JP5951152B1 - ガラス基板及びcigs太陽電池 - Google Patents
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Abstract
Description
特許文献1では、ボトム面から侵入する微量成分を制限して、透過率を高く保持することを提案している。
特許文献2では、スズ層にスズの陽イオンが多量に含まれていると、ボトム面での反射率は高くなり、ボトム面からのアルカリ溶出量は少なくなるが、透過率を高めるために、ボトム面のスズ層を除去することが提案されている。
また、特許文献2では、スズ層除去後のボトム面に適度な量のスズの陽イオンを含ませて、アルカリ溶出量を小さくして、耐候性や化学的耐久性を高めるために、スズ層の除去後のボトム面とトップ面の可視光反射率の差を限定することが提案されている(段落0031及び段落0032参照)。
しかしながら、特許文献1及び特許文献2では、ガラス基板の透過率を高めることを主目的としているため、ガラス基板の耐候性が十分に得られるものではない。
また、ガラス基板を太陽電池用ガラス基板に用いる場合には、ガラス基板のトップ面から太陽電池の光電変換層へのアルカリ成分の拡散量を高めることが望まれる。
しかしながら、ガラス基板を太陽電池用ガラス基板に用いる場合には、ガラス基板のトップ面から太陽電池の光電変換層へのアルカリ成分の拡散量を高めることが望まれる。
また、ガラス基板のボトム面において、耐候性を高めることも重要である。
本発明の一実施形態によるガラス基板としては、ガラス基板の第一面の表面から深さ5000nm以上において、酸化物基準の質量百分率表示で、Na2O+K2Oが1〜30%であり、ガラス基板の第一面において、2次イオン質量分析法によってガラス基板表面から深さ方向に54Fe/30Siのカウントを測定し、54Fe/30Siのカウントのピーク位置におけるガラス基板表面からの距離「A」が6〜18(μm)であり、ガラス基板の第一面に対向する第二面において、ICP発光分光分析法により測定した単位面積当たりのSn原子の量「B」が0.5〜4(μg/cm2)であり、「B」に対する「A」の比「A/B」が5〜15(μm/(μg/cm2))であることを特徴とする。
以下の説明では、ガラス基板の第一面をトップ面(T面)と称し、ガラス基板の第二面をボトム面(B面)とも称する。
典型的には、ガラス基板が、フロート法板ガラス製造方法によって製造された板ガラスからなり、同製造方法において成形中のガラスリボン(すなわち、板状ガラス帯状体)がフロート浴(錫浴)の錫面と接した側の面をガラス基板のボトム面(B面)と称し、フロート浴(錫浴)の錫面と接しない反対面(すなわち、フロート浴の上部空間のH2およびN2雰囲気と接する側の面)をガラス基板のトップ面(T面))と称する。
また、「A」をFe還元層の厚さ、「B」をSn侵入量と称することがある。
SIMSを用いて54Fe/30Siのカウントを測定する具体的な測定装置および条件は、以下のとおりである。
測定装置:アルバック・ファイ社製ADEPT1010。
一次イオン:O2+。
加速電圧:5kV。
ビーム電流:1μA。
ラスターサイズ:200×200μm2。
試料角度:45°。
次いで、ガラス基板のトップ面からの深さをX軸として、54Fe/30Siのカウントのピーク位置を検出する。
このピーク位置におけるトップ面からの深さをFe還元層の厚さ(μm)として用いる。
ここで、ピーク位置としては、ガラス基板の深さ方向の測定範囲において、54Fe/30Siのカウントが最大値を示す位置である。
図1において、54Fe/30Siのカウントのピーク位置は、ガラス基板のトップ面から深さ4.6μmの位置である。したがって、Fe還元層厚さは、4.6μmである。
このFe還元層の厚さは、好ましくは7μm以上であり、より好ましくは8μm以上である。
このFe還元層の厚さは、好ましくは15μm以下であり、より好ましくは11μm以下であり、さらに好ましくは10μm以下である。
酸性液体の具体例としては、フッ化水素酸溶液を用いることができる。
エッチング量は、ガラス基板のB面表面から深さ15〜20μmであることが好ましい。ガラス基板のB面表面から深さ15μm以上をエッチングすることで、B面表面から侵入したSn原子をほぼ全量で回収することができる。また、ガラス基板のB面表面から深さ20μmを超えてエッチングしても、B面表面から侵入したSn原子をさらに回収することはない。
