JPH01116063A - 高分子膜の製法 - Google Patents
高分子膜の製法Info
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- JPH01116063A JPH01116063A JP27113587A JP27113587A JPH01116063A JP H01116063 A JPH01116063 A JP H01116063A JP 27113587 A JP27113587 A JP 27113587A JP 27113587 A JP27113587 A JP 27113587A JP H01116063 A JPH01116063 A JP H01116063A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、高分子膜の製法に関する。
高分子膜を製造する方法として、従来知られているもの
には、 ■溶媒に溶かした高分子化合物の原料モノマーを基板上
で重合させる方法、 ■高分子化合物を基板上に真空蒸着する方法、■高分子
化合物をスパッタし、基板に付着させる方法、 などがある。しかし、■の方法では、高分子膜中に溶媒
が残留するという問題点がある。■の方法では、蒸着可
能な高分子化合物の種類が限られ、分解も起こるなどの
問題点がある。■の方法は、スパッタ時に高分子化合物
が低分子化するなどして、高分子化合物の物性が変化し
てしまうという問題点がある。
には、 ■溶媒に溶かした高分子化合物の原料モノマーを基板上
で重合させる方法、 ■高分子化合物を基板上に真空蒸着する方法、■高分子
化合物をスパッタし、基板に付着させる方法、 などがある。しかし、■の方法では、高分子膜中に溶媒
が残留するという問題点がある。■の方法では、蒸着可
能な高分子化合物の種類が限られ、分解も起こるなどの
問題点がある。■の方法は、スパッタ時に高分子化合物
が低分子化するなどして、高分子化合物の物性が変化し
てしまうという問題点がある。
これらの従来の方法に代えて、2種のモノマーを蒸着し
重合して耐熱性の高い高分子膜を形成する方法が提案さ
れている。この方法では、2種のモノマーとして、たと
えば、ビスマレイミドモノマーと他のモノマーとを併用
している。これは、ビスマレイミドモノマーに他のモノ
マーを併用することにより、ポリマーが脆くなって膜が
形成できなくなるのを防ぐためである。前記他のモノマ
ーとしては、たとえば、ジアミンが用いられている。ビ
スマレイミドモノマーとジアミンモノマーとを真空中で
対象物に蒸着し、重合させて高分子膜を形成することに
より、耐熱性の高い高分子膜を形成することができるが
、2種のモノマーのモル比が膜の特性に大きく影響する
ため、そのモル比を厳密に制御する必要がある。また、
2種のモノマーを用いた場合、両モノマーの混合の度合
が蒸着箇所により異なるため、生成するポリマーの性質
も蒸着箇所により異なり、不均質な高分子膜が生成する
。また、大量の対象物に高分子膜を形成するという処理
を行うと、品質のばらつきが大きくなるという問題点が
あった。
重合して耐熱性の高い高分子膜を形成する方法が提案さ
れている。この方法では、2種のモノマーとして、たと
えば、ビスマレイミドモノマーと他のモノマーとを併用
している。これは、ビスマレイミドモノマーに他のモノ
マーを併用することにより、ポリマーが脆くなって膜が
形成できなくなるのを防ぐためである。前記他のモノマ
ーとしては、たとえば、ジアミンが用いられている。ビ
スマレイミドモノマーとジアミンモノマーとを真空中で
対象物に蒸着し、重合させて高分子膜を形成することに
より、耐熱性の高い高分子膜を形成することができるが
