JPH02264901A - フッ化マグネシウム膜及び低反射膜の製造方法 - Google Patents

フッ化マグネシウム膜及び低反射膜の製造方法

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JPH02264901A
JPH02264901A JP1085740A JP8574089A JPH02264901A JP H02264901 A JPH02264901 A JP H02264901A JP 1085740 A JP1085740 A JP 1085740A JP 8574089 A JP8574089 A JP 8574089A JP H02264901 A JPH02264901 A JP H02264901A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はブラウン管パネル等に適用されるMgF2膜の
製造方法及び低反射膜の製造方法に関するものである。
[従来の技術] 低反射膜のコーティング法は従来より光学的機器におい
てはいうまでもな(、民生用機器特にTV、コンピュー
タ端末の陰極線管(CRT)に関し多(の検討がなされ
てきた。
従来の方法は例えば特開昭61−118931号記載の
如くブラウン管表面に防眩効果をもたせる為に表面に微
細な凹凸を有する5L02層を付着させたり、弗酸によ
り表面をエツチングして凹凸を設ける等の方法が採られ
てきた。しかし、これらの方法は外部光を拡散反射させ
るノングレア−処理と呼ばれ、本質的に低反射層を設け
る手法でない為、反射率の低減には限界があった。
また安定な低屈折率物質であるMgFzを真空蒸着等物
理的な手段によってレンズ、ガラス表面に付着させる試
みも行なわれているが、この方法では装置費が高(、或
いはCRT完成球の様な大きな被付着物を真空チャンバ
ー内に収納するのが困難であるという欠点があった。
[発明の解決しようとする課題] 本発明の目的は従来技術が有していた前述の欠点を解決
し、化学的手法により簡便で安定且つ優れた低反射特性
を有するMgFz膜の製造方法を新たに提供することに
よる。
[課題を解決するための手段] 本発明は、前述の問題点を解決すべくなされたものであ
り、Mg塩とBFs 錯塩との反応により生成されたM
gF zゾルを含む溶液を基体上に塗布した後加熱する
ことを特徴とするMgFz膜の製造方法、及びMg塩と
BF、錯塩との反応により生成されたMgFzゾルを含
む溶液に珪素化合物を混入した溶液を、基体上に塗布し
た後加熱することを特徴とするMgFz膜の製造方法を
提供するものである。
本発明においてはMg塩(但しフッ素を含まない)と、
フッ素化剤として作用するBF3錯塩によってMgF2
が生成すると考えられ、この反応は上記Mg塩及びBF
s錯塩の出発物質を分散或いは溶解させることによって
進行し、更に加熱することによって反応速度を増大させ
ることができる。
出発物質のMg塩としては種々のものが可能であり、例
えば一般式MgX2(X=フッ素を除くハロゲン元素)
で示されるハロゲン化物すなわちM g (:1 z 
+ M g B r 21 M g I を等が好まし
く、特にMgC1zが好ましい。この場合原料は無水物
、水和物何れを用いても効果に影響は無い。
またMgの水酸化物、炭酸塩、硫酸塩、硝酸塩、過塩素
酸塩、酢酸塩も好ましく使用可能である。
また一般式Mg(OR) a (R:アルキル基)で示
されるMgアルコキサイド、また有機酸塩を用いろこと
ができ、上述の酢酸塩を含めギ酸、シュウ酸、安息香酸
等のカルボン酸の塩が使用できる。またアセチルアセト
ン錯体な用いることも好ましく使用可能である。
また、BFI錯塩としては種々のものが使用可能である
が、好ましくはアルキルエーテル錯塩、アルコール錯塩
、水溶液錯塩が挙げられ、特に好ましくはエチルエーテ
ル錯塩、メタノール錯塩、エタノール錯塩、酢酸錯塩、
フェノール錯塩が挙げられる。
溶媒としては特に限定されないが、水、水溶液、アルコ
