KR100958489B1 - 자동 테스트 장비용 커넥터 및 집적 회로를 테스트하는 테스터 - Google Patents

자동 테스트 장비용 커넥터 및 집적 회로를 테스트하는 테스터 Download PDF

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KR100958489B1
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마르크 모에신게르
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베리지 (싱가포르) 피티이. 엘티디.
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Abstract

본 발명은 자동 테스트 장비에 특히 적합한 전기 케이블을 접속하는 커넥터(1)에 관한 것이다. 고주파 신호 전송의 성능을 개선하기 위해서, 커넥터(1)는 전기 케이블(8) 각각에 전기적으로 접속하는 복수의 케이블 리셉션(7)을 포함하는 케이블 접촉면(4)을 제공하는 하우징(2)과, 접촉핀(12,16)과 전기적으로 접속하는 다수의 핀 접촉 영역(11,14,15)을 포함하는 핀 접촉면(3)과, 자신과 전기적으로 절연된 신호 도체(18)를 둘러싸는 복수의 자켓(17)과, 전기 케이블(8) 중 하나에 핀 접촉 영역(15) 중 하나를 전기적으로 접속하는 각각의 신호 도체(18)를 포함한다.

Description

자동 테스트 장비용 커넥터 및 집적 회로를 테스트하는 테스터{PIN CONNECTOR}
본 발명의 목적과 본 발명에 수반되는 장점은 첨부된 도면과 함께 다음의 상세한 설명을 참조하면 용이하게 평가되고 이해될 것이다. 실질적으로 또는 기능적으로 동일하거나 비슷한 구성은 동일한 도면 부호로 지칭될 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 커넥터의 측면도이다.
도 2는 도 1의 화살표 Ⅱ에 따라 도시한 커넥터의 저면도이다.
도 3은 도 1의 화살표 Ⅲ에 따라 도시한 커넥터의 평면도이다.
도 4는 도 1의 섹션 라인 Ⅳ에 따라 도시한 커넥터의 단면도이다.
도 5는 도 4 단면 Ⅴ를 상세하게 도시한 확대도이다.
도 6은 본 발명에 따른 테스터의 단순하게 도시된 단면도이다.
본 발명은 전기적 핀에 전기 케이블을 연결하는 커넥터에 관한 것으로, 구체적으로는 스프링 가압된 전기적 핀에 전기 케이블을 연결하는 커넥터에 관한 것이다.
현대 자동 테스트 장비는, 예컨대 테스터, 마이크로프로세서 또는 칩, 그리 고 메모리 칩과 같은 집적 회로를 테스트하는데 사용된다. 이러한 테스트 되는 집적 회로는 DUT라고도 불린다. DUT와 테스트 장비 사이의 신호 경로에는 동축 케이블이 포함된다. 이러한 종류의 커넥터는 동축 케이블과 전기적으로 연결되기 위하여 사용된다. 이러한 집적 회로의 택 비율 또는 동작 속도가 증가하면 각각의 DUT와 테스트 장비 간에 전송되어야하는 신호 역시 증가한다. 신호가 전송되는 고주파에서 신호의 전송율은 더욱 중요하게 된다. 고품질의 신호 전송은 테스트 장치의 성능을 개선하는데 일조한다.
본 발명의 목적은 DUT와 해당 테스트 장비 사이의 신호 전송율에 있어서 개선된 성능을 제공하는 것이다. 이 목적은 독립항에 의해 해결된다. 바람직한 실시예는 종속항에 의해 설명된다.
본 발명의 청구항 1에 따라 핀 접촉면과 케이블 접촉면을 포함하는 커넥터를 제공함으로써, 한편으로는 접촉핀과 다른 한편으로는 케이블 사이에서 신호 전송의 성능이 개선된다.
바람직한 실시예에서 커넥터의 다른 특징은 신호 전송시 하우징을 전기적인 접지처럼 사용하는 것이다. 이 접지된 하우징은 전송되는 신호를 위한 차폐기능을 제공하고 교란과 노이즈를 감소시킨다.
커넥터로 전송되는 신호를 제공하는 신호 도체 내에 해당 케이블 및/또는 핀 접촉 영역의 내부 도체를 수용하는 중심 리셉션을 통합함으로써 성능은 더 향상될 수 있다. 고 집적화는 단일 구성 소자의 수를 줄여서 제조 원가를 감소시킨다.
