JP2018107011A - 電気接触子及び電気部品用ソケット - Google Patents

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Abstract

【課題】電気接触子の部品点数を減らし、かつ、第1の電気部品と第2の電気部品を電気的に接続したときの電気接触子の抵抗値を下げることができる電気接触子及び電気部品用ソケットを提供する。
【解決手段】第1の電気部品1に接触する第1部材70と、第2の電気部品2に接触する第2部材80とが、互いに伸縮自在となるように設けられ、第1部材70は、板状部分70Bの一部に波状部分70Cが形成された導電材料70Aが筒状に形成され、第1の電気部品1に接触する第1接触部71と、波状部分70Cで形成されたばね部75とを有し、第2部材80は、棒状部材で構成され、第2の電気部品2に接触する第2接触部81と、ばね部75の内部に挿入される挿入部85とを有し、第1部材70と第2部材80をばね部75の付勢力に抗して収縮させることにより、第1接触部71と第2接触部81が互いに離間する方向に付勢される電気接触子60。
【選択図】図1

Description

この発明は、半導体装置(以下「ICパッケージ」という)等の電気部品に電気的に接続される電気接触子、及び、この電気接触子が配設された電気部品用ソケットに関するものである。
従来、この種の電気接触子としては、電気部品用ソケットとしてのICソケットに設けられたコンタクトピンが知られている。このICソケットは、配線基板上に配置されると共に、検査対象であるICパッケージが収容されるようになっており、このICパッケージの端子と、配線基板の電極とが、そのコンタクトピンを介して電気的に接続されて、導通試験等の試験を行うようになっている。
そのようなコンタクトピンとしては、板状部材を折り曲げて、配線基板に接触させる接触部と、ICパッケージに接触させる接触部と、接触部同士を離間する方向に付勢するばね部とが一体に構成されたものを形成し、これを板状部材を折り曲げて形成した筒状部材の内部に配設したものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2002−31648号公報
しかしながら、前記した特許文献1のようなコンタクトピンにおいて、部品点数が少ない状態で、かつ、コンタクトピンの抵抗値を下げることが求められていた。
そこで、この発明は、電気接触子(コンタクトピン)の部品点数を減らし、かつ、第1の電気部品(配線基板)と第2の電気部品(ICパッケージ)を電気的に接続したときの電気接触子の抵抗値を下げることができる電気接触子及び電気部品用ソケット(ICソケット)を提供することを課題としている。
かかる課題を達成するために、請求項1に記載の発明は、第1の電気部品と第2の電気部品の間に配設されて、両者を電気的に接続する電気接触子であって、前記第1の電気部品に接触する第1部材と、前記第2の電気部品に接触する第2部材とが、互いに伸縮自在となるように設けられており、前記第1部材は、板状部分の一部に波状部分が形成された導電材料が筒状に形成され、前記第1の電気部品に接触する第1接触部と、前記波状部分で形成されたばね部とを有しており、前記第2部材は、棒状部材で構成され、前記第2の電気部品に接触する第2接触部と、前記ばね部の内部に挿入される挿入部とを有しており、前記第1部材と前記第2部材を前記ばね部の付勢力に抗して収縮させることにより、前記第1接触部と前記第2接触部が互いに離間する方向に付勢されるようになっている電気接触子としたことを特徴とする。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明に加えて、前記ばね部の内部に挿入された前記挿入部が、前記第1接触部と接触して、前記第1部材と前記第2部材とが導通している電気接触子としたことを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、第2の電気部品上に配置され、第1の電気部品が収容される収容部を有するソケット本体と、該ソケット本体に配設されて前記第1の電気部品に設けられた端子及び前記第2の電気部品に設けられた端子に接触する請求項1又は2に記載の電気接触子とを有する電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。