ール、エステル、エーテル、或いはプロピレンカーボネ
ート、γ−ブチロラクトン等有機高誘電率溶媒が使用可
能である。
又、出発物質の溶媒中での安定性も考慮すると、溶媒と
しては、アルコール、特にメタノール、エタノール、プ
ロパツール、ブタノール等が好ましい。
出発物質は前記Mg塩とBF3錯塩のモル比がl:2〜
4:1の範囲特には1:1.〜2:1の範囲が好ましく
、また前記出発物質は溶媒に対して1〜30wt%含ま
れていることが好ましい。
本発明に於けるMgF 2を製造する反応は室温でも起
こり得るが、反応速度を高める為に溶媒の沸点温度以下
の温度、即ちアルコールの場合約100℃以下まで加熱
することも可能である。また反応時間は加熱温度により
異なるが、100〜6時間、例えば85℃の場合約1時
間で、反応は概ね終了し、MgFzゾルが生成する。
本発明においてはMg塩、BFs錯塩の種類、濃度、溶
媒種類更に加熱温度、時間を最適化することによって所
望粒径及び粒径分布をもったMgFzゾルを含む溶液を
製造し得る。
また本発明に於いて反応が終了した溶液はそのまま基体
上への塗布液として供し得るが、出発物質の溶解度が低
く溶液中に残存する場合または生成したMgF a粉だ
け採取し、他の物質と混合する際は反応液を濾過し、得
られたMgFz粉を適当な溶媒中でボールミル、サンド
ミル、ホモミキサー、スターラー等の装置によって再び
解膠させて使用することも可能である。
又、本発明において用いる溶液には、膜の付着強度及び
硬度を向上させるためにバインダーとして5L(OR)
x’Rx−4(X = 3 、4、Rはアルキル基)等
を添加してSiO□を同時に析出させたり、又、基体と
のぬれ性を上げる為の界面活性剤として種々のものが使
用し得るが、例えば直j貞アルキルベンゼンスルホン ルキルエーテル硫酸エステル等を添加してもよい。
又、導電性付与を目的として、導電性を有する金属酸化
物(例えばSnO□,Snを含むInaOs(ITO)
等)を形成し得る金属(例えば、Sn, In等)のア
セチルアセトネート、アルコキシド等の有機金属塩、ハ
ロゲン化物、酢酸塩、硝酸塩あるいはキレート化合物な
どの金属塩を、本発明において用いるMg塩とBF.錯
塩を含む液体に添加し、SnOzやSnを含むIn20
a (ITO)等の導電性酸化物微粉を同時に析出させ
ることも可能である。
また別途調製したSb−SnO□(SbをドープしたS
nO2)、 SnOP, FをドープしたSnOz或い
はITO等の導電性酸化物微粉を分散させたコロイド液
を調製して用いることも好ましく可能である。
本発明における含MgFiゾル溶液は前述の如くそれ自
体で基体上の塗布液として供し得る為、低沸点の溶媒を
用いた場合、室温下での乾燥で均一なMgFz膜が得ら
れるが、高沸点溶媒を用いた場合或いは膜の強度を向上
させたい場合、塗布済基板を加熱することも可能である
加熱温度の上限は通常は基板に用いられるガラス、プラ
スチック等の軟化点によって決定される。この点も考慮
すると、好ましい温度範囲は100〜400℃である。
膜の基板上への付着法はスピンコード法、デイツプ法、
スプレー法、ロールコータ−法、メニスカスコーター法
等種々考えられるが、特にスピンコード法は量産性、再
現性に優れ好ましく採用可能である。かかる方法によっ
て0.01〜1μm程度の膜厚のMgFz膜を形成可能
である。
本発明に於けるMgFz膜及びMgFzを含む低反射膜
は、ブラウン管(CRT)等の陰極線管のパネル、複写
機用ガラス板、計器用パネル、クリーンルーム用ガラス
、CRTあるいはLCD等の表示装置の前面板や前面パ
ネル等のガラス物品に施される。また、その他基体材料
としては、特に限定されるものではなく、目的に応じて
ソーダライムシリケートガラス、アルミノシリケートガ
ラス、硼珪酸塩ガラス、リチウムアルミノシリケートガ
ラス、石英ガラスなどのガラス、鋼玉等の単結晶、マグ
ネシア、サイアロン等の透光性セラミックス、ポリカー
ボネート等のプラスチックなどが使用できる。
本発明のMgFz膜の製造方法は、MgF2膜を含む多
