JPH01145575A - 同軸形プローブコンタクト - Google Patents

同軸形プローブコンタクト

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Publication number
JPH01145575A
JPH01145575A JP30520287A JP30520287A JPH01145575A JP H01145575 A JPH01145575 A JP H01145575A JP 30520287 A JP30520287 A JP 30520287A JP 30520287 A JP30520287 A JP 30520287A JP H01145575 A JPH01145575 A JP H01145575A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
pin
signal
gnd
contact pin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30520287A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiyuki Suetsugu
末次 敏行
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は同軸形プローブコンタクトに関し1時にGND
ピンを有するICテスタ等の同軸形グローブコンタクト
に関する。
〔従来の技術〕
第2図は従来の一例を説明するためのテストボードの構
成図である。
第2図に示す工うに、テスタとIC間の接続はIC1−
挿着するICソケット11といわゆるポゴなわれ、テス
ト信号が送られている。また、接触ピン10は一枚のピ
ンカードにつきロードボード13に3本(内GND1本
)、中継ボード14で4本(内GND2本)を必要とし
ており、しかも信号用接触ビンとGND用接触ピンは分
離し良状態で使用されている。
第3図は第2図に示すプローブコンタクト(接触ピン)
の一部拡大図である。
第3図に示す工うに、信号用接触ビン10はブロックで
支持されたスリーブ17の中心にスプリング12により
支持さnている。一方、上方には上部ボード16があり
、この接触ピン100頭部と接触する位置にパターン1
5が被層されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上述し九プローブコンタクト(接触)ピ
ンには2次の工すな欠点がある。
まず、ピンカード−枚につき、中継ボードに4本(内G
ND2本)およびロードボードに3本(内GND 1本
)の接触ピンが必要になる上、信号用接触ピンとGND
用接糸接触ピン独立に設けているため本数が多くなって
しまう欠点がある。
また、従来のプローブコンタクトは上からボードを乗せ
、リングで押えつけることにエフ接触ビンと上部ボード
のバタンとt−m触させて込るため。
前記接触ピンが曲がる工うな事故を起しやすいという構
造になっている。
更に、かかるプローブコンタクトは信号用お工びGND
用朕触ピンが分離型の構成で使用さnているため、信号
ラインのインピーダンス整合を必要とする部分において
、不肇合を生ずるという欠点がある。
本発明の目的は、かかる信号ラインのインピーダンスの
整合を容易に実現し、朕触ビン数の削減および安定し友
禰造の同軸形プローブコンタクトを提供することにある
し問題点t−鱗決する定めの手段〕 本発明の同軸形プローブコンタクトは、上部ボードに被
着さnた信号用パターンに対応して形成された信号用接
触ピンの外方に同軸状に且つ上部に被着され友接地用パ
ターンに対応して接地用接触ピンを形成するように構成
される。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について19面を参照して説明す
る。
第1図(al 、 (b)はそれぞれ本発明の一実施例
t−説明するための同軸形プローブコンタクトの縦断面
図とそのA−A’線断面図である。
第1図(a) 、 (b)に示すように、かかるプロー
ブコンタクトはテスタ(図示省略)から送られた信号が
信号用スリーブ6から信号用接触ピン5に取り込まf′
L、、さらに上部ボード3を上から押えつけると上部ボ
ード3の信号用パターン2と接触してICまで伝わるよ
うに構成されている。
次に、かかるプローブコンタクトの構造についてみると
、第一のスプリング4aKエク支えられた信号用接触ピ
ン5を中心にしてこ′nを包む工うにブロック内部に設
けらjL7を信号用スリーブ6が円筒状に形成されてい
る。この信号用スリーブ6の外側には信号用接触ピン5
t−絶縁するための絶縁物7が同じく円筒状に形成され
、te、この円筒状絶縁物7の外周には第二のスプリン
グ4bにエフ支えられた円筒状の接地用(GND用)接
触ピン8が形成されている。更に、この接地用接触ピン
8の外周にはブロックに設けらnたGND用スリスリー
ブ9けられている。一方、かかるプローブコンタクトの
上方にはこれら信号用接触ピン5お工びGND用接触ビ
ン8に対向する位置にそれぞれ信号用パターン2お工び
GND用パターン1を被着さnた上部ボード3が配置さ
れている。
かかる構造のプローブコンタクトにおいて、信号用接触
ピン5と、絶縁物7をはさんで、周囲に同軸状に配置さ
扛たGND用接水接触ピン8.信号を取り込むと同時に
GNDをも取り込むtめ。
インピーダンスの整合を計ることができる。1−信号用
接触ピン5.信号用スリーブ6 、GND用接触ピンs
 、aNoiλリープ9が同軸構成であるため、補遺的
にしりかりしており、コンタクトビンが曲っ友りするこ
とも解消さnる。
〔発明の効果〕
以上説明し几ように1本発明は信号用接触ピンの外方同
軸状にGND用接糸接触ピンみ合わせることにより、信
号ラインのインピーダンス整合を容易に実現するととも
に、コンタクトピンの数を中継ボードで半分、ロードボ
ードで2/3に減らすことができるという効果がある。
ま友、プローブコンタクトの強度を増すことができるの
で、コンタクトビンの保護作用を行うとともに曲が9に
よる劣化を押えることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】 第1図(jL) 、 (b)は七nぞれ不発明の一実施
例t−祝明する之めのプローブコンタクトの縦断面図と
そのA−A’線断面図、第2図は梃米の一例を説明する
ためのテストボードの断面図、第3図は第2図に示すグ
ローブコンタクトの一部拡大断面図である。 1・・・・・・GND用パターン、2・・・・・・信号
用パターンs 3・・・・・・上部ボードh 4 a 
a 4 b・・・・・・スプリング、5・・・・・・信
号用接触ビン、6・・・・・・信号用スリーブ、7・・
・・・・絶縁物、8・・・・・・GND用接触ピン、9
・・・・・・GND用スリスリー ブ理人 弁理士  内  原    音第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  上部ボードに被着された信号用パターンに対応して形
    成された信号用接触ピンの外方に同軸状に且つ上部に被
    着された接地用パターンに対応して接地用接触ピンを形
    成したことを特徴とする同軸形プローブコンタクト。
JP30520287A 1987-12-01 1987-12-01 同軸形プローブコンタクト Pending JPH01145575A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30520287A JPH01145575A (ja) 1987-12-01 1987-12-01 同軸形プローブコンタクト

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30520287A JPH01145575A (ja) 1987-12-01 1987-12-01 同軸形プローブコンタクト

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01145575A true JPH01145575A (ja) 1989-06-07

Family

ID=17942278

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30520287A Pending JPH01145575A (ja) 1987-12-01 1987-12-01 同軸形プローブコンタクト

Country Status (1)

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JP (1) JPH01145575A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0365657A (ja) * 1989-08-03 1991-03-20 Tokyo Electron Ltd プローブ装置
JPH0399274A (ja) * 1989-09-12 1991-04-24 Fujitsu Ltd 同軸プローブ
WO2000019567A1 (de) * 1998-09-29 2000-04-06 Siemens Aktiengesellschaft Hf-schnittstelle

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0365657A (ja) * 1989-08-03 1991-03-20 Tokyo Electron Ltd プローブ装置
JPH0399274A (ja) * 1989-09-12 1991-04-24 Fujitsu Ltd 同軸プローブ
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