JP6373568B2 - 荷電粒子線装置 - Google Patents
荷電粒子線装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6373568B2 JP6373568B2 JP2013209795A JP2013209795A JP6373568B2 JP 6373568 B2 JP6373568 B2 JP 6373568B2 JP 2013209795 A JP2013209795 A JP 2013209795A JP 2013209795 A JP2013209795 A JP 2013209795A JP 6373568 B2 JP6373568 B2 JP 6373568B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- charged particle
- particle beam
- holding device
- reverse side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 64
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 26
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 claims description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000001073 sample cooling Methods 0.000 claims description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 37
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 11
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 5
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 5
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/20—Means for supporting or positioning the object or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/16—Vessels; Containers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32798—Further details of plasma apparatus not provided for in groups H01J37/3244 - H01J37/32788; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
- H01J37/32853—Hygiene
- H01J37/32862—In situ cleaning of vessels and/or internal parts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/18—Vacuum control means
- H01J2237/184—Vacuum locks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2002—Controlling environment of sample
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2002—Controlling environment of sample
- H01J2237/2003—Environmental cells
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Epidemiology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
2 電子銃
3 コンデンサーレンズ
4 対物レンズ
5 投射レンズ
6 電子顕微鏡用試料保持装置
7 蛍光板
8 TVカメラ
9a 画像表示部
9b 画像記録部
10 試料
11 差動排気用絞り
12 電子顕微鏡試料室
13 観察室
14 バルブ
15 真空ポンプ
16 試料予備排気室
17 逆サイドエントリー部
18 逆サイドエントリー予備排気室
19 電圧印加用電源
20 入射電子線
21 透過電子線
22 試料接触部
23a 電極
23b 電極
23a’ 電極
23b’ 電極
24a 電極
24b 電極
25 試料抑え
26 ガス導入ノズル
27 試料雰囲気遮断部
28 外部つまみ
29 本体軸
30 Oリング
31 リングバネ
32 隔膜
33 温湿度センサ
34 マイクロ真空計
35 温湿度センサーコントローラ
36 マイクロ真空計コントローラ
37 真空排気孔
38 ニードルバルブ
39a プラズマ用電極
39b プラズマ用電極
40 高周波発生電源
41 接地
42 応力印加部
43 試料抑え
44 試料抑え固定ねじ
45 ピエゾ素子
46 応力印加電源
47 二軸傾斜機構
48 試料ステージ部
49 歯車機構
50 ワッシャ
51 歯車
52 雰囲気遮断部固定ねじ
53 バルブ
54 試料台
55 フレーム
56 ピボット
57 冷却部
58 冷却媒体
59 ヒータ
60 熱電対
61 温度コントローラ
Claims (11)
- 一次荷電粒子線を放出する荷電粒子源と、
前記荷電粒子源から放出される荷電粒子線を収束し、試料に照射する荷電粒子制御手段と、
前記試料から発生した電子を検出する検出器と、
試料像を表示する表示手段と、
前記表示される試料像を記録する手段と、
前記試料を保持する試料保持装置と、
前記試料保持装置に対向する側から着脱可能に挿入され、前記試料保持装置と接触した状態で前記試料に作用を与える逆サイドエントリー部と、を備え、
前記着脱可能な逆サイドエントリー部に、電圧を印加するための2対あるいはそれ以上の電極端子を有し、前記試料保持装置の試料を固定する部分に備えられた電極と、前記逆サイドエントリー部に備えられた前記電極端子が接触し、前記電極端子が電圧印加電源に接続され前記作用として前記試料に電圧を印加することが可能であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 一次荷電粒子線を放出する荷電粒子源と、
前記荷電粒子源から放出される荷電粒子線を収束し、試料に照射する荷電粒子制御手段と、
前記試料から発生した電子を検出する検出器と、
試料像を表示する表示手段と、
前記表示される試料像を記録する手段と、
前記試料を保持する試料保持装置と、
前記試料保持装置に対向する側から着脱可能に挿入され、前記試料保持装置と接触した状態で前記試料に作用を与える逆サイドエントリー部と、を備え、
前記着脱可能な逆サイドエントリー部に、前記試料保持装置に保持されている前記試料の観察領域近傍まで挿入され、該試料へ作用させるガスの導入機構を設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1または2記載の荷電粒子線装置において、
前記着脱可能な逆サイドエントリー部は前記試料保持装置の周囲を取り囲み、試料室と試料間の雰囲気を遮断することが可能でかつ、真空排気も可能な試料雰囲気遮断機能であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項3記載の荷電粒子線装置において、
前記着脱可能な逆サイドエントリー部に軽元素薄膜の隔膜を有し、試料保持装置に組み合わせた時に荷電粒子線軸に隔膜が配置されることにより、荷電粒子線装置内で、真空と異なるガス圧力空間を形成し、そのガス圧力下での試料の変化するプロセスをその場観察・分析が可能なことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1乃至4のいずれか記載の荷電粒子線装置において、
前記着脱可能な逆サイドエントリー部に小型真空計を設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項5記載の荷電粒子線装置において、
着脱可能な逆サイドエントリー部に温湿度センサーを設けたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1乃至5のいずれか記載の荷電粒子線装置において、
前記着脱可能な逆サイドエントリー部の内側に対向する電極板を設け、電極の一方に高周波発生装置を介して、制御部と接続し、もう一方の電極を設置し、電極間に試料保持装置の試料を配置することにより、電極間にプラズマを発生し、試料および試料保持装置先端部分のクリーニングが可能であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 一次荷電粒子線を放出する荷電粒子源と、
前記荷電粒子源から放出される荷電粒子線を収束し、試料に照射する荷電粒子制御手段と、
前記試料から発生した電子を検出する検出器と、
試料像を表示する表示手段と、
前記表示される試料像を記録する手段と、
前記試料を保持する試料保持装置と、
前記試料保持装置に対向する側から着脱可能に挿入され、前記試料保持装置と接触した状態で前記試料に作用を与える逆サイドエントリー部と、を備え、
前記着脱可能な逆サイドエントリー部に、前記作用として前記試料に応力を加えるための応力印加機能を備えたことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 一次荷電粒子線を放出する荷電粒子源と、
前記荷電粒子源から放出される荷電粒子線を収束し、試料に照射する荷電粒子制御手段と、
前記試料から発生した電子を検出する検出器と、
試料像を表示する表示手段と、
前記表示される試料像を記録する手段と、
前記試料を保持する試料保持装置と、
前記試料保持装置に対向する側から着脱可能に挿入され、前記試料保持装置と接触した状態で前記試料に作用を与える逆サイドエントリー部と、を備え、
着脱可能な逆サイドエントリー部に、試料保持装置の試料回転機構に取り付けた微小歯車とかみ合うように配置される歯車を備え、試料回転機構を回転させることが可能なことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項3または4記載の荷電粒子線装置において、
荷電粒子線装置試料室内で、逆サイドエントリー部が2つの部分に分割でき、逆サイドエントリー部先端部が、着脱可能で、試料保持装置側に取り付けすることにより、雰囲気を遮断した状態で、荷電粒子線装置間を搬送することが可能なことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 一次荷電粒子線を放出する荷電粒子源と、
前記荷電粒子源から放出される荷電粒子線を収束し、試料に照射する荷電粒子制御手段と、
前記試料から発生した電子を検出する検出器と、
試料像を表示する表示手段と、
前記表示される試料像を記録する手段と、
前記試料を保持する試料保持装置と、
前記試料保持装置に対向する側から着脱可能に挿入され、前記試料保持装置と接触した状態で前記試料に作用を与える逆サイドエントリー部と、を備え、
前記着脱可能な逆サイドエントリー部に試料保持装置先端部を冷却するための機構を備え、試料保持装置と試料搭載部を熱絶縁したことにより、前記作用として前記試料を効率よく冷却し、試料冷却時間の短縮が可能なことを特徴とする荷電粒子線装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013209795A JP6373568B2 (ja) | 2013-10-07 | 2013-10-07 | 荷電粒子線装置 |
DE112014003891.1T DE112014003891B4 (de) | 2013-10-07 | 2014-09-05 | Ladungsteilchenstrahlvorrichtung und Probenhalter für dieLadungsteilchenstrahlvorrichtung |
US15/023,429 US10068745B2 (en) | 2013-10-07 | 2014-09-05 | Charged particle beam device and sample holder for charged particle beam device |
CN201480052535.1A CN105612597B (zh) | 2013-10-07 | 2014-09-05 | 带电粒子束装置以及带电粒子束装置用样本保持装置 |
PCT/JP2014/073431 WO2015053020A1 (ja) | 2013-10-07 | 2014-09-05 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置用試料保持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013209795A JP6373568B2 (ja) | 2013-10-07 | 2013-10-07 | 荷電粒子線装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015076147A JP2015076147A (ja) | 2015-04-20 |
JP6373568B2 true JP6373568B2 (ja) | 2018-08-15 |
Family
ID=52812840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013209795A Active JP6373568B2 (ja) | 2013-10-07 | 2013-10-07 | 荷電粒子線装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10068745B2 (ja) |
JP (1) | JP6373568B2 (ja) |
CN (1) | CN105612597B (ja) |
DE (1) | DE112014003891B4 (ja) |
WO (1) | WO2015053020A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017033219A1 (ja) * | 2015-08-21 | 2017-03-02 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子顕微鏡の観察支援ユニットおよびこれを用いた試料観察方法 |
JP6549313B2 (ja) * | 2016-04-13 | 2019-07-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置および試料ホルダ |
DE102016116765B3 (de) * | 2016-09-07 | 2018-02-22 | Specs Surface Nano Analysis Gmbh | Vorrichtung mit teilchenoptischer Linsenwirkung zur Untersuchung einer nicht gasförmigen Probe in einer gasförmigen Umgebung, Elektronen- und/oder ionenoptisches System sowie Verfahren zum Untersuchen |
JP2018049691A (ja) * | 2016-09-20 | 2018-03-29 | 国立大学法人大阪大学 | ホルダー、及びそれを備えた透過型電子顕微鏡 |
JP6906786B2 (ja) * | 2017-03-27 | 2021-07-21 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 試料保持具、部材装着用器具、および荷電粒子ビーム装置 |
CN110612592B (zh) * | 2017-04-27 | 2021-05-11 | 阿卜杜拉国王科技大学 | 透射电子显微镜样品对齐系统和方法 |
JP6881218B2 (ja) * | 2017-10-18 | 2021-06-02 | 日本製鉄株式会社 | 試料解析方法 |
KR101969881B1 (ko) * | 2017-10-30 | 2019-04-18 | 서울대학교산학협력단 | 통전 및 인장이 가능한 전자현미경용 홀더장치 |
JP7407689B2 (ja) * | 2020-10-26 | 2024-01-04 | 株式会社日立製作所 | 試料ホルダ及びそれを備える荷電粒子線装置 |
CN114203505A (zh) * | 2021-12-15 | 2022-03-18 | 厦门超新芯科技有限公司 | 一种透射电镜冷冻样品杆 |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5962662U (ja) * | 1982-10-20 | 1984-04-24 | 日本電子株式会社 | 電子線装置 |
US4665315A (en) * | 1985-04-01 | 1987-05-12 | Control Data Corporation | Method and apparatus for in-situ plasma cleaning of electron beam optical systems |
FR2704649B1 (fr) * | 1993-04-30 | 1995-07-21 | Centre Nat Rech Scient | Machine de traction in situ et eprouvette pour microscope electronique a balayage. |
US5326971A (en) * | 1993-05-17 | 1994-07-05 | Motorola, Inc. | Transmission electron microscope environmental specimen holder |
JPH09129168A (ja) | 1995-11-01 | 1997-05-16 | Jeol Ltd | 隔膜型ガス雰囲気試料室を有する試料ホルダ |
JP2000505944A (ja) * | 1996-12-23 | 2000-05-16 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 低温試料ホルダを含む粒子光学装置 |
JP2000208083A (ja) | 1999-01-20 | 2000-07-28 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡の試料冷却装置 |
JP2001006591A (ja) * | 1999-06-18 | 2001-01-12 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビーム装置 |
JP2002025490A (ja) * | 2000-07-13 | 2002-01-25 | Mitsubishi Electric Corp | 電子顕微鏡の試料ホルダー、試料台および試料台用治具 |
JP2003187735A (ja) | 2001-12-18 | 2003-07-04 | Jeol Ltd | 試料ホルダ |
US6674076B1 (en) * | 2002-12-12 | 2004-01-06 | Ballard Power Systems Inc. | Humidified imaging with an environmental scanning electron microscope |
JP4199629B2 (ja) * | 2003-09-18 | 2008-12-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 内部構造観察方法とその装置 |
NL1027025C2 (nl) | 2004-09-13 | 2006-03-14 | Univ Delft Tech | Microreactor voor een transmissie elektronenmicroscoop en verwarmingselement en werkwijze voor vervaardiging daarvan. |
JP2007080668A (ja) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置の試料移動装置 |
JP4850654B2 (ja) * | 2006-10-23 | 2012-01-11 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置用試料保持装置 |
JP2008218167A (ja) * | 2007-03-02 | 2008-09-18 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置 |
JP5139772B2 (ja) | 2007-11-07 | 2013-02-06 | 日本電子株式会社 | 隔膜型ガス雰囲気試料ホルダ |
EP2240811A4 (en) * | 2007-12-21 | 2012-09-05 | Protochips Inc | SPECIMEN SUPPORT FOR MICROSCOPY |
JP5124507B2 (ja) * | 2009-02-16 | 2013-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電子線装置および電子線装置用試料保持装置 |
US8349125B2 (en) * | 2009-07-24 | 2013-01-08 | Xei Scientific, Inc. | Cleaning device for transmission electron microscopes |
JP5119224B2 (ja) * | 2009-09-04 | 2013-01-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電子線装置及び電子線装置用試料ホルダー |
JP5260575B2 (ja) * | 2010-02-24 | 2013-08-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 電子顕微鏡、および試料ホルダ |
EP2555221B1 (en) * | 2011-08-03 | 2013-07-24 | Fei Company | Method of studying a sample in an ETEM |
US8716676B2 (en) * | 2011-08-04 | 2014-05-06 | Xei Scientific, Inc. | Device to load TEM sample holders into a vacuum chamber |
EP2631929A1 (en) * | 2012-02-27 | 2013-08-28 | FEI Company | A holder assembly for cooperating with an environmental cell and an electron microscope |
-
2013
- 2013-10-07 JP JP2013209795A patent/JP6373568B2/ja active Active
-
2014
- 2014-09-05 DE DE112014003891.1T patent/DE112014003891B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2014-09-05 US US15/023,429 patent/US10068745B2/en active Active
- 2014-09-05 CN CN201480052535.1A patent/CN105612597B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2014-09-05 WO PCT/JP2014/073431 patent/WO2015053020A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105612597A (zh) | 2016-05-25 |
US20160217971A1 (en) | 2016-07-28 |
US10068745B2 (en) | 2018-09-04 |
CN105612597B (zh) | 2017-07-07 |
DE112014003891B4 (de) | 2021-01-21 |
JP2015076147A (ja) | 2015-04-20 |
DE112014003891T5 (de) | 2016-06-09 |
WO2015053020A1 (ja) | 2015-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6373568B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
JP5124507B2 (ja) | 電子線装置および電子線装置用試料保持装置 | |
US7582885B2 (en) | Charged particle beam apparatus | |
JP5320418B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
JP5260575B2 (ja) | 電子顕微鏡、および試料ホルダ | |
JP6302702B2 (ja) | 走査電子顕微鏡および画像生成方法 | |
KR101589400B1 (ko) | 시료 관찰 방법 | |
KR101752164B1 (ko) | 하전 입자선 장치 및 시료 화상 취득 방법 | |
JP2008108429A (ja) | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置用試料保持装置 | |
JP5236037B2 (ja) | ミラー電子式試料検査装置 | |
JP6364167B2 (ja) | 環境制御型荷電粒子観察システム | |
WO2013129196A1 (ja) | 荷電粒子線装置及び荷電粒子線照射方法 | |
JP2014072110A (ja) | 荷電粒子線装置 | |
JP7407689B2 (ja) | 試料ホルダ及びそれを備える荷電粒子線装置 | |
JP5824262B2 (ja) | 試料観察方法および圧力測定用ホルダ | |
JP5919368B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
JP5678134B2 (ja) | 荷電粒子線装置 | |
JP6118870B2 (ja) | 試料観察方法 | |
JPH05128988A (ja) | 電子線装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160805 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160808 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20170116 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20170123 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170613 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170803 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20170803 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20170804 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20180206 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180413 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20180424 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180619 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180718 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6373568 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |