JP6095034B2 - エレベータの位置検出装置 - Google Patents

Description

この発明は、昇降体の位置を検出するためのエレベータの位置検出装置に関するものである。

従来、かごの着床位置を検出するために、位置コードを有する被検出プレートに検出器を非接触で対向させて被検出プレートの位置コードを読み取るエレベータ位置検出装置が知られている。被検出プレートには、複数のコード要素が設けられている。被検出プレートには、複数のコード要素に透光部及び遮光部を選択的に設けることにより位置コードが設定されている。検出器は、各コード要素での遮光の有無を検出することにより、位置コードを読み取るようになっている（特許文献１参照）。

また、従来、昇降路に設けた着床位置検出板にスリットパターンを設け、かごに設けた着床検出器でスリットパターンを検出することにより、かごの絶対位置を検出するようにしたエレベータかご位置修正装置も知られている。スリットパターンは、複数のスリットの組み合わせによって構成され、各スリットの幅の大小及び本数によって異なるパターン表示を行う（特許文献２参照）。

特開平５−５１１７８号公報 特開平５−４３１５９号公報

しかし、特許文献１に示されているエレベータ位置検出装置では、複数のコード要素が水平方向及び上下方向のいずれの方向にも並べられているので、被検出プレートの各コード要素の位置に対する検出器の水平方向への位置を高精度に保つ必要があり、コード要素の遮光の有無について誤検出が生じるおそれがある。

しかし、特許文献２に示されているエレベータかご位置修正装置では、かごの速度が変化すると、各スリットの幅を正確に検出することができなくなり、かごの位置の誤検出が生じるおそれがある。

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、昇降体の位置をより正確かつより確実に検出することができるエレベータの位置検出装置を得ることを目的とする。

この発明によるエレベータの位置検出装置は、第１性質部とこの第１性質部と異なる性質を持つ第２性質部とを昇降路内の位置に対応する配列パターンで昇降体の移動方向へ並べて構成したＩＤ列が設けられている第１の被検出プレートと、第１性質部とこの第１性質部と異なる性質を持つ第２性質部とを昇降体の移動方向へ並べて構成したクロック列が設けられている第２の被検出プレートとを有し、昇降路内に設けられている被検出体、第１の検出領域が設けられＩＤ列が第１の検出領域を通るときにＩＤ列での第１性質部と第２性質部との境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号をＩＤ信号として出力する第１の検出部と、第２の検出領域が設けられクロック列が第２の検出領域を通るときにクロック列での第１性質部と第２性質部との境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号をクロック信号として出力する第２の検出部とを有し、昇降体に設けられている検出器、及びクロック信号の出力状態の切り替わりの位置でＩＤ信号の出力状態を読み取ることにより、昇降路内での昇降体の位置を特定する処理部を備えている。

この発明によるエレベータの位置検出装置では、クロック信号を基準にＩＤ信号の状態を読み取ることができ、昇降体の位置をより正確かつより確実に検出することができる。

この発明の実施の形態１によるエレベータを示す構成図である。 図１の位置検出装置を示す斜視図である。 図２の第１及び第２の検出部で出力されるＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの状態の時間的変化を比較するグラフである。 この発明の実施の形態２によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 この発明の実施の形態３によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 図５の第１及び第２の検出部で出力するＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの状態の時間的変化を比較するグラフである。 この発明の実施の形態４によるエレベータを示す構成図である。 図７のエレベータの位置検出装置を示すブロック図である。 この発明の実施の形態５によるエレベータの位置検出装置の被検出体を示す構成図である。 この発明の実施の形態６によるエレベータの位置検出装置の被検出体を示す構成図である。 この発明の実施の形態７によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 図１１の検出器を示す側面図である。 図１１の第１及び第２の検出部で出力するＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの状態の時間的変化を比較するグラフである。 この発明の実施の形態８によるエレベータの位置検出装置の検出器を示す斜視図である。 この発明の実施の形態９によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 図１５の第１及び第２の検出部で出力するＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの状態の時間的変化を比較するグラフである。 この発明の実施の形態１０によるエレベータの位置検出装置を示すブロック図である。 図１７のエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 この発明の実施の形態１１によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 図１９の被検出体及び検出器を示す上面図である。 図２０の検出器を示す正面図である。 この発明の実施の形態１２によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 図２２の被検出体及び検出器を示す上面図である。 図２２の検出器を示す正面図である。 図２２の各検出器のそれぞれでのＩＤ信号及びクロック信号の出力状態の時間的変化を比較するグラフである。 この発明の実施の形態１３によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 図２６の被検出体及び検出器を示す上面図である。 図２６の検出器を示す正面図である。 この発明の実施の形態１４によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 図２９の被検出体及び検出器を示す上面図である。 この発明の実施の形態１５によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 この発明の実施の形態１６によるエレベータの位置検出装置の被検出体及び検出器を示す斜視図である。 この発明の実施の形態１７によるエレベータの位置検出装置を示す斜視図である。

以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１によるエレベータを示す構成図である。昇降路１内には、かご（昇降体）２及び釣合おもり（図示せず）が設けられている。かご２及び釣合おもりは、昇降路１内に設置された複数のレール（図示せず）に個別に案内されながら、図示しない巻上機（駆動装置）の駆動力により昇降路１内を上下方向へ移動される。

昇降路１内には、複数の被検出体１１が固定されている。被検出体１１は、かご２の移動方向について互いに離して設定された複数の基準位置にそれぞれ配置されている。この例では、各階に対応する位置が基準位置とされている。

かご２の上部には、被検出体１１を検出する検出器２１が設けられている。検出器２１からの信号は、エレベータの運転を制御する制御装置１０へ送られる。制御装置１０には、検出器２１からの信号を処理することによりかご２の位置を特定する処理部３１が設けられている。制御装置１０は、処理部３１で特定したかご２の位置に基づいて、エレベータの運転を制御する。エレベータの位置検出装置は、複数の被検出体１１、検出器２１及び処理部３１を有している。

図２は、図１の位置検出装置を示す斜視図である。被検出体１１は、金属製の第１の被検出プレート１２と、金属製の第２の被検出プレート１３と、第１及び第２の被検出プレート１２，１３を連結する連結部１４とを有している。

第１及び第２の被検出プレート１２，１３は、かご２の移動方向に沿って互いに平行に配置された状態で連結部１４を介して一体化されている。また、第１及び第２の被検出プレート１２，１３のそれぞれの寸法は、かご２の移動方向について互いに同じ寸法になっている。第１及び第２の被検出プレート１２，１３は、上端面の位置をかご２の移動方向について互いに一致させ、下端面の位置をかご２の移動方向について互いに一致させた状態で、水平方向について互いに対向している。

連結部１４は、第１及び第２の被検出プレート１２，１３のそれぞれの水平方向一端部同士を連結した板状部材である。従って、この例では、かご２の移動方向に沿って被検出体１１を見たときに、被検出体１１の形状が、第１の被検出プレート１２、第２の被検出プレート１３及び連結部１４によって略Ｕ字状になっている。

第１の被検出プレート１２には、磁界印加に対して渦電流が発生する第１性質部である複数の低抵抗部１５ａと各低抵抗部１５ａよりも渦電流が発生しにくい第２性質部である複数の高抵抗部１５ｂとをかご２の移動方向へ交互に並べて構成したＩＤ列（位置情報ビット列）１５が設けられている。即ち、第１の被検出プレート１２の低抵抗部１５ａ及び高抵抗部１５ｂは、互いに異なる性質を持っている。高抵抗部１５ｂは、第１の被検出プレート１２の一部を除去した空間によって形成されている。低抵抗部１５ａは、空間の形成が回避されて残った第１の被検出プレート１２の一部（プレート部）によって形成されている。この例では、第１の被検出プレート１２の水平方向他端部に開放された水平のスリット（空間）が、高抵抗部１５ｂとして第１の被検出プレート１２に設けられている。これにより、この例では、第１の被検出プレート１２の形状が櫛歯状になっている。電気抵抗値及び磁気抵抗値は、高抵抗部１５ｂが低抵抗部１５ａよりも高くなっている。

ＩＤ列１５では、被検出体１１ごとに昇降路１内での被検出体１１の位置に対応する配列パターンで低抵抗部１５ａ及び高抵抗部１５ｂが並んでいる。ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａ及び高抵抗部１５ｂによる配列パターンは、低抵抗部１５ａ及び高抵抗部１５ｂのそれぞれの幅寸法（かご２の移動方向についての寸法）の組み合わせを被検出体１１ごとに異ならせることにより、昇降路１内での位置に対応している。これにより、昇降路１内での被検出体１１の位置は、ＩＤ列１５での配列パターンによって個別に特定可能になっている。即ち、各被検出体１１には、昇降路１内での被検出体１１の位置を特定する位置情報がＩＤ列１５での配列パターンによって設定されている。

第２の被検出プレート１３には、磁界印加に対して渦電流が発生する第１性質部である複数の低抵抗部１６ａと各低抵抗部１６ａよりも渦電流が発生しにくい第２性質部である複数の高抵抗部１６ｂとをかご２の移動方向へ交互に並べて構成したクロック列（読み取り情報ビット列）１６が設けられている。即ち、第２の被検出プレート１３の低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂも、互いに異なる性質を持っている。高抵抗部１６ｂは、第２の被検出プレート１３の一部を除去した空間によって形成されている。低抵抗部１６ａは、空間の形成が回避されて残った第２の被検出プレート１３の一部（プレート部）によって形成されている。この例では、第２の被検出プレート１３の水平方向他端部に開放された水平のスリット（空間）が、高抵抗部１６ｂとして第２の被検出プレート１３に設けられている。これにより、この例では、第２の被検出プレート１３の形状が櫛歯状になっている。電気抵抗値及び磁気抵抗値は、高抵抗部１６ｂが低抵抗部１６ａよりも高くなっている。

