JPH02243908A - プローブユニット,該プローブの駆動方法及び該プローブユニットを備えた走査型トンネル電流検知装置 - Google Patents

プローブユニット,該プローブの駆動方法及び該プローブユニットを備えた走査型トンネル電流検知装置

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JPH02243908A
JPH02243908A JP1273041A JP27304189A JPH02243908A JP H02243908 A JPH02243908 A JP H02243908A JP 1273041 A JP1273041 A JP 1273041A JP 27304189 A JP27304189 A JP 27304189A JP H02243908 A JPH02243908 A JP H02243908A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は走査型トンネル顕微鏡またはその原理を応用し
た高密度記録再生装置等の走査型トンネル電流検知装置
用のプローブユニット及び該プローブユニットに適した
プローブの駆動方法、該プローブユニットを備えた走査
型トンネル電流検知装置に関するものである。
〔従来の技術〕
走査型トンネル顕微鏡(以下STMと略す)は先鋭な導
電性プローブを試料表面に数nm以下に近接させた時に
、その間の障壁を通り抜けて電流が流れるトンネル効果
を利用したもので、既に周知である。[G、B1nn1
g  et  al、、 He1vetica  Ph
ysicaActa、 55.726 (1982)、
米国特許第4343993号明細書etc、] このプローブと試料表面間に電圧をかけて数nm以下に
接近させた時に流れるトンネル電流は、その距離に対し
て指数関数的に変化するのでトンネル電流を一定に保ち
プローブを試料表面(XY力方向に沿ってマトリクス走
査することにより、表面状態を原子オーダーの高分解能
で観察することができる。
また、このSTMの原理を応用して高密度な記録再生装
置が特開昭63−161552号公報、特開昭63−1
61553号公報に提案されている。これはSTMと同
様のプローブを用いてプローブと記録媒体間にかける電
圧を変化させて記録を行うもので、記録媒体として電圧
−電流特性においてメモリー性のあるスイッチング特性
を有する材料、例えばカルコゲン化物類、π電子系有機
化合物の薄膜層を用いている。又再生はその記録を行っ
た部分とそうでない部分のトンネル抵抗の変化により行
っている。
この記録方式の記録媒体としては、プローブにかける電
圧により記録媒体の表面形状が変化するものでも記録再
生が可能である。
従来、プローブの形成手法として、半導体製造プロセス
の技術を使い、一つの基板上に微細な構造を作る加工技
術[K 、 E 、 P e t e r s o n
″5iliconas a Mechanical M
ateria+”、 Proceedingsof  
the  IEEE、 70 (5)、 420−45
7 (1982)]を利用し、このような手法により構
成したSTMが特開昭61−206148号公報に提案
されている。これは単結晶シリコンを基板として微細加
工により、XY力方向微動できる平行バネを形成し、さ
らにその可動部にプローブを形成した舌状部を設け、舌
状部と底面部に電界を与え静電力により基板平面と直角
な方向(Z方向とする)に変位するように構成されてい
る。
又、特開昭62−281138号公報には、特開昭61
206148号公報に開示されたのと同様の舌状部をマ
ルチに配列した変換器アレイを備えた記憶装置が記載さ
れている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら従来例の片持ち梁構造では、(1)プロー
ブは片持ち梁の先端に設けられているため、動作時の温
度変化により、片持ち梁が熱膨張により長手方向に伸縮
したり、片持ち梁材材とその表面に設けられた電極の材
料の熱膨張率の差により変形し、プローブの位置が微小
にずれる傾向があった。
(2)プローブを形成した片持ち梁は製造時の内部応力
により、反りやねじれが生じ易く、精度良(形成するこ
とは難しい。又、経時変化により内部応力が緩和して変
形し易い。
そのため片持ち梁では、原子レベルの精密な位置制御が
要求されるプローブの駆動機構としては不充分である。
例えば、前記の特開昭62−281138号公報に開示
されているような、片持ち梁をマルチに配列した場合、
プローブ相互の位置関係を精度良く保つことが要求され
るが、片持ち梁ではその要求を満たすことは難しかった
(3)上記従来例では、基板に単結晶シリコンを用いた
微細加工により製造されており、基板が従来のものに限
定されると共に製造工程が多く長時間を要するため高価
になるという欠点があった。
(4)さらにプローブの駆動の構成としてXY力方向微
動する平行ヒンジ上に複数のプローブが載っているので
各々のプローブをZ方向に駆動する時、その平行ヒンジ
の剛性が少ないとその静電力により振られ、Z方向の動
きがXY力方向動きに影響を与え、各々のプローブに相
互干渉が生じたりすることがあった。
そこで、本発明の目的は、上述した従来例の欠点を克服
し、とりわけプローブをマルチに配列して使用する際に
、動作時の温度変化による影響をほとんど受けることな
く、原子レベルでの精密な位置制御を可能とするプロー
ブユニットを提供することにある。
又、本発明の目的は、製造時に反りやねじれが出に((
精度良く作成できるプローブユニットを1是供すること
にある。
又、本発明の目的は、該プローブに適した駆動方法も提
供することにある。
さらに本発明の目的は、小さく設計され、低電影響を受
けにくく安定な走査を行うことが可能な走査型トンネル
電流検知装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記の目的は以下の本発明によって達成される。
即ち本発明は、基板、基板上に形成された橋状の可撓部
、そして該可撓部に設けられたプローブとを有するプロ
ーブユニットであって、該プローブユニットにさらに前
記プローブを基板面と垂直方向に変化させる駆動手段を
有することを特徴とするプローブユニットである。
又本発明は、基板、基板上に形成された第1の電極、該
第1の電極と空洞部により絶縁され基板上に形成されて
いる橋状の可撓部及び該可撓部に設けられたプローブと
を有するプローブユニットであって、該可撓部が第2の
電極層、絶縁層、プローブに電圧を印加するための電極
層を有する積層体で構成されていることを特徴とするプ
ローブユニットであり、かかるプローブユニットに対し
、該第1の電極と、第2の電極間に電圧を印加すること
により、静電気力で、該プローブを基板面と垂直方向に
移動させることを特徴とするプローブの駆動方法である
更に本発明は、基板、基板上に形成された第1の電極、
該第1の電極上に形成された圧電体層、基板上に形成さ
れている橋状の可撓部、及び可撓部に設けられたプロー
ブとを有するプローブユニットであって、該可撓部が第
2の電極層、絶縁層、プローブに電圧を印加するための
電極層を有する積層体で構成されており、前記第1の電
極と第2の電極層はそれぞれ該圧電体層をはさんで対向
位置に接して形成されていることを特徴とするプローブ
ユニットであり、かかるプローブユニットに対し、該第
1の電極と第2の電極間に電圧を印加することにより、
圧電効果で該プローブを基板面と垂直方向に移動させる
ことを特徴とするプローブの駆動方法である。
本発明は、基板、基板上に形成された橋状の可撓部及び
該可撓部に設けられたプローブとを有するプローブユニ
ットであって、該可撓部が、梁構造体層、第1の電極層
、圧電材料層、第2の電極層、絶縁層、プローブに電圧
を印加する電極層の積層体で構成されていることを特徴
とするプローブユニットであり、かかるプローブユニッ
トに対し、該第1の電極と第2の電極間に電圧を印加す
ることにより、圧電効果で該プローブを基板面と垂直方
向に移動させることを特徴とするプローブの駆動方法で
