JP5866561B1 - 発光装置及びその製造方法 - Google Patents

発光装置及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5866561B1
JP5866561B1 JP2015100175A JP2015100175A JP5866561B1 JP 5866561 B1 JP5866561 B1 JP 5866561B1 JP 2015100175 A JP2015100175 A JP 2015100175A JP 2015100175 A JP2015100175 A JP 2015100175A JP 5866561 B1 JP5866561 B1 JP 5866561B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
light emitting
emitting device
electrode
mounting substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015100175A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016127254A (ja
Inventor
植田 充彦
充彦 植田
佐名川 佳治
佳治 佐名川
孝典 明田
孝典 明田
平野 徹
徹 平野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2015100175A priority Critical patent/JP5866561B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5866561B1 publication Critical patent/JP5866561B1/ja
Publication of JP2016127254A publication Critical patent/JP2016127254A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers
    • H01L33/486Containers adapted for surface mounting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • H01L33/54Encapsulations having a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • H01L33/56Materials, e.g. epoxy or silicone resin
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16135Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/16145Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0016Processes relating to electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/005Processes relating to semiconductor body packages relating to encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/0066Processes relating to semiconductor body packages relating to arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system
    • H01L33/32Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system containing nitrogen

Abstract

【課題】信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能な発光装置及びその製造方法を提供する。【解決手段】発光装置1aは、実装基板2aと、紫外線発光素子3と、キャップ6aと、を備える。キャップ6aは、キャップ本体660の表面661と凹部663の内底面664との間の紫外線透過部666が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。発光装置1aは、紫外線発光素子3の第1電極31と実装基板2aの第1導体部21とが、AuSnにより形成された第1接合部61により接合され、紫外線発光素子3の第2電極32と実装基板2aの第2導体部22とが、AuSnにより形成された第2接合部62により接合され、実装基板2aの第1接合用金属層23とキャップ6aの第2接合用金属層43とが、AuSnにより形成された第3接合部63により接合されている。【選択図】図1

