JP6014385B2 - 磁気記録媒体及び磁気記録再生装置 - Google Patents

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Description

本発明は、ハードディスク装置(HDD)等に用いられる熱アシスト磁気記録方式またはマイクロ波アシスト磁気記録方式の磁気記録媒体、及び磁気記録再生装置に関する。
近年、ハードディスク装置に対する大容量化の要求は益々強くなっている。しかし、現行の記録方式では、ハードディスク装置の記録密度の向上が難しくなってきている。熱アシスト磁気記録方式は、次世代の記録方式として盛んに研究され、注目されている技術の1つである。熱アシスト磁気記録方式は、磁気ヘッドによって媒体に近接場光を照射し、媒体表面を局所的に加熱することにより媒体保磁力を低下させて書き込みを行う記録方式である。
熱アシスト磁気記録方式では、磁性層の材料として、L1型結晶構造を有するFePt(Ku〜7×10erg/cm)、CoPt(Ku〜5×10erg/cm)のような高Ku材料が用いられている。磁性層の材料として高Ku材料を適用すると、KuV/kT(Ku:磁気異方性定数、V:粒子体積、k:ボルツマン定数、T:温度)が大きくなる。このため、熱ゆらぎを悪化させることなく、磁性粒子体積を小さくすることができる。この磁性粒子の微細化により、熱アシスト磁気記録方式では、遷移幅を狭くすることができるので、ノイズを低減でき、シグナルノイズ比(SNR)を改善できる。
また、高い垂直磁気異方性を示す熱アシスト磁気記録媒体を得るには、磁性層として用いられるL1型結晶構造を有する合金に、良好な(001)配向をとらせる必要がある。磁性層の配向性は、下地層によって制御されるものであるため、下地層の材料を適切に選択する必要がある。磁気記録媒体の下地層の材料としては、従来から、MgO、CrN、TiNなどが知られている。
例えば、特許文献1には、MgOを主成分とする下地層を作製し、更にFePt合金からなるL1形規則合金層を作製する技術が記載されている。
また、特許文献2には、TiN、ZrN、HfN、CrNなどの遷移金属窒化物で形成された下地層上に、L1構造を有するFePtやCoPtなどの磁性物質からなるドットと非磁性領域とを備える磁気記録層が備えられた磁気記録媒体が記載されている。
また、磁性層の下地層を複数用いた磁気記録媒体の例として、非特許文献1には、RuAl下地層及びTiN下地層を用いることにより、FePt磁性層が良好な(001)配向を示すことが記載されている。RuAlはB2構造を有するので、(100)配向を示している。TiNは、MgO同様、NaCl構造をとるものであり、格子定数もMgOと近いため、MgOのようにFePt磁性層に(001)配向をとらせることができる。
また、次世代の記録方式として注目されている他の技術として、マイクロ波アシスト磁気記録方式がある。マイクロ波アシスト記録方式は、磁気記録媒体の磁性層にマイクロ波を照射して磁化方向を磁化容易軸から傾けて、磁性層の磁化を局所的に反転させて磁気情報を記録する記録方式である。
特開平11−353648号公報 特開2009−146558号公報
J.Appl.Phys.,Vol.109,07B770(2011)
熱アシスト磁気記録媒体において、良好な磁気記録特性を得るためには、L1型結晶構造を有する合金からなる磁性層に良好な(001)配向をとらせて、保持力を高めることが必須である。しかし、従来の技術では、L1型結晶構造を有する合金からなる磁性層の(001)配向性が不十分であり、熱アシスト磁気記録媒体に使用される磁性層の配向性をより一層良好なものとすることが要求されていた。
また、マイクロ波アシスト磁気記録媒体において、L1型結晶構造を有する合金からなる磁性層の配向を、より一層良好なものとすることが求められる。すなわち、マイクロ波アシスト磁気記録方式においても、熱アシスト磁気記録方式と同様に、磁性層の材料として、L1型結晶構造を有する合金からなる高Ku材料を用いることができる。また、記録密度を更に上げるためには磁性層の粒径を下げることが必須となる。そのため、マイクロ波アシスト磁気記録方式においても、磁性粒子の粒径を微細化しても熱安定性を維持できるL1型結晶構造を有する合金からなる磁気記録媒体が求められている。
本発明は、上記の事情に鑑みて提案されたものであり、L1型結晶構造を有する合金からなる磁性層を備え、磁性層が良好な(001)配向を有していることにより、高保磁力で高いシグナルノイズ比(SNR)が得られる熱アシスト磁気記録媒体、及びこれを備えた磁気記録再生装置を提供することを目的とする。
また、本発明は、L1型結晶構造を有する合金からなる磁性層を備え、磁性層が良好な配向を有するマイクロ波アシスト磁気記録媒体、およびこれを備えた磁気記録再生装置を提供することを目的とする。
本発明者は、上記課題を解決するため、L1型結晶構造の磁性層を得るための下地層に着目して鋭意検討を重ねた。その結果、下地層を配向制御層上に形成し、下地層として、MgOを含む(100)配向を有するMgO下地層と、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含む(100)配向を有する窒化物下地層とを含むものを形成することで、良好な(001)配向を有しているL1型結晶構造の磁性層が得られることを見出し、本発明を想到した。
本発明は、以下の特徴を有する磁気記録媒体を提供する。
(1)基板上に形成された配向制御層と、前記配向制御層上に形成された下地層と、前記下地層上に形成されたL1型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層とを有し、前記下地層が、MgOを含む(100)配向を有するMgO下地層と、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含む(100)配向を有する窒化物下地層とを含み、熱アシスト磁気記録方式またはマイクロ波アシスト磁気記録方式で記録されるものであることを特徴とする磁気記録媒体。
(2)前記窒化物下地層上に前記MgO下地層が形成されていることを特徴とする(1)に記載の磁気記録媒体。
(3)前記MgO下地層上に前記窒化物下地層が形成されていることを特徴とする(1)に記載の磁気記録媒体。
(4)前記配向制御層が、Cr、Mo、Nb、Ta、V、W、もしくはCrを主成分とし、Mn、Mo、Ru、Ti、V、Wのうち少なくとも一種類を含むBCC構造を有する(100)配向のBCC下地層を含むことを特徴とする(1)乃至(3)の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
(5)前記配向制御層が、NiAlまたはRuAlからなるB2構造を有するB2下地層を含むことを特徴とする(1)乃至(4)の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
