JP6260919B2 - 発光装置及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、発光装置及びその製造方法に関する。
従来、放熱特性が優れた薄型の発光装置としては、例えば、サブマウント基板と、サブマウント基板に実装されたLED素子と、キャビティを有するスペーサと、光学素子と、を備えたLEDパッケージが提案されている(文献1[日本国特許出願公開番号2006−270046])。
光学素子は、例えば、ガラス板からなる。
LEDパッケージは、LED素子の各電極に形成されたソルダバンプを通してLED素子が電極パターンにフリップチップボンディングされている。
スペーサは、例えば、シリコン基板から作られており、接着シートによりサブマウント基板に接合されている。光学素子は、例えば、ガラス板からなり、接着シートによりスペーサの上面に接合されている。
また、発光装置の製造方法としては、LED素子を無機材質基板にフリップチップ実装した後、波長変換層被覆工程を経てから、無機材質基板とガラス蓋を接合する工程を行うようにした発光装置の製造方法が知られている(文献2[日本国特許出願公開番号2011−40577])。
無機材質基板には、LED素子をフリップチップ実装するためのAuSn電極、ガラス蓋を接着するための溶着下地層としてのAu層を形成してある。
発光装置の分野においては、信頼性の向上及び低コスト化が望まれている。
本発明の目的は、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能な発光装置及びその製造方法を提供することにある。
本発明に係る一態様の発光装置は、実装基板と、前記実装基板に実装された紫外線発光素子と、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を収納する凹部が形成されたキャップと、を備える。前記実装基板は、支持体と、前記支持体に支持された第1導体部、第2導体部及び第1接合用金属層と、を備える。前記第1導体部及び前記第2導体部は、前記支持体の表面側において前記キャップの前記凹部の内底面に臨むように配置されている。前記キャップは、表面及び裏面を有し前記裏面に前記凹部が形成されたキャップ本体と、前記キャップ本体の前記裏面における前記凹部の周部で前記第1接合用金属層に対向して配置された第2接合用金属層と、を備える。前記キャップは、少なくとも、前記キャップ本体の前記表面と前記凹部の内底面との間の部分が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。前記紫外線発光素子は、第1電極と、第2電極と、を備え、前記紫外線発光素子の厚さ方向の一面側に前記第1電極及び前記第2電極が配置されている。前記第1導体部と前記第2導体部と前記第1接合用金属層とは、前記支持体の表面側で同じ積層膜から構成されている。前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層それぞれにおける前記支持体から最も離れた最上層はAuにより形成されている。発光装置は、前記第1電極と前記第1導体部とが、AuSnにより形成された第1接合部により接合され、前記第2電極と前記第2導体部とが、AuSnにより形成された第2接合部により接合されている。発光装置は、前記第1接合用金属層と前記第2接合用金属層とが、AuSnにより形成された第3接合部により接合されている。
本発明に係る一態様の発光装置の製造方法は、以下の構成を備える発光装置の製造方法である。
発光装置は、実装基板と、前記実装基板に実装された紫外線発光素子と、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を収納する凹部が形成されたキャップと、を備える。前記実装基板は、支持体と、前記支持体に支持された第1導体部、第2導体部及び第1接合用金属層と、を備える。前記第1導体部及び前記第2導体部は、前記支持体の表面側において前記キャップの前記凹部の内底面に臨むように配置されている。前記キャップは、表面及び裏面を有し前記裏面に前記凹部が形成されたキャップ本体と、前記キャップ本体の前記裏面における前記凹部の周部で前記第1接合用金属層に対向して配置された第2接合用金属層と、を備える。前記キャップは、少なくとも、前記キャップ本体の前記表面と前記凹部の内底面との間の紫外線透過部が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。前記紫外線発光素子は、第1電極と、第2電極と、を備え、前記紫外線発光素子の厚さ方向の一面側に前記第1電極及び前記第2電極が配置されている。
発光装置の製造方法では、前記キャップを形成する。発光装置の製造方法では、その後、前記紫外線発光素子の前記第1電極、前記第2電極及び前記キャップにおける前記第2接合用金属層と前記実装基板の前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層とをそれぞれ第1AuSn層、第2AuSn層及び第3AuSn層により接合する。前記第1AuSn層、前記第2AuSn層及び前記第3AuSn層は、前記実装基板に対して同一工程で一括形成される。
図1は、実施形態1の発光装置を示す概略断面図である。 図2は、実施形態1の発光装置を示す概略平面図である。 図3は、実施形態1の発光装置を示す概略側面図である。 図4は、実施形態1の発光装置を示す概略下面図である。 図5は、実施形態1の発光装置を配線基板に実装した状態の概略側面図である。 図6は、実施形態1の発光装置における紫外線発光素子の概略断面図である。 図7Aは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。図7Bは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。図7Cは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。図7Dは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。図7Eは、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程平面図である。 図8は、実施形態1の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図9は、殺菌効果曲線である。 図10は、実施形態1の発光装置の変形例を示す概略平面図である。 図11Aは、Si基板を用いた評価用サンプルに入射角5°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図11Bは、Si基板を用いた評価用サンプルに入射角15°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図11Cは、Si基板を用いた評価用サンプルに入射角25°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図11Dは、Si基板を用いた評価用サンプルに入射角35°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図11Eは、Si基板を用いた評価用サンプルに入射角45°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図11Fは、Si基板を用いた評価用サンプルに入射角55°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。 図12Aは、Al基板に入射角15°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図12Bは、Al基板に入射角25°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図12Cは、Al基板に入射角35°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図12Dは、Al基板に入射角45°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。図12Eは、Al基板に入射角55°で入射する光の波長と反射率との関係説明図である。 図13は、実施形態2の発光装置を示す概略断面図である。 図14は、実施形態2の発光装置の製造方法を説明する主要工程断面図である。 図15は、実施形態3の発光装置を示す概略断面図である。 図16は、実施形態3の発光装置を示す概略平面図である。 図17は、実施形態3の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図18は、実施形態3の発光装置を配線基板に実装した状態の概略側面図である。 図19は、実施形態4の発光装置を示す概略断面図である。 図20は、実施形態4の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図21は、実施形態4におけるキャップの第1変形例を示す概略断面図である。 図22は、実施形態4におけるキャップの第2変形例を示す概略断面図である。 図23は、実施形態4におけるキャップの第3変形例を示す概略断面図である。 図24は、実施形態4におけるキャップの第4変形例を示す概略断面図である。 図25は、実施形態5の発光装置を示す概略断面図である。 図26は、実施形態5の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図27は、実施形態6の発光装置を示す概略断面図である。 図28は、実施形態6の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図29は、キャップについてSEM(scanning electron microscope)による断面観察を行った結果及びEDX(energy dispersive x-ray spectroscopy)による組成分析を行った結果の説明図である。 図30は、第1例の発光装置を示す概略断面図である。 図31は、第1例の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図32は、第2例の発光装置を示す概略断面図である。 図33は、第2例の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。 図34は、実施形態7の発光装置を示す概略断面図である。 図35Aは、実施形態7の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。図35Bは、実施形態7の発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。
下記の実施形態1〜7において説明する各図は、模式的な図であり、各構成要素の大きさや厚さそれぞれの比が、必ずしも実際の寸法比を反映しているとは限らない。
(実施形態1)
以下では、本実施形態の発光装置1aについて、図1〜8に基づいて説明する。なお、図1は、図2のX−X断面に対応する模式的な概略断面図である。
発光装置1aは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を露出させる貫通孔41が形成されたスペーサ4と、スペーサ4の貫通孔41を塞ぐようにスペーサ4上に配置されたカバー5と、を備える。実装基板2aは、支持体20aと、支持体20aに支持された第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、を備える。第1導体部21及び第2導体部22は、支持体20aの表面201側において貫通孔41により露出するように配置されている。スペーサ4は、Siにより形成されたスペーサ本体40と、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42側で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。カバー5は、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。発光装置1aでは、スペーサ4とカバー5とが接合されている。紫外線発光素子3は、第1電極31と、第2電極32と、を備え、紫外線発光素子3の厚さ方向の一面側に第1電極31及び第2電極32が配置されている。発光装置1aは、第1電極31と第1導体部21とが、AuSnにより形成された第1接合部61により接合され、第2電極32と第2導体部22とが、AuSnにより形成された第2接合部62により接合されている。発光装置1aは、スペーサ4の第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とが、AuSnにより形成された第3接合部63により接合されている。以上説明した構成の発光装置1aでは、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。発光装置1aでは、第1電極31と第1導体部21との間に、AuSnにより形成され第1電極31と第1導体部21とを接合している第1接合部61が存在し、AuSnにより形成され第2電極32と第2導体部22との間に、第2電極32と第2導体部22とを接合している第2接合部62が存在している。また、発光装置1aでは、第2接合用金属層43と第1接合用金属層23との間に、AuSnにより形成され第2接合用金属層43と第1接合用金属層23とを接合している第3接合部63が存在している。
発光装置1aは、スペーサ4とカバー5とで、紫外線発光素子3を覆うキャップ6aを構成している。キャップ6aには、紫外線発光素子3を収納する凹部663が形成されている。したがって、見方を変えれば、発光装置1aは、下記の構成を備える。
発光装置1aは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を収納する凹部663が形成されたキャップ6aと、を備える。実装基板2aは、支持体20aと、支持体20aに支持された第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、を備える。第1導体部21及び第2導体部22は、支持体20aの表面201側においてキャップ6aの凹部663の内底面664に臨むように配置されている。キャップ6aは、表面661及び裏面662を有し裏面662に凹部663が形成されたキャップ本体660と、キャップ本体660の裏面662における凹部663の周部で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。キャップ6aは、少なくとも、キャップ本体660の表面661と凹部663の内底面664との間の紫外線透過部666が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。紫外線発光素子3は、第1電極31と、第2電極32と、を備え、紫外線発光素子3の厚さ方向の一面側に第1電極31及び第2電極32が配置されている。第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とは、支持体20aの表面201側に同じ材料でかつ、同じ厚さで構成された積層膜である(言い換えれば、第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とは、支持体20aの表面201側で同じ積層膜から構成されている)。第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23それぞれにおける支持体20aから最も離れた最上層はAuにより形成されている。発光装置1aは、第1電極31と第1導体部21とが、AuSnにより形成された第1接合部61により接合され、第2電極32と第2導体部22とが、AuSnにより形成された第2接合部62により接合されている。発光装置1aは、第1接合用金属層23と第2接合用金属層43とが、AuSnにより形成された第3接合部63により接合されている。以上説明した構成の発光装置1aでは、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
キャップ6aは、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を露出させる貫通孔41が形成されたスペーサ4と、スペーサ4の貫通孔41を塞ぐようにスペーサ4上に配置されておりスペーサ4に接合されているカバー5と、を備える。キャップ6aは、カバー5において貫通孔41により露出した面が凹部663の内底面664を構成している。カバー5は、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。スペーサ4は、Siにより形成されたスペーサ本体40と、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42側で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。よって、発光装置1aでは、紫外線発光素子3から凹部663の内底面664へ向かって放射される紫外線がカバー5を透過しやすく、かつ、紫外線発光素子3から凹部663の内側面665へ向かって放射される紫外線がスペーサ4で反射されやすくなる。これにより、発光装置1aでは、紫外線発光素子3から放射された紫外線をキャップ6aの表面661から効率良く出射させることが可能となる。また、発光装置1aでは、キャップ6aが、無機材料により形成されている。
発光装置1aは、第3接合部63(図1、3参照)が、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42における外周縁421の全周に沿って形成されているのが好ましい。言い換えれば、第3接合部63は、キャップ本体660の裏面662における外周縁の全周に沿って形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、外気、水分等が紫外線発光素子3、第1導体部21及び第2導体部22に到達するのを抑制することが可能となり、信頼性の向上を図ることが可能となる。
また、発光装置1aは、実装基板2aとスペーサ4とカバー5とで、紫外線発光素子3を収納するパッケージ7aを構成している。発光装置1aは、上述のように第3接合部63が、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42における外周縁421の全周に沿って形成されていることにより、紫外線発光素子3を気密封止することが可能となる。
発光装置1aの各構成要素については、以下に詳細に説明する。
実装基板2aは、紫外線発光素子3を実装する基板である。「実装する」とは、紫外線発光素子3を配置して機械的に接続すること及び電気的に接続することを含む概念である。
実装基板2aは、一例として、1個の紫外線発光素子3を実装できるように構成されている。
実装基板2aは、平面視において紫外線発光素子3よりも大きい。
支持体20aは、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23を支持する機能を有する。また、支持体20aは、第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とを電気的に絶縁する機能を有する。また、支持体20aは、紫外線発光素子3で発生する熱を効率良く外部に伝えるためのヒートシンク(heat sink)としての機能を備えているのが好ましい。
実装基板2aは、支持体20aが平板状に形成されており、支持体20aの厚さ方向に直交する表面201上に第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23が形成されている。
支持体20aの外周形状は、矩形(直角四辺形)状としてある。支持体20aの外周形状は、矩形状に限らず、例えば、矩形以外の多角形状や、円形状等でもよい。
第1導体部21は、紫外線発光素子3の第1電極31が電気的に接続される導電層である。第2導体部22は、紫外線発光素子3の第2電極32が電気的に接続される導電層である。
第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23の各々は、例えば、Ti膜とPt膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23の各々は、例えば、Al膜とNi膜とPd膜とAu膜との積層膜、Ni膜とAu膜との積層膜、Cu膜とNi膜とAu膜との積層膜等により構成してもよい。第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23の各々は、積層膜により構成する場合、支持体20aから最も離れた最上層がAuにより形成され、支持体20aに最も近い最下層が支持体20aとの密着性の高い材料により形成されているのが好ましい。第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23は、積層膜に限らず、単層膜により構成してもよい。
実装基板2aは、第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とが空間的に分離されるように、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23が配置されている。実装基板2aは、第1導体部21と第2導体部22との間に溝203が形成されている。溝203の内面は、支持体20aの表面201の一部と、第1導体部21及び第2導体部22の互いの対向面と、で構成される。実装基板2aは、第1導体部21と第2導体部22と第1接合用金属層23とが、支持体20aの表面201上に同じ厚さで形成されている。これにより、実装基板2aは、第1導体部21の表面211と第2導体部22の表面212と第1接合用金属層23の表面231(図8参照)とが一平面上に揃うように構成されている。
実装基板2aは、第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25と、支持体20aの厚さ方向に貫通して形成された第1貫通配線26及び第2貫通配線27と、を備える。第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25は、支持体20aの裏面202に形成されている。第1外部接続電極24は、第1貫通配線26を介して第1導体部21と電気的に接続されている。第2外部接続電極25は、第2貫通配線27を介して第2導体部22と電気的に接続されている。よって、発光装置1aは、例えば、図5に示すように、配線基板10aに表面実装することが可能となる。
配線基板10aは、マザー基板である。配線基板10aは、例えば、金属ベースプリント配線板により形成することができる。この場合、配線基板10aは、例えば、金属板111と、金属板111上に形成されたAu層112と、Au層112上に形成された絶縁樹脂層113と、絶縁樹脂層113上に形成された第1配線部114及び第2配線部115と、を備えるのが好ましい。金属板111は、Cu板により構成してあるが、これに限らず、例えば、Al板により構成してもよい。発光装置1aと配線基板10aとを備えた紫外線LEDモジュールでは、第1外部接続電極24がはんだからなる第5接合部104により第1配線部114と接合され電気的に接続されている。また、紫外線LEDモジュールでは、第2外部接続電極25がはんだからなる第6接合部105により第2配線部115と接合され電気的に接続されている。要するに、紫外線LEDモジュールでは、発光装置1aが配線基板10aに2次実装されている。発光装置1aは、第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63の各々がAuSnにより形成されているので、AuSn以外の鉛フリーはんだの一種であるSnCuAgにより形成されている場合に比べて、耐熱性の向上が可能となる。これにより、発光装置1aは、例えば、配線基板10a等に2次実装する際に第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63が再溶融するのを抑制することが可能となる。紫外線LEDモジュールでは、平面視において配線基板10aが発光装置1aよりも大きいのが好ましい。これにより、紫外線LEDモジュールは、放熱性を、より向上させることが可能となる。
配線基板10aは、第1配線部114及び第2配線部115の各々において発光装置1aに重ならない領域を覆うレジスト層116を備えているのが好ましい。レジスト層116の材料としては、例えば、白色レジストを採用することができる。白色レジストとしては、例えば、白色顔料を含有した樹脂を挙げることができる。白色顔料としては、例えば、硫酸バリウム(BaSO)、二酸化チタン(TiO)等が挙げられる。樹脂としては、例えば、シリコーン樹脂等が挙げられる。白色レジストとしては、例えば、株式会社朝日ラバーのシリコーン製の白色レジスト材である“ASA COLOR(登録商標) RESIST INK”等を採用することができる。レジスト層116は、例えば、塗布法により形成することができる。
第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25の各々は、例えば、Ti膜とPt膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第1導体部21及び第2導体部22の各々は、例えば、Al膜とNi膜とPd膜とAu膜との積層膜、Ni膜とAu膜との積層膜、Cu膜とNi膜とAu膜との積層膜等により構成してもよい。第1導体部21及び第2導体部22の各々は、積層膜により構成する場合、支持体20aから最も離れた最上層がAuにより形成され、支持体20aに最も近い最下層が支持体20aとの密着性の高い材料により形成されているのが好ましい。第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25は、積層膜に限らず、単層膜により構成してもよい。
第1貫通配線26及び第2貫通配線27は、例えば、W、Cu等により形成することができる。第1貫通配線26及び第2貫通配線27は、紫外線発光素子3の厚さ方向において紫外線発光素子3に重ならないように配置されているのが好ましい。
支持体20aは、AlNセラミックにより形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、支持体20aが樹脂基板により構成されている場合に比べて、紫外線発光素子3で発生した熱を支持体20aから効率良く放熱させることが可能となる。よって、発光装置1aは、放熱性を向上させることが可能となる。AlNセラミックは、電気絶縁性を有するが、熱伝導率が比較的高く、Siよりも熱伝導率が高い。
紫外線発光素子3は、紫外線LEDチップである。紫外線発光素子3のチップサイズ(chip size)は、400μm□(400μm×400μm)に設定してあるが、これに限らない。紫外線発光素子3のチップサイズは、例えば、200μm□(200μm×200μm)〜1mm□(1mm×1mm)程度の範囲で適宜設定することができる。また、紫外線発光素子3の平面形状は、正方形状に限らず、例えば、長方形状等でもよい。
紫外線発光素子3は、実装基板2aにフリップチップ実装されている。
紫外線発光素子3は、図6に示すように、基板30を備え、基板30の第1面301側において、第1面301に近い側から順に、第1導電型半導体層33、第2導電型半導体層35が形成されている。要するに、紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33及び第2導電型半導体層35を有する半導体多層膜39を備えている。紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33がn型半導体層により構成され、第2導電型半導体層35がp型半導体層により構成されている。紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33がp型半導体層により構成され、第2導電型半導体層35がn型半導体層により構成されていてもよい。
基板30は、半導体多層膜39を支持する機能を備える。半導体多層膜39は、例えば、エピタキシャル成長法により形成することができる。エピタキシャル成長法は、例えば、MOVPE(metal organic vapor phase epitaxy)法、HVPE(hydride vapor phase epitaxy)法、MBE(molecular beam epitaxy)法等の結晶成長法を採用できる。なお、半導体多層膜39は、この半導体多層膜39を形成する際に不可避的に混入される水素、炭素、酸素、シリコン、鉄等の不純物が存在してもよい。基板30は、半導体多層膜39を形成する際の結晶成長用基板により構成することができる。
紫外線発光素子3は、AlGaN系紫外線LEDチップにより構成する場合、基板30がサファイア基板により構成されているのが好ましい。基板30は、半導体多層膜39から放射される紫外線を効率良く透過できる材料により形成された基板であればよく、サファイア基板に限らず、例えば、単結晶AlN基板等を採用することもできる。基板30は、半導体多層膜39から放射される紫外線に対して透明であるのが好ましい。紫外線発光素子3は、基板30の第1面301とは反対の第2面302が光取り出し面を構成しているのが好ましい。紫外線発光素子3は、半導体多層膜39が、基板30と第1導電型半導体層33との間にバッファ層(buffer layer)を備えているのが好ましい。バッファ層は、例えば、AlN層により構成されているのが好ましい。
半導体多層膜39が、第1導電型半導体層33と第2導電型半導体層35との間に発光層34を備えているのが好ましい。この場合、半導体多層膜39から放射される紫外線は、発光層34から放射される紫外線であり、発光層34の材料により発光ピーク波長が規定される。紫外線発光素子3は、発光層34が、単一量子井戸構造、多重量子井戸構造等を有するのが好ましいが、これに限らない。例えば、紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33と発光層34と第2導電型半導体層35とでダブルヘテロ構造(double heterostructure)を構成するようにしてもよい。
第1導電型半導体層33は、例えば、n型AlGaN層により構成することができる。第1導電型半導体層33は、単層構造に限らず多層構造でもよい。
第2導電型半導体層35は、単層構造に限らず、多層構造でもよい。第2導電型半導体層35は、例えば、p型電子ブロック層とp型半導体層とp型コンタクト層とで構成される多層構造とすることができる。この場合、p型半導体層は、発光層34へ正孔を輸送するための層である。p型電子ブロック層は、発光層34で正孔と再結合されなかった電子がp型半導体層側へ漏れる(オーバーフローする)のを抑制するための層である。p型電子ブロック層は、p型半導体層及び発光層34よりもバンドギャップエネルギが高くなるように組成を設定するのが好ましい。p型コンタクト層は、第2電極32との接触抵抗を下げ、第2電極32との良好なオーミック接触を得るために設ける層である。p型電子ブロック層及びp型半導体層は、例えば、互いに組成の異なるAlGaN層により構成することができる。また、p型コンタクト層は、例えば、p型GaN層により構成することができる。
紫外線発光素子3は、半導体多層膜39の一部を、半導体多層膜39の表面391側から第1導電型半導体層33の途中までエッチングすることで除去してある。要するに、紫外線発光素子3は、半導体多層膜39の一部をエッチングすることで形成されたメサ構造(mesa structure)37を有している。これにより、紫外線発光素子3は、第2導電型半導体層35の表面351と第1導電型半導体層33の表面331との間に段差が形成されている。紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33の露出した表面331上に第1電極31が形成され、第2導電型半導体層35の表面351上に第2電極32が形成されている。紫外線発光素子3は、第1導電型半導体層33の導電型(第1導電型)がn型であり、第2導電型半導体層35の導電型(第2導電型)がp型である場合、第1電極31、第2電極32が、負電極、正電極を、それぞれ構成する。また、紫外線発光素子3は、第1導電型がp型であり、第2導電型がn型である場合、第1電極31、第2電極32が、正電極、負電極を、それぞれ構成する。
紫外線発光素子3は、第2導電型半導体層35の表面351の面積が、第1導電型半導体層33の露出させた表面331の面積よりも大きいほうが好ましい。これにより、紫外線発光素子3は、第2導電型半導体層35と第1導電型半導体層33とが互いの厚さ方向において重なる領域を広くすることが可能となり、発光効率の向上を図ることが可能となる。
発光装置1aは、紫外線発光素子3が突起構造部36を備えるのが好ましい。突起構造部36は、紫外線発光素子3の第2導電型半導体層35の表面351側から第2導体部22の表面212側へ突出して第2導体部22の表面212に接するのが好ましい。また、突起構造部36は、第2電極32の外周に沿って位置するのが好ましい。そして、第2接合部62は、図1に示すように、第2電極32と突起構造部36と第2導体部22とで囲まれた空間9(図1参照)を満たすように形成されているのが好ましい。突起構造部36は、平面視において、第2電極32の外周に沿って配置され、第2接合部62を囲んでいる。実装基板2aは、平面視において突起構造部36が重なる部分が、第2導体部22において第2接合部62と接合される部位と同じ高さ又はそれより低い高さとなっているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、第1接合部61及び第2接合部62それぞれをより薄くすることが可能となり、かつ、第1接合部61及び第2接合部62それぞれと第1導体部21及び第2導体部22それぞれとの接合面積をより大きくすることが可能となる。よって、発光装置1aは、紫外線発光素子3と実装基板2aとの間の熱抵抗の低減を図ることが可能となる。更に、発光装置1aは、突起構造部36による第2接合部62の厚さ管理が可能なため、第2接合部62の厚さ及びサイズの精度を高めることが可能となり、熱抵抗の低減及び熱抵抗のばらつきを小さくすることが可能となる。「突起構造部36による第2接合部62の厚さ管理が可能」とは、紫外線発光素子3の厚さ方向に沿った突起構造部36の突出量H1(図6参照)により、第2接合部62の厚さを規定できることを意味する。したがって、発光装置1aは、その製品ごとの熱抵抗のばらつきを小さくすることが可能となる。これにより、発光装置1aは、放熱性の向上及び信頼性の向上を図ることが可能となる。「突起構造部36は、平面視において」とは、紫外線発光素子3の厚さ方向に沿った突起構造部36の厚さ方向から突起構造部36を見た形状において、を意味する。
紫外線発光素子3は、突起構造部36が、第2電極32の外周に沿って形成され、第2導電型半導体層35の表面351側で突出しているのが好ましい。
紫外線発光素子3は、第2電極32が第1電極31よりも大きく、突起構造部36が、第2電極32の外周の全周に亘って形成されていることが好ましい。これにより、発光装置1aは、製造時に、第2接合部62を形成するAuSnによる第2電極32と第1電極31との短絡が発生するのを、より抑制することが可能となる。しかも、発光装置1aは、紫外線発光素子3を実装基板2aに実装するときに、第2接合部62の形状の再現性を高めることが可能となり、熱抵抗のばらつきを低減することが可能となる。また、発光装置1aは、第1接合部61の厚さの影響を受けずに、突起構造部36による第2接合部62の厚さ管理が可能である。よって、発光装置1aは、放熱面積の大きい第2電極32と第2導体部22とを接合する第2接合部62の厚さ及びサイズの精度を高めることが可能となる。これにより、発光装置1aは、熱抵抗の低減及び熱抵抗のばらつきの低減を図ることが可能となる。
突起構造部36は、第2電極32の外周に沿って形成され幅W1(図6参照)が一定であるのが好ましい。これにより、発光装置1aは、第2電極32と第2導電型半導体層35との接触面積を大きくしつつ、第2電極32と第1電極31とのはんだによる短絡の発生を抑制することが可能となる。突起構造部36の幅W1は、例えば、5μm〜10μm程度の範囲で設定するのが好ましい。
紫外線発光素子3は、第2電極32が、第2導電型半導体層35の表面351の略全面を覆うように形成されているのが好ましい。「第2導電型半導体層35の表面351の略全面」とは、表面351の全面に限らない。例えば、紫外線発光素子3が後述の絶縁膜38を備え、第2導電型半導体層35の表面351の外周部が絶縁膜38により覆われている場合、「第2導電型半導体層35の表面351の略全面」とは、第2導電型半導体層35の表面351のうち絶縁膜38により覆われていない部位を意味する。要するに、紫外線発光素子3は、第2電極32が、第2導電型半導体層35の表面351を面状に覆うように形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、放熱性を向上させることが可能となる。
実装基板2aは、第1導体部21及び第2導体部22の厚さが、第2電極32と第2導体部22との間隔よりも大きいことが好ましい。「第2電極32と第2導体部22との間隔」とは、第2電極32の表面321(図6参照)の中央部と第2導体部22の表面212との間隔を意味する。第2電極32と第2導体部22との間隔は、突起構造部36の突出量H1により決めることができる。言い換えれば、第2電極32と第2導体部22との間隔は、突起構造部36の突出量H1(図6参照)と略同じである。
よって、発光装置1aは、製造時に、溶融したAuSnの一部が空間9からはみ出した場合でも、はみ出したAuSnの流速を溝203で低下させることが可能となる。また、発光装置1aは、製造時に、第2導体部22の側面が、はみ出したAuSnを支持体20aの表面201側へ向かって誘導するはんだ誘導部として機能することが可能となる。これにより、発光装置1aは、空間9からはみだしたAuSnによる第2電極32と第1電極31との短絡の発生を抑制することが可能となる。なお、支持体20aの表面201は、第1導体部21及び第2導体部22の各側面よりもはんだ濡れ性が低いのが好ましい。
紫外線発光素子3は、絶縁膜38を備えているのが好ましい。絶縁膜38は、第2電極32における第2導電型半導体層35との接触領域を囲むように第2導電型半導体層35の表面351上に形成されているのが好ましい。また、紫外線発光素子3は、第2電極32が第2導電型半導体層35の表面351と絶縁膜38の表面とに跨って形成され、第2電極32のうち中央部よりも第2導電型半導体層35から離れる向きに突出した外周部が、突起構造部36を兼ねているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、第2電極32と第2導体部22との接合面積を増加させることが可能となり、放熱性の向上及び接触抵抗の低抵抗化を図ることが可能となる。
