JP5821432B2 - 接続端子及び接続治具 - Google Patents
接続端子及び接続治具 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5821432B2 JP5821432B2 JP2011192422A JP2011192422A JP5821432B2 JP 5821432 B2 JP5821432 B2 JP 5821432B2 JP 2011192422 A JP2011192422 A JP 2011192422A JP 2011192422 A JP2011192422 A JP 2011192422A JP 5821432 B2 JP5821432 B2 JP 5821432B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cylindrical portion
- diameter
- connection terminal
- small
- cylindrical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
- G01R1/06738—Geometry aspects related to tip portion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/04—Pins or blades for co-operation with sockets
- H01R13/08—Resiliently-mounted rigid pins or blades
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
- H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
- H01R43/16—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for manufacturing contact members, e.g. by punching and by bending
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49204—Contact or terminal manufacturing
- Y10T29/49208—Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts
Description
図1は、本発明の一実施形態に係る検査用治具10の概略の構成を示す一部断面正面図である。検査用治具10は、ヘッド部12、ベース部14及び電極部16を備える。ヘッド部12及びベース部14は、樹脂あるいはセラミックス等の絶縁性の板状部材からなる。ヘッド部12及びベース部14は、棒状の支持部材11及びその周囲に環装されたスペーサ11sによって所定の距離だけ離隔されて保持されている。
図2Aから図2Dは、図1の検査用治具に用いることができる一実施形態に係る接続端子(又は「プローブ」という)20を説明するための拡大及び簡略化した側面図である。図2Aは接続端子20の一部断面図であり、図2Bは接続端子20を構成する円筒形状部22の側面図であり、図2Cは接続端子20を構成する棒状部24の側面図であり、図2Dは円筒形状部22に棒状部24を接合する方法を説明するための簡略化側面図である。
図4は、検査用治具の一部の拡大断面図である。図4に示すように、ヘッド部12の下面には板厚の薄いプレート12uが取り付けられていて、ヘッド部12には大径部12h1が形成され、プレート12uには小径部12h2が形成されている。ただし、プレート12uを用いることなく、ヘッド部12自体に大径部12h1と小径部12h2とを形成してもよい。
図6Aから図6Hまでは、本発明に係る一実施形態の接続端子を製造するための各工程の一実施例を示す断面図である。また、ここで製造された接続端子は、単独で用いるだけでなく、他の円筒形状部材又は円柱形状部材と組み合わせることによって接続端子として機能するものである。なお、全図において、各部材の厚さ、長さ、形状、部材同士の間隔、隙間等は、理解の容易のために、適宜、拡大・縮小・変形・簡略化等をしている。図の説明の際の上下・左右の表現は、その図に向かった状態でのその図面の面に沿った方向を表すものとする。
図7A及び図7Bは、他の実施形態に係るプローブ50を示す。プローブ50は、大径の円筒形状部54とそれに挿入されている小径の円柱形状部52(導電部)とから構成されている。
図9Aから図9Cは、図1の検査用治具に用いることができる更に別の実施形態に係るプローブ20を説明するための拡大及び簡略化した側面図である。
11・・・支持部材
11s・・・スペーサ
12・・・ヘッド部
12h,14h・・・貫通孔
12h1・・・大径部
12h2・・・小径部
13s・・・スリット
14・・・ベース部
16・・・電極部
20・・・プローブ
22・・・小径の円筒形状部
24・・・大径の円筒形状部
22f・・・先端部
22r・・・後端部
22fe,24fe・・・先端面
22re,24re・・・後端面
22s・・・ばね部
70・・・芯材
71,73・・・接続端子
72・・・金めっき層
74・・・ニッケルめっき層
76・・・絶縁膜
Claims (13)
- 対象点間を接続する接続治具に用いられる接続端子であって、
小径の導電部とそれを囲むように配置された大径の円筒形状部とを備え、
前記小径の導電部の先端部が、先端部から突出し、
前記小径の導電部の一部が、前記大径の円筒形状部の一部に接合されており、
前記円筒形状部の前記導電部に接合された部分を含む環状の帯状部分に、前記大径の円筒形状部を前記小径の導電部に接合するときに前記円筒形状部の断面を円形形状に維持するための切欠き部が形成されている、接続端子。 - 請求項1の接続端子において、前記切欠き部が、前記円筒形状部の軸線方向の長さと、該円筒形状部の軸線の周りの帯状部分の周面に沿った幅方向の長さとを持ち、前記切欠き部の前記軸線方向の長さが、前記小径の導電部の一部を前記大径の円筒形状部の一部に接合する際に用いる電極の該円筒形状部の軸線方向の両端部を超えた長さであり、また、前記切欠き部の前記幅方向の長さが、前記円筒形状部の内周面の1周の長さと前記小径の導電部の外周面の1周の長さとの差よりも大である、接続端子。
- 請求項2の接続端子において、前記切欠き部が、前記円筒形状部の軸線に沿った方向又は軸線に沿った方向と交差する方向に形成されている、接続端子。