(6)前記磁性層が、L1型結晶構造を有するFePt合金もしくはCoPt合金を主成分とし、かつ、SiO、TiO、Cr、Al、Ta、ZrO、Y、CeO、MnO、TiO、ZnO、Cから選択される少なくとも一種類の酸化物、もしくは元素を含有していることを特徴とする(1)乃至(5)の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
(7)(1)乃至(6)のいずれか1項に記載の磁気記録媒体と、前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、前記磁気記録媒体を加熱するレーザー発生部と前記レーザー発生部から発生したレーザー光を先端部へと導く導波路と前記先端部に設けられた近接場発生素子とを有して前記磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動部と、前記磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドからの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系とを備える磁気記録再生装置。
(8)(1)乃至(6)のいずれか1項に記載の磁気記録媒体と、前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、前記磁気記録媒体にマイクロ波を照射する素子と、前記磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動部と、前記磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドからの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系とを備える磁気記録再生装置。
本発明の磁気記録媒体は、基板上に形成された配向制御層と、前記配向制御層上に形成された下地層と、前記下地層上に形成されたL1型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層とを有し、前記下地層が、MgOを含む(100)配向を有するMgO下地層と、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含む(100)配向を有する窒化物下地層とを含むものあるので、磁性層が良好な(001)配向を有しているものとなる。このため、本発明の磁気記録媒体は、高い保磁力と高いシグナルノイズ比(SNR)とを示すものとなる。
図1は、本発明の熱アシスト磁気記録媒体の一例を示した断面図である。 図2は、本発明の熱アシスト磁気記録媒体の他の例を示した断面図である。 図3は、本発明の磁気記録再生装置の一例を示した斜視図である。 図4は、図3に示す磁気記録再生装置に備えられた磁気ヘッドの構成を模式的に示した図である。
以下に、本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、本発明は、以下に示す例のみに限定されるものではない。特に制限のない限り、数量、構成、位置、材料などを変更してもよい。
[熱アシスト磁気記録媒体]
図1は、本発明の熱アシスト磁気記録媒体の一例を示した断面図である。
図1に示す熱アシスト磁気記録媒体は、基板101上に、密着層102とヒートシンク層103とシード層104とBCC下地層105(配向制御層)と下地層10と磁性層108と保護膜109と潤滑剤層110とがこの順で積層されたものである。磁性層108は、L1型結晶構造を有する合金を主成分とするものである。
「基板」
本発明の熱アシスト磁気記録媒体に使用される基板101としては、例えば、円形の非磁性基板を用いることができる。非磁性基板としては、例えば、ガラス、アルミ、セラミックスなどを用いることができる。ガラス基板としては、結晶化ガラスや非晶質ガラス、強化ガラスなどを使用できる。
熱アシスト磁気記録媒体に使用される基板101としては、ガラス転移点の高い耐熱性に優れたものを用いることが望ましく、基板101上に形成される各層の成膜条件や、熱アシスト磁気記録媒体の使用条件などに応じて、表面粗さや熱容量、結晶化状態などを適宜選択して決定できる。
「密着層」
密着層102は、ヒートシンク層103と基板101との密着性を向上させるためのものであり、必要に応じて備えられるものである。密着層102の材料としては、CrTiやNiTaなどが挙げられる。
「ヒートシンク層」
ヒートシンク層103は、記録後に磁性層108に溜まった熱を速やかに散逸させるためのものであり、必要に応じて備えられるものである。ヒートシンク層103の材料としては、Ag、Al、Cu、W、Moもしくはこれらを主成分とする熱伝導率の高い合金などが挙げられる。基板101と磁性層108との間にヒートシンク層103が設けられている場合、下地層10による磁性層108の配向制御効果を確保できる範囲で、下地層10の厚みをできるだけ薄くすることが望ましい。下地層10の膜厚を薄くすることで、ヒートシンク層103と磁性層108との距離が短くなり、ヒートシンク層103の散熱効果を大きくでき、遷移幅を急峻にできる。
「シード層」
シード層104は、ヒートシンク層103の配向を打ち消して、その上のBCC下地層105に良好な(100)配向を取らせるために設けられた下地層である。シード層104は、シード層104の直下の層が(100)配向を示し、その上のBCC下地層105が良好な(100)配向を示す場合には設けなくてもよいが、図1に示す熱アシスト磁気記録媒体の場合、ヒートシンク層103が(111)配向を示すので、この(111)配向を打ち消すためにCrTiからなるシード層104が形成されている。シード層104の材料としては、CrTiやNiTa、AlTiのような軟磁性層が挙げられる。
「BCC下地層」
BCC下地層105は、磁性層108の配向を制御する配向制御層として形成されたものである。
BCC下地層105は、Cr、Mo、Nb、Ta、V、W、もしくはCrを主成分とし、Mn、Mo、Ru、Ti、V、Wのうち少なくとも一種類を含むBCC構造を有する(100)配向のものである。また、BCC下地層105は、(100)配向した窒化物下地層106を形成するための下地層として機能するものである。なお、BCC下地層105は、(100)配向したMgO下地層107を形成するための下地層として形成されていてもよい。
図1に示す熱アシスト磁気記録媒体においては、(100)配向のBCC下地層105が形成されていることにより、BCC下地層105上に形成された窒化物下地層106が(100)配向したものとなっている。BCC下地層105は、良好に(100)配向した窒化物下地層106が容易に形成されるようにして、窒化物下地層106による磁性層108の配向を制御する機能を向上させるために、設けられる。