絶縁膜38の材料としては、SiO2を採用している。よって、絶縁膜38は、シリコン酸化膜である。絶縁膜38は、電気絶縁膜であればよい。したがって、絶縁膜38の材料は、電気絶縁性を有する材料であればよく、SiO2に限らず、例えば、Si34、Al23、TiO2、Ta25、ZrO2、Y23、CeO2、Nb25等を採用することができる。絶縁膜38は、半導体多層膜39の機能を保護するためのパッシベーション膜(passivation film)としての機能を備えることが好ましく、その材料として、SiO2やSi34が好ましい。これにより、発光装置1aは、信頼性を向上させることが可能となる。絶縁膜38の厚さは、一例として、1μmに設定してある。絶縁膜38は、例えば、CVD(chemical vapor deposition)法、蒸着法、スパッタ法等により形成することができる。絶縁膜38は、単層膜に限らず、多層膜により構成してもよい。絶縁膜38として設ける多層膜は、半導体多層膜39で発生した光を反射させるための誘電体多層膜により構成してもよい。
絶縁膜38は、メサ構造37の表面371とメサ構造37の側面372と第1導電型半導体層33の表面331とに跨って形成されているのが好ましい。メサ構造37の表面371は、第2導電型半導体層35の表面351である。絶縁膜38のうち第1導電型半導体層33の表面331上に形成される部位は、第1電極31における第1導電型半導体層33との接触領域を囲むようなパターンに形成されているのが好ましい。
第1電極31は、第1オーミック電極層31Aと、第1パッド電極層31Bと、を備えているのが好ましい。
第1オーミック電極層31Aは、第1導電型半導体層33とオーミック接触を得るために、第1導電型半導体層33の表面331上に形成されている。第1パッド電極層31Bは、第1接合部61を介して実装基板2aと接合するために、第1オーミック電極層31Aを覆うように形成されている。第1オーミック電極層31Aは、例えば、Al膜とNi膜とAl膜とNi膜とAu膜との第1積層膜を第1導電型半導体層33の表面331上に形成してから、アニール処理を行い、徐冷を行うことにより形成することができる。これにより、第1オーミック電極層31Aは、NiとAlとを主成分とする凝固組織により構成されている。凝固組織とは、溶融金属が変態する結果生成した結晶組織を意味する。NiとAiとを主成分とする凝固組織は、例えば、不純物としてAu、Nを含んでいてもよい。第1積層膜は、一例として、Al膜、Ni膜、Al膜、Ni膜及びAu膜の厚さを、それぞれ、10〜200nmの範囲で設定している。第1オーミック電極層31Aは、NiとAlとを主成分とした構成に限らず、例えば、Ti等を成分とする別の材料により形成してもよい。
第1パッド電極層31Bは、例えば、Ti膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第1パッド電極層31Bは、最表面側がAu膜であれば、他の積層膜を採用することもできる。言い換えれば、第1電極31は、最表面がAu膜の表面により構成されている第1パッド電極層31Bを備えるのが好ましい。第1パッド電極層31Bは、例えば、蒸着法等により形成することができる。第1パッド電極層31Bは、Au膜の単層構造に限らず、例えば、Ti膜とAu膜との積層膜により構成してもよい。また、紫外線発光素子3は、例えば、第1オーミック電極層31Aのみにより第1電極31全体の形状を構成してもよいし、第1オーミック電極層31Aと第1パッド電極層31Bとの間に別の電極層を備えた構成でもよい。
第2電極32は、第2オーミック電極層32Aと、第2パッド電極層32Bと、を備えているのが好ましい。
第2オーミック電極層32Aは、第2導電型半導体層35とオーミック接触を得るために、第2導電型半導体層35の表面351上に形成されている。第2パッド電極層32Bは、第2接合部62を介して実装基板2aと接合するために、第2オーミック電極層32Aを覆うように形成されている。第2オーミック電極層32Aは、例えば、Ni膜とAu膜との第2積層膜を第2導電型半導体層35の表面351上に形成してから、アニール処理を行うことにより形成することができる。
第2パッド電極層32Bは、例えば、Ti膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第2パッド電極層32Bは、最表面側がAu膜であれば、他の積層膜を採用することもできる。言い換えれば、第2電極32は、最表面がAu膜の表面により構成されている第2パッド電極層32Bを備えるのが好ましい。第2パッド電極層32Bは、例えば、蒸着法等により形成することができる。第2パッド電極層32Bは、Au膜の単層構造に限らず、例えば、Ti膜とAu膜との積層膜により構成してもよい。また、紫外線発光素子3は、例えば、第2オーミック電極層32Aのみにより第2電極32全体の形状を構成してもよいし、第2オーミック電極層32Aと第2パッド電極層32Bとの間に別の電極層を備えた構成でもよい。
第2パッド電極層32Bは、第2オーミック電極層32Aの表面と絶縁膜38の表面とに跨って形成されているのが好ましい。そして、発光装置1aは、第2電極32のうち中央部よりも第2導電型半導体層35から離れる向きに突出した外周部が、突起構造部36を兼ねているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、紫外線発光素子3と実装基板2aとの接合面積を増加させることが可能となって熱抵抗の低減を図れ、しかも、紫外線発光素子3の半導体多層膜39で発生した熱が突起構造部36を通して実装基板2a側へ伝わりやすくなる。よって、発光装置1aは、放熱性を向上させることが可能となる。
発光装置1aは、例えば、殺菌、医療、環境汚染物質を高速で処理する用途等の分野で利用する場合、紫外線発光素子3が、210nm〜280nmの波長域に発光ピーク波長を有するのが好ましい。つまり、紫外線発光素子3は、UV−Cの波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射するように構成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、例えば、殺菌の用途に好適に用いることが可能となる。「UV−Cの波長域」とは、例えば国際照明委員会(CIE)における紫外線の波長による分類によれば、100nm〜280nmである。発光装置1aは、殺菌の用途で利用する場合、紫外線発光素子3が、240nm〜280nmの波長域に発光ピーク波長を有するのが、より好ましい。JIS Z8811−1968では、「殺菌紫外線」は、紫外線のうち波長260nm付近に最大殺菌効果を有する殺菌効果曲線の示す波長領域内のものと規定されている。図9は、上述の殺菌効果曲線を書き直した図である。図9は、横軸が波長、縦軸が殺菌効果相対値である。「殺菌効果曲線」は、参考文献1〔M.Luckiesh:Applications of Germicidal, Erythemal, and Infrared Energy (1946),p.115〕のデータに基づく曲線である。殺菌効果曲線を参照すれば、発光装置1aでは、紫外線発光素子3から放射する紫外線の波長が240nm〜280nmの範囲内であれば、殺菌効果相対値が60%以上となり、比較的高い殺菌効果が得られると推考される。紫外線発光素子3は、一例として、発光ピーク波長を265nmに設定してある。
スペーサ4の高さは、紫外線発光素子3の厚さよりも大きい。これにより、発光装置1aは、紫外線発光素子3がカバー5に接触するのを抑制することが可能となる。スペーサ4は、平面視における外周形状が矩形状であるのが好ましい。スペーサ4は、平面視において実装基板2aよりも小さいのが好ましい。より詳細には、スペーサ4の平面視における外周形状は、実装基板2aの平面視における外周形状よりも小さいのが好ましい。更に言えば、スペーサ4の平面視における外周線は、実装基板2aの平面視における外周線よりも内側にあるのが好ましい。これにより、発光装置1aは、製造時にスペーサ4が実装基板2aからはみ出すのを抑制することが可能となる。
貫通孔41は、スペーサ本体40に形成されている。貫通孔41は、実装基板2aから離れるにつれて開口面積が漸次増加しているのが好ましい。要するに、スペーサ4の貫通孔41は、実装基板2aの厚さ方向に沿った方向において実装基板2aから離れるにつれて開口面積が徐々に大きくなっている。これにより、発光装置1aでは、スペーサ4を、紫外線発光素子3から側方へ放射された紫外線をカバー5側へ反射するリフレクタとして機能させることが可能となる。スペーサ本体40は、上述のようにSiにより形成されている。Si基板は、例えば、入射角が5°〜55°の場合、波長260nm〜280nmの紫外線に対する反射率が70%よりも高い。よって、スペーサ4は、貫通孔41の内側面(凹部663の内側面665)にAl膜等の反射膜を形成しなくても比較的高い反射率を有するリフレクタを構成することができる。これにより、発光装置1aは、低コスト化及び高出力化を図ることが可能となる。
スペーサ4の貫通孔41は、四角錐台状のテーパ孔であるのが好ましい。より詳細には、スペーサ本体40は、表面401が(100)面の単結晶Si基板400から形成されているのが好ましい。スペーサ4は、貫通孔41の内側面が{111}面に沿った面であるのが好ましい一態様である。要するに、スペーサ4は、貫通孔41の内側面を構成する結晶面が{111}面であるのが好ましい一態様である。これにより、発光装置1aでは、単結晶Si基板400の裏面402と貫通孔41の内側面とのなす角度θを略55°(理論的には、54.7°)とすることが可能となる。このような貫通孔41は、アルカリ系溶液を用いたエッチングにより、容易に形成することができる。要するに、貫通孔41は、結晶異方性エッチングにより形成することができる。アルカリ系溶液としては、例えば、TMAH(tetramethylammonium hydroxide)水溶液を用いることができる。アルカリ系溶液は、TMAH水溶液に限らず、例えば、85℃程度に加熱したTMAH溶液、KOH水溶液、エチレンジアミンピロカテコール等を用いてもよい。貫通孔41の形成時のエッチングは、2段階に分けて行ってもよい。例えば、貫通孔41の形成時には、KOH水溶液により、単結晶Si基板400の表面401から単結晶Si基板400の厚さ方向の途中までエッチングし、その後、TMAH水溶液により、単結晶Si基板400の裏面402に到達するまでエッチングしてもよい。スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42は、単結晶Si基板400の裏面402により構成される。スペーサ本体40は、スペーサ本体40における実装基板2aとの対向面42と第2接合用金属層43との間に、シリコン酸化膜44が形成されている。第2接合用金属層43は、例えば、下地膜431とAu膜432との積層膜により構成されているのが好ましい。下地膜431の材料としては、例えば、Al等を採用することができる。
スペーサ4は、貫通孔41の内側面が、{111}面に沿って形成されたシリコン酸化膜の表面により構成されていてもよい。これにより、発光装置1aでは、貫通孔41の内側面を構成する結晶面である{111}面がシリコン酸化膜により覆われているので、製造歩留りを向上させることが可能となり、また、紫外線出力の経時変化を抑制することが可能となる。シリコン酸化膜は、例えば、自然酸化膜により形成してもよいし、熱酸化膜により形成してもよい。
発光装置1aでは、カバー5を形成するガラスが、アルカリ成分を含んでおり、スペーサ4とカバー5とが直接接合されているのが好ましい一態様である。発光装置1aでは、カバー5を形成するガラスが、アルカリ成分を含んでいることにより、カバー5とスペーサ4とを陽極接合によって直接接合することが可能となり、製造コストの低コスト化を図ることが可能となる。アルカリ成分としては、例えば、Na、K、Na3O、K2O等がある。「直接接合されている」とは、接合材等を用いることなく接合されていることを意味する。
カバー5を形成するガラスとしては、紫外線発光素子3が放射する紫外線に対する透過率が70%以上であるのが好ましく、80%以上であるのがより好ましい。紫外線発光素子3がUV−Cの波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射する場合には、カバー5を形成するガラスとして、例えば、硼珪酸ガラスを採用することができる。硼珪酸ガラスは、アルカリ成分を含んでいる。硼珪酸ガラスとしては、例えば、SCHOTT社製の8347、SCHOTT社製の8337B、等を採用することにより、波長が265nmの紫外線に対する透過率を80%以上とすることができる。
発光装置1aは、カバー5とスペーサ本体40との線膨張係数差に起因してカバー5等に発生する応力を低減する観点から、カバー5とスペーサ本体40との線膨張係数差が小さいほうが好ましい。
カバー5は、平面視において実装基板2aよりも小さいのが好ましい。より詳細には、カバー5は、平面視においてスペーサ4と同じ大きさであるのが好ましい。要するに、カバー5の平面視における外周形状は、スペーサ4の平面視における外周形状と同じであるのが好ましい。よって、カバー5の平面視における外周形状は、矩形状であるのが好ましい。これにより、発光装置1aの製造方法では、キャップ6aを形成する際に、例えば、複数のスペーサ4を形成した第1ウェハと複数のカバー5の元になる第2ウェハとをウェハレベルで接合してから、複数のキャップ6aに分割することが可能となる。キャップ6aは、平面視において実装基板2aよりも小さいのが好ましい。これにより、発光装置1aでは、製造時にキャップ6aの位置ずれが発生した場合でもキャップ6aが実装基板2aからはみ出すのを抑制することが可能となる。
カバー5は、平板状に限らず、例えば、レンズが一体に形成された形状でもよい。要するに、発光装置1aは、カバー5の一部あるいは全部がレンズを構成してもよい。
発光装置1aは、実装基板2aとスペーサ4とカバー5とで囲まれた空間8を不活性ガス雰囲気としてあるのが好ましい。言い換えれば、発光装置1aは、実装基板2aとキャップ6aとで囲まれた空間を不活性ガス雰囲気としてあるのが好ましい。これにより、発光装置1aは、紫外線発光素子3、第1導体部21及び第2導体部22等の酸化を抑制することが可能となり、信頼性の更なる向上を図ることが可能となる。
不活性ガス雰囲気は、N2ガス雰囲気であるのが好ましい。不活性ガス雰囲気は、不活性ガスの純度が高いのが好ましいが、100%の純度を必須としない。例えば、不活性ガス雰囲気は、不活性ガスとしてN2ガスを採用する場合、例えば、不可避的に混入される100〜200ppm程度のO2を含んでいてもよい。不活性ガスは、N2ガスに限らず、例えば、Arガス、N2ガスとArガスとの混合ガス等でもよい。
発光装置1aは、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63との間にそれぞれ、第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83が形成されているのが好ましい。第1バリア層81と第2バリア層82と第3バリア層83とは同じ材料でかつ、同じ厚さで形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aでは、製造時に、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63との間それぞれでの金属の拡散を抑制することが可能となる。また、発光装置1aでは、製造時に、第1バリア層81と第2バリア層82と第3バリア層83とでそれぞれのバリア性を略同じとすることが可能となる。よって、発光装置1aでは、製造時に、実装基板2aに対する紫外線発光素子3及びキャップ6aの接合性を向上させることが可能となる。
発光装置1aは、第1電極31が、最表面がAu膜の表面により構成されている第1パッド電極層31Bを備え、第2電極32が、最表面がAu膜の表面により構成されている第2パッド電極層32Bを備え、第2接合用金属層43が、下地膜とAu膜との積層膜により構成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aでは、製造時に、実装基板2aに対する紫外線発光素子3及びキャップ6aの接合性を向上させることが可能となる。
以下では、発光装置1aの製造方法について図7及び8に基づいて説明する。
発光装置1aの製造方法では、例えば、下記の第1工程、第2工程、第3工程及び第4工程を順次行う。
第1工程では、単結晶Si基板400の裏面402上にシリコン酸化膜44と第2接合用金属層43との積層構造を形成し、その後、単結晶Si基板400の貫通孔41の形成予定領域をエッチングし貫通孔41を形成することでスペーサ4を形成する(図7A)。シリコン酸化膜44は、薄膜形成技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術等を利用して形成することができる。また、第2接合用金属層43は、薄膜形成技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術等を利用して形成することができる。貫通孔41を形成する際には、単結晶Si基板400の表面401及び裏面402側それぞれに適宜のエッチングマスクを形成した後に、単結晶Si基板400の表面401からTMAH水溶液によるエッチングを行う。
第2工程では、スペーサ4とカバー5とを接合することでキャップ6aを形成する(図7B)。より詳細には、スペーサ4とカバー5とを陽極接合により直接接合することによってキャップ6aを形成する。陽極接合を行う際には、例えば、真空雰囲気中において、スペーサ本体40における貫通孔41の周部とカバー5の周部とを直接接触させ、スペーサ4とカバー5との積層体に対し、スペーサ4を高電位側、カバー5を低電位側として、所定の直流電圧を印加する。所定の直流電圧は、例えば、600Vである。陽極接合を行う際には、例えば、スペーサ4とカバー5との積層体を所定の接合温度に加熱した状態で、所定の直流電圧を所定の時間だけ印加した後に、積層体の温度を降温させる。接合温度は、例えば、400℃である。
上述の第1工程及び第2工程は、ウェハレベルで行うことが好ましい。より詳細には、第1工程では、単結晶Si基板400の元になる第1ウェハに複数のスペーサ4を形成するのが好ましい。第2工程では、キャップ6aを形成する際に、例えば、複数のスペーサ4を形成した第1ウェハと複数のカバー5の元になる第2ウェハとをウェハレベルで接合してから、複数のキャップ6aに分割するのが好ましい。
第3工程では、実装基板2aに対して、第1接合部61、第2接合部62及び第3接合部63それぞれの元になる第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73を形成する(図7C)。より詳細には、第3工程では、実装基板2aの第1導体部21の表面211側、第2導体部22の表面212側、第1接合用金属層23の表面231側に、それぞれ、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73を形成する。第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73は、例えば、蒸着法、めっき法等により形成することができる。
第3工程では、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73の厚さを同じ値に設定してある。第1AuSn層71の表面の面積は、第1電極31の表面311(図6参照)の面積よりも小さく設定してある。また、第2AuSn層72の表面の面積は、第2電極32の表面321(図6参照)の面積よりも小さく設定してある。また、第3AuSn層73の表面の面積は、第1接合用金属層23の表面231(図7C、8参照)の面積よりも小さく設定してある。