Description

本発明は、発光装置及びその製造方法に関する。
従来、放熱特性が優れた薄型の発光装置としては、例えば、サブマウント基板と、サブマウント基板に実装されたLED素子と、キャビティを有するスペーサと、光学素子と、を備えたLEDパッケージが提案されている(特許文献1)。
光学素子は、例えば、ガラス板からなる。
LEDパッケージは、LED素子の各電極に形成されたソルダバンプを通してLED素子が電極パターンにフリップチップボンディングされている。
スペーサは、例えば、シリコン基板から作られており、接着シートによりサブマウント基板に接合されている。光学素子は、例えば、ガラス板からなり、接着シートによりスペーサの上面に接合されている。
また、発光装置の製造方法としては、LED素子を無機材質基板にフリップチップ実装した後、波長変換層被覆工程を経てから、無機材質基板とガラス蓋を接合する工程を行うようにした発光装置の製造方法が知られている(特許文献2)。
無機材質基板には、LED素子をフリップチップ実装するためのAuSn電極、ガラス蓋を接着するための溶着下地層としてのAu層を形成してある。
特開2006−270046号公報 特開2011−40577号公報
発光装置の分野においては、信頼性の向上及び低コスト化が望まれている。
本発明の目的は、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能な発光装置及びその製造方法を提供することにある。
本発明の発光装置は、実装基板と、前記実装基板に実装された紫外線発光素子と、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を収納する凹部が形成されたキャップと、を備える。前記実装基板は、支持体と、前記支持体に支持された第1導体部、第2導体部及び第1接合用金属層と、を備える。前記第1導体部及び前記第2導体部は、前記支持体の表面側において前記キャップの前記凹部の内底面に臨むように配置されている。前記キャップは、表面及び裏面を有し前記裏面に前記凹部が形成されたキャップ本体と、前記キャップ本体の前記裏面における前記凹部の周部で前記第1接合用金属層に対向して配置された第2接合用金属層と、を備える。前記キャップは、少なくとも、前記キャップ本体の前記表面と前記凹部の内底面との間の部分が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。前記紫外線発光素子は、第1電極と、第2電極と、を備え、前記紫外線発光素子の厚さ方向の一面側に前記第1電極及び前記第2電極が配置されている。前記第1導体部と前記第2導体部と前記第1接合用金属層とは、前記支持体の表面側に同じ材料でかつ、同じ厚さで構成された積層膜である。前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層それぞれにおける前記支持体から最も離れた最上層はAuにより形成されている。発光装置は、前記第1電極と前記第1導体部との間に、AuSnにより形成された第1接合部が存在し、前記第2電極と前記第2導体部との間に、AuSnにより形成された第2接合部が存在している。発光装置は、前記第1接合用金属層と前記第2接合用金属層との間に、AuSnにより形成された第3接合部が存在している。
本発明の発光装置の製造方法は、以下の構成を備える発光装置の製造方法である。
発光装置は、実装基板と、前記実装基板に実装された紫外線発光素子と、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を収納する凹部が形成されたキャップと、を備える。前記実装基板は、支持体と、前記支持体に支持された第1導体部、第2導体部及び第1接合用金属層と、を備える。前記第1導体部及び前記第2導体部は、前記支持体の表面側において前記キャップの前記凹部の内底面に臨むように配置されている。前記キャップは、表面及び裏面を有し前記裏面に前記凹部が形成されたキャップ本体と、前記キャップ本体の前記裏面における前記凹部の周部で前記第1接合用金属層に対向して配置された第2接合用金属層と、を備える。前記キャップは、少なくとも、前記キャップ本体の前記表面と前記凹部の内底面との間の紫外線透過部が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。前記紫外線発光素子は、第1電極と、第2電極と、を備え、前記紫外線発光素子の厚さ方向の一面側に前記第1電極及び前記第2電極が配置されている。
発光装置の製造方法では、前記キャップを形成する。発光装置の製造方法では、その後、前記紫外線発光素子の前記第1電極、前記第2電極及び前記キャップにおける前記第2接合用金属層と前記実装基板の前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層とをそれぞれ第1AuSn層、第2AuSn層及び第3AuSn層により接合する。前記第1AuSn層、前記第2AuSn層及び前記第3AuSn層は、前記実装基板に対して同一工程で形成される。
本発明の発光装置は、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
本発明の発光装置の製造方法は、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
図1は、実施形態1の発光装置を示す概略断面図である。 図2は、実施形態1の発光装置を示す概略平面図である。 図3は、実施形態1の発光装置を示す概略側面図である。 図4は、実施形態1の発光装置を示す概略下面図である。 図5は、実施形態1の発光装置を配線基板に実装した状態の概略側面図である。 図6は、実施形態1の発光装置における紫外線発光素子の概略断面図である。 図7Aは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。図7Bは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。図7Cは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。図7Dは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。図7Eは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。 図8は、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図9は、殺菌効果曲線である。 図10は、実施形態1の発光装置の変形例を示す概略平面図である。 図11は、実施形態2の発光装置を示す概略断面図である。 図12は、実施形態2の発光装置の製造方法を説明する主要工程断面図である。 図13は、実施形態3の発光装置を示す概略断面図である。 図14は、実施形態3の発光装置を示す概略平面図である。 図15は、実施形態3の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図16は、実施形態3の発光装置を配線基板に実装した状態の概略側面図である。 図17は、実施形態4の発光装置を示す概略断面図である。 図18は、実施形態4の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図19は、実施形態4におけるキャップの第1変形例を示す概略断面図である。 図20は、実施形態4におけるキャップの第2変形例を示す概略断面図である。 図21は、実施形態4におけるキャップの第3変形例を示す概略断面図である。 図22は、実施形態4におけるキャップの第4変形例を示す概略断面図である。 図23は、実施形態5の発光装置を示す概略断面図である。 図24は、実施形態5の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。
下記の実施形態1〜5において説明する各図は、模式的な図であり、各構成要素の大きさや厚さそれぞれの比が、必ずしも実際の寸法比を反映しているとは限らない。
(実施形態1)
以下では、本実施形態の発光装置1aについて、図1〜8に基づいて説明する。なお、図1は、図2のX−X断面に対応する模式的な概略断面図である。
発光装置1aは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を露出させる貫通孔41が形成されたスペーサ4と、スペーサ4の貫通孔41を塞ぐようにスペーサ4上に配置されたカバー5と、を備える。実装基板2aは、支持体20aと、支持体20aに支持された第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、を備える。第1導体部21及び第2導体部22は、支持体20aの表面201側において貫通孔41により露出するように配置されている。スペーサ4は、Siにより形成されたスペーサ本体40と、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42側で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。カバー5は、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。発光装置1aでは、スペーサ4とカバー5とが接合されている。紫外線発光素子3は、第1電極31と、第2電極32と、を備え、紫外線発光素子3の厚さ方向の一面側に第1電極31及び第2電極32が配置されている。発光装置1aは、第1電極31と第1導体部21とが、AuSnにより形成された第1接合部61により接合され、第2電極32と第2導体部22とが、AuSnにより形成された第2接合部62により接合されている。発光装置1aは、スペーサ4の第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とが、AuSnにより形成された第3接合部63により接合されている。以上説明した構成の発光装置1aでは、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
発光装置1aは、スペーサ4とカバー5とで、紫外線発光素子3を覆うキャップ6aを構成している。キャップ6aには、紫外線発光素子3を収納する凹部663が形成されている。したがって、見方を変えれば、発光装置1aは、下記の構成を備える。
発光装置1aは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を収納する凹部663が形成されたキャップ6aと、を備える。実装基板2aは、支持体20aと、支持体20aに支持された第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、を備える。第1導体部21及び第2導体部22は、支持体20aの表面201側においてキャップ6aの凹部663の内底面664に臨むように配置されている。キャップ6aは、表面661及び裏面662を有し裏面662に凹部663が形成されたキャップ本体660と、キャップ本体660の裏面662における凹部663の周部で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。キャップ6aは、少なくとも、キャップ本体660の表面661と凹部663の内底面664との間の紫外線透過部666が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。紫外線発光素子3は、第1電極31と、第2電極32と、を備え、紫外線発光素子3の厚さ方向の一面側に第1電極31及び第2電極32が配置されている。第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とは、支持体20aの表面201側に同じ材料でかつ、同じ厚さで構成された積層膜である。第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23それぞれにおける支持体20aから最も離れた最上層はAuにより形成されている。発光装置1aは、第1電極31と第1導体部21とが、AuSnにより形成された第1接合部61により接合され、第2電極32と第2導体部22とが、AuSnにより形成された第2接合部62により接合されている。発光装置aは、第1接合用金属層23と第2接合用金属層43とが、AuSnにより形成された第3接合部63により接合されている。以上説明した構成の発光装置1aでは、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
キャップ6aは、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を露出させる貫通孔41が形成されたスペーサ4と、スペーサ4の貫通孔41を塞ぐようにスペーサ4上に配置されスペーサ4に接合されたカバー5と、を備える。キャップ6aは、カバー5において貫通孔41により露出した面が凹部663の内底面664を構成している。カバー5は、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。スペーサ4は、Siにより形成されたスペーサ本体40と、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42側で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。よって、発光装置1aでは、紫外線発光素子3から凹部663の内底面664へ向かって放射される紫外線がカバー5を透過しやすく、かつ、紫外線発光素子3から凹部663の内側面665へ向かって放射される紫外線がスペーサ4で反射されやすくなる。これにより、発光装置1aでは、紫外線発光素子3から放射された紫外線をキャップ6aの表面661から効率良く出射させることが可能となる。また、発光装置1aでは、キャップ6aが、無機材料により形成されている。
発光装置1aは、第3接合部63(図1、3参照)が、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42における外周縁421の全周に沿って形成されているのが好ましい。言い換えれば、第3接合部63は、キャップ本体660の裏面662における外周縁の全周に沿って形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、外気、水分等が紫外線発光素子3、第1導体部21及び第2導体部22に到達するのを抑制することが可能となり、信頼性の向上を図ることが可能となる。
また、発光装置1aは、実装基板2aとスペーサ4とカバー5とで、紫外線発光素子3を収納するパッケージ7aを構成している。発光装置1aは、上述のように第3接合部63が、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42における外周縁421の全周に沿って形成されていることにより、紫外線発光素子3を気密封止することが可能となる。
発光装置1aの各構成要素については、以下に詳細に説明する。
実装基板2aは、紫外線発光素子3を実装する基板である。「実装する」とは、紫外線発光素子3を配置して機械的に接続すること及び電気的に接続することを含む概念である。
実装基板2aは、一例として、1個の紫外線発光素子3を実装できるように構成されている。
実装基板2aは、平面視において紫外線発光素子3よりも大きい。
支持体20aは、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23を支持する機能を有する。また、支持体20aは、第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とを電気的に絶縁する機能を有する。また、支持体20aは、紫外線発光素子3で発生する熱を効率良く外部に伝えるためのヒートシンク(heat sink)としての機能を備えているのが好ましい。
実装基板2aは、支持体20aが平板状に形成されており、支持体20aの厚さ方向に直交する表面201上に第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23が形成されている。
支持体20aの外周形状は、矩形(直角四辺形)状としてある。支持体20aの外周形状は、矩形状に限らず、例えば、矩形以外の多角形状や、円形状等でもよい。
第1導体部21は、紫外線発光素子3の第1電極31が電気的に接続される導電層である。第2導体部22は、紫外線発光素子3の第2電極32が電気的に接続される導電層である。
第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23の各々は、例えば、Ti膜とPt膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23の各々は、例えば、Al膜とNi膜とPd膜とAu膜との積層膜、Ni膜とAu膜との積層膜、Cu膜とNi膜とAu膜との積層膜等により構成してもよい。第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23の各々は、積層膜により構成する場合、支持体20aから最も離れた最上層がAuにより形成され、支持体20aに最も近い最下層が支持体20aとの密着性の高い材料により形成されているのが好ましい。第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23は、積層膜に限らず、単層膜により構成してもよい。
実装基板2aは、第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とが空間的に分離されるように、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23が配置されている。実装基板2aは、第1導体部21と第2導体部22との間に溝203が形成されている。溝203の内面は、支持体20aの表面201の一部と、第1導体部21及び第2導体部22の互いの対向面と、で構成される。実装基板2aは、第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とが、支持体20aの表面201上に同じ厚さで形成されている。これにより、実装基板2aは、第1導体部21の表面211と第2導体部22の表面212と第1接合用金属層23の表面231(図8参照)とが一平面上に揃うように構成されている。
実装基板2aは、第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25と、支持体20aの厚さ方向に貫通して形成された第1貫通配線26及び第2貫通配線27と、を備える。第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25は、支持体20aの裏面202に形成されている。第1外部接続電極24は、第1貫通配線26を介して第1導体部21と電気的に接続されている。第2外部接続電極25は、第2貫通配線27を介して第2導体部22と電気的に接続されている。よって、発光装置1aは、例えば、図5に示すように、配線基板10aに表面実装することが可能となる。
配線基板10aは、マザー基板である。配線基板10aは、例えば、金属ベースプリント配線板により形成することができる。この場合、配線基板10aは、例えば、金属板111と、金属板111上に形成されたAu層112と、Au層112上に形成された絶縁樹脂層113と、絶縁樹脂層113上に形成された第1配線部114及び第2配線部115と、を備えるのが好ましい。金属板111は、Cu板により構成してあるが、これに限らず、例えば、Al板により構成してもよい。発光装置1aと配線基板10aとを備えた紫外線LEDモジュールでは、第1外部接続電極24がはんだからなる第5接合部104により第1配線部114と接合され電気的に接続されている。また、紫外線LEDモジュールでは、第2外部接続電極25がはんだからなる第6接合部105により第2配線部115と接合され電気的に接続されている。要するに、紫外線LEDモジュールでは、発光装置1aが配線基板10aに2次実装されている。発光装置1aは、第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63の各々がAuSnにより形成されているので、AuSn以外の鉛フリーはんだの一種であるSnCuAgにより形成されている場合に比べて、耐熱性の向上が可能となる。これにより、発光装置1aは、例えば、配線基板10a等に2次実装する際に第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63が再溶融するのを抑制することが可能となる。紫外線LEDモジュールでは、平面視において配線基板10aが発光装置1aよりも大きいのが好ましい。これにより、紫外線LEDモジュールは、放熱性を、より向上させることが可能となる。
配線基板10aは、第1配線部114及び第2配線部115の各々において発光装置1aに重ならない領域を覆うレジスト層116を備えているのが好ましい。レジスト層116の材料としては、例えば、白色レジストを採用することができる。白色レジストとしては、例えば、白色顔料を含有した樹脂を挙げることができる。白色顔料としては、例えば、硫酸バリウム(BaSO)、二酸化チタン(TiO)等が挙げられる。樹脂としては、例えば、シリコーン樹脂等が挙げられる。白色レジストとしては、例えば、株式会社朝日ラバーのシリコーン製の白色レジスト材である“ASA COLOR(登録商標) RESIST INK”等を採用することができる。レジスト層116は、例えば、塗布法により形成することができる。
第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25の各々は、例えば、Ti膜とPt膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第1導体部21及び第2導体部22の各々は、例えば、Al膜とNi膜とPd膜とAu膜との積層膜、Ni膜とAu膜との積層膜、Cu膜とNi膜とAu膜との積層膜等により構成してもよい。第1導体部21及び第2導体部22の各々は、積層膜により構成する場合、支持体20aから最も離れた最上層がAuにより形成され、支持体20aに最も近い最下層が支持体20aとの密着性の高い材料により形成されているのが好ましい。第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25は、積層膜に限らず、単層膜により構成してもよい。
第1貫通配線26及び第2貫通配線27は、例えば、W、Cu等により形成することができる。第1貫通配線26及び第2貫通配線27は、紫外線発光素子3の厚さ方向において紫外線発光素子3に重ならないように配置されているのが好ましい。
支持体20aは、AlNセラミックにより形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、支持体20aが樹脂基板により構成されている場合に比べて、紫外線発光素子3で発生した熱を支持体20aから効率良く放熱させることが可能となる。よって、発光装置1aは、放熱性を向上させることが可能となる。AlNセラミックは、電気絶縁性を有するが、熱伝導率が比較的高く、Siよりも熱伝導率が高い。
紫外線発光素子3は、紫外線LEDチップである。紫外線発光素子3のチップサイズは、400μm□(400μm×400μm)に設定してあるが、これに限らない。紫外線発光素子3のチップサイズは、例えば、200μm□(200μm×200μm)〜1mm□(1mm×1mm)程度の範囲で適宜設定することができる。また、紫外線発光素子3の平面形状は、正方形状に限らず、例えば、長方形状等でもよい。
紫外線発光素子3は、実装基板2aにフリップチップ実装されている。
紫外線発光素子3は、図6に示すように、基板30を備え、基板30の第1面301側において、第1面301に近い側から順に、第1導電型半導体層33、第2導電型半導体層35が形成されている。要するに、紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33及び第2導電型半導体層35を有する半導体多層膜39を備えている。紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33がn型半導体層により構成され、第2導電型半導体層35がp型半導体層により構成されている。紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33がp型半導体層により構成され、第2導電型半導体層35がn型半導体層により構成されていてもよい。
基板30は、半導体多層膜39を支持する機能を備える。半導体多層膜39は、例えば、エピタキシャル成長法により形成することができる。エピタキシャル成長法は、例えば、MOVPE(metal organic vapor phase epitaxy)法、HVPE(hydride vapor phase epitaxy)法、MBE(molecular beam epitaxy)法等の結晶成長法を採用できる。なお、半導体多層膜39は、この半導体多層膜39を形成する際に不可避的に混入される水素、炭素、酸素、シリコン、鉄等の不純物が存在してもよい。基板30は、半導体多層膜39を形成する際の結晶成長用基板により構成することができる。
紫外線発光素子3は、AlGaN系紫外線LEDチップにより構成する場合、基板30がサファイア基板により構成されているのが好ましい。基板30は、半導体多層膜39から放射される紫外線を効率良く透過できる材料により形成された基板であればよく、サファイア基板に限らず、例えば、単結晶AlN基板等を採用することもできる。基板30は、半導体多層膜39から放射される紫外線に対して透明であるのが好ましい。紫外線発光素子3は、基板30の第1面301とは反対の第2面302が光取り出し面を構成しているのが好ましい。紫外線発光素子3は、半導体多層膜39が、基板30と第1導電型半導体層33との間にバッファ層(buffer layer)を備えているのが好ましい。バッファ層は、例えば、AlN層により構成されているのが好ましい。
半導体多層膜39が、第1導電型半導体層33と第2導電型半導体層35との間に発光層34を備えているのが好ましい。この場合、半導体多層膜39から放射される紫外線は、発光層34から放射される紫外線であり、発光層34の材料により発光ピーク波長が規定される。紫外線発光素子3は、発光層34が、単一量子井戸構造、多重量子井戸構造等を有するのが好ましいが、これに限らない。例えば、紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33と発光層34と第2導電型半導体層35とでダブルヘテロ構造(double heterostructure)を構成するようにしてもよい。
第1導電型半導体層33は、例えば、n型AlGaN層により構成することができる。第1導電型半導体層33は、単層構造に限らず多層構造でもよい。
第2導電型半導体層35は、単層構造に限らず、多層構造でもよい。第2導電型半導体層35は、例えば、p型電子ブロック層とp型半導体層とp型コンタクト層とで構成される多層構造とすることができる。この場合、p型半導体層は、発光層34へ正孔を輸送するための層である。p型電子ブロック層は、発光層34で正孔と再結合されなかった電子がp型半導体層側へ漏れる(オーバーフローする)のを抑制するための層である。p型電子ブロック層は、p型半導体層及び発光層34よりもバンドギャップエネルギが高くなるように組成を設定するのが好ましい。p型コンタクト層は、第2電極32との接触抵抗を下げ、第2電極32との良好なオーミック接触を得るために設ける層である。p型電子ブロック層及びp型半導体層は、例えば、互いに組成の異なるAlGaN層により構成することができる。また、p型コンタクト層は、例えば、p型GaN層により構成することができる。
紫外線発光素子3は、半導体多層膜39の一部を、半導体多層膜39の表面391側から第1導電型半導体層33の途中までエッチングすることで除去してある。要するに、紫外線発光素子3は、半導体多層膜39の一部をエッチングすることで形成されたメサ構造(mesa structure)37を有している。これにより、紫外線発光素子3は、第2導電型半導体層35の表面351と第1導電型半導体層33の表面331との間に段差が形成されている。紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33の露出した表面331上に第1電極31が形成され、第2導電型半導体層35の表面351上に第2電極32が形成されている。紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33の導電型(第1導電型)がn型であり、第2導電型半導体層35の導電型(第2導電型)がp型である場合、第1電極31、第2電極32が、負電極、正電極を、それぞれ構成する。また、紫外線発光素子3は、第1導電型がp型であり、第2導電型がn型である場合、第1電極31、第2電極32が、正電極、負電極を、それぞれ構成する。
紫外線発光素子3は、第2導電型半導体層35の表面351の面積が、第1導電型半導体層33の露出させた表面331の面積よりも大きいほうが好ましい。これにより、紫外線発光素子3は、第2導電型半導体層35と第1導電型半導体層33とが互いの厚さ方向において重なる領域を広くすることが可能となり、発光効率の向上を図ることが可能となる。
発光装置1aは、紫外線発光素子3が突起構造部36を備えるのが好ましい。突起構造部36は、紫外線発光素子3の第2導電型半導体層35の表面351側から第2導体部22の表面212側へ突出して第2導体部22の表面212に接するのが好ましい。また、突起構造部36は、第2電極32の外周に沿って位置するのが好ましい。そして、第2接合部62は、図1に示すように、第2電極32と突起構造部36と第2導体部22とで囲まれた空間9(図1参照)を満たすように形成されているのが好ましい。突起構造部36は、平面視において、第2電極32の外周に沿って配置され、第2接合部62を囲んでいる。実装基板2aは、平面視において突起構造部36が重なる部分が、第2導体部22において第2接合部62と接合される部位と同じ高さ又はそれより低い高さとなっているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、第1接合部61及び第2接合部62それぞれをより薄くすることが可能となり、かつ、第1接合部61及び第2接合部62それぞれと第1導体部21及び第2導体部22それぞれとの接合面積をより大きくすることが可能となる。よって、発光装置1aは、紫外線発光素子3と実装基板2aとの間の熱抵抗の低減を図ることが可能となる。更に、発光装置1aは、突起構造部36による第2接合部62の厚さ管理が可能なため、第2接合部62の厚さ及びサイズの精度を高めることが可能となり、熱抵抗の低減及び熱抵抗のばらつきを小さくすることが可能となる。「突起構造部36による第2接合部62の厚さ管理が可能」とは、紫外線発光素子3の厚さ方向に沿った突起構造部36の突出量H1(図6参照)により、第2接合部62の厚さを規定できることを意味する。したがって、発光装置1aは、その製品ごとの熱抵抗のばらつきを小さくすることが可能となる。これにより、発光装置1aは、放熱性の向上及び信頼性の向上を図ることが可能となる。「突起構造部36は、平面視において」とは、紫外線発光素子3の厚さ方向に沿った突起構造部36の厚さ方向から突起構造部36を見た形状において、を意味する。
紫外線発光素子3は、突起構造部36が、第2電極32の外周に沿って形成され、第2導電型半導体層35の表面351側で突出しているのが好ましい。
紫外線発光素子3は、第2電極32が第1電極31よりも大きく、突起構造部36が、第2電極32の外周の全周に亘って形成されていることが好ましい。これにより、発光装置1aは、製造時に、第2接合部62を形成するAuSnによる第2電極32と第1電極31との短絡が発生するのを、より抑制することが可能となる。しかも、発光装置1aは、紫外線発光素子3を実装基板2aに実装するときに、第2接合部62の形状の再現性を高めることが可能となり、熱抵抗のばらつきを低減することが可能となる。また、発光装置1aは、第1接合部61の厚さの影響を受けずに、突起構造部36による第2接合部62の厚さ管理が可能である。よって、発光装置1aは、放熱面積の大きい第2電極32と第2導体部22とを接合する第2接合部62の厚さ及びサイズの精度を高めることが可能となる。これにより、発光装置1aは、熱抵抗の低減及び熱抵抗のばらつきの低減を図ることが可能となる。
突起構造部36は、第2電極32の外周に沿って形成され幅W1(図6参照)が一定であるのが好ましい。これにより、発光装置1aは、第2電極32と第2導電型半導体層35との接触面積を大きくしつつ、第2電極32と第1電極31とのはんだによる短絡の発生を抑制することが可能となる。突起構造部36の幅W1は、例えば、5μm〜10μm程度の範囲で設定するのが好ましい。
紫外線発光素子3は、第2電極32が、第2導電型半導体層35の表面351の略全面を覆うように形成されているのが好ましい。「第2導電型半導体層35の表面351の略全面」とは、表面351の全面に限らない。例えば、紫外線発光素子3が後述の絶縁膜38を備え、第2導電型半導体層35の表面351の外周部が絶縁膜38により覆われている場合、「第2導電型半導体層35の表面351の略全面」とは、第2導電型半導体層35の表面351のうち絶縁膜38により覆われていない部位を意味する。要するに、紫外線発光素子3は、第2電極32が、第2導電型半導体層35の表面351を面状に覆うように形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、放熱性を向上させることが可能となる。
実装基板2aは、第1導体部21及び第2導体部22の厚さが、第2電極32と第2導体部22との間隔よりも大きいことが好ましい。「第2電極32と第2導体部22との間隔」とは、第2電極32の表面321(図6参照)の中央部と第2導体部22の表面212との間隔を意味する。第2電極32と第2導体部22との間隔は、突起構造部36の突出量H1により決めることができる。言い換えれば、第2電極32と第2導体部22との間隔は、突起構造部36の突出量H1(図6参照)と略同じである。
よって、発光装置1aは、製造時に、空間9からAuSnがはみ出した場合でも、はみ出したAuSnの流速を溝203で低下させることが可能となる。また、発光装置1aは、製造時に、第2導体部22の側面が、はみ出したAuSnを支持体20aの表面201側へ向かって誘導するはんだ誘導部として機能することが可能となる。これにより、発光装置1aは、空間9からはみだしたAuSnによる第2電極32と第1電極31との短絡の発生を抑制することが可能となる。なお、支持体20aの表面201は、第1導体部21及び第2導体部22の各側面よりもはんだ濡れ性が低いのが好ましい。
紫外線発光素子3は、絶縁膜38を備えているのが好ましい。絶縁膜38は、第2電極32における第2導電型半導体層35との接触領域を囲むように第2導電型半導体層35の表面351上に形成されているのが好ましい。また、紫外線発光素子3は、第2電極32が第2導電型半導体層35の表面351と絶縁膜38の表面とに跨って形成され、第2電極32のうち中央部よりも第2導電型半導体層35から離れる向きに突出した外周部が、突起構造部36を兼ねているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、第2電極32と第2導体部22との接合面積を増加させることが可能となり、放熱性の向上及び接触抵抗の低抵抗化を図ることが可能となる。
絶縁膜38の材料としては、SiO2を採用している。よって、絶縁膜38は、シリコン酸化膜である。絶縁膜38は、電気絶縁膜であればよい。したがって、絶縁膜38の材料は、電気絶縁性を有する材料であればよく、SiO2に限らず、例えば、Si34、Al23、TiO2、Ta25、ZrO2、Y23、CeO2、Nb25等を採用することができる。絶縁膜38は、半導体多層膜39の機能を保護するためのパッシベーション膜(passivation film)としての機能を備えることが好ましく、その材料として、SiO2やSi34が好ましい。これにより、発光装置1aは、信頼性を向上させることが可能となる。絶縁膜38の厚さは、一例として、1μmに設定してある。絶縁膜38は、例えば、CVD(chemical vapor deposition)法、蒸着法、スパッタ法等により形成することができる。絶縁膜38は、単層膜に限らず、多層膜により構成してもよい。絶縁膜38として設ける多層膜は、半導体多層膜39で発生した光を反射させるための誘電体多層膜により構成してもよい。
絶縁膜38は、メサ構造37の表面371とメサ構造37の側面372と第1導電型半導体層33の表面331とに跨って形成されているのが好ましい。メサ構造37の表面371は、第2導電型半導体層35の表面351である。絶縁膜38のうち第1導電型半導体層33の表面331上に形成される部位は、第1電極31における第1導電型半導体層33との接触領域を囲むようなパターンに形成されているのが好ましい。
第1電極31は、第1オーミック電極層31Aと、第1パッド電極層31Bと、を備えているのが好ましい。
第1オーミック電極層31Aは、第1導電型半導体層33とオーミック接触を得るために、第1導電型半導体層33の表面331上に形成されている。第1パッド電極層31Bは、第1接合部61を介して実装基板2aと接合するために、第1オーミック電極層31Aを覆うように形成されている。第1オーミック電極層31Aは、例えば、Al膜とNi膜とAl膜とNi膜とAu膜との第1積層膜を第1導電型半導体層33の表面331上に形成してから、アニール処理を行い、徐冷を行うことにより形成することができる。これにより、第1オーミック電極層31Aは、NiとAlとを主成分とする凝固組織により構成されている。凝固組織とは、溶融金属が変態する結果生成した結晶組織を意味する。NiとAiとを主成分とする凝固組織は、例えば、不純物としてAu、Nを含んでいてもよい。第1積層膜は、一例として、Al膜、Ni膜、Al膜、Ni膜及びAu膜の厚さを、それぞれ、10〜200nmの範囲で設定している。第1オーミック電極層31Aは、NiとAlとを主成分とした構成に限らず、例えば、Ti等を成分とする別の材料により形成してもよい。
第1パッド電極層31Bは、例えば、Ti膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第1パッド電極層31Bは、最表面側がAu膜であれば、他の積層膜を採用することもできる。言い換えれば、第1電極31は、最表面がAu膜の表面により構成されている第1パッド電極層31Bを備えるのが好ましい。第1パッド電極層31Bは、例えば、蒸着法等により形成することができる。第1パッド電極層31Bは、Au膜の単層構造に限らず、例えば、Ti膜とAu膜との積層膜により構成してもよい。また、紫外線発光素子3は、例えば、第1オーミック電極層31Aのみにより第1電極31全体の形状を構成してもよいし、第1オーミック電極層31Aと第1パッド電極層31Bとの間に別の電極層を備えた構成でもよい。