- 請求項1乃至3のいずれかの接続端子において、前記切欠き部が、前記円筒形状部の軸線を線対象とする一対の切欠き部からなる、接続端子。
- 請求項1乃至4のいずれかの接続端子において、前記切欠き部が細長い開口のスリット形状である、接続端子。
- 請求項1乃至5のいずれかの接続端子において、前記円筒形状部の前記導電部に接合された部分を含む前記帯状部分を除く部分にばね部が形成されている、接続端子。
- 請求項1乃至6のいずれかの接続端子において、前記小径の導電部が、円柱形状部又は円筒形状部からなる、接続端子。
- 請求項1乃至7のいずれかの接続端子において、前記小径の円筒形状部の導電部の一部にばね部が形成されている、接続端子。
- 対象点間を接続する接続治具に用いられる接続端子を製造する方法であって、
小径の導電部と大径の円筒形状部とを形成し、
前記大径の円筒形状部の軸線の周りの環状の帯状部分の一部に、前記大径の円筒形状部を前記小径の導電部に接合するときに前記円筒形状部の断面を円形形状に維持するための切欠き部を形成し、
前記大径の円筒形状部に前記小径の導電部を挿入して前記小径の導電部の先端部を前記大径の円筒形状部の先端部から突出させ、
前記大径の円筒形状部の軸線の周りの帯状部分の該軸線方向と直交する方向に対向する位置であって前記切欠き部が形成された位置を除く位置に一対の抵抗溶接用の電極を配置し、
該一対の抵抗溶接の電極を互いに近づけるように前記大径の円筒形状部を押圧して前記小径の導電部に接触させ、
前記一対の抵抗溶接の電極に所定の電流を流すことによって、前記大径の円筒形状部の一部と前記小径の導電部の一部とを接合する、接続端子を製造する方法。 - 請求項9の接続端子を製造する方法において、前記切欠き部が、前記円筒形状部の軸線方向の長さと、該円筒形状部の軸線の周りの帯状部分の周面に沿った幅方向の長さとを持ち、前記切欠き部の前記軸線方向の長さが、前記抵抗溶接の電極の該円筒形状部の軸線方向の両端部を超えた長さであり、また、前記切欠き部の前記幅方向の長さが、前記円筒形状部の内周面の1周の長さと前記小径の導電部の外周面の1周の長さとの差よりも大である、接続端子を製造する方法。
- 請求項9又は10の接続端子を製造する方法において、前記切欠き部が、前記円筒形状部の軸線に沿った方向又は軸線に沿った方向と交差する方向に形成されている、接続端子を製造する方法。
- 請求項9乃至11のいずれかの接続端子を製造する方法において、前記円筒形状部の前記導電部に接合された部分を含む前記帯状部分を除く部分にばね部が形成されている、接続端子を製造する方法。
- 請求項9乃至12のいずれかの接続端子を製造する方法において、前記小径の導電部が、円柱形状部又は円筒形状部からなる、接続端子を製造する方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011192422A JP5821432B2 (ja) | 2011-09-05 | 2011-09-05 | 接続端子及び接続治具 |
KR1020120094109A KR101365095B1 (ko) | 2011-09-05 | 2012-08-28 | 접속단자 및 접속치구 |
US13/601,982 US9069012B2 (en) | 2011-09-05 | 2012-08-31 | Connection terminal and connection jig |
CN201210321516.7A CN102981025B (zh) | 2011-09-05 | 2012-09-03 | 连接端子及连接夹具 |
TW101132056A TWI513114B (zh) | 2011-09-05 | 2012-09-03 | 連接端子及其製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011192422A JP5821432B2 (ja) | 2011-09-05 | 2011-09-05 | 接続端子及び接続治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013053931A JP2013053931A (ja) | 2013-03-21 |
JP5821432B2 true JP5821432B2 (ja) | 2015-11-24 |
Family
ID=47752669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011192422A Active JP5821432B2 (ja) | 2011-09-05 | 2011-09-05 | 接続端子及び接続治具 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9069012B2 (ja) |
JP (1) | JP5821432B2 (ja) |
KR (1) | KR101365095B1 (ja) |
CN (1) | CN102981025B (ja) |
TW (1) | TWI513114B (ja) |
Families Citing this family (37)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI548879B (zh) * | 2014-01-28 | 2016-09-11 | Spring sleeve probe | |
JP6546719B2 (ja) * | 2014-02-07 | 2019-07-17 | 株式会社日本マイクロニクス | 接触検査装置 |
TW201533449A (zh) * | 2014-02-24 | 2015-09-01 | Mpi Corp | 具有彈簧套筒式探針之探針裝置 |
CN104865424B (zh) * | 2014-02-24 | 2017-11-14 | 旺矽科技股份有限公司 | 具有弹簧套筒式探针的探针装置 |
JP2016017873A (ja) * | 2014-07-09 | 2016-02-01 | 早田 裕 | 放電電流測定装置 |
TWI585727B (zh) * | 2014-08-28 | 2017-06-01 | 群創光電股份有限公司 | 驅動電路板、顯示模組及顯示面板的自動化測試方法 |
JP6411169B2 (ja) * | 2014-10-22 | 2018-10-24 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接触子及び電気的接続装置 |