第1AuSn層71及び第2AuSn層72の厚さは、紫外線発光素子3の突起構造部36の突出量H1(図6参照)と、紫外線発光素子3の厚さ方向における第2電極32と第1電極31との段差の高さH2(図6参照)と、の合計(H1+H2)よりも所定厚さ(α)だけ大きくなるように設定する。つまり、第1AuSn層71及び第2AuSn層72の厚さは、H1+H2+αとする。例えば、H1=1μm、H2=1μmの場合、第1AuSn層71及び第2AuSn層72の厚さは、3μm程度に設定すればよい。この場合、αは、1μmである。これらの数値は、一例であり、紫外線発光素子3の構造等に基づいて適宜設定すればよい。第1AuSn層71、第2AuSn層72は、実装基板2aのうち第1電極31、第2電極32それぞれに対向させる領域の中央部に形成するのが好ましい。第2AuSn層72は、突起構造部36の垂直投影領域よりも内側で、この垂直投影領域から離れて位置するように、第2導体部22の表面212上に配置する。突起構造部36の垂直投影領域とは、突起構造部36の厚さ方向への投影領域を意味する。すなわち、突起構造部36の垂直投影領域とは、突起構造部36の厚さ方向に投影方向が沿った垂直投影領域を意味する。言い換えれば、突起構造部36の垂直投影領域とは、突起構造部36の厚さ方向に直交する面への垂直投影領域を意味する。
第1AuSn層71及び第2AuSn層72は、AuSnの場合、共晶組成(70at%Au、30at%Sn)よりもAuの組成比が小さく例えば300℃以上400℃未満の温度で溶融する組成(例えば、60at%Au、40at%Sn)のAuSnが好ましい。
第3工程では、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73との間に、第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83をそれぞれ形成するのが好ましい。第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83は、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73と第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23との間での金属(例えば、Sn等)の拡散に起因してAuSnの組成が変動するのを抑制する拡散バリアの機能を有する層である。第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83の材料としては、例えば、Ptを採用することができるが、これに限らず、Pd等を採用することもできる。第3工程では、第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83の厚さを同じ値に設定してある。第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83の厚さは、例えば、0.2μm程度に設定するのが好ましい。第1バリア層81、第2バリア層82及び第3バリア層83は、例えば、蒸着法、めっき法等により形成することができる。
また、第3工程では、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73上に、第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93をそれぞれ形成するのが好ましい。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93は、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73のSnの酸化を抑制するために設ける層である。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93の厚さは、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73の厚さに比べて十分に薄いのが好ましく、例えば、0.15μm以下が好ましい。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93の厚さは、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73が溶融したときに、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73へAuが熱拡散され、第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と第1電極31、第2電極32及び第2接合用金属層43との接合が行われるように設定する必要がある。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93の厚さは、例えば、0.05μm〜0.15μm程度の範囲で設定するのが好ましい。第1Au層91、第2Au層92及び第3Au層93は、例えば、蒸着法やめっき法等により形成することができる。以下では、第1バリア層81と第1AuSn層71と第1Au層91との積層膜を第1接合用層101と称し、第2バリア層82と第2AuSn層72と第2Au層92との積層膜を第2接合用層102と称する。また、以下では、第3バリア層83と第3AuSn層73と第3Au層93との積層膜を第3接合用層103と称する。第1接合用層101は、少なくとも第1AuSn層71を備えていればよく、積層膜に限らず、単層膜でもよい。第2接合用層102は、少なくとも第2AuSn層72を備えていればよく、積層膜に限らず、単層膜でもよい。第3接合用層103は、少なくとも第3AuSn層73を備えていればよく、積層膜に限らず、単層膜でもよい。
第4工程では、第1ステップ、第2ステップを行うことで紫外線発光素子3を実装基板2aに実装し(図7D)、引き続き、第3ステップ及び第4ステップを順次行うことでキャップ6aを実装基板2aに接合する(図7E)。これにより、発光装置1aの製造方法では、発光装置1aを得ることができる。第4工程では、ボンディング装置を利用する。より詳細には、第4工程では、第1ステップ、第2ステップ、第3ステップ及び第4ステップを、1台のボンディング装置で連続して行う。キャップ6aを紫外線発光素子3とは大きさの異なるダイとみなせば、ボンディング装置は、ダイボンディング装置、フリップチップボンディング装置とみなすことができる。
ボンディング装置は、例えば、第1吸着保持具と、第2吸着保持具と、ステージと、第1ヒータと、第2ヒータと、接合室と、を備える。第1吸着保持具は、紫外線発光素子3を吸着保持する第1コレット(collet)である。第2吸着保持具は、キャップ6aを吸着保持する第2コレットである。ステージは、実装基板2aが載せ置かれる。第1ヒータは、ステージに設けられ実装基板2aを加熱できるように構成されている。第2ヒータは、第1吸着保持具と第2吸着保持具とを択一的に保持するホルダに装着されダイを加熱できるように構成されている。ボンディング装置は、ホルダが第2ヒータを備える代わりに、第1コレット及び第2コレットの各々が第2ヒータを備えた構成でもよい。ダイは、第1吸着保持具に吸着保持された紫外線発光素子3又は第2吸着保持具に吸着保持されたキャップ6aである。ボンディング室は、ステージが収納配置されており、ステージ上の実装基板2aに対して紫外線発光素子3及びキャップ6aそれぞれの接合処理が行われる処理室である。ボンディング室内の雰囲気は、パッケージ7a内の所定の雰囲気に合わせて適宜調整すればよい。本実施形態の発光装置1aの製造方法では、一例として、ボンディング室内の雰囲気をN2ガス雰囲気とする。ボンディング装置は、ボンディング室における出入口を開放しており、ボンディング室の外側から出入口を通してボンディング室内にN2ガスを供給した状態で、実装基板2a、第1吸着保持具、第2吸着保持具等を出入口から入れたり出したりするようにしている。これにより、ボンディング装置は、真空チャンバ内で接合処理を行うように構成されている場合に比べて、低コスト化を図ることが可能となる。
第1ステップでは、図8に示すように、紫外線発光素子3と実装基板2aとを対向させる。「紫外線発光素子3と実装基板2aとを対向させる」とは、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22とがそれぞれ対向するように、紫外線発光素子3と実装基板2aとを対向させることを意味する。
第1ステップでは、第1吸着保持具により吸着保持した紫外線発光素子3における第1電極31、第2電極32と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22とを対向させる。より詳細には、第1ステップでは、第1電極31と第1導体部21の表面211上の第1AuSn層71とを対向させ、かつ、第2電極32と第2導体部22の表面212上の第2AuSn層72とを対向させる。
第2ステップでは、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22とを、それぞれ、第1AuSn層71、第2AuSn層72により接合する。第1接合部61は、AuSnのみにより形成される場合に限らず、AuSnにより形成された部分に加えて第1バリア層81を含んでいてもよい。また、第2接合部62は、AuSnのみにより形成される場合に限らず、AuSnにより形成された部分に加えて第2バリア層82を含んでいてもよい。
上述の第2ステップでは、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2a上の第1接合用層101、第2接合用層102とが接触するように重ね合わせた状態で、適宜の加熱及び加圧を行いながら第1AuSn層71及び第2AuSn層72を溶融させる。第1AuSn層71が溶融すると、溶融したAuSnに、第1Au層91からAuが拡散し、溶融したAuSnにおけるAuの組成比が増加する。また、第2AuSn層72が溶融すると、溶融したAuSnに、第2Au層92からAuが拡散し、溶融したAuSnにおけるAuの組成比が増加する。
第2ステップでは、第1AuSn層71及び第2AuSn層72を溶融させてから、突起構造部36が第2導体部22に接するように、紫外線発光素子3側から加圧することで、溶融したAuSnを押し下げて横方向に広げることで空間9に溶融したAuSnを満たしてから、溶融しているAuSnを冷却凝固させる。
第2ステップでは、第1ヒータによる実装基板2aの加熱だけでもよいし、第2ヒータによる紫外線発光素子3の加熱を行うようにしてもよい。第2ステップでは、実装基板2aと紫外線発光素子3との接合性を考えると、第1ヒータ及び第2ヒータ両方からの加熱を行うのが好ましい。また、第2ステップでは、適宜の荷重を印加することで加圧を行う。荷重は、例えば、1個の紫外線発光素子3に対して、0.1〜1kg/cm程度の範囲で設定するのが好ましい。また、荷重を印加する時間は、例えば、0.1〜1秒程度の範囲で設定するのが好ましい。第2ステップは、Nガス雰囲気中で行うのが好ましい。
第1AuSn層71及び第2AuSn層72の溶融温度は、紫外線発光素子3の耐熱温度よりも低いのが好ましい。第1AuSn層71及び第2AuSn層72は、例えば、共晶組成(70at%Au、30at%Sn)よりもAuの組成比が小さく300℃以上400℃未満の温度で溶融する組成(例えば、60at%Au、40at%Sn)のAuSnが好ましい。
ところで、第3工程で形成する第2接合用層102の体積は、第2接合部62を形成するAuSnが空間9から出ないように、空間9の容積と等しくなるように設定するのが好ましい。
第4工程の第2ステップでは、第1AuSn層71及び第2AuSn層72それぞれが溶融した状態で紫外線発光素子3の突起構造部36が第2導体部22の表面212に接するように、溶融したAuSnを押し下げて紫外線発光素子3と実装基板2aとを接合する。よって、第4工程の第2ステップでは、第1電極31と第1導体部21とが未接合となるのを抑制することが可能となる。
第4工程の第2ステップでは、突起構造部36が第2導体部22に接し、第1電極31と第1導体部21とが、AuSnにより形成された第1接合部61により接合され、第2電極32と第2導体部22とが、AuSnにより形成された第2接合部62により接合される。これにより、発光装置1aの製造方法では、第2接合部62が、第2電極32と突起構造部36と第2導体部22とで囲まれた空間9を満たすように形成された構成、とすることが可能となる。発光装置1aの製造方法では、第2接合用層102の溶融したAuSnを押し下げて横方向に広げたときに、突起構造部36が、溶融したAuSnの、紫外線発光素子3の表面に沿った流動を抑制する。これにより、発光装置1aの製造方法では、第1電極31と第2電極32とのAuSnによる短絡の発生を抑制可能となる。しかも、発光装置1aの製造方法では、紫外線発光素子3と実装基板2aとの間の熱抵抗の低減を図ることが可能で、かつ熱抵抗のばらつきを小さくすることが可能な発光装置1aを製造することが可能となる。
ところで、第4工程の第2ステップでは、突起構造部36の先端面の全面を第2導体部22の表面212と接するように荷重を印加するのが好ましい。しかしながら、第4工程の第2ステップでは、突起構造部36の先端面の平面度と、第2導体部22の表面212の平面度との違いに起因して、突起構造部36の先端面の全面を第2導体部22の表面212と接するようにするのが難しいこともある。この場合には、突起構造部36の先端面の一部が第2導体部22の表面212と接し、突起構造部36の先端面の残りの部分と第2導体部22の表面212との間に製造時に浸み込んで固まったAuSnからなる、薄いAuSn層が残ることもある。要するに、発光装置1aは、実装基板2aに対する紫外線発光素子3の平行度が所望の範囲であれば、突起構造部36が部分的に、第2導体部22の表面212に接する構成でもよい。第4工程の第2ステップでは、印加する荷重をより大きくすれば、突起構造部36の先端面の平面度と、第2導体部22の表面212の平面度との差を低減可能となり、突起構造部36と第2導体部22との接触面積を大きくすることが可能となる。また、第4工程の第2ステップでは、突起構造部36が例えば金属等により形成されている場合、印加する荷重を大きくすれば、突起構造部36を圧縮するように変形させることも可能となり、突起構造部36と第2導体部22との接触面積を大きくすることが可能となる。
発光装置1aの製造方法では、上述の第3工程において、第1AuSn層71、第2AuSn層72上に、第1Au層91、第2Au層92をそれぞれ形成するのが好ましい。これにより、発光装置1aの製造方法では、第4工程の前に第1AuSn層71及び第2AuSn層72のSnが酸化するのを抑制することが可能となり、紫外線発光素子3と実装基板2aとの接合性を向上させることが可能となる。接合性は、例えば、ダイシェア強度(die shear strength)により評価することができる。ダイシェア強度は、実装基板2aに接合された紫外線発光素子3を接合面に平行に押し剥がすために必要な力である。ダイシェア強度は、例えば、ダイシェアテスタ(die shear tester)等により測定することができる。
第4工程の第3ステップでは、第2吸着保持具により吸着保持したキャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とを対向させる。より詳細には、第3ステップでは、第2接合用金属層43と第1接合用金属層23の表面231上の第3AuSn層73とを対向させる。
第4ステップでは、キャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とを、第3AuSn層73により接合する。第3接合部63は、AuSnのみにより形成される場合に限らず、AuSnにより形成された部分に加えて第3バリア層83を含んでいてもよい。
上述の第4ステップでは、キャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2a上の第3接合用層103とが接触するように重ね合わせた状態で、適宜の加熱及び加圧を行いながら第3AuSn層73を溶融させる。第3AuSn層73が溶融すると、溶融したAuSnに、第3Au層93からAuが拡散し、溶融したAuSnにおけるAuの組成比が増加する。第4ステップでは、第3AuSn層73を溶融させてから、キャップ6a側から加圧することで、溶融したAuSnを押し下げて横方向に広げてから、冷却凝固させる。
第4ステップでは、第1ヒータによる実装基板2aの加熱だけでもよいし、第2ヒータによるキャップ6aの加熱を行うようにしてもよい。第4ステップでは、実装基板2aとキャップ6aとの接合性を考えると、第1ヒータ及び第2ヒータ両方からの加熱を行うのが好ましい。また、第4ステップでは、適宜の荷重を印加することで加圧を行う。荷重は、例えば、1個のキャップ6aに対して、0.1〜1kg/cm程度の範囲で設定するのが好ましい。また、荷重を印加する時間は、例えば、0.1〜1秒程度の範囲で設定するのが好ましい。第4ステップは、Nガス雰囲気中で行うのが好ましい。
発光装置1aの製造方法では、第3工程において、第3接合用層103を実装基板2aに形成するのが好ましい。これにより、発光装置1aの製造方法では、第3接合用層103をキャップ6aに形成する場合に比べて、製造が容易になる。
以上説明した本実施形態の発光装置1aの製造方法では、スペーサ4とカバー5とを接合することでキャップ6aを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。よって、本実施形態の発光装置1aの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
発光装置1aの製造方法は、以下の構成を備える発光装置1aの製造方法である。
発光装置1aは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を収納する凹部663が形成されたキャップ6aと、を備える。実装基板2aは、支持体20aと、支持体20aに支持された第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23と、を備える。第1導体部21及び第2導体部22は、支持体20aの表面201側においてキャップ6aの凹部663の内底面664に臨むように配置されている。キャップ6aは、表面661及び裏面662を有し裏面662に凹部663が形成されたキャップ本体660と、キャップ本体660の裏面662における凹部663の周部で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。キャップ6aは、少なくとも、キャップ本体660の表面661と凹部663の内底面664との間の紫外線透過部666が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。紫外線発光素子3は、第1電極31と、第2電極32と、を備え、紫外線発光素子3の厚さ方向の一面側に第1電極31及び第2電極32が配置されている。
発光装置1aの製造方法では、キャップ6aを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73は、実装基板2aに対して同一工程で一括形成される。よって、発光装置1aの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。発光装置1aの製造方法では、第1AuSn層71及び第2AuSn層72と、第3AuSn層73と、を実装基板2aに対して同一工程で一括形成することができ、低コスト化を図ることが可能となる。
発光装置1aの製造方法では、紫外線発光素子3の第1電極31及び第2電極32と実装基板2aの第1導体部21及び第2導体部22とをそれぞれ第1AuSn層71及び第2AuSn層72により接合する第1接合処理を行う。発光装置1aの製造方法では、第1接合処理に引き続き、キャップ6aの第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とを第3AuSn層73により接合する第2接合処理を行う。発光装置1aの製造方法では、第1接合処理と第2接合処理とを、1台のボンディング装置のボンディング室で連続して行うのが好ましい。これにより、発光装置1aの製造方法では、低コスト化を図ることが可能となる。
ところで、発光装置1aは、紫外線発光素子3に逆並列に接続されたツェナダイオードを備えているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、静電気耐性を向上させることが可能となる。要するに、発光装置1aは、紫外線発光素子3が静電気によって絶縁破壊されるのを抑制することが可能となる。ツェナダイオードは、例えば、パッケージ7a内で実装基板2aに実装されているのが好ましい。ツェナダイオードのチップサイズは、紫外線発光素子3のチップサイズよりも小さいのが好ましい。ツェナダイオードは、紫外線発光素子3と同様に、AuSnにより実装基板2aにフリップチップ実装されているのが好ましい。この場合、発光装置1aの製造方法では、実装基板2aとしてツェナダイオードを実装するための第3導体部及び第4導体部を備えたものを用意しておき、第3工程において第3導体部及び第4導体部それぞれの表面に、第4AuSn層を含む第4接合用層、第5AuSn層を含む第5接合用層を形成するようにし、第4工程において、第2ステップと第3ステップとの間、又は、第1ステップの前に、上述のボンディング装置を利用してツェナダイオードを実装基板2aにフリップチップ実装すればよい。
図10は、第1変形例の発光装置1bの概略平面図である。第1変形例の発光装置1bは、実装基板2aの代わりに、複数の紫外線発光素子3を実装する実装基板2bを備えている点が相違する。なお、発光装置1bにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1bは、実装基板2bに複数の紫外線発光素子3が実装されている。複数の紫外線発光素子3は、1つの仮想円上において等間隔で配置されているのが好ましい。発光装置1bは、静電気耐性を向上させるためのツェナダイオードZDを備えているのが好ましい。ツェナダイオードZDは、上述の仮想円の中心に配置されているのが好ましい。
発光装置1bは、発光装置1aのパッケージ7aの代わりに、実装基板2bとキャップ6aとで構成されるパッケージ7bを備えている。
発光装置1bは、複数の紫外線発光素子3が並列接続されているが、これに限らず、例えば、複数個の紫外線発光素子3が直列接続された構成を有してもよいし、直並列接続された構成を有してもよい。
文献1には、スペーサがシリコン基板又は絶縁性樹脂から作られていることが記載されている。また、文献1には、キャビティ側面から十分な光反射効果を得るために、キャビティ側面にAg又はAlからなる反射用金属膜を形成するのが好ましい旨が記載されている。
また、発光装置としては、キャリアと、キャリアの主面上に装着された発光ダイオードであるオプトエレクトロニクス半導体チップと、キャリアに対して実装された光学部品と、を備えたオプトエレクトロニクス素子が提案されている(文献3[日本国特許出願公表番号2012−515441])。キャリアは、プリント回路基板又はセラミックである。光学部品は、フレームと、ガラスプレートと、を有する。フレームは、シリコンを用いて構成されている。ガラスプレートは、オプトエレクトロニクス半導体チップから出射される放射を透過する。
紫外線を出射する発光装置の分野においては、紫外線の高出力化が望まれている。
上述の発光装置1aは、見方を変えれば、下記の構成を備える。
発光装置1aは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を露出させる貫通孔41が形成されたスペーサ4と、スペーサ4の貫通孔41を塞ぐようにスペーサ4上に配置されたカバー5と、を備える。紫外線発光素子3は、紫外波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射するように構成されている。スペーサ4は、Siにより形成されたスペーサ本体40を備える。貫通孔41は、スペーサ本体40に形成されている。貫通孔41は、実装基板2aから離れるにつれて開口面積が漸次増加している。カバー5は、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。発光装置1aでは、スペーサ4とカバー5とが接合されている。このような構成の発光装置1aでは、紫外線の高出力化を図ることが可能となる。
紫外線発光素子3は、紫外波長域に発光ピーク波長を有していればよく、UV−Cの波長域に限らず、UV−Bの波長域あるいはUV−Aの波長域に発光ピーク波長を有していてもよい。「UV−Bの波長域」とは、例えば国際照明委員会における紫外線の波長による分類によれば、280nm〜315nmである。「UV−Aの波長域」とは、例えば国際照明委員会における紫外線の波長による分類によれば、315nm〜400nmである。
本願発明者らは、Si基板を用いた評価用サンプル及びAl基板それぞれについて反射率の測定を行う実験を行った。評価用サンプルは、単結晶Si基板400と同じ仕様のSi基板の表面に厚さ1nm程度の自然酸化膜が形成されたサンプルである。反射率は、分光光度計を用いて測定した値である。より詳細には、評価用サンプルの反射率は、評価用サンプルの表面(自然酸化膜の表面)へ紫外線を所定の入射角で入射させたときの評価用サンプルからの反射光を分光光度計で分光測定した。Al基板の反射率は、Al基板の表面へ紫外線を所定の入射角で入射させたときのAl基板からの反射光を分光光度計で分光測定した。
図11A、11B、11C、11D、11E及び11Fは、それぞれ、入射角5°、15°、25°、35°、45°及び55°の場合の評価用サンプルの反射特性を示している。また、図12A、12B、12C、12D及び12Eは、それぞれ、入射角15°、25°、35°、45°及び55°の場合のAl基板の反射特性を示している。
評価用サンプルでは、入射角によらず、波長220nm〜390nmの紫外線に対して反射率が50%以上となり、波長400nmの紫外線に対しても反射率が50%程度となることが確認された。また、Al基板が酸化した場合には、UV−Cの波長域の紫外線に対する反射率が小さくなる傾向にある。これは、酸化アルミニウムの反射率がUV−Cの波長域で大きく低下するため、Al基板に形成された酸化アルミニウム膜が全体(酸化アルミニウム膜が形成されたAl基板)の反射率の低下に影響しているからである。逆に言うと、Al基板の表面酸化の進展は、UV−Cの波長域の紫外線に対する反射率の低下を引き起こすことになる。Al基板の酸化腐食は、Si基板の表面の酸化に比べて進展が早い。このため、Al基板及びAl膜は、UV−Cの波長域の紫外線を反射する用途で用いる場合、注意が必要である。
発光装置1aでは、スペーサ4が、Siにより形成されたスペーサ本体40を備え、スペーサ本体40に形成された貫通孔41は、実装基板2aから離れるにつれて開口面積が漸次増加している。発光装置1aでは、スペーサ本体40における貫通孔41の内側面が、紫外線を反射する反射面の機能を有しているので、光取り出し効率の向上を図れ、紫外線の高出力化を図ることが可能となる。また、発光装置1aでは、発光装置1aと基本構成が同じで貫通孔41の内側面にAl膜を反射膜として追加した比較例と比べて、出力のばらつきや、反射特性の経時変化を抑制することが可能となる。よって、発光装置1aでは、低コスト化を図りながらも、紫外線の高出力化を図ることが可能となり、かつ、信頼性の向上を図ることが可能となる。
(実施形態2)
以下では、本実施形態の発光装置1cについて図13及び14に基づいて説明する。発光装置1cは、スペーサ4とカバー5とが無機接合材を用いて接合されている点が実施形態1の発光装置1aと相違する。なお、発光装置1cにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1cでは、スペーサ4とカバー5とが、スペーサ本体40の熱膨張係数とカバー5の熱膨張係数との間の熱膨張係数を有する低融点ガラスにより形成された第4接合部64により接合されている。これにより、発光装置1cは、カバー5として、アルカリ成分を含むガラスに限らず、石英ガラス等を採用することが可能となる。
本明細書において、低融点ガラスとは、軟化点が600℃以下のガラスであり、軟化点が500℃以下のガラスが好ましく、軟化点が400℃以下のガラスが更に好ましい。低融点ガラスとしては、例えば、主成分として酸化鉛(PbO)と無水ほう酸(B23)とを含むガラスを挙げることができる。
発光装置1cは、発光装置1aのキャップ6aの代わりに、スペーサ4と第4接合部64とカバー5とで構成されるキャップ6cを備えている。キャップ6cは、無機材料により形成されている。キャップ6cは、表面661及び裏面662を有し裏面662に凹部663が形成されたキャップ本体660と、キャップ本体660の裏面662における凹部663の周部で第1接合用金属層23に対向して配置された第2接合用金属層43と、を備える。また、発光装置1cは、発光装置1aのパッケージ7aの代わりに、キャップ6cと実装基板2aとで構成されるパッケージ7cを備えている。
本実施形態の発光装置1cの製造方法は、発光装置1aの製造方法と略同じであり、第2工程におけるスペーサ4とカバー5との接合方法が相違する。すなわち、発光装置1bの製造方法では、第2工程において、スペーサ4とカバー5とを接合することによりキャップ6cを形成する。より詳細には、発光装置1cの製造方法では、第2工程においてスペーサ4とカバー5とを低融点ガラスにより接合する。第2工程では、低融点ガラスのペレットを利用してもよいし低融点ガラスのペーストを利用してもよい。
本実施形態の発光装置1cの製造方法では、スペーサ4とカバー5とを接合することでキャップ6cを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6cにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。よって、本実施形態の発光装置1bの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
(実施形態3)
以下では、本実施形態の発光装置1dについて図15〜18に基づいて説明する。発光装置1dは、実施形態1の発光装置1aの実装基板2aの代わりに実装基板2dを備えている点が発光装置1aと相違する。なお、発光装置1dにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1dは、発光装置1aのパッケージ7aの代わりに、キャップ6aと実装基板2dとで構成されるパッケージ7dを備えている。
実装基板2dは、多層基板である。実装基板2dは、第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25と、第1配線層28と、第2配線層29と、電気絶縁層253と、を備える。第1配線層28及び第2配線層29は、支持体20dの表面201側に配置されている。第1導体部21及び第1外部接続電極24は、第1配線層28上に配置されて第1配線層28と電気的に接続されている。第2導体部22及び第2外部接続電極25は、第2配線層29上に配置されて第2配線層29と電気的に接続されている。電気絶縁層253は、支持体20dの表面201側で第1配線層28と第2配線層29とを覆うように配置されている。第1接合用金属層23は、電気絶縁層253上に配置されている。よって、発光装置1dは、例えば、図18に示すように配線基板600に実装基板2dの表面側の第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25を利用して実装することが可能となる。
実装基板2dは、電気絶縁層253からなる第1電気絶縁層とは別の第2電気絶縁層251を備える。支持体20dは、Siにより形成されている。第2電気絶縁層251は、支持体20dの表面201上に配置されている。第1配線層28及び第2配線層29は、第2電気絶縁層251上に配置されている。よって、発光装置1dは、放熱性を向上させることが可能となる。
実装基板2dは、第1接合用金属層23と電気絶縁層253との間に第1下地層254を介在させてあるのが好ましい。
実装基板2dは、支持体20dの裏面202に第4電気絶縁層252が形成されている。また、実装基板2dは、第4電気絶縁層252に第2下地層255を介して導体層256が積層されている。
第1電気絶縁層、第2電気絶縁層251、第3電気絶縁層及び第4電気絶縁層252の各々は、例えば、シリコン酸化膜により構成することができる。
第1下地層254及び第2下地層255の各々は、例えば、Al膜等により構成することができる。第1下地層254と第2下地層255とは、同じ材料により形成されていているが、互いに異なる材料により形成されていてもよい。
導体層256は、例えば、Ni膜とPd膜とAu膜との積層膜により構成することができる。
配線基板600は、マザー基板である。配線基板600は、例えば、金属ベースプリント配線板により形成することができる。この場合、配線基板600は、例えば、金属板601と、金属板601上に形成された絶縁樹脂層602と、絶縁樹脂層602上に形成された第1配線部604及び第2配線部605と、を備えるのが好ましい。金属板601は、Cu板により構成してあるが、これに限らず、例えば、Al板により構成してもよい。配線基板600は、金属板601の表面611における発光装置1dの投影領域を露出させてある。
発光装置1dと配線基板600とを備えた紫外線LEDモジュールでは、発光装置1dの裏面側の導体層256が接合層310により金属板601と接合されている。接合層310は、はんだにより形成されているが、これに限らず、焼結銀により形成されていてもよい。焼結銀は、銀粒子同士が焼結により結合された焼結体である。焼結銀は、多孔質銀である。接合層310を焼結銀により形成する場合には、金属板601の表面611上に銀粒子と揮発性のバインダと溶剤とを含むペーストを塗布してから、発光装置1dを金属板601にペーストを介して重ね合わせ、ペーストを加熱して焼結銀を形成すればよい。
また、紫外線LEDモジュールは、第1外部接続電極24が第1ワイヤ294を介して第1配線部604と電気的に接続されている。また、紫外線LEDモジュールでは、第2外部接続電極25が第2ワイヤ295を介して第2配線部605と電気的に接続されている。第1ワイヤ294及び第2ワイヤ295の各々は、Auワイヤであるのが好ましい。紫外線LEDモジュールは、発光装置1dが配線基板600に2次実装されている。紫外線LEDモジュールでは、平面視において配線基板600が発光装置1aよりも大きいのが好ましい。これにより、紫外線LEDモジュールは、放熱性を、より向上させることが可能となる。
本実施形態の発光装置1dの製造方法は、発光装置1aの製造方法と基本的に同じである。本実施形態の発光装置1dの製造方法では、スペーサ4とカバー5とを接合することでキャップ6aを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6aにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。よって、本実施形態の発光装置1dの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。
発光装置1dは、キャップ6aの代わりに、実施形態2の発光装置1cにおけるキャップ6cを備えてもよい。
(実施形態4)
以下では、本実施形態の発光装置1eについて図19及び20に基づいて説明する。発光装置1eは、実施形態1の発光装置1aのキャップ6aの代わりにキャップ6eを備えている点が実施形態1の発光装置1aと相違する。なお、発光装置1eにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1eは、発光装置1aのパッケージ7aの代わりに、キャップ6eと実装基板2aとで構成されるパッケージ7eを備えている。
キャップ6eでは、キャップ本体660の全体が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。これにより、本実施形態の発光装置1eでは、実施形態1の発光装置1aと比べて、信頼性の向上及び低コスト化を図ることが可能となる。
キャップ6eの形成方法では、まず、キャップ本体660の元になる平板状のガラス板に対して第2接合用金属層43を形成する。キャップ6eの形成方法では、その後、ガラス板に対して凹部663に対応する穴をドリル加工により形成する。キャップ6eの形成方法では、その後、穴の内面をエッチング液(例えば、フッ酸溶液)によって円滑化する円滑化処理を行うのが好ましい。
発光装置1eでは、製造時に、上述のキャップ6eの形成方法を採用している。これにより、発光装置1eでは、キャップ本体660の裏面662における凹部663の開口面積を凹部663の内底面664の面積と略同じにすることが可能となる。凹部663の深さは、例えば、300μmである。
第2接合用金属層43は、例えば、下地膜431とAu膜432との積層膜により構成されているのが好ましい。下地膜431は、例えば、キャップ本体660の裏面662上に形成されたCr膜と、このCr膜上に形成されたPt膜と、の積層膜により構成することができる。発光装置1eでは、第2接合用金属層43における下地膜431がCr膜を備えることにより、ガラスにより形成されたキャップ本体660と第2接合用金属層43との密着性を向上させることが可能となる。第2接合用金属層43は、例えば、蒸着法、スパッタ法、めっき法等の膜形成技術と、フォトリソグラフィ技術と、エッチング技術と、を利用して形成することができる。
本実施形態の発光装置1eの製造方法は、実施形態1の発光装置1aの製造方法と略同じである。すなわち、発光装置1eの製造方法では、キャップ6eを形成し、その後、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32及びキャップ6eにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22及び第1接合用金属層23とをそれぞれ第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73により接合する。第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73は、実装基板2aに対して同一工程で一括形成される。「同一工程で一括形成される」とは、第1AuSn層71、第2AuSn層72及び第3AuSn層73が、同じ工程を利用して同時に形成されることを意味する。よって、発光装置1eの製造方法では、信頼性の向上を図れ、かつ、低コスト化を図ることが可能となる。発光装置1eの製造方法では、第1AuSn層71及び第2AuSn層72と、第3AuSn層73と、を実装基板2aに対して同一工程で一括形成することができ、低コスト化を図ることが可能となる。紫外線発光素子3の第1電極31及び第2電極32それぞれのAu膜の厚さと、第2接合用金属層43におけるAu膜432の厚さとは、比較的近い値もしくは同じ値に設定してあるのが好ましい。これにより、実装基板2aへの紫外線発光素子3の実装と、実装基板2aへのキャップ6eの実装と、を連続的に行うときの実装性を、より向上させることが可能となる。紫外線発光素子3の第1電極31及び第2電極32それぞれのAu膜の厚さは、例えば、1.3μmである。また、第2接合用金属層43におけるAu膜432の厚さは、例えば、1.0μmである。