クロック列１６では、被検出体１１の位置に関係なく予め決められた配列パターンで低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂが並んでいる。クロック列１６での低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂによる配列パターンは、各被検出体１１ですべて同じになっている。この例では、各被検出体１１のクロック列１６において、低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１５ｂのそれぞれの寸法がかご２の移動方向についてすべて同じになっている。各被検出体１１には、ＩＤ列１５に設定されている位置情報を読み取るタイミングを特定する読み取り情報がクロック列１６での配列パターンによって設定されている。

各被検出体１１は、かご２の移動方向に沿って見たときの各ＩＤ列１５の位置をすべて一致させ、かつかご２の移動方向に沿って見たときの各クロック列１６の位置もすべて一致させた状態で、昇降路１内に配置されている。共通の被検出体１１では、ＩＤ列１５での配列パターンと、クロック列１６での配列パターンとが水平方向について対応するように、第１及び第２の被検出プレート１２，１３が配置されている。この例では、かご２の移動方向について、ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａと高抵抗部１５ｂとの境界の位置を、クロック列１６での低抵抗部１６ａと高抵抗部１６ｂとの各境界のいずれかの位置に一致させて、第１及び第２の被検出プレート１２，１３が配置されている。

検出器２１は、第１の被検出プレート１２のＩＤ列１５に設定された位置情報を検出する渦電流方式の第１の検出部２２と、第２の被検出プレート１３のクロック列１６に設定された読み取り情報を検出する渦電流方式の第２の検出部２３とを有している。この例では、第１及び第２の検出部２２，２３が水平方向について並んで配置されている。

第１の検出部２２は、かご２に固定された第１の支持部（第１の筐体）２２１と、第１の支持部２２１にそれぞれ設けられた第１の磁界発生コイル２２２及び第２の磁界検出コイル２２５とを有している。第１の支持部２２１には、かご２の移動方向に沿った第１の検出用溝２２３が設けられている。各被検出体１１のＩＤ列１５は、かご２の移動方向に沿って見たとき、第１の検出用溝２２３内に配置されている。従って、第１の検出部２２がかご２とともに移動して各被検出体１１の位置を第１の検出部２２が通過すると、被検出体１１のＩＤ列１５が第１の検出用溝２２３内を通るようになっている。

第１の検出用溝２２３内には、第１の磁界発生コイル２２２への通電によって高周波磁界が形成される第１の検出領域２２４が設けられている。第１の検出領域２２４を通るときの第１の被検出プレート１２には、第１の磁界発生コイル２２２の高周波磁界によって渦電流が発生する。ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通ると、低抵抗部１５ａ及び高抵抗部１５ｂのうち、金属で構成された低抵抗部１５ａにのみ渦電流が発生し、空間である高抵抗部１５ｂには渦電流が発生しない。第１の検出部２２は、ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るときにＩＤ列１５での渦電流の発生の有無を第１の磁界検出コイル２２５によって検出することにより、渦電流の発生の有無（渦電流の変化）に応じて互いに異なる出力状態となる時系列信号をＩＤ信号として出力する。即ち、第１の検出部２２は、ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るときに、ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａ及び高抵抗部１５ｂによる配列パターンに応じて出力状態が切り替わる時系列信号（即ち、ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａと高抵抗部１５ｂとの境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号）をＩＤ信号として出力する。この例では、第１の検出部２２が、ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａと高抵抗部１５ｂとの境界の位置でＯＮ／ＯＦＦが切り替わる時系列信号をＩＤ信号として出力する。従って、第１の検出部２２が出力するＩＤ信号は、被検出体１１ごとに異なる。

第２の検出部２３は、かご２に固定された第２の支持部（第２の筐体）２３１と、第２の支持部２３１にそれぞれ設けられた第２の磁界発生コイル２３２及び第２の磁界検出コイル２３５とを有している。第２の支持部２３１には、かご２の移動方向に沿った第２の検出用溝２３３が設けられている。各被検出体１１のクロック列１６は、かご２の移動方向に沿って見たとき、第２の検出用溝２３３内に配置されている。従って、第２の検出部２３がかご２とともに移動して各被検出体１１の位置を第２の検出部２３が通過することにより、被検出体１１のクロック列１６が第２の検出用溝２３３内を通るようになっている。

第２の検出用溝２３３内には、第２の磁界発生コイル２３２への通電によって高周波磁界が形成される第２の検出領域２３４が設けられている。第２の検出領域２３４の位置は、第１の検出領域２２４の位置とかご２の移動方向について同位置になっている。第２の検出領域２３４を通るときの第２の被検出プレート１３には、第２の磁界発生コイル２３２の高周波磁界によって渦電流が発生する。クロック列１６が第２の検出領域２３４を通ると、低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂのうち、金属で構成された低抵抗部１６ａにのみ渦電流が発生し、空間である高抵抗部１６ｂには渦電流が発生しない。第２の検出部２３は、クロック列１６が第２の検出領域２３４を通るときにクロック列１６での渦電流の発生の有無を第２の磁界検出コイル２３５によって検出することにより、渦電流の発生の有無に応じて互いに異なる出力状態となる時系列信号をクロック信号として出力する。即ち、第２の検出部２３は、クロック列１６が第２の検出領域２３４を通るときに、クロック列１６での低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂによる配列パターンに応じて出力状態が切り替わる時系列信号（即ち、クロック列１６での低抵抗部１６ａと高抵抗部１６ｂとの境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号）をクロック信号として出力する。この例では、第２の検出部２３が、クロック列１６での低抵抗部１６ａと高抵抗部１６ｂとの境界の位置でＯＮ／ＯＦＦが切り替わる時系列信号をクロック信号として出力する。従って、第２の検出部２３が出力するクロック信号は、各被検出体１１で同じになる。

第１の検出部２２で出力されたＩＤ信号と、第２の検出部２３で出力されたクロック信号とは、処理部３１へ送られる。処理部３１は、ＩＤ信号とクロック信号とを比較することにより、昇降路１内でのかご２の位置を特定する。

図３は、図２の第１及び第２の検出部２２，２３でのＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの出力状態の時間的変化を比較するグラフである。処理部３１は、クロック信号のＯＮ／ＯＦＦの切り替わりの周期よりも短い演算周期ごとにＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの出力状態を求める。また、処理部３１は、図３に示すように、クロック信号のＯＮ／ＯＦＦの切り替わりの位置でＩＤ信号のＯＮ／ＯＦＦの状態（出力状態）を読み取ることにより、ＩＤ列１５での配列パターンをデジタル化してＩＤ列１５に設定された位置情報を取得する。さらに、処理部３１は、ＩＤ列１５に設定された位置情報から、昇降路１内でのかご２の位置を特定する。

このようなエレベータの位置検出装置では、処理部３１が、第１の検出部２２で出力するＩＤ信号と、第２の検出部２３で出力するクロック信号とを比較することにより、昇降路１内でのかご２の位置を特定するので、クロック信号を基準にしてＩＤ信号の出力状態を読み取ることができ、例えばかご２の速度が変化したとき等にＩＤ信号の出力状態の読み取り結果が変わってしまうことを防止することができる。これにより、被検出体１１のＩＤ列１５に設定されている位置情報をより正確に読み取ることができ、昇降路１内でのかご２の位置をより正確に特定することができる。また、第１及び第２の検出部２２，２３は、渦電流方式の検出部であるので、被検出体１１のＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれが例えば煙又は埃等によって検出されなくなることを防止することができる。さらに、検出器２１が被検出体１１に対して水平方向へ少しずれても、ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれの情報の誤検出が生じにくくい。これにより、昇降路１内でのかご２の位置をより確実に検出することができる。

また、第１及び第２の被検出プレート１２，１３は、互いに平行に配置されているので、被検出体１１を製造しやすくすることができるとともに、被検出体１１を昇降路１内に配置しやすくすることができる。

また、第１及び第２の被検出プレート１２，１３は、連結部１４を介して一体化されているので、第２の被検出プレート１３に対する第１の被検出プレート１２の据え付け誤差の発生をなくすことができる。これにより、被検出体１１のＩＤ列１５に設定されている位置情報をさらに正確に読み取ることができる。

また、ＩＤ列１５及びクロック列１６では、空間が高抵抗部１５ｂ，１６ｂになっており、空間の形成が回避されて残った第１及び第２の被検出プレート１２，１３の一部（プレート部）が低抵抗部１５ａ，１６ａになっているので、電気抵抗値及び磁気抵抗値が互いに異なる高抵抗部１５ｂ，１６ｂ及び低抵抗部１５ａ，１５ａを第１及び第２の被検出プレート１２，１３に容易に形成することができる。

実施の形態２．
図４は、この発明の実施の形態２によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１を示す斜視図である。被検出体１１では、第１の被検出プレート１２及び第２の被検出プレート１３がかご２の移動方向に沿った同一平面上で一体化されている。この例では、第２の被検出プレート１３が第１の被検出プレート１２よりも水平方向についてかご２に近い位置に配置されている。また、この例では、クロック列１６の各高抵抗部１６ｂが第２の被検出プレート１３の端部で開放された水平のスリットになっており、ＩＤ列１５の各高抵抗部１５ｂが矩形状の貫通穴部になっている。一体化された第１及び第２の被検出プレート１２，１３は、１枚の金属プレートに複数の空間を形成してＩＤ列１５及びクロック列１６を設けることにより製造されている。