ある。
本発明は、基板、基板上に形成された橋状の可撓部及び
該可撓部に設けられたプローブとを有し、該プローブを
基板に対して変位させるための駆動機構を有するプロー
ブユニット、該プローブと測定される試料との間の距離
を調整する手段及び該プローブと試料との間に電圧を印
加する手段とを倫えたことを特徴とする走査型トンネル
電流検知装置である。
本発明でいう、橋状の可撓部とは、可撓部分の両端が基
板上に固定された両端固定はり構造となっている。
そして前記可撓部は具体的には電極層、絶縁層、プロー
ブに電圧を印加するための電極層を少なくとも有する積
層体から構成されており、該積層体が少な(とも2つ以
上の支持体で基板に接続されている構造となっている。
可撓部分の形状は任意でよい。
プローブが基板上に形成された可撓部上に形成されてい
るため、該可撓部における固有振動数を高くすることに
より、外部の振動の影響を少なくして、該プローブを走
査させることができる。
また、本発明の構造のプローブユニットは、基板上に電
極層、絶縁層、プローブに電圧を印加するための電極層
の各層を積層させた後、フォトリソグラフィー技術を用
いて加工、エツチング処理をして得られるため、プロー
ブユニット製造時に、可撓部に反りやねじれが生じるこ
とのないプローブユニットが提供できる。
一方、本発明のプローブユニットに適した駆動手段とし
ては、静電力を利用した駆動手段と圧電効果を利用した
駆動手段が挙げられるが、圧電効果を利用した駆動手段
の方がプローブのストロークを大きくすることができる
ため、とりわけ好ましい。
上記各プローブユニット及び駆動方法を、以下実施例で
詳しく説明する。
〔実施例1〕 本発明の実施例について図面を参照して説明する。第1
図及び第2図は本発明のプローブユニットの実施例を説
明するための断面図及び平面図であり、基板1の上に下
部電極2が設けられており、さらに支持体3が下部電極
2の上部及び近傍に於いてエツチングされており、空洞
部8を有している。それにより上部電極4、絶縁膜5、
及びプローブ電極材料6が橋状に形成されている。さら
にプローブ電極上にはトンネル効果による電流を検知す
るプローブ7が設けられている。ここでプローブの位置
は橋の支持体3から等しい距離に設定されている。プロ
ーブ7を基板平面に対して垂直方向に駆動する力は静電
力であり、下部電極2及び上部電極4に電圧を加える事
により変位させるものである。又、プローブの変位機構
は橋状の両持ちぼりで構成されているため真に基板面に
対して垂直に変位可能である。
又、絶縁膜5はトンネル電流が生じるプローブ7及びプ
ローブ7と導通をとるためのプローブ電極6と上部電極
4との絶縁をとるために設けられている。
例えば橋の長さが200μmであり、幅が20μmであ
り、厚さが1μm程度で電極間距離が3μmであった場
合に前述の下部と上部電極間に50Vの電圧を印加する
と、基板面に対し垂直(Z軸)方向に1μm程度の変位
を生じることができる。又この構造にすると可撓部にお
ける共振周波数は200 K Hzと高い値を示すよう
になり、該可撓部を有するプローブは外部の振動の影響
を少なくして走査することができる。
本構造のプローブユニットの駆動法は、具体的に以下の
ようになる。
最初に数10Vのオフセット電圧を与えておき、その電
圧を小さくすると、橋状の両持ちぼり上のプローブは弾
性により復帰し、Z軸方向に突出する方向に移動し、逆
に電圧を増してゆくと吸引力がさらに強まりプローブは
引っ込む方向に移動することで、Z軸方向への駆動が可
能となる。
次に、第3図を用いて第1図、第2図に示したプローブ
ユニットの形成工程について説明する。
まず板厚]、 、 l m mのコーニング社製705
9ガラスを基板1とし、これに真空蒸着法によりクロム
を0.1μm堆積し、フォトリソグラフィー技術を用い
て加工することにより、下部電極2を形成した。
(工程a) 次に支持体3として銅、及び上部電極4としてチタン、
及び絶縁膜10としてシリコン酸化膜、及びプローブ電
極11としてチタン及びプローブ材料9としてタングス
