で回転させ
ながら、検査用信号として７ＭＨｚの矩形波記録を行っ
た。その後、ディスクの回転数を徐々に下げながら検査
用信号を再生し、その再生信号の振幅及びパルス幅のば
らつき（変動）を測定した。この測定結果を図５に示
す。尚、この測定時のスキュー角は０度である。
【００２６】実際の検査には、再生信号の波形をディジ
タルオシロスコープ経由でコンピュータに取り込み、波
形を解析して振幅及びパルス幅の標準偏差を算出するこ
とによって行った。尚、図５においては、変動の度合い
を示す指標として、標準偏差を振幅及びパルス幅の平均
値でそれぞれ割った変動係数で表している。
タルオシロスコープ経由でコンピュータに取り込み、波
形を解析して振幅及びパルス幅の標準偏差を算出するこ
とによって行った。尚、図５においては、変動の度合い
を示す指標として、標準偏差を振幅及びパルス幅の平均
値でそれぞれ割った変動係数で表している。
【００２７】この図５から判るように、振幅については
周速が８ｍ／ｓ以下において変動係数が大きくなり始め
ている。また、パルス幅については周速が７ｍ／ｓ以下
において、変動係数が増加している。
周速が８ｍ／ｓ以下において変動係数が大きくなり始め
ている。また、パルス幅については周速が７ｍ／ｓ以下
において、変動係数が増加している。
【００２８】この時、図４を参照すると、ヘッドの浮上
量はグライド高さ３０ｎｍの近傍であり、振幅及びパル
ス幅の変動係数を測定することによってヘッドとディス
クの接触が精度良く検知できることがわかる。
量はグライド高さ３０ｎｍの近傍であり、振幅及びパル
ス幅の変動係数を測定することによってヘッドとディス
クの接触が精度良く検知できることがわかる。
【００２９】標準偏差を用いた場合の比較として、ある
周速で検査したときの再生信号の振幅の最小値を、振幅
の平均値で除した値で評価した場合を図６に示す。振幅
の最小値で変動の度合いを評価した場合でも、周速が７
ｍ／ｓにおいて振幅の最小値の変化が大きくなっている
ことから、この周速でヘッドとディスクの接触があった
と判断することもできる。しかしながら、図５と比較す
ると、振幅の最小値を用いる場合には、複数のパルス状
の再生信号の内１つのデータを用いるので、測定誤差が
大きくヘッドとディスクの接触がどの周速から生じてい
るかの判断がやや難しくなっている。従って、より精度
の良い接触判断には、標準偏差のような統計的な数量を
用いることがより望ましいことが判る。
周速で検査したときの再生信号の振幅の最小値を、振幅
の平均値で除した値で評価した場合を図６に示す。振幅
の最小値で変動の度合いを評価した場合でも、周速が７
ｍ／ｓにおいて振幅の最小値の変化が大きくなっている
ことから、この周速でヘッドとディスクの接触があった
と判断することもできる。しかしながら、図５と比較す
ると、振幅の最小値を用いる場合には、複数のパルス状
の再生信号の内１つのデータを用いるので、測定誤差が
大きくヘッドとディスクの接触がどの周速から生じてい
るかの判断がやや難しくなっている。従って、より精度
の良い接触判断には、標準偏差のような統計的な数量を
用いることがより望ましいことが判る。
【００３０】また、比較例として、ヘッドに磁気抵抗効
果（ＭＲ）素子を用いてディスク１周におけるＴＡの発
生個数をカウントすることによって、ディスクとヘッド
の接触を検査した場合を図７に示す。このときのスキュ
ー角は０度である。この試験条件においてはＴＡが発生
せず、ＴＡの検出ではヘッドとディスクの接触を検知で
きないことがわかった。
果（ＭＲ）素子を用いてディスク１周におけるＴＡの発
生個数をカウントすることによって、ディスクとヘッド
の接触を検査した場合を図７に示す。このときのスキュ
ー角は０度である。この試験条件においてはＴＡが発生
せず、ＴＡの検出ではヘッドとディスクの接触を検知で
きないことがわかった。
【００３１】ヘッドとディスクが接触しているにもかか
わらずＴＡが発生しなかった理由は、周速が低下すると
ヘッドのピッチ角が小さくなって記録ヘッドがディスク
上の凹凸と接触しにくくなり、ＴＡが発生しにくくなっ
たことが考えられる。ＴＡは、ディスク上の凹凸が記録
ヘッドのごく近傍に接触した場合にしか発生しないと考
えられている。また、周速が低下すると、たとえヘッド
がディスクに接触していたとしても、接触によって発生
する熱エネルギーが小さいため、ＴＡが発生しにくくな
った、ということも考えられる。
わらずＴＡが発生しなかった理由は、周速が低下すると
ヘッドのピッチ角が小さくなって記録ヘッドがディスク