図21は、実施形態4におけるキャップ6eの第1変形例を示す概略断面図である。第1変形例のキャップ6eでは、キャップ本体660における凹部663が、ブラスト加工によって形成されている点が実施形態4におけるキャップ6eと相違する。ブラスト加工は、サンドブラスト加工である。第1変形例のキャップ6eでは、凹部663の内底面664がすりガラス状の面となっている。言い換えれば、凹部663の内底面664には、微細な凹凸構造が形成されている。また、第1変形例のキャップ6eでは、凹部663の開口面積が、凹部663の深さ方向において徐々に小さくなっている。第1変形例のキャップ6eの形成方法では、まず、キャップ本体660の元になる平板状のガラス板に対して第2接合用金属層43を形成する。第1変形例のキャップ6eの形成方法では、その後、ガラス板に対して凹部663をブラスト加工により形成することでキャップ本体660を形成する。
図22は、実施形態4におけるキャップ6eの第2変形例を示す概略断面図である。第2変形例のキャップ6eでは、キャップ本体660における凹部663が、ウェットエッチングによって形成されている点が実施形態4におけるキャップ6eと相違する。ウェットエッチングは、例えば、フッ酸溶液を用いた等方性エッチングである。よって、凹部663の内側面665は、丸みを有する凹曲面状に形成されている。第2変形例のキャップ6eの形成方法では、まず、キャップ本体660の元になる平板状のガラス板に対して凹部663をウェットエッチングにより形成することでキャップ本体660を形成する。第2変形例のキャップ6eの形成方法では、その後、キャップ本体660に対して第2接合用金属層43を形成する。
図23は、実施形態4におけるキャップ6eの第3変形例を示す概略断面図である。第3変形例のキャップ6eでは、キャップ本体660がプレス成型により形成されている。要するに、キャップ6eでは、キャップ本体660をプレス成型するときに凹部663を形成している。よって、第3変形例のキャップ6eでは、離型性を考慮して、キャップ本体660の裏面662における凹部663の開口面積を凹部663の内底面664の面積よりも大きく設定してある。言い換えれば、第3変形例のキャップ6eにおける凹部663は、深さ方向において開口面積が徐々に小さくなる順テーパ状の形状としてある。第3変形例のキャップ6eにおける凹部663では、順テーパ状の形状として、四角錐台状の形状を採用している。第3変形例のキャップ6eの形成方法では、まず、キャップ本体660をプレス成型により形成する。第3変形例のキャップ6eの形成方法では、その後、キャップ本体660に対して第2接合用金属層43を形成する。
図24は、実施形態4におけるキャップ6eの第4変形例を示す概略断面図である。第4変形例のキャップ6eは、ガラスにより形成されたカバー5とガラスにより形成されたスペーサ4とを接合することで形成されている。第4変形例のキャップ6eでは、第1変形例、第2変形例及び第3変形例と比べて、凹部663の内底面664を滑らかな表面とすることが可能となる。第4変形例のキャップ6eでは、キャップ6e全体が、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されていてもよいし、カバー5のみが、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されていてもよい。
(実施形態5)
以下では、本実施形態の発光装置1fについて図25及び26に基づいて説明する。発光装置1fは、実施形態4の発光装置1eの実装基板2aの代わりに実装基板2dを備えている点が発光装置1eと相違する。なお、発光装置1fにおいて、発光装置1eと同様の構成要素については、発光装置1eと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1fは、発光装置1eのパッケージ7eの代わりに、キャップ6eと実装基板2dとで構成されるパッケージ7fを備えている。
実装基板2dは、多層基板である。実装基板2dは、第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25と、第1配線層28と、第2配線層29と、電気絶縁層253と、を備える。第1配線層28及び第2配線層29は、支持体20dの表面201側に配置されている。第1導体部21及び第1外部接続電極24は、第1配線層28上に配置されて第1配線層28と電気的に接続されている。第2導体部22及び第2外部接続電極25は、第2配線層29上に配置されて第2配線層29と電気的に接続されている。電気絶縁層253は、支持体20dの表面側で第1配線層28と第2配線層29とを覆うように配置されている。第1接合用金属層23は、電気絶縁層253上に配置されている。よって、発光装置1fは、配線基板600(図18参照)に実装基板2dの表面側の第1外部接続電極24及び第2外部接続電極25を利用して実装することが可能となる。
実装基板2dは、電気絶縁層253からなる第1電気絶縁層とは別の第2電気絶縁層251を備える。支持体20dは、Siにより形成されている。第2電気絶縁層251は、支持体20dの表面201上に配置されている。第1配線層28及び第2配線層29は、第2電気絶縁層251上に配置されている。よって、発光装置1fは、放熱性を向上させることが可能となる。
実装基板2dは、第1接合用金属層23と電気絶縁層253との間に第1下地層254を介在させてあるのが好ましい。
実装基板2dは、支持体20dの裏面202に第4電気絶縁層252が形成されている。また、実装基板2dは、第4電気絶縁層252に第2下地層255を介して導体層256が積層されている。
第1電気絶縁層、第2電気絶縁層251、第3電気絶縁層及び第4電気絶縁層252の各々は、例えば、シリコン酸化膜により構成することができる。
第1下地層254及び第2下地層255の各々は、例えば、Al膜等により構成することができる。第1下地層254と第2下地層255とは、同じ材料により形成されていているが、互いに異なる材料により形成されていてもよい。
導体層256は、例えば、Ni膜とPd膜とAu膜との積層膜により構成することができる。
(実施形態6)
上述のように、紫外線を出射する発光装置の分野においては、紫外線の高出力化が望まれている。
実施形態1の発光装置1aでは、紫外線発光素子3がUV−Cの波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射するように構成されている場合、紫外線の透過率の向上の観点から、SCHOTT社製の8347よりもSCHOTT社製の8337Bを採用するのが好ましい。ここで、SCHOTT社製の8337Bの熱膨張係数は、Siの熱膨張係数よりも大きい。SCHOTT社製の8337Bの熱膨張係数とSiの熱膨張係数との差は、SCHOTT社製の8347の熱膨張係数とSiの熱膨張係数との差よりも大きい。
発光装置1aの製造方法では、キャップ6aを形成する際に、例えば、複数のスペーサ4を形成した第1ウェハと複数のカバー5の元になる第2ウェハとをウェハレベルで接合することでウェハレベル接合体を形成する接合工程を行い、その後、ウェハレベル接合体をダイシングソー(dicing saw)によって裁断することで個々のキャップ6aに分割するダイシング工程を行う。しかしながら、この発光装置1aの製造方法では、第2ウェハを形成する硼珪酸ガラスとしてSCHOTT社製の8337Bを採用した場合、第2ウェハを形成する硼珪酸ガラスとしてSCHOTT社製の8347と比べて、製造歩留りが低下してしまう。より詳細には、この発光装置1aの製造方法では、ウェハレベル接合体において第1ウェハと第2ウェハとが見掛け上は接合されていても、ダイシング工程においてスペーサ4とカバー5とが離れてしまうことがあった。つまり、発光装置1aの製造方法では、第2ウェハを形成する硼珪酸ガラスとしてSCHOTT社製の8337Bを採用した場合、スペーサ4とカバー5との接合不良が発生していることがあった。
これに対して、図27に示す本実施形態の発光装置1gは、スペーサ4が、Siにより形成されたスペーサ本体40におけるカバー5との対向面45側に形成されたシリコン酸化膜46を備えており、スペーサ4とカバー5とが直接接合されている点が発光装置1aと相違する。スペーサ本体40の厚さは、約0.3mmである。カバー5の厚さは、約0.3mmである。シリコン酸化膜46の膜厚は、約50nmである。シリコン酸化膜46は、熱酸化膜である。発光装置1gは、カバー5を形成するガラスが、アルカリ成分を含んでおり、スペーサ4とカバー5とが直接接合されている。なお、発光装置1gにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態の発光装置1gでは、スペーサ4とカバー5とで、紫外線発光素子3を覆うキャップ6gを構成している。また、発光装置1gでは、実装基板2aとキャップ6gとで、紫外線発光素子3を収納するパッケージ7gを構成している。
本実施形態の発光装置1gは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を収納する凹部663が形成されたキャップ6gと、を備える。キャップ6gは、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を露出させる貫通孔41が形成されたスペーサ4と、スペーサ4の貫通孔41を塞ぐようにスペーサ4上に配置されておりスペーサ4に接合されているカバー5と、を備える。カバー5は、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過する硼珪酸ガラスにより形成されている。スペーサ4は、Siにより形成されたスペーサ本体40と、スペーサ本体40におけるカバー5との対向面45側に形成されたシリコン酸化膜46と、を備える。スペーサ4とカバー5とが直接接合されている。以上説明した構成の発光装置1gでは、カバー5を、紫外線発光素子3から放射される紫外線に対する透過率のより高い硼珪酸ガラスにより形成することが可能となり、紫外線の高出力化を図ることが可能となる。
第2接合用金属層43は、例えば、下地膜431と接合層433との積層膜により構成されているのが好ましい。下地膜431は、例えば、Al膜により構成することができる。接合層433は、例えば、Ni膜とAu膜との積層膜により構成することができる。
発光装置1gの製造方法は、実施形態1で説明した発光装置1aの製造方法と略同じであり、スペーサ4を形成するときにスペーサ4におけるカバー5との対向面45にシリコン酸化膜46を形成し、その後、スペーサ4とカバー5とを陽極接合により接合する点が相違するだけである。スペーサ4とカバー5とを陽極接合により接合する場合には、例えば、図28に示すように、スペーサ4を複数形成した第1ウェハ4001とカバー5を複数形成できる第2ウェハ5000とを重ね合わせた後、シリコン酸化膜46の露出した表面上に電極4010を配置し、かつ、第2ウェハ5000上に電極5010を配置する。その後、第1ウェハ4001及び第2ウェハ5000を所定温度(例えば、305℃)に加熱した状態で、電極4010と電極5010との間に電極4010を陽極側として直流電源Eから所定電圧値(例えば、600V)の直流電圧を、所定時間(例えば、30分)だけ印加する。なお、図28では、隣り合うスペーサ4同士の境界を一点鎖線で模式的に示してある。また、図28では、隣り合うカバー5同士の境界を一点鎖線で模式的に示してある。第1ウェハ4001は、単結晶Si基板400の元になるSiウェハ4000にシリコン酸化膜46、シリコン酸化膜44、下地膜431及び貫通孔41を形成したウェハである。第2ウェハ5000は、硼珪酸ガラスにより形成されている。第2ウェハ5000の直径は、Siウェハ4000の直径と同じである。第2ウェハ5000の側面の一部に設けられたフラット面5003の幅(図28の紙面に直交する方向の幅)は、Siウェハ4000の側面の一部に設けられたフラット面(オリエンテーションフラット:orientation flat)4003の幅よりも大きい。したがって、第1ウェハ4001と第2ウェハ5000とを重ね合わせた状態では、第1ウェハ5000側から見て第1ウェハ4001の一部が露出している。
発光装置1gの製造方法は、以下の構成を備える発光装置1gの製造方法である。
発光装置1gは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を収納する凹部663が形成されたキャップ6gと、を備える。キャップ6gは、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を露出させる貫通孔41が形成されたスペーサ4と、スペーサ4の貫通孔41を塞ぐようにスペーサ4上に配置されておりスペーサ4に接合されているカバー5と、を備える。カバー5は、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過する硼珪酸ガラスにより形成されている。スペーサ4は、Siにより形成されたスペーサ本体40と、スペーサ本体40におけるカバー5との対向面45側に形成されたシリコン酸化膜46と、を備える。スペーサ4とカバー5とが直接接合されている。
発光装置1gの製造方法では、スペーサ4を複数形成した第1ウェハ4001とカバー5を複数形成できる第2ウェハ5000とを陽極接合により直接接合することでウェハレベル接合体を形成し、その後、ウェハレベル接合体をダイシングすることによってキャップ6gを形成し、紫外線発光素子3が実装されている実装基板2aとキャップ6gとを接合する。よって、発光装置1gの製造方法では、紫外線の高出力化を図ることが可能な発光装置1gを比較的簡単に製造することが可能となる。また、発光装置1gの製造方法では、製造歩留りの向上を図れ、低コスト化を図ることが可能となる。ここで、発光装置1gの製造方法では、ウェハレベル接合体を形成する前において、スペーサ4の下地膜431上に、接合層433を形成していない。また、発光装置1gの製造方法では、ウェハレベル接合体を形成してからウェハレベル接合体をダイシングする前に、下地膜431に対してジンケート処理(zincate treatment)を行い、続いて、無電解めっき法により、Ni膜とAu膜との積層膜からなる接合層433を下地膜431上に形成する。
本願発明者らは、実施形態1の発光装置1aの製造方法において、第1ウェハとSCHOTT社製の8337Bにより形成された第2ウェハとを陽極接合により接合することでウェハレベル接合体を作製し、光学顕微鏡により、第2ウェハの表面側から第1ウェハと第2ウェハとの界面を観察したが、問題となる大きさのボイド(void)は見られず、見掛け上、第1ウェハと第2ウェハとが接合されていた。なお、第1ウェハの元になるSiウェハの厚さは、0.3mmである。また、第2ウェハの厚さは、0.3〜0.5mmである。
しかしながら、このウェハレベル接合体をダイシングソーによりダイシングしたところ、スペーサ4とカバー5とが離れてしまうことがあった。
これに対して発光装置1gの製造方法では、ウェハレベル接合体をダイシングソーによりダイシングしても、スペーサ4とカバー5とが離れなかった。
図29は、SEM像図とEDXによる組成分析の結果とをまとめた図である。EDXによる組成分析では、C、O、Na、Al、Si、K及びBaそれぞれについて深さ方向分布を調べた。ここで、「深さ方向分布」は、カバー5において、スペーサ本体40とシリコン酸化膜46との界面から約4.73μmだけ離れた位置を基準位置としたときの各元素(C、O、Na、Al、Si、K及びBa)の深さ方向分布である。深さ方向は、基準位置からスペーサ本体40に向かう方向である。SEMによる観察及びEDXによる分析の結果、本願発明者らは、シリコン酸化膜46の表面付近でKの移動が起こり、カバー5におけるシリコン酸化膜46側の部分に厚さ350nm程度の反応層が形成されていることを確認した。本願発明者らは、シリコン酸化膜46がSiウェハ4000と第2ウェハ5000との密着層としての役割を果たすことでスペーサ4とカバー5とが接合されていると推考している。
本願発明者らは、シリコン酸化膜46の膜厚を異ならせた複数のウェハレベル接合体を作製し、各ウェハレベル接合体について光学顕微鏡、SEM等により接合状態を観察する実験を行った。ここで、シリコン酸化膜46の膜厚は、0nm、25nm、40nm、50nm、80nm、100nm、300nmとした。シリコン酸化膜46の膜厚は、エリプソメータ(ellipsometer)により測定した値である。
そして、本願発明者らは、シリコン酸化膜46の膜厚が0nm、25nm、40nmの各ウェハレベル接合体では、ダイシング時にカバー5とスペーサ4とが離れてしまうという実験結果を得た。また、本願発明者らは、シリコン酸化膜46の膜厚が50nm、80nm、100nm、300nmの各ウェハレベル接合体では、ダイシング時にカバー5とスペーサ4とが離れないという実験結果を得た。そこで、ウェハレベル接合体の接合状態は、ウェハレベル接合体の断面をSEMにより観察することで評価した。本願発明者らは、SEMによる観察で、シリコン酸化膜46とカバー5との界面にボイドが見られず、かつ、反応層が見られたときに、ウェハレベル接合体の接合状態が良好であると判断した。
また、本願発明者らは、シリコン酸化膜46が50nm以上のウェハレベル接合体について熱衝撃耐性を調べるためにヒートサイクル試験を行った。ヒートサイクル試験では、低温期間の温度を−40℃、高温期間の温度を105℃として、ヒートサイクルのサイクル数を100とした。
本願発明者らは、上述の実験の結果から、シリコン酸化膜46の厚さが50nm以上であれば、ウェハレベル接合体の接合状態、ダイシング耐性及び熱衝撃耐性それぞれが良好であるという知見を得た。
発光装置1gにおいて、シリコン酸化膜46は、熱酸化膜であるのが好ましい。これにより、発光装置1gでは、シリコン酸化膜46がCVD法によって形成されているシリコン酸化膜である場合と比べて、信頼性を向上させることが可能となる。
発光装置1gにおいて、シリコン酸化膜46の膜厚は、50nm以上であるのが好ましい。これにより、発光装置1gでは、製造歩留りの向上による低コスト化を図ることが可能となる。発光装置1gの製造歩留りの向上の観点からは、シリコン酸化膜46の膜厚は、80μm以上であるのがより好ましい。ただし、シリコン酸化膜46の膜厚が大きくなるほど、陽極接合時に印加する直流電圧の電圧値を大きくする必要があるので、シリコン酸化膜46の膜厚は、1μm以下が好ましく、300nm以下がより好ましい。
本実施形態の発光装置1gにおけるキャップ6gは、他の発光装置1b、1d等のキャップ6aの代わりに用いてもよい。
(第1例)
以下では、第1例の発光装置1hについて図30及び31に基づいて説明する。発光装置1hは、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22とが、それぞれ、Auバンプからなる接合部161、Auバンプからなる接合部162により接合されている点が実施形態1の発光装置1aと相違する。また、発光装置1hでは、第3バリア層83がスペーサ4の第2接合用金属層43と第3接合部63との間にある点が発光装置1aと相違する。なお、発光装置1hにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
Auバンプは、実装基板2aに対してスタッドバンプ法(ボールバンプ法とも呼ばれている)によって形成されたスタッドバンプにより構成されているのが好ましい。発光装置1hでは、第1電極31の平面サイズよりも第2電極32の平面サイズが大きいので、第2電極32に対して接合部162を複数設けてあるのが好ましい。これにより、発光装置1hでは、接合部162が1つの場合に比べて、放熱性の向上を図ることが可能となる。