層の低反射膜の製造にも応用できる。反射防止性能を有
する多層の低反射膜の構成としては、反射防止したい波
長をんとして、基体側より、高屈折率層−低屈折率層を
光学厚みλ/2−λ/4或いはん/4−λ/4で形成し
た2層の低反射膜、基体側より中屈折率層−高屈折率層
−低屈折率層を光学厚みλ/4−ん/2−λ/4で形成
した3層の低反射膜、基体より低屈折率層−中屈折率層
一高屈折率層一低屈折率層を光学厚みん/4−λ/4−
λ/2−λ/4で形成した4層の低反射膜等が典型的な
例として知られており、本発明においては、低屈折率層
としてMgF2膜(n=1、 38)を用いた多層の低
反射膜を製造することも可能である。
又、ブラウン管(パネル)や前面パネル等において指摘
されている、CRT動作中に発生する静電気により表面
が帯電し、人体との間で放電を起こしたり、はこりが吸
着しやすいという問題の解決策として、低反射膜の一層
を透明で導電性を有する材料で構成したものが知られて
いるが、かかる導電性を有する低反射膜の製造にも適用
できる。例えば基体/SnO□/MgFz、基体/ I
TO/ MgFx等の低反射膜も形成できる。
また膜の強度、硬度を向上させる為に例えば基体/Sn
O□/MgF2−5iO□等の膜構成も可能である。ま
た基体/ MgFz−Si02、基体/ MgFz−3
iO□−3no2の膜構成が可能であり、この場合1層
のみの塗布で済む利点がある。
また、MgFxゾル溶液をスプレー法等で表面に凹凸を
有するよう塗布し、加熱して防眩膜としても良く、その
場合導電膜上に前記防眩膜を形成しても良く、5nOz
やInaOsを混入して帯電防止効果も合わせて付与し
ても良い。
[作 用] 本発明においては、前述の如<Mg塩に対してBF3錯
塩がフッ素化剤として働き、すなわちMg塩としてMg
Cl2を用いた場合には下式の反応が進行する。
3 MgCl2+ 2 BF4−3 MgFz+ 2 
BCl3  ↑但し、右辺のBCI 3は1部ホウ素の
酸化物の形で膜中に残るものもあるが、膜の特性上はほ
とんど影響ない。また、左辺のものも各々未反応で1部
残るものもあるが、同様にほとんど影響ない。
[実施例] 実施例1 エタノール 100gにMgC1,−6H200,05
mol、BF、エタノール錯塩0.033mol添加し
完全に混合溶解させた溶液を還流冷却器付フラスコに入
れ、85℃で1時間反応させた。
上記反応液を室温迄冷却させた後ガラス基板上に滴下し
、更にスピンコーターで回転数3000rpmでコーテ
ィングした。このガラス基板を空気中200℃で30分
間焼成して950人のMgFa膜を形成した後、波長3
60〜700 (nm)に於ける片面反射率、表面抵抗
、及び膜強度を評価した。
実施例2 焼成温度を150℃として1150人のMgFa膜を得
た以外は実施例1と同様に行った。
実施例3 実施例1における反応液20gと別途調製した5L(O
CJs)4をエタノールにSiO□換算で3重量%添加
した溶液20gを混合し1050人厚のMgFa−Si
O□膜を形成した以外は実施例1と同様に行った。
実施例4 実施例1におけろ反応液10gと、3i(OGtlig
)4をエタノールにSi島換算で3重量%添加した溶液
10g、更に5b(OC,H8) 、−3n(OC,H
8)4(SbのSnに対する比=15mo1%)をSS
b−5no換算で3重量%エタノールに添加した溶液1
0gを混合し1000人厚のMgFz−3iOz−3b
−SiOx膜を形成した以外は実施例1と同様に行った
実施例5 メタノール、水から成る溶媒(体積比1:l)に対し5
nC14,5bC1zをsbのSnに対する比15 m
o1%且つ5b−3n02換算で3重量%となる様に添
加し、溶解した溶液をガラス基板上に滴下し、スピンコ
ーターで回転数300Orpmでコーティングした後、
空気中400℃で30分間焼成して1100人の5b−
SiOx膜を形成した。次に実施例1と全(同様な方法
で950人のMgFa膜を形成し、ガラス/5b−Sn
o2/MgFzの膜構成とした以外は実施例1と同様に
行った。
