JPS5962662U - 電子線装置 - Google Patents
電子線装置Info
- Publication number
- JPS5962662U JPS5962662U JP15884582U JP15884582U JPS5962662U JP S5962662 U JPS5962662 U JP S5962662U JP 15884582 U JP15884582 U JP 15884582U JP 15884582 U JP15884582 U JP 15884582U JP S5962662 U JPS5962662 U JP S5962662U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- chamber
- electron beam
- preliminary chamber
- preliminary
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
図面は本考案の一実施例を示すためのυ7Jある。
1・・・・・・鏡筒、2・・・・・・試料室、3a、
3b・・・・・・磁極片、5,13・・・・・・孔、
7,12・・・・・・案内部材、11・・・・・・試料
ホルダー、S・・・・・・試料、9・・・・・・弁体、
14・・・・・・イオン銃、15・・・・・・蒸着源、
16・・・・・・排気管、17・・・・・・真空弁、1
9・・・・・・摺動体。
3b・・・・・・磁極片、5,13・・・・・・孔、
7,12・・・・・・案内部材、11・・・・・・試料
ホルダー、S・・・・・・試料、9・・・・・・弁体、
14・・・・・・イオン銃、15・・・・・・蒸着源、
16・・・・・・排気管、17・・・・・・真空弁、1
9・・・・・・摺動体。
Claims (1)
- 試料室内に配置された試料に電子線を照射して試料を観
察する装置において、試料室に隣接して真空排気される
予備室を設け、該試料室と予備室との間を真空弁を介し
て連通可能となし、該真空弁を開いた状態で試料ホルタ
−を電子線光軸に垂直な方向から前記予備室を通して前
記試料室に挿入可能に構成し、前記予備室内の該試料ホ
ルダー□ の挿入方向に垂直な面内に、試料ホルダー
に装着された試料をエツチングするためのイオン銃と該
試料を蒸着するための蒸着源を設けたことを特徴とする
電子線装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15884582U JPS5962662U (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 電子線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15884582U JPS5962662U (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 電子線装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5962662U true JPS5962662U (ja) | 1984-04-24 |
Family
ID=30349828
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15884582U Pending JPS5962662U (ja) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | 電子線装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5962662U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63111747U (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-18 | ||
WO2015053020A1 (ja) * | 2013-10-07 | 2015-04-16 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置用試料保持装置 |
-
1982
- 1982-10-20 JP JP15884582U patent/JPS5962662U/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63111747U (ja) * | 1987-01-13 | 1988-07-18 | ||
WO2015053020A1 (ja) * | 2013-10-07 | 2015-04-16 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置用試料保持装置 |
JP2015076147A (ja) * | 2013-10-07 | 2015-04-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置用試料保持装置 |
CN105612597A (zh) * | 2013-10-07 | 2016-05-25 | 株式会社日立高新技术 | 带电粒子束装置以及带电粒子束装置用样本保持装置 |
US10068745B2 (en) | 2013-10-07 | 2018-09-04 | Hitachi High-Technologies Corporation | Charged particle beam device and sample holder for charged particle beam device |
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