また、本発明の熱アシスト磁気記録媒体においては、配向制御層としてBCC下地層105に代えて、RuAlやNiAlのようなB2構造を有するB2下地層を配置してもよい。B2下地層は、B2構造を有するので、(100)配向を示している。このため、B2下地層は、BCC下地層105と同様に、(100)配向した窒化物下地層106を形成するための下地層として機能する。B2下地層は、(100)配向したMgO下地層107を形成するための下地層として形成されていてもよい。
また、本発明の熱アシスト磁気記録媒体においては、必要に応じて、配向制御層としてBCC下地層および/またはB2下地層が複数層設けられていてもよい。
なお、BCC下地層105およびB2下地層は、DC放電成膜法を用いて形成することができる。このことにより、BCC下地層105およびB2下地層は、窒化物下地層106やMgO下地層107と比較して容易に膜厚の厚いものとすることができる。このため、BCC下地層105およびB2下地層は、配向を制御する層のうち最も基板101側に配置される層として好ましい。
「下地層」
下地層10は、主に磁性層108の結晶粒径や結晶配向、平坦性などを制御して、磁性層108の性能を向上させるものである。
図1に示す熱アシスト磁気記録媒体における下地層10は、BCC下地層105上に形成されたものであり、窒化物下地層106とMgO下地層107とがこの順で積層されたものとされている。
図1に示す熱アシスト磁気記録媒体においては、BCC下地層105と磁性層108との間に、下地層10が形成されているので、BCC下地層105がCrもしくはCrを主成分とするものである場合に、BCC下地層105から磁性層108にCrが拡散して、磁性層108の配向に支障を来たしたり、熱アシスト磁気記録媒体のノイズの原因となったりすることを防止でき、好ましい。
(窒化物下地層)
窒化物下地層106は、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含むものである。TaN、NbN、HfNは、(100)配向のNaCl構造を有するものであり、(100)配向したMgO下地層107を形成するための下地層として機能するものである。図1に示す下地層10においては、(100)配向した窒化物下地層106が形成されていることにより、窒化物下地層106上に形成されたMgO下地層107が(100)配向したものとされている。
(100)配向のNaCl構造を有するTaN、NbN、HfNは、磁性層108に使用されるL1型結晶構造を有する合金との格子不整合が20%以内と小さいものである。このため、窒化物下地層106上に、磁性層108を形成することにより、磁性層108に良好な(001)配向をとらせることができる。なお、窒化物下地層106と磁性層108との間に、MgO下地層107などの窒化物下地層106による配向制御効果を磁性層108に引継ぐ層が配置されている場合には、窒化物下地層106による配向制御効果が得られる。図1に示す下地層10においては、(100)配向した窒化物下地層106上にMgO下地層107が形成されているので、MgO下地層107は(100)配向したものとなっている。
窒化物下地層106は、MgO下地層107の配向を効果的に制御できるものとするため、NaCl構造を有するTaN、NbN、HfNにおける金属と窒素とが1:1で含有されているものであることが望ましいが、金属と窒素とが1:1ではない窒化物が若干量混在していても良い。
また、窒化物下地層106の厚みは、均一で良好な配向性を示す磁性層108を得るために、0.5nm〜30nmであることが好ましい。窒化物下地層106の厚みが上記範囲未満である場合、MgO下地層107の配向およびMgO下地層107上に配置される磁性層108の配向を制御する機能が十分に得られず、良好な磁性層108の(001)配向が得られにくくなる。また、窒化物下地層106の厚みが上記範囲を超えると、窒化物下地層106の厚みが不均一になりやすく、窒化物下地層106上に形成されるMgO下地層107および磁性層108の平坦性が不十分となりやすくなる。
(MgO下地層)
MgO下地層107は、MgOを含むものであり、(100)配向のNaCl構造を有するものである。MgOの格子定数は、L1型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層108のa軸長と近似している。具体的には、NaCl構造のMgOの格子定数は、0.421nmであり、磁性層108の主成分として使用されるL1型結晶構造を有するFePtのa軸長は0.385nmであり、L1型結晶構造を有するCoPtのa軸長は0.381nmである。このため、MgO下地層107上に、FePt合金もしくはCoPt合金を主成分とする磁性層108を形成することにより、磁性層108に良好な(001)配向をとらせることができる。また、MgO下地層107は、磁性層108に使用されるL1型結晶構造を有する合金との格子不整合が、窒化物下地層106よりも小さいものである。
なお、MgO下地層107と磁性層108との間に、窒化物下地層106などのMgO下地層107による配向制御効果を磁性層108に引継ぐ層が配置されている場合には、MgO下地層107による配向制御効果が得られる。
また、MgO下地層107の厚みは、均一で良好な配向性を示す磁性層108を得るために、0.5nm〜15nmであることが好ましい。MgO下地層107の厚みが上記範囲未満である場合、磁性層108の配向を制御する機能が十分に得られず、良好な磁性層108の(001)配向が得られにくくなる。また、MgO下地層107の厚みが上記範囲を超えると、MgO下地層107の厚みが不均一になりやすく、MgO下地層107上に形成される磁性層108の平坦性が不十分となりやすくなる。
(下地層の製造方法)
次に、下地層の製造方法の一例として、図1に示す下地層10の製造方法を例に挙げて説明する。
図1に示す下地層10を形成するには、まず、窒化物下地層106となる窒化物膜を(100)配向させるために、基板101上に、窒化物下地層106の下地層として機能する(100)配向したBCC下地層105(配向制御層)を設ける。
(100)配向したBCC下地層105は、具体的には例えば、250℃程度に加熱した基板101にCr膜を成膜する方法などにより形成できる。
次いで、BCC下地層105上に、窒化物下地層106をエピタキシャル成長させて形成することにより、(100)配向した窒化物下地層106が得られる。窒化物下地層106は、例えば、窒化物ターゲットを用いたRF放電成膜法や、それぞれの金属ターゲットとNを含むガスとを用いたDC放電成膜法を用いて形成できる。このようにして得られた窒化物下地層106は、窒化物下地層106上に形成される磁性層108との格子不整合が20%以内であるものとなる。したがって、窒化物下地層106上に磁性層108を形成することよって磁性層108の結晶を効果的に制御できる。
次いで、窒化物下地層106上にMgO膜をエピタキシャル成長させて、MgO下地層107を形成することにより、図1に示す下地層10の形成が完成する。得られたMgO下地層107は、窒化物下地層106の配向制御効果によって、(100)配向したものとなる。