実施例6 実施例5と全(同様な方法で1100人厚の人厚−30
02膜そ形成、更に実施例3と金≦同憬な方法で105
0人厚のMgFi−3tO□膜を形成し、ガラス/5b
−3nO2/MgF2−3iO2の膜構成とした以外は
実施例1と同様に行った。
実施例7 実施例1における反応液10gと、15 mo1%sb
ドープ5no2微粉(平均粒径〜0.02gm)をエタ
ノールに3重量%添加、分散させた溶液10gを混合し
、1000人厚のMgF2−5b−3nOz膜を形成し
た以外は実施例1と同様に行った。
実施例8 実施例1における反応液10gに、15 mo1%sb
ドープ5nOz微粉(平均粒径〜0.02μm)をエタ
ノールに3重量%添加、分散させた溶液10gと、5i
(OCJs)4をエタノールにSiO□換算で3重量%
添加した溶液Logを混合し、1050人厚のMgFa
−3b−Sn02−3iOi膜を形成した以外は実施例
1と同様に行った。
比較例 未処理のガラス基板の片面反射率、表面抵抗を実施例1
と同様に評価した。
具体的な試験方法は以下の通りである。
反射率:島津製作所製自動分光光度計を用いて波長55
0 (nm)に於ける片面反射率を測定した。
表面抵抗:三菱油化製表面抵抗計を用いて測定した。但
し、実施例5,6の場合は、 2層膜を合わせて計測したものであ る。
強 度ニライオン事務器製No、 50−50消しゴム
を用いて1kg荷重で膜表面を最高100往復擦り、膜
はがれ(ガラス面に目視で 確認できる傷の発生)が50往復以下で生じた場合×、
50〜100往復で生じた場合△、100往復で生じな
かった場合Oで表示した。
結果を第1表に示した。
第  1  表 [発明の効果] 本発明によればMg塩とBF、錯塩との反応により生成
されたMgFzゾルを含む溶液を基体上にスプレー又は
スピンコード、或いは溶液中に基体を浸漬するなどの簡
便な方法により、効率良く、優れたMgFa膜及びMg
Fa膜を含む低反射膜を提供することが可能となる。
本発明は、生産性に優れ、かつ、真空を必要としないの
で装置も比較的簡単f、zもので良い。
特にCRTのパネルフェイス面等の大面積の基体にも十
分適用でき、量産も可能であり、工業的価値は非常に高
い。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)Mg塩とBF_3錯塩との反応により生成された
    MgF_2ゾルを含む溶液を基体上に塗布した後加熱す
    ることを特徴とするMgF_2膜の製造方法。
  2. (2)Mg塩とBF_3錯塩との反応により生成された
    MgF_2ゾルを含む溶液に珪素化合物を混入した溶液
    を、基体上に塗布した後加熱することを特徴とするMg
    F_2膜の製造方法。
  3. (3)Mg塩とBF_3錯塩との反応により生成された
    MgF_2ゾルを含む溶液に導電性酸化物微粉または導
    電性酸化物微粉を形成し得る金属塩を添加した溶液を、
    基体上に塗布した後加熱することを特徴とするMgF_
    2膜の製造方法。
  4. (4)Mg塩が一般式MgX_2(X=フッ素を除くハ
    ロゲン元素)で示されるハロゲン化物から選ばれる少な
    くとも1種の塩よりなる請求項1〜3項いずれか1項記
    載のMgF_2膜の製造方法。
  5. (5)基体上に単層、又は多層膜からなり、そのうち少
    なくとも一層がMgF_2膜である低反射膜を形成する
    方法であって、該MgF_2膜とBF_3錯塩との反応
    により生成されたMgF_2ゾルを含む溶液を基体上に
    塗布した後加熱することにより形成することを特徴とす
    る低反射膜の製造方法。
  6. (6)請求項1〜5項いずれか1項記載のMgF_2膜
    または低反射膜を形成したガラス物品。
  7. (7)請求項1〜5項いずれか1項記載のMgF_2膜
    または低反射膜を形成した陰極線管。
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