JP1523929S (ja) * | 2014-11-28 | 2015-05-18 | ||
JP1523930S (ja) * | 2014-11-28 | 2015-05-18 | ||
TWD173861S (zh) * | 2014-12-02 | 2016-02-21 | 日本麥克隆尼股份有限公司 | 電性接觸元件 |
TWD173862S (zh) * | 2014-12-02 | 2016-02-21 | 日本麥克隆尼股份有限公司 | 電性接觸元件 |
JP1539506S (ja) * | 2015-05-01 | 2015-12-07 | ||
TWI570415B (zh) * | 2015-10-02 | 2017-02-11 | A spring probe having an outer sleeve and a probe device having the spring probe | |
TWI554763B (zh) * | 2015-10-28 | 2016-10-21 | 旺矽科技股份有限公司 | 彈簧式探針頭 |
JP2017142080A (ja) | 2016-02-08 | 2017-08-17 | 日本電産リード株式会社 | 接触端子、検査治具、及び検査装置 |
TWI567395B (zh) * | 2016-05-06 | 2017-01-21 | 致茂電子股份有限公司 | 電流探針 |
KR20190013732A (ko) * | 2016-05-31 | 2019-02-11 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 접촉 도전 지그, 및 검사 장치 |
WO2017212814A1 (ja) * | 2016-06-09 | 2017-12-14 | 日本電産リード株式会社 | 検査治具、及び検査装置 |
DE102016217563A1 (de) * | 2016-09-14 | 2018-03-15 | Feinmetall Gmbh | Kontaktstift, insbesondere Federkontaktstift |
US10656179B2 (en) | 2016-11-30 | 2020-05-19 | Nidec-Read Corporation | Contact terminal, inspection jig, and inspection device |
JP2018107011A (ja) | 2016-12-27 | 2018-07-05 | 株式会社エンプラス | 電気接触子及び電気部品用ソケット |
JP7023276B2 (ja) * | 2017-03-29 | 2022-02-21 | 日本発條株式会社 | プローブ、プローブユニット、およびプローブユニットを備える半導体検査装置 |
JP6980410B2 (ja) | 2017-05-23 | 2021-12-15 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ |
JP2018197714A (ja) * | 2017-05-24 | 2018-12-13 | 山一電機株式会社 | Mems型プローブ、及び、これを使用した電気検査用装置 |
JP7098886B2 (ja) | 2017-07-04 | 2022-07-12 | 日本電産リード株式会社 | 接触端子、検査治具、及び検査装置 |
JP6969929B2 (ja) * | 2017-08-24 | 2021-11-24 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ及びその製造方法 |
JP6912322B2 (ja) * | 2017-08-24 | 2021-08-04 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ及びその製造方法 |
USD847757S1 (en) * | 2017-08-30 | 2019-05-07 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | Probe pin |
JP7017373B2 (ja) * | 2017-11-01 | 2022-02-08 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ及びその製造方法 |
JP2019090633A (ja) * | 2017-11-13 | 2019-06-13 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ及びその製造方法 |
TW201942581A (zh) | 2018-03-30 | 2019-11-01 | 日商日本電產理德股份有限公司 | 檢查治具以及具備該治具的檢查裝置 |
JP7096095B2 (ja) * | 2018-07-27 | 2022-07-05 | 株式会社エンプラス | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
WO2020039969A1 (ja) * | 2018-08-23 | 2020-02-27 | 日本電産リード株式会社 | 検査治具、検査装置、及び接触端子 |
JP7354534B2 (ja) * | 2018-11-08 | 2023-10-03 | オムロン株式会社 | プローブピンおよび検査治具 |
CN109932534B (zh) * | 2019-03-27 | 2021-03-30 | 昆山福烨电子有限公司 | 一种多用途线性测试仪治具 |
DE112020001691T5 (de) * | 2019-03-29 | 2021-12-09 | Nidec Read Corporation | Kontaktanschluss, prüfmittel und prüfeinrichtung |
US11569601B2 (en) * | 2021-03-11 | 2023-01-31 | Enplas Corporation | Socket and inspection socket |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3288957A (en) * | 1964-06-15 | 1966-11-29 | Amp Inc | Contactor having non-short feature |