テンを連続スパッタ法により各銅3.0μm、チタン0
.2 μm、シリコン酸化膜0.6μm1チタン0.2
μm1タングステン3.0μm堆積させた。(工程b) 次にフォトリソグラフィー技術を用いることにより、上
述工程すの連続5層膜を順次、フッ化水素酸系エツチン
グ液により第2図の上部電極4のパターン状に加工した
。続いてフォトリソグラフィー技術により下部電極2の
上部以外をフォトレジストで覆い、支持体3の銅を塩酸
系エツチング液により、オーバーエツチングさせ空洞部
8を形成した。(工程C) ここで本実施例では支持体3は銅を用いているため、下
部電極2と絶縁がとれるようにパターン、あるいはオー
バエッチ状態を制御する必要がある。但し支持体3が絶
縁体の場合はこの限りではない。
次に、フォトリソグラフィー技術を用いて、プローブ電
極11を第2図の6のパターンに加工した。
続いてフォトリソグラフィー技術を用いて絶縁膜1oを
第2図の5のパターンに加工した。さらにフォトリソグ
ラフィー技術を用いてプローブ材料9を苛性ソーダと赤
血塩系のエツチング液でオーバーエッチさせタングステ
ンのプローブ7を形成して、プローブユニットを得た。
上述したプローブユニットはフォトリソグラフィー技術
と真空成膜技術を用いて形成されるもので有り、基板に
於いても安価な材料が使用でき、又大量に作製できるも
のである。さらに上部電極と下部電極間に電圧を印加す
る手段を有すると、該プローブユニットには、各プロー
ブごとにZ方向の変位機構が設けられることになり、試
料の凹凸やプローブ形成時の高さのずれを個別に調整で
きるようになる。又両持ぼりタイプのため基板平面に対
して真に垂直に変位ができること、さらに極めて高い共
振周波数を持っているというメリットがある。
〔実施例2〕 次に、第2の実施例について説明する。
第4図及び第5図は本発明のプローブユニットの第2の
実施例を説明するための断面図及び平面図であり、基板
Iの上に支持体43が設けられており、支持体43は空
洞部49を有し、その空洞部に基板1と接して、下部電
極42と圧電体層44が設けられている。さらに、支持
体43と圧電体層44上に上部電極45、絶縁膜46、
プローブ電極47が橋状に形成されている。さらにプロ
ーブ電極上には、トンネル効果による電流を検知するプ
ローブ7が設けられている。ここでプローブの位置は橋
の支持体から等しい距離に設定されている。プローブ7
を基板平面に対して垂直方向に駆動させるには、上部電
極45と下部電極42に電圧を印加し、圧電体層44を
変位させればよい、上部電極と下部電極の正負をかえる
ことによりZ軸方向の上下変動が可能となる。又、プロ
ーブの変位機構は橋状の両持ちぼりで構成されているた
め真に基板面に対して垂直に変位可能である。
又、絶縁膜46はトンネル電流が生じるプローブ7及び
プローブ7と導通をとるためのプローブ電極47と上部
電極45との絶縁をとるために設けられている。
例えば橋の長さが200μmであり、幅が20μmであ
り、厚さが11.tm程度で圧電体層高さが3μmであ
った場合に上部電極と下部電極間に30Vの電圧を印加
すると、Z軸方向に1μm程度の変位を生じることがで
きる。
次に、第6図を用いて第4図及び第5図に示したプロー
ブユニットの形成工程について説明する。第6図は第5
図a−aの製造工程断面図を示す。まず、板厚1.1m
mのコーニング社製7059ガラス を基板1とし、こ
れに真空蒸着法によりクロムを0.1μm堆積し、フォ
トリソグラフィー技術を用いて加工することにより、下
部電極42を形成した。
(工程a) 次に支持体43.44として圧電材料であるA42Nを
、RFマグネトロンスパッタ法を用いて、膜厚3μmを
形成した。この時の条件は、ターゲットA I!N、背
圧10〜7 アルゴン圧力5X10−”torr(N2
50%)、RFパワー5W7’crd、基板温度350
℃であった。
さらに、支持体43.44上に上部電極45としてチタ
ン、絶縁膜46としてシリコン酸化膜、プローブ電極4
7としてチタン、プローブ材料48としてタングステン