、2種のモノマーのモル比が膜の特性に大きく影響する
ため、そのモル比を厳密に制御する必要がある。また、
2種のモノマーを用いた場合、両モノマーの混合の度合
が蒸着箇所により異なるため、生成するポリマーの性質
も蒸着箇所により異なり、不均質な高分子膜が生成する
。また、大量の対象物に高分子膜を形成するという処理
を行うと、品質のばらつきが大きくなるという問題点が
あった。
この発明は、以上のことに鑑みて、蒸着や重合の制御が
容易で、耐熱性の高い均質な高分子膜を製造することが
できる高分子膜の製法を提供することを目的とする。
容易で、耐熱性の高い均質な高分子膜を製造することが
できる高分子膜の製法を提供することを目的とする。
発明者は、真空中でモノマーを蒸発させ、対象物の表面
上にそのモノマーのポリマーからなる高分子膜を形成す
る方法を採れば、不純物が混じるおそれがなく、しかも
、対象物表面上に高分子膜を形成しやすいと考え、この
方法に用いるモノマーとして適切なものの検討に入った
。高分子膜を均質なものとするには、ビスマレイミドモ
ノマーとジアミンモノマーとを併用せずに、一方のみを
使用すれば良いと考え、まず、ビスマレイミドについて
研究を進めた。その結果、ビスマレイミドのみを重合さ
せるともろくなって膜が形成できないと考えられていた
が、下記一般式(alで表されるビスマレイミドのみを
重合させると、もろくならず、高分子膜が形成できるこ
とがわかったのである。
上にそのモノマーのポリマーからなる高分子膜を形成す
る方法を採れば、不純物が混じるおそれがなく、しかも
、対象物表面上に高分子膜を形成しやすいと考え、この
方法に用いるモノマーとして適切なものの検討に入った
。高分子膜を均質なものとするには、ビスマレイミドモ
ノマーとジアミンモノマーとを併用せずに、一方のみを
使用すれば良いと考え、まず、ビスマレイミドについて
研究を進めた。その結果、ビスマレイミドのみを重合さ
せるともろくなって膜が形成できないと考えられていた
が、下記一般式(alで表されるビスマレイミドのみを
重合させると、もろくならず、高分子膜が形成できるこ
とがわかったのである。
したがって、この発明は、上記目的を達成するために、
一般式 〔式中、A、はX巨ΣXX巨X(ただし、Xは、−0−
1−8O□−1または、−CHz−を示す)を示す〕で
表されるビスマレイミドを真空中で蒸発させて重合させ
、対象物表面上にそのビスマレイミドのポリマーからな
る高分子膜を形成する高分子膜の製法を要旨とする。
一般式 〔式中、A、はX巨ΣXX巨X(ただし、Xは、−0−
1−8O□−1または、−CHz−を示す)を示す〕で
表されるビスマレイミドを真空中で蒸発させて重合させ
、対象物表面上にそのビスマレイミドのポリマーからな
る高分子膜を形成する高分子膜の製法を要旨とする。
以下に、この発明の詳細な説明する。
この発明では、上記一般式(alで表されるビスマレイ
ミド(以下、単に「ビスマレイミド」と称する)を真空
中で蒸発させている。このようにすることにより、ビス
マレイミドのポリマーが対象物表面上に直接付着し、し
かも、不純物が混じるおそれがない。また、ビスマレイ
ミドのみを蒸発させ、重合させるので、その制御が容易
であり、生成した高分子膜は、蒸着箇所によって物性が
異ならず、均質なものとなる。前記ビスマレイミドから
なる群の中から選ばれた1種のモノマーのみを蒸発させ
るようにすれば、より確実に均質な高分子膜を製造する
ことができる。
ミド(以下、単に「ビスマレイミド」と称する)を真空
中で蒸発させている。このようにすることにより、ビス
マレイミドのポリマーが対象物表面上に直接付着し、し
かも、不純物が混じるおそれがない。また、ビスマレイ
ミドのみを蒸発させ、重合させるので、その制御が容易