このようにして配向制御層上に形成された下地層10上には、例えば、以下に示す方法などにより、磁性層108が形成される。
すなわち、下地層10の形成された基板101を450〜700℃に加熱して、磁性層108となるFePt膜をエピタキシャル成長させる。本実施形態においては、下地層10の配向制御効果によって、L1型結晶構造を有するFePtからなり、良好な(001)配向を示す磁性層108が形成される。
なお、下地層10の磁性層108に対する配向制御効果は、下地層10として形成されている窒化物下地層106とMgO下地層107との格子定数が異なっていることにより、効果的に機能すると推定される。したがって、下地層10として窒化物下地層106とMgO下地層107とが設けられている場合、格子定数が同じ複数層からなる下地層が設けられている場合と比較して、良好な(001)配向を示す磁性層108が形成される。
(他の例)
なお、本発明の熱アシスト磁気記録媒体は、配向制御層と、配向制御層上に形成された下地層10と、下地層10上に形成された磁性層108とを有するものであればよく、下地層10を構成する各層の積層順序や積層数は設計に応じて任意に選択でき、図1に示す例に限定されるものではない。
具体的には例えば、下地層10は、図1に示すように、BCC下地層105上に窒化物下地層106とMgO下地層107とがこの順で積層されたものであってもよいし、MgO下地層107および/または窒化物下地層106が2層以上積層されているものであってもよい。
なお、図1に示すように、窒化物下地層106上にMgO下地層107が形成されている場合、MgO下地層107と磁性層108との距離が近いものとなるので、MgO下地層107による磁性層108に対する配向制御効果がより効果的に機能する。また、MgO下地層107は、窒化物下地層106と比較して磁性層108との格子不整合が小さいものであるため、窒化物下地層106、MgO下地層107、磁性層108の順に積層されることにより、窒化物下地層106の下層に形成されている配向制御層(図1においてはBCC下地層105)と磁性層108との格子不整合が段階的に解消されることになる。その結果、窒化物下地層106とMgO下地層107とによる配向制御機能の相乗効果がより効果的に得られ、磁性層108の配向をより良好なものとすることができる。したがって、高保磁力と高いシグナルノイズ比(SNR)を示す熱アシスト磁気記録媒体を得るためには、窒化物下地層106上にMgO下地層107が形成されていることが好ましい。
また、MgO下地層107上に窒化物下地層106が形成されている場合、窒化物下地層106と磁性層108との距離が近いものとなるので、窒化物下地層106による磁性層108に対する配向制御効果がより効果的に機能する。窒化物下地層106は、MgO下地層107と比較して磁性層108との格子不整合は大きいものであるが、良好な(100)配向が維持されているものであるため、磁性層108の配向を良好なものとすることができ、高い保磁力と十分なSNRが得られる。
また、MgO下地層107は水に溶けるため、高温高湿条件によるコロージョンが起こりやすい。MgO下地層107上に窒化物下地層106が形成されている場合、窒化物下地層106によってMgO下地層107が保護されるため、高温高湿条件によるコロージョンの発生が防止され、コロージョン特性が良好なものとなる。
また、本発明においては、熱アシスト磁気記録媒体の書き込み特性を向上させるために、図1に示す基板101と配向制御層105との間に、軟磁性下地層を形成してもよい。基板101と配向制御層105の間に軟磁性下地層を形成した場合、磁性層108に印加される磁界勾配を高めることができ、磁気記録再生装置に備えられた場合に磁気ヘッドからの磁界を効率よく磁性層108に印加できる。
この軟磁性下地層は、非晶質合金でもよいし、微結晶や多結晶合金であってもよい。さらに、軟磁性下地層は、Ruを介して反強磁性結合した積層軟磁性下地層であってもよいし、単層であってもよい。軟磁性下地層の材料として、具体例には、CoFeB、CoFeTa、CoFeTaZr、CoFeZr、CoFeTaB、CoFeNi、CoNiTa、CoTaZr、CoNbZr、CoNiZr、FeAlSiなどが挙げられる。
「磁性層」
磁性層108は、L1型結晶構造を有する合金を主成分とするものである。高記録密度を達成するためには、磁性層108は、粒界偏析材料で分離された数nmの磁性粒子で形成されていることが好ましいが、磁性粒子の体積が小さくなり熱的に不安定になる。そのため、本実施形態においては、磁性層108の主成分として、磁気異方性エネルギーの高いL1型結晶構造を有する合金が用いられる。
磁性層108は、L1型結晶構造を有するFePt合金もしくはCoPt合金を主成分とし、かつ、SiO、TiO、Cr、Al、Ta、ZrO、Y、CeO、MnO、TiO、ZnO、Cから選択される少なくとも一種類の酸化物、もしくは元素を含有するものであることが好ましい。
本実施形態においては、磁性粒子の大きさや粒子間の交換結合を制御するため、FePtもしくはCoPtなどのL1型結晶構造を有する合金に、偏析材料として添加物を含有させている。添加物としては、SiO、TiO、Cr、Al、Ta、ZrO、Y、CeO、MnO、TiO、ZnO、Cから選択される少なくとも一種類の酸化物、もしくは元素を用いる。このような添加物を含有させることにより、グラニュラー構造の磁性層108となり、粒子間の交換結合を低減できると共に、磁性粒子を微細化することができ、熱アシスト磁気記録媒体のSNRをより一層改善できる。
本発明においては、熱アシスト磁気記録媒体の書き込み特性をさらに改善するために、磁性層108の上にキャップ層を形成してもよい。キャップ層としては、Co、Fe、Niを主成分とする合金を用いることができる。キャップ層は、室温において強磁性を失わない範囲でその他の添加元素を含むものであってもよい。キャップ層は、結晶質合金でもよいし、非晶質合金を使ってもよい。
「保護膜」
保護膜109としては、耐熱性に優れる材料からなるものであること望ましく、単層または複数層のカーボン膜などを用いることができる。カーボン膜としては、水素や窒素、金属を添加したものを用いてもよい。カーボン膜は、CVD法やイオンビーム法によって形成できる。
「潤滑剤層」
潤滑剤層110としては、パーフルオロポリエーテルからなる液体潤滑剤層などを用いることができる。
図1に示す熱アシスト磁気記録媒体は、基板101上に形成された配向制御層(図1においてはBCC下地層105)と、配向制御層上に形成された下地層10と、下地層10上に形成されたL1型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層108とを有し、下地層10が、MgOを含む(100)配向を有するMgO下地層107と、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含む(100)配向を有する窒化物下地層106とを含むものであるため、磁性層108が、良好な(001)配向を有しているものとなる。
より詳細には、本実施形態の熱アシスト磁気記録媒体においては、BCC下地層105による磁性層108の配向制御効果と、磁性層108との格子不整合の小さい窒化物下地層106による磁性層108の配向制御効果と、格子定数が磁性層108のa軸長と近似しているMgO下地層107による磁性層108の配向制御効果との相乗効果によって、磁性層108の配向が高精度で制御されているので、良好な(001)配向を有する磁性層108が得られる。その結果、本発明の熱アシスト磁気記録媒体は、高い保磁力と高いシグナルノイズ比(SNR)とを示すものとなる。
また、本実施形態の熱アシスト磁気記録媒体では、窒化物下地層106が配向制御層であるBCC下地層105上に形成されているので、容易に良好な配向を有する窒化物下地層106が得られる。このため、窒化物下地層106上に良好な(001)配向を有する磁性層108が形成されたものとなる。
また、MgO下地層107がBCC下地層105上に形成されている場合には、容易に良好な配向を有するMgO下地層107が得られるため、MgO下地層107上に良好な(001)配向を有する磁性層108が形成された熱アシスト磁気記録媒体となる。
本実施形態の熱アシスト磁気記録媒体において、配向制御層としてB2下地層が形成されており、B2下地層上に窒化物下地層106およびMgO下地層107が形成されている場合にも、容易に良好な配向を有する窒化物下地層106およびMgO下地層107が得られ、良好な(001)配向を有する磁性層108が得られる。
[マイクロ波アシスト磁気記録媒体]
本発明の磁気記録媒体は、マイクロ波アシスト磁気記録媒体にも適用可能である。
本実施形態のマイクロ波アシスト磁気記録媒体としては、例えば、基板上に、BCC下地層(配向制御層)と下地層と磁性層とがこの順で積層されたものが挙げられる。BCC下地層(配向制御層)と下地層と磁性層としては、上述した図1に示す熱アシスト磁気記録媒体と同様のものを用いることができる。
マイクロ波アシスト磁気記録媒体においては、媒体表面を加熱しないためヒートシンク層は必要としない。図1に示す磁気記録媒体の場合、ヒートシンク層103を除くこともできるし、密着層102上に直接BCC下地層105を形成することもできる。
このようなマイクロ波アシスト磁気記録媒体では、上述した図1に示す熱アシスト磁気記録媒体と同様に、L1型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層が良好な(001)配向を有しているものとなる。このため、本実施形態のマイクロ波アシスト磁気記録媒体は、高い保磁力と高いシグナルノイズ比(SNR)とを示すものとなる。
[磁気記録再生装置]
次に、本発明の磁気記録再生装置について説明する。図3は、本発明の磁気記録再生装置の一例を示した斜視図であり、図4は、図3に示す磁気記録再生装置に備えられた磁気ヘッドの構成を模式的に示した断面図である。
図3に示す磁気記録再生装置は、本発明の熱アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体301と、磁気記録媒体301を回転させ、記録方向に駆動する媒体駆動部302と、磁気記録媒体301に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッド303と、磁気ヘッド303を磁気記録媒体301に対して相対移動させるヘッド駆動部304と、磁気ヘッド303への信号入力と磁気ヘッド303からの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系305とから概略構成されている。
図3に示す磁気記録再生装置に備えられている磁気ヘッド303は、図4に示すように、記録ヘッド408と再生ヘッド411とから概略構成されている。記録ヘッド408は、主磁極401と、補助磁極402と、磁界を発生させるためのコイル403と、レーザーダイオード(LD)404と、LD404から発生したレーザー光405を先端部に設けられた近接場発生素子406へと導く導波路407とを備えている。再生ヘッド411は、一対のシールド409で挟み込まれたTMR素子等の再生素子410を備えている。
そして、図3に示す磁気記録再生装置では、磁気ヘッド303の近接場発生素子406から発生した近接場光を磁気記録媒体301に照射し、その表面を局所的に加熱して上記磁性層の保磁力を一時的にヘッド磁界以下まで低下させて書き込みを行う。
図3に示す磁気記録再生装置は、高い保磁力と高いシグナルノイズ比(SNR)とを有する本発明の熱アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体301を備えているので、エラーレートの低いものとなる。
[磁気記録再生装置(他の例)]
次に、本発明の磁気記録再生装置の他の例について説明する。
本発明の磁気記録再生装置は、マイクロ波アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体を備えるものであってもよい。このような磁気記録再生装置としては、例えば、マイクロ波アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体と、磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、磁気記録媒体にマイクロ波を照射する素子と、磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動部と、磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドからの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系とを備えるものが挙げられる。
マイクロ波アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体を備える磁気記録再生装置では、マイクロ波を照射する素子から磁気記録媒体にマイクロ波を照射することにより、磁気記録媒体の磁性層にマイクロ波帯の交流磁場を印加して磁化方向を磁化容易軸から傾け、磁性層の磁化を局所的に反転させて磁気ヘッドにより磁気情報の書き込みを行う。
このような磁気記録再生装置は、高い保磁力と高いシグナルノイズ比(SNR)とを有する本発明のマイクロ波アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体を備えているので、エラーレートが低く、優れた記録再生特性が得られるものとなる。
以下、実施例により本発明の効果をより詳細に説明する。なお、以下に示す実施例は、本発明の磁気記録媒体を説明するための代表例であり、本発明はこれらの例に限定されるものではない。
(実施例1−1〜1−5)
以下に示す方法により、図1に示す熱アシスト磁気記録媒体を製造した。
まず、2.5インチガラス基板101上に、Cr−50at%Tiからなる厚み40nmの密着層102を成膜し、続けてAgからなる厚み30nmのヒートシンク層103、続けてCr−50at%Tiからなる厚み30nmのシード層104を成膜した。
その後、基板101を250℃まで加熱して、Cr−20at%Vからなる厚み30nmのBCC下地層105(配向制御層)(第一下地層)と、TaNからなる厚み5nmの窒化物下地層106(第二下地層)と、MgOからなる厚み5nmのMgO下地層107(第三下地層)とを順次形成した。
次に、基板を680℃まで加熱して(Fe−50at%Pt)−14mol%SiOからなる厚み8nmの磁性層108を形成し、磁性層108上にダイヤモンド状炭素(DLC(Diamond Like Carbon))からなる厚み3.5nmの保護膜109を形成し、パーフルオロポリエーテルからなる厚み1.5nmの液体潤滑剤層110を塗布した。
以上の工程により、実施例1−1の熱アシスト磁気記録媒体を得た。
このようにして得られた実施例1−1の熱アシスト磁気記録媒体について、X線回折で測定を行った。その結果、磁性層において、L1−FePt(001)およびL1−FePt(002)のピークとFCC−FePt(200)の混合ピークが確認された。また、Cr−20at%VからなるBCC下地層105は(100)配向を示しており、その上に形成されたTaNからなる窒化物下地層106と、MgOからなるMgO下地層107も(100)配向をしていることがわかった。このことから、FePt合金からなる磁性層108はエピタキシャル成長していることが確認された。
続いて、実施例1−1の熱アシスト磁気記録媒体におけるBCC下地層105(配向制御層)(第一下地層)の材料を、Cr−10at%W(実施例1−2)、Cr−15at%Mo(実施例1−3)、Ru−50at%Al(B2下地層)(実施例1−4)、Ni−50at%Al(B2下地層)(実施例1−5)に置き換え、他の層は全て実施例1と同様にして実施例1−2〜1−5の熱アシスト磁気記録媒体を得た。
実施例1−1〜1−5の配向制御層(第一下地層)、窒化物下地層(第二下地層)、MgO下地層(第三下地層)の材料を表1に示す。
Figure 0006014385
(比較例1−1〜1−11)
実施例1−1、1−2および1−4の熱アシスト磁気記録媒体におけるMgO下地層(第三下地層)を除き、他の層は全て実施例1−1と同様にして比較例1−1〜1−3の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
また、実施例1−1、1−2および1−4の熱アシスト磁気記録媒体における窒化物下地層(第二下地層)を除き、他の層は全て実施例1−1と同様にして比較例1−4〜1−6の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
さらに、実施例1−1、1−2および1−4の熱アシスト磁気記録媒体におけるMgO下地層および窒化物下地層を除き、他の層は全て実施例1−1と同様にして比較例1−7〜1−9の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
また、実施例1−1の熱アシスト磁気記録媒体におけるBCC下地層(第一下地層)とMgO下地層を除き、他の層は全て実施例1−1と同様にして比較例1−10の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
実施例1−1の熱アシスト磁気記録媒体におけるBCC下地層と窒化物下地層を除き、他の層は全て実施例1−1と同様にして比較例1−11の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
比較例1−1〜1−11の配向制御層(第一下地層)、窒化物下地層(第二下地層)、MgO下地層(第三下地層)の材料を表2に示す。
Figure 0006014385
実施例1−1〜1−5、比較例1−1〜1−11の熱アシスト磁気記録媒体について、以下に示す方法により、保磁力と電磁変換特性のシグナルノイズ比(SNR)とを測定した。その結果を表1および表2に示す。
保磁力は、物理特性測定装置(PPMS)により室温で7Tの磁界を印加して測定した。また、電磁変換特性のSNRは、レーザースポット加熱機構を搭載したヘッドを用い、スピンスタンドテスターにて測定を行った。
表1および表2に示すように、実施例1−1〜1−5の熱アシスト磁気記録媒体では、配向制御層が(BCC下地層)Cr合金、(B2下地層)Ru−50at%Al、(B2下地層)Ni−50at%Alのどれであっても33kOe以上の高い保磁力を示した。実施例1−1〜1−5の保磁力の値は、MgO下地層と窒化物下地層のいずれか一方または両方のない比較例1−1〜1−11に示す磁気記録媒体に比べて10kOe以上大きい。このことから、配向制御層と窒化物下地層とMgO下地層とを併せ持ち、MgO下地層が窒化物下地層上に形成されている実施例1−1〜1−5では、保磁力を大きく改善できることがわかる。
また、実施例1−1〜1−5における熱アシスト磁気記録媒体では、SNRが13dB以上を示しており、SNRが8.0dB〜10.7dBしか示さない比較例1−1〜1−11の磁気記録媒体よりも高い。これは、配向制御層と窒化物下地層とMgO下地層とによって、磁性層108の(001)配向が良くなったことに起因すると考えられる。
(実施例2−1〜2−9)
実施例1−1、1−2及び1−4の磁気記録媒体における磁性層108を膜厚9nmの(Fe−45at%Pt−5at%Ag)−35mol%Cに置き換え、他の層は全て実施例1−1と同様にして実施例2−1〜2−3の磁気記録媒体を作製した。
次に、実施例2−1〜2−3の磁気記録媒体における窒化物下地層(第二下地層)をNbN層に置き換え、他の層は全て実施例2−1〜2−3のぞれぞれと同様にして実施例2−4〜2−6の磁気記録媒体とし、また、窒化物下地層をHfN層に置き換え、他の層は全て実施例2−1〜2−3のぞれぞれと同様にして実施例2−7〜2−9の磁気記録媒体を作製した。
実施例2−1〜2−9の配向制御層(第一下地層)、窒化物下地層(第二下地層)、MgO下地層(第三下地層)の材料を表3に示す。
また、実施例2−1〜2−9の熱アシスト磁気記録媒体について、実施例1−1と同様にして保持力およびSNRを測定した。その結果を表3に示す。
Figure 0006014385
また、実施例2−1〜2−9の熱アシスト磁気記録媒体について、以下に示す方法により、表面粗さ(Ra)とパーティクル数を測定した。その結果を表3に示す。
磁気記録媒体の表面粗さ(Ra)は、Veeco社製AFMのタッピングモードを用いて、10μm視野で測定した。磁気記録媒体のパーティクル数の計測には、CANDELA社製OSA−6100を用い、磁気記録媒体一面のパーティクル数として記した。
表3に示すように、窒化物下地層は、TaN、NbN、HfNのどれであっても、保磁力とSNRは高い値を示した。また、窒化物下地層がTaNである実施例2−1〜2−3の媒体は、同一の第一下地層で比べた場合、窒化物下地層がNbNまたはHfNである実施例2−4〜2−9の媒体よりもSNRが高いことがわかる。一方、窒化物下地層がNbNである実施例2−4〜2−6の媒体では、Raが特に低く、窒化物下地層がHfNである実施例2−7〜2−9の媒体は、パーティクル数が特に少ない。このことから、磁気記録媒体に求められる要求特性に合わせて、窒化物下地層である窒化物の種類を選択できる。
また、配向制御層(第一下地層)において、BCC構造であるCr合金とB2構造を持つRuAlを比較すると、保磁力やSNRは同等であり、RaはBCC構造を示すCr合金の方が低いことがわかる。このことから、第一下地層も磁気記録媒体に求められる要求特性に合わせて種類を選択できる。
(比較例2−1〜2−4)
実施例2−1、2−3の磁気記録媒体における第二下地層をMgO層に置き換え、他の層は全て実施例2−1、2−3と同様にして比較例2−1、2−2の磁気記録媒体とし、さらに、実施例2−1、2−3の磁気記録媒体における第三下地層をTaN層に置き換え、他の層は全て実施例2−1、2−3と同様にして比較例2−3、2−4の磁気記録媒体とした。
このようにして作製した比較例2−1〜2−4の熱アシスト磁気記録媒体について、実施例1と同様にして保持力およびSNRを測定した。その結果を表4に示す。
Figure 0006014385
表4に示すように、下地層として、MgO層を2層形成した比較例2−1、2−2およびTaN層を2層形成した比較例2−3、2−4は、表3に示すTaN層とMgO層とを有する実施例2−1、2−3と比較して、保磁力およびSNRが低いことが分かる。
これは、下地層として、格子定数の異なるTaN層とMgO層とを配置することにより、良好な配向を有する磁性層が得られたためと考えられる。
(実施例3−1〜3−7)
以下に示す方法により、図2の断面模式図に示す熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
2.5インチガラス基板201上に、Cr−50at%Tiからなる厚み40nmの密着層202を成膜し、続けてCuからなる厚み30nmのヒートシンク層203、続けてCr−50at%Tiからなる厚み30nmのシード層204を成膜した。
その後、基板201を280℃まで加熱して、Cr−20at%Moからなる厚み30nmのBCC下地層205(配向制御層)(第一下地層)と、MgOからなる厚み5nmのMgO下地層206(第二下地層)と、TaNからなる厚み5nmの窒化物下地層207(第三下地層)とを順次形成した。
次に、基板を680℃まで加熱して(Fe−55at%Pt)−20mol%TiOからなる厚み8nmの磁性層208と、Co−10at%Ta−5at%Bからなる厚み 2nmのキャップ層209とを形成し、この上にダイヤモンド状炭素(DLC(Diamond Like Carbon))からなる厚み3.5nmの保護膜210を形成し、パーフルオロポリエーテルからなる厚み1.5nmの液体潤滑剤層211を塗布した。
以上の工程により、実施例3−1の熱アシスト磁気記録媒体を得た。
また、実施例3−1の熱アシスト磁気記録媒体におけるBCC下地層205(配向制御層)材料を、Cr−5at%Mo(実施例3−2)、Cr−45at%Mo(実施例3−3)、Cr−15at%Ti(実施例3−4)、Cr−35at%V(実施例3−5)、Ru−50at%Al(B2下地層)(実施例3−6)、Ni−50at%Al(B2下地層)(実施例3−7)に置き換え、他の層は、全て実施例3−1と同様にして実施例3−2〜3−7の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
実施例3−1〜3−7の配向制御層(第一下地層)、MgO下地層(第二下地層)、窒化物下地層(第三下地層)の材料を表5に示す。
Figure 0006014385
(比較例3−1〜3−4)
実施例3−1、3−6の熱アシスト磁気記録媒体における窒化物下地層(第三下地層)を除き、他の層は全て実施例3−1、3−6と同様にして、比較例3−1、3−2の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
また、実施例3−1、3−6の熱アシスト磁気記録媒体におけるMgO下地層(第二下地層)を除き、他の層は全て実施例3−1、3−6と同様にして比較例3−3、3−4の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
比較例3−1〜3−4の配向制御層(第一下地層)、MgO下地層(第二下地層)、窒化物下地層(第三下地層)の材料を表6に示す。
実施例3−1〜3−7および比較例3−1〜3−4の熱アシスト磁気記録媒体について、実施例1−1と同様にして保持力およびSNRを測定した。その結果を表5および表6に示す。
Figure 0006014385
表5に示すように、実施例3−1〜3−7の磁気記録媒体における保磁力は、配向制御層(第一下地層)が表5に示すどの材料であっても30kOe以上と高く、SNRも13dB以上であり、表6に示す比較例3−1〜3−4の磁気記録媒体の保磁力およびSNRと比較して高かった。このことから、配向制御層と窒化物下地層とMgO下地層とを併せ持ち、窒化物下地層がMgO下地層上に形成されている実施例3−1〜3−7では、保磁力およびSNRを改善できることがわかる。
また、表5に示すように、Cr−MoからなるBCC下地層(配向制御層)を有する実施例3−1〜3−3の磁気記録媒体において比較すると、BCC下地層に含まれるMoの含有量が少ないほど保磁力およびSNRが高い傾向が見られた。
(実施例4−1〜4−6)
実施例3−1の熱アシスト磁気記録媒体における磁性層208を(Fe−45at%Pt)−18mol%SiOに置き換えて、実施例4−1の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。また、実施例4−1の熱アシスト磁気記録媒体における配向制御層(第一下地層)をRu−50at%Al(B2下地層)に置き換えて実施例4−2の磁気記録媒体を作製した。
また、実施例4−1、4−2の熱アシスト磁気記録媒体におけるTaNからなる窒化物下地層をNbNに置き換えた実施例4−3、4−4と、HfNに置き換えた実施例4−5、4−6の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
実施例4−1〜4−6の熱アシスト磁気記録媒体の配向制御層(第一下地層)、MgO下地層(第二下地層)、窒化物下地層(第三下地層)の材料を表7に示す。
Figure 0006014385
また、実施例4−1〜4−6の熱アシスト磁気記録媒体について、実施例1−1と同様にして保持力およびSNRを測定した。さらに、実施例4−1〜4−6の熱アシスト磁気記録媒体について、実施例2と同様にして表面粗さ(Ra)とパーティクル数とを測定した。その結果を表7に示す。
表7に示すように、窒化物下地層は、TaN、NbN、HfNのどれであっても、保磁力とSNRは高い値を示した。また、窒化物下地層がTaNである実施例4−1〜4−2の媒体は、窒化物下地層がNbN、HfNである実施例4−3〜4−6の媒体よりもSNRが高いことがわかる。また、窒化物下地層がNbNである実施例4−3〜4−4の媒体では、Raが特に低く、窒化物下地層がHfNである実施例4−5〜4−6の媒体は、パーティクル数が特に少ない。このことから、磁気記録媒体に求められる要求特性に合わせて、窒化物下地層である窒化物の種類を選択できる。
(実施例5)
実施例1−1〜1−5、2−1〜2−9、4−1〜4−6、比較例1−1〜1−11、2−1〜2−4の熱アシスト磁気記録媒体を図3に示す磁気記録再生装置の磁気記録媒体として用い、エラーレートを測定した。
エラーレートは、線記録密度1600kFCI、トラック密度500kFCI(面記録密度800Gbit/inch)の条件で記録して測定した。
その結果、実施例1−1〜1−5、2−1〜2−9、及び実施例4−1〜4−6の熱アシスト磁気記録媒体を組み込んだ磁気記憶装置は、1×10−7以下の低いエラーレートを示した。また、比較例1−1〜1−11、2−1〜2−4の熱アシスト磁気記録媒体を組み込んだ磁気記憶発生装置のエラーレートは1×10−4程度であった。
以上より、基板上に、配向制御層と、MgOを含む(100)配向を有するMgO下地層と、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含む(100)配向を有する窒化物下地層とを併せ持つ本発明の実施例である熱アシスト記録媒体を用いることにより、エラーレートの低い磁気記憶再生装置が得られることがわかった。
本発明によれば、高保磁力と高いシグナルノイズ比(SNR)を示す熱アシスト磁気記録媒体及びこれを備えた磁気記録再生装置を提供できる。
101…基板、102…密着層、103…ヒートシンク層、104…シード層、105…BCC下地層(配向制御層)、106…窒化物下地層(下地層)、107…MgO下地層(下地層)、108…磁性層、109…保護膜、110…潤滑剤層、201…基板、202…密着層、203…ヒートシンク層、204…シード層、205…BCC下地層(配向制御層)、206…MgO下地層(下地層)、207…窒化物下地層(下地層)、208…磁性層、209…キャップ層、210…保護膜、211…潤滑剤層、301…磁気記録媒体、302…媒体駆動部、303…磁気ヘッド、304…ヘッド駆動部、305…記録再生信号処理系、401…主磁極、402…補助磁極、403…コイル、404…レーザーダイオード、405…レーザー光、406…近接場発生素子、407…導波路、408…記録ヘッド、409…シールド、410…再生素子、411…再生ヘッド。

Claims (8)

  1. 基板上に形成された配向制御層と、
    前記配向制御層上に形成された下地層と、
    前記下地層上に形成されたL1型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層とを有し、
    前記下地層が、MgOを含む(100)配向を有するMgO下地層と、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含む(100)配向を有する窒化物下地層とを含み、
    熱アシスト磁気記録方式またはマイクロ波アシスト磁気記録方式で記録されるものであることを特徴とする磁気記録媒体。
  2. 前記窒化物下地層上に前記MgO下地層が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
  3. 前記MgO下地層上に前記窒化物下地層が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
  4. 前記配向制御層が、Cr、Mo、Nb、Ta、V、W、もしくはCrを主成分とし、Mn、Mo、Ru、Ti、V、Wのうち少なくとも一種類を含むBCC構造を有する(100)配向のBCC下地層を含むことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
  5. 前記配向制御層が、NiAlまたはRuAlからなるB2構造を有するB2下地層を含むことを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
  6. 前記磁性層が、L1型結晶構造を有するFePt合金もしくはCoPt合金を主成分とし、かつ、SiO、TiO、Cr、Al、Ta、ZrO、Y、CeO、MnO、TiO、ZnO、Cから選択される少なくとも一種類の酸化物、もしくは元素を含有していることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
  7. 請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の磁気記録媒体と、
    前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、
    前記磁気記録媒体を加熱するレーザー発生部と前記レーザー発生部から発生したレーザー光を先端部へと導く導波路と前記先端部に設けられた近接場発生素子とを有して前記磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、
    前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動部と、
    前記磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドからの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系とを備える磁気記録再生装置。
  8. 請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の磁気記録媒体と、
    前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、
    前記磁気記録媒体にマイクロ波を照射する素子と、
    前記磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、
    前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動部と、
    前記磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドからの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系とを備える磁気記録再生装置。
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