第2電極32は、第2オーミック電極層32Aと、第2パッド電極層32Bと、を備えているのが好ましい。
第2オーミック電極層32Aは、第2導電型半導体層35とオーミック接触を得るために、第2導電型半導体層35の表面351上に形成されている。第2パッド電極層32Bは、第2接合部62を介して実装基板2aと接合するために、第2オーミック電極層32Aを覆うように形成されている。第2オーミック電極層32Aは、例えば、Ni膜とAu膜との第2積層膜を第2導電型半導体層35の表面351上に形成してから、アニール処理を行うことにより形成することができる。
第2パッド電極層32Bは、例えば、Ti膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第2パッド電極層32Bは、最表面側がAu膜であれば、他の積層膜を採用することもできる。言い換えれば、第2電極32は、最表面がAu膜の表面により構成されている第2パッド電極層32Bを備えるのが好ましい。第2パッド電極層32Bは、例えば、蒸着法等により形成することができる。第2パッド電極層32Bは、Au膜の単層構造に限らず、例えば、Ti膜とAu膜との積層膜により構成してもよい。また、紫外線発光素子3は、例えば、第2オーミック電極層32Aのみにより第2電極32全体の形状を構成してもよいし、第2オーミック電極層32Aと第2パッド電極層32Bとの間に別の電極層を備えた構成でもよい。
第2パッド電極層32Bは、第2オーミック電極層32Aの表面と絶縁膜38の表面とに跨って形成されているのが好ましい。そして、発光装置1aは、第2電極32のうち中央部よりも第2導電型半導体層35から離れる向きに突出した外周部が、突起構造部36を兼ねているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、紫外線発光素子3と実装基板2aとの接合面積を増加させることが可能となって熱抵抗の低減を図れ、しかも、紫外線発光素子3の半導体多層膜39で発生した熱が突起構造部36を通して実装基板2a側へ伝わりやすくなる。よって、発光装置1aは、放熱性を向上させることが可能となる。
発光装置1aは、例えば、高効率白色照明、殺菌、医療、環境汚染物質を高速で処理する用途等の分野で利用する場合、紫外線発光素子3が、210nm〜280nmの波長域に発光ピーク波長を有するのが好ましい。つまり、紫外線発光素子3は、UV−Cの波長域に発光ピーク波長を有するのが好ましい。これにより、発光装置1aは、例えば、殺菌の用途に好適に用いることが可能となる。「UV−Cの波長域」とは、例えば国際照明委員会(CIE)における紫外線の波長による分類によれば、100nm〜280nmである。発光装置1aは、殺菌の用途で利用する場合、紫外線発光素子3が、240nm〜280nmの波長域に発光ピーク波長を有するのが、より好ましい。JIS 8811−1968では、「殺菌紫外線」は、紫外線のうち波長260nm付近に最大殺菌効果を有する殺菌効果曲線の示す波長領域内のものと規定されている。図9は、上述の殺菌効果曲線を書き直した図である。図9は、横軸が波長、縦軸が殺菌効果相対値である。「殺菌効果曲線」は、参考文献1〔M.Luckiesh:Applications of Germicidal, Erythemal, and Infrared Energy (1946),p.115〕のデータに基づく曲線である。殺菌効果曲線を参照すれば、発光装置1aでは、紫外線発光素子3から放射する紫外線の波長が240nm〜280nmの範囲内であれば、殺菌効果相対値が60%以上となり、比較的高い殺菌効果が得られると推考される。紫外線発光素子3は、一例として、発光ピーク波長を265nmに設定してある。
スペーサ4の高さは、紫外線発光素子3の厚さよりも大きい。これにより、発光装置1aは、紫外線発光素子3がカバー5に接触するのを抑制することが可能となる。スペーサ4は、平面視における外周形状が矩形状であるのが好ましい。スペーサ4は、平面視において実装基板2aよりも小さいのが好ましい。より詳細には、スペーサ4の平面視における外周形状は、実装基板2aの平面視における外周形状よりも小さいのが好ましい。更に言えば、スペーサ4の平面視における外周線は、実装基板2aの平面視における外周線よりも内側にあるのが好ましい。これにより、発光装置1aは、製造時にスペーサ4が実装基板2aからはみ出すのを抑制することが可能となる。
貫通孔41は、スペーサ本体40に形成されている。貫通孔41は、実装基板2aから離れるにつれて開口面積が漸次増加しているのが好ましい。要するに、スペーサ4の貫通孔41は、実装基板2aの厚さ方向に沿った方向において実装基板2aから離れるにつれて開口面積が徐々に大きくなっている。これにより、発光装置1aは、スペーサ4を、紫外線発光素子3から側方へ放射された紫外線をカバー5側へ反射するリフレクタとして機能させることが可能となる。スペーサ本体40は、上述のようにSiにより形成されている。Si基板は、例えば、入射角が5°〜55°の場合、波長260nm〜280nmの紫外線に対する反射率が70%よりも高い。よって、スペーサ4は、貫通孔41の内側面(凹部663の内側面665)にAl膜等の反射膜を形成しなくても比較的高い反射率を有するリフレクタを構成することができる。これにより、発光装置1aは、低コスト化及び高出力化を図ることが可能となる。
スペーサ4の貫通孔41は、四角錐台状のテーパ孔であるのが好ましい。より詳細には、スペーサ本体40は、表面401が(100)面の単結晶Si基板400から形成されているのが好ましい。スペーサ4は、貫通孔41の内側面が{111}面に沿った面であるのが好ましい一態様である。要するに、スペーサ4は、貫通孔41の内側面を構成する結晶面が{111}面であるのが好ましい一態様である。これにより、発光装置1aは、単結晶Si基板400の裏面402と貫通孔41の内側面とのなす角度θを略55°(理論的には、54.7°)とすることが可能となる。このような貫通孔41は、アルカリ系溶液を用いたエッチングにより、容易に形成することができる。要するに、貫通孔41は、結晶異方性エッチングにより形成することができる。アルカリ系溶液としては、例えば、TMAH水溶液を用いることができる。アルカリ系溶液は、TMAH水溶液に限らず、例えば、85℃程度に加熱したTMAH溶液、KOH水溶液、エチレンジアミンピロカテコール等を用いてもよい。貫通孔41の形成時のエッチングは、2段階に分けて行ってもよい。例えば、貫通孔41の形成時には、KOH水溶液により、単結晶Si基板400の表面401から単結晶Si基板400の厚さ方向の途中までエッチングし、その後、TMAH水溶液により、単結晶Si基板400の裏面402に到達するまでエッチングしてもよい。スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42は、単結晶Si基板400の裏面402により構成される。スペーサ本体40は、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42と第2接合用金属層43との間に、シリコン酸化膜44が形成されている。第2接合用金属層43は、例えば、下地膜431とAu膜432との積層膜により構成されているのが好ましい。下地膜431の材料としては、例えば、Al等を採用することができる。
スペーサ4は、貫通孔41の内側面が、{111}面に沿って形成されたシリコン酸化膜の表面により構成されていてもよい。これにより、発光装置1aは、{111}面がシリコン酸化膜により覆われているので、製造歩留りを向上させることが可能となり、また、紫外線出力の経時変化を抑制することが可能となる。シリコン酸化膜は、例えば、自然酸化膜により形成してもよいし、熱酸化膜により形成してもよい。
発光装置1aは、カバー5を形成するガラスが、アルカリ成分を含んでおり、スペーサ4とカバー5とが直接接合されているのが好ましい一態様である。発光装置1aは、カバー5を形成するガラスが、アルカリ成分を含んでいることにより、カバー5とスペーサ4とを陽極接合によって直接接合することが可能となり、製造コストの低コスト化を図ることが可能となる。アルカリ成分としては、例えば、Na、K、Na3O、K2O等がある。「直接接合されている」とは、接合材等を用いることなく接合されていることを意味する。
カバー5を形成するガラスとしては、紫外線発光素子3が放射する紫外線に対する透過率が70%以上であるのが好ましく、80%以上であるのがより好ましい。紫外線発光素子3がUV−Cの波長域に発光ピーク波長を有する場合には、カバー5を形成するガラスとして、例えば、硼珪酸ガラスを採用することができる。硼珪酸ガラスは、アルカリ成分を含んでいる。硼珪酸ガラスとしては、例えば、SCHOTT社製の8347やSCHOTT社製の8337B、等を採用することにより、波長が265nmの紫外線に対する透過率を80%以上とすることができる。
発光装置1aは、カバー5とスペーサ本体40との線膨張係数差に起因してカバー5等に発生する応力を低減する観点から、カバー5とスペーサ本体40との線膨張係数差が小さいほうが好ましい。
カバー5は、平面視において実装基板2aよりも小さいのが好ましい。より詳細には、カバー5は、平面視においてスペーサ4と同じ大きさであるのが好ましい。要するに、カバー5の平面視における外周形状は、スペーサ4の平面視における外周形状と同じであるのが好ましい。よって、カバー5の平面視における外周形状は、矩形状であるのが好ましい。これにより、発光装置1aの製造方法では、キャップ6aを形成する際に、例えば、複数のスペーサ4を形成した第1ウェハと複数のカバー5の元になる第2ウェハとをウェハレベルで接合してから、複数のキャップ6aに分割することが可能となる。キャップ6aは、平面視において実装基板2aよりも小さいのが好ましい。これにより、発光装置1aでは、製造時にキャップ6aの位置ずれが発生した場合でもキャップ6aが実装基板2aからはみ出すのを抑制することが可能となる。
カバー5は、平板状に限らず、例えば、レンズが一体に形成された形状でもよい。要するに、発光装置1aは、カバー5の一部あるいは全部がレンズを構成してもよい。
発光装置1aは、実装基板2aとスペーサ4とカバー5とで囲まれた空間8を不活性ガス雰囲気としてあるのが好ましい。言い換えれば、発光装置1aは、実装基板2aとキャップ6aとで囲まれた空間を不活性ガス雰囲気としてあるのが好ましい。これにより、発光装置1aは、紫外線発光素子3、第1導体部21及び第2導体部22等の酸化を抑制することが可能となり、信頼性の更なる向上を図ることが可能となる。
不活性ガス雰囲気は、N2ガス雰囲気であるのが好ましい。不活性ガス雰囲気は、不活性ガスの純度が高いのが好ましいが、100%の純度を必須としない。例えば、不活性ガス雰囲気は、不活性ガスとしてN2ガスを採用する場合、例えば、不可避的に混入される100〜200ppm程度のO2を含んでいてもよい。不活性ガスは、N2ガスに限らず、例えば、Arガス、N2ガスとArガスとの混合ガス等でもよい。
発光装置1aは、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63との間にそれぞれ、第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83が形成されているのが好ましい。第1バリア層81と第2バリア層82と第3バリア層83とは同じ材料でかつ、同じ厚さで形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aでは、製造時に、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63との間それぞれでの金属の拡散を抑制することが可能となる。また、発光装置1aでは、製造時に、第1バリア層81と第2バリア層82と第3バリア層83とでそれぞれのバリア性を略同じとすることが可能となる。よって、発光装置1aでは、製造時に、実装基板2aに対する紫外線発光素子3及びキャップ6aの接合性を向上させることが可能となる。
発光装置1aは、第1電極31が、最表面がAu膜の表面により構成されている第1パッド電極層31Bを備え、第2電極32が、最表面がAu膜の表面により構成されている第2パッド電極層32Bを備え、第2接合用金属層43が、下地膜とAu膜との積層膜により構成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aでは、製造時に、実装基板2aに対する紫外線発光素子3及びキャップ6aの接合性を向上させることが可能となる。
以下では、発光装置1aの製造方法について図7及び8に基づいて説明する。
発光装置1aの製造方法では、例えば、下記の第1工程、第2工程、第3工程及び第4工程を順次行う。
第1工程では、単結晶Si基板400の裏面402上にシリコン酸化膜44と第2接合用金属層43との積層構造を形成し、その後、単結晶Si基板400の貫通孔41の形成予定領域をエッチングし貫通孔41を形成することでスペーサ4を形成する(図7A)。シリコン酸化膜44は、薄膜形成技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術等を利用して形成することができる。また、第2接合用金属層43は、薄膜形成技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術等を利用して形成することができる。貫通孔41を形成する際には、単結晶Si基板400の表面401及び裏面402側それぞれに適宜のエッチングマスクを形成した後に、単結晶Si基板400の表面401からTMAH水溶液によるエッチングを行う。
第2工程では、スペーサ4とカバー5とを接合することでキャップ6aを形成する(図7B)。より詳細には、スペーサ4とカバー5とを陽極接合により直接接合することによってキャップ6aを形成する。陽極接合を行う際には、例えば、真空雰囲気中において、スペーサ本体40における貫通孔41の周部とカバー5の周部とを直接接触させ、スペーサ4とカバー5との積層体に対し、スペーサ4を高電位側、カバー5を低電位側として、所定の直流電圧を印加する。所定の直流電圧は、例えば、600Vである。陽極接合を行う際には、例えば、スペーサ4とカバー5との積層体を所定の接合温度に加熱した状態で、所定の直流電圧を所定の時間だけ印加した後に、積層体の温度を降温させる。接合温度は、例えば、400℃である。
上述の第1工程及び第2工程は、ウェハレベルで行うことが好ましい。より詳細には、第1工程では、単結晶Si基板400の元になる第1ウェハに複数のスペーサ4を形成するのが好ましい。第2工程では、キャップ6aを形成する際に、例えば、複数のスペーサ4を形成した第1ウェハと複数のカバー5の元になる第2ウェハとをウェハレベルで接合してから、複数のキャップ6aに分割するのが好ましい。
第3工程では、実装基板2aに対して、第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63それぞれの元になる第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73を形成する(図7C)。より詳細には、第3工程では、実装基板2aの第1導体部21の表面211側、第2導体部22の表面212側、第1接合用金属層23の表面231側に、それぞれ、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73を形成する。第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73は、例えば、蒸着法、めっき法等により形成することができる。
第3工程では、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73の厚さを同じ値に設定してある。第1AuSn層71の表面の面積は、第1電極31の表面311(図6参照)の面積よりも小さく設定してある。また、第2AuSn層72の表面の面積は、第2電極32の表面321(図6参照)の面積よりも小さく設定してある。また、第3AuSn層73の表面の面積は、第1接合用金属層23の表面231(図7C、8参照)の面積よりも小さく設定してある。
第1AuSn層71及び第2AuSn層72の厚さは、紫外線発光素子3の突起構造部36の突出量H1(図6参照)と、紫外線発光素子3の厚さ方向における第2電極32と第1電極31との段差の高さH2(図6参照)と、の合計(H1+H2)よりも所定厚さ(α)だけ大きくなるように設定する。つまり、第1AuSn層71及び第2AuSn層72の厚さは、H1+H2+αとする。例えば、H1=1μm、H2=1μmの場合、第1AuSn層71及び第2AuSn層72の厚さは、3μm程度に設定すればよい。この場合、αは、1μmである。これらの数値は、一例であり、紫外線発光素子3の構造等に基づいて適宜設定すればよい。第1AuSn層71、第2AuSn層72は、実装基板2aのうち第1電極31、第2電極32それぞれに対向させる領域の中央部に形成するのが好ましい。第2AuSn層72は、突起構造部36の垂直投影領域よりも内側で、この垂直投影領域から離れて位置するように、第2導体部22の表面212上に配置する。突起構造部36の垂直投影領域とは、突起構造部36の厚さ方向への投影領域を意味する。すなわち、突起構造部36の垂直投影領域とは、突起構造部36の厚さ方向に投影方向が沿った垂直投影領域を意味する。言い換えれば、突起構造部36の垂直投影領域とは、突起構造部36の厚さ方向に直交する面への垂直投影領域を意味する。
第1AuSn層71及び第2AuSn層72は、AuSnの場合、共晶組成(70at%Au、30at%Sn)よりもAuの組成比が小さく例えば300℃以上400℃未満の温度で溶融する組成(例えば、60at%Au、40at%Sn)のAuSnが好ましい。
第3工程では、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73との間に、第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83をそれぞれ形成するのが好ましい。第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83は、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73と第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23との間での金属(例えば、Sn等)の拡散に起因してAuSnの組成が変動するのを抑制する拡散バリアの機能を有する層である。第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83の材料としては、例えば、Ptを採用することができるが、これに限らず、Pd等を採用することもできる。第3工程では、第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83の厚さを同じ値に設定してある。第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83の厚さは、例えば、0.2μm程度に設定するのが好ましい。第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83は、例えば、蒸着法、めっき法等により形成することができる。