であり、生成した高分子膜は、蒸着箇所によって物性が
異ならず、均質なものとなる。前記ビスマレイミドから
なる群の中から選ばれた1種のモノマーのみを蒸発させ
るようにすれば、より確実に均質な高分子膜を製造する
ことができる。
真空条件としては、特に限定されないが、1×10−’
〜I X 10−’To r rの圧力とするのが好ま
しい。この範囲の下限を下回ると、モノマーの蒸発速度
のコントロールが困難になることがあり、この範囲の上
限を上回ると、減圧度が不十分で、モノマーを蒸発させ
るためには加熱温度を高くする必要があり、モノマーが
蒸発せずに熱重合することがある。
〜I X 10−’To r rの圧力とするのが好ま
しい。この範囲の下限を下回ると、モノマーの蒸発速度
のコントロールが困難になることがあり、この範囲の上
限を上回ると、減圧度が不十分で、モノマーを蒸発させ
るためには加熱温度を高くする必要があり、モノマーが
蒸発せずに熱重合することがある。
ビスマレイミドは、たとえば、加熱により蒸発させるが
、加熱以外によって蒸発させてもよい。
、加熱以外によって蒸発させてもよい。
蒸発させたビスマレイミドは、モノマーのまま、あるい
は、重合させながら、あるいは、重合させてから、対象
物の表面上に蒸着させる。この対象物としては、特に限
定はないが、たとえば、ガラス、ステンレス、アルミニ
ウム、銅、ケイ素鋼などの基板が使用される。対象物の
蒸着面は、あらかじめ前処理をしておいてもよい。蒸着
により、ビスマレイミドおよび/またはそのポリマーか
らなる膜が形成される。
は、重合させながら、あるいは、重合させてから、対象
物の表面上に蒸着させる。この対象物としては、特に限
定はないが、たとえば、ガラス、ステンレス、アルミニ
ウム、銅、ケイ素鋼などの基板が使用される。対象物の
蒸着面は、あらかじめ前処理をしておいてもよい。蒸着
により、ビスマレイミドおよび/またはそのポリマーか
らなる膜が形成される。
ビスマレイミドの重合は、対象物に蒸着する前および後
のいずれに行ってもよい0重合を行う条件は、特に限定
はないが、たとえば、温度100〜150℃で、30〜
60分間加熱することにより行う。重合温度が上記範囲
の下限よりも低いと、七ツマ−の蒸発が不充分であるこ
とがあり、上記範囲の上限よりも高いと、モノマーが蒸
発管中で熱重合してしまい対象物に蒸着されないことが
ある。加熱時間が上記範囲の下限よりも短いと、均一性
の高い膜が得られないことがあり、上記範囲の上限より
も長いと、モノマーの蒸発管内での熱重合が進み、蒸着
が困難になることがある。
のいずれに行ってもよい0重合を行う条件は、特に限定
はないが、たとえば、温度100〜150℃で、30〜
60分間加熱することにより行う。重合温度が上記範囲
の下限よりも低いと、七ツマ−の蒸発が不充分であるこ
とがあり、上記範囲の上限よりも高いと、モノマーが蒸
発管中で熱重合してしまい対象物に蒸着されないことが
ある。加熱時間が上記範囲の下限よりも短いと、均一性
の高い膜が得られないことがあり、上記範囲の上限より
も長いと、モノマーの蒸発管内での熱重合が進み、蒸着
が困難になることがある。
重合により、ビスマレイミドの炭素−炭素二重結合部分
が反応して、一般式(b) 〔式中、A、lはX巨ΣXX巨X(ただし、Xは、−〇
−1S Oz−1または、−CHt−を示す)を示し、
mは正の整数を示す〕 、および/または、一般式(C) 〔式中、A、は−@)−Xべ巨Σ(ただし、Xは、−〇
−1−SO□−1または、−CHt−を示す)を示し、
nは正の整数を示す〕 などの構造をとるポリマーが生成すると推定される。得
られた高分子膜は、ビスマレイミドモノマーのみを重合
させてなるので、均質なものであり、耐熱性も従来の高