を連続スパッタ法により各銅3.0μm1チタン0.2
μm1シリコン酸化膜0.6μm1チタン0.2μm1
タングステン3.0μm堆積させた。(工程b) 次にフォトリソグラフィー技術を用いることにより、上
述工程すの連続5層膜を順次、フッ化水素酸系エツチン
グ液により第5図の上部電極45のパターン状に加工し
た。
さらにフォトリソグラフィー技術を用いて、プローブ電
極47、絶縁膜46を第5図のパターンに加工した。プ
ローブ材料48についても同様に、第5図のプローブ電
極47のパターンに加工した。その後、空洞部49を得
るために、残したい圧電体層44の両側の空洞部49の
部分のすいたフォトレジスト層61を作成した。(工程
C及びd(cは、平面図dのC−C断面図)) 続いて、フォトリソグラフィー技術を用いて、支持体及
び圧電材料である43.44を、氷酢酸、硝酸水溶液で
、オーバーエツチングさせ、空洞部49を形成した。こ
こで本実施例では支持体43. 44に圧電材料である
AlNを用いているため、下部電極42と絶縁がとれる
ように、また空洞部49の形状を得るためにパターンあ
るいは、オーバーエッチ状態を制御する必要がある。最
後に、フォトリソグラフィー技術を用いてプローブ材料
48を、苛性ソーダと赤血塩系のエツチング液でオーバ
ーエッチさせタングステンプローブ7を形成し、プロー
ブへユニットを得た。(工程e) 〔実施例3〕 本発明の第3の実施例を第7図を用いて説明する。
第7図において。1は基板、3は支持体、8は空洞部で
あり、支持体より上部は、橋状の両持梁70を構成して
いる。両持梁70は、下より梁構造体層71、下部電極
層72、圧電材料層73、上部電極層74、絶縁膜5、
プローブに電圧を印加させる電極層6、トンネル効果電
流の流れる導電性のプローブ7で構成されている。プロ
ーブ7は、両持梁70の中心位置に設けられている。
プローブ7を基板平面に対して垂直方向(Z方向)に駆
動する方法は、圧電材料73の伸縮を用いる。
即ち、分極処理した圧電材料73に下部電極72と上部
電極74から電圧を印加することにより、両持梁を長手
方向に伸ばし梁構造体層71との伸縮差で両持梁をたわ
ませ、プローブ7を駆動する。
第8図は、上記プローブが複数並んで形成されているの
を示すものである。
第9図を用いて第7図に示したプローブユニットの形成
工程について例を示す。
板厚1.1mmのガラス板を基板1とし、これに支持体
3として銅、梁構造体層71としてシリコン酸化膜、下
部電極72としてチタンを連続スパッタ法により各々銅
3.0μm1シリコン酸化膜3μm1チタン0.2μm
堆積させた。次に圧電材料73として窒化アルミニウム
をRFマグネトロンスパッタ法で3μm堆積させた。更
に上部電極74としてチタン、絶縁膜5としてシリコン
酸化膜、プローブに電圧を印加する電極層6としてチタ
ン、プローブ材料75としてタングステンを連続スパッ
タ法により各々チタン0.2μm1シリコン酸化膜0.
6μm1チタン0.2μm1タングステン3.0μm堆
積させた。
(工程a) 次に、フォトリソグラフィー技術を用い、上述工程aの
連続膜のうち、プローブ材料75から上部電極74まで
の4層を順次フッ化水素系エツチング液により第7図(
a)の梁構造体層71のパターン形状に加工した。続い
て圧電材料(窒化アルミニウム)73を氷酢酸硝酸エツ
チング液を用いて、同様に加工した。
更に、下部電極72から支持体3までの3層を順次フッ
化水素系エツチング液により加工した。次にフォトリソ
グラフィー技術により第9図(a)の空洞部8の上部以
外をフォトレジストで覆い、支持体3の銅を塩酸系エツ
チング液でオーバーエツチングを行い空洞部8を形成し
た。(工程b)次にフォトリソグラフィ技術でプローブ
に電圧を印加する電極層6から支持体3までの8層を第
7図(a)のパターンに順次加工した。続いてプローブ
材料75を苛性ソーダと赤血塩系のエツチング液でオー
バーエツチングさせ、タングステンのプローブ7を形成
した。(工程C) 〔実施例4〕 前記実施例1〜3で示されるプローブユニットを用いて