ICP発光分光分析法には、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社製「SPS3100」を用いることができる。
このSn侵入量は、好ましくは0.60μg/cm2以上であり、より好ましくは、0.80μg/cm2以上である。
このSn侵入量は、好ましくは3μg/cm2以下であり、より好ましくは2μg/cm2以下であり、さらに好ましくは1μg/cm2以下である。
このA/Bは、好ましくは5〜14であり、より好ましくは6〜13であり、さらに好ましくは7〜13である。
ここで、ガラス基板の第一面の表面から深さ5000nm以上とは、ガラス基板の第一面の表面から深さ5000nm以上、かつガラス基板の第二面の表面から深さ5000nm以上である。
本実施形態によるガラス基板の組成に制限はないが、主成分がSiO2であり、Na2O+K2Oが1〜30%であることで、太陽電池用ガラス基板として優れた光電変換効率を得ることができる。より好ましくは、Na2Oを酸化物基準で1〜20%、K2Oを0〜15%含むガラス基板を用いることができる。
また、本実施形態によるガラス基板の組成は、SiO2及びAl2O3を含み、9SiO2+15Al2O3が570%〜840%であり、SiO2−Al2O3が50%未満であることで、太陽電池用ガラスとして優れた耐熱性を得ることができる。
SiO2を45〜75%、
Al2O3を0.1〜20%、
MgOを0〜15%、
CaOを0〜15%、
SrOを0〜18%、
BaOを0〜18%、
Na2Oを1〜20%、
K2Oを0〜15%含み、
Na2O+K2Oが1〜30%であり、
MgO+CaO+SrO+BaOが1〜40%である、ガラス母組成を有し、
上記ガラス母組成100質量部に対しFe2O3を酸化物基準で0.01〜0.5質量部含むガラス組成が挙げられる。
しかし、SiO2およびAl2O3は、ガラスの高温粘度を上昇させ、溶解性を悪化させる効果があるので、9SiO2+15Al2O3が840%以下となる範囲で含有させるのが好ましい。より好ましくは800%以下、さらに好ましくは760%以下、特に好ましくは720%以下である。
また、耐熱性を増加させるために、SiO2−Al2O3は、50%未満であることが好ましい。より好ましくは48%未満、特に好ましくは45%未満である。
ここで、ガラス母組成は、上記したSiO2、Al2O3、MgO、CaO、SrO、BaO、Na2O、およびK2Oの総量であり、これらの成分は、上述した通りである。
Fe2O3が0.01質量部以上であることで、上記したT面のFe還元層の厚さを十分に得ることができる。この値は、0.075質量部以上であることがより好ましく、さらに好ましくは0.080質量部以上であり、一層好ましくは0.100質量部以上である。 Fe2O3が0.5質量部以下であることで、上記したT面のFe還元層が厚くなりすぎることを防止することができる。また、ガラス基板が過剰に着色して、透過率が低下することを防止することができる。この値は、0.3質量部以下であることがより好ましく、さらに好ましくは0.2質量部以下である。
本実施形態によるガラス基板のガラス転移温度(Tg)としては、580℃以上であることが好ましい。このTgは、600℃以上であるのがより好ましく、610℃以上であるのがより一層好ましく、620℃以上であるのがさらに好ましく、630℃以上であるのが特に好ましい。このTgは、通常のソーダライムガラスのTgよりも高く、これによって、高温における光電変換層の形成を担保することができる。
本発明のTgの上限値は、750℃以下であることが好ましい。このTgは、より好ましくは720℃以下、さらに好ましくは700℃以下である。これによって、ガラス原料の溶融時の粘性を適度に低く抑えて製造しやすくできる。
さらに、太陽電池を組立てる際(具体的にはCIGSの光電変換層を有するガラス基板とカバーガラスとを加熱して貼りあわせる際)、ガラス基板が変形することを防止することができる。
本発明の一実施形態であるガラス基板の製造方法について説明する。
本実施形態のガラス基板の製造方法の一例としては、ガラス原料を溶融し、溶融ガラスを溶融スズ上でガラスリボン(すなわち、板状ガラス帯状体)に成形し、このガラスリボンを徐冷し、このガラスリボンを所定形状に切断してガラス基板を得る方法が挙げられる。
詳しくは、溶融スズを満たした溶融スズの浴面上に、溶融窯から溶融ガラスが連続的に流入され、ガラスリボンが形成される。次に、このガラスリボンを溶融スズ浴の浴面に沿って浮かしながら前進させることで、温度低下とともにガラスリボンが板状に成形される。その後、製板されたガラスリボンが引出しロールによって引き出され、徐冷炉に搬送される。
ガラスリボンの洗浄方法は、特に制限されず、例えば、水による洗浄、洗浄剤による洗浄、酸化セリウムを含有したスラリーを散布しながらブラシ等でこする洗浄等を用いることができる。酸化セリウム含有のスラリーで洗浄する場合は、その後に塩酸や硫酸等の酸性洗浄剤等を用いて洗浄することが好ましい。
本実施形態によるガラス基板は、太陽電池用ガラス基板として好ましく用いることができ、具体的には、太陽電池用ガラス基板及び太陽電池用カバーガラスとして用いることができる。
ガラス基板のボトム面のSn侵入量は、CIGS太陽電池用ガラス基板の全域において均一であることが好ましい。好ましくは、ガラス基板内でSn侵入量の変動の範囲は、目標の値の30%以内、より好ましくは20%以内、さらに好ましくは10%以内である。これによって、局所的にアルカリ成分が溶出し、耐候性が低下することを防止することができる。
次に、本発明の一実施形態である太陽電池について説明する。
CIGS膜の厚さは、1〜5μmであることが好ましい。
例1〜3は、本発明に係る実施例であり、例4〜6は、比較例である。各例のガラス基板は、下記したガラス基板の作製方法によって表1および表2に記載の通りに作製した。
表1及び表2にガラス基板のガラス組成を示す。各成分は、ガラス基板の表面からの深さ5000nm以上のガラス基板内部において、酸化物基準の質量百分率表示で示す。Fe2O3およびSO3については、ガラス母組成100質量部に対して外添した質量部の配合割合(外掛けとして表1及び表2にて表示)で示す。
なお、ガラス母組成は、表1の第1欄(左欄)の単位と示したSiO2〜BaOの各成分からなるガラス組成をいう。
次いで、溶融ガラスを溶融スズで満たしたスズ浴上に流し込み、板状のガラスリボンを成形した。
スズ浴は、H2及びN2の混合ガス雰囲気とし、温度は、上流側で950〜1150℃、下流側で750〜950℃とした。各ガラスリボンの製造工程において、スズ浴のH2濃度を各表に示す。
SO2処理後に、ガラスリボンを炭酸カルシウムと水の混合物、および中性洗剤と水の混合物で洗浄し、ガラスリボン両面に付着した硫酸塩の保護層を除去した。
上記して得られた例1〜6のガラス基板について、以下の評価を行った。結果を各表に併せて示す。
50〜350℃の平均熱膨張係数(α:単位は×10−7/K)を示差熱膨張計(TMA)を用いて測定し、JISR3102(1995年度)より求めた。
(Tg)
ガラス転移温度(Tg:単位は℃)は、示差熱膨張計(TMA)を用いて測定し、JISR3103−3(2001年度)により求めた。
T面のFe還元層の厚さは、2次イオン質量分析法(SIMS)を用いて、ガラス基板のT面の表面から深さ方向に54Fe/30Siのカウントを測定して求めた。測定装置及び測定条件を以下に示す。
測定装置:アルバック・ファイ社製ADEPT1010。
一次イオン:O2+。
加速電圧:5kV。
ビーム電流:1μA。
ラスターサイズ:200×200μm2。
試料角度:45°。
一例として、図1に、例5のガラス基板のトップ面の表面における54Fe/30SiのSIMSプロファイルを示す。図1に示すグラフにおいて、54Fe/30Siが最大値を示す位置をピーク位置とし、このピーク位置を示すときの深さ4.6μmをFe還元層の厚さとした。
Sn侵入量の測定は、まず、ガラス基板のB面をフッ化水素酸溶液によってエッチングし、この溶液中のSn原子量(μg)をICP発光分光分析装置(エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社製「SPS3100」)によって測定した。次に、測定したSn原子量を、ガラス基板のB面の測定領域の面積(cm2)で除して、単位面積当たりのSn原子量であるSn侵入量(μg/cm2)を求めた。
エッチング量は、ガラス基板のB面表面から深さ15〜20μmとした。
