KR960018588A - 프로우브장치 - Google Patents
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Abstract
프로우브장치는, 검사대상이 되는 회로의 도전성 패드에 접촉 도통되는 다수의 프로우브 및 제1의 단자를 가지는 프로우브 카드와, 각 프로우브 테스트 신호를 보내기 위한 신호전송회로를 가지는 테스트헤드와, 이 테스트헤드의 신호진송회로에 도통하는 제2의 단자를 가지는 퍼포먼스보드와, 이 퍼포먼스보드와 프로우브카드와의 사이에 설치되고, 임피던스 조정된 콘텍트링과, 제1 및 제2의 단자에 맞닿는 한 쌍의 핀 부재를 갖추고, 각 프로우브에 테스트신호를 전달하기 위한 여러개의 제1의 표고핀과, 제1 및 제2의 단자에 맞닿는 한 쌍의 핀 부재를 갖추며, 또한 제1의 포고핀을 둘러싸듯이 콘택트링내에 배치되고, 또한 접지된 회로에 도통되는 여러개의 제2의 포고핀을 가진다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 실시예에 관한 프로우브장치를 도시하는 블록 구성도.
제4도는 포고핀 유지용 콘텍트링을 도시하는 부분 사시도.
제5도는 포고핀 유지용 콘택트링을 도시하는 부분 평면도.
Claims (12)
- 검사대상이 되는 회로로 테스트신호를 보내고, 회로의 전기적 특성을 검사하는 프로우브장치로서, 검사대상이 되는 회로의 도전성 패드에 접촉 도통되는 다수의 프로우브 및 제1의 단자를 가지는 프로우브카드와, 각 프로우브에 테스트신호를 보내기 위한 신호전송회로를 가지는 테스트헤드와, 이 테스트헤드의 신호전송회로에 도통하는 제2의 단자를 가지는 퍼포먼스보드와, 이 퍼포먼스보드와 프로우브카드와의 사이에 설치되고, 임피던스 조정된 콘택트링과, 제1 및 제2의 단자에 맞닿는 한 쌍의 핀 부재를 갖추고, 각 프로우브에 테스트신호를 전달하기 위한 여러개의 제1의 포고핀과, 제1 및 제2의 단자에 맞닿는 한 쌍의 핀 부재를 갖추고, 또한 제1의 포고핀을 둘러싸듯이 콘텍트링 내에 배치되며, 또한 접지된 회로에 도통되는 여러개의 제2표고핀을 가지는 프로우브 장치.
- 제1항에 있어서, 제1의 표고핀에 가장 가까운 제2의 포고핀과 제1의 포고핀과의 상호간 거리 L1은, 서로 이웃하는 제1의 포고핀의 상호간 거리 L2보다도 작은 프로우브장치.
- 제1항에 있어서, 제1의 포고핀에 가장 가까운 제2의 포고핀과 제1의 포고핀과의 상호간 거리 L1과, 서로 이웃하는 제1의 포고핀의 상호간 거리 L2와의 비율(L1/L2)은 1보다 작은 프로우브장치.
- 제1항에 있어서, 제1의 포고핀에 가장 가까운 다른 제1의 포고핀보다도 제2의 포고핀 쪽이 제1의 포고핀에 대하여 가까운 곳에 위치하는 프로우브장치.
- 제1항에 있어서, 제1의 포고핀에 가장 가까운 제2의 포고핀보다도 다른 제1의 포고핀쪽이, 제1의 포고핀에 대하여 멀리 떨어진 곳에 위치하는 프로우브장치.
- 제1항에 있어서, 4개 이상의 제2포고핀에 의해서 평면내에 형성되는 다각형 블록의 중앙에 제1의 포고핀이 배치되어 있는 프로우브장치.
- 제6항에 있어서, 다각형 블록을 형성하는 제2의 포고핀 전부가, 이 다각형 블록에 인접하는 다각형 블륵의 일부를 형성하는 프로우브장치.
- 제6항에 있어서, 다각형 블륵을 형성하는 제2의 포고핀중 일부가. 이 다각형 블륵에 인접하는 다각형블륵의 일부를 형성하는 프로우브장치.
- 제1항에 있어서, 4개의 제2포고핀에 의해서 평면냉에 형성되는 정방향 블록의 중아에 제1의 포고핀이 배치되어 있는 프로우브장치.
- 제1항에 있어서, 6개의 제2포고핀에 의하여 평면내에 형성되는 정6각형 블록의 중앙에 제1의 포고핀이 배치되어 있는 프로우브장치.
- 제1항에 있어서, 8개의 제2포고핀에 의해서 평면내에 형성되는 정8각형 블록의 중앙에 제1의 포고핀이 배치되어 있는 프로우브장치.
- 제1항에 있어서, 테스트헤드는 테스트신호로서 주파수 수십∼수백MHz의 고주파 신호를 제1의 포고핀을 통해서 각 프로우브에 보내는 프로우브장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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