JPH0349135B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0349135B2 JPH0349135B2 JP23356583A JP23356583A JPH0349135B2 JP H0349135 B2 JPH0349135 B2 JP H0349135B2 JP 23356583 A JP23356583 A JP 23356583A JP 23356583 A JP23356583 A JP 23356583A JP H0349135 B2 JPH0349135 B2 JP H0349135B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sheet
- sample
- temperature
- humidity
- reference pulse
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 239000002952 polymeric resin Substances 0.000 claims description 3
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 20
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 208000017227 ADan amyloidosis Diseases 0.000 description 1
- 101000606504 Drosophila melanogaster Tyrosine-protein kinase-like otk Proteins 0.000 description 1
- 201000000194 ITM2B-related cerebral amyloid angiopathy 2 Diseases 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔利用分野〕
本発明は、シート状試料の温湿度特性の測定方
法、特にフレキツブルデイスク及びその基板の温
湿度特性の測定に好適な測定方法に関する。
法、特にフレキツブルデイスク及びその基板の温
湿度特性の測定に好適な測定方法に関する。
パソコンや各種OA機器等、現代の情報機器の
中で、その入出力端末機としてのフロツピーデイ
スクドライブ（FDD）の需要は内外で急増して
おり増加の一途をたどつている。このFDD及び
それに使用される媒体（フロツピーデイスク）要
求されているのは記憶容量の増大化と形状の小型
化の方向である。この前者の要求に対応する一つ
として、TPI（Track per Inch）の増加による高
密度化があるが、この場合に問題となるのがドラ
イブ、媒体系におけるオフトラツク量である。
中で、その入出力端末機としてのフロツピーデイ
スクドライブ（FDD）の需要は内外で急増して
おり増加の一途をたどつている。このFDD及び
それに使用される媒体（フロツピーデイスク）要
求されているのは記憶容量の増大化と形状の小型
化の方向である。この前者の要求に対応する一つ
として、TPI（Track per Inch）の増加による高
密度化があるが、この場合に問題となるのがドラ
イブ、媒体系におけるオフトラツク量である。
特に媒体によるものは、全体的な温湿度膨脹に
よる寸法変化とその異方性とがあり、その厳重な
管理が要求されており、従つてその特性が正確に
且つ迅速に測定できる測定方法が要望されてい
る。
よる寸法変化とその異方性とがあり、その厳重な
管理が要求されており、従つてその特性が正確に
且つ迅速に測定できる測定方法が要望されてい
る。
これに対し、特開昭57−128806号公報にはイメ
ージセンサにより試料の自由端縁の位置を検出す
る光学的方法が開示されている。また、IEEE
Transactionson Magnetics Vol Mag−17、No.
６、P2748〜P2750には、隣接する二つのトラツ
クに同一の基準パルス信号を記録しておき、該ト
ラツクに対応した所定のスキユー角度の一対のコ
アギヤツプを有する再生ヘツドにより再生し、両
トラツクの再生信号の位相差に基いてフロツピデ
イスクの温湿度特性を測定する磁気的方法が開示
されている。この方法はフロツピデイスクを使用
状態に近い状態で評価できる優れたものである
が、基準状態の測定が安定しないという問題があ
つた。また、種々の要因により測定精度の再現性
が良くない問題があつた。
ージセンサにより試料の自由端縁の位置を検出す
る光学的方法が開示されている。また、IEEE
Transactionson Magnetics Vol Mag−17、No.