、トンネル電流検知装置に該プローブユニットを組み込
んだ装置について説明する。
第10図は、その装置の断面である。101は本発明の
複数のプローブを備えたプローブユニットで、Z軸粗動
圧電素子103に固定されており、Z方向の粗動を行い
、プローブユニット101を対向する試料102の表面
にプローブにトンネル電流が検知できる距離まで接近さ
せることが出来る。Z軸粗動圧電素子103が固定され
ている固定部材104は、3本の傾き調整ねじ106で
傾きを調整でき、ブローブユニッ) 101と試料10
2表面との平行度を補正する。105は平行ヒンジバネ
ステージで第11図の平面図のように平行ばねを2段に
直交させて組合わせた構造で中央に載せた試料102を
XY力方向自在に移動させることができる。その駆動は
、圧電素子107. 108で行っている。このような
構成にすればプローブユニット101上の各々のプロー
ブに2軸駆動機構がついており、試料102の表面の微
少な凹凸、傾きに対して各々のプローブを独立に動かし
て一定の距離に保ちながら、XY力方向の走査が可能に
なる。
つまり、該実施例では試料側をXY力方向移動させ、プ
ローブはZ方向にのみ可動する構成としているので、X
Y力方向動きをZ方向の動きが相互干渉することなく、
より安定な走査が可能となる。
また、別の構成として第12図の断面図に示すように、
上記平行ヒンジバネステージlO3の替わりに円筒型圧
電素子109を試料102のXY力方向の微動゛ステー
ジとして利用することも出来る。プローブユニット10
1は固定部材110に固定され、円筒型圧電素子109
に取付けられた試料102の表面に対向している。
円筒型圧電素子109の円周表面には電極が図のように
XY力方向対向して4分割されており、対向した電極に
逆極性の電圧を印加すると対向した電極の方向に円筒が
微少に傾き、XY各方向に試料102を微動させること
ができる。また、4分割した電極に同極径の電圧を加え
るとZ方向に円筒は伸縮しZ軸方向の粗微動の役割を果
たし、プローブユニットlO1と試料102を接近させ
ることができる。ここでは傾き補正用の調整ねじを図示
してないが、必要ならば付けることも可能である。
〔発明の効果〕
(1)本発明のプローブユニットは、基板上に設けた橋
状の可撓部の中央にプローブを設けた対称的構造をなし
、しかも可撓部の両端が拘束されているため、動作時の
温度変化による長手方向の熱膨張や可撓部材料と電極材
料との熱膨張率の差に起因する変形を生じることな(、
プローブの位置がずれることはほとんどない。
又、製造時の内部応力による梁の反りやねじれを生ずる
ことなく精度良く形成することができる。
(2)本発明のプローブユニットは、従来例のようにS
i基板に限定されることなく、通常の7059のガラス
基板などを用いることができるので、非常に安価に製造
できる。
(3)プローブユニットの駆動手段として、とりわけ圧
電効果を利用することにより、Z軸方向への駆動力を増
し、橋状構造にしてもZ軸方向に変位量を片持ち梁と同
等に保つことができる。
又、共振周波数を高(することができるので、プローブ
は外部の振動を受けにくく、より高速な走査にも応答す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明の第1の実施例のプローブユ
ニットの断面図及び平面図、 第3図(a)〜(d)は第1図及び第2図のプローブユ
ニットを形成する主要工程図、 第4図及び第5図は第2の実施例のプローブユニットの
断面図及び平面図、 第6図(a)〜(e)は第4図及び第5図のプローブユ
ニットを形成する主要工程図、 第7図は第3の実施例のプローブユニットの断面図及び
平面図、 第8図はプローブユニットを複数配列した説明図、第9
図(a)〜(C)は第7図のプローブユニットを形成す
る主要工程図、 第1O図、第11図、第12図は本発明のプローブユニ
ットをトンネル電流検知装置として使用した構成図であ
る。 l ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・基板2.