分子膜と同等である。
が反応して、一般式(b) 〔式中、A、lはX巨ΣXX巨X(ただし、Xは、−〇
−1S Oz−1または、−CHt−を示す)を示し、
mは正の整数を示す〕 、および/または、一般式(C) 〔式中、A、は−@)−Xべ巨Σ(ただし、Xは、−〇
−1−SO□−1または、−CHt−を示す)を示し、
nは正の整数を示す〕 などの構造をとるポリマーが生成すると推定される。得
られた高分子膜は、ビスマレイミドモノマーのみを重合
させてなるので、均質なものであり、耐熱性も従来の高
分子膜と同等である。
この発明にかかる製法により製造された高分子膜は、薄
膜に限定されず、たとえば、厚み0.1〜10μm程度
が好ましい。厚みが薄すぎると、均一性が不十分なこと
があり、厚すぎると、製膜に時間がかかるためその間に
蒸発管内での熱重合が進み、蒸着が困難になることがあ
る。
膜に限定されず、たとえば、厚み0.1〜10μm程度
が好ましい。厚みが薄すぎると、均一性が不十分なこと
があり、厚すぎると、製膜に時間がかかるためその間に
蒸発管内での熱重合が進み、蒸着が困難になることがあ
る。
以下、この発明の方法を実施するのに用いる装置の例を
あられす図面を参照しながら、さらに詳しく説明する。
あられす図面を参照しながら、さらに詳しく説明する。
第1図は、この発明の高分子膜の製法を実施するのに用
いる装置の1例をあられす構成概略図である。第1図に
みるように、この装置は、減圧チャンバー1内に、蒸発
管6および基板ホルダー3を備えている。減圧チャンバ
ー1は、真空ポンプ9を作動させることにより減圧され
るようになっている。基板ホルダー3は、蒸着の対象物
となる基板2が着脱されるようになっていて、基板2を
装着する側が下方を向くようにして減圧チャンバー1内
の上側に設置されている。基板ホルダー3は、基板2を
装着した状態で、軸11を中心にして回転するようにな
っている。蒸発管6は、その開口部を基板ホルダー3の
基板装着側に向けるようにして、減圧チャンバー1内の
下側に設置されている。基板2は、基板ホルダー3に装
着された状態で、基板加熱用ヒータ4により加熱される
ようになっている。蒸発管6は、蒸発管加熱用ヒータ7
により加熱されるようになっている。
いる装置の1例をあられす構成概略図である。第1図に
みるように、この装置は、減圧チャンバー1内に、蒸発
管6および基板ホルダー3を備えている。減圧チャンバ
ー1は、真空ポンプ9を作動させることにより減圧され
るようになっている。基板ホルダー3は、蒸着の対象物
となる基板2が着脱されるようになっていて、基板2を
装着する側が下方を向くようにして減圧チャンバー1内
の上側に設置されている。基板ホルダー3は、基板2を
装着した状態で、軸11を中心にして回転するようにな
っている。蒸発管6は、その開口部を基板ホルダー3の
基板装着側に向けるようにして、減圧チャンバー1内の
下側に設置されている。基板2は、基板ホルダー3に装
着された状態で、基板加熱用ヒータ4により加熱される
ようになっている。蒸発管6は、蒸発管加熱用ヒータ7
により加熱されるようになっている。
蒸発管6内に、原料上ツマ−のビスマレイミドを入れ、
減圧チャンバー1内の圧力を所望の圧力に設定する。蒸
発管加熱用ヒータ7に電源8から所望の電圧の電流を加
えて蒸発管6内のビスマレイミドを蒸発させると、ビス
マレイミドは、上側の基板2に蒸着する。このとき、基
板ホルダー3を基板2ごと回転させると、蒸着膜の厚み
をより均一にすることができる。その回転速度は、特に
限定はないが、たとえば、20〜50rpm程度である
。
減圧チャンバー1内の圧力を所望の圧力に設定する。蒸
発管加熱用ヒータ7に電源8から所望の電圧の電流を加