また、第3工程では、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73上に、第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93をそれぞれ形成するのが好ましい。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93は、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73のSnの酸化を抑制するために設ける層である。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93の厚さは、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73の厚さに比べて十分に薄いのが好ましく、例えば、0.15μm以下が好ましい。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93の厚さは、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73が溶融したときに、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73へAuが熱拡散され、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と第1電極31、第2電極32及び第2接合用金属層43との接合が行われるように設定する必要がある。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93の厚さは、例えば、0.05μm〜0.15μm程度の範囲で設定するのが好ましい。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93は、例えば、蒸着法やめっき法等により形成することができる。以下では、第1バリア層81と第1AuSn層71と第1Au層91との積層膜を第1接合用層101と称し、第2バリア層82と第2AuSn層72と第2Au層92との積層膜を第2接合用層102と称する。また、以下では、第3バリア層83と第3AuSn層73と第3Au層93との積層膜を第3接合用層103と称する。第1接合用層101は、少なくとも第1AuSn層71を備えていればよく、積層膜に限らず、単層膜でもよい。第2接合用層102は、少なくとも第2AuSn層72を備えていればよく、積層膜に限らず、単層膜でもよい。第3接合用層103は、少なくとも第3AuSn層73を備えていればよく、積層膜に限らず、単層膜でもよい。
第4工程では、第1ステップ、第2ステップを行うことで紫外線発光素子3を実装基板2aに実装し(図7D)、引き続き、第3ステップ及び第4ステップを順次行うことでキャップ6aを実装基板2aに接合する(図7E)。これにより、発光装置1aの製造方法では、発光装置1aを得ることができる。第4工程では、ボンディング装置を利用する。より詳細には、第4工程では、第1ステップ、第2ステップ、第3ステップ及び第4ステップを、1台のボンディング装置で連続して行う。キャップ6aを紫外線発光素子3とは大きさの異なるダイとみなせば、ボンディング装置は、ダイボンディング装置、フリップチップボンディング装置とみなすことができる。
ボンディング装置は、例えば、第1吸着保持具と、第2吸着保持具と、ステージと、第1ヒータと、第2ヒータと、接合室と、を備える。第1吸着保持具は、紫外線発光素子3を吸着保持する第1コレット(collet)である。第2吸着保持具は、キャップ6aを吸着保持する第2コレットである。ステージは、実装基板2aが載せ置かれる。第1ヒータは、ステージに設けられ実装基板2aを加熱できるように構成されている。第2ヒータは、第1吸着保持具と第2吸着保持具とを択一的に保持するホルダに装着されダイを加熱できるように構成されている。ボンディング装置は、ホルダが第2ヒータを備える代わりに、第1コレット及び第2コレットの各々が第2ヒータを備えた構成でもよい。ダイは、第1吸着保持具に吸着保持された紫外線発光素子3又は第2吸着保持具に吸着保持されたキャップ6aである。ボンディング室は、ステージが収納配置されており、ステージ上の実装基板2aに対して紫外線発光素子3及びキャップ6aそれぞれの接合処理が行われる処理室である。ボンディング室内の雰囲気は、パッケージ7a内の所定の雰囲気に合わせて適宜調整すればよい。本実施形態の発光装置1aの製造方法では、一例として、ボンディング室内の雰囲気をN2ガス雰囲気とする。ボンディング装置は、ボンディング室における出入口を開放しており、ボンディング室の外側から出入口を通してボンディング室内にN2ガスを供給した状態で、実装基板2a、第1吸着保持具、第2吸着保持具等を出入口から入れたり出したりするようにしている。これにより、ボンディング装置は、真空チャンバ内で接合処理を行うように構成されている場合に比べて、低コスト化を図ることが可能となる。
第1ステップでは、図8に示すように、紫外線発光素子3と実装基板2aとを対向させる。「紫外線発光素子3と実装基板2aとを対向させる」とは、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22とがそれぞれ対向するように、紫外線発光素子3と実装基板2aとを対向させることを意味する。
第1ステップでは、第1吸着保持具により吸着保持した紫外線発光素子3における第1電極31、第2電極32と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22とを対向させる。より詳細には、第1ステップでは、第1電極31と第1導体部21の表面211上の第1AuSn層71とを対向させ、かつ、第2電極32と第2導体部22の表面212上の第2AuSn層72とを対向させる。
第2ステップでは、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22とを、それぞれ、第1AuSn層71、第2AuSn層72により接合する。第1接合部61は、AuSnのみにより形成される場合に限らず、AuSnにより形成された部分に加えて第1バリア層81を含んでいてもよい。また、第2接合部62は、AuSnのみにより形成される場合に限らず、AuSnにより形成された部分に加えて第2バリア層82を含んでいてもよい。
上述の第2ステップでは、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2a上の第1接合用層101、第2接合用層102とが接触するように重ね合わせた状態で、適宜の加熱及び加圧を行いながら第1AuSn層71及び第2AuSn層72を溶融させる。第1AuSn層71が溶融すると、溶融したAuSnに、第1Au層91からAuが拡散し、溶融したAuSnにおけるAuの組成比が増加する。また、第2AuSn層72が溶融すると、溶融したAuSnに、第2Au層92からAuが拡散し、溶融したAuSnにおけるAuの組成比が増加する。
第2ステップでは、第1AuSn層71及び第2AuSn層72を溶融させてから、突起構造部36が第2導体部22に接するように、紫外線発光素子3側から加圧することで、溶融したAuSnを押し下げて横方向に広げることで空間9にAuSnを満たしてから、冷却凝固させる。
第2ステップでは、第1ヒータによる実装基板2aの加熱だけでもよいし、第2ヒータによる紫外線発光素子3の加熱を行うようにしてもよい。第2ステップでは、実装基板2aと紫外線発光素子3との接合性を考えると、第1ヒータ及び第2ヒータ両方からの加熱を行うのが好ましい。また、第2ステップでは、適宜の荷重を印加することで加圧を行う。荷重は、例えば、1個の紫外線発光素子3に対して、0.1〜1kg/cm程度の範囲で設定するのが好ましい。また、荷重を印加する時間は、例えば、0.1〜1秒程度の範囲で設定するのが好ましい。第2ステップは、Nガス雰囲気中で行うのが好ましい。
第1AuSn層71及び第2AuSn層72の溶融温度は、紫外線発光素子3の耐熱温度よりも低いのが好ましい。第1AuSn層71及び第2AuSn層72は、例えば、共晶組成(70at%Au、30at%Sn)よりもAuの組成比が小さく300℃以上400℃未満の温度で溶融する組成(例えば、60at%Au、40at%Sn)のAuSnが好ましい。
ところで、第3工程で形成する第2接合用層102の体積は、第2接合部62を形成するAuSnが空間9から出ないように、空間9の容積と等しくなるように設定するのが好ましい。
第4工程の第2ステップでは、第1AuSn層71及び第2AuSn層72それぞれが溶融した状態で紫外線発光素子3の突起構造部36が第2導体部22の表面212に接するように、溶融したAuSnを押し下げて紫外線発光素子3と実装基板2aとを接合する。よって、第4工程の第2ステップでは、第1電極31と第1導体部21とが未接合となるのを抑制することが可能となる。
第4工程の第2ステップでは、突起構造部36が第2導体部22に接し、第1電極31と第1導体部21とが、AuSnにより形成された第1接合部61により接合され、第2電極32と第2導体部22とが、AuSnにより形成された第2接合部62により接合される。これにより、発光装置1aの製造方法では、第2接合部62が、第2電極32と突起構造部36と第2導体部22とで囲まれた空間9を満たすように形成された構成、とすることが可能となる。発光装置1aの製造方法では、第2接合用層102の溶融したAuSnを押し下げて横方向に広げたときに、突起構造部36が、溶融したAuSnの、紫外線発光素子3の表面に沿った流動を抑制する。これにより、発光装置1aの製造方法では、第1電極31と第2電極32とのAuSnによる短絡の発生を抑制可能となる。しかも、発光装置1aの製造方法では、紫外線発光素子3と実装基板2aとの間の熱抵抗の低減を図ることが可能で、かつ熱抵抗のばらつきを小さくすることが可能な発光装置1aを製造することが可能となる。
ところで、第4工程の第2ステップでは、突起構造部36の先端面の全面を第2導体部22の表面212と接するように荷重を印加するのが好ましい。しかしながら、第4工程の第2ステップでは、突起構造部36の先端面の平面度と、第2導体部22の表面212の平面度との違いに起因して、突起構造部36の先端面の全面を第2導体部22の表面212と接するようにするのが難しいこともある。この場合には、突起構造部36の先端面の一部が第2導体部22の表面212と接し、突起構造部36の先端面の残りの部分と第2導体部22の表面212との間に製造時に浸み込んで固まったAuSnからなる、薄いAuSn層が残ることもある。要するに、発光装置1aは、実装基板2aに対する紫外線発光素子3の平行度が所望の範囲であれば、突起構造部36が部分的に、第2導体部22の表面212に接する構成でもよい。第4工程の第2ステップでは、印加する荷重をより大きくすれば、突起構造部36の先端面の平面度と、第2導体部22の表面212の平面度との差を低減可能となり、突起構造部36と第2導体部22との接触面積を大きくすることが可能となる。また、第4工程の第2ステップでは、突起構造部36が例えば金属等により形成されている場合、印加する荷重を大きくすれば、突起構造部36を圧縮するように変形させることも可能となり、突起構造部36と第2導体部22との接触面積を大きくすることが可能となる。
発光装置1aの製造方法では、上述の第3工程において、第1AuSn層71、第2AuSn層72上に、第1Au層91、第2Au層92をそれぞれ形成するのが好ましい。これにより、発光装置1aの製造方法では、第4工程の前に第1AuSn層71及び第2AuSn層72のSnが酸化するのを抑制することが可能となり、紫外線発光素子3と実装基板2aとの接合性を向上させることが可能となる。接合性は、例えば、ダイシェア強度(die shear strength)により評価することができる。ダイシェア強度は、実装基板2aに接合された紫外線発光素子3を接合面に平行に押し剥がすために必要な力である。ダイシェア強度は、例えば、ダイシェアテスタ(die shear tester)等により測定することができる。
第4工程の第3ステップでは、第2吸着保持具により吸着保持したキャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とを対向させる。より詳細には、第3ステップでは、第2接合用金属層43と第1接合用金属層23の表面231上の第3AuSn層73とを対向させる。
第4ステップでは、キャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とを、第3AuSn層73により接合する。第3接合部63は、AuSnのみにより形成される場合に限らず、AuSnにより形成された部分に加えて第3バリア層83を含んでいてもよい。
上述の第4ステップでは、キャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2a上の第3接合用層103とが接触するように重ね合わせた状態で、適宜の加熱及び加圧を行いながら第3AuSn層73を溶融させる。第3AuSn層73が溶融すると、溶融したAuSnに、第3Au層93からAuが拡散し、溶融したAuSnにおけるAuの組成比が増加する。第4ステップでは、第3AuSn層73を溶融させてから、キャップ6a側から加圧することで、溶融したAuSnを押し下げて横方向に広げてから、冷却凝固させる。
第4ステップでは、第1ヒータによる実装基板2aの加熱だけでもよいし、第2ヒータによるキャップ6aの加熱を行うようにしてもよい。第4ステップでは、実装基板2aとキャップ6aとの接合性を考えると、第1ヒータ及び第2ヒータ両方からの加熱を行うのが好ましい。また、第4ステップでは、適宜の荷重を印加することで加圧を行う。荷重は、例えば、1個のキャップ6aに対して、0.1〜1kg/cm程度の範囲で設定するのが好ましい。また、荷重を印加する時間は、例えば、0.1〜1秒程度の範囲で設定するのが好ましい。第4ステップは、Nガス雰囲気中で行うのが好ましい。
発光装置1aの製造方法では、第3工程において、第3接合用層103を実装基板2aに形成するのが好ましい。これにより、発光装置1aの製造方法では、第3接合用層103をキャップ6aに形成する場合に比べて、製造が容易になる。
以上説明した本実施形態の発光装置1aの製造方法では、スペーサ4とカバー5とを接合することでキャップ6aを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。よって、本実施形態の発光装置1aの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
発光装置1aの製造方法は、以下の構成を備える発光装置1aの製造方法である。
発光装置1aは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を収納する凹部663が形成されたキャップ6aと、を備える。実装基板2aは、支持体20aと、支持体20aに支持された第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、を備える。第1導体部21及び第2導体部22は、支持体20aの表面201側においてキャップ6aの凹部663の内底面664に臨むように配置されている。キャップ6aは、表面661及び裏面662を有し裏面662に凹部663が形成されたキャップ本体660と、キャップ本体660の裏面662における凹部663の周部で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。キャップ6aは、少なくとも、キャップ本体660の表面661と凹部663の内底面664との間の紫外線透過部666が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。紫外線発光素子3は、第1電極31と、第2電極32と、を備え、紫外線発光素子3の厚さ方向の一面側に第1電極31及び第2電極32が配置されている。
発光装置1aの製造方法では、キャップ6aを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73は、実装基板2aに対して同一工程で形成される。よって、発光装置1aの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。発光装置1aの製造方法では、第1AuSn層71及び第2AuSn層72と、第3AuSn層73と、を実装基板2aに対して同一工程で形成することができ、低コスト化を図ることが可能となる。
発光装置1aの製造方法では、紫外線発光素子3の第1電極31及び第2電極32と実装基板2aの第1導体部21及び第2導体部22とをそれぞれ第1AuSn層71及び第2AuSn層72により接合する第1接合処理を行う。発光装置1aの製造方法では、第1接合処理に引き続き、キャップ6aの第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とを第3AuSn層73により接合する第2接合処理を行う。発光装置1aの製造方法では、第1接合処理と第2接合処理とを、1台のボンディング装置のボンディング室で連続して行うのが好ましい。これにより、発光装置1aの製造方法では、低コスト化を図ることが可能となる。
ところで、発光装置1aは、紫外線発光素子3に逆並列に接続されたツェナダイオードを備えているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、静電気耐性を向上させることが可能となる。要するに、発光装置1aは、紫外線発光素子3が静電気によって絶縁破壊されるのを抑制することが可能となる。ツェナダイオードは、例えば、パッケージ7a内で実装基板2aに実装されているのが好ましい。ツェナダイオードのチップサイズは、紫外線発光素子3のチップサイズよりも小さいのが好ましい。ツェナダイオードは、紫外線発光素子3と同様に、AuSnにより実装基板2aにフリップチップ実装されているのが好ましい。この場合、発光装置1aの製造方法では、実装基板2aとしてツェナダイオードを実装するための第3導体部及び第4導体部を備えたものを用意しておき、第3工程において第3導体部及び第4導体部それぞれの表面に、第4AuSn層を含む第4接合用層、第5AuSn層を含む第5接合用層を形成するようにし、第4工程において、第2ステップと第3ステップとの間、又は、第1ステップの前に、上述のボンディング装置を利用してツェナダイオードを実装基板2aにフリップチップ実装すればよい。
図10は、第1変形例の発光装置1bの概略平面図である。第1変形例の発光装置1bは、実装基板2aの代わりに、複数の紫外線発光素子3を実装する実装基板2bを備えている点が相違する。なお、発光装置1bにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1bは、実装基板2bに複数の紫外線発光素子3が実装されている。複数の紫外線発光素子3は、1つの仮想円上において等間隔で配置されているのが好ましい。発光装置1bは、静電気耐性を向上させるためのツェナダイオードZDを備えているのが好ましい。ツェナダイオードZDは、上述の仮想円の中心に配置されているのが好ましい。
発光装置1bは、発光装置1aのパッケージ7aの代わりに、実装基板2bとキャップ6aとで構成されるパッケージ7bを備えている。
発光装置1bは、複数の紫外線発光素子3が並列接続されているが、これに限らず、例えば、複数個の紫外線発光素子3が直列接続された構成を有してもよいし、直並列接続された構成を有してもよい。