하우징 내부로 커넥터의 케이블 리셉션의 접지 자켓 및/또는 하우징 커넥터의 접지 접촉 영역을 통합함으로써 또 다른 성능의 향상을 달성할 수 있다. 이 방법은 제조하기 용이하고 저가의 솔루션을 발견할 수 있게 도와준다.
기본적으로 커넥터의 케이블 리셉션은 개별적으로 구성되는 케이블과 영구적인 또는 분리할 수 없는 접속을 제공하도록 적용될 수 있다. 이 방법은 저가의 솔루션이 될 수 있다. 이와 달리, 케이블 리셉션은 개별적으로 적용되는 푸쉬 앤 풀 또는 분리 가능한 접속을 제공하도록 적용될 수 있다. 이 방법은 다용도 접속을 제공하여 커넥터는 다른 구현 예에서도 사용 및 재사용될 수 있다.
본 발명의 청구항 19에 따른 외부 인터페이스와 내부 인터페이스에 따른 테스트 보드를 포함하는 테스터를 제공함으로써, DUT와 테스트 장치 사이의 신호 전송의 성능은 현저하게 개선된다. 상기 테스트 보드는 DUT를 수용하고 상기 장치가 테스트 보드 위에 장착될 때, DUT의 장치 핀이 전기적으로 직접 접속되는 장치 접촉 영역에 전기적으로 직접 접속하는 다양한 보드 접촉 영역이 제공된다. 테스트 보드는 장치 접촉 영역에 전기적으로 직접 접속되는 다량의 외부 핀을 구비하는 상기 외부 인터페이스에 장착된다. 상기 내부 인터페이스에는 테스터의 테스트 장비에 전기적으로 접속하는 몇 개의 내부 핀이 제공된다. 외부 핀은 동축 케이블에 직접 접속되고, 몇 개의 동축 케이블은 커넥터, 특히 핀 접촉 영역이 제공되는 청구항 1 내지 8항에 따른 커넥터에 연결된다. 더욱이, 각 커넥터는 내부 인터페이스에서 핀 접촉 영역이 직접 내부 핀에 접속되면서 설치된다.
본 발명에 따른 테스터에서, 고주파수대에서 고성능인 신호 경로를 제공하기 위한 DUT와 테스트 장치 사이의 신호 경로는 고품질이어야 한다는 점이 상당히 중요하다. 이를 위해서, 본 발명에 따른 테스터 내부에 제공되는 신호 경로는 보드 안에 집적된 도체(예:인쇄 회로)를 포함하지 않는다. 모든 단일 신호 경로는 접지된 도체로 둘러싸인 매우 낮은 저항의 신호 전송용 도체를 사용함으로서 개별적으로 차폐된다. 외부 핀과 커넥터 사이에서 이 차폐된 신호 경로는 동축 케이블에 의해 구현된다. 커넥터 내에서 이 차폐된 신호 경로는 커넥터의 하우징 내에서 배열된 신호 도체에 의해 구현되고, 이 하우징에 대항하여 전기적으로 절연된다. 상기 하우징은 접지된 차폐층을 제공한다.
성능을 향상시키는 또 다른 중요한 특징은 테스트 보드 위에 DUT가 설치될 때, DUT의 장치 핀에 전기적으로 직접 접속하는 장치 접촉 영역에 테스트 보드의 보드 접촉 영역이 전기적으로 직접 접속된다는 점이다. 이에 따라서, 보드 접촉 영역은 장치 핀에 매우 가깝게 배열된다. 이 방법은 노이즈와 교란을 감소시킨다.
추가적인 실시예에 있어서, 테스트 보드에는 테스트 보드를 통과하고 테스트 보드 한편에 보드 접촉 영역을 제공하며 테스트 보드의 다른 편에 장치 접촉 영역을 제공하는 접촉 부재가 제공된다. 그러므로 보드 접촉 영역과 장치 접촉 영역은 매우 낮은 저항을 갖는 구성요소로 집적된다.
도 1에 있어서, 본 발명의 커넥터(1)는 하우징(2)을 포함한다. 하우징(2)은 전기적 도전성을 갖도록 구성되는 것이 바람직하다. 그러므로, 하우징(2)은 금속으로 만들어지고, 특히 단단한 금속 블럭으로 제작된다. 또 다른 실시예에서 하우징(2)은 절연될 수 있다. 이때 하우징(2)은 플라스틱 또는 합성화학물질로 만들어지는 것이 바람직하다. 하우징(2)에는 핀 접촉면(3)과 케이블 접촉면(4)이 제공되는데, 이 접촉면(3,4)은 커넥터(1) 또는 커넥터 하우징(2)의 대향단에 각각 배열된다. 추가적으로 하우징(2)에는 구성 소자로서(예를 들면, 상보형 커넥터(6))(도 6 참조) 하우징(2)에 붙는 플랜지(5)가 제공될 수 있다.
도 2에 따르면, 하우징(2)의 케이블 접촉면(4)은 몇몇의 동축 케이블 리셉션(7)을 포함한다. 각각의 동축 케이블 리셉션(7)은 전기적으로 동축 케이블(8)과 접속하도록 구성된다(도 6 참조). 동축 케이블(8)은 제 1 전기 장치(9)에 접속된다(도 6 참조). 도시된 실시예에서, 동축 케이블 리셉션(7)은 하우징(2)과 각각의 동축 케이블(8) 사이에 푸쉬-풀-접속을 제공하도록 구성된다. 따라서, 조립된 동축 케이블(8)은 분리가능하게 하우징(2)에 붙는다. 이를 위해서, 동축 케이블(8)은 개별적으로 적용되고, 동축 케이블 리셉션(7)의 내외로 플러그를 꽂고 뺄 수 있는 단부가 제공된다. 이 플러그-인 그리고 플러그-아웃 접속을 사용하여 커넥터(1)는 상당히 융통성 있게, 예를 들어 본 발명의 커넥터(1)를 갖도록 테스터(10)(도 6 참조)를 개조할 수 있도록 사용될 수 있다.
또는, 동축 케이블 리셉션(7)에서는 동축 케이블(8)과 동축 케이블 리셉션(7) 사이에 영구적인 접속을 제공하는 것이 가능하다. 이러한 실시예에서 동축 케이블(8)은 분리할 수 없도록 하우징에 붙는다. 이 실시예에서는 제조 단가가 감소될 수 있다.
동축 케이블(8)은 본 발명의 범위를 제한하지 않는 단지 예로서만 도시된다. 그러므로, 케이블(8)은 알려진 모든 종류의 케이블이 될 수 있다.
도 3에 있어서, 하우징(2)의 핀 접촉면(3)은 몇몇의 핀 접촉 영역(11)을 포함한다. 각 접촉 영역(11)은 전기적으로 접촉 핀(12 또는 16)에 개별적으로 접속된다(도 6 참조). 이들 접촉 핀(12,16)은 접지 접촉 핀(16)과 신호 접촉 핀(12)으로 나눠진다. 신호 접촉 핀(12)은 제 2 전기 장치(13)에 연결된다(도 6 참조). 따라서, 핀 접촉 영역(11)은 접지 접촉 영역(14)과 신호접촉 영역(15)으로 나눠진다.
한편으로, 접지 접촉 영역(14)의 개별적인 접지 접촉핀(16)과 함께 접지 접촉이 제공되도록 구성된다. 접지 접촉핀(16)은 접지 전위를 전송한다. 추가적으로, 접지 접촉 영역(14)은 하우징(2)에 전기적으로 접속된다. 따라서, 하우징(2) 역시 전기적으로 접지된다. 도면에 도시된 바람직한 실시예에서 접지 접촉 영역(14)은 하우징(2) 내부로 집적되고, 이에 따라서 하우징(2)의 일부분을 형성한다.
다른 한편으로, 신호 접촉 영역(15)의 개별적인 신호 접촉핀(12)과 함께 신호 전송용 접촉이 제공되도록 구성된다. 신호 접촉핀(12)은 또 다른 곳, 특히 접지 전위보다 높은 전위로 신호를 전송한다. 따라서, 신호 접촉 영역(15)은 접지 접촉 영역(14)과 하우징(2)으로부터 전기적으로 절연된다.
신호 전송의 차폐력을 향상시키기 위해서 핀 접촉 영역(11)은 각 신호 접촉 영역(15)이 다수의 접지 접촉 영역으로 둘러싸이도록 배열된다. 도 3에 도시된 실시예에서, 각 신호 접촉 영역(15)은 적어도 세 개의 접지 접촉 영역(14)으로 둘러 싸인다. 플랜지(5)와 인접한 두 개의 신호 접촉 영역(15)은 단지 세 개의 접지 접촉 영역(14)에 의해서만 둘러싸이는 반면 다른 모든 신호 접촉 영역(15)은 네 개의 접지 접촉 영역(14)으로 둘러싸인다.
도 4와 도 5에 따르면, 각 동축 케이블 리셉션(7)은 자켓(17)과 신호 도체(18)를 포함한다. 자켓(17)은 전기적으로 하우징(2)과 접속되고, 따라서 접지된다. 도시된 다른 실시예에서, 자켓(17)은 하우징(2)의 일부분을 형성한다. 자켓(17)을 제공하기 위해서 하우징(2)에는 핀 접촉면(3)에서 케이블 접촉면(4)으로 하우징(2)을 통과하는 관통홀(19)이 제공된다. 관통홀(19) 각각의 내부벽은 각 자켓(17)을 형성한다.
신호 도체(18)는 각각의 자켓(17)에 동심으로 배열되어 있다. 추가적으로, 신호 도체(18)는 각각의 자켓(17)과 하우징(2)으로부터 전기적으로 절연된다. 더욱이, 신호 도체(18) 각각은 신호 접촉 영역(15) 중 하나에 전기적으로 연결된다. 본 실시예에 있어서, 각각의 신호 접촉 영역(15)은 각 신호 도체(18)에 일체로 형성되어 있다.
신호 도체(18)는 관통홀(19) 내부로 삽입되어 관통홀(19) 내부에 하나씩의 신호 도체(18)가 있다. 이 신호 도체의 관통홀(19) 내부 각각에 신호 도체(18)를 고정하기 위해 고정 수단으로 동작하는 전기적 절연체(20)가 제공된다. 절연체(20)는 각각의 신호 도체(18)를 에워싸는 고리모양이고, 각각의 관통홀(19) 내부에서 신호 도체(18)를 지지한다.
상술한 바와 같이, 동축 케이블 리셉션(7)은 각각의 동축 케이블(8)에 푸쉬-풀 접속을 제공하도록 구성하는 것이 바람직하다. 이를 위해서 신호 도체(18) 각각에 중앙 리셉션(21)이 제공된다. 각 중앙 리셉션(21)은 각 동축 케이블(8)의 내권 도체(도시 생략)를 수용한다. 이때, 동축 케이블(8)의 단부 각각이 동축 케이블 리셉션(7) 각각의 내부로 삽입된다면, 각각의 동축 케이블(8)의 외권 도체(도시 생략)에 동축 케이블 리셉션(7)의 자켓(17)과 상호동작하는 자켓(도시 생략)과 같은 스프링이 제공된다.
도 6에 있어서, 본 발명에 따른 테스터(10)는 테스트 보드(22)와 외부 인터페이스(23), 그리고 내부 인터페이스(24)를 포함한다. 테스터(10)는 이하에서 "DUT"라 불리는 집적 회로를 테스트하기 적합하게 구성되며 참조 번호 9로 표시된다. DUT에는(9) 다수의 장치 핀(26)이 제공된다.
테스트 보드(22)는 DUT(9)를 수용하도록 구성된다. 그러므로, 테스트 보드(22)에는 몇몇의 접촉 영역(25)이 제공된다. DUT(9)가 장착된 위치에서 장치 접촉 영역(25)은 전기적으로 장치 핀(26)과 연결되어 있다. 예를 들면 소켓과 같은 테스트 보드(22)에 DUT(9)를 안정화시키기 위한 고정 수단은, 도시되지는 않았다. 이러한 소켓 또는 컨택터는 테스트 보드(22)위에 설치되고, 장치핀(26)을 수용하도록 구성된 리셉션이 제공되며, 장치 접촉 영역(25)과 전기적으로 접속된다.
테스트 보드(22)에는 장치 접촉 영역(25)과 전기적으로 직접 접속하는 몇몇의 보드 접촉 영역(27)도 제공된다. 도 6에 도시된 다른 실시예에서, 테스트 보드(22)에는 몇몇의 접촉 부재(28)가 제공된다. 이들 접촉 부재(28)는 DUT(9)를 향한 면(29)에서 DUT(9)의 반대편을 향한 면(30) 쪽으로 테스트 보드(22)를 관통한다. 접촉 부재(28)는 장치 접촉 영역(25)에서 DUT(9)를 향한 면(29)과 보드 접촉 영역(27)에서 DUT(9)의 반대편을 향한 면(30)을 제공한다. 따라서, 장치 접촉 영역(25)과 보드 접촉 영역(27) 사이의 접속부는 저항이 매우 낮다.