第2接合用金属層43は、例えば、下地膜431と接合層433との積層膜により構成されているのが好ましい。下地膜431は、例えば、Al膜により構成することができる。接合層433は、例えば、Ni膜とPd膜とAu膜との積層膜により構成することができる。
発光装置1hではスペーサ4とカバー5とで、紫外線発光素子3を覆うキャップ6hを構成している。また、発光装置1hは、実装基板2aとキャップ6hとで、紫外線発光素子3を収納するパッケージ7hを構成している。
文献1には、スペーサがシリコン基板又は絶縁性樹脂から作られていることが記載されている。また、文献1には、キャビティ側面から十分な光反射効果を得るために、キャビティ側面にAg又はAlからなる反射用金属膜を形成するのが好ましい旨が記載されている。
また、文献3には、発光装置として、キャリアと、キャリアの主面上に装着された発光ダイオードであるオプトエレクトロニクス半導体チップと、キャリアに対して実装された光学部品と、を備えたオプトエレクトロニクス素子が提案されている。キャリアは、プリント回路基板又はセラミックである。光学部品は、フレームと、ガラスプレートと、を有する。フレームは、シリコンを用いて構成されている。ガラスプレートは、オプトエレクトロニクス半導体チップから出射される放射を透過する。
紫外線を出射する発光装置の分野においては、紫外線の高出力化が望まれている。
これに対して、発光装置1hは、実装基板2aと、実装基板2aに実装された紫外線発光素子3と、実装基板2a上に配置され紫外線発光素子3を露出させる貫通孔41が形成されたスペーサ4と、スペーサ4の貫通孔41を塞ぐようにスペーサ4上に配置されたカバー5と、を備える。紫外線発光素子3は、紫外波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射するように構成されている。スペーサ4は、Siにより形成されたスペーサ本体40を備える。貫通孔41は、スペーサ本体40に形成されている。貫通孔41は、実装基板2aから離れるにつれて開口面積が漸次増加している。カバー5は、紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。発光装置1hでは、スペーサ4とカバー5とが接合されている。このような構成の発光装置1hでは、紫外線の高出力化を図ることが可能となる。
以下では、発光装置1hの製造方法について簡単に説明する。なお、発光装置1aの製造方法と同様の工程については説明を適宜省略する。
発光装置1hの製造方法では、例えば、下記の第1工程、第2工程、第3工程及び第4工程を順次行う。
第1工程では、スペーサ4のシリコン酸化膜44上にAl膜からなる下地膜431を形成し、その後、カバー5とスペーサ4とを陽極接合によって直接接合することでキャップ6hを形成する。
第2工程では、キャップ6eの下地膜431に対してジンケート処理(zincate treatment)を行った後、無電解めっき法により、Ni膜とPd膜とAu膜との積層膜からなる接合層433を下地膜431上に形成する。第2工程では、接合層433を形成した後、接合層433上に例えばPt膜からなる第3バリア層83を形成し、その後、第3バリア層83上に第3AuSn層73を電解めっき法により形成し、続いて、第3AuSn層73上に電解めっき法により第3Au層93を形成する。第3バリア層83と第3AuSn層73と第3Au層93とで、第3接合用層103を構成している。
上述の第1工程及び第2工程は、ウェハレベルで行うのが好ましく、第2工程において第3Au層93を形成した後に、複数のスペーサ4を形成した第1ウェハと複数のカバー5の元になる第2ウェハとが接合された構造体から、複数のキャップ6hに分割するのが好ましい。
第3工程では、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2aの第1導体部21、第2導体部22とを、それぞれ、Auバンプからなる接合部161、Auバンプからなる接合部162により接合する。第3工程では、超音波を利用して紫外線発光素子3を実装基板2aに実装するフリップチップ実装を行う。
第4工程では、第1ステップ、第2ステップを順次行うことにより、キャップ6hを実装基板2aに接合する。第4工程の第1ステップでは、第2吸着保持具により吸着保持したキャップ6hにおける第2接合用金属層43と実装基板2dの第1接合用金属層23とを対向させる。より詳細には、第1ステップでは、第2接合用金属層43に積層されている第3接合用層103と第1接合用金属層23とを対向させる。第4工程の第2ステップでは、キャップ6hにおける第2接合用金属層43と実装基板2aの第1接合用金属層23とを、第3AuSn層73により接合する。第2ステップでは、第1ヒータにより実装基板2aを第3AuSn層73の融点以上の温度に加熱し、かつ、キャップ6hを第3AuSn層73の融点未満の温度にした状態で、キャップ6hにおける第3接合用層103と実装基板2aの第1接合用金属層23とが接触するように重ね合わせる。そして、第2ステップでは、キャップ6hに対して加圧を行いながら第3AuSn層73を溶融させてから、冷却凝固させることにより第3接合部63を形成する。第2ステップは、Nガス雰囲気中で行うのが好ましい。
発光装置1hの製造方法では、第1工程、第2工程、第3工程及び第4工程を順次行うことにより、発光装置1hを得ることができる。
(第2例)
以下では、第2例の発光装置1iについて図32及び33に基づいて説明する。発光装置1iは、紫外線発光素子3の第1電極31、第2電極32と実装基板2dの第1導体部21、第2導体部22とが、それぞれ、Auバンプからなる接合部161、Auバンプからなる接合部162により接合されている点が実施形態3の発光装置1dと相違する。また、発光装置1iでは、第3バリア層83がスペーサ4の第2接合用金属層43と第3接合部63との間にある点が発光装置1aと相違する。なお、発光装置1iにおいて、発光装置1dと同様の構成要素については、発光装置1dと同一の符号を付して説明を省略する。
Auバンプは、スタッドバンプ法により形成されたスタッドバンプにより構成されているのが好ましい。発光装置1iでは、第1電極31の平面サイズよりも第2電極32の平面サイズが大きいので、第2電極32に対して接合部162を複数設けてあるのが好ましい。これにより、発光装置1iでは、接合部162が1つの場合に比べて、放熱性の向上を図ることが可能となる。
発光装置1iでは、スペーサ4とカバー5とで、紫外線発光素子3を覆うキャップ6hを構成している。また、発光装置1iは、実装基板2dとキャップ6hとで、紫外線発光素子3を収納するパッケージ7iを構成している。
発光装置1iの製造方法は、発光装置1hの製造方法と同様なので、説明を省略する。
(実施形態7)
以下では、本実施形態の発光装置1jについて図34及び35に基づいて説明する。発光装置1jは、実装基板2aとスペーサ4とカバー5とで囲まれた空間8内で紫外線発光素子3を覆っている封止部80を備える点が実施形態1の発光装置1aと相違する。なお、発光装置1jにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
封止部80を形成している封止材料は、電気絶縁性を有する。また、封止部80を形成している封止材料は、紫外線発光素子3から放射される紫外線に対して耐紫外線性を有し、かつ紫外線発光素子3から放射される紫外線を透過する封止樹脂である。「紫外線発光素子3から放射される紫外線に対して耐紫外線性を有し」とは、例えば、紫外線発光素子3を定格電流で2000時間だけ、連続して通電し、通電開始前後の透過率の低下率が30%以下であることを意味する。封止部80の屈折率は、不活性ガスの屈折率よりも高い。
封止樹脂としては、例えば、主骨格がSi−O結合からなり、紫外線の透過率が90%以上であるシリコーン樹脂や、主骨格がC−F結合からなり、紫外線の透過率が90%以上であるフッ素系樹脂(例えば、アモルファスフッ素樹脂)等を採用することもできる。
波長265nmの紫外線に対するカバー5の屈折率は、1.5程度である。また、波長265nmの紫外線に対する基板30の屈折率は、1.8程度である。これに対して、波長265nmの紫外線に対する封止部80の屈折率は、例えば、1.3〜1.5程度である。
発光装置1jは、実装基板2aとスペーサ4とカバー5とで囲まれた空間8内で紫外線発光素子3を覆っている封止部80を備えることにより、光取り出し効率を向上させることが可能となり、高出力化を図ることが可能となる。
本実施形態の発光装置1jの製造方法は、発光装置1aの製造方法と略同じであり、キャップ6aにおいてカバー5とスペーサ4とで囲まれた空間に封止部80の元になる封止樹脂800を塗布し(図35A)、その後、キャップ6aを実装基板2aに対向させ(図35B)、続いて、キャップ6aを実装基板2aに接合してから、封止樹脂800を熱硬化させることで封止部80を形成する点が相違する。封止樹脂800を熱硬化させるプロセス条件は、例えば、加熱温度が150℃、加熱時間が2時間である。
実施形態1〜7に記載した材料、数値等は、好ましい例を示しているだけであり、それに限定する主旨ではない。更に、本願発明は、その技術的思想の範囲を逸脱しない範囲で、構成に適宜変更を加えることが可能である。
例えば、発光装置1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1h及び1jは、紫外線発光素子3として紫外線LEDチップを採用しているが、これに限らず、紫外線発光素子3として、例えば、紫外線LD(laser diode)チップを採用してもよい。
また、発光装置1a、1b、1c、1d及び1jでは、スペーサ本体40がSiにより形成されているが、スペーサ本体40がAlにより形成されていてもよい。
(本発明に係る態様)
上述の実施形態1〜7から明らかなように、本発明に係る第1の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1j)は、実装基板(2a、2b、2d)と、前記実装基板(2a、2b、2d)に実装された紫外線発光素子(3)と、前記実装基板(2a、2b、2d)上に配置され前記紫外線発光素子(3)を収納する凹部(663)が形成されたキャップ(6a、6c、6e、6g)と、を備え、前記実装基板(2a、2b、2d)は、支持体(20a、20d)と、前記支持体(20a、20d)に支持された第1導体部(21)、第2導体部(22)及び第1接合用金属層(23)と、を備え、前記第1導体部(21)及び前記第2導体部(22)は、前記支持体(20a、20d)の表面(201)側において前記キャップ(6a、6c、6e、6g)の前記凹部(663)の内底面(664)に臨むように配置され、前記キャップ(6a、6c、6e、6g)は、表面(661)及び裏面(662)を有し前記裏面(662)に前記凹部(663)が形成されたキャップ本体(660)と、前記キャップ本体(660)の前記裏面(662)における前記凹部(663)の周部で前記第1接合用金属層(23)に対向して配置された第2接合用金属層(43)と、を備え、少なくとも、前記キャップ本体(660)の前記表面(661)と前記凹部(663)の内底面(664)との間の紫外線透過部(666)が、前記紫外線発光素子(3)から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、前記紫外線発光素子(3)は、第1電極(31)と、第2電極(32)と、を備え、前記紫外線発光素子(3)の厚さ方向の一面側に前記第1電極(31)及び前記第2電極(32)が配置されており、前記第1導体部(21)と前記第2導体部(22)と前記第1接合用金属層(23)とは、前記支持体(20a、20d)の表面(201)側で同じ積層膜から構成されており、前記第1導体部(21)、前記第2導体部(22)及び前記第1接合用金属層(23)それぞれにおける前記支持体(20a、20d)から最も離れた最上層はAuにより形成され、前記第1電極(31)と前記第1導体部(21)とが、AuSnにより形成された第1接合部(61)により接合され、前記第2電極(32)と前記第2導体部(22)とが、AuSnにより形成された第2接合部(62)により接合され、前記第1接合用金属層(23)と前記第2接合用金属層(43)とが、AuSnにより形成された第3接合部(63)により接合されている。
本発明に係る第2の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1j)は、第1の態様において、前記第1導体部(21)、前記第2導体部(22)及び前記第1接合用金属層(23)と、前記第1接合部(61)、前記第2接合部(62)及び前記第3接合部(63)との間にそれぞれ、第1バリア層(81)、第2バリア層(82)及び第3バリア層(83)が形成されており、前記第1バリア層(81)と前記第2バリア層(82)と前記第3バリア層(83)とは同じ材料でかつ、同じ厚さで形成されている。
本発明に係る第3の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1j)は、第1又は2の態様において、前記第1電極(31)は、最表面がAu膜の表面により構成されている第1パッド電極層(31B)を備え、前記第2電極(32)は、最表面がAu膜の表面により構成されている第2パッド電極層(32B)を備え、前記第2接合用金属層(43)は、下地膜(431)とAu膜(432)との積層膜により構成されている。
本発明に係る第4の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1j)は、第1乃至3のいずれか一つの態様において、前記第3接合部(63)は、前記キャップ本体(660)の前記裏面(662)における外周縁の全周に沿って形成されている。
本発明に係る第5の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g)は、第4の態様において、前記実装基板(2a、2b、2d)と前記キャップ(6a、6c、6e、6g)とで囲まれた空間を不活性ガス雰囲気としてある。
本発明に係る第6の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1j)は、第1乃至5のいずれか一つの態様において、前記キャップ(6a、6c、6e、6g)は、平面視において前記実装基板(2a、2b、2d)よりも小さい。
本発明に係る第7の態様の発光装置(1a、1b、1c、1e、1g、1j)は、第1乃至6のいずれか一つの態様において、前記実装基板(2a、2b)は、第1外部接続電極(24)及び第2外部接続電極(25)と、前記支持体(20a)の厚さ方向に貫通して形成された第1貫通配線(26)及び第2貫通配線(27)と、を備え、前記第1外部接続電極(24)及び前記第2外部接続電極(25)は、前記支持体(20a)の裏面(202)に形成され、前記第1外部接続電極(24)は、前記第1貫通配線(26)を介して前記第1導体部(21)と電気的に接続され、前記第2外部接続電極(25)は、前記第2貫通配線(27)を介して前記第2導体部(22)と電気的に接続されている。
本発明に係る第8の態様の発光装置(1a、1b、1c、1e、1g、1j)は、第7の態様において、前記支持体(20a)は、AlNセラミックにより形成されている。
本発明に係る第9の態様の発光装置(1d、1f)は、第1乃至6のいずれか一つの態様において、前記実装基板(2d)は、多層基板であり、前記実装基板(2d)は、第1外部接続電極(24)及び第2外部接続電極(25)と、第1配線層(28)と、第2配線層(29)と、電気絶縁層(253)と、を備え、前記第1配線層(28)及び前記第2配線層(29)は、前記支持体(20d)の前記表面(201)側に配置され、前記第1導体部(21)及び前記第1外部接続電極(24)は、前記第1配線層(28)上に配置されて前記第1配線層(28)と電気的に接続され、前記第2導体部(22)及び前記第2外部接続電極(25)は、前記第2配線層(29)上に配置されて前記第2配線層(29)と電気的に接続され、前記電気絶縁層(253)は、前記支持体(20d)の前記表面(201)側で前記第1配線層(28)と前記第2配線層(29)とを覆うように配置され、前記第1接合用金属層(23)は、前記電気絶縁層(253)上に配置されている。
本発明に係る第10の態様の発光装置(1d、1f)は、第9の態様において、前記実装基板(2d)は、前記電気絶縁層(253)からなる第1電気絶縁層(253)とは別の第2電気絶縁層(251)を備え、前記支持体(20d)は、Siにより形成されており、前記第2電気絶縁層(251)は、前記支持体(20d)の前記表面(201)上に配置され、前記第1配線層(28)及び前記第2配線層(29)は、前記第2電気絶縁層(251)上に配置されている。
本発明に係る第11の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1g、1j)は、第1乃至10のいずれか一つの態様において、前記キャップ(6a、6c、6g)は、前記実装基板(2a、2b、2d)上に配置され前記紫外線発光素子(3)を露出させる貫通孔(41)が形成されたスペーサ(4)と、前記スペーサ(4)の前記貫通孔(41)を塞ぐように前記スペーサ(4)上に配置されており前記スペーサ(4)に接合されているカバー(5)と、を備え、前記カバー(5)において前記貫通孔(41)により露出した面が前記凹部(663)の内底面(664)を構成しており、前記カバー(5)は、前記紫外線発光素子(3)から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、前記スペーサ(4)は、Siにより形成されたスペーサ本体(40)と、前記スペーサ本体(40)における前記実装基板(2a、2b、2d)との対向面(42)側で前記第1接合用金属層(23)に対向して配置された前記第2接合用金属層(43)と、を備える。
本発明に係る第12の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1g、1j)は、第11の態様において、前記貫通孔(41)は、前記スペーサ本体(40)に形成されており、前記貫通孔(41)は、前記実装基板(2a、2b、2d)から離れるにつれて開口面積が漸次増加している。
本発明に係る第13の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1g、1j)は、第12の態様において、前記スペーサ本体(40)は、表面(401)が(100)面の単結晶Si基板(400)から形成されており、前記貫通孔(41)の内側面が{111}面に沿った面である。
本発明に係る第14の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1g、1j)は、第13の態様において、前記スペーサ(4)は、前記貫通孔(41)の前記内側面が{111}面に沿って形成されたシリコン酸化膜の表面により構成されている。
本発明に係る第15の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1g、1j)は、第11乃至14のいずれか一つの態様において、前記紫外線発光素子(3)は、UV−Cの波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射するように構成されている。
本発明に係る第16の態様の発光装置(1a、1b、1d、1g、1j)は、第11乃至15のいずれか一つの態様において、前記カバー(5)を形成するガラスは、アルカリ成分を含んでおり、前記スペーサ(4)と前記カバー(5)とが直接接合されている。
本発明に係る第17の態様の発光装置(1c)は、第11乃至15のいずれか一つの態様において、前記スペーサ(4)と前記カバー(5)とが、前記スペーサ本体(40)の熱膨張係数と前記カバー(5)の熱膨張係数との間の熱膨張係数を有する低融点ガラスにより形成された第4接合部(64)により接合されている。