(実施形態2)
以下では、本実施形態の発光装置1cについて図11及び12に基づいて説明する。発光装置1cは、スペーサ4とカバー5とが無機接合材を用いて接合されている点が実施形態1の発光装置1aと相違する。なお、発光装置1cにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1cは、スペーサ4とカバー5とが、スペーサ本体40の熱膨張係数とカバー5の熱膨張係数との間の熱膨張係数を有する低融点ガラスにより形成された第4接合部64により接合されている。これにより、発光装置1cは、カバー5として、アルカリ成分を含むガラスに限らず、石英ガラス等を採用することが可能となる。
本明細書において、低融点ガラスとは、軟化点が600℃以下のガラスであり、軟化点が500℃以下のガラスが好ましく、軟化点が400℃以下のガラスが更に好ましい。低融点ガラスとしては、例えば、主成分として酸化鉛(PbO)と無水ほう酸(B23)とを含むガラスを挙げることができる。
発光装置1cは、発光装置1aのキャップ6aの代わりに、スペーサ4と第4接合部64とカバー5とで構成されるキャップ6cを備えている。キャップ6cは、無機材料により形成されている。キャップ6cは、表面661及び裏面662を有し裏面662に凹部663が形成されたキャップ本体660と、キャップ本体660の裏面662における凹部663の周部で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。また、発光装置1cは、発光装置1aのパッケージ7aの代わりに、キャップ6cと実装基板2aとで構成されるパッケージ7cを備えている。
本実施形態の発光装置1cの製造方法は、発光装置1aの製造方法と略同じであり、第2工程におけるスペーサ4とカバー5との接合方法が相違する。すなわち、発光装置1bの製造方法では、第2工程において、スペーサ4とカバー5とを接合することによりキャップ6cを形成する。より詳細には、発光装置1cの製造方法では、第2工程においてスペーサ4とカバー5とを低融点ガラスにより接合する。第2工程では、低融点ガラスのペレットを利用してもよいし低融点ガラスのペーストを利用してもよい。
本実施形態の発光装置1cの製造方法では、スペーサ4とカバー5とを接合することでキャップ6cを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6cにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。よって、本実施形態の発光装置1bの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
(実施形態3)
以下では、本実施形態の発光装置1dについて図13〜16に基づいて説明する。発光装置1dは、実施形態1の発光装置1aの実装基板2aの代わりに実装基板2dを備えている点が発光装置1aと相違する。なお、発光装置1dにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1dは、発光装置1aのパッケージ7aの代わりに、キャップ6aと実装基板2dとで構成されるパッケージ7dを備えている。
実装基板2dは、多層基板である。実装基板2dは、第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25と、第1配線層28と、第2配線層29と、電気絶縁層253と、を備える。第1配線層28及び第2配線層29は、支持体20dの表面201側に配置されている。第1導体部21及び第1外部接続電極24は、第1配線層28上に配置されて第1配線層28と電気的に接続されている。第2導体部22及び第2外部接続電極25は、第2配線層29上に配置されて第2配線層29と電気的に接続されている。電気絶縁層253は、支持体20dの表面側で第1配線層28と第2配線層29とを覆うように配置されている。第1接合用金属層23は、電気絶縁層253上に配置されている。よって、発光装置1dは、例えば、図16に示すように配線基板600に実装基板2dの表面側の第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25を利用して実装することが可能となる。
実装基板2dは、電気絶縁層253からなる第1電気絶縁層とは別の第2電気絶縁層251を備える。支持体20dは、Siにより形成されている。第2電気絶縁層251は、支持体20dの表面201上に配置されている。第1配線層28及び第2配線層29は、第2電気絶縁層251上に配置されている。よって、発光装置1dは、放熱性を向上させることが可能となる。
実装基板2dは、第1接合用金属層23と電気絶縁層253との間に第1下地層254を介在させてあるのが好ましい。
実装基板2dは、支持体20dの裏面202に第4電気絶縁層252が形成されている。また、実装基板2dは、第4電気絶縁層252に第2下地層255を介して導体層256が積層されている。
第1電気絶縁層、第2電気絶縁層251、第3電気絶縁層及び第4電気絶縁層252の各々は、例えば、シリコン酸化膜により構成することができる。
第1下地層254及び第2下地層255の各々は、例えば、Al膜等により構成することができる。第1下地層254と第2下地層255とは、同じ材料により形成されていているが、互いに異なる材料により形成されていてもよい。
導体層256は、例えば、Ni膜とPd膜とAu膜との積層膜により構成することができる。
配線基板600は、マザー基板である。配線基板600は、例えば、金属ベースプリント配線板により形成することができる。この場合、配線基板600は、例えば、金属板601と、金属板601上に形成された絶縁樹脂層602と、絶縁樹脂層602上に形成された第1配線部604及び第2配線部605と、を備えるのが好ましい。金属板601は、Cu板により構成してあるが、これに限らず、例えば、Al板により構成してもよい。配線基板600は、金属板601の表面611における発光装置1dの投影領域を露出させてある。
発光装置1dと配線基板600とを備えた紫外線LEDモジュールでは、発光装置1dの裏面側の導体層256が接合層310により金属板601と接合されている。接合層310は、はんだにより形成されているが、これに限らず、焼結銀により形成されていてもよい。焼結銀は、銀粒子同士が焼結により結合された焼結体である。焼結銀は、多孔質銀である。接合層310を焼結銀により形成する場合には、金属板601の表面611上に銀粒子と揮発性のバインダと溶剤とを含むペーストを塗布してから、発光装置1dを金属板601にペーストを介して重ね合わせ、ペーストを加熱して焼結銀を形成すればよい。
また、紫外線LEDモジュールは、第1外部接続電極24が第1ワイヤ294を介して第1配線部604と電気的に接続されている。また、紫外線LEDモジュールでは、第2外部接続電極25が第2ワイヤ295を介して第2配線部605と電気的に接続されている。第1ワイヤ294及び第2ワイヤ295の各々は、Auワイヤであるのが好ましい。紫外線LEDモジュールは、発光装置1dが配線基板600に2次実装されている。紫外線LEDモジュールでは、平面視において配線基板600が発光装置1aよりも大きいのが好ましい。これにより、紫外線LEDモジュールは、放熱性を、より向上させることが可能となる。
本実施形態の発光装置1dの製造方法は、発光装置1aの製造方法と基本的に同じである。本実施形態の発光装置1dの製造方法では、スペーサ4とカバー5とを接合することでキャップ6aを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。よって、本実施形態の発光装置1dの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
発光装置1dは、キャップ6aの代わりに、実施形態2の発光装置1cにおけるキャップ6cを備えてもよい。
(実施形態4)
以下では、本実施形態の発光装置1eについて図17及び18に基づいて説明する。発光装置1eは、実施形態1の発光装置1aのキャップ6aの代わりにキャップ6eを備えている点が実施形態1の発光装置1aと相違する。なお、発光装置1eにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1eは、発光装置1aのパッケージ7aの代わりに、キャップ6eと実装基板2aとで構成されるパッケージ7eを備えている。
キャップ6eでは、キャップ本体660の全体が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。これにより、本実施形態の発光装置1eでは、実施形態1の発光装置1aと比べて、信頼性の向上及び低コスト化を図ることが可能となる。また、発光装置1eでは、高出力化を図ることが可能となる。
キャップ6eの形成方法では、まず、キャップ本体660の元になる平板状のガラス板に対して第2接合用金属層43を形成する。キャップ6eの形成方法では、その後、ガラス板に対して凹部663に対応する穴をドリル加工により形成する。キャップ6eの形成方法では、その後、穴の内面をエッチング液(例えば、フッ酸溶液)によって円滑化する円滑化処理を行うのが好ましい。
発光装置1eでは、製造時に、上述のキャップ6eの形成方法を採用している。これにより、発光装置1eでは、キャップ本体660の裏面662における凹部663の開口面積を凹部663の内底面664の面積と略同じにすることが可能となる。凹部663の深さは、例えば、300μmである。
第2接合用金属層43は、例えば、下地膜431とAu膜432との積層膜により構成されているのが好ましい。下地膜431は、例えば、キャップ本体660の裏面662上に形成されたCr膜と、このCr膜上に形成されたPt膜と、の積層膜により構成することができる。発光装置1eでは、第2接合用金属層43における下地膜431がCr膜を備えることにより、ガラスにより形成されたキャップ本体660と第2接合用金属層43との密着性を向上させることが可能となる。第2接合用金属層43は、例えば、蒸着法、スパッタ法、めっき法等の膜形成技術と、フォトリソグラフィ技術と、エッチング技術と、を利用して形成することができる。
本実施形態の発光装置1eの製造方法は、実施形態1の発光装置1aの製造方法と略同じである。すなわち、発光装置1eの製造方法では、キャップ6eを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6eにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73は、実装基板2aに対して同一工程で形成される。よって、発光装置1eの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。発光装置1eの製造方法では、第1AuSn層71及び第2AuSn層72と、第3AuSn層73と、を実装基板2aに対して同一工程で形成することができ、低コスト化を図ることが可能となる。紫外線発光素子3の第1電極31及び第2電極32それぞれのAu膜の厚さと、第2接合用金属層43におけるAu膜432の厚さとは、比較的近い値もしくは同じ値に設定してあるのが好ましい。これにより、実装基板2aへの紫外線発光素子3の実装と、実装基板2aへのキャップ6eの実装と、を連続的に行うときの実装性を、より向上させることが可能となる。紫外線発光素子3の第1電極31及び第2電極32それぞれのAu膜の厚さは、例えば、1.3μmである。また、第2接合用金属層43におけるAu膜432の厚さは、例えば、1.0μmである。
図19は、実施形態4におけるキャップ6eの第1変形例を示す概略断面図である。第1変形例のキャップ6eでは、キャップ本体660における凹部663が、ブラスト加工によって形成されている点が実施形態4におけるキャップ6eと相違する。ブラスト加工は、サンドブラスト加工である。第1変形例のキャップ6eでは、凹部663の内底面664がすりガラス状の面となっている。言い換えれば、凹部663の内底面664には、微細な凹凸構造が形成されている。また、第1変形例のキャップ6eでは、凹部663の開口面積が、凹部663の深さ方向において徐々に小さくなっている。第1変形例のキャップ6eの形成方法では、まず、キャップ本体660の元になる平板状のガラス板に対して第2接合用金属層43を形成する。第1変形例のキャップ6eの形成方法では、その後、ガラス板に対して凹部663をブラスト加工により形成することでキャップ本体660を形成する。
図20は、実施形態4におけるキャップ6eの第2変形例を示す概略断面図である。第2変形例のキャップ6eでは、キャップ本体660における凹部663が、ウェットエッチングによって形成されている点が実施形態4におけるキャップ6eと相違する。ウェットエッチングは、例えば、フッ酸溶液を用いた等方性エッチングである。よって、凹部663の内側面665は、丸みを有する凹曲面状に形成されている。第2変形例のキャップ6eの形成方法では、まず、キャップ本体660の元になる平板状のガラス板に対して凹部663をウェットエッチングにより形成することでキャップ本体660を形成する。第2変形例のキャップ6eの形成方法では、その後、キャップ本体660に対して第2接合用金属層43を形成する。
図21は、実施形態4におけるキャップ6eの第3変形例を示す概略断面図である。第3変形例のキャップ6eでは、キャップ本体660がプレス成型により形成されている。要するに、キャップ6eでは、キャップ本体660をプレス成型するときに凹部663を形成している。よって、第3変形例のキャップ6eでは、離型性を考慮して、キャップ本体660の裏面662における凹部663の開口面積を凹部663の内底面664の面積よりも大きく設定してある。言い換えれば、第3変形例のキャップ6eにおける凹部663は、深さ方向において開口面積が徐々に小さくなる順テーパ状の形状としてある。第3変形例のキャップ6eにおける凹部663では、順テーパ状の形状として、四角錐台状の形状を採用している。第3変形例のキャップ6eの形成方法では、まず、キャップ本体660をプレス成型により形成する。第3変形例のキャップ6eの形成方法では、その後、キャップ本体660に対して第2接合用金属層43を形成する。
図22は、実施形態4におけるキャップ6eの第4変形例を示す概略断面図である。第4変形例のキャップ6eは、ガラスにより形成されたカバー5とガラスにより形成されたスペーサ4とを接合することで形成されている。第4変形例のキャップ6eでは、第1変形例、第2変形例及び第3変形例と比べて、凹部663の内底面664を滑らかな表面とすることが可能となる。第4変形例のキャップ6eでは、キャップ6e全体が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されていてもよいし、カバー5のみが、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されていてもよい。
(実施形態5)
以下では、本実施形態の発光装置1fについて図23及び24に基づいて説明する。発光装置1fは、実施形態4の発光装置1eの実装基板2aの代わりに実装基板2dを備えている点が発光装置1eと相違する。なお、発光装置1fにおいて、発光装置1eと同様の構成要素については、発光装置1eと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1fは、発光装置1eのパッケージ7eの代わりに、キャップ6eと実装基板2dとで構成されるパッケージ7fを備えている。
実装基板2dは、多層基板である。実装基板2dは、第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25と、第1配線層28と、第2配線層29と、電気絶縁層253と、を備える。第1配線層28及び第2配線層29は、支持体20dの表面201側に配置されている。第1導体部21及び第1外部接続電極24は、第1配線層28上に配置されて第1配線層28と電気的に接続されている。第2導体部22及び第2外部接続電極25は、第2配線層29上に配置されて第2配線層29と電気的に接続されている。電気絶縁層253は、支持体20dの表面側で第1配線層28と第2配線層29とを覆うように配置されている。第1接合用金属層23は、電気絶縁層253上に配置されている。よって、発光装置1fは、配線基板600(図16参照)に実装基板2dの表面側の第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25を利用して実装することが可能となる。
実装基板2dは、電気絶縁層253からなる第1電気絶縁層とは別の第2電気絶縁層251を備える。支持体20dは、Siにより形成されている。第2電気絶縁層251は、支持体20dの表面201上に配置されている。第1配線層28及び第2配線層29は、第2電気絶縁層251上に配置されている。よって、発光装置1fは、放熱性を向上させることが可能となる。
実装基板2dは、第1接合用金属層23と電気絶縁層253との間に第1下地層254を介在させてあるのが好ましい。
実装基板2dは、支持体20dの裏面202に第4電気絶縁層252が形成されている。また、実装基板2dは、第4電気絶縁層252に第2下地層255を介して導体層256が積層されている。
第1電気絶縁層、第2電気絶縁層251、第3電気絶縁層及び第4電気絶縁層252の各々は、例えば、シリコン酸化膜により構成することができる。
第1下地層254及び第2下地層255の各々は、例えば、Al膜等により構成することができる。第1下地層254と第2下地層255とは、同じ材料により形成されていているが、互いに異なる材料により形成されていてもよい。
導体層256は、例えば、Ni膜とPd膜とAu膜との積層膜により構成することができる。
実施形態1〜5に記載した材料、数値等は、好ましい例を示しているだけであり、それに限定する主旨ではない。更に、本願発明は、その技術的思想の範囲を逸脱しない範囲で、構成に適宜変更を加えることが可能である。
例えば、発光装置1a、1b、1c、1d、1e及び1fは、紫外線発光素子3として紫外線LEDチップを採用しているが、これに限らず、紫外線発光素子3として、例えば、紫外線LD(laser diode)チップを採用してもよい。
また、発光装置1a、1b、1c及び1dでは、スペーサ本体40がSiにより形成されているが、スペーサ本体40がAlにより形成されていてもよい。
1a、1b、1c、1d、1e、1f 発光装置
2a、2b、2d 実装基板
3 紫外線発光素子
4 スペーサ
5 カバー
6a、6c、6e キャップ
8 空間
20a、20d 支持体
21 第1導体部
22 第2導体部
23 第1接合用金属層
24 第1外部接続電極
25 第2外部接続電極
26 第1貫通配線
27 第2貫通配線
28 第1配線層
29 第2配線層
31 第1電極
31B 第1パッド電極層
32 第2電極
32B 第2パッド電極層
36 突起構造部
40 スペーサ本体
41 貫通孔
42 対向面
43 第2接合用金属層
61 第1接合部
62 第2接合部
63 第3接合部
64 第4接合部
71 第1AuSn層
72 第2AuSn層
73 第3AuSn層
81 第1バリア層
82 第2バリア層
83 第3バリア層
201 表面
202 裏面
251 第2電気絶縁層
253 電気絶縁層(第1電気絶縁層)
421 外周縁
431 下地膜
432 Au膜
660 キャップ本体
661 表面
662 裏面
663 凹部
664 内底面
666 紫外線透過部