JPS62225960A (ja) | 1986-03-26 | 1987-10-03 | Sanko Giken Kogyo Kk | コンタクトプロ−ブ |
JP3889689B2 (ja) | 2002-09-24 | 2007-03-07 | 株式会社ルス・コム | 電鋳管の製造方法及び電鋳管 |
JP2005069805A (ja) * | 2003-08-22 | 2005-03-17 | Jst Mfg Co Ltd | コンタクトプローブおよびそれを用いたコンタクトアセンブリ |
JP4031007B2 (ja) | 2005-07-15 | 2008-01-09 | 日本電子材料株式会社 | 垂直コイルスプリングプローブ及びこれを用いたプローブユニット |
JP2008025833A (ja) | 2006-06-21 | 2008-02-07 | Luzcom:Kk | Ni電鋳製コイル状超微細スプリング及びコイル状スプリング構造を一部に備えているNi電鋳パイプ |
JP5268135B2 (ja) | 2008-01-09 | 2013-08-21 | 学校法人東京電機大学 | マイクロコイルの製作方法 |
JP2010276510A (ja) * | 2009-05-29 | 2010-12-09 | Nidec-Read Corp | 検査用治具 |
JP5504698B2 (ja) | 2009-06-02 | 2014-05-28 | 日本電産リード株式会社 | 検査用治具及び検査用接触子 |
JP5381609B2 (ja) * | 2009-10-20 | 2014-01-08 | 日本電産リード株式会社 | 検査用治具及び接触子 |
JP5375516B2 (ja) * | 2009-10-23 | 2013-12-25 | 日本電産リード株式会社 | 接触子 |
JP4572303B1 (ja) * | 2010-02-12 | 2010-11-04 | 株式会社ルス・コム | 通電検査治具用接触子の製造方法及び、これにより製造した通電検査治具用接触子、並びにこれを備えている通電検査治具 |
-
2011
- 2011-09-05 JP JP2011192422A patent/JP5821432B2/ja active Active
-
2012
- 2012-08-28 KR KR1020120094109A patent/KR101365095B1/ko active IP Right Grant
- 2012-08-31 US US13/601,982 patent/US9069012B2/en active Active
- 2012-09-03 TW TW101132056A patent/TWI513114B/zh active
- 2012-09-03 CN CN201210321516.7A patent/CN102981025B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201312863A (zh) | 2013-03-16 |
US9069012B2 (en) | 2015-06-30 |
KR101365095B1 (ko) | 2014-02-19 |
CN102981025A (zh) | 2013-03-20 |
KR20130026384A (ko) | 2013-03-13 |
CN102981025B (zh) | 2015-10-07 |
JP2013053931A (ja) | 2013-03-21 |
US20130057308A1 (en) | 2013-03-07 |
TWI513114B (zh) | 2015-12-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5821432B2 (ja) | 接続端子及び接続治具 | |
JP5751222B2 (ja) | 接続端子及び接続治具 | |
KR101321355B1 (ko) | 프로브 및 접속치구 | |
JP5776687B2 (ja) | 検査用接触子及び検査用治具 | |
JP2013190270A (ja) | プローブ及び接続治具 | |
US20140028343A1 (en) | Inspection jig and contact | |
JP2010281592A (ja) | プローブ及び検査用治具 | |
JP4916719B2 (ja) | コンタクトプローブおよびコンタクトプローブの実装構造 | |
JP2010276510A (ja) | 検査用治具 | |
TWI457571B (zh) | 檢測用接觸件及檢測用夾具 | |
JP2003307525A (ja) | コンタクトプローブ | |
JP5062355B2 (ja) | 接続端子及び接続端子の製造方法 | |
JP2009014480A (ja) | 検査冶具 | |
JP2003194849A (ja) | コンタクトプローブ | |
JP5088504B2 (ja) | 基板検査用接触子及びその製造方法 | |
JP5899650B2 (ja) | 接触子及び検査用治具 | |
JP2013061186A (ja) | 接続端子及び接続治具 | |
JP2013178284A (ja) | 電気接触子およびそれを備える検査治具 | |
JP2013174471A (ja) | 検査用治具及び接触子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140820 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140820 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150408 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150427 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150624 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150908 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150921 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5821432 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |