JP5858050B2 - 研磨材再生方法 - Google Patents
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Description
研磨機から排出される研磨材スラリーを回収するスラリー回収工程Aと、
該回収した研磨材スラリーに対し、無機塩としてマグネシウム塩を添加し、母液の25℃換算のpH値が6.5以上、10.0未満の条件で研磨材を被研磨物由来成分から分離して凝集させ、該研磨材を母液より分離して濃縮する分離濃縮工程Bと、
該分離して濃縮した研磨材を回収する研磨材回収工程Cと、
を経て、酸化セリウムを含有する研磨材を再生することを特徴とする研磨材再生方法。
はじめに、本実施形態の研磨材再生方法の工程フローについて、図を用いて説明する。
一般に、光学ガラスや半導体基板等の研磨材としては、ベンガラ(αFe2O3)、酸化セリウム、酸化アルミニウム、酸化マンガン、酸化ジルコニウム、コロイダルシリカ等の微粒子を水や油に分散させてスラリー状にしたものが用いられているが、本発明においては、半導体基板の表面やガラスの研磨加工において、高精度に平坦性を維持しつつ、十分な加工速度を得るために、物理的な作用と化学的な作用の両方で研磨を行う、化学機械研磨(CMP)に適用が可能な酸化セリウムを主成分とする研磨材を用いる。
研磨材としては、下記に示すような使用形態(研磨工程)を有し、本発明はこのように使用された使用済み研磨材からの再生研磨材を効率的に再生する研磨材再生方法である。
酸化セリウムを主成分とする研磨材の粉体を、水等の溶媒に対して1〜40質量%になるように添加、分散して研磨材スラリーを調製する。この研磨材スラリーを研磨機に対して循環供給して使用する。研磨材として使用される酸化セリウム微粒子は、平均粒子径が数十nmから数μmの大きさの粒子が使用される。
図1に示すように、研磨パット(研磨布)とガラス基板を接触させ、接触面に対して研磨材スラリーを供給しながら、加圧条件下でパットとガラスを相対運動させて、ガラス基板を研磨する。
研磨された直後のガラス基板及び研磨機には大量の研磨材が付着している。そのため、図1で説明したように、研磨した後に研磨材スラリーの代わりに水等を供給し、ガラス基板及び研磨機に付着した研磨材の洗浄が行われる。この際に、研磨材を含む洗浄液は系外に排出される。
本発明でいう使用済み研磨材スラリーとは、研磨機及び研磨材スラリー用タンクからなる系の外部に排出される研磨材スラリーであって、主として以下に示す二種類ある。
本発明において、研磨材を再生し、再生酸化セリウム含有研磨材を製造する研磨材再生方法は、図1で概要を説明したように、概ねスラリー回収工程A、分離濃縮工程B、研磨材回収工程C、粒子径制御工程Dの4つの工程から構成されている。
研磨機及びスラリー用タンクからなる系から排出される研磨材スラリーを回収する工程である。回収する研磨材スラリーには、前記洗浄水を含む研磨材スラリー1と使用済みの研磨材スラリー2の2種類が含まれる。
回収した使用済み研磨材スラリーは、被研磨物由来のガラス成分を混入している。また、洗浄水の混入により濃度が低下している。研磨加工に再度使用するためには、ガラス成分の分離と、研磨材成分の濃縮を行う必要がある。
本発明においては、酸化セリウムの凝集に用いる無機塩が、2価のアルカリ土類金属塩であることを特徴とする。
2価のアルカリ土類金属塩であるマグネシウム塩の添加方法を説明する。
添加するマグネシウム塩は、粉体を回収スラリーに直接供給しても良いし、水等の溶媒に溶解させてから研磨材スラリーに添加してもよいが、研磨材スラリーに添加した後に均一な状態になるように、溶媒に溶解させた状態で添加することが好ましい。
マグネシウム塩を添加する際の温度は、回収した研磨材スラリーが凍結する温度以上であって、90℃までの範囲で有れば適宜選択することができるが、ガラス成分との分離を効率的に行う観点からは、10〜40℃の温度範囲内であることが好ましく、15〜35℃の温度範囲内であることがより好ましい。
マグネシウム塩を添加する速度は、回収した研磨材スラリー中でのマグネシウム濃度が一度に変化せず、均一になるように添加することが好ましい。1分間当たりの添加量が全添加量の20質量%以下であることが好ましく、10質量%以下であることがより好ましい。
本発明の技術的な特徴は、分離濃縮工程Bでマグネシウム塩を添加し、母液の25℃換算のpH値が、6.5以上、10.0未満の条件で分離濃縮を行うことを特徴とする。一般に、回収した研磨材スラリーのpH値はガラス成分のためややアルカリ性を示し、8〜10未満であるので、予め回収した研磨材スラリーのpH値を調整する必要はない。
マグネシウム塩を添加した後、少なくとも10分以上撹拌を継続することが好ましく、より好ましくは30分以上である。マグネシウム塩を添加すると同時に研磨材粒子の凝集が開始されるが、撹拌状態を維持することで凝集状態が系全体で均一となり凝集物の粒度分布が狭くなり、その後の分離が容易となる。
図2に示すように、分離濃縮工程Bで、ガラス成分を含む上澄み液17と酸化セリウム粒子を含む凝集体18に分離した後、凝集体18を回収する。
マグネシウム塩の添加により凝集した研磨材の凝集体と上澄み液とを分離する方法としては、一般的な凝集物の分離方法をいずれも採用することができる。すなわち、自然沈降を行って上澄みだけを分離することができ、また遠心分離機等の物理的な方法を行うこともできる。再生酸化セリウム含有研磨材の純度の点から、自然沈降を行うことが好ましい。
本発明の研磨材再生方法においては、上記各工程を経て回収した使用済みの酸化セリウムを再利用するため、最終工程として、酸化セリウム粒子の粒子径分布を調整する。
本発明においては、上記粒子径制御工程Dを経て得られる最終的な酸化セリウム含有研磨材は、粒度分布の経時変動が小さく、回収した時の濃度より高く、マグネシウムの含有量としては、0.0005〜0.08質量%の範囲であることが好ましく、その他の物質の含有量は1.0質量%以下であることが好ましい。
〔再生研磨材1の調製:本発明〕
以下の製造工程にしたがって、再生研磨材1を調製した。なお、特に断りがない限りは、研磨材再生工程は、基本的には、25℃、55%RHの条件下で行った。このとき、溶液等の温度も25℃である。
図1に記載の研磨工程で、ハードディスク用ガラス基板の研磨加工を行った後、洗浄水を含む研磨材スラリー1を210リットル、使用済み研磨材を含む研磨材スラリー2を30リットル回収し、回収スラリー液として240リットルとした。この回収スラリー液は比重1.03であり、8.5kgの酸化セリウムが含まれている。
次いで、この回収スラリー液を酸化セリウムが沈降しない程度に撹拌しながら、塩化マグネシウム10質量%水溶液2.5リットルを10分間かけて添加した。塩化マグネシウムを添加した直後の25℃換算のpH値は8.60であった。
上記の状態で30分撹拌を継続した後、1.5時間静置し、自然沈降法により、上澄み液17と凝集物18とを沈降・分離した。1.5時間後、図2の工程(C−1)に従って、排水ポンプ20を用いて、上澄み液17を排出して、図2の工程(C−2)に示すように凝集物18を分離回収した。回収した凝集物は60リットルであった。
分離した凝集物に水12リットルを添加した。さらに、金属分離剤(高分子分散剤)としてポリティーA550(ライオン(株)製)を300g添加し、30分撹拌した後、図3に示す工程で、超音波分散機を用いて、凝集物を分散して解きほぐした。
上記再生研磨材1の調製において、2)分離濃縮工程Bで用いた無機塩を、塩化マグネシウムに代えて、硫酸マグネシウムを用いた以外は同様にして、再生研磨材2を得た。
〔再生研磨材3の調製:本発明〕
上記再生研磨材1の調製において、4)粒子径制御工程D(分散工程)で、分散機として超音波分散機に代えて、ビーズミル型分散機を用いた以外は同様にして、再生研磨材3を得た。
上記再生研磨材1の調製において、2)分離濃縮工程Bで用いた無機塩を、塩化マグネシウムに代えて、炭酸カリウムを用いた以外は同様にして、再生研磨材4を得た。
上記再生研磨材1の調製において、2)分離濃縮工程Bで無機塩として塩化マグネシウムを添加した後、回収スラリー液のpH値を、水酸化カリウムを用いて10.10に調整した以外は同様にして、再生研磨材5を得た。
上記再生研磨材1の調製において、2)分離濃縮工程Bで無機塩として塩化マグネシウムを添加した後、回収スラリー液のpH値を、水酸化カリウムを用いて10.80に調整した以外は同様にして、再生研磨材6を得た。
上記再生研磨材1の調製において、2)分離濃縮工程Bで無機塩として塩化マグネシウム10質量%水溶液の代わりに硫酸マグネシウム25質量%水溶液を使用し、10ミクロンメンブランフィルターを通す前に、インライン超音波分散機(Hielscher製 UIP2000)を通した以外は同様にして、再生研磨材7を得た。
上記再生研磨材1の調製において、2)分離濃縮工程Bで用いた無機塩を、塩化マグネシウムに代えて、塩化ナトリウム(再生研磨材8)、硫酸ナトリウム(再生研磨材9)、塩化カリウム(再生研磨材10)、塩化カルシウム(再生研磨材11)を同条件で使用したが、塩化ナトリウム、硫酸ナトリウムを添加し30分撹拌を続け、そののち1.5時間静置しても凝集が起こらず、また、塩化カリウム、塩化カルシウムは凝集速度が遅く、更にガラス成分と共に凝集してしまい、ガラス成分を分離することはできなかった。
〔再生研磨材の純度評価:ガラス成分との分離能の評価〕
上記再生研磨材1〜6の調製において、2)分離濃縮工程Bの無機塩を添加する前の回収スラリー液と、各無機塩を添加して、静置して分離した後の上澄み液のそれぞれをサンプリングし、下記の方法に従って、ICP発光分光プラズマ分析装置により成分分析を行った。未処理の回収スラリー液に対して、セリウム濃度が減少し、かつケイ素濃度が変化していなければ、分離時に、酸化セリウム粒子のみが沈降し、非研磨材であるガラス粒子は沈降せずに、上澄み液中にとどまっていることを示し、セリウム濃度及びケイ素濃度が共に、未処理の回収スラリー液に対して低下していれば、沈殿物中に酸化セリウム粒子と共にガラス粒子も沈降し、効率的に両者を分離することができなかったことを示す。
上記分離した各上澄み液に対して、ICP発光分光プラズマにより、セリウム成分、ガラス成分(Si成分)の濃度を測定し、未処理(添加剤無し)の使用済みスラリーと比較した。具体的には、下記の手順に従って行った。
(a)試料(未処理の回収スラリー液、上澄み液)を、スターラーなどで撹拌しながら1ml採取した
(b)原子吸光用フッ化水素酸を5ml加えた
(c)超音波分散してシリカを溶出させた
(d)室温で30分静置した
(e)超純水で、総量を50mlに仕上げた
以上の手順に従って調製した各検体液を、試料液Aと称する。
(a)試料液Aをメンブレンフィルター(親水性PTFE)で濾過した
(b)濾液を誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP−AES)で測定した
(c)Siは標準添加法、Mgはマトリクスマッチングの検量線法により定量した。
(a)試料液Aをよく分散し、5ml採取した
(b)高純度硫酸を5ml加え、溶解させた
(c)超純水で50mlに仕上げた
(d)超純水で適宜希釈しICP−AESで測定した
(e)マトリクスマッチングの検量線法により、セリウムを定量した。
エスアイアイナノテクノロジー社製のICP−AESを使用した。
2 研磨定盤
3 被研磨物
4 研磨材液
5 スラリーノズル
7 洗浄水
8 洗浄水噴射ノズル
10 研磨材を含む洗浄液
13 研磨材スラリー(母液)
14、21 調整釜
15 攪拌機
16 添加容器
17 上澄み液
18 凝集体
19 排液パイプ
20 ポンプ
25 三方弁
26 超音波分散機
27 粒子径測定装置
F 研磨布
T1 スラリー槽
T2 洗浄水貯蔵槽
T3 洗浄液貯蔵槽
Claims (9)
- ケイ素が主成分である被研磨物を研磨した、酸化セリウム研磨材を含有する使用済み研磨材スラリーから、酸化セリウム研磨材を再生する研磨材再生方法であって、
研磨機から排出される研磨材スラリーを回収するスラリー回収工程Aと、
該回収した研磨材スラリーに対し、無機塩としてマグネシウム塩を添加し、母液の25℃換算のpH値が6.5以上、10.0未満の条件で研磨材を被研磨物由来成分から分離して凝集させ、該研磨材を母液より分離して濃縮する分離濃縮工程Bと、
該分離して濃縮した研磨材を回収する研磨材回収工程Cと、
を経て、酸化セリウムを含有する研磨材を再生することを特徴とする研磨材再生方法。 - 更に、前記研磨材回収工程Cの後に、回収した前記研磨材の粒子径を調整する粒子径制御工程Dを有することを特徴とする請求項1に記載の研磨材再生方法。
- 前記スラリー回収工程Aは、洗浄水を含む研磨材スラリー1と使用済みの研磨材スラリー2とを回収することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の研磨材再生方法。
- 前記スラリー回収工程Aで回収した研磨材スラリー1と研磨材スラリー2とを混合した後、前記分離濃縮工程B及び研磨材回収工程Cで処理することを特徴とする請求項3に記載の研磨材再生方法。
- 前記スラリー回収工程Aで回収した研磨材スラリー1と研磨材スラリー2とを、それぞれ独立して前記分離濃縮工程B及び研磨材回収工程Cで処理することを特徴とする請求項3に記載の研磨材再生方法。
- 前記研磨材回収工程Cにおける研磨材を回収する方法が、自然沈降によるデカンテーション分離法であることを特徴とする請求項2から請求項5までのいずれか一項に記載の研磨材再生方法。
- 前記粒子径制御工程Dは、回収した研磨材溶液に分散剤を添加した後、超音波分散機又はビーズミル型分散機を用いて分散することにより、再生研磨材の粒子径を制御することを特徴とする請求項1から請求項6までのいずれか一項に記載の研磨材再生方法。
- 前記粒子径制御工程Dで用いる分散機が、超音波分散機であることを特徴とする請求項7に記載の研磨材再生方法。
- 前記分散剤が、ポリカルボン酸系高分子分散剤であることを特徴とする請求項7又は請求項8に記載の研磨材再生方法。
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