検出器２１では、第１及び第２の支持部２２１，２３１を共通の支持部２４とすることにより、第１の検出部２２及び第２の検出部２３が一体化されている。

支持部２４には、検出用溝２５がかご２の移動方向に沿って設けられている。支持部２４は、検出用溝２５の深さ方向を第１及び第２の被検出プレート１２，１３の平面方向に一致させてかご２に設けられている。ＩＤ列１５及びクロック列１６は、検出用溝２５の深さ方向に並んで設けられている。また、検出用溝２５の深さ寸法は、ＩＤ列１５及びクロック列１６がまとめて挿入される寸法になっている。従って、検出器２１が被検出体１１の位置を通過すると、被検出体１１のＩＤ列１５及びクロック列１６がいずれも検出用溝２５内を通るようになっている。

第１及び第２の磁界発生コイル２２２，２３２、第１及び第２の磁界検出コイル２２５，２３５は、共通の支持部２４に設けられている。検出用溝２５内には、第１の磁界発生コイル２２２への通電によって高周波磁界が形成される第１の検出領域２２４と、第２の磁界発生コイル２３２への通電によって高周波磁界が形成される第２の検出領域２３４とが設けられている。第１の検出領域２２４及び第２の検出領域２３４は、検出用溝２５の深さ方向について水平に並んでいる。検出器２１が被検出体１１の位置を通過するときには、ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るとともに、クロック列１６が第２の検出領域２３４を通る。他の構成は実施の形態１と同様である。

このように、第１の被検出プレート１２及び第２の被検出プレート１３は、かご２の移動方向に沿った同一平面上で一体化されているので、第２の被検出プレート１３に対する第１の被検出プレート１２の据え付け誤差の発生をなくすことができる。これにより、被検出体１１のＩＤ列１５に設定されている位置情報をさらに正確に読み取ることができる。また、１枚の金属プレートを曲げずに加工して第１及び第２の被検出プレート１２，１３を一体化することができるので、第１及び第２の被検出プレート１２，１３の製造を容易にすることができる。

また、第１及び第２の検出部２２，２３が一体化されているので、検出器２１の製造を容易にすることができる。さらに、第２の検出部２３に対する第１の検出部２２の据え付け誤差の発生をなくすことができ、ＩＤ列１５に設定されている位置情報をさらに正確に読み取ることができる。

なお、上記の例では、第２の被検出プレート１３が第１の被検出プレート１２よりも水平方向についてかご２に近い位置に配置されているが、第１の被検出プレート１２を第２の被検出プレート１３よりも水平方向についてかご２に近い位置に配置してもよい。

実施の形態３．
図５は、この発明の実施の形態３によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１を示す斜視図である。また、図６は、図５の第１及び第２の検出部２２，２３で出力するＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの状態の時間的変化を比較するグラフである。共通の被検出体１１では、ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａと高抵抗部１５ｂとの境界の位置と、クロック列１６での低抵抗部１６ａと高抵抗部１６ｂとの境界の位置とが、かご２の移動方向について互いにずれている。この例では、クロック列１６での低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂの各幅寸法を基準寸法とすると、ＩＤ列１５がクロック列１６に対してかご２の移動方向について基準寸法の１／２の寸法だけずらして配置されている。これにより、この例では、クロック信号がＯＮになったときから次にＯＦＦになるときまでの時間（又は、クロック信号がＯＦＦになったときから次にＯＮになるときまでの時間）を、クロック信号のＯＮ／ＯＦＦの切り替わりの周期（１周期）とすると、図６に示すように、第１の検出部２２で発生するＩＤ信号のＯＮ／ＯＦＦの状態（出力状態）が切り替わるタイミングが、第２の検出部２３で発生するクロック信号のＯＮ／ＯＦＦの状態（出力状態）が切り替わるタイミングに対して、クロック信号のＯＮ／ＯＦＦの切り替わりの周期の１／２周期だけずれている。他の構成は実施の形態１と同様である。

このようなエレベータの位置検出装置では、共通の被検出体１１において、ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａと高抵抗部１５ｂとの境界の位置と、クロック列１６での低抵抗部１６ａと高抵抗部１６ｂとの境界の位置とが、かご２の移動方向について互いにずれているので、ＩＤ信号のＯＮ／ＯＦＦが切り替わるタイミングを、クロック信号のＯＮ／ＯＦＦが切り替わるタイミングに対してずらすことができる。これにより、ＯＮ／ＯＦＦが切り替わる位置をＩＤ信号とクロック信号とで揃える必要がなくなり、被検出体１１の製造誤差等に起因する検出器２１の誤検出の発生を抑制することができる。即ち、ＯＮ／ＯＦＦが切り替わる位置をＩＤ信号とクロック信号とで揃えるようにすると、被検出体１１の製造誤差等によりクロック信号のＯＮ／ＯＦＦの切り替わりの位置がＩＤ信号に対して少しずれるだけで、処理部３１で読み取られるＩＤ信号の状態が変わってしまう可能性が高くなるが、ＯＮ／ＯＦＦが切り替わる位置をＩＤ信号とクロック信号とで予めずらしておけば、クロック信号のＯＮ／ＯＦＦの切り替わりの位置がＩＤ信号に対して少しずれても、処理部３１で読み取られるＩＤ信号の状態が変わる可能性が低くなる。これにより、被検出体１１の製造誤差等に起因する検出器２１の誤検出の発生を抑制することができる。

実施の形態４．
図７は、この発明の実施の形態４によるエレベータを示す構成図である。図において、昇降路１内のかご２及び釣合おもり３は、主索（例えばロープ又はベルト等）４により吊り下げられている。主索４は、昇降路１の上部に設けられた巻上機（駆動装置）５の駆動綱車に巻き掛けられている。かご２及び釣合おもり３は、複数のレール６に個別に案内されながら、巻上機５の駆動力により昇降路１内を上下方向へ移動される。かご２及び釣合おもり３は、巻上機５の駆動綱車の回転に応じて移動される。

かご２には、かご２の速度が異常になったときにレール６を把持してかご２に制動力を強制的に与える非常止め装置（図示せず）が設けられている。昇降路１内の上部には調速機７が設けられ、昇降路１内の下部には張り車８が設けられている。非常止め装置の操作レバーには、調速機７の調速機綱車及び張り車８間にループ状に巻き掛けられた調速機ロープ９が接続されている。これにより、調速機７の調速機綱車及び張り車８は、かご２の移動に応じて回転する。かご２の速度が上昇して調速機綱車の回転速度が異常速度になると、調速機７が調速機ロープ９を把持し、非常止め装置の操作レバーが操作される。非常止め装置は、操作レバーが操作されることによりレール６を把持する。

巻上機５には、駆動綱車の回転に応じた信号（パルス信号）を発生する巻上機エンコーダ（巻上機回転検出器）４１が設けられている。調速機７には、調速機綱車の回転に応じた信号（パルス信号）を発生する調速機エンコーダ（調速機回転検出器）４２が設けられている。これにより、巻上機エンコーダ４１及び調速機エンコーダ４２は、いずれもかご２の移動に応じた信号を発生する。

図８は、図７のエレベータの位置検出装置を示すブロック図である。巻上機エンコーダ４１及び調速機エンコーダ４２のそれぞれからの信号は、処理部３１へ送られる。処理部３１は、巻上機エンコーダ４１及び調速機エンコーダ４２のそれぞれからの信号に基づいてかご２の移動方向を求める。また、処理部３１は、求めたかご２の移動方向の情報、第１の検出部２２からのＩＤ信号、及び第２の検出部２３からのクロック信号のそれぞれに基づいて、昇降路１内でのかご２の位置を特定する。即ち、処理部３１は、かご２の移動方向へクロック信号とＩＤ信号とを比較しながら、クロック信号を基準としてＩＤ信号を読み取ることにより、昇降路１内でのかご２の位置を特定する。他の構成は実施の形態１と同様である。

このようなエレベータの位置検出装置では、処理部３１が、巻上機エンコーダ４１及び調速機エンコーダ４２のそれぞれからの信号に基づいてかご２の移動方向を求めるので、クロック信号及びＩＤ信号をかご２の移動方向に対応させて処理することができる。これにより、ＩＤ列１５での配列パターンを上下対称にする必要がなくなり、ＩＤ列１５での配列パターンの選択の自由度を広げることができる。

なお、上記の例では、巻上機エンコーダ４１及び調速機エンコーダ４２のそれぞれからの信号に基づいてかご２の移動方向が処理部３１によって求められるが、巻上機エンコーダ４１及び調速機エンコーダ４２のいずれか一方のみからの信号に基づいて処理部３１がかご２の移動方向を求めるようにしてもよい。

実施の形態５．
図９は、この発明の実施の形態５によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１を示す構成図である。被検出体１１では、実施の形態２と同様に、第１及び第２の被検出プレート１２，１３がかご２の移動方向に沿った同一平面上で一体化されている。この例では、ＩＤ列１５の各高抵抗部１５ｂ及びクロック列１６の各高抵抗部１６ｂがいずれも矩形状の貫通穴部になっている。即ち、この例では、第１及び第２の被検出プレート１２，１３が１枚の穴あきプレートとして一体化されている。一体化された第１及び第２の被検出プレート１２，１３は、１枚の金属プレートに複数の空間を形成してＩＤ列１５及びクロック列１６を設けることにより製造されている。他の構成は実施の形態２と同様である。

このように、第１及び第２の被検出プレート１２，１３を一体化して１枚の穴あきプレートにしているので、被検出体１１の製造を容易にすることができるとともに、被検出体１１の強度を櫛歯状のプレートよりも高くすることができる。

実施の形態６．
図１０は、この発明の実施の形態６によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１を示す構成図である。ＩＤ列１５及びクロック列１６の各高抵抗部１５ｂ，１６ｂのそれぞれには、複数のパンチ穴（空間）４３が互いに離して形成されている。これにより、各高抵抗部１５ｂには第１の被検出プレート１２の一部が網目状に存在しており、各高抵抗部１６ｂには第２の被検出プレート１３の一部が網目状に存在している。高抵抗部１５ｂ，１６ｂの全体としては、電気抵抗値及び磁気抵抗値が低抵抗部１５ａ，１６ａよりも高くなっている。これにより、ＩＤ列１５及びクロック列１６では、渦電流が低抵抗部１５ａ，１６ａよりも高抵抗部１５ｂ，１６ｂで発生しにくくなっている。ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るときには、高抵抗部１５ｂで発生する渦電流量が低抵抗部１５ａで発生する渦電流量よりも少なくなり、クロック列１６が第２の検出領域２３４を通るときには、高抵抗部１６ｂで発生する渦電流量が低抵抗部１６ａで発生する渦電流量よりも少なくなる。

第１の検出部２２は、ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るときにＩＤ列１５での渦電流の発生量の変化を検出することにより、渦電流の変化に応じた時系列信号をＩＤ信号として出力する。即ち、第１の検出部２２は、ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るときに、ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａ及び高抵抗部１５ｂによる配列パターンに応じて状態が切り替わる時系列信号（即ち、ＩＤ列１５での低抵抗部１５ａと高抵抗部１５ｂとの境界の位置で状態が切り替わる時系列信号）をＩＤ信号として出力する。

第２の検出部２３は、クロック列１６が第２の検出領域２３４を通るときにクロック列１６での渦電流の発生量の変化を検出することにより、渦電流の変化に応じて互いに異なる出力状態となる時系列信号をクロック信号として出力する。即ち、第２の検出部２３は、クロック列１６が第２の検出領域２３４を通るときに、クロック列１６での低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂによる配列パターンに応じて出力状態が切り替わる時系列信号（即ち、クロック列１６での低抵抗部１６ａと高抵抗部１６ｂとの境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号）をクロック信号として出力する。他の構成は実施の形態５と同様である。

このように、高抵抗部１５ｂ，１６ｂのそれぞれに複数のパンチ穴４３を形成することにより、被検出体１１の製造を容易にすることができるとともに、被検出体１１の強度をさらに高くすることができる。

実施の形態７．
図１１は、この発明の実施の形態７によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１を示す斜視図である。また、図１２は、図１１の検出器２１を示す側面図である。さらに、図１３は、図１１の第１及び第２の検出部２２，２３で出力するＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの状態の時間的変化を比較するグラフである。検出器２１では、第１及び第２の検出部２２，２３がかご２の移動方向について互いにずらして配置されている。これにより、第１の検出部２２に設けられた第１の検出領域２２４の位置と、第２の検出部２３に設けられた第２の検出領域２３４の位置とが、かご２の移動方向について互いにずれている。この例では、クロック列１６での低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂの各幅寸法を基準寸法とすると、図１２に示すように、第１の検出領域２２４の位置と第２の検出領域２３４の位置とが、かご２の移動方向について基準寸法の１／２の寸法だけずらして配置されている。これにより、この例では、図１３に示すように、第１の検出部２２で発生するＩＤ信号のＯＮ／ＯＦＦの状態（出力状態）が切り替わるタイミングが、第２の検出部２３で発生するクロック信号のＯＮ／ＯＦＦの状態（出力状態）が切り替わるタイミングに対して、クロック信号のＯＮ／ＯＦＦの切り替わりの周期の１／２周期だけずれている。他の構成は実施の形態１と同様である。

このようなエレベータの位置検出装置では、第１の検出領域２２４の位置と、第２の検出領域２３４の位置とがかご２の移動方向について互いにずれているので、実施の形態３と同様に、ＩＤ信号のＯＮ／ＯＦＦが切り替わるタイミングを、クロック信号のＯＮ／ＯＦＦが切り替わるタイミングに対してずらすことができる。これにより、例えば検出器２１の据え付け誤差又は被検出体１１の製造誤差等に起因する検出器２１の誤検出の発生を抑制することができる。

実施の形態８．
図１４は、この発明の実施の形態８によるエレベータの位置検出装置の検出器２１を示す斜視図である。検出器２１では、第１及び第２の支持部２２１，２３１が共通の支持部２６とされている。これにより、第１の検出部２２及び第２の検出部２３が一体化されている。

共通の支持部２６には、第１の検出用溝２２３及び第２の検出用溝２３３が第１の被検出プレート１２及び第２の被検出プレート１３の間隔に合わせて互いに離して設けられている。また、共通の支持部２６には、第１の検出用溝２２３内に設けられた第１の検出領域２２４に高周波磁界を形成する第１の磁界発生コイル２２２と、ＩＤ列１５で発生する渦電流による磁界を検出する第１の磁界検出コイル２２５と、第２の検出用溝２３３内に設けられた第２の検出領域２３４に高周波磁界を形成する第２の磁界発生コイル２３２と、クロック列１６で発生する渦電流による磁界を検出する第２の磁界検出コイル２３５とが設けられている。他の構成は実施の形態１と同様である。

このように、第１及び第２の検出用溝２２３，２３３を別個にしたまま第１及び第２の支持部２２１，２３１を一体化して第１及び第２の検出部２２，２３を一体化することにより、検出器２１の小型化及び検出器２１の部品点数の削減を図ることができる。

実施の形態９．
図１５は、この発明の実施の形態９によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１を示す斜視図である。また、図１６は、図１５の第１及び第２の検出部２２，２３でのＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれの出力状態の時間的変化を比較するグラフである。ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれの上端部には上端識別部（ＵＰ側固有ビット）５１が設けられ、ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれの下端部には下端識別部（ＤＯＷＮ側固有ビット）５２が設けられている。ＩＤ列１５における上端識別部５１及び下端識別部５２はＩＤ列１５の低抵抗部１５ａで構成され、クロック列１６における上端識別部５１及び下端識別部５２はクロック列１６の低抵抗部１６ａで構成されている。

第１の検出部２２で発生したＩＤ信号、及び第２の検出部２３で発生したクロック信号のそれぞれには、図１６に示すように、上端識別部５１の寸法の情報（上端識別部５１に対応する情報）が上端識別情報として含まれ、下端識別部５２の寸法の情報（下端識別部５２に対応する情報）が下端識別情報として含まれている。

ＩＤ列１５及びクロック列１６の各上端識別部５１の寸法はかご２の移動方向について互いに同じ寸法であり、ＩＤ列１５及びクロック列１６の各下端識別部５２の寸法はかご２の移動方向について互いに同じ寸法である。これにより、ＩＤ信号及びクロック信号の各上端識別部５１に対応する出力状態は互いに同じタイミングで切り替わり、ＩＤ信号及びクロック信号の各下端識別部５２に対応する出力状態も互いに同じタイミングで切り替わる。

また、上端識別部５１と下端識別部５２とを比べると、上端識別部５１及び下端識別部５２のそれぞれの寸法は、かご２の移動方向について互いに異なっている。即ち、かご２の移動方向についての寸法の違いによって上端識別部５１及び下端識別部５２が区別され、ＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれには互いに異なる上端識別情報及び下端識別情報が含まれる。この例では、かご２の移動方向についての上端識別部５１の寸法が、かご２の移動方向についての下端識別部５２の寸法よりも小さくなっている。

処理部３１は、第１及び第２の検出部２２，２３からそれぞれ出力されたＩＤ信号及びクロック信号にそれぞれ含まれる上端識別情報及び下端識別情報（上端識別部５１及び下端識別部５２に対応する情報）に基づいて、かご２の移動方向を求める。即ち、処理部３１は、ＩＤ信号及びクロック信号にそれぞれ含まれる上端識別情報及び下端識別情報を信号の出力状態の継続時間の違いによって区別し、上端識別情報及び下端識別情報の出力順によって、かご２の移動方向を求める。また、処理部３１は、求めたかご２の移動方向の情報、第１の検出部２２からのＩＤ信号、及び第２の検出部２３からのクロック信号のそれぞれに基づいて、昇降路１内でのかご２の位置を特定する。即ち、処理部３１は、かご２の移動方向へクロック信号とＩＤ信号とを比較しながら、クロック信号を基準としてＩＤ信号を読み取ることにより、昇降路１内でのかご２の位置を特定する。他の構成は実施の形態１と同様である。

このように、ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれの上端部に上端識別部５１が設けられ、ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれの下端部に下端識別部５２が設けられており、上端識別部５１に対応する上端識別情報と、下端識別部５２に対応する下端識別情報とが互いに異なっているので、ＩＤ信号及びクロック信号のそれぞれに含まれる上端識別情報及び下端識別情報の出力順に基づいて、かご２の移動方向を求めることができる。これにより、例えば実施の形態４のような巻上機エンコーダ及び調速機エンコーダを用いずに、ＩＤ信号及びクロック信号だけでかご２の移動方向を容易に特定することができ、エレベータの位置検出装置の構成の複雑化を防止することができる。

なお、上記の例では、上端識別部５１の寸法が、かご２の移動方向について下端識別部５２の寸法よりも小さくなっているが、上端識別部５１の寸法を、かご２の移動方向について下端識別部５２の寸法よりも大きくしてもよい。

また、上記の例では、上端識別部５１及び下端識別部５２がかご２の移動方向の寸法の違いによって区別されているが、ＩＤ列１５での上端識別部５１及び下端識別部５２のそれぞれを、低抵抗部１５ａ及び高抵抗部１５ｂを並べて構成した固有のビット列とするとともに、クロック列１６での上端識別部５１及び下端識別部５２のそれぞれを、低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂを並べて構成した固有のビット列とし、上端識別部５１でのビット列の配列パターンと、下端識別部５２でのビット列の配列パターンとを互いに異ならせることにより、上端識別部５１及び下端識別部５２を区別するようにしてもよい。

実施の形態１０．
図１７は、この発明の実施の形態１０によるエレベータの位置検出装置を示すブロック図である。また、図１８は、図１７のエレベータの位置検出装置の被検出体１１ａ，１１ｂ及び検出器２１ａ，２１ｂを示す斜視図である。かご２の移動方向についての各基準位置には、被検出体が複数ずつ固定されている。この例では、２つの被検出体１１ａ，１１ｂが各基準位置にそれぞれ固定されている。共通の基準位置に固定されている各被検出体１１ａ，１１ｂは、水平方向について並べて配置されている。また、共通の基準位置に固定されている各被検出体１１ａ，１１ｂでは、各ＩＤ列１５に同じ位置情報が設定され、各クロック列１６に同じ読み取り情報が設定されている。各被検出体１１ａ，１１ｂの構成は、実施の形態１による被検出体１１の構成と同様である。

かご２には、共通の基準位置に配置されている被検出体１１ａ，１１ｂの数と同数の検出器２１ａ，２１ｂが設けられている。この例では、一方の被検出体１１ａに対応するＡ系の検出器２１ａと、他方の被検出体１１ｂに対応するＢ系の検出器２１ｂとがかご２に設けられている。各検出器２１ａ，２１ｂは、共通の基準位置に配置されている各被検出体１１ａ，１１ｂの位置に合わせて水平方向に並べて配置されている。各検出器２１ａ，２１ｂは、かご２の移動により基準位置を通過するときに、対応する被検出体１１ａ，１１ｂを個別に検出する。各検出器２１ａ，２１ｂは、実施の形態１と同様にして被検出体１１ａ，１１ｂを検出することにより、第１の検出部２２からＩＤ信号をそれぞれ出力し、第２の検出部２３からクロック信号をそれぞれ出力する。各検出器２１ａ，２１ｂの構成は、実施の形態１による検出器２１の構成と同様である。

処理部３１には、各第１の検出部２２からそれぞれ出力された複数（この例では、２つ）のＩＤ信号と、各第２の検出部２３からそれぞれ出力された複数（この例では、２つ）のクロック信号とが送られる。処理部３１は、各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれからの情報に基づいて、エレベータの異常の有無を判定する。即ち、処理部３１は、各ＩＤ信号同士を比較するとともに、各クロック信号同士を比較することにより、エレベータの異常の有無を判定する。具体的には、処理部３１は、各ＩＤ信号同士及び各クロック信号同士に不整合がないときに異常なしの判定をし、各ＩＤ信号同士又は各クロック信号同士に不整合があるときに異常ありの判定をする。また、処理部３１は、異常なしの判定をしたときに、実施の形態１と同様にしてＩＤ信号及びクロック信号に基づいて、昇降路１内でのかご２の位置を特定する。即ち、かご２の位置を特定するための処理が二重化されている。

制御装置１０は、処理部３１によるエレベータの異常の有無の判定に基づいて、エレベータの運転を制御する。この例では、処理部３１が異常ありの判定をしたときに、制御装置１０が、かご２を最寄り階に停止させた後、エレベータのサービス運転を停止する制御を行う。他の構成は実施の形態１と同様である。

このようなエレベータの位置検出装置では、処理部３１が、複数の検出器２１ａ，２１ｂからの各ＩＤ信号を比較するとともに、複数の検出器２１ａ，２１ｂからの各クロック信号を比較することにより、エレベータの異常の有無を判定するので、位置検出装置の故障等による異常を検出することができ、エレベータの安全性の向上を図ることができる。

実施の形態１１．
図１９は、この発明の実施の形態１１によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１ａ，１１ｂ及び検出器２１ａ，２１ｂを示す斜視図である。また、図２０は、図１９の被検出体１１ａ，１１ｂ及び検出器２１ａ，２１ｂを示す上面図である。さらに、図２１は、図２０の検出器２１ａ，２１ｂを示す正面図である。かご２に設けられているＡ系及びＢ系の各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれにおいては、図２１に示すように、第１の検出部２２と第２の検出部２３とがかご２の移動方向について互いに離して配置されている。また、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たときには、図２０に示すように、第１の検出部２２と第２の検出部２３とが水平方向について互いにずらして配置され、第１の検出部２２及び第２の検出部２３のそれぞれの一部同士が互いに重なっている。さらに、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たときには、各検出器２１ａ，２１ｂにおける第１及び第２の検出部２２，２３の一部同士だけでなく、Ａ系の検出器２１ａの第２の検出部２３及びＢ系の検出器２１ｂの第１の検出部２２のそれぞれの一部同士も、互いに重なっている。また、各検出器２１ａ，２１ｂでは、上から見たとき、第１の検出部２２が第２の検出用溝２３３を避けて配置され、第２の検出部２３が第１の検出用溝２２３を避けて配置されている。

この例では、Ａ系の検出器２１ａの第１の検出部２２及び第２の検出部２３が互いに異なる高さに配置され、Ｂ系の検出器２１ｂの第１の検出部２２及び第２の検出部２３が、Ａ系の検出器２１ａの第１の検出部２２及び第２の検出部２３のそれぞれの高さに合わせて、互いに異なる高さに配置されている。また、この例では、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たとき、第１及び第２の検出用溝２２３，２３３のそれぞれの幅方向を一致させて各第１の検出部２２及び各第２の検出部２３が並べて配置されている。各検出器２１ａ，２１ｂの他の構成は、実施の形態１０による各検出器２１ａ，２１ｂの構成と同様である。

共通の基準位置に固定されている複数（この例では、２つ）の被検出体１１ａ，１１ｂは、水平方向について並べて配置されている。また、共通の基準位置に固定されている各被検出体１１ａ，１１ｂでは、各ＩＤ列１５に同じ位置情報が設定され、各クロック列１６に同じ読み取り情報が設定されている。さらに、各被検出体１１ａ，１１ｂを上から見たときには、図２０に示すように、一方の被検出体１１ａのＩＤ列１５及びクロック列１６がＡ系の検出器２１ａの第１の検出用溝２２３及び第２の検出用溝２３３に挿入され、他方の被検出体１１ｂのＩＤ列１５及びクロック列１６がＢ系の検出器２１ｂの第１の検出用溝２２３及び第２の検出用溝２３３に挿入されている。これにより、かご２が移動して各検出器２１ａ，２１ｂが基準位置を通過するときには、各被検出体１１ａ，１１ｂのそれぞれのＩＤ列１５が各第１の検出部２２のそれぞれの第１の検出用溝２２３を通過し、各被検出体１１ａ，１１ｂのそれぞれのクロック列１６が各第２の検出部２３のそれぞれの第２の検出用溝２３３を通過する。

また、共通の基準位置に固定されている各被検出体１１ａ，１１ｂでは、かご２の移動方向についてＩＤ列１５がクロック列１６に対してずらして配置されている。ＩＤ列１５の上端部及び下端部の位置は、第１の検出部２２と第２の検出部２３との位置の差と同じ距離だけ、クロック列１６の上端部及び下端部の位置に対してかご２の移動方向へずれている。これにより、この例では、一方の被検出体１１ａのＩＤ列１５とクロック列１６とがかご２の移動方向について互いに異なる高さに配置され、他方の被検出体１１ｂのＩＤ列１５とクロック列１６とが、一方の被検出体１１ａのＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれの高さに合わせて、互いに異なる高さに配置されている。各被検出体１１ａ，１１ｂの他の構成は、実施の形態１０による被検出体１１ａ，１１ｂと同様である。また、各検出器２１ａ，２１ｂ、各被検出体１１ａ，１１ｂ以外の構成も、実施の形態１０と同様である。

このように、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たときに、第１の検出部２２と第２の検出部２３とが水平方向について互いにずらして配置され、第１の検出部２２及び第２の検出部２３のそれぞれの一部同士が互いに重なっているので、位置検出装置の故障等による異常を検出可能にしながら、各検出器２１ａ，２１ｂを設置するスペースの水平方向についての縮小化を図ることができる。

なお、上記の例では、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たとき、第１の検出部２２及び第２の検出部２３のそれぞれの一部同士が重なる箇所が３箇所あるが、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たとき、第１の検出部２２及び第２の検出部２３のそれぞれの一部同士が重なる箇所が少なくとも１箇所あればよい。

実施の形態１２．
図２２は、この発明の実施の形態１２によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１ａ，２１ｂを示す斜視図である。また、図２３は、図２２の被検出体１１及び検出器２１ａ，２１ｂを示す上面図である。さらに、図２４は、図２２の検出器２１ａ，２１ｂを示す正面図である。Ａ系及びＢ系の各検出器２１ａ，２１ｂでは、第１の検出部２２と第２の検出部２３とが水平方向について並べて配置されている。また、Ａ系の検出器２１ａとＢ系の検出器２１ｂとは、かご２の移動方向について互いに離して配置されている。即ち、Ａ系の検出器２１ａの第１の検出部２２及び第２の検出部２３が同じ高さに配置され、Ｂ系の検出器２１ｂの第１の検出部２２及び第２の検出部２３がＡ系の検出器２１ａの高さと異なる高さに配置されている。この例では、Ｂ系の検出器２１ｂがＡ系の検出器２１ａの下方に配置されている。さらに、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たときには、各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれの第１の検出部２２同士が完全に重なり、各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれの第２の検出部２３同士が完全に重なっている。従って、各第１の検出用溝２２３同士も完全に重なり、各第２の検出用溝２３３同士も完全に重なっている。この例では、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たとき、第１及び第２の検出用溝２２３，２３３のそれぞれの幅方向を一致させて第１の検出部２２と第２の検出部２３とが並べて配置されている。

各基準位置には、実施の形態１と同様の構成とされた単一の被検出体１１がそれぞれ固定されている。各基準位置に固定されている被検出体１１を上から見たときには、図２３に示すように、各第１の検出部２２のそれぞれの第１の検出用溝２２３にＩＤ列１５が挿入され、各第２の検出部２３のそれぞれの第２の検出用溝２３３にクロック列１６が挿入されている。これにより、かご２が移動して各検出器２１ａ，２１ｂが基準位置を通過するときには、共通のＩＤ列１５が各第１の検出部２２のそれぞれの第１の検出用溝２２３を順次通過し、共通のクロック列１６が各第２の検出部２３のそれぞれの第２の検出用溝２３３を順次通過する。

図２５は、図２２の各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれでのＩＤ信号及びクロック信号の出力状態の時間的変化を比較するグラフである。なお、図２５では、Ａ系の検出器２１ａのＩＤ信号及びクロック信号をＡ系ＩＤ信号及びＡ系クロック信号として示し、Ｂ系の検出器２１ｂのＩＤ信号及びクロック信号をＢ系ＩＤ信号及びＢ系クロック信号として示している。Ａ系の検出器２１ａが検出する被検出体情報（即ち、ＩＤ列１５の位置情報及びクロック列１６の読み取り情報）は、Ａ系ＩＤ信号及びＡ系クロック信号の最後の立ち下がりの時刻ｔ１で確定する。Ｂ系の検出器２１ｂが検出する被検出体情報は、Ｂ系ＩＤ信号及びＢ系クロック信号の最後の立ち下がりの時刻ｔ２で確定する。従って、かご２が下降するときには、Ａ系の検出器２１ａが検出する被検出体情報か確定した後、時刻ｔ１と時刻ｔ２との時間差Ｘだけ遅れて、Ｂ系の検出器２１ｂが検出する被検出体情報が確定する。

処理部３１には、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれにおいて被検出体情報が確定するときのかご２の位置がかご検出確定位置として予め記憶されている。かご検出確定位置は、例えばエレベータの据付作業時、保守点検作業時、又は定期的に行われる学習運転時等にかご２を移動させて学習させることにより処理部３１に記憶される。かご検出確定位置の学習時には、調速機に設けられた調速機エンコーダからの情報、又は巻上機に設けられた巻上機エンコーダからの情報を用いて処理部３１がかご２の位置を特定する。

エレベータの通常運転時には、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれからの情報に基づいて処理部３１がエレベータの異常の有無の判定を行う。即ち、処理部３１は、エレベータの通常運転時に、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂからの被検出体情報に基づいて、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの被検出体情報が確定したときのかご２の実際の位置をそれぞれ求め、被検出体情報が確定したときのかご２の実際の位置と、処理部３１に予め記憶されたかご検出確定位置とを比較することにより、各検出器２１ａ，２１ｂの異常の有無を判定する。具体的には、処理部３１は、エレベータの通常運転時に、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂで被検出体情報が確定したときのかご２の実際の位置とかご検出確定位置とが一致する場合に異常なしの判定を行い、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂで被検出体情報が確定したときのかご２の実際の位置とかご検出確定位置とが異なる場合に異常ありの判定を行う。他の構成及び動作は実施の形態１０と同様である。

このように、各検出器２１ａ，２１ｂを上から見たときに、各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれの第１の検出部２２同士が完全に重なり、各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれの第２の検出部２３同士が完全に重なっているので、位置検出装置の故障等による異常を検出可能にしながら、各検出器２１ａ，２１ｂを設置するスペースの縮小化を水平方向についてさらに行うことができる。また、各第１の検出用溝２２３のそれぞれに共通のＩＤ列１５を通過させ、各第２の検出用溝２３３のそれぞれに共通のクロック列１６を通過させることができるので、各検出器２１ａ，２１ｂに対して被検出体１１を共用することができ、位置検出装置の部品点数を減らすことができる。

なお、上記の例では、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの検出確定の時刻ｔ１，ｔ２でのかご２の位置と、処理部３１に予め記憶されたかご検出確定位置とを比較して異常の有無を判定するようになっているが、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの取付間隔（即ち、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの水平中心線間距離）の情報を処理部３１に予め記憶しておき、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの検出確定の時刻ｔ１、ｔ２の時間差Ｘに対応する距離と、処理部３１に予め記憶された各検出器２１ａ，２１ｂの取付間隔とを比較して異常の有無を判定するようにしてもよい。

また、処理部３１は、時刻ｔ１と時刻ｔ２との時間差Ｘを補正して、Ａ系ＩＤ信号及びＡ系クロック信号と、Ｂ系ＩＤ信号及びＢ系クロック信号とを比較可能な状態にし、実施の形態１０と同様にして、各ＩＤ信号同士を比較するとともに各クロック信号同士を比較することにより異常の有無を判定するようにしてもよい。

実施の形態１３．
図２６は、この発明の実施の形態１３によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１ａ，２１ｂを示す斜視図である。また、図２７は、図２６の被検出体１１及び検出器２１ａ，２１ｂを示す上面図である。さらに、図２８は、図２６の検出器２１ａ，２１ｂを示す正面図である。クロック列１６では、低抵抗部１６ａ及び高抵抗部１６ｂのそれぞれのかご２の移動方向についての寸法（以下、「クロック幅」という）ｄがすべて同じになっている。Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの取付間隔（即ち、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの水平中心線間距離）Ｌ（図２８）は、クロック幅ｄの１以上の整数倍となっている。処理部３１は、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれからの情報であるＡ系クロック信号及びＢ系クロック信号を比較することにより、位置検出装置の故障等の異常の有無を判定する。

即ち、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの取付間隔Ｌがクロック幅ｄの偶数倍である場合には、Ａ系クロック信号及びＢ系クロック信号のそれぞれの出力が各検出器２１ａ，２１ｂで常時同じになる。一方、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの取付間隔Ｌがクロック幅ｄの奇数倍である場合には、Ａ系クロック信号及びＢ系クロック信号のそれぞれの出力が各検出器２１ａ，２１ｂで常時反転する。処理部３１は、取付間隔Ｌがクロック幅ｄの偶数倍である場合にＡ系クロック信号及びＢ系クロック信号が互いに同じであるか否かを監視し、取付間隔Ｌがクロック幅ｄの奇数倍である場合にＡ系クロック信号及びＢ系クロック信号が互いに反転しているか否かを監視することにより、位置検出装置の故障等の異常の有無を判定する。他の構成及び動作は実施の形態１２と同様である。

このように、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂの取付間隔Ｌがクロック幅ｄの１以上の整数倍となっているので、クロック信号の出力をＡ系の検出器２１ａとＢ系の検出器２１ｂとで同じにするか又は反転させることができる。従って、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれからのクロック信号を比較することにより位置検出装置の故障等の異常の有無を容易に判定することができる。

実施の形態１４．
図２９は、この発明の実施の形態１４によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１ａ，２１ｂを示す斜視図である。また、図３０は、図２９の被検出体１１及び検出器２１ａ，２１ｂを示す上面図である。かご２には、第１の筐体である第１の支持部３２と第２の筐体である第２の支持部３３とが水平方向について並べて設けられている。第１の支持部３２には第１の検出用溝２２３がかご２の移動方向に沿って設けられ、第２の支持部３３には第２の検出用溝２３３がかご２の移動方向に沿って設けられている。第１の支持部３２は、第１の検出用溝２２３の深さ方向を第１の被検出プレート１２の平面方向に一致させてかご２に設けられている。第２の支持部３３は、第２の検出用溝２３３の深さ方向を第２の被検出プレート１３の平面方向に一致させてかご２に設けられている。

Ａ系及びＢ系の各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれの第１の検出部２２は、共通の第１の支持部３２にそれぞれ設けられている。各第１の検出部２２は、第１の検出用溝２２３の深さ方向について互いに離して配置されている。各第１の検出部２２では、第１の磁界発生コイル２２２と第１の磁界検出コイル２２５とが、第１の検出用溝２２３を挟んで互いに対向して配置されている。これにより、第１の磁界発生コイル２２２への通電によって高周波磁界が生じる第１の検出領域が、第１の検出用溝２２３の深さ方向について互いに離れて第１の検出用溝２２３に形成される。

Ａ系及びＢ系の各検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれの第２の検出部２３は、共通の第２の支持部３３にそれぞれ設けられている。各第２の検出部２３は、第２の検出用溝２３３の深さ方向について互いに離して配置されている。各第２の検出部２３では、第２の磁界発生コイル２３２と第２の磁界検出コイル２３５とが、第２の検出用溝２３３を挟んで互いに対向して配置されている。これにより、第２の検出用溝２３３には、第２の磁界発生コイル２３２への通電によって高周波磁界が形成される第２の検出領域が、第２の検出用溝２３３の深さ方向について互いに離れて形成される。

被検出体１１を上から見たときには、ＩＤ列１５が第１の検出用溝２２３に挿入され、クロック列１６が第２の検出用溝２３３に挿入されている。第１の検出用溝２２３の深さ方向についてのＩＤ列１５の寸法は、各第１の検出部２２のそれぞれの位置をまとめて横切る寸法になっている。第２の検出用溝２３３の深さ方向についてのクロック列１６の寸法は、各第２の検出部２３のそれぞれの位置をまとめて横切る寸法になっている。

Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂが被検出体１１の位置を通過すると、第１の検出用溝２２３に形成された２つの第１の検出領域を共通のＩＤ列１５が通過し、第２の検出用溝２３３に形成された２つの第２の検出領域を共通のクロック列１６が通過する。これにより、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂがそれぞれ検出する被検出体情報が同時に確定し、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂのそれぞれからＩＤ信号及びクロック信号が処理部３１に同時に送られる。

処理部３１では、実施の形態１２と同様にして、Ａ系及びＢ系の検出器２１ａ，２１ｂで被検出体情報が確定したそれぞれのタイミングでのかご２の位置と、処理部３１に予め記憶されたかご検出確定位置とを処理部３１が比較することにより、各検出器２１ａ，２１ｂの異常の有無が判定される。他の構成及び動作は実施の形態１２と同様である。

このように、各第１の検出部２２が共通の第１の支持部３２に設けられ、各第２の検出部２３が共通の第２の支持部３３に設けられているので、複数の第１の磁界発生コイル２２２及び複数の第１の検出部２２の支持構造を第１の支持部３２で共通化することができ、複数の第２の検出部２３の支持構造を第２の支持部３３で共通化することができる。これにより、部品点数を減らすことができるとともに、各検出器２１ａ，２１ｂの設置スペースの縮小化を図ることができる。

実施の形態１５．
図３１は、この発明の実施の形態１５によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１ａ，２１ｂを示す斜視図である。被検出体１１では、ＩＤ列１５の各高抵抗部１５ｂ及びクロック列１６の各高抵抗部１６ｂがいずれも、一端が開放されたスリットではなく、全周が閉じた矩形状の空間部である貫通穴部になっている。即ち、被検出体１１では、第１の被検出プレート１２及び第２の被検出プレート１３のそれぞれが穴あきプレートになっている。他の構成及び動作は実施の形態１２と同様である。

このように、ＩＤ列１５の各高抵抗部１５ｂ及びクロック列１６の各高抵抗部１６ｂがいずれも全周が閉じた空間部になっているので、第１及び第２の被検出プレート１２，１３の強度の向上を図ることができ、被検出体１１の耐久性の向上を図ることができる。また、例えばかご２を吊り下げる主索４等の長尺物が被検出体１１に引っ掛かりにくくすることができ、エレベータの故障の防止を図ることができる。

実施の形態１６．
図３２は、この発明の実施の形態１６によるエレベータの位置検出装置の被検出体１１及び検出器２１ａ，２１ｂを示す斜視図である。被検出体１１では、ＩＤ列１５の各高抵抗部１５ｂ及びクロック列１６の各高抵抗部１６ｂのそれぞれが有形部材になっている。高抵抗部１５ｂ，１６ｂとしての有形部材は、第１及び第２の被検出プレート１２，１３を構成する金属よりも渦電流が発生しにくい材料（例えば樹脂又はプラスチック等）で構成されている。この例では、一端が開放された複数のスリットが第１及び第２の被検出プレート１２，１３に形成されており、高抵抗部１５ｂ，１６ｂとしての有形部材が各スリットに嵌っている。即ち、第１及び第２の被検出プレート１２，１３の各スリットの空間が高抵抗部１５ｂ，１６ｂとしての有形部材で埋められている。他の構成及び動作は実施の形態１と同様である。

このように、各高抵抗部１５ｂ，１６ｂが有形部材になっているので、第１及び第２の被検出プレート１２，１３の強度の向上を図ることができ、被検出体１１の耐久性の向上を図ることができる。また、例えばかご２を吊り下げる主索４等の長尺物が被検出体１１に引っ掛かりにくくすることができ、エレベータの故障の防止を図ることができる。

なお、上記の例では、ＩＤ列１５の各高抵抗部１５ｂ及びクロック列１６の各高抵抗部１６ｂのそれぞれが有形部材になっている構成が実施の形態１による被検出体１１に適用されているが、ＩＤ列１５の各高抵抗部１５ｂ及びクロック列１６の各高抵抗部１６ｂのそれぞれが有形部材になっている構成を実施の形態２〜１５による被検出体１１，１１ａ，１１ｂに適用してもよい。

実施の形態１７．
実施の形態１では、ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれに設定された位置情報及び読み取り情報が渦電流方式の検出器２１によって検出されるようになっているが、ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれに設定された位置情報及び読み取り情報を光学方式の検出器によって検出するようにしてもよい。

即ち、図３３は、この発明の実施の形態１７によるエレベータの位置検出装置を示す斜視図である。被検出体１１の構成は、実施の形態１での被検出体１１と同様である。被検出体１１のＩＤ列１５では、第１性質部である低抵抗部１５ａが、光の通過を遮蔽する性質を持つ金属材料で構成された遮光部になっており、第２性質部である高抵抗部１５ｂが、遮光部１５ａよりも光を通しやすい空間で構成された透光部になっている。被検出体１１のクロック列１６でも、第１性質部である低抵抗部１６ａが、光の通過を遮蔽する性質を持つ金属材料で構成された遮光部になっており、第２性質部である高抵抗部１６ｂが、遮光部１６ａよりも光を通しやすい空間で構成された透光部になっている。即ち、ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれでは、光に対する性質が第１性質部である遮光部１５ａ，１６ａと第２性質部である透光部１５ｂ，１６ｂとで互いに異なっている。

検出器２１は、第１の被検出プレート１２のＩＤ列１５に設定された位置情報を検出する光学方式の第１の検出部２２と、第２の被検出プレート１２のクロック列１６に設定された読み取り情報を検出する光学方式の第２の検出部２３とを有している。

第１の検出部２２は、かご２に固定された第１の支持部２２１と、第１の支持部２２１にそれぞれ設けられた第１の発光部２２２及び第１の受光部２２５とを有している。第１の発光部２２２と第１の受光部２２５とは、第１の支持部２２１に設けられた第１の検出用溝２２３を挟んで互いに対向して配置されている。第１の検出用溝２２３には、第１の検出領域２２３が形成されている。第１の発光部２２２は、第１の検出領域２２４を通る光を発生する。第１の受光部２２５は、第１の発光部２２２から第１の検出領域２２４を通った光を受光する。

第２の検出部２３は、かご２に固定された第２の支持部２３１と、第２の支持部２３１にそれぞれ設けられた第２の発光部２３２及び第２の受光部２３５とを有している。第２の発光部２３２と第２の受光部２３５とは、第２の支持部２３１に設けられた第２の検出用溝２３３を挟んで互いに対向して配置されている。第２の検出用溝２３３には、第２の検出領域２３４が形成されている。第２の発光部２３２は、第２の検出領域２３４を通る光を発生する。第２の受光部２３５は、第２の発光部２３２から第２の検出領域２３４を通った光を受光する。

ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るときには、第１の発光部２２２からの光が遮光部１５ａの位置で遮られて第１の受光部２２５に光が到達せず、第１の発光部２２２からの光が透光部１５ｂの位置で通過して第１の受光部２２５に光が達する。これにより、第１の検出部２２は、ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るときにＩＤ列１５での光の通過の有無を第１の受光部２２５によって検出することにより、光の通過の有無（光の通過量の変化）に応じて互いに異なる出力状態となる時系列信号をＩＤ信号として出力する。即ち、第１の検出部２２は、ＩＤ列１５が第１の検出領域２２４を通るときに、ＩＤ列１５での遮光部１５ａ及び透光部１５ｂによる配列パターンに応じて出力状態が切り替わる時系列信号（即ち、ＩＤ列１５での遮光部１５ａと透光部１５ｂとの境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号）をＩＤ信号として出力する。

クロック列１６が第２の検出領域２３４を通るときには、第２の発光部２３２からの光が遮光部１６ａの位置で遮られて第２の受光部２３５に光が到達せず、第２の発光部２２２からの光が透光部１６ｂの位置で通過して第２の受光部２３５に光が達する。これにより、第２の検出部２３は、クロック列１６が第２の検出領域２３４を通るときにクロック列１６での光の通過の有無を第２の受光部２３５によって検出することにより、光の通過の有無（光の通過量の変化）に応じて互いに異なる出力状態となる時系列信号をクロック信号として出力する。即ち、第２の検出部２３は、クロック列１６が第２の検出領域２３４を通るときに、クロック列１６での遮光部１６ａ及び透光部１６ｂによる配列パターンに応じて出力状態が切り替わる時系列信号（即ち、クロック列１６での遮光部１６ａと透光部１６ｂとの境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号）をクロック信号として出力する。他の構成及び動作は実施の形態１と同様である。

このように、第１の検出部２２及び第２の検出部２３を光学方式の検出部としても、渦電流方式の検出部と同様の効果を得ることができる。

なお、上記の例では、透光部１５ｂ，１６ｂが空間で構成されているが、第１及び第２の被検出プレート１２，１３に設けられた空間を埋めた有形部材を透光部１５ｂ，１６ｂとしてもよい。この場合、透光部１５ｂ，１６ｂとしての有形部材は、遮光部１５ａ，１６ａよりも光を通しやすい材料（例えば透明のプラスチック等）で構成される。

また、上記の例では、遮光部１５ａ，１６ａが金属材料で構成されているが、金属と異なる材料（例えば樹脂又はプラスチック等）で遮光部１５ａ，１６ｂを構成してもよい。

また、上記の例では、実施の形態１による第１及び第２の検出部２２，２３に光学方式の検出部が適用されているが、実施の形態２〜１６による第１及び第２の検出部２２，２３に光学方式の検出部を適用してもよい。実施の形態１６による第１及び第２の検出部２２，２３に光学方式の検出部を適用する場合には、遮光部１５ａ，１６ａよりも光を通しやすい材料（例えば透明のプラスチック等）で透光部１５ｂ，１６ｂとしての有形部材が構成される。

また、上記の例では、ＩＤ列１５及びクロック列１６のそれぞれの第１性質部が、光の通過を完全に遮る性質を持つ遮光部１５ａ，１６ａとなっているが、これに限定されず、第１性質部と第２性質部とで光を通過させる度合いが互いに異なっており、第１性質部及び第２性質部のそれぞれを通過した光の受光量の区別が第１及び第２の受光部２２５，２３５で検出可能であれば、光の一部を通過させる性質を持つ部材を第１性質部として用いてもよい。

また、上記実施の形態１０〜１５では、実施の形態１による被検出体１１及び検出器２１が二重化されているが、実施の形態２〜９による被検出体１１及び検出器２１を二重化してもよい。また、被検出体１１ａ，１１ｂ及び検出器２１ａ，２１ｂの数が２つずつとされているが、被検出体及び検出器の数をそれぞれ３つ以上としてもよい。

また、各上記実施の形態では、高抵抗部１５ｂ，１６ｂに空間が形成されているが、高抵抗部１５ｂ，１６ｂに形成されている空間に絶縁物（例えば樹脂又はプラスチック等）を充填してもよい。

また、ＩＤ列１５及びクロック列１６をかご２の移動方向について互いにずらす実施の形態３による構成を、実施の形態２、４〜６、８〜１０、１２〜１７による被検出体１１，１１ａ，１１ｂに適用してもよい。

また、第１及び第２の検出領域２２４，２３４をかご２の移動方向について互いにずらす実施の形態７による構成を、実施の形態２、４〜６、８〜１０、１２〜１７による検出器２１，２１ａ，２１ｂに適用してもよい。

また、第１及び第２の被検出プレート１２，１３に複数のパンチ穴４３を形成してＩＤ列１５及びクロック列１６に高抵抗部１５ｂ，１６ｂを設ける実施の形態６による構成を、実施の形態１〜４、７〜１７による被検出体１１に適用してもよい。また、実施の形態１〜１６において、複数のパンチ穴４３を形成して高抵抗部を設ける構成を、ＩＤ列１５及びクロック列１６の一方にのみ適用し、他方には貫通穴部（開口部）又はスリットを適用するようにしてもよい。

また、第１及び第２の被検出プレート１２，１３に矩形状の貫通穴部を設けた実施の形態５による構成を、第１及び第２の被検出プレート１２，１３が互いに平行に配置された実施の形態１、３、４、７〜１４、１６、１７による被検出体１１，１１ａ，１１ｂに適用してもよい。

Claims (16)

1. 第１性質部とこの第１性質部と異なる性質を持つ第２性質部とを昇降路内の位置に対応する配列パターンで昇降体の移動方向へ並べて構成したＩＤ列が設けられている第１の被検出プレートと、第１性質部とこの第１性質部と異なる性質を持つ第２性質部とを昇降体の移動方向へ並べて構成したクロック列が設けられている第２の被検出プレートとを有し、上記昇降路内に設けられている被検出体、
   第１の検出領域が設けられ上記ＩＤ列が上記第１の検出領域を通るときに上記ＩＤ列での第１性質部と第２性質部との境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号をＩＤ信号として出力する第１の検出部と、第２の検出領域が設けられ上記クロック列が上記第２の検出領域を通るときに上記クロック列での第１性質部と第２性質部との境界の位置で出力状態が切り替わる時系列信号をクロック信号として出力する第２の検出部とを有し、上記昇降体に設けられている検出器、及び
   上記クロック信号の出力状態の切り替わりの位置で上記ＩＤ信号の出力状態を読み取ることにより、上記昇降路内での上記昇降体の位置を特定する処理部
   を備えているエレベータの位置検出装置。
2. 上記ＩＤ列の上記第２性質部は、上記ＩＤ列の上記第１性質部よりも渦電流が発生しにくい性質を持ち、
   上記クロック列の上記第２性質部は、上記クロック列の上記第１性質部よりも渦電流が発生しにくい性質を持っており、
   上記第１の検出部及び上記第２の検出部のそれぞれは、渦電流方式の検出部である請求項１に記載のエレベータの位置検出装置。
3. 上記ＩＤ列及び上記クロック列での上記第２性質部の少なくともいずれかに形成されている空間は、複数のパンチ穴である請求項２に記載のエレベータの位置検出装置。
4. 上記ＩＤ列の上記第２性質部は、上記ＩＤ列の上記第１性質部よりも光を通しやすい性質を持ち、
   上記クロック列の上記第２性質部は、上記クロック列の上記第１性質部よりも光を通しやすい性質を持っており、
   上記第１の検出部及び上記第２の検出部のそれぞれは、光学方式の検出部である請求項１に記載のエレベータの位置検出装置。
5. 上記第１の被検出プレート及び上記第２の被検出プレートは、互いに平行に配置されている請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載のエレベータの位置検出装置。
6. 上記第１の被検出プレート及び上記第２の被検出プレートは、上記昇降体の移動方向に沿った同一平面上で一体化されている請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載のエレベータの位置検出装置。
7. 上記第１の検出部及び上記第２の検出部は、一体化されている請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載のエレベータの位置検出装置。
8. 上記ＩＤ信号の出力状態が切り替わるタイミングと、上記クロック信号の出力状態が切り替わるタイミングとは、互いにずれている請求項１〜請求項７のいずれか一項に記載のエレベータの位置検出装置。
9. 上記ＩＤ列での上記第１性質部と上記第２性質部との境界の位置と、上記クロック列での上記第１性質部と上記第２性質部との境界の位置とは、上記昇降体の移動方向について互いにずれている請求項８に記載のエレベータの位置検出装置。
10. 上記第１の検出領域及び上記第２の検出領域のそれぞれの位置は、上記昇降体の移動方向について互いにずれている請求項８に記載のエレベータの位置検出装置。
11. 上記処理部は、上記昇降体の移動に応じた信号を出力するエンコーダからの情報に基づいて上記昇降体の移動方向を求め、求めた移動方向の情報、上記ＩＤ信号、上記クロック信号のそれぞれに基づいて、上記昇降路内での上記昇降体の位置を特定する請求項１〜請求項１０のいずれか一項に記載のエレベータの位置検出装置。
12. 上記ＩＤ列及び上記クロック列のそれぞれの上端部には、上端識別部が設けられ、
    上記ＩＤ列及び上記クロック列のそれぞれの下端部には、下端識別部が設けられ、
    上記上端識別部と上記下端識別部とを比べると、上記昇降体の移動方向についての上記第１性質部の寸法、又は上記第１性質部と上記第２性質部との配列パターンが互いに異なっており、
    上記ＩＤ信号及び上記クロック信号のそれぞれには、上記上端識別部に対応する上端識別情報と、上記下端識別部に対応し上記上端識別情報と異なる下端識別情報とが含まれ、
    上記処理部は、上記上端識別情報及び上記下端識別情報に基づいて、上記昇降体の移動方向を特定する請求項１〜請求項１０のいずれか一項に記載のエレベータの位置検出装置。
13. 上記昇降体の移動方向についての共通の位置には、複数の上記被検出体が設けられ、
    上記昇降体には、各上記被検出体に対応する複数の上記検出器が設けられ、
    上記処理部は、各上記検出器からの情報に基づいてエレベータの異常を判定する請求項１〜請求項１２のいずれか一項に記載のエレベータの位置検出装置。
14. 上記昇降体の移動方向についての共通の位置には、単一の上記被検出体が設けられ、
    上記昇降体には、上記被検出体に対応する複数の上記検出器が設けられ、
    上記処理部は、各上記検出器からの情報に基づいてエレベータの異常の有無を判定する請求項１〜請求項１２のいずれか一項に記載のエレベータの位置検出装置。
15. 上記クロック列の上記第１性質部及び上記第２性質部のそれぞれの寸法は、上記昇降体の移動方向についてすべて同じクロック幅になっており、
    各上記検出器は、上記昇降体の移動方向について互いに離して配置されており、
    各上記検出器の取付間隔は、上記クロック幅の１以上の整数倍になっている請求項１４に記載のエレベータの位置検出装置。
16. 各上記検出器のそれぞれの上記第１の検出部は、上記昇降体に設けられた共通の第１の支持部に設けられ、
    各上記検出器のそれぞれの上記第２の検出部は、上記昇降体に設けられた共通の第２の支持部に設けられている請求項１４に記載のエレベータの位置検出装置。

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