JPH07140202A - 信号入力装置 - Google Patents
信号入力装置Info
- Publication number
- JPH07140202A JPH07140202A JP28790693A JP28790693A JPH07140202A JP H07140202 A JPH07140202 A JP H07140202A JP 28790693 A JP28790693 A JP 28790693A JP 28790693 A JP28790693 A JP 28790693A JP H07140202 A JPH07140202 A JP H07140202A
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- Japan
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- terminal
- signal
- probe pin
- signal input
- electronic circuit
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 電子回路基板上に入力する信号の種類に対応
した信号出力端子を特定し、それらの信号出力端子のそ
れぞれに対応して所定の間隔の位置に接地端子を設けて
おき、一方、信号入力用プローブピンと接地用プローブ
ピンとを上記の電子回路基板の信号出力端子と接地端子
との間隔と同じ間隔に保持して作動プローブに接続した
アダプタを設ける。 【効果】 作動プローブの接地端子から接地用プローブ
ピンまでの信号伝達経路を短くすることが可能になると
いう効果があり、従って入力可能な信号の周波数帯域を
高くして高周波の信号を入力したときの試験の精度を向
上させることが可能になる。
した信号出力端子を特定し、それらの信号出力端子のそ
れぞれに対応して所定の間隔の位置に接地端子を設けて
おき、一方、信号入力用プローブピンと接地用プローブ
ピンとを上記の電子回路基板の信号出力端子と接地端子
との間隔と同じ間隔に保持して作動プローブに接続した
アダプタを設ける。 【効果】 作動プローブの接地端子から接地用プローブ
ピンまでの信号伝達経路を短くすることが可能になると
いう効果があり、従って入力可能な信号の周波数帯域を
高くして高周波の信号を入力したときの試験の精度を向
上させることが可能になる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、移動ヘッドを有する電
子回路基板試験装置に対して信号を入力するための信号
入力装置に関する。
子回路基板試験装置に対して信号を入力するための信号
入力装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来の信号入力装置の一例を示す
正面図である。
正面図である。
【０００３】移動ヘッドを有する電子回路基板試験装置
に対して信号を入力するための従来の信号入力装置は、
図４に示すように、複数個の信号出力端子３６およびこ
れらの信号出力端子３６に対して不特定の位置に設けた
接地端子３７を有する電子回路基板２１と、移動ヘッド
式電子回路基板試験装置の移動ヘッドに連結されている
作動プローブ３２に設けてある信号入力端子３３および
接地端子３４と、信号入力端子３３と一体になっている
信号入力用プローブピン２７と、固定して設けられてい
て接地端子３４に接続されている接地用プローブピン２
８とを備えている。
に対して信号を入力するための従来の信号入力装置は、
図４に示すように、複数個の信号出力端子３６およびこ
れらの信号出力端子３６に対して不特定の位置に設けた
接地端子３７を有する電子回路基板２１と、移動ヘッド
式電子回路基板試験装置の移動ヘッドに連結されている
作動プローブ３２に設けてある信号入力端子３３および
接地端子３４と、信号入力端子３３と一体になっている
信号入力用プローブピン２７と、固定して設けられてい
て接地端子３４に接続されている接地用プローブピン２
８とを備えている。
【０００４】このように構成された信号入力装置を使用
するときは、電子回路基板２１を動作状態とし、固定さ
れている接地用プローブピン２８に電子回路基板２１の
接地端子３７を接触させ、更に、移動ヘッド式電子回路
基板試験装置の移動ヘッドを移動させて信号入力用プロ
ーブピン２７を電子回路基板２１の複数個の信号出力端
子３６の中の所望の信号出力端子に接触させ、信号入力
用プローブピン２７および接地用プローブピン２８から
それぞれ作動プローブ３２の信号入力端子３３および接
地端子３４に対して信号を入力する。
するときは、電子回路基板２１を動作状態とし、固定さ
れている接地用プローブピン２８に電子回路基板２１の