請求項1に記載の発明によれば、電気接触子が第1部材と第2部材の2つの部材で構成されているため、電気接触子に使用する部品点数を少ない状態とすることができる。また、第1部材のばね部の内部に第2部材の挿入部が挿入されて、第1部材と第2部材が電気的に接続するようになっているため、第1接触部に接触した第1の電気部品から第2接触部に接触した第2の電気部品までの電気が通過する距離を、電気が第1部材からばね部全体を通って第2部材に到達する従来のものよりも短くすることができる。その結果、電気接触子の抵抗値を下げることができる。
請求項2に記載の発明によれば、ばね部の内部に挿入された挿入部が、第1接触部と接触するようになっているため、挿入部がばね部のみに接触している場合より、電気の通過距離を短くすることができ、その結果、電気接触子の抵抗値をより下げることができる。
請求項3に記載の発明によれば、請求項1又は2に記載の電気接触子を有しているため、電気接触子に使用する部品点数を少ない状態とした電気部品用ソケットとすることができる。また、請求項1又は2に記載の電気接触子を有しているため、第1接触部に接触した第1の電気部品から第2接触部に接触した第2の電気部品までの電気が通過する距離を従来のものよりも短くして、電気接触子の抵抗値を下げた電気部品用ソケットとすることができる。
この発明の実施の形態に係るICソケットのソケット本体を示す斜視図である。 同実施の形態に係るICソケットのソケット本体の分解斜視図である。 同実施の形態に係るICソケットのソケット本体における図2と別角度の分解斜視図である。 同実施の形態に係るICソケットのソケット本体におけるコンタクトモジュールを示す正面図である。 同実施の形態に係るICソケットのソケット本体におけるコンタクトモジュールの縦断面図である。 同実施の形態に係るICソケットにおけるコンタクトピンを示す正面図である。 同実施の形態に係るICソケットにおけるコンタクトピンを示す背面図である。 同実施の形態に係るICソケットにおけるコンタクトピンの縦断面図である。 同実施の形態に係るICソケットにおけるコンタクトピンの図8の一部拡大縦断面図である。 同実施の形態に係るICソケットにおけるコンタクトピンの図6の一部拡大正面図である。 同実施の形態に係るICソケットにおけるコンタクトピンの展開図である。
以下、この発明の実施の形態について説明する。
図1〜図11には、この発明の実施の形態を示す。
この実施の形態の「電気部品用ソケット」としてのICソケット10は、図1,図4,図5に示すように、「第1の電気部品」としての配線基板1上に配置され、上面に「第2の電気部品」としてのICパッケージ2が収容されて、配線基板1の「端子」としての電極(図示省略)とICパッケージ2の「端子」としての半田ボール(図示省略)に接触して両者を電気的に接続させるように構成されている。そして、このICソケット10は、例えばICパッケージ2に対するバーンイン試験等の導通試験の試験装置などに用いられる。
この実施の形態のICパッケージ2(図5参照)は、略方形状のパッケージ本体3の下面の略方形の所定の範囲に、複数の球状の半田ボールがマトリックス状に設けられている。
また、ICソケット10は、図1に示すように、配線基板1上に配置されてICパッケージ2を収容するように構成されたソケット本体20と、ソケット本体20に対して回動して開閉可能に配設された一対のカバー部材(図示省略)と、カバー部材の回動を操作するための枠状の操作部材(図示省略)とを備えている。なお、カバー部材及び操作部材については、詳細な説明を省略する。
ソケット本体20は、図2,図3に示すように、四角形の枠状に形成されてカバー部材や操作部材を支持するように構成された支持部材21内に、四角形の枠状に形成された枠部材22が配設され、さらに当該枠部材22内にコンタクトモジュール30が配設されている。このコンタクトモジュール30には、複数の「電気接触子」としてのコンタクトピン60(図5等参照)がマトリックス状に配設されており、その上面側にICパッケージ2が収容される「収容部」としてのフローティングプレート40を有する構成となっている。
このコンタクトモジュール30は、図4,図5に示すように、上側保持部材31,中央保持部材32,下側保持部材33,フローティングプレート40等を備えている。この上側保持部材31と中央保持部材32と下側保持部材33とは所定の間隔で保持され、この上側保持部材31の上側には、フローティングプレート40が、スプリング(図示省略)によりソケット本体20の上方に付勢されて、所定間隔で保持された上側保持部材31,中央保持部材32,下側保持部材33に対して、上下動可能となっている。
そして、これら上側保持部材31,中央保持部材32,下側保持部材33,フローティングプレート40の上下方向に貫通するように設けられた貫通孔(図示省略)に、コンタクトピン60が挿通されて配設されており、上下方向に伸縮自在に構成されている。なお、本実施の形態では、前記したように、コンタクトモジュール30に対して複数のコンタクトピン60がマトリックス状に配設されているが、図5上では、便宜的にコンタクトピン60を3本だけ記載している。
各コンタクトピン60は、図6〜図10に示すように、導電性の円筒状に形成されて配線基板1の電極と接触する第1部材70と、導電性の棒状(ここでは中空の棒状)に形成されてICパッケージ2の半田ボールと接触する第2部材80の、2つの部材で構成されている。
このうち、第1部材70は、軸Lに沿って筒状に形成された部材であり、第1接触部71と、これに繋がって第1部材70の第1接触部71と第2部材80の後述する第2接触部81を軸Lに沿って離間する方向に付勢するばね部75とを有している。第1接触部71は、下方の配線基板1に接触する細径の第1先端部72と、第1先端部72の上部側に繋がる太径の被挿入部73とを有している。この被挿入部73の内部は、後述する第2部材80の挿入部85が摺動しつつ挿入される大きさ及び形状となっている。
また、ばね部75は、第1接触部71からばね部75に向かう長手方向の軸Lを中心として、軸Lの両側に軸Lに直交する方向に同じ距離だけ突出する波形状部76が連続しており、これが筒状に湾曲又は折り曲げられた構成となっている。これにより、波形状部76の凸部77が軸Lの一側と他側に交互に連続するようになっている。また、軸Lから一側に突出して半筒状に形成された波形状部76の凸部77が、軸Lから他側に突出して半筒状に形成された波形状部76の凸部77同士の間の凹部78に対向するようになっている。
また、図10に示すように、各波形状部76の凸部77の頂点部分には、さらに軸Lと直交する方向に突出した突起部79が形成されている。そして、この突起部79は、対向する凹部78の間に入り込むように構成されている。このように、突起部79が凹部78に入り込むようになっていることで、ばね部75を、その付勢力に抗して軸Lに沿って収縮させる方向に力が働いたときに、所定の収縮量で突起部79が入り込んだ凹部78の両脇の凸部77の側壁77aと突起部79とが当接する。これによって、ストッパが掛かり、それ以上ばね部75が収縮しないようになる。その結果、所定量以上にばね部75が収縮することがなくなり、ばね部75が弾性変形可能な範囲を超えて塑性変形してしまう不具合を防止することができる。
また、ばね部75の略中間位置には、非ばね状の中間部74を有しており、この中間部74によってばね部75が2つに分割されている。
また、この第1部材70は、図11に示す第1部材導電材料70Aから形成されている。この第1部材導電材料70Aは、板状の部材で構成されており、板状部分70Bの一部に波状部分70Cが形成されている。ここでは、一端側に板状部分70Bが形成されており、板状部分70Bと繋がる他端側に波状部分70Cが形成されている。また、波状部分70Cの略中間位置に、他の板状部分70Dが形成されている。
そして、板状部分70Bが板状部分70Bから波状部分70Cに向かう長手方向の軸Lに沿って筒状に湾曲又は折り曲げられることで、筒状の第1接触部71が形成されており、波状部分70Cが軸Lに沿って筒状に湾曲又は折り曲げられることで、当該第1接触部71に連続する筒状のばね部75が形成されており、他の板状部分70Dが軸Lに沿って筒状に湾曲又は折り曲げられることで、当該ばね部75の略中間位置に筒状の中間部74が形成されており、これらによって第1接触部71と中間部74と2つに分割されたばね部75を有する第1部材70が構成されている。
また、第2部材80は、軸Lに沿って棒状に形成された部材であり、ここでは、中空の棒状に形成されている。なお、中実の棒状に形成されていても良い。この第2部材80は、第2接触部81と、これに繋がる挿入部85とを有している。第2接触部81は、上方のICパッケージ2に接触する部位であり、細径の第2先端部82と、第2先端部82の下部側に繋がる太径の係止部83とを有している。この係止部83は、第1部材70のばね部75の径より大きな径に形成されており、ばね部75の端部が当接するようになっている。
また、挿入部85は、第2接触部81の係止部83より細径で、第1部材70のばね部75の内部に挿入され、第1部材70の第1接触部71の被挿入部73の内部に摺動しつつ挿入される大きさ及び形状となっている。また、挿入部85の長さは、ばね部75の内部に挿入させて収縮方向に力を掛けない状態で、第1接触部71の被挿入部73の内部に挿入されており、かつ、ばね部75を収縮方向に収縮させて突起部79でストッパが掛かったときに挿入部85の先端が被挿入部73と第1先端部72の境界部分に達しない程度に形成されている。
また、挿入部85における第2接触部81の係止部83付近の壁面には、突出部86が所定量突出した状態で形成されている。ここでは挿入部85の軸L方向の同位置の壁面の対向する2箇所に、半球形状の突出部86が設けられている。これにより、ばね部75を係止部83に当接させた状態で外れないように保持することができるものである。
また、この第2部材80は、図11に示す第2部材導電材料80Aから形成されている。この第2部材導電材料80Aは、長細形状の板状の部材で構成されている。そして、第2部材導電材料80Aが長手方向の軸Lに沿って筒状に湾曲又は折り曲げられ、かつ、途中の一部分(第2接触部81の係止部83となる部分)だけ径を大きくするようにして筒状に湾曲又は折り曲げることで、第2先端部82と係止部83が形成された筒状の第2接触部81が形成されると共に、当該第2接触部81に連続する筒状の挿入部85が形成されるようになっている。これらによって第2接触部81と挿入部85を有する第2部材80が構成されている。
このように形成されたコンタクトピン60は、コンタクトモジュール30の下側保持部材33の貫通孔に、第1部材70の第1接触部71における細径の第1先端部72が挿通されて下側保持部材33の下方に突出させる。また、フローティングプレート40の貫通孔に、第2部材80の第2接触部81における細径の第2先端部82が挿通される。また、コンタクトモジュール30の中央保持部材32の貫通孔に、第1部材70のばね部75の略中間位置の中間部74が挿通される。これにより、コンタクトピン60がコンタクトモジュール30に保持されるようになっている。
次に、このような第1部材70と第2部材80を有するコンタクトピン60を備えたICソケット10の作用について説明する。
このICソケット10を使用する際には、複数のコンタクトピン60をそれぞれソケット本体20のコンタクトモジュール30に装着し、第1部材70の第1接触部71の第1先端部72を下側保持部材33の下方に突出させると共に、第2部材80の第2接触部81の第2先端部82をフローティングプレート40に挿通させ、第1部材70の中間部74を中央保持部材32に挿通させた状態で配置する。
そして、このICソケット10を配線基板1に位置決め固定し、第1接触部71の第1先端部72を配線基板1の電極に接触させる。このとき、第1先端部72が配線基板1によって上方に押し上げられることで、第1部材70全体が上方に押し上げられ、ばね部75の端部が当接した第2部材80の第2接触部81の係止部83を介して第2部材80も上方に押し上げられた状態となる。
その後、ICパッケージ2をフローティングプレート40上に収容して、半田ボールを第2接触部81の第2先端部82に接触させる。その状態で操作部材を操作してカバー部材でICパッケージ2を下方に押圧することで、ICパッケージ2と共にフローティングプレート40を上方への付勢力に抗して下降させて、半田ボールにより第2先端部82が押圧され、第2部材80がばね部75の付勢力に抗して下方に押し込まれる。そして、このようにばね部75を圧縮することで、当該ばね部75で第1部材70の第1接触部71と第2部材80の第2接触部81とを互いに離間する方向に付勢して配線基板1の電極とICパッケージ2の半田ボールに適切な接圧を持って接触させて電気的に接続させた状態で、ICパッケージ2のバーンイン試験等の導通試験を実施する。
このとき、第1部材70の第1接触部71の被挿入部73の内部に第2部材80の挿入部85が摺動しつつ挿入されるようになっていることで、第2部材80の第2接触部81と挿入部85と第1部材70の被挿入部73と第1接触部71を介して、電気的に配線基板1の電極とICパッケージ2の半田ボールが短い距離で繋がることができるため、低い抵抗値で両者を電気的に接続することができる。
また、このとき、突起部79が凹部78に入り込むようになっていることで、ばね部75を、その付勢力に抗して軸Lに沿って収縮させる方向に力が働いたときに、所定の収縮量で突起部79が入り込んだ凹部78の両脇の凸部77の側壁77aと突起部79とが当接する。これによって、ストッパが掛かり、それ以上ばね部75が収縮しないようになる。その結果、所定量以上にばね部75が収縮することがなくなり、ばね部75が弾性変形可能な範囲を超えて塑性変形してしまう不具合を防止することができる。
また、このとき、第1接触部71と一体のばね部75が、その上端部で第2接触部81と繋がっており、ばね部75が圧縮されることで当該ばね部75の各波形状部76同士が当接することで、電気的に短い距離で第1接触部71から第2接触部81までが繋がるようになり、前記した挿入部85を介する接続と同様に、低い抵抗値で配線基板1とICパッケージ2を電気的に接続することができる。