本発明に係る第18の態様の発光装置(1g)は、第16の態様において、前記スペーサ(4)は、前記スペーサ本体(40)における前記カバー(5)との対向面(45)側に形成されたシリコン酸化膜(46)を備える。
本発明に係る第19の態様の発光装置(1e、1f)は、第1乃至10のいずれか一つの態様において、前記キャップ本体(660)の全体が、前記紫外線発光素子(3)から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている。
本発明に係る第20の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1j)の製造方法は、実装基板(2a、2b、2d)と、前記実装基板(2a、2b、2d)に実装された紫外線発光素子(3)と、前記実装基板(2a、2b、2d)上に配置され前記紫外線発光素子(3)を収納する凹部(663)が形成されたキャップ(6a、6c、6e、6g)と、を備え、前記実装基板(2a、2b、2d)は、支持体(20a、20d)と、前記支持体(20a、20d)に支持された第1導体部(21)、第2導体部(22)及び第1接合用金属層(23)と、を備え、前記第1導体部(21)及び前記第2導体部(22)は、前記支持体(20a、20d)の表面(201)側において前記キャップ(6a、6c、6e、6g)の前記凹部(663)の内底面(664)に臨むように配置され、前記キャップ(6a、6c、6e、6g)は、表面(661)及び裏面(662)を有し前記裏面(662)に前記凹部(663)が形成されたキャップ本体(660)と、前記キャップ本体(660)の前記裏面(662)における前記凹部(663)の周部で前記第1接合用金属層(23)に対向して配置された第2接合用金属層(43)と、を備え、少なくとも、前記キャップ本体(660)の前記表面(661)と前記凹部(663)の内底面(664)との間の紫外線透過部(666)が、前記紫外線発光素子(3)から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、前記紫外線発光素子(3)は、第1電極(31)と、第2電極(32)と、を備え、前記紫外線発光素子(3)の厚さ方向の一面側に前記第1電極(31)及び前記第2電極(32)が配置されている、発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1j)の製造方法であって、前記キャップ(6a、6c、6e、6g)を形成し、その後、前記紫外線発光素子(3)の前記第1電極(31)、前記第2電極(32)及び前記キャップ(6a、6c、6e、6g)における前記第2接合用金属層(43)と前記実装基板(2a、2b、2d)の前記第1導体部(21)、前記第2導体部(22)及び前記第1接合用金属層(23)とをそれぞれ第1AuSn層(71)、第2AuSn層(72)及び第3AuSn層(73)により接合するようにし、前記第1AuSn層(71)、前記第2AuSn層(72)及び前記第3AuSn層(73)は、前記実装基板(2a、2b、2d)に対して同一工程で一括形成される。
本発明に係る第21の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1j)の製造方法は、第20の態様において、前記紫外線発光素子(3)の前記第1電極(31)及び前記第2電極(32)と前記実装基板(2a、2b、2d)の前記第1導体部(21)及び前記第2導体部(22)とをそれぞれ前記第1AuSn層(71)及び前記第2AuSn層(72)により接合する第1接合処理を行い、前記第1接合処理に引き続き、前記キャップ(6a、6c、6e、6g)の前記第2接合用金属層(43)と前記実装基板(2a、2b、2d)の前記第1接合用金属層(23)とを前記第3AuSn層(73)により接合する第2接合処理を行うようにし、前記第1接合処理と前記第2接合処理とを、1台のボンディング装置のボンディング室で連続して行う。
本発明に係る第22の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1f、1g、1h、1i、1j)は、実装基板(2a、2b、2d)と、前記実装基板(2a、2b、2d)に実装された紫外線発光素子(3)と、前記実装基板(2a、2b、2d)上に配置され前記紫外線発光素子(3)を露出させる貫通孔(41)が形成されたスペーサ(4)と、前記スペーサ(4)の前記貫通孔(41)を塞ぐように前記スペーサ(4)上に配置されたカバー(5)と、を備え、前記紫外線発光素子(3)は、紫外波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射するように構成され、前記スペーサ(4)は、Siにより形成されたスペーサ本体(40)を備え、前記貫通孔(41)は、前記スペーサ本体(40)に形成されており、前記貫通孔(41)は、前記実装基板(2a、2b、2d)から離れるにつれて開口面積が漸次増加しており、前記カバー(5)は、前記紫外線発光素子(3)から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、前記スペーサ(4)と前記カバー(5)とが接合されている。
本発明に係る第23の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1f、1g、1h、1i、1j)は、第22の態様において、前記紫外線発光素子(3)は、UV−Cの波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射するように構成されている。
本発明に係る第24の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1f、1g、1h、1i、1j)は、第22又は23の態様において、前記スペーサ本体(40)は、表面(401)が(100)面の単結晶Si基板(400)から形成されており、前記貫通孔(41)の内側面が{111}面に沿った面である。
本発明に係る第25の態様の発光装置(1a、1b、1c、1d、1f、1g、1h、1i、1j)は、第24の態様において、前記スペーサ(4)は、前記貫通孔(41)の前記内側面が{111}面に沿って形成されたシリコン酸化膜の表面により構成されている。
本発明に係る第26の態様の発光装置(1j)は、第22乃至25のいずれか一つの態様において、前記実装基板(2a、2b、2d)と前記スペーサ(4)と前記カバー(5)とで囲まれた空間(8)内で前記紫外線発光素子(3)を覆っている封止部(80)を備える。
本発明に係る第27の態様の発光装置(1g)は、実装基板(2a、2b、2d)と、前記実装基板(2a、2b、2d)に実装された紫外線発光素子(3)と、前記実装基板(2a、2b、2d)上に配置され前記紫外線発光素子(3)を収納する凹部(663)が形成されたキャップ(6g)と、を備え、前記キャップ(6g)は、前記実装基板(2a、2b、2d)上に配置され前記紫外線発光素子(3)を露出させる貫通孔(41)が形成されたスペーサ(4)と、前記スペーサ(4)の前記貫通孔(41)を塞ぐように前記スペーサ(4)上に配置されており前記スペーサ(4)に接合されているカバー(5)と、を備え、前記カバー(5)は、前記紫外線発光素子(3)から放射される紫外線を透過する硼珪酸ガラスにより形成され、前記スペーサ(4)は、Siにより形成されたスペーサ本体(40)と、前記スペーサ本体(40)における前記カバー(5)との対向面(45)側に形成されたシリコン酸化膜(46)と、を備え、前記スペーサ(4)と前記カバー(5)とが直接接合されている。
本発明に係る第28の態様の発光装置(1g)は、第27の態様において、前記シリコン酸化膜(46)は、熱酸化膜である。
本発明に係る第29の態様の発光装置(1g)は、第27又は28の態様において、前記シリコン酸化膜(46)の膜厚は、50nm以上である。
本発明に係る第30の態様の発光装置(1g)の製造方法は、実装基板(2a、2b、2d)と、前記実装基板(2a、2b、2d)に実装された紫外線発光素子(3)と、前記実装基板(2a、2b、2d)上に配置され前記紫外線発光素子(3)を収納する凹部(663)が形成されたキャップ(6g)と、を備え、前記キャップ(6g)は、前記実装基板(2a、2b、2d)上に配置され前記紫外線発光素子(3)を露出させる貫通孔(41)が形成されたスペーサ(4)と、前記スペーサ(4)の前記貫通孔(41)を塞ぐように前記スペーサ(4)上に配置されており前記スペーサ(4)に接合されているカバー(5)と、を備え、前記カバー(5)は、前記紫外線発光素子(3)から放射される紫外線を透過する硼珪酸ガラスにより形成され、前記スペーサ(4)は、Siにより形成されたスペーサ本体(40)と、前記スペーサ本体(40)における前記カバー(5)との対向面(45)側に形成されたシリコン酸化膜(46)と、を備え、前記スペーサ(4)と前記カバー(5)とが直接接合されている、発光装置(1g)の製造方法であって、前記スペーサ(4)を複数形成した第1ウェハ(4001)と前記カバー(5)を複数形成できる第2ウェハ(5000)とを陽極接合により直接接合することでウェハレベル接合体を形成し、その後、ウェハレベル接合体をダイシングすることによって前記キャップ(6g)を形成し、前記紫外線発光素子3が実装されている実装基板(2a、2b、2d)と前記キャップ(6g)とを接合する。

Claims (21)

  1. 実装基板と、前記実装基板に実装された紫外線発光素子と、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を収納する凹部が形成されたキャップと、を備え、
    前記実装基板は、支持体と、前記支持体に支持された第1導体部、第2導体部及び第1接合用金属層と、を備え、
    前記第1導体部及び前記第2導体部は、前記支持体の表面側において前記キャップの前記凹部の内底面に臨むように配置され、
    前記キャップは、表面及び裏面を有し前記裏面に前記凹部が形成されたキャップ本体と、前記キャップ本体の前記裏面における前記凹部の周部で前記第1接合用金属層に対向して配置された第2接合用金属層と、を備え、少なくとも、前記キャップ本体の前記表面と前記凹部の内底面との間の紫外線透過部が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、
    前記紫外線発光素子は、第1電極と、第2電極と、を備え、前記紫外線発光素子の厚さ方向の一面側に前記第1電極及び前記第2電極が配置されており、
    前記第1導体部と前記第2導体部と前記第1接合用金属層とは、前記支持体の表面側で同じ積層膜から構成されており、
    前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層それぞれにおける前記支持体から最も離れた最上層はAuにより形成され、
    前記第1電極と前記第1導体部とが、AuSnにより形成された第1接合部により接合され、
    前記第2電極と前記第2導体部とが、AuSnにより形成された第2接合部により接合され、
    前記第1接合用金属層と前記第2接合用金属層とが、AuSnにより形成された第3接合部により接合されている、
    ことを特徴とする発光装置。
  2. 前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層と、前記第1接合部、前記第2接合部及び前記第3接合部との間にそれぞれ、第1バリア層、第2バリア層及び第3バリア層が形成されており、
    前記第1バリア層と前記第2バリア層と前記第3バリア層とは同じ材料でかつ、同じ厚さで形成されている、
    ことを特徴とする請求項1記載の発光装置。
  3. 前記第1電極は、最表面がAu膜の表面により構成されている第1パッド電極層を備え、
    前記第2電極は、最表面がAu膜の表面により構成されている第2パッド電極層を備え、
    前記第2接合用金属層は、下地膜とAu膜との積層膜により構成されている、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の発光装置。
  4. 前記第3接合部は、前記キャップ本体の前記裏面における外周縁の全周に沿って形成されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の発光装置。
  5. 前記実装基板と前記キャップとで囲まれた空間を不活性ガス雰囲気としてある、
    ことを特徴とする請求項4記載の発光装置。
  6. 前記キャップは、平面視において前記実装基板よりも小さい、
    ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の発光装置。
  7. 前記実装基板は、第1外部接続電極及び第2外部接続電極と、前記支持体の厚さ方向に貫通して形成された第1貫通配線及び第2貫通配線と、を備え、
    前記第1外部接続電極及び前記第2外部接続電極は、前記支持体の裏面に形成され、
    前記第1外部接続電極は、前記第1貫通配線を介して前記第1導体部と電気的に接続され、
    前記第2外部接続電極は、前記第2貫通配線を介して前記第2導体部と電気的に接続されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の発光装置。
  8. 前記支持体は、AlNセラミックにより形成されている、
    ことを特徴とする請求項7記載の発光装置。
  9. 前記実装基板は、多層基板であり、
    前記実装基板は、第1外部接続電極及び第2外部接続電極と、第1配線層と、第2配線層と、電気絶縁層と、を備え、
    前記第1配線層及び前記第2配線層は、前記支持体の前記表面側に配置され、
    前記第1導体部及び前記第1外部接続電極は、前記第1配線層上に配置されて前記第1配線層と電気的に接続され、
    前記第2導体部及び前記第2外部接続電極は、前記第2配線層上に配置されて前記第2配線層と電気的に接続され、
    前記電気絶縁層は、前記支持体の前記表面側で前記第1配線層と前記第2配線層とを覆うように配置され、
    前記第1接合用金属層は、前記電気絶縁層上に配置されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の発光装置。
  10. 前記実装基板は、前記電気絶縁層からなる第1電気絶縁層とは別の第2電気絶縁層を備え、
    前記支持体は、Siにより形成されており、
    前記第2電気絶縁層は、前記支持体の前記表面上に配置され、
    前記第1配線層及び前記第2配線層は、前記第2電気絶縁層上に配置されている、
    ことを特徴とする請求項9記載の発光装置。
  11. 前記キャップは、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を露出させる貫通孔が形成されたスペーサと、前記スペーサの前記貫通孔を塞ぐように前記スペーサ上に配置されており前記スペーサに接合されているカバーと、を備え、前記カバーにおいて前記貫通孔により露出した面が前記凹部の内底面を構成しており、
    前記カバーは、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、
    前記スペーサは、Siにより形成されたスペーサ本体と、前記スペーサ本体における前記実装基板との対向面側で前記第1接合用金属層に対向して配置された前記第2接合用金属層と、を備える、
    ことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の発光装置。
  12. 前記貫通孔は、前記スペーサ本体に形成されており、
    前記貫通孔は、前記実装基板から離れるにつれて開口面積が漸次増加している、
    ことを特徴とする請求項11記載の発光装置。
  13. 前記スペーサ本体は、表面が(100)面の単結晶Si基板から形成されており、前記貫通孔の内側面が{111}面に沿った面である、
    ことを特徴とする請求項12記載の発光装置。
  14. 前記スペーサは、前記貫通孔の前記内側面が{111}面に沿って形成されたシリコン酸化膜の表面により構成されている、
    ことを特徴とする請求項13記載の発光装置。
  15. 前記紫外線発光素子は、UV−Cの波長域に発光ピーク波長を有する紫外線を放射するように構成されている、
    ことを特徴とする請求項11乃至14のいずれか一項に記載の発光装置。
  16. 前記カバーを形成するガラスは、アルカリ成分を含んでおり、
    前記スペーサと前記カバーとが直接接合されている、
    ことを特徴とする請求項11乃至15のいずれか一項に記載の発光装置。
  17. 前記スペーサと前記カバーとが、前記スペーサ本体の熱膨張係数と前記カバーの熱膨張係数との間の熱膨張係数を有する低融点ガラスにより形成された第4接合部により接合されている、
    ことを特徴とする請求項11乃至15のいずれか一項に記載の発光装置。
  18. 前記スペーサは、前記スペーサ本体における前記カバーとの対向面側に形成されたシリコン酸化膜を備える、
    ことを特徴とする請求項16記載の発光装置。
  19. 前記キャップ本体の全体が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成されている、
    ことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の発光装置。
  20. 実装基板と、前記実装基板に実装された紫外線発光素子と、前記実装基板上に配置され前記紫外線発光素子を収納する凹部が形成されたキャップと、を備え、
    前記実装基板は、支持体と、前記支持体に支持された第1導体部、第2導体部及び第1接合用金属層と、を備え、
    前記第1導体部及び前記第2導体部は、前記支持体の表面側において前記キャップの前記凹部の内底面に臨むように配置され、
    前記キャップは、表面及び裏面を有し前記裏面に前記凹部が形成されたキャップ本体と、前記キャップ本体の前記裏面における前記凹部の周部で前記第1接合用金属層に対向して配置された第2接合用金属層と、を備え、少なくとも、前記キャップ本体の前記表面と前記凹部の内底面との間の紫外線透過部が、前記紫外線発光素子から放射される紫外線を透過するガラスにより形成され、
    前記紫外線発光素子は、第1電極と、第2電極と、を備え、前記紫外線発光素子の厚さ方向の一面側に前記第1電極及び前記第2電極が配置されている、発光装置の製造方法であって、
    前記キャップを形成し、
    その後、前記紫外線発光素子の前記第1電極、前記第2電極及び前記キャップにおける前記第2接合用金属層と前記実装基板の前記第1導体部、前記第2導体部及び前記第1接合用金属層とをそれぞれ第1AuSn層、第2AuSn層及び第3AuSn層により接合するようにし、
    前記第1AuSn層、前記第2AuSn層及び前記第3AuSn層は、前記実装基板に対して同一工程で一括形成される、
    ことを特徴とする発光装置の製造方法。
  21. 前記紫外線発光素子の前記第1電極及び前記第2電極と前記実装基板の前記第1導体部及び前記第2導体部とをそれぞれ前記第1AuSn層及び前記第2AuSn層により接合する第1接合処理を行い、
    前記第1接合処理に引き続き、前記キャップの前記第2接合用金属層と前記実装基板の前記第1接合用金属層とを前記第3AuSn層により接合する第2接合処理を行うようにし、
    前記第1接合処理と前記第2接合処理とを、1台のボンディング装置のボンディング室で連続して行う、
    ことを特徴とする請求項20記載の発光装置の製造方法。
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