えて蒸発管6内のビスマレイミドを蒸発させると、ビス
マレイミドは、上側の基板2に蒸着する。このとき、基
板ホルダー3を基板2ごと回転させると、蒸着膜の厚み
をより均一にすることができる。その回転速度は、特に
限定はないが、たとえば、20〜50rpm程度である
。
基板加熱用ヒータ4に電源5から所望の電圧を印加し、
蒸着物を加熱処理する。この加熱処理の時間および温度
は、適宜設定すればよい、加熱処理により、重合させ、
高分子膜が生成する。
蒸着物を加熱処理する。この加熱処理の時間および温度
は、適宜設定すればよい、加熱処理により、重合させ、
高分子膜が生成する。
第2図は、この発明の高分子膜の製法を実施するのに用
いる装置の別の1例をあられす構成概略図である。第2
図にみるように、この装置は、第1図に示した装置にお
いて、基板ホルダー3に基板加熱用ヒータ4が配備され
ていないこと、基板2と蒸発管6との間に加熱炉10が
配備されていること以外は、第1図に示した装置と同じ
である。したがって、同じものには、同じ番号を付して
いる。第2図にみるように、減圧チャンバー1内を所望
の圧力に設定し、蒸発管6に入れたビスマレイミドを蒸
発管加熱用ヒータ7で加熱して蒸発させる。蒸発したビ
スマレイミドは、加熱炉10の中を通って、基板2に蒸
着する。電源5から加熱炉10に所望の電圧を印加し、
蒸発物が加熱炉lOを通る際に加熱を行えば、ビスマレ
イミドを重合させることができ、ビスマレイミドのポリ
マーの膜が基板2上に形成される。
いる装置の別の1例をあられす構成概略図である。第2
図にみるように、この装置は、第1図に示した装置にお
いて、基板ホルダー3に基板加熱用ヒータ4が配備され
ていないこと、基板2と蒸発管6との間に加熱炉10が
配備されていること以外は、第1図に示した装置と同じ
である。したがって、同じものには、同じ番号を付して
いる。第2図にみるように、減圧チャンバー1内を所望
の圧力に設定し、蒸発管6に入れたビスマレイミドを蒸
発管加熱用ヒータ7で加熱して蒸発させる。蒸発したビ
スマレイミドは、加熱炉10の中を通って、基板2に蒸
着する。電源5から加熱炉10に所望の電圧を印加し、
蒸発物が加熱炉lOを通る際に加熱を行えば、ビスマレ
イミドを重合させることができ、ビスマレイミドのポリ
マーの膜が基板2上に形成される。
この発明にかかる高分子膜の製法は、たとえば、半導体
装置製造プロセス、金属表面保護、回路形成、絶縁膜形
成などに利用される。
装置製造プロセス、金属表面保護、回路形成、絶縁膜形
成などに利用される。
以下に、この発明の実施例を示すが、この発明は、下記
実施例に限定されない。
実施例に限定されない。
(実施例1)
第1図に示す構造の装置を用いた。
下記構造式(d)であられされる4、4′−メチレンジ
フェニルビスマレイミド50■を蒸発管6に入れ、減圧
チャンバー1内の圧力をI X 10−’Torrに設
定した。蒸発管加熱用ヒータ7に電源8から2.5■、
5. OAを印加したところ、蒸発管6内のビスマレイ
ミドはすべて蒸発し、基板2上に蒸着された。基板2と
しては、ステンレス(SUS 304)板を使用し、蒸
着中、回転させなかった。
フェニルビスマレイミド50■を蒸発管6に入れ、減圧
チャンバー1内の圧力をI X 10−’Torrに設
定した。蒸発管加熱用ヒータ7に電源8から2.5■、
5. OAを印加したところ、蒸発管6内のビスマレイ
ミドはすべて蒸発し、基板2上に蒸着された。基板2と
しては、ステンレス(SUS 304)板を使用し、蒸
着中、回転させなかった。
基板2上に蒸着されたビスマレイミドに基板加熱用ヒー
タ4で200℃、1時間の加熱処理を行い、膜厚1.
Otnaの薄膜を形成した。
タ4で200℃、1時間の加熱処理を行い、膜厚1.
Otnaの薄膜を形成した。
(実施例2)
実施例1において、構造式(dlであられされるビスマ
レイミドを用いる代わりに、下記構造式(elであられ
される4、4′−オキシジフェニルビスマレイミドを用
いたこと、および、基板2を蒸着中に回転速度20rp
mで回転させたこと以外は実施例1と同様にして高分子
膜を形成した。この膜は、厚み1.0μ■であった。
レイミドを用いる代わりに、下記構造式(elであられ
される4、4′−オキシジフェニルビスマレイミドを用
いたこと、および、基板2を蒸着中に回転速度20rp
mで回転させたこと以外は実施例1と同様にして高分子
膜を形成した。この膜は、厚み1.0μ■であった。
(実施例3)
実施例2において、構造式(e)であられされるビスマ
レイミドを用いる代わりに、下記構造式(f)であられ
される4、4′−スルホンジフェニルビスマレイミドを
用いたこと以外は実施例2と同様にして高分子膜を形成
した。この膜は、厚み1.Onであった。
レイミドを用いる代わりに、下記構造式(f)であられ
される4、4′−スルホンジフェニルビスマレイミドを
用いたこと以外は実施例2と同様にして高分子膜を形成
した。この膜は、厚み1.Onであった。
(実施例4)
第2図に示す構造の装置を用いた。
上記構造式(d)であられされる4、4′−メチレンジ
フェニルビスマレイミド50■を1光管6に入れ、減圧
チャンバー1内の圧力をlXl0−’Torrに設定し
た。蒸発管加熱用ヒータ7に電源8から2.5■、5.
OAを印加すると同時に、加熱炉10を200℃以上に
保ち、基板2上に高分子膜を形成させた。高分子膜の厚
みは、1.0μmであった。基板2としては、ステンレ
ス(SUS304)板を使用し、蒸着中、回転速度50
rpmで回転させた。
フェニルビスマレイミド50■を1光管6に入れ、減圧
チャンバー1内の圧力をlXl0−’Torrに設定し
た。蒸発管加熱用ヒータ7に電源8から2.5■、5.
OAを印加すると同時に、加熱炉10を200℃以上に
保ち、基板2上に高分子膜を形成させた。高分子膜の厚
みは、1.0μmであった。基板2としては、ステンレ
ス(SUS304)板を使用し、蒸着中、回転速度50
rpmで回転させた。
(実施例5)
実施例4において、基板2としてガラス板を用いた以外
は、実施例4と同様にして基板2上に高分子膜を形成さ
せた。高分子膜の厚みは、1.0μmであった。
は、実施例4と同様にして基板2上に高分子膜を形成さ
せた。高分子膜の厚みは、1.0μmであった。
(比較例)
実施例1で用いた装置において、減圧チャンバー1内に
2つの蒸発管を設置して、別々に加熱できるようにした
以外は実施例1と同じ装置を用いた。
2つの蒸発管を設置して、別々に加熱できるようにした
以外は実施例1と同じ装置を用いた。
実施例1で用いたのと同じビスマレイミドと、下記式で
表されるジアミノジフェニルメタンを2つの蒸発管に別
々に50■ずつとり、実施例1と同様の圧力下で、ビス
マレイミドは123〜127℃に、ジアミノジフェニル
メタンは128〜132℃にそれぞれ最適蒸発温度を設
定して蒸発させたところ、両方とも全部蒸発して基板2
に蒸着した。蒸着の際には、基[2を回転速度50rp
mで回転させた。次に、この蒸着物を200℃で1時間
加熱処理して、膜厚0.4μ■の薄膜を形成した上記実
施例および比較例の各高分子膜について、表面粗さ、基
板に対する密着性、および、耐熱性をそれぞれ調べて第
1表に示した。表面粗さは、表面粗さ計により測定した
。密着性は、粘着テープ(スリーエム社のスコッチテー
プ)を各高分子膜表面に貼り付け、引き剥がす際に高分
子膜が対象物から剥離する(×)か否(○)かで判定し
た。耐熱性は、熱天秤で熱重量損失曲線を求め、熱分解
開始温度により評価した。
表されるジアミノジフェニルメタンを2つの蒸発管に別
々に50■ずつとり、実施例1と同様の圧力下で、ビス
マレイミドは123〜127℃に、ジアミノジフェニル
メタンは128〜132℃にそれぞれ最適蒸発温度を設
定して蒸発させたところ、両方とも全部蒸発して基板2
に蒸着した。蒸着の際には、基[2を回転速度50rp
mで回転させた。次に、この蒸着物を200℃で1時間
加熱処理して、膜厚0.4μ■の薄膜を形成した上記実
施例および比較例の各高分子膜について、表面粗さ、基
板に対する密着性、および、耐熱性をそれぞれ調べて第
1表に示した。表面粗さは、表面粗さ計により測定した
。密着性は、粘着テープ(スリーエム社のスコッチテー
プ)を各高分子膜表面に貼り付け、引き剥がす際に高分
子膜が対象物から剥離する(×)か否(○)かで判定し
た。耐熱性は、熱天秤で熱重量損失曲線を求め、熱分解
開始温度により評価した。
第 1 表
第1表にみるように、各実施例で得られた高分子膜は、
比較例で得られた高分子膜と同等の密着性を有し、表面
粗さがやや良好である。そして、耐熱性は、比較例で得
られた高分子膜とほぼ同等であった。比較例で得られた
高分子膜は、耐熱性の評価の際に、温度を上げていくと
、ところどころが対象物から浮き上がって剥がれ、各実
施例の高分子膜に比べて、均質さが劣っていた。また、
比較例の製法では、2種のモノマーをそれぞれ蒸発させ
る温度を上記のように厳密に設定する必要があったが、
各実施例の製法では、その必要がなく、制御が容易であ
った。
比較例で得られた高分子膜と同等の密着性を有し、表面
粗さがやや良好である。そして、耐熱性は、比較例で得
られた高分子膜とほぼ同等であった。比較例で得られた
高分子膜は、耐熱性の評価の際に、温度を上げていくと
、ところどころが対象物から浮き上がって剥がれ、各実
施例の高分子膜に比べて、均質さが劣っていた。また、
比較例の製法では、2種のモノマーをそれぞれ蒸発させ
る温度を上記のように厳密に設定する必要があったが、
各実施例の製法では、その必要がなく、制御が容易であ
った。
この発明の高分子膜の製法は、以上にみるように、上記
一般式(δ)で表されるビスマレイミドを真空中で蒸発
させて重合させ、対象物表面上にそのビスマレイミドの
ポリマーからなる高分子膜を形成するので、蒸着および
重合の制御が容易であり、耐熱性が良好で均質な高分子
膜を製造することができる。
一般式(δ)で表されるビスマレイミドを真空中で蒸発
させて重合させ、対象物表面上にそのビスマレイミドの
ポリマーからなる高分子膜を形成するので、蒸着および
重合の制御が容易であり、耐熱性が良好で均質な高分子
膜を製造することができる。
第1図および第2図は、それぞれ、この発明の製法を実
施するのに用いる装置の別々の1例を表す概略断面図で
ある。 代理人 弁理士 松 本 武 彦
施するのに用いる装置の別々の1例を表す概略断面図で
ある。 代理人 弁理士 松 本 武 彦
Claims (1)
- (1)一般式 ▲数式、化学式、表等があります▼ 〔式中、A_Rは▲数式、化学式、表等があります▼(
ただし、Xは、 −O−、−SO_2−、または、−CH_2−を示す)
を示す〕で表されるビスマレイミドを真空中で蒸発させ
て重合させ、対象物表面上にそのビスマレイミドのポリ
マーからなる高分子膜を形成する高分子膜の製法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27113587A JPH01116063A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 高分子膜の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27113587A JPH01116063A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 高分子膜の製法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01116063A true JPH01116063A (ja) | 1989-05-09 |
Family
ID=17495806
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27113587A Pending JPH01116063A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 高分子膜の製法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01116063A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03190087A (ja) * | 1989-12-20 | 1991-08-20 | Sanyo Electric Co Ltd | 有機el素子 |
-
1987
- 1987-10-27 JP JP27113587A patent/JPH01116063A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03190087A (ja) * | 1989-12-20 | 1991-08-20 | Sanyo Electric Co Ltd | 有機el素子 |
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