42・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・下部電極3.43・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・支持体8、49 9.75 上部電極 絶縁膜 プローブ電極 プローブ 空洞部 プローブ材料 圧電体層 フォトレジスト層 梁構造体 圧電材料 プローブユニット 平行ヒンジステージ 円筒型圧電素子 (Q) 肩 ワ 図 8空彌卸 ぢ 図 8叡清卯 ム

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板、基板上に形成された橋状の可撓部、そして
    該可撓部に設けられたプローブとを有するプローブユニ
    ットであって、 該プローブユニットにさらに前記プローブを基板面と垂
    直方向に変化させる駆動手段を有することを特徴とする
    プローブユニット。
  2. (2)基板、基板上に形成された第1の電極、該第1の
    電極と空洞部により絶縁され基板上に形成されている橋
    状の可撓部及び該可撓部に設けられたプローブとを有す
    るプローブユニットであって、 該可撓部が第2の電極層、絶縁層、プローブに電圧を印
    加するための電極層を有する積層体で構成されているこ
    とを特徴とするプローブユニット。
  3. (3)基板、基板上に形成された第1の電極、該第1の
    電極上に形成された圧電体層、基板上に形成されている
    橋状の可撓部、及び該可撓部に設けられたプローブとを
    有するプローブユニットであって、 該可撓部が第2の電極層、絶縁層、プローブに電圧を印
    加するための電極層を有する積層体で構成されており、 前記第1の電極と第2の電極層はそれぞれ該圧電体層を
    はさんで対向位置に接して形成されていることを特徴と
    するプローブユニット。
  4. (4)基板、基板上に形成された橋状の可撓部及び該可
    撓部に設けられたプローブとを有するプローブユニット
    であって、 該可撓部が、梁構造体層、第1の電極層、圧電材料層、
    第2の電極層、絶縁層、プローブに電圧を印加する電極
    層の積層体で構成されていることを特徴とするプローブ
    ユニット。
  5. (5)基板、基板上に形成された第1の電極、該第1の
    電極と空洞部により絶縁され基板上に形成されている橋
    状の可撓部及び該可撓部に設けられたプローブとを有す
    るプローブユニットで、該可撓部が第2の電極層、絶縁
    層、プローブに電圧を印加するための電極層を有する積
    層体で構成されているプローブユニットに対し、 該第1の電極と、第2の電極間に電圧を印加することに
    より、静電気力で、該プローブを基板面と垂直方向に移
    動させることを特徴とするプローブの駆動方法。
  6. (6)基板、基板上に形成された第1の電極、該第1の
    電極上に形成された圧電体層、基板上に形成されている
    橋状の可撓部、及び該可撓部に設けられたプローブとを
    有するプローブユニットで、該可撓部が第2の電極層、
    絶縁層、プローブに電圧を印加するための電極層を有す
    る積層体で構成され、 さらに前記第1の電極と第2の電極層はそれぞれ該圧電
    体層をはさんで対向位置に接して形成されているプロー
    ブユニットに対し、 該第1の電極と第2の電極間に電圧を印加することによ
    り、圧電効果で該プローブを基板面と垂直方向に移動さ
    せることを特徴とするプローブの駆動方法。
  7. (7)基板、基板上に形成された橋状の可撓部及び該可
    撓部に設けられたプローブとを有するプローブユニット
    で、 該可撓部が、梁構造体層、第1の電極層、圧電材料層、
    第2の電極層、絶縁層、プローブに電圧を印加する電極
    層の積層体で構成されているプローブユニットに対し、
    該第1の電極と第2の電極間に電圧を印加することによ
    り圧電効果で該プローブを基板面と垂直方向に移動させ
    ることを特徴とするプローブの駆動方法。
  8. (8)基板、基板上に形成された橋状の可撓部及び該可
    撓部に設けられたプローブとを有し、該プローブを基板
    に対して変位させるための駆動機構を有するプローブユ
    ニット、該プローブと測定される試料との間の距離を調
    整する手段及び該プローブと試料との間に電圧を印加す
    る手段とを備えたことを特徴とする走査型トンネル電流
    検知装置。
  9. (9)前記試料をプローブに対して相対的に移動させる
    手段を有する請求項(8)に記載の走査型トンネル電流
    検知装置。
  10. (10)前記プローブユニットが、基板上に第1の電極
    を有し、前記可撓部が空洞部により第1の電極と絶縁さ
    れ、第2の電極層、絶縁層及びプローブに電圧を印加す
    るための電極層の積層体からなる請求項(8)に記載の
    走査型トンネル電流検知装置。
  11. (11)前記プローブユニットが、基板上に第1の電極
    を有し、第1の電極は圧電体層を介して可撓部に接続さ
    れ、該可撓部が第2の電極層、絶縁層及びプローブに電
    圧を印加するための電極層の積層体からなる請求項(8
    )に記載の走査型トンネル電流検知装置。
  12. (12)前記可撓部が、梁構造体層、第1の電極層、圧
    電体層、第2の電極層、絶縁層及びプローブに電圧を印
    加するための電極層の積層体で構成されている請求項(
    8)に記載の走査型トンネル電流検知装置。
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