評価対象であるB面に対し反対側の面であるT面を保護フィルム(日東電工DH)でマスキングし、このガラス基板を60℃−95%RHで13日間、恒温恒湿槽内に静置した。試験前後でのヘーズ率をC光源ヘーズメータで測定し、試験前のヘーズ率と試験後のヘーズ率の差からヘーズ率の変化(ΔHz)を求めた。
[T面のFe還元層(A)]/[B面のSn侵入量(B)]は、上記したB面のSn侵入量に対する、Fe還元層の比(A/B)(単位:μm/(μg/cm2))として計算して求めた。
上記で得られたガラス基板を用いて、CIGS太陽電池サンプルを作製し、T面の電池効率を測定した。
プラス電極7a(モリブデン膜)上にスパッタ装置にて、CuGa合金ターゲットでCuGa合金層を成膜し、続いてInターゲットを使用してIn層を成膜することで、In−CuGaのプリカーサ膜を成膜した。成膜は、室温にて実施した。蛍光X線によって測定したプリカーサ膜の組成が、Cu/(Ga+In)比(原子比)が0.88、Ga/(Ga+In)比(原子比)が0.34となるように各層の厚みを調整し、厚み600nmのプリカーサ膜を得た。
透明導電膜13aのAZO層上にEB蒸着法により、図3(a)に示す形状のマイナス電極15aとして膜厚1μmのアルミ膜を成膜した(電極全長(縦9mm、横3.1mm)、電極幅0.35mm)。
発電効率[%]=Voc[V]×Jsc[A/cm2]×FF[無次元]×100/試験に用いる光源の照度[W/cm2]・・・式(1)
なお、開放電圧(Voc)は、端子を開放した時の出力であり、短絡電流(Isc)は、短絡した時の電流である。短絡電流密度(Jsc)は、Iscをマイナス電極を除いたセルの面積で割ったものである。
。
また、ガラス転移温度(Tg)が高く、適正な平均熱膨張係数(α)であり、太陽電池用ガラス基板に適することがわかった。
また、例6では、SiO2−Al2O3が大きく、耐熱性が低下した。例6では、耐熱性が十分でなく、太陽電池作製時にCIGS膜の膜剥がれが生じた。
なお、2014年9月19日に出願された日本特許出願2014−191183号の明細書、特許請求の範囲、図面および要約書の全内容をここに引用し、本発明の開示として取り入れるものである。
Claims (8)
- ガラス基板の第一面の表面から深さ5000nm以上において、下記酸化物基準の質量百分率表示で、
SiO 2 を45〜75%、
Al 2 O 3 を0.1〜20%、
MgOを0〜15%、
CaOを0〜15%、
SrOを0〜18%、
BaOを0〜18%、
Na 2 Oを1〜20%、
K 2 Oを0〜15%含み、
Na 2 O+K 2 Oが1〜30%であり、
MgO+CaO+SrO+BaOが1〜40%である、ガラス母組成を有し、
上記ガラス母組成100質量部に対しFe 2 O 3 を酸化物基準で0.01〜0.5質量部含む、ガラス基板であって、
ガラス基板の第一面において、2次イオン質量分析法によってガラス基板表面から深さ方向に54Fe/30Siのカウントを測定し、54Fe/30Siのカウントのピーク位置におけるガラス基板表面からの距離「A」が6〜18(μm)であり、
ガラス基板の第一面に対向する第二面において、ICP発光分光分析法により測定した単位面積当たりのSn原子の量「B」が0.5〜4(μg/cm2)であり、
前記「B」に対する前記「A」の比「A/B」が5〜15(μm/(μg/cm2))である、ガラス基板。 - ガラス基板の第一面の表面から深さ5000nm以上において、酸化物基準の質量百分率表示で、9×SiO2+15×Al2O3が570%〜840%であり、SiO2−Al2O3が50%未満である、請求項1に記載のガラス基板。
- Al2O3が8%以上である、請求項1または2に記載のガラス基板。
- BaOが2%以下である、請求項1から3のいずれか1項に記載のガラス基板。
- ガラス転移温度が580℃以上である、請求項1から4のいずれか1項に記載のガラス基板。
- ガラス転移温度が630℃以上である、請求項1から5のいずれか1項に記載のガラス基板。
- 太陽電池用ガラス基板である、請求項1から6のいずれか1項に記載のガラス基板。
- 請求項1から7のいずれか1項に記載のガラス基板、及び前記ガラス基板の第一面に形成されCIGS系化合物を含む光電変換層を有する、CIGS太陽電池。
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