Claims (14)

  1. 実装基板と、前記実装基板に実装された紫外線発光素子と、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を収納する凹部が形成されたキャップと、を備え、
    前記実装基板は、支持体と、前記支持体に支持された第1導体部、第2導体部及び第1接合用金属層と、を備え、
    前記第1導体部及び前記第2導体部は、前記支持体の表面側において前記キャップの前記凹部の内底面に臨むように配置され、
    前記キャップは、表面及び裏面を有し前記裏面に前記凹部が形成されたキャップ本体と、前記キャップ本体の前記裏面における前記凹部の周部で前記第1接合用金属層に対向して配置された第2接合用金属層と、を備え、少なくとも、前記キャップ本体の前記表面と前記凹部の内底面との間の紫外線透過部が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、
    前記紫外線発光素子は、第1電極と、第2電極と、を備え、前記紫外線発光素子の厚さ方向の一面側に前記第1電極及び前記第2電極が配置されており、
    前記第1導体部と前記第2導体部と前記第1接合用金属層とは、前記支持体の表面側に同じ材料でかつ、同じ厚さで構成された積層膜であり、
    前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層それぞれにおける前記支持体から最も離れた最上層はAuにより形成され、
    前記第1電極と前記第1導体部との間に、AuSnにより形成された第1接合部が存在し
    前記第2電極と前記第2導体部との間に、AuSnにより形成された第2接合部が存在し
    前記第1接合用金属層と前記第2接合用金属層との間に、AuSnにより形成された第3接合部が存在している
    ことを特徴とする発光装置。
  2. 前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層と、前記第1接合部、前記第2接合部及び前記第3接合部との間にそれぞれ、第1バリア層、第2バリア層及び第3バリア層が形成されており、
    前記第1バリア層と前記第2バリア層と前記第3バリア層とは同じ材料でかつ、同じ厚さで形成されている、
    ことを特徴とする請求項1記載の発光装置。
  3. 前記第1電極は、最表面がAu膜の表面により構成されている第1パッド電極層を備え、
    前記第2電極は、最表面がAu膜の表面により構成されている第2パッド電極層を備え、
    前記第2接合用金属層は、下地膜とAu膜との積層膜により構成されている、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の発光装置。
  4. 前記第3接合部は、前記キャップ本体の前記裏面における外周縁の全周に沿って形成されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の発光装置。
  5. 前記実装基板と前記キャップとで囲まれた空間を不活性ガス雰囲気としてある、
    ことを特徴とする請求項4記載の発光装置。
  6. 前記キャップは、平面視において前記実装基板よりも小さい、
    ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の発光装置。
  7. 前記実装基板は、第1外部接続電極及び第2外部接続電極と、前記支持体の厚さ方向に貫通して形成された第1貫通配線及び第2貫通配線と、を備え、
    前記第1外部接続電極及び前記第2外部接続電極は、前記支持体の裏面に形成され、
    前記第1外部接続電極は、前記第1貫通配線を介して前記第1導体部と電気的に接続され、
    前記第2外部接続電極は、前記第2貫通配線を介して前記第2導体部と電気的に接続されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の発光装置。
  8. 前記支持体は、AlNセラミックにより形成されている、
    ことを特徴とする請求項7記載の発光装置。
  9. 前記実装基板は、多層基板であり、
    前記実装基板は、第1外部接続電極及び第2外部接続電極と、第1配線層と、第2配線層と、電気絶縁層と、を備え、
    前記第1配線層及び前記第2配線層は、前記支持体の前記表面側に配置され、
    前記第1導体部及び前記第1外部接続電極は、前記第1配線層上に配置されて前記第1配線層と電気的に接続され、
    前記第2導体部及び前記第2外部接続電極は、前記第2配線層上に配置されて前記第2配線層と電気的に接続され、
    前記電気絶縁層は、前記支持体の前記表面側で前記第1配線層と前記第2配線層とを覆うように配置され、
    前記第1接合用金属層は、前記電気絶縁層上に配置されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の発光装置。
  10. 前記実装基板は、前記電気絶縁層からなる第1電気絶縁層とは別の第2電気絶縁層を備え、
    前記支持体は、Siにより形成されており、
    前記第2電気絶縁層は、前記支持体の前記表面上に配置され、
    前記第1配線層及び前記第2配線層は、前記第2電気絶縁層上に配置されている、
    ことを特徴とする請求項9記載の発光装置。
  11. 前記キャップは、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を露出させる貫通孔が形成されたスペーサと、前記スペーサの前記貫通孔を塞ぐように前記スペーサ上に配置され前記スペーサに接合されたカバーと、を備え、前記カバーにおいて前記貫通孔により露出した面が前記凹部の内底面を構成しており、
    前記カバーは、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、
    前記スペーサは、Siにより形成されたスペーサ本体と、前記スペーサ本体における前記実装基板との対向面側で前記第1接合用金属層に対向して配置された前記第2接合用金属層と、を備える、
    ことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の発光装置。
  12. 前記キャップ本体の全体が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の発光装置。
  13. 実装基板と、前記実装基板に実装された紫外線発光素子と、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を収納する凹部が形成されたキャップと、を備え、
    前記実装基板は、支持体と、前記支持体に支持された第1導体部、第2導体部及び第1接合用金属層と、を備え、
    前記第1導体部及び前記第2導体部は、前記支持体の表面側において前記キャップの前記凹部の内底面に臨むように配置され、
    前記キャップは、表面及び裏面を有し前記裏面に前記凹部が形成されたキャップ本体と、前記キャップ本体の前記裏面における前記凹部の周部で前記第1接合用金属層に対向して配置された第2接合用金属層と、を備え、少なくとも、前記キャップ本体の前記表面と前記凹部の内底面との間の紫外線透過部が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、
    前記紫外線発光素子は、第1電極と、第2電極と、を備え、前記紫外線発光素子の厚さ方向の一面側に前記第1電極及び前記第2電極が配置されている、発光装置の製造方法であって、
    前記キャップを形成し、
    その後、前記紫外線発光素子の前記第1電極、前記第2電極及び前記キャップにおける前記第2接合用金属層と前記実装基板の前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層とをそれぞれ第1AuSn層、第2AuSn層及び第3AuSn層により接合するようにし、
    前記第1AuSn層、前記第2AuSn層及び前記第3AuSn層は、前記実装基板に対して同一工程で形成される、
    ことを特徴とする発光装置の製造方法。
  14. 前記紫外線発光素子の前記第1電極及び前記第2電極と前記実装基板の前記第1導体部及び前記第2導体部とをそれぞれ前記第1AuSn層及び前記第2AuSn層により接合する第1接合処理を行い、
    前記第1接合処理に引き続き、前記キャップの前記第2接合用金属層と前記実装基板の前記第1接合用金属層とを前記第3AuSn層により接合する第2接合処理を行うようにし、
    前記第1接合処理と前記第2接合処理とを、1台のボンディング装置のボンディング室で連続して行う、
    ことを特徴とする請求項13記載の発光装置の製造方法。
JP2015100175A 2014-12-26 2015-05-15 発光装置及びその製造方法 Active JP5866561B1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015100175A JP5866561B1 (ja) 2014-12-26 2015-05-15 発光装置及びその製造方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014264522 2014-12-26
JP2014264522 2014-12-26
JP2015100175A JP5866561B1 (ja) 2014-12-26 2015-05-15 発光装置及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP5866561B1 true JP5866561B1 (ja) 2016-02-17
JP2016127254A JP2016127254A (ja) 2016-07-11