６、P2748〜P2750には、隣接する二つのトラツ
クに同一の基準パルス信号を記録しておき、該ト
ラツクに対応した所定のスキユー角度の一対のコ
アギヤツプを有する再生ヘツドにより再生し、両
トラツクの再生信号の位相差に基いてフロツピデ
イスクの温湿度特性を測定する磁気的方法が開示
されている。この方法はフロツピデイスクを使用
状態に近い状態で評価できる優れたものである
が、基準状態の測定が安定しないという問題があ
つた。また、種々の要因により測定精度の再現性
が良くない問題があつた。
本発明は、前述の磁気的方法の改良を目的とし
たもので、安定した且つ再現性の良いシート状試
料の温湿度特性の測定方法を目的としたものであ
る。
たもので、安定した且つ再現性の良いシート状試
料の温湿度特性の測定方法を目的としたものであ
る。
上述の目的は以下の本発明により達成される。
すなわち本発明は、シート状試料を用いて磁気
デイスクを形成し、基準の温湿度条件下で隣接す
る二つのトラツクに同一の基準パルス信号を記録
し、一対のコアギヤツプを同じ値の正負のスキユ
ー角度でトラツクの夫々に対応して設けた再生ヘ
ツドにより所定の温湿度条件下で再生し、両トラ
ツクの再生信号の位相差に基いてシート状試料の
温湿度特性を測定するシート状試料の温湿度特性
の測定方法において、二つのトラツクに基準パル
ス信号をその周期以下の所定の位相差を有するよ
うに記録することを特徴とするシート状試料の温
湿度特性の測定方法である。
デイスクを形成し、基準の温湿度条件下で隣接す
る二つのトラツクに同一の基準パルス信号を記録
し、一対のコアギヤツプを同じ値の正負のスキユ
ー角度でトラツクの夫々に対応して設けた再生ヘ
ツドにより所定の温湿度条件下で再生し、両トラ
ツクの再生信号の位相差に基いてシート状試料の
温湿度特性を測定するシート状試料の温湿度特性
の測定方法において、二つのトラツクに基準パル
ス信号をその周期以下の所定の位相差を有するよ
うに記録することを特徴とするシート状試料の温
湿度特性の測定方法である。
上述の構成により、安定した測定が得られ、更
に、前記再生の磁気デイスクの回転数が200〜
700rpm、基準パルス信号の周期が２〜32μsec、
スキユウ角度の値が４〜50度の範囲で測定するこ
とにより、感度良く再現性の良い測定ができる。
に、前記再生の磁気デイスクの回転数が200〜
700rpm、基準パルス信号の周期が２〜32μsec、
スキユウ角度の値が４〜50度の範囲で測定するこ
とにより、感度良く再現性の良い測定ができる。
又、特にフロツピーデイスク及びその基板であ
る高分子樹脂シートの温湿度特性の測定に適した
ものである。
る高分子樹脂シートの温湿度特性の測定に適した
ものである。
なお、上述の温湿度特性とは具体的に試料の温
度膨脹係数、湿度膨脹係数を云う。
度膨脹係数、湿度膨脹係数を云う。
以下、本発明の詳細を図面を用いて説明する。
第１図は本発明の測定原理の説明図である。
第１図ａにおいて、１はシート状試料の磁気デ
イスクで、ＮとＮ＋１はその隣接したトラツクで
ある。２は読み書き（Ｒ／Ｗ）用のヘツドであ
り、二つのトラツクＮ，Ｎ＋１を同時に記録再生
できるように二つのコアＡ，Ｂが所定間隔で設け
てある。そしてコアＡ，ＢのギヤツプGa，Gb
は、図示の通り、大きさが同じで向きが反対のス
キユー角度θで磁気デイスク１の半径方向から傾
けた対称な構成となつている。
イスクで、ＮとＮ＋１はその隣接したトラツクで
ある。２は読み書き（Ｒ／Ｗ）用のヘツドであ
り、二つのトラツクＮ，Ｎ＋１を同時に記録再生
できるように二つのコアＡ，Ｂが所定間隔で設け
てある。そしてコアＡ，ＢのギヤツプGa，Gb
は、図示の通り、大きさが同じで向きが反対のス
キユー角度θで磁気デイスク１の半径方向から傾
けた対称な構成となつている。
第１図ｂはコアＡ，Ｂで記録する基準パルス信
号SA，SBであり、同じ周期Ｔで同期した同一信
号となつている。従つて、基準の温湿度条件でこ
の基準パルス信号SA，SBを磁気デイスク１のト
ラツクＮ，Ｎ＋１に記録し、同じ条件で再生する
と図示のものと同じ同期した信号がコアＡ，Ｂか
ら得られる。
号SA，SBであり、同じ周期Ｔで同期した同一信
号となつている。従つて、基準の温湿度条件でこ
の基準パルス信号SA，SBを磁気デイスク１のト
ラツクＮ，Ｎ＋１に記録し、同じ条件で再生する
と図示のものと同じ同期した信号がコアＡ，Ｂか
ら得られる。
ところが、基準と異なつた所定の例えば試料の
膨脹側の温湿度条件で再生すると以下のようにな
る。すなわち、かかる条件下では磁気デイスク１
は第１図ａに一点鎖線で示す如くΔl′だけ膨脹す
る。従つて、トラツクＮ，Ｎ＋１も所定量Δlだ
け外側へ変位し二点鎖線で示す位置になる。一
方、ヘツド２はかかる条件変化下ではその変化が
無視できる部材で支持されているとすれば、その
位置は変化しない。そこで、その再生信号RA，
RBは、第１図ｃに示すようにコアＡに対してコ
アＢの信号RBが位相φだけ遅れた信号となる。
この位相差φは、磁気デイスク１の膨脹と比例関
係にあり、よつてこの位相差φを検出することに
より磁気デイスク１の温湿度による変化量が測定
できる。その上に、測定は基準パルス信号SA，
SBのパルス毎になされるので、磁気デイスク１
の全周の前記変化量の分布が測定でき、よつて試
料の異方性についても正確に測定できる。
膨脹側の温湿度条件で再生すると以下のようにな
る。すなわち、かかる条件下では磁気デイスク１
は第１図ａに一点鎖線で示す如くΔl′だけ膨脹す
る。従つて、トラツクＮ，Ｎ＋１も所定量Δlだ
け外側へ変位し二点鎖線で示す位置になる。一
方、ヘツド２はかかる条件変化下ではその変化が
無視できる部材で支持されているとすれば、その
位置は変化しない。そこで、その再生信号RA，
RBは、第１図ｃに示すようにコアＡに対してコ
アＢの信号RBが位相φだけ遅れた信号となる。
この位相差φは、磁気デイスク１の膨脹と比例関
係にあり、よつてこの位相差φを検出することに
より磁気デイスク１の温湿度による変化量が測定
できる。その上に、測定は基準パルス信号SA，
SBのパルス毎になされるので、磁気デイスク１
の全周の前記変化量の分布が測定でき、よつて試
料の異方性についても正確に測定できる。
ところで、上述の測定は具体的には第２図、第
３図に示す装置によつて実施される。
３図に示す装置によつて実施される。
第２図は上述の測定を実施する測定装置のドラ
イブ部の要部の側断面図、第３図は該測定装置の
測定回路のブロツク図である。
イブ部の要部の側断面図、第３図は該測定装置の
測定回路のブロツク図である。
ドライブ部は、市販のフロツピーデイスクドラ
イブ装置を用い、そのヘツド２の取付けを改良し
たものである。すなわち、図において、１０はア
ルミ板、鋼板等からなる支持台で、ヘツド２は図
示の通り取着部材１１を介してスピンドル部１２
と共通の支持台１０上に設けて、ヘツド２の温湿
度の変化による位置変化が小さく且つその変化量
を正確に測定できるようにしてある。１２ａは駆
動モータ、１２ｂはスピンドル、１２ｃはスピン
ドルハブ、１２ｄはコレツトで、磁気デイスク１
を保持回転駆動するようになつている。
イブ装置を用い、そのヘツド２の取付けを改良し
たものである。すなわち、図において、１０はア
ルミ板、鋼板等からなる支持台で、ヘツド２は図
示の通り取着部材１１を介してスピンドル部１２
と共通の支持台１０上に設けて、ヘツド２の温湿
度の変化による位置変化が小さく且つその変化量
を正確に測定できるようにしてある。１２ａは駆
動モータ、１２ｂはスピンドル、１２ｃはスピン
ドルハブ、１２ｄはコレツトで、磁気デイスク１
を保持回転駆動するようになつている。
そして、コアＡ，Ｂからの再生信号RA，RB
は、アンプ２１Ａ，２１Ｂで増巾され、波形整形
回路２２Ａ，２２Ｂにより第１図ｂ，ｃに示す所
定の巾のパルスに整形される。次いで、両再生信
号RA，RBは、フリツプフロツプ回路からなる
位相差検出回路２３に入り、位相差φを巾とした
パルス列からなる位相差信号Ｄに変換される。位
相差信号Ｄは積分回路２４に入り第１図ｅに示す
位相差信号Ｄのパルス巾すなわち位相差φに比例
した高さＨの三角波からなるアナログ出力信号Ｏ
に変換される。この出力信号を記録計に記録し、
その包絡線を求めれば、試料の温湿度変化による
寸法変化量を異方性を含めて測定できる。
は、アンプ２１Ａ，２１Ｂで増巾され、波形整形
回路２２Ａ，２２Ｂにより第１図ｂ，ｃに示す所
定の巾のパルスに整形される。次いで、両再生信
号RA，RBは、フリツプフロツプ回路からなる
位相差検出回路２３に入り、位相差φを巾とした
パルス列からなる位相差信号Ｄに変換される。位
相差信号Ｄは積分回路２４に入り第１図ｅに示す
位相差信号Ｄのパルス巾すなわち位相差φに比例
した高さＨの三角波からなるアナログ出力信号Ｏ
に変換される。この出力信号を記録計に記録し、
その包絡線を求めれば、試料の温湿度変化による
寸法変化量を異方性を含めて測定できる。
ところで、基準パルス信号SA，SBを同期して
記録しておくと、再生を含めた測定回路の条件の
微小変動のため、基準の条件での再生信号RA，
RBにおいては、コアＡの再生信号RAとコアＢ
の再生信号RBとの同期が前後するため、位相差
信号Ｄが大巾に変動することが明らかとなつた。
記録しておくと、再生を含めた測定回路の条件の
微小変動のため、基準の条件での再生信号RA，
RBにおいては、コアＡの再生信号RAとコアＢ
の再生信号RBとの同期が前後するため、位相差
信号Ｄが大巾に変動することが明らかとなつた。
本発明は、前述の通り基準パルス信号SA，SB
に予め位相差を与えて記録し、上記変動をなくす
ものである。すなわち、具体的には基準パルス信
号SAに対して基準パルス信号SBを第１図ｂに示
す如く予め決めた位相遅れＬだけ遅延させて記録
するのである。すると、再生信号RA，RBの位
相差φは、基準の温湿度条件において位相遅れＬ
となるのみで、その他は全く前述と同様であり、
従つて、全く同様に測定できる。そして、基準の
温湿度条件においても、位相遅れＬが存在するた
め、前述の測定回路の微小変動の位相差φへの影
響は位相遅れＬを中心とした微小変動となり、安
定した測定ができる。
に予め位相差を与えて記録し、上記変動をなくす
ものである。すなわち、具体的には基準パルス信
号SAに対して基準パルス信号SBを第１図ｂに示
す如く予め決めた位相遅れＬだけ遅延させて記録
するのである。すると、再生信号RA，RBの位
相差φは、基準の温湿度条件において位相遅れＬ
となるのみで、その他は全く前述と同様であり、
従つて、全く同様に測定できる。そして、基準の
温湿度条件においても、位相遅れＬが存在するた
め、前述の測定回路の微小変動の位相差φへの影
響は位相遅れＬを中心とした微小変動となり、安
定した測定ができる。
また、理論的な検討から磁気デイスク１の変位
量Δlと出力信号Ｏの高さＨとの間には次式が成
立することが導かれる。
量Δlと出力信号Ｏの高さＨとの間には次式が成
立することが導かれる。
Δl＝Ｋ・Ｎ・l0・Ｔ／tanθＨ
なお、上式において、Ｋは比例定数、Ｎはスピ
ンドル回転数、Ｔは基準パルス信号の周期、l0は
基準の温湿度条件でのスピンドル１２ｂとヘツド
２との距離、θはギヤツプのスキユウ角度の絶対
値である。
ンドル回転数、Ｔは基準パルス信号の周期、l0は
基準の温湿度条件でのスピンドル１２ｂとヘツド
２との距離、θはギヤツプのスキユウ角度の絶対
値である。
上式より、同じ変位量Δlに対しても測定出力
信号Ｏの高さＨは測定条件に大きく影響される。
特に精度良く且つ再現性の良い測定条件を試料に
ポリエチレンテレフタレートを用いて検討したと
ころ、下記条件の範囲内で測定する必要があるこ
とが見出された。
信号Ｏの高さＨは測定条件に大きく影響される。
特に精度良く且つ再現性の良い測定条件を試料に
ポリエチレンテレフタレートを用いて検討したと
ころ、下記条件の範囲内で測定する必要があるこ
とが見出された。
すなわち、スピンドル従つて磁気デイスクの回
転数Ｎが200〜700rpm、基準パルス信号の周期Ｔ
が２〜32μs、スキユウ角度θの絶対値が４〜50度
の範囲である。
転数Ｎが200〜700rpm、基準パルス信号の周期Ｔ
が２〜32μs、スキユウ角度θの絶対値が４〜50度
の範囲である。
ところで、測定に際しては以下のようにすると
少ない測定回数で試料の温湿度特性具体的には温
度膨脹係数及び湿度膨脹係数を測定することがで
きる方法がある。
少ない測定回数で試料の温湿度特性具体的には温
度膨脹係数及び湿度膨脹係数を測定することがで
きる方法がある。
すなわち、基準状態より温度、湿度共に異なる
第１の状態で変位量の測定を行ない、次に両状態
と温度、湿度が異なる第３の状態で変位量の測定
を行ない、下式により温度膨脹係数αT及び湿度
膨脹係数αHを求めれば良い。
第１の状態で変位量の測定を行ない、次に両状態
と温度、湿度が異なる第３の状態で変位量の測定
を行ない、下式により温度膨脹係数αT及び湿度
膨脹係数αHを求めれば良い。
αT＝Δl1ΔH2−Δl2ΔH1／l0（ΔT1ΔH2−ΔT2ΔH1
） αH＝Δl1ΔT2−Δl2ΔT1／l0（ΔT2ΔH1−ΔT1ΔH2
） 上式において、Δl1，Δl2は基準状態に対する第
１、第２の状態での変位量、ΔT1，ΔT2は基準状
態と第１、第２の状態との温度差、ΔH1，ΔH2
は基準状態と第１、第２の状態の湿度差である。
） αH＝Δl1ΔT2−Δl2ΔT1／l0（ΔT2ΔH1−ΔT1ΔH2
） 上式において、Δl1，Δl2は基準状態に対する第
１、第２の状態での変位量、ΔT1，ΔT2は基準状
態と第１、第２の状態との温度差、ΔH1，ΔH2
は基準状態と第１、第２の状態の湿度差である。
なお、変位量Δl、温度膨脹係数αT、湿度膨脹
係数αH等の測定出力信号Ｏからの算出は検量線
図等を実験的に定めることにより簡単にできる。
また位相差φ即ちパルス巾Ｄをコンピユータに直
接読み込み、データ処理するようにすれば、アナ
ログ変換された出力Ｏよりも精度が高く、高速処
理の自動測定装置が実現できる。
係数αH等の測定出力信号Ｏからの算出は検量線
図等を実験的に定めることにより簡単にできる。
また位相差φ即ちパルス巾Ｄをコンピユータに直
接読み込み、データ処理するようにすれば、アナ
ログ変換された出力Ｏよりも精度が高く、高速処
理の自動測定装置が実現できる。
以上の通り、本発明は磁気デイスクの状態で試
料の温湿度特性具体的には温度及び湿度の膨脹係
数の安定且つ精度の良い測定を可能としたもので
あり、フロツピ−デイスクの基板に用いられる高
分子樹脂シートの評価及び品質管理、あるいはフ
ロツピ−デイスク自体の品質管理に特に有効に適
用できるものである。
料の温湿度特性具体的には温度及び湿度の膨脹係
数の安定且つ精度の良い測定を可能としたもので
あり、フロツピ−デイスクの基板に用いられる高
分子樹脂シートの評価及び品質管理、あるいはフ
ロツピ−デイスク自体の品質管理に特に有効に適
用できるものである。
第１図は本発明の測定原理の説明図、第２図は
本発明を実施する測定装置のドライブ部の要部の
側断面図、第３図は該測定装置の測定回路のブロ
ツク図である。 １：磁気デイスク、２：ヘツド、１２：スピン
ドル駆動部、２０：測定回路。
本発明を実施する測定装置のドライブ部の要部の
側断面図、第３図は該測定装置の測定回路のブロ
ツク図である。 １：磁気デイスク、２：ヘツド、１２：スピン
ドル駆動部、２０：測定回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ シート状試料を用いて磁気デイスクを形成
し、基準の温湿度条件下で隣接する二つのトラツ
クに同一の基準パルス信号を記録し、一対のコア
ギヤツプを同じ値の正負のスキユー角度でトラツ
クの夫々に対応して設けた再生ヘツドにより所定
の温湿度条件下で再生し、両トラツクの再生信号
の位相差に基いてシート状試料の温湿度特性を測
定するシート状試料の温湿度特性の測定方法にお
いて、二つのトラツクに基準パルス信号をその周
期以下の所定の位相差を有するように記録するこ
とを特徴とするシート状試料の温湿度特性の測定
方法。 ２ 前記再生の磁気デイスクの回転数が200〜
700rpm、基準パルス信号の周期が２〜32μsec、
スキユー角度の値が４〜50度の範囲で測定する特
許請求の範囲第１項記載のシート状試料の温湿度
特性の測定方法。 ３ 前記シート状試料が高分子樹脂シートである
特許請求の範囲第１項若しくは第２項記載のシー
ト状試料の温湿度特性の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23356583A JPS60125930A (ja) | 1983-12-13 | 1983-12-13 | シ−ト状試料の温湿度特性の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23356583A JPS60125930A (ja) | 1983-12-13 | 1983-12-13 | シ−ト状試料の温湿度特性の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60125930A JPS60125930A (ja) | 1985-07-05 |
| JPH0349135B2 true JPH0349135B2 (ja) | 1991-07-26 |
Family
ID=16957059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23356583A Granted JPS60125930A (ja) | 1983-12-13 | 1983-12-13 | シ−ト状試料の温湿度特性の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60125930A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6201184B2 (ja) * | 2014-01-30 | 2017-09-27 | 住友金属鉱山株式会社 | 樹脂フィルムの評価方法 |
| CN106018458B (zh) * | 2016-05-12 | 2018-10-30 | 燕山大学 | 一种差温轧制的热模拟方法 |
-
1983
- 1983-12-13 JP JP23356583A patent/JPS60125930A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60125930A (ja) | 1985-07-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4101942A (en) | Track following servo system and track following code | |
| EP0194641A2 (en) | Tracking servo system for disc memory | |
| EP1513138A2 (en) | Magnetic disk apparatus, method for determining data track pitch, and self-servo write method | |
| JPH0568002B2 (ja) | ||
| JP3246403B2 (ja) | 情報記録再生装置の検査方法及び情報記録再生装置の検査装置 | |
| JPH0349135B2 (ja) | ||
| US5963029A (en) | Measuring magnetic properties in media by RMS signal processing and incremental erasure | |
| CN100405463C (zh) | 磁记录再生装置及其控制方法 | |
| JP2666753B2 (ja) | 記録再生評価装置 | |
| JPH07226041A (ja) | データ記録再生装置とヘッド幅測定装置 | |
| JP3823180B2 (ja) | 磁気ディスク装置 | |
| JPS6145907A (ja) | 平面度検出器 | |
| JPS58220280A (ja) | 磁気ヘツドトラツキング測定方法 | |
| JP3057282B2 (ja) | デジタル記録再生特性評価方法 | |
| JP2580634B2 (ja) | アライメントディスク | |
| JPH0810880Y2 (ja) | フォーマット装置 | |
| JP3151083B2 (ja) | 磁気ヘッドの測定・検査方法及びその媒体 | |
| JPH01201817A (ja) | フロッピーディスク | |
| JP2001176003A (ja) | 磁気ディスクの磁気的欠陥検査方法 | |
| JPH0573873A (ja) | 磁気記録装置のトラツキング装置 | |
| JPS616913U (ja) | デイスク型記録媒体テスタ | |
| JPS62234221A (ja) | 磁気デイスク駆動装置のトラツキング調整装置 | |
| JPH03292661A (ja) | 磁気記録再生装置の調整装置 | |
| JPH02126412A (ja) | 磁気記録再生装置の調整方法 | |
| JP2000285446A (ja) | 磁気記録媒体の熱的安定性測定方法及び熱的安定性測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |