JPS59192906A - 表面検出方法 - Google Patents

表面検出方法

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Publication number
JPS59192906A
JPS59192906A JP6738583A JP6738583A JPS59192906A JP S59192906 A JPS59192906 A JP S59192906A JP 6738583 A JP6738583 A JP 6738583A JP 6738583 A JP6738583 A JP 6738583A JP S59192906 A JPS59192906 A JP S59192906A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
computer
detected
image
digital signal
contents
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6738583A
Other languages
English (en)
Inventor
Harumasa Toda
遠田 治正
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP6738583A priority Critical patent/JPS59192906A/ja
Publication of JPS59192906A publication Critical patent/JPS59192906A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、被検出一体の表面に現われる変化、例えば
き裂や損傷などを疲労試験やクレープ試験などの被検出
体の本来の動作を中断することなく検出する表面検出方
法に関するものである。
従来、この種の方法としては、アコースティックエミッ
ションを利用してき裂発生直前に急増する音波を捕える
方法や、き裂の発生前後で電気抵抗が変化することを利
用した方法などが行なわれてきた。しかし、前者の方法
は、検出対象毎のき裂発生直前の音波の増加状況を判断
するために経験を要し、一般に採用することは困難であ
った。
また、後者の方法は、き裂の発生直後は電気抵抗の変化
が小さく、き裂がかなり成長した後でなければ事実上検
出できなかった。その他の方法として、き装発生前後で
コンプライアンス(1/バネ定数)が変化することを利
用した方法や、最も原始的な方法としては目視による方
法があるが、コンプライアンスを利用する方法は上記電
気抵液を利用する方法と同様の欠点を有し、目視による
方法は人力の頻繁な介入が必要とするほか、他の方法に
比べて観察者の主観がより一層混入しやすいという欠点
を有していた。
この発明は上記のような従来の方法の欠点を除去するた
めになされたもので、被検出体の画像を集光レンズとイ
メージセンサにより、所定時間毎にデジタル信号に変換
する手段、上記デジタル信号を記録する手段、上記所定
時間を隔てた2つの記録内容を比較する手段、及び比較
した結果を表示する手段を備えることにより、試験など
上記被検出体本来の動作を中断することなく、上記被検
自体の表面に現われた損傷、き裂などを客観的かつ迅速
に検出することを目的としている。
以下、この発明の一実施例を図をもとに説明する。
図面は、この発明の一実施例を説明するブロック図であ
り、図において、(1)は試験片などの被検出体、(2
)は集光レンズ、(3)は集光レンズ(2)により集光
さオtた被検出体(1)の画像をデジタル信号に変換す
るイメージセンサ、(4)は上記デジタル信号を記録す
る手段、すなわち磁気ディスクであり、磁気ヘッド(図
示せず)を介して書き込み、読み出しを行なう。(6)
は計算機(CPU) であり、所定時間毎にイメージセ
ンサ(3)を操作して、被検出体(1)の画像をデジタ
ル信号に変換すると共に、入力回路(5)を通じて入力
された上記画像の内容をメモリ(7)に記録された内容
と比較し、その結果を出力回路(8)を通じて出力する
。(9)は表示装置であり、出力回路(8)からの上記
比較結果を表示する。
次に動作について説明する。被検出体(1)の全体また
は損傷やき裂が発生すると予測される部分を、あらかじ
め計算機(6)に入れたタイムスケジュールに従った間
隔で、集光レンズ(2)およびイメージセンサ(3)に
より撮影し、画像のデジタル信号を得る。
この結果は、順次図示されない磁気ヘッドを介して磁気
ディスク(4)に記録される。
このようにして得られた、所定時間を隔てた2つの記録
内容を図示されない磁気ヘッドを介して読み取り、入力
回路(5)を通じて計算機(6)により比較する。この
比較結果は出力回路(8)を経て表示装置(9)へ導か
れる。この比較結果を試験機などに導くことにより、試
験など被検出体(1)自体の動作を中断させることも可
能である。また、入力口m (5)を通じて計算機(6
)に入力された磁気ディスク(4)の記録内容は、メモ
リ(7)で記録させ、磁気ディスク(4)からの新しい
情報とメモ1月7)の記録内容とを計算機(6)で比較
することも可能である。
なお、上記実施例は、この発明による方法を実施するた
めの一例にすぎず、例えばメモリ(7)は無くてもよく
、磁気ディスク(4)も他のもので代用可能であるなど
、この発明は上記実施例に限られるものではない。
以上のように、この発明によれば、被検出体の画像を集
光レンズとイメージセンサにより、所定時向毎にデジタ
ル信相に変換する手段、上記デジタル信号を磁気ディス
クに記録する手段、上記磁気ティスフの所定時間を隔て
た2つの記録内容を比較する手段、及び比較した結果を
表示する手段を備えたので、試験など上記被検出体本来
の動作を中断することなく、上記被検出体の表面に現わ
れた損傷、き裂などを客観的かつ迅速に検出することが
可能となる効果がある。
【図面の簡単な説明】
図面はこの発明の一実施例を説明するブロック図である
。 図において、(1)は被検出体、(2)は集光レンズ、
(3)はイメージセンサ、(4)は磁気ディスク、(5
)は入力回路、(6)は計算機、(7)lよメモリ、(
8)は出方回路、(9)は表示装置である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検出体の画像を集光レンズとイメージセンサにより、
    所定時間毎にデジタル信号に変換し、上記′デジタル信
    号を記録媒体に記録し、上記所定時間を隔てた2つの記
    録内容を比較して比較結果を表示する表面検出方法。
JP6738583A 1983-04-15 1983-04-15 表面検出方法 Pending JPS59192906A (ja)

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JP6738583A JPS59192906A (ja) 1983-04-15 1983-04-15 表面検出方法

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Publication Number Publication Date
JPS59192906A true JPS59192906A (ja) 1984-11-01

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ID=13343478

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JP6738583A Pending JPS59192906A (ja) 1983-04-15 1983-04-15 表面検出方法

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JP (1) JPS59192906A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61228329A (ja) * 1984-12-18 1986-10-11 Kawasaki Steel Corp デジタル画像処理を用いた丸棒引張試験片の絞り値自動測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61228329A (ja) * 1984-12-18 1986-10-11 Kawasaki Steel Corp デジタル画像処理を用いた丸棒引張試験片の絞り値自動測定装置

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