このように、この実施の形態のコンタクトピン60は、第1部材70と第2部材80の2つの部材で構成されているため、コンタクトピン60に使用する部品点数を従来より減らすことができる。また、第1部材70のばね部75の内部に第2部材80の挿入部85が挿入されて、第1部材70と第2部材80が電気的に接続するようになっているため、第1接触部71に接触した配線基板1から第2接触部81に接触したICパッケージ2までの電気が通過する距離を、電気が第1部材からばね部全体を通って第2部材に到達する従来のものよりも短くすることができる。その結果、コンタクトピン60の抵抗値を下げることができる。
また、この実施の形態のコンタクトピン60は、ばね部75の内部に挿入された挿入部85が、第1接触部71と接触するようになっているため、挿入部85がばね部75のみに接触している場合より、電気の通過距離を短くすることができ、その結果、コンタクトピン60の抵抗値をより下げることができる。
また、この実施の形態のICソケット10は、前記したようなコンタクトピン60を有しているため、コンタクトピン60に使用する部品点数を従来より減らしたICソケット10とすることができる。また、前記したようなコンタクトピン60を有しているため、第1接触部71に接触した配線基板1から第2接触部81に接触したICパッケージ2までの電気が通過する距離を従来のものよりも短くして、コンタクトピン60の抵抗値を下げたICソケット10とすることができる。
なお、本発明の「電気接触子」は、前記した実施の形態のような構造のコンタクトピン60に限るものではなく、他の構造のものにも適用できる。また、前記した実施の形態では、本発明の「電気部品用ソケット」をカバー部材や操作部材を有するタイプのICソケット10に適用したが、これに限るものではなく、カバー等を有しないICソケットや、ICソケット以外の他の装置にも適用できる。
1 配線基板(第1の電気部品)
2 ICパッケージ(第2の電気部品)
10 ICソケット(電気部品用ソケット)
20 ソケット本体
40 フローティングプレート(収容部)
60 コンタクトピン(電気接触子)
70 第1部材
70A 導電材料
70B 板状部分
70C 波状部分
71 第1接触部
75 ばね部
80 第2部材
81 第2接触部
85 挿入部
L 軸

Claims (3)

  1. 第1の電気部品と第2の電気部品の間に配設されて、両者を電気的に接続する電気接触子であって、
    前記第1の電気部品に接触する第1部材と、前記第2の電気部品に接触する第2部材とが、互いに伸縮自在となるように設けられており、
    前記第1部材は、板状部分の一部に波状部分が形成された導電材料が筒状に形成され、前記第1の電気部品に接触する第1接触部と、前記波状部分で形成されたばね部とを有しており、
    前記第2部材は、棒状部材で構成され、前記第2の電気部品に接触する第2接触部と、前記ばね部の内部に挿入される挿入部とを有しており、
    前記第1部材と前記第2部材を前記ばね部の付勢力に抗して収縮させることにより、前記第1接触部と前記第2接触部が互いに離間する方向に付勢されるようになっていることを特徴とする電気接触子。
  2. 前記ばね部の内部に挿入された前記挿入部が、前記第1接触部と接触して、前記第1部材と前記第2部材とが導通していることを特徴とする請求項1に記載の電気接触子。
  3. 第2の電気部品上に配置され、第1の電気部品が収容される収容部を有するソケット本体と、
    該ソケット本体に配設されて前記第1の電気部品に設けられた端子及び前記第2の電気部品に設けられた端子に接触する請求項1又は2に記載の電気接触子とを有することを特徴とする電気部品用ソケット。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013053931A (ja) * 2011-09-05 2013-03-21 Nidec-Read Corp 接続端子及び接続治具
JP2013187165A (ja) * 2012-03-12 2013-09-19 Furukawa Electric Co Ltd:The コネクタ端子用接触ばね及び雌端子、雄端子、コネクタ
JP2014169887A (ja) * 2013-03-01 2014-09-18 Yamaichi Electronics Co Ltd 検査用プローブ、および、それを備えるicソケット
JP2015038455A (ja) * 2013-08-19 2015-02-26 富士通コンポーネント株式会社 プローブ及びプローブの製造方法
JP2016507751A (ja) * 2013-07-19 2016-03-10 ハイコン カンパニー リミテッド スプリングコンタクト

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3326095B2 (ja) * 1996-12-27 2002-09-17 日本発条株式会社 導電性接触子
EP1290454B1 (en) * 2000-06-16 2007-02-28 NHK Spring Co., Ltd. Microcontactor probe and electric probe unit
JP4390983B2 (ja) 2000-07-14 2009-12-24 山一電機株式会社 コンタクトプローブ及びその製造方法
JP4089976B2 (ja) * 2004-05-17 2008-05-28 リーノ アイエヌディー.インコーポレイテッド 大電流用プローブ
US7535241B2 (en) * 2006-10-30 2009-05-19 Aries Electronics, Inc. Test probe with hollow tubular contact with bullet-nosed configuration at one end and crimped configuration on other end
JP5713559B2 (ja) * 2007-04-27 2015-05-07 日本発條株式会社 導電性接触子
WO2009084906A2 (en) * 2008-01-02 2009-07-09 Nakamura, Toshiyuki The proble pin composed in one body and the method of making it
JP2010025844A (ja) * 2008-07-23 2010-02-04 Unitechno Inc コンタクトプローブおよび検査用ソケット
JP4900843B2 (ja) * 2008-12-26 2012-03-21 山一電機株式会社 半導体装置用電気接続装置及びそれに使用されるコンタクト
TWI482973B (zh) * 2009-04-03 2015-05-01 Nhk Spring Co Ltd 彈簧用線材、接觸探針及探針單元
JP4998838B2 (ja) * 2010-04-09 2012-08-15 山一電機株式会社 プローブピン及びそれを備えるicソケット
SG186433A1 (en) * 2010-06-25 2013-01-30 Nhk Spring Co Ltd Contact probe and probe unit
JP5982372B2 (ja) * 2011-07-19 2016-08-31 日本発條株式会社 接触構造体ユニット
JP5836112B2 (ja) * 2011-12-28 2015-12-24 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
SG11201408151XA (en) * 2012-06-06 2015-01-29 Enplas Corp Electric contact and socket for electric parts
JP6011103B2 (ja) * 2012-07-23 2016-10-19 山一電機株式会社 コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013053931A (ja) * 2011-09-05 2013-03-21 Nidec-Read Corp 接続端子及び接続治具
JP2013187165A (ja) * 2012-03-12 2013-09-19 Furukawa Electric Co Ltd:The コネクタ端子用接触ばね及び雌端子、雄端子、コネクタ
JP2014169887A (ja) * 2013-03-01 2014-09-18 Yamaichi Electronics Co Ltd 検査用プローブ、および、それを備えるicソケット
JP2016507751A (ja) * 2013-07-19 2016-03-10 ハイコン カンパニー リミテッド スプリングコンタクト
JP2015038455A (ja) * 2013-08-19 2015-02-26 富士通コンポーネント株式会社 プローブ及びプローブの製造方法

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