Family

ID=55347045

Family Applications (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015100175A Active JP5866561B1 (ja) 2014-12-26 2015-05-15 発光装置及びその製造方法
JP2015100177A Active JP5877487B1 (ja) 2014-12-26 2015-05-15 発光装置
JP2016565868A Active JP6260919B2 (ja) 2014-12-26 2015-10-27 発光装置及びその製造方法

Family Applications After (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015100177A Active JP5877487B1 (ja) 2014-12-26 2015-05-15 発光装置
JP2016565868A Active JP6260919B2 (ja) 2014-12-26 2015-10-27 発光装置及びその製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9818923B2 (ja)
JP (3) JP5866561B1 (ja)
DE (1) DE112015005762B4 (ja)
TW (1) TWI689112B (ja)
WO (1) WO2016103547A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170118401A (ko) * 2016-04-15 2017-10-25 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 조명장치
US10082271B2 (en) 2016-06-29 2018-09-25 Nichia Corporation Laser light optical module utilizing reflective films for improved efficiency
US20220190208A1 (en) * 2020-12-16 2022-06-16 Creeled, Inc. Support structures for light emitting diode packages

Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015114010A1 (de) * 2015-08-24 2017-03-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement, Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements und Verfahren zum Betrieb eines optoelektronischen Bauelements
CN107195751B (zh) * 2016-03-14 2020-01-14 光宝光电(常州)有限公司 发光二极管封装结构
KR102536254B1 (ko) * 2016-03-22 2023-05-25 삼성디스플레이 주식회사 Led 칩 실장 장치 및 상기 led 칩 실장 장치를 이용한 표시 장치의 제조 방법
JP2017183356A (ja) * 2016-03-28 2017-10-05 旭化成株式会社 発光ダイオード及び装置
US10615314B2 (en) 2016-03-31 2020-04-07 Nichia Corporation Light-emitting device
JP6508189B2 (ja) * 2016-03-31 2019-05-08 日亜化学工業株式会社 発光装置
FR3050872B1 (fr) * 2016-04-27 2019-06-14 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Diode electroluminescente comprenant au moins une couche intermediaire de plus grand gap disposee dans au moins une couche barriere de la zone active
TWI735627B (zh) * 2016-07-28 2021-08-11 美商亮銳公司 具有反射側塗層之發光裝置封裝
US10193043B2 (en) 2016-07-28 2019-01-29 Lumileds Llc Light emitting device package with reflective side coating
JP6294417B2 (ja) * 2016-09-01 2018-03-14 日機装株式会社 光半導体装置および光半導体装置の製造方法
JP6431013B2 (ja) * 2016-09-21 2018-11-28 シャープ株式会社 窒化アルミニウム系半導体深紫外発光素子
US10467952B2 (en) * 2016-10-12 2019-11-05 Shaoher Pan Integrated light-emitting diode arrays for displays
JP6936574B2 (ja) * 2016-12-07 2021-09-15 日機装株式会社 光半導体装置
CN106941108B (zh) * 2017-05-23 2019-09-17 深圳市华星光电技术有限公司 微发光二极管显示面板及其制作方法
JP7408266B2 (ja) * 2017-06-14 2024-01-05 日亜化学工業株式会社 光源装置
KR102563840B1 (ko) 2017-06-22 2023-08-07 에이지씨 가부시키가이샤 창재, 광학 패키지
KR20200013705A (ko) * 2017-06-27 2020-02-07 엔지케이 인슐레이터 엘티디 투명 밀봉 부재 및 그 제조 방법
CN107464870A (zh) * 2017-07-27 2017-12-12 旭宇光电(深圳)股份有限公司 紫外发光二极管封装结构
CN107369755A (zh) * 2017-07-27 2017-11-21 旭宇光电(深圳)股份有限公司 紫外led封装结构
KR102390828B1 (ko) * 2017-08-14 2022-04-26 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 반도체 소자
WO2019038846A1 (ja) * 2017-08-23 2019-02-28 日本碍子株式会社 光学部品の製造方法及び透明封止部材の製造方法
TWI651872B (zh) * 2017-09-21 2019-02-21 張勝翔 一種紫外線發光二極體晶片封裝結構
KR102415343B1 (ko) * 2017-09-25 2022-06-30 엘지전자 주식회사 디스플레이 디바이스
JP7029691B2 (ja) * 2017-09-25 2022-03-04 パナソニックIpマネジメント株式会社 パッケージ用カバー部材、電子デバイス、及びパッケージ用カバー部材の製造方法
JP7007560B2 (ja) * 2017-09-28 2022-01-24 日亜化学工業株式会社 光源装置
WO2019073853A1 (ja) * 2017-10-10 2019-04-18 ローム株式会社 光学装置、システム
JP2019102631A (ja) * 2017-12-01 2019-06-24 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置及び半導体発光装置の製造方法
DE102018106959A1 (de) 2018-03-23 2019-09-26 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches bauelement und verfahren zur herstellung eines optoelektronischen bauelements
KR102546556B1 (ko) * 2018-05-28 2023-06-22 엘지이노텍 주식회사 반도체 소자 패키지 및 이를 포함하는 광조사장치
JP7149563B2 (ja) * 2018-06-12 2022-10-07 パナソニックIpマネジメント株式会社 発光装置
CN112470295A (zh) 2018-07-27 2021-03-09 Agc株式会社 光学封装体
JP6784317B2 (ja) 2018-10-15 2020-11-11 三菱マテリアル株式会社 パッケージ用蓋材及びパッケージの製造方法
WO2020090610A1 (ja) 2018-10-29 2020-05-07 三菱マテリアル株式会社 パッケージ用蓋材の製造方法およびパッケージの製造方法
JP7200721B2 (ja) * 2019-02-07 2023-01-10 株式会社リコー 面発光レーザモジュール、光源装置、検出装置
DE202019103035U1 (de) 2019-05-29 2019-07-31 CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH Lichtemittierende Baueinheit
EP3796489B1 (en) 2019-09-20 2022-04-27 Nichia Corporation Light source device and method of manufacturing the same
US10847083B1 (en) 2019-10-14 2020-11-24 Shaoher Pan Integrated active-matrix light emitting pixel arrays based devices by laser-assisted bonding
US11011669B2 (en) 2019-10-14 2021-05-18 Shaoher Pan Integrated active-matrix light emitting pixel arrays based devices
TWI730460B (zh) * 2019-10-18 2021-06-11 進化光學有限公司 高出光效率的背接觸式全彩led顯示面板及其製造方法
JP7117684B2 (ja) * 2020-01-31 2022-08-15 日亜化学工業株式会社 面状光源の製造方法
JP7421380B2 (ja) 2020-03-16 2024-01-24 セイコーインスツル株式会社 ステッピングモータ制御装置、ムーブメント、時計及びステッピングモータ制御方法
JP2021163950A (ja) * 2020-04-03 2021-10-11 Dowaエレクトロニクス株式会社 光半導体パッケージの製造方法及び光半導体パッケージ
WO2021246389A1 (ja) 2020-06-03 2021-12-09 日亜化学工業株式会社 面状光源及びその製造方法
JP7293574B2 (ja) * 2020-06-03 2023-06-20 日亜化学工業株式会社 面状光源及びその製造方法
JP7460453B2 (ja) * 2020-06-08 2024-04-02 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置
JP7455003B2 (ja) 2020-06-09 2024-03-25 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置、および、水殺菌装置
JP7438858B2 (ja) * 2020-06-15 2024-02-27 新光電気工業株式会社 発光装置
JP2022021921A (ja) 2020-07-22 2022-02-03 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置
JP2022077578A (ja) 2020-11-12 2022-05-24 信越化学工業株式会社 封止用接合材及び光学素子パッケージ用リッド
KR20230012024A (ko) * 2020-12-25 2023-01-25 쿠어스택 가부시키가이샤 실리카 부재 및 led 장치
JP7398036B2 (ja) 2021-06-23 2023-12-14 日亜化学工業株式会社 発光モジュール及びその製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008021987A (ja) * 2006-06-16 2008-01-31 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法及び基板
JP2009206215A (ja) * 2008-02-26 2009-09-10 Panasonic Electric Works Co Ltd 発光装置の製造方法
JP2011040577A (ja) * 2009-08-11 2011-02-24 Citizen Electronics Co Ltd 発光装置の製造方法
JP2012515441A (ja) * 2009-01-15 2012-07-05 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング オプトエレクトロニクス素子の製造方法およびオプトエレクトロニクス素子

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1575089B1 (en) * 2004-03-09 2007-11-14 Infineon Technologies AG Highly reliable, cost effective and thermally enhanced AuSn die-attach technology
JP2006237141A (ja) * 2005-02-23 2006-09-07 Stanley Electric Co Ltd サブマウント型led
KR100593935B1 (ko) 2005-03-24 2006-06-30 삼성전기주식회사 발광 다이오드 패키지 및 그 제조 방법
JP2007019053A (ja) * 2005-07-05 2007-01-25 Hitachi Ltd ウェハ上で実装および封止を行う光モジュール
JP2007189031A (ja) 2006-01-12 2007-07-26 Allied Material Corp 半導体素子搭載用部材とそれを用いた半導体装置および発光ダイオード
US8044412B2 (en) * 2006-01-20 2011-10-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd Package for a light emitting element
JP2007317787A (ja) 2006-05-24 2007-12-06 Citizen Electronics Co Ltd 発光装置およびその製造方法
JP4871694B2 (ja) 2006-10-06 2012-02-08 日立アプライアンス株式会社 発光ダイオードパッケージ
JP5243806B2 (ja) * 2008-01-28 2013-07-24 パナソニック株式会社 紫外光発光装置
US7932529B2 (en) * 2008-08-28 2011-04-26 Visera Technologies Company Limited Light-emitting diode device and method for fabricating the same
US7807484B2 (en) * 2008-10-15 2010-10-05 Visera Technologies Company Limited Light-emitting diode device and method for fabricating the same
JP2010129698A (ja) 2008-11-26 2010-06-10 Toshiba Corp 発光装置、バックライト、および液晶表示装置
JP2011124449A (ja) 2009-12-11 2011-06-23 Seiko Instruments Inc 発光部品、発光器及び発光部品の製造方法
JP2011192845A (ja) 2010-03-15 2011-09-29 Seiko Instruments Inc 発光部品、発光器及び発光部品の製造方法
JP2012059954A (ja) * 2010-09-09 2012-03-22 Fujifilm Corp 光電変換素子用シリコン基板及び光電変換素子の製造方法。
JP5968674B2 (ja) * 2011-05-13 2016-08-10 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 発光素子パッケージ及びこれを備える紫外線ランプ
WO2014118838A1 (ja) 2013-01-29 2014-08-07 パナソニック株式会社 紫外線発光装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008021987A (ja) * 2006-06-16 2008-01-31 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法及び基板
JP2009206215A (ja) * 2008-02-26 2009-09-10 Panasonic Electric Works Co Ltd 発光装置の製造方法
JP2012515441A (ja) * 2009-01-15 2012-07-05 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング オプトエレクトロニクス素子の製造方法およびオプトエレクトロニクス素子
JP2011040577A (ja) * 2009-08-11 2011-02-24 Citizen Electronics Co Ltd 発光装置の製造方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170118401A (ko) * 2016-04-15 2017-10-25 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 조명장치
KR102564223B1 (ko) * 2016-04-15 2023-08-07 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광소자 및 조명장치
US10082271B2 (en) 2016-06-29 2018-09-25 Nichia Corporation Laser light optical module utilizing reflective films for improved efficiency
US20220190208A1 (en) * 2020-12-16 2022-06-16 Creeled, Inc. Support structures for light emitting diode packages
US11791441B2 (en) * 2020-12-16 2023-10-17 Creeled, Inc. Support structures for light emitting diode packages

Also Published As

Publication number Publication date
DE112015005762T5 (de) 2017-10-05
JP2016127254A (ja) 2016-07-11
JP5877487B1 (ja) 2016-03-08
TWI689112B (zh) 2020-03-21
JP6260919B2 (ja) 2018-01-17
JPWO2016103547A1 (ja) 2017-06-08
WO2016103547A1 (ja) 2016-06-30
TW201635594A (zh) 2016-10-01
DE112015005762B4 (de) 2021-03-18
US20170279019A1 (en) 2017-09-28
JP2016127255A (ja) 2016-07-11
US9818923B2 (en) 2017-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5866561B1 (ja) 発光装置及びその製造方法
US11978725B2 (en) Light-emitting device, integrated light-emitting device, and light-emitting module
US10510930B2 (en) Light emitting device
AU2016238924B2 (en) Light-emitting device, integrated light-emitting device, and light-emitting module
WO2018043096A1 (ja) 光半導体装置および光半導体装置の製造方法
JP5838357B1 (ja) 発光装置及びその製造方法
JP6294418B2 (ja) 光半導体装置および光半導体装置の製造方法
JP6048880B2 (ja) 発光素子用パッケージ及びそれを用いた発光装置
JP2018037581A (ja) 光半導体装置および光半導体装置の製造方法
JP2016219505A (ja) 発光装置
JP6361293B2 (ja) 半導体レーザ装置
CN106972013A (zh) 用于紫外发射装置的封装
JP2018018918A (ja) 発光装置
JP2016127156A (ja) 発光装置
JP6737760B2 (ja) 発光装置及びそれに用いる蓋体
JP2016219504A (ja) 発光装置
JP6431603B2 (ja) インタポーザ
JP2016129215A (ja) 発光装置
JP2017059617A (ja) 発光装置
JP7252820B2 (ja) 半導体発光装置及びその製造方法
KR20140026154A (ko) 반도체 소자 구조물을 제조하는 방법

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151006

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5866561

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151