上の凹凸と接触しにくくなり、ＴＡが発生しにくくなっ
たことが考えられる。ＴＡは、ディスク上の凹凸が記録
ヘッドのごく近傍に接触した場合にしか発生しないと考
えられている。また、周速が低下すると、たとえヘッド
がディスクに接触していたとしても、接触によって発生
する熱エネルギーが小さいため、ＴＡが発生しにくくな
った、ということも考えられる。
【００３２】［第２の実施例］ 第２の実施例として、測定位置をディスクの中心から半
径４５．６ｍｍに設定し、スキュー角を１９．３度にし
て振幅の変動係数を測定した結果を図８に示す。即ち、
ディスクの外周部での検査の例である。ここでの変動係
数も、第１の実施例と同様に、振幅の標準偏差を振幅の
平均値で除した値である。また、比較として、ヘッドに
ＭＲ素子を用いてディスク１周におけるＴＡの発生個数
をカウントすることによって接触を検知する場合を図８
に併せて示す。
径４５．６ｍｍに設定し、スキュー角を１９．３度にし
て振幅の変動係数を測定した結果を図８に示す。即ち、
ディスクの外周部での検査の例である。ここでの変動係
数も、第１の実施例と同様に、振幅の標準偏差を振幅の
平均値で除した値である。また、比較として、ヘッドに
ＭＲ素子を用いてディスク１周におけるＴＡの発生個数
をカウントすることによって接触を検知する場合を図８
に併せて示す。
【００３３】図８における振幅の変動係数の線図から判
るように、振幅の変動係数が周速１９ｍ／ｓ以下で増加
しており、ヘッドとディスクの接触が生じていることが
明瞭にわかる。スキュー角が大きい場合、即ち、ディス
クの周速の方向に対してヘッドに角度差が生じると、ヘ
ッドに対してディスクが斜めに移動することになり、同
じ周速でも浮上量は低下する。周速が１９ｍ／ｓでの浮
上量は、図２を参照すると、グライド高さ３０ｎｍの近
傍であった。このことにより、周速が変わっても、変動
係数を算出することにより、正確にディスクとヘッドの
接触を判断できることが判る。
るように、振幅の変動係数が周速１９ｍ／ｓ以下で増加
しており、ヘッドとディスクの接触が生じていることが
明瞭にわかる。スキュー角が大きい場合、即ち、ディス
クの周速の方向に対してヘッドに角度差が生じると、ヘ
ッドに対してディスクが斜めに移動することになり、同
じ周速でも浮上量は低下する。周速が１９ｍ／ｓでの浮
上量は、図２を参照すると、グライド高さ３０ｎｍの近
傍であった。このことにより、周速が変わっても、変動
係数を算出することにより、正確にディスクとヘッドの
接触を判断できることが判る。
【００３４】また、このときのＴＡの発生個数について
は、周速１８ｍ／ｓ以下で発生し始め、周速の低下と共
に発生個数が増加しているが、最大でも発生個数がディ
スク１周で５個と少なく、ヘッドとディスクの接触がど
の周速から生じているかを精度良く判定することが困難
であることがわかる。
は、周速１８ｍ／ｓ以下で発生し始め、周速の低下と共
に発生個数が増加しているが、最大でも発生個数がディ
スク１周で５個と少なく、ヘッドとディスクの接触がど
の周速から生じているかを精度良く判定することが困難
であることがわかる。
【００３５】以上の各実施例により、再生信号の波形を
表す振幅やパルス幅のばらつきの増加を測定することに
よって、ヘッドとディスクの接触を正確に検出すること
が可能であることが判った。また、浮上量が既に判って
いるヘッドを用いることによって、ディスク上の異常突
起の検査が可能であることが示された。
表す振幅やパルス幅のばらつきの増加を測定することに
よって、ヘッドとディスクの接触を正確に検出すること
が可能であることが判った。また、浮上量が既に判って
いるヘッドを用いることによって、ディスク上の異常突
起の検査が可能であることが示された。
【００３６】［第３の実施例］ 次に、第１の実施例と同様の条件において、周速１７．
０ｍ／ｓでの信号振幅と、ヘッドとディスクの接触が検
知された周速８ｍ／ｓにおける信号振幅との比から、周
速１７ｍ／ｓの時のヘッドの浮上量を測定する例を述べ
る。
０ｍ／ｓでの信号振幅と、ヘッドとディスクの接触が検
知された周速８ｍ／ｓにおける信号振幅との比から、周
速１７ｍ／ｓの時のヘッドの浮上量を測定する例を述べ
る。
【００３７】測定結果から、周速１７ｍ／ｓでの再生信
号の振幅は、アンプで増幅後の値で１７３．６ｍＶであ
り、そのトラックを周速８ｍ／ｓで再生した場合の振幅
は２０７．１ｍＶであった。
号の振幅は、アンプで増幅後の値で１７３．６ｍＶであ