또 다른 실시예에서(도시 생략) 장치 접촉 영역(25)과 보드 접촉 영역(27)은 테스트 보드(22) 내부에 있는 도체의 수단에 의하여 전기적으로 연결된다. 이들 도체는 설치할 수 있는 공간을 많이 확보하고, 보드 접촉 영역(27)과 접속하기 위해서 보드 접촉 영역(27)이 다르게 할당될 수 있게 한다.
테스트 보드(22)는 외부 인터페이스(23) 위에 설치된다. 이 외부 인터페이스(23)에는 몇몇의 외부핀(31)이 제공된다. 외부핀(31)에는 핀 캐리어(32)가 제공될 수 있다. 한편으로, 외부핀(31) 보드 접촉 영역(27)에 전기적으로 직접 접속되고 다른 한편으로 동축 케이블(8)에 직접 접속된다. 몇 개의 동축 케이블(8)에는 본 발명에 따른 커넥터(1)가 제공된다.
내부 인터페이스(24)에는 접촉 핀(12,16)이 제공된다. 이 접촉 핀(12,16)은 내부핀(12,16)이라 불리고 커넥터(1)에 상호 보완적으로 형성된 다른 커넥터(6)도 제공될 수 있다. 이들 내부핀(12,16)은 테스터(10)의 테스트 장비(13)에 전기적으로 접속된다. 따라서, 테스터(10)에서, 본 발명의 커넥터(1)는 동축 케이블(8)과 테스트 장비(13) 사이에 전기적 접속을 제공하기 위해 사용된다. 한 개 이상의 커넥터(1)가 테스트 장비(13)의 상이한 구성요소를 연결하기 위하여 다수의 동축 케이블(8)을 연결하는 테스터(10)에 사용되었음은 자명하다. 만약 커넥터(1)가 내부 인터페이스에 설치된다면 핀 접촉 영역(11 또는 14 그리고 15)은 각 내부 핀(12,16)에 직접 접속된다.
본 실시예에 있어서 몇 개의 내부핀(12,16)은, 즉 신호 접촉 핀은, 다른 동축 케이블(33)에 전기적으로 접속된다. 다른 동축 케이블(33)은 테스트 장비(13)와 전기적으로 접속되고, 전술한 접속은 또 다른 인터페이스(35)와 상호 동작하는 테스트 장비(13) 위에 직접 설치된 또 다른 커넥터(34)의 수단에 의하여 제공될 수 있다.
각 내부핀(12,16) 또는 접촉 핀(12,16)은 바람직하게는 조절 가능하고 접촉 방향으로 스프링 가압되어 있다. 통상 이러한 핀(12,16)은 "포고핀"이라 불린다. 그러므로 다른 커넥터(6)는 포고핀 커넥터(6)이다. 따라서 본 발명의 커넥터(1)는 저렴하고 튼튼하게, 그리고 포고핀 커넥터를 포함하는 고성능 동축 접속을 제공하도록 구성되어 있다.
외부핀(31) 또한 포고핀으로 설계되어야 한다는 것은 명백하다.
본 발명의 테스터(10)의 주된 목적은 DUT(9)와 테스트 장비(13) 사이에서 고성능의 신호를 전송을 제공하는 것이다. 이를 위해서 테스터(10)는 DUT(9)와 테스트 장비(13) 사이의 접지 전위 하나에 의해 충분히 차폐된 신호 경로를 제공한다.
본 발명의 또 다른 중요한 목적은 높은 융통성을 가지는 테스터(10)를 제공하는 것이다. 테스터(10)는 특정 테스트 보드에 제공되는 통상적인 테스터(10)처럼 내부 인터페이스(24)에 직접 접속되어 용이하게 사용될 수 있다. 이 특정 테스트 보드에 테스터(10)를 적용하기 위해서 내부 인터페이스(24)의 커넥터(6)는 특별한 배열을 갖는다.
외부 인터페이스(23)에서 본 발명에 따른 커넥터(1)를 사용함으로서 내부 인터페이스(24)의 커넥터(6) 배열을 바꾸지 않고 테스트 보드(22)에 접속하기 위해서 테스터(10)를 개조하는 것이 가능하다. 이것은 본 발명의 커넥터(1)가 동축 케이블(8)을 통하여 보드 접촉 영역(27)에 접속하고 내부 인터페이스(24)의 커넥터(6)에 접속하기 때문에 가능하다.
본 발명에 따른 커넥터(1)의 도움으로 외부 인터페이스(23)는 내부 인터페이스(24)의 커넥터(6)의 보드 접촉 영역(27)에서 내부 핀(12)으로 고성능 신호를 전송하는 어댑터를 제공한다. 그러므로, 테스터(10)는 통상적인 테스트 보드를 어댑터 인터페이스 또는 외부 인터페이스(23)와 각각 교환함으로써 쉽게 개조될 수 있다. 추가적으로, 어댑터 인터페이스(23)는 내구성이 있다.
본 발명에 따르면 DUT와 각각의 테스트 장비 간에 신호 전송율을 개선할 수 있다.

Claims (14)

  1. 자동 테스트 장비에서 전기 동축 케이블(8)을 접속시키는 커넥터에 있어서,
    하우징(2)과,
    각각이 상기 전기 동축 케이블(8) 중 하나에 전기적으로 연결되도록 구성된 다수의 케이블 리셉션(7)을 포함하는 케이블 접촉면(4)과,
    각각이 스프링 가압된 접촉핀(12,16)에 전기적으로 접촉하도록 구성된 다수의 핀 접촉 영역(11)을 포함하는 핀 접촉면(3) - 상기 핀 접촉 영역(11)의 제 1 군은 신호 전송용 접촉을 제공하도록 구성된 신호 접촉 영역(15)이고 상기 핀 접촉 영역(11)의 제 2 군은 전기적 접지를 제공하도록 구성된 접지 접촉 영역(14)임 - 과,
    자신으로부터 전기적으로 절연된 신호 도체(18)를 각각 둘러싸는 복수의 자켓(17)을 포함하고,
    각각의 상기 신호 도체(18)는 상기 신호 접촉 영역 중의 하나(15)를 상기 전기 동축 케이블(8) 중 하나에 전기적으로 연결하며,
    상기 신호 도체(18)에는 상기 각 전기 동축 케이블(8)의 중심 도체를 수용하도록 구성된 중심 리셉션(21)이 제공되고,
    상기 신호 접촉 영역(15)은 상기 신호 도체(18)에 각각 일체화된 부분이며,
    상기 하우징(2)은 전기적으로 접지되도록 구성된 도전성 물질로 만들어지고,
    상기 접지 접촉 영역(14)은 상기 하우징(2)에 각각 일체화된 부분인
    커넥터.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 자켓(17)은 상기 하우징(2)에 일체화된 부분인 커넥터.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 전기 동축 케이블은 차폐물과 중심 도체를 각각 포함하고,
    상기 중심 도체는 상기 신호 도체(18) 중의 하나와 각각 연결되는 커넥터.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 각 신호 도체(18)는 상기 핀 접촉면(3)으로부터 상기 케이블 접촉면(4)쪽으로 상기 하우징을 관통하는 관통홀(19) 내부로 삽입되고,
    상기 각각의 신호 도체(18)는 적어도 하나의 전기 절연체(20)에 의해 상기 각 관통홀(19) 내부에 고정되는 커넥터.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 케이블 리셉션(7)은 상기 전기 동축 케이블(8) 각각에 푸쉬 앤 풀(push and pull) 접속을 제공하도록 구성된 커넥터.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 케이블 리셉션(7)은 상기 전기 동축 케이블(8) 각각에 영구적인 접속을 제공하도록 구성된 커넥터.
  10. 삭제
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 핀 접촉 영역(11)은 상기 각 신호 접촉 영역(15)이 몇몇의 상기 접지 접촉 영역(14)에 의해 둘러싸이도록 배열되는 커넥터.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 하우징(2)은 플라스틱 또는 합성 화학 물질인 전기 절연 물질로 만들어지는 커넥터.
  13. 집적 회로를 테스트하는 테스터에 있어서,
    DUT(Device Under Test)(9)를 수용하고 장치 접촉 영역(25)에 전기적으로 직접 접속하는 다수의 보드 접촉 영역(27)을 갖는 테스트 보드(22)로서, 상기 장치 접촉 영역(25)은 상기 DUT(9)가 상기 테스트 보드(22) 위에 장착될 때 상기 DUT(9)의 장치핀(26)과 전기적으로 직접 접촉되는, 상기 테스트 보드(22)와,
    상기 테스트 보드(22)가 그 위에 장착되고, 상기 보드 접촉 영역(27)에 전기적으로 직접 접촉하는 다수의 외부 핀(31)을 갖는 외부 인터페이스(23)와,
    상기 테스터(10)의 테스트 장치(13)에 전기적으로 접속하는 다수의 내부 핀(12)과, 제 1 항, 제 5 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 기재된 커넥터를 갖는 내부 인터페이스(24)를 포함하고,
    상기 외부 핀(31)은 전기 동축 케이블에 직접 접속되며,
    상기 전기 동축 케이블(8)과 상기 내부 핀(12) 사이의 전기적 접속은 상기 커넥터에 의해 구현되는
    테스터.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 내부 핀(12)은 조절 가능하고 접촉 방향으로 스프링에 의해 가압되는 테스터.
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100898408B1 (ko) * 2007-06-13 2009-05-21 주식회사 오킨스전자 피씨비 모듈용 테스트 커넥터
US8836601B2 (en) 2013-02-04 2014-09-16 Ubiquiti Networks, Inc. Dual receiver/transmitter radio devices with choke
US9496620B2 (en) 2013-02-04 2016-11-15 Ubiquiti Networks, Inc. Radio system for long-range high-speed wireless communication
US7934952B2 (en) * 2009-07-29 2011-05-03 Ubiquiti Networks Coaxial cable connector system and method
US7922529B1 (en) 2009-11-23 2011-04-12 Neocoil, Llc High mating cycle low insertion force coaxial connector
US9543635B2 (en) 2013-02-04 2017-01-10 Ubiquiti Networks, Inc. Operation of radio devices for long-range high-speed wireless communication
US9397820B2 (en) 2013-02-04 2016-07-19 Ubiquiti Networks, Inc. Agile duplexing wireless radio devices
US9373885B2 (en) 2013-02-08 2016-06-21 Ubiquiti Networks, Inc. Radio system for high-speed wireless communication
EP3648359A1 (en) 2013-10-11 2020-05-06 Ubiquiti Inc. Wireless radio system optimization by persistent spectrum analysis
WO2015134755A2 (en) 2014-03-07 2015-09-11 Ubiquiti Networks, Inc. Devices and methods for networked living and work spaces
US9172605B2 (en) 2014-03-07 2015-10-27 Ubiquiti Networks, Inc. Cloud device identification and authentication
EP3120642B1 (en) 2014-03-17 2023-06-07 Ubiquiti Inc. Array antennas having a plurality of directional beams
US9912034B2 (en) 2014-04-01 2018-03-06 Ubiquiti Networks, Inc. Antenna assembly
CN107431301B (zh) * 2015-02-06 2021-03-30 迈心诺公司 与医疗传感器一起使用的具有伸缩针的连接器组件
US10327337B2 (en) 2015-02-06 2019-06-18 Masimo Corporation Fold flex circuit for LNOP
EP3101739B1 (en) * 2015-06-05 2022-05-11 ODU GmbH & Co. KG Electrical connector with plug and socket

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080027446A (ko) * 2006-09-22 2008-03-27 가부시키가이샤 아드반테스트 커넥터 조립체, 리셉터클형 커넥터 및 인터페이스 장치

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3848164A (en) * 1972-07-11 1974-11-12 Raychem Corp Capacitive electrical connectors
GB9420935D0 (en) * 1994-10-17 1994-11-30 Amp Gmbh Multi-position coaxial cable connector
GB9712457D0 (en) * 1997-06-17 1997-08-20 Smiths Industries Plc Electrical connection
TW440699B (en) * 1998-06-09 2001-06-16 Advantest Corp Test apparatus for electronic parts
US6377062B1 (en) * 2000-03-17 2002-04-23 Credence Systems Corporation Floating interface for integrated circuit test head
US6464527B2 (en) * 2000-03-28 2002-10-15 Ez Form Cable Corporation Quick connect coaxial cable connector
JP2001357914A (ja) * 2000-06-13 2001-12-26 Advantest Corp 電気回路基板に対する同軸ケーブルの接続構造
US6547593B1 (en) * 2000-08-07 2003-04-15 Gore Enterprise Holdings, Inc. Sub-miniature, high speed coaxial pin interconnection system
US7177667B2 (en) * 2003-11-25 2007-02-13 Kmw Inc. Antenna remote control apparatus of mobile communication base station system

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080027446A (ko) * 2006-09-22 2008-03-27 가부시키가이샤 아드반테스트 커넥터 조립체, 리셉터클형 커넥터 및 인터페이스 장치

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