接地端子３７を接触させ、更に、移動ヘッド式電子回路
基板試験装置の移動ヘッドを移動させて信号入力用プロ
ーブピン２７を電子回路基板２１の複数個の信号出力端
子３６の中の所望の信号出力端子に接触させ、信号入力
用プローブピン２７および接地用プローブピン２８から
それぞれ作動プローブ３２の信号入力端子３３および接
地端子３４に対して信号を入力する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
信号入力装置は、電子回路基板の複数個の信号出力端子
のそれぞれに対応する接地端子を特定することができな
いため、汎用の接地端子を電子回路基板に設ける必要が
ある。この接地端子は、移動ヘッド式電子回路基板試験
装置の移動ヘッドの運動の障害とならないように、電子
回路基板の周辺部に設ける必要がある。また、移動ヘッ
ドも、電子回路基板の全ての位置に対して移動できなけ
ればならないため、作動プローブから接地用プローブピ
ンまでの信号伝達経路の長さが長くなり、インピーダン
スの整合かとれなくなって入力信号の周波数帯域が低く
なる。
信号入力装置は、電子回路基板の複数個の信号出力端子
のそれぞれに対応する接地端子を特定することができな
いため、汎用の接地端子を電子回路基板に設ける必要が
ある。この接地端子は、移動ヘッド式電子回路基板試験
装置の移動ヘッドの運動の障害とならないように、電子
回路基板の周辺部に設ける必要がある。また、移動ヘッ
ドも、電子回路基板の全ての位置に対して移動できなけ
ればならないため、作動プローブから接地用プローブピ
ンまでの信号伝達経路の長さが長くなり、インピーダン
スの整合かとれなくなって入力信号の周波数帯域が低く
なる。
【０００６】従って従来の信号入力装置は、高周波の信
号を入力したとき、精度が悪くなるという欠点を有して
いる。
号を入力したとき、精度が悪くなるという欠点を有して
いる。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の信号入力装置
は、複数種の信号を入力するために前記複数種の信号の
それそれに対応して設けた複数個の信号出力端子と、前
記複数個の信号出力端子のそれぞれに対して所定の間隔
で設けた複数個の接地端子とを有する電子回路基板と、
信号入力端子および接地端子を接続した作動プローブ
と、前記信号入力端子と接続した信号入力用プローブピ
ンと、前記接地端子と接続した接地用プローブピンとを
有し、前記信号入力用プローブピンおよび前記接地用プ
ローブピンを前記電子回路基板の前記信号出力端子と前
記接地端子との間隔と同じ間隔で保持するアダプタとを
備えている。
は、複数種の信号を入力するために前記複数種の信号の
それそれに対応して設けた複数個の信号出力端子と、前
記複数個の信号出力端子のそれぞれに対して所定の間隔
で設けた複数個の接地端子とを有する電子回路基板と、
信号入力端子および接地端子を接続した作動プローブ
と、前記信号入力端子と接続した信号入力用プローブピ
ンと、前記接地端子と接続した接地用プローブピンとを
有し、前記信号入力用プローブピンおよび前記接地用プ
ローブピンを前記電子回路基板の前記信号出力端子と前
記接地端子との間隔と同じ間隔で保持するアダプタとを
備えている。
【０００８】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００９】図１は本発明の一実施例の電子回路基板を
示す平面図、図２は図１の実施例のアダプタを示す部分
破砕正面図、図３は図２の保持部を示す図で、（ａ）は
平面図、（ｂ）は底面図である。
示す平面図、図２は図１の実施例のアダプタを示す部分
破砕正面図、図３は図２の保持部を示す図で、（ａ）は
平面図、（ｂ）は底面図である。
【００１０】電子回路基板１は、図１に示すように、２
種類の信号Ｓ1 およびＳ2 を入力すための専用の端子と
して、それぞれＳ1 用信号出力端子２およびＳ2 用信号
出力端子３を指定している。Ｓ1 用信号出力端子２から
距離Ｌの位置にＳ1 用接地端子４が設けられており、Ｓ
2 用信号出力端子３から距離Ｌの位置にも、Ｓ2 用接地
端子５が設けられている。
種類の信号Ｓ1 およびＳ2 を入力すための専用の端子と
して、それぞれＳ1 用信号出力端子２およびＳ2 用信号
出力端子３を指定している。Ｓ1 用信号出力端子２から
距離Ｌの位置にＳ1 用接地端子４が設けられており、Ｓ
2 用信号出力端子３から距離Ｌの位置にも、Ｓ2 用接地
端子５が設けられている。
【００１１】一方、アダプタは、図２に示すように、移
動ヘッド式電子回路基板試験装置の移動ヘッドに連結さ
れており、信号入力端子１３および接地端子１４を有す
る作動プローブ１２と、信号入力端子１３と金属棒１０
ａおよびプローブピンソケット９ａを介して接続した信
号入力用プローブピン７と、接地端子１４と金属棒１０
ｂおよびプローブピンソケット９ｂを介して接続した接
地用プローブピン８と、信号入力用プローブピン７およ
び接地用プローブピン８を電子回路基板１のＳ1 用信号
出力端子２またはＳ2 用信号出力端子３とそれらに対応
するＳ1 用接地端子４またはＳ2 用接地端子５との間隔
Ｌと同じ間隔で保持する保持部６とを有している。
動ヘッド式電子回路基板試験装置の移動ヘッドに連結さ
れており、信号入力端子１３および接地端子１４を有す
る作動プローブ１２と、信号入力端子１３と金属棒１０
ａおよびプローブピンソケット９ａを介して接続した信
号入力用プローブピン７と、接地端子１４と金属棒１０
ｂおよびプローブピンソケット９ｂを介して接続した接
地用プローブピン８と、信号入力用プローブピン７およ
び接地用プローブピン８を電子回路基板１のＳ1 用信号
出力端子２またはＳ2 用信号出力端子３とそれらに対応
するＳ1 用接地端子４またはＳ2 用接地端子５との間隔
Ｌと同じ間隔で保持する保持部６とを有している。
【００１２】このように構成した信号入力装置を使用す
るときは、電子回路基板１を動作状態とし、移動ヘッド
式電子回路基板試験装置の移動ヘッドを移動させて信号
入力用プローブピン７を電子回路基板１のＳ1 用信号出
力端子２に接触させ、接地用プローブピン８を電子回路
基板１の対応するＳ1 用接地端子４に接触させる。これ
により、Ｓ1 用信号出力端子２から出力される信号Ｓ1
は、プローブピンソケット９ａに伝達され、プローブピ
ンソケット９ａからそれにはんだ付けされている金属棒
１０ａに伝達され、金属棒１０ａから保持部６の信号端
子接続部１１（図３参照）に接続されている作動プロー
ブ１２の信号入力端子１３に伝達される。
るときは、電子回路基板１を動作状態とし、移動ヘッド
式電子回路基板試験装置の移動ヘッドを移動させて信号
入力用プローブピン７を電子回路基板１のＳ1 用信号出
力端子２に接触させ、接地用プローブピン８を電子回路
基板１の対応するＳ1 用接地端子４に接触させる。これ
により、Ｓ1 用信号出力端子２から出力される信号Ｓ1
は、プローブピンソケット９ａに伝達され、プローブピ
ンソケット９ａからそれにはんだ付けされている金属棒
１０ａに伝達され、金属棒１０ａから保持部６の信号端
子接続部１１（図３参照）に接続されている作動プロー
ブ１２の信号入力端子１３に伝達される。
【００１３】これと同時に、Ｓ1 用接地端子４からの接
地信号はプローブピンソケット９ｂに伝達され、プロー
ブピンソケット９ｂからそれにはんだ付けされている金
属棒１０ｂに伝達され、金属棒１０ｂから保持部６の接
地端子接続部１５（図３参照）に接続されている作動プ
ローブ１２の接地端子１４に伝達される。
地信号はプローブピンソケット９ｂに伝達され、プロー
ブピンソケット９ｂからそれにはんだ付けされている金
属棒１０ｂに伝達され、金属棒１０ｂから保持部６の接
地端子接続部１５（図３参照）に接続されている作動プ
ローブ１２の接地端子１４に伝達される。
【００１４】移動ヘッドを移動させて信号入力用プロー
ブピン７を電子回路基板１のＳ2 用信号出力端子３に接
触させ、接地用プローブピン８を電子回路基板１の対応
するＳ2 用接地端子５に接触させた場合も同様に作用す
る。
ブピン７を電子回路基板１のＳ2 用信号出力端子３に接
触させ、接地用プローブピン８を電子回路基板１の対応
するＳ2 用接地端子５に接触させた場合も同様に作用す
る。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の信号入力
装置は、電子回路基板上に入力する信号の種類に対応し
た信号出力端子を特定し、それらの信号出力端子のそれ
ぞれに対応して所定の間隔の位置に接地端子を設けてお
き、一方、信号入力用プローブピンと接地用プローブピ
ンとを上記の電子回路基板の信号出力端子と接地端子と
の間隔と同じ間隔に保持して作動プローブに接続したア
ダプタを設けることにより、作動プローブの接地端子か
ら接地用プローブピンまでの信号伝達経路を短くするこ
とが可能になるという効果があり、従って入力可能な信
号の周波数帯域を高くして高周波の信号を入力したとき
の試験の精度を向上させることが可能になるという効果
がある。
装置は、電子回路基板上に入力する信号の種類に対応し
た信号出力端子を特定し、それらの信号出力端子のそれ
ぞれに対応して所定の間隔の位置に接地端子を設けてお
き、一方、信号入力用プローブピンと接地用プローブピ
ンとを上記の電子回路基板の信号出力端子と接地端子と
の間隔と同じ間隔に保持して作動プローブに接続したア
ダプタを設けることにより、作動プローブの接地端子か
ら接地用プローブピンまでの信号伝達経路を短くするこ
とが可能になるという効果があり、従って入力可能な信
号の周波数帯域を高くして高周波の信号を入力したとき
の試験の精度を向上させることが可能になるという効果
がある。
【図１】本発明の一実施例の電子回路基板を示す平面図
である。
である。
【図２】図１の実施例のアダプタを示す部分破砕正面図
である。
である。
【図３】図２の保持部を示す図で、（ａ）は平面図、
（ｂ）は底面図である。
（ｂ）は底面図である。
【図４】従来の信号入力装置の一例を示す正面図であ
る。
る。
１・２１ 電子回路基板 ２ Ｓ1 用信号出力端子 ３ Ｓ2 用信号出力端子 ４ Ｓ1 用接地端子 ５ Ｓ2 用接地端子 ６ 保持部 ７・２７ 信号入力用プローブピン ８・２８ 接地用プローブピン ９ａ・９ｂ プローブピンソケット １０ａ・１０ｂ 金属棒 １１ 信号端子接続部 １２・３２ 作動プローブ １３・３３・３６ 信号入力端子 １４・３４・３７ 接地端子 １５ 接地端子接続部
Claims (2)
- 【請求項１】 複数種の信号を入力するために前記複数
種の信号のそれそれに対応して設けた複数個の信号出力
端子と、前記複数個の信号出力端子のそれぞれに対して
所定の間隔で設けた複数個の接地端子とを有する電子回
路基板と、 信号入力端子および接地端子を接続した作動プローブ
と、前記信号入力端子と接続した信号入力用プローブピ
ンと、前記接地端子と接続した接地用プローブピンとを
有し、前記信号入力用プローブピンおよび前記接地用プ
ローブピンを前記電子回路基板の前記信号出力端子と前
記接地端子との間隔と同じ間隔で保持するアダプタとを
備えることを特徴とする信号入力装置。 - 【請求項２】 複数種の信号を入力するために前記複数
種の信号のそれそれに対応して設けた複数個の信号出力
端子と、前記複数個の信号出力端子のそれぞれに対して
所定の間隔で設けた複数個の接地端子とを有する電子回
路基板と、 信号入力端子および接地端子を接続した作動プローブ
と、前記信号入力端子と接続した信号入力用プローブピ
ンと、前記接地端子と接続した接地用プローブピンと、
前記信号入力用プローブピンおよび前記接地用プローブ
ピンを前記電子回路基板の前記信号出力端子と前記接地
端子との間隔と同じ間隔で保持する保持部とを有するア
ダプタとを備えることを特徴とする信号入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28790693A JPH07140202A (ja) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | 信号入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28790693A JPH07140202A (ja) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | 信号入力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07140202A true JPH07140202A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=17723259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28790693A Withdrawn JPH07140202A (ja) | 1993-11-17 | 1993-11-17 | 信号入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07140202A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6340893B1 (en) | 1996-10-28 | 2002-01-22 | Atg Test Systems Gmbh & Co. Kg | Printed circuit board test apparatus and method |
-
1993
- 1993-11-17 JP JP28790693A patent/JPH07140202A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6340893B1 (en) | 1996-10-28 | 2002-01-22 | Atg Test Systems Gmbh & Co. Kg | Printed circuit board test apparatus and method |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010130 |