り、そのトラックを周速８ｍ／ｓで再生した場合の振幅
は２０７．１ｍＶであった。
【００３８】ここで、磁気スペーシングｄ（ヘッドの再
生素子とディスクの記録面との距離）と再生信号の振幅
Ａとの関係は、Bertram著「Theory of Magnetic Record
ing」（ケンブリッジ大学出版会、１９９４年発行）な
どに記載されている。即ち、次式のような関係がある。
生素子とディスクの記録面との距離）と再生信号の振幅
Ａとの関係は、Bertram著「Theory of Magnetic Record
ing」（ケンブリッジ大学出版会、１９９４年発行）な
どに記載されている。即ち、次式のような関係がある。
【００３９】
【数１】
【００４０】ここで、 ｇ：スライダ表面とＭＲ素子間のギャップ長（今回は１
４７．５ｎｍ） ａ：遷移パラメータ（５２ｎｍ）である。 今回の測定系における磁気スペーシングｄとヘッドの浮
上量（ＦＨ）との関係は、次式で示すような関係となっ
ている。
４７．５ｎｍ） ａ：遷移パラメータ（５２ｎｍ）である。 今回の測定系における磁気スペーシングｄとヘッドの浮
上量（ＦＨ）との関係は、次式で示すような関係となっ
ている。
【００４１】 ｄ＝ＦＨ＋Ｔ１＋Ｔ２＋Ｔ３＋Ｔ４−Ｐ ………………………（２）
【００４２】ここで Ｔ１：リセス厚（８．７ｎｍ） Ｔ２：スライダオーバコート厚（１０ｎｍ） Ｔ３：ディスク保護膜厚（１５ｎｍ） Ｔ４：潤滑剤厚（１．５ｎｍ） Ｐ ：ピッチ角補正(周速１７ｍ／ｓで４．３ｎｍ、８
ｍ／ｓで１．４ｎｍ)従って、磁気スペーシングとヘッ
ド浮上量との関係を簡単にまとめると次式のようにな
る。 ｄ＝ＦＨ＋３５．２ｎｍ−ピッチ角補正 ……………………（３）
ｍ／ｓで１．４ｎｍ)従って、磁気スペーシングとヘッ
ド浮上量との関係を簡単にまとめると次式のようにな
る。 ｄ＝ＦＨ＋３５．２ｎｍ−ピッチ角補正 ……………………（３）
【００４３】接触が発生した周速８ｍ／ｓにおいては、
ディスクのグライド高さが３０ｎｍであることから、周
速８ｍ／ｓでの浮上量（ＦＨ8）をその半分の１５ｎｍ
と仮定する。ここで、数式（１）と両周速（１７ｍ／ｓ
及び８ｍ／ｓ）での再生信号の振幅から、周速１７ｍ／
ｓにおける浮上量（ＦＨ17）を求めるためには、次式を
用いることができる。
ディスクのグライド高さが３０ｎｍであることから、周
速８ｍ／ｓでの浮上量（ＦＨ8）をその半分の１５ｎｍ
と仮定する。ここで、数式（１）と両周速（１７ｍ／ｓ
及び８ｍ／ｓ）での再生信号の振幅から、周速１７ｍ／
ｓにおける浮上量（ＦＨ17）を求めるためには、次式を
用いることができる。
【００４４】
【数４】
【００４５】この結果から、周速１７ｍ／ｓでの浮上量
（ＦＨ17）は、４３．１ｎｍとなる。即ち、周速１７ｍ
／ｓにおいては、周速８ｍ／ｓよりも浮上量が２８．１
ｎｍ高くなっている。実際の浮上量測定装置での測定値
と比較するため、計算された浮上量（ＦＨ17）にグライ
ド高さ３０ｎｍを加えると、本発明の検査方法を用いた
ヘッドの浮上量の推定値は５８．１ｎｍとなる。浮上量
測定装置で測定した浮上量は、図２から求めると５７．
５ｎｍであったので、両者は非常によく一致しており、
本発明の接触検査方法と数式（１）を組み合わせた浮上
量推定法は非常に精度がよいことがわかる。
（ＦＨ17）は、４３．１ｎｍとなる。即ち、周速１７ｍ
／ｓにおいては、周速８ｍ／ｓよりも浮上量が２８．１
ｎｍ高くなっている。実際の浮上量測定装置での測定値
と比較するため、計算された浮上量（ＦＨ17）にグライ
ド高さ３０ｎｍを加えると、本発明の検査方法を用いた
ヘッドの浮上量の推定値は５８．１ｎｍとなる。浮上量
測定装置で測定した浮上量は、図２から求めると５７．
５ｎｍであったので、両者は非常によく一致しており、
本発明の接触検査方法と数式（１）を組み合わせた浮上
量推定法は非常に精度がよいことがわかる。
【００４６】
【発明の効果】本発明は以上のように構成され、これに
よると、情報記録再生装置１に各種センサを付加する等
の大きな改造を加えることなく、また、測定用のガラス
ディスク上での測定というような実際の使用状況とは異
なる条件で測定が行われるとによる誤差が生じない。こ
のため、実際の使用時におけるヘッドとディスク３の接
触やヘッドの浮上量を精度良く求めることができる、と
いう優れた効果を生じる。
よると、情報記録再生装置１に各種センサを付加する等
の大きな改造を加えることなく、また、測定用のガラス
ディスク上での測定というような実際の使用状況とは異
なる条件で測定が行われるとによる誤差が生じない。こ
のため、実際の使用時におけるヘッドとディスク３の接
触やヘッドの浮上量を精度良く求めることができる、と
いう優れた効果を生じる。
【００４７】また、ヘッド単体やディスク単体の状態で
はなく、ディスクとヘッドとを組み上げた情報記録再生
装置の状態において、ヘッドとディスクの接触を検知で
きるので、組立公差に伴う浮上量変動や浮上量異常も正
確に測定することができる、という優れた効果を生じ
る。
はなく、ディスクとヘッドとを組み上げた情報記録再生
装置の状態において、ヘッドとディスクの接触を検知で
きるので、組立公差に伴う浮上量変動や浮上量異常も正
確に測定することができる、という優れた効果を生じ
る。
【００４８】加えて、ＭＲ素子を用いてＴＡを検出する
検査方法では、接触がＭＲ素子のごく近傍で発生した場
合だけしかＴＡ信号が発生しないために、接触検知の感
度が悪く、また、ＴＡ信号の強度が周速に依存するため
ディスクの内外周で検査感度が異なる等の欠点があった
が、本発明ではヘッドのいずれの部分がディスクと接触
しても、高感度で接触検知が行える、という優れた効果
を生じる。
検査方法では、接触がＭＲ素子のごく近傍で発生した場
合だけしかＴＡ信号が発生しないために、接触検知の感
度が悪く、また、ＴＡ信号の強度が周速に依存するため
ディスクの内外周で検査感度が異なる等の欠点があった
が、本発明ではヘッドのいずれの部分がディスクと接触
しても、高感度で接触検知が行える、という優れた効果
を生じる。
【図１】参考例を示すフローチャートである。
【図２】本発明の情報記録再生装置を示すブロック図で
ある。
ある。
【図３】参考例を示すブロック図である。
【図４】ディスクの周速とヘッドの浮上量の関係を示す
図である。
図である。
【図５】ディスクの周速と再生信号の振幅，パルス幅の
変動係数（標準偏差／平均値）の関係を示す図である。
変動係数（標準偏差／平均値）の関係を示す図である。
【図６】ディスクの周速と再生信号の平均値で規格化し
た振幅最小値の関係を示す図である。
た振幅最小値の関係を示す図である。
【図７】ディスクの周速とサーマルアスペリティー（Ｔ
Ａ）の発生数の関係を示す図である。
Ａ）の発生数の関係を示す図である。
【図８】ディスクの周速と再生信号の振幅の変動係数，
サ一マルアスペリティー（ＴＡ）の発生数の関係を示す
図である。
サ一マルアスペリティー（ＴＡ）の発生数の関係を示す
図である。
１ 情報記録再生装置 ３ ディスク ５ ヘッド
Claims (7)
- 【請求項１】 予め規則的に変化する検査用信号が記録
されたディスクに所定のヘッドを近接させて当該検査用
信号を再生し、この再生信号の波形を表すパラメータの
変動の増加に基づいて前記ディスクとヘッドとの接触を
判断することを特徴とする情報記録再生装置の検査方
法。 - 【請求項２】 前記パラメータの変動は、標準偏差若し
くは変動係数で評価することを特徴とした請求項１記載
の情報記録再生装置の検査方法。 - 【請求項３】 前記パラメータが前記再生信号の振幅で
あることを特徴とした請求項１又は２記載の情報記録再
生装置の検査方法。 - 【請求項４】 前記検査用信号がパルス状の信号であっ
て、前記パラメータが前記再生信号のパルス幅であるこ
とを特徴とした請求項１又は２記載のじょう記録再生装
置検査方法。 - 【請求項５】 予め規則的に変化する検査用信号が記録
されたディスクと、このディスクから前記検査用信号を
再生するヘッドと、前記再生信号の波形を表すパラメー
タの変動の増加を測定する手段と、この変動の増加に基
づいて前記ディスクとヘッドとの接触を判断する接触判
断手段を備えたことを特徴とする記録再生装置の検査装
置。 - 【請求項６】 予め規則的に変化する検査用信号が記録
されたディスクから所定のヘッドを近接させて当該検査
用信号を再生して前記ヘッドの前記ディスクに対する浮
上量を検査する情報記録再生装置の検査方法において、 前記ディスクの回転数を制御して得られる再生信号の波
形を表すパラメータの変動の増加に基づいて前記ディス
クとヘッドとの接触を判断し、当該接触が発生した状態
を基準状態とし、 所定の測定条件における再生信号の波形を表すパラメー
タ値と、前記基準状態における再生信号の波形を表すパ
ラメータ値と、再生信号の波形を表すパラメータと磁気
スペーシングとの関係に基づいて前記測定条件における
前記浮上量を検 査することを特徴とした情報記録再生装
置の検査方法。 - 【請求項７】 前記パラメータの変動は、標準偏差若し
くは変動係数で評価することを特徴とした請求項６記載
の情報記録再生装置の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20287797A JP3246403B2 (ja) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | 情報記録再生装置の検査方法及び情報記録再生装置の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20287797A JP3246403B2 (ja) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | 情報記録再生装置の検査方法及び情報記録再生装置の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1145436A JPH1145436A (ja) | 1999-02-16 |
| JP3246403B2 true JP3246403B2 (ja) | 2002-01-15 |
Family
ID=16464688
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20287797A Expired - Fee Related JP3246403B2 (ja) | 1997-07-29 | 1997-07-29 | 情報記録再生装置の検査方法及び情報記録再生装置の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3246403B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4679715B2 (ja) * | 2000-12-07 | 2011-04-27 | 昭和電工株式会社 | 磁気記録媒体、その製造方法、磁気記録再生装置、磁気記録媒体の検査方法および装置 |
| KR100690289B1 (ko) | 2006-01-16 | 2007-03-12 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크 드라이브, 하드디스크 드라이브의 스크린 방법및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체 |
| US7286315B2 (en) * | 2006-02-28 | 2007-10-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method to detect the touch down of the flying head on disk |
| US7505222B2 (en) * | 2006-05-19 | 2009-03-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Algorithm to detect the touch down of the flying head on disk |
| JP4908106B2 (ja) * | 2006-08-18 | 2012-04-04 | 東芝ストレージデバイス株式会社 | 記憶装置、制御方法、制御装置及びプログラム |
| JP4675873B2 (ja) * | 2006-11-27 | 2011-04-27 | 東芝ストレージデバイス株式会社 | ヘッド制御装置、記憶装置、および上限パワー決定方法 |
| JP2008171520A (ja) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Fujitsu Ltd | 制御装置、制御方法、及び記憶装置 |
| JP2008192187A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-21 | Fujitsu Ltd | ヘッド制御装置、記憶装置および接触検出方法 |
-
1997
- 1997-07-29 JP JP20287797A patent/JP3246403B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1145436A (ja) | 1999-02-16 |
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