TWI585727B - 驅動電路板、顯示模組及顯示面板的自動化測試方法 - Google Patents

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Description

驅動電路板、顯示模組及顯示面板的自動化測試方法
本發明係關於一種驅動電路板、顯示模組及顯示面板的自動化測試方法。
顯示模組在製造完成之後,都需要經過一些測試才能進行下一階段的組裝,例如需要經過老化測試。圖1為一習知顯示模組接受老化測試的示意圖。如圖1所示,一顯示模組1包含一顯示面板11以及一驅動電路板12,驅動電路板12與顯示面板11電性連接以驅動顯示面板11顯示畫面。另外,驅動電路板12係具有一時序控制電路121及一連接器122,時序控制電路121係與資料驅動電路(圖未顯示)及掃描驅動電路(圖未顯示)電性連接以將資料訊號、掃描訊號及其他控制訊號傳送至資料驅動電路及掃描驅動電路,藉以驅動顯示面板11顯示畫面。
另外,為進行老化測試,時序控制電路121亦內建老化測試模式(aging mode),只要輸入一觸發訊號即可使時序控制電路121進入老化測試模式,並例如驅動顯示面板11依序顯示全白、全黑、全紅、全綠及全藍的畫面。此外,連接器122至少需要具有一電源接腳、一觸發接腳及一接地接腳。另外,還需要一治具10帶著一對應連接線101插入連接器122內,以將一電源電壓訊號、一接地訊號以及一觸發訊號分別輸入至連接器122之電源接腳、接地接腳以及觸發接腳。這樣,觸發訊號傳送至時序控制電路121以使時序控制電路121進入老化測試模式。
然而,上述習知技術會有下列缺點。
第一、工作人員必需依照產品類型來製作對應的連接線101,因此增加製作時間與成本,而影響產品導入與生產速度。
第二、連接線101的種類及數量大增,進而增加管理的負 擔。並且需在測試站配備專人識別連接線與產品的匹配狀況,並對不同連接線進行區分管控。
第三、連接線除了對應電源接腳、觸發接腳及接地接腳之線路外,仍有許多線路,當連接線101插入連接器122時,這些接路都可能導致靜電放電(ESD)的問題,以致對產品造成傷害。
第四、工作人員插拔連接器122的次數大增,因而造成連接線101或連接器122損害的機率大增。
第五、產品設計的負擔變大,設計者必需針對不同產品在連接器122預留觸發接腳以接收觸發訊號。
此外,習知技術亦不利自動化測試的進行。因此,如何提供一種驅動電路板、顯示模組及顯示面板的自動化測試方法,能夠解決上述問題,並有利於自動化測試,實為當前重要課題之一。
有鑒於上述課題,本發明之一目的在於提供一種驅動電路板、顯示模組及顯示面板的自動化測試方法,能夠解決上述問題,並有利於自動化測試,進而縮短製造時間並提升產品良率。
為達上述目的,依本發明之一種顯示面板的驅動電路板包含一電路板、一時序控制電路、一連接器以及一功能接腳組。時序控制電路設置於電路板上。連接器設置於電路板上。功能接腳組設置於電路板上並包含一功能觸發接腳以及一接地接腳。功能觸發接腳係與時序控制電路電性連接。
在一實施例中,功能觸發接腳接收一功能觸發訊號,功能觸發訊號係用以觸發時序控制電路進行一測試功能。
在一實施例中,功能觸發訊號係傳送至時序控制電路以啟動測試功能。
在一實施例中,功能觸發接腳係經由一轉換電路而與時序控制電路電性連接。
在一實施例中,測試功能係為一老化測試。
在一實施例中,功能接腳組更包含一電源接腳,其係接收一 電源電壓訊號。
在一實施例中,功能接腳組更包含另一功能觸發接腳,其係與時序控制電路電性連接。
在一實施例中,功能接腳組係具有一連接器構造。
在一實施例中,功能接腳組係具有一金手指構造。
在一實施例中,功能接腳組係位於電路板之一角落或一邊緣。
在一實施例中,電路板具有一連接結構鄰設於功能接腳組。
在一實施例中,功能接腳組之一接腳間距係介於0.4mm與2.8mm之間
在一實施例中,功能觸發接腳之一接腳寬度係介於0.25毫米(mm)與1.65mm之間。
在一實施例中,驅動電路板更包含一遮罩件,其係遮罩功能接腳組。
為達上述目的,依本發明之一種顯示模組包含一顯示面板以及一驅動電路板。驅動電路板係與顯示面板電性連接,並包含一電路板、一時序控制電路、一連接器及一功能接腳組。時序控制電路設置於電路板上。連接器設置於電路板上。功能接腳組設置於電路板上並包含一功能觸發接腳以及一接地接腳,功能觸發接腳係與時序控制電路電性連接。
為達上述目的,依本發明之一種顯示面板的自動化測試方法包含:提供具有一功能接腳組之一電路板,電路板上係具有一時序控制電路用以驅動顯示面板,功能接腳組包含一功能觸發接腳以及一接地接腳,且功能觸發接腳與時序控制電路電性連接;以一探針輸入一功能觸發訊號於功能觸發接腳,藉以觸發時序控制電路進行一功能模式;以及以另一探針輸入一接地訊號於接地接腳。
在一實施例中,功能模式為顯示面板之一老化測試。
承上所述,在本發明之驅動電路板、顯示模組及顯示面板的自動化測試方法中,藉由在電路板上設置一功能接腳組,且功能接腳組之功能觸發接腳係與時序控制電路電性連接,這樣,當功能觸發接腳接收一 功能觸發訊號時,時序控制電路即被觸發而進行一功能模式,如一測試功能,例如老化測試。如此,工作人員就不必依照產品類型來製作對應的連接線,因為所有的產品都是用同樣的連接線,這樣就能解決上述問題,且有利於將顯示模組導入自動化測試,並能縮短製造時間及提升產品良率。
1、4‧‧‧顯示模組
10‧‧‧治具
101‧‧‧連接線
11、40‧‧‧顯示面板
12、2、2a、2b、3‧‧‧驅動電路板
121、22‧‧‧時序控制電路
122、23‧‧‧連接器
21‧‧‧電路板
211‧‧‧連接結構
24‧‧‧功能接腳組
241、244‧‧‧功能觸發接腳
242‧‧‧接地接腳
243‧‧‧電源接腳
25‧‧‧遮罩件
26‧‧‧轉換電路
P‧‧‧接腳間距
PE‧‧‧定位件
S01~S03‧‧‧步驟
W‧‧‧接腳寬度
圖1為一習知顯示模組接受老化測試的示意圖。
圖2A為本發明第一實施例之一驅動電路板的示意圖。
圖2B為本發明第一實施例之驅動電路板之功能接腳組的示意圖。
圖3為本發明第一實施例之一驅動電路板的另一示意圖。
圖4為本發明第二實施例之一驅動電路板的示意圖。
圖5為本發明第三實施例之一驅動電路板的示意圖。
圖6為本發明一實施例之一顯示模組的示意圖。
圖7為本發明一實施例之一種顯示面板的自動化測試方法的流程圖。
以下將參照相關圖式,說明依本發明較佳實施例之一種驅動電路板、顯示模組及顯示面板的自動化測試方法,其中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。
圖2A為本發明第一實施例之一驅動電路板2的示意圖。如圖2A所示,驅動電路板2包含一電路板21、一時序控制電路22、一連接器23以及一功能接腳組24。本實施例之驅動電路板2為一顯示面板之驅動電路板2。顯示面板例如為液晶顯示面板、發光二極體顯示面板或其他型式之顯示面板。
時序控制電路22設置於電路板21上。時序控制電路22例如為一時序控制器(timing controller,TCON),其可與一資料驅動電路及一掃描驅動電路連接,藉以驅動顯示面板顯示畫面。時序控制電路22可輸出資料訊號、掃描訊號及其他控制訊號,例如水平同步訊號或垂直同步訊號。此外,時序控制電路22亦內建至少一功能模式,只要輸入一觸發訊號即可使時序控制電路22進入對應的功能模式。功能模式例如是老化測試模式 (aging mode),其例如使顯示面板依序顯示全白、全黑、全紅、全綠及全藍的畫面。
連接器23設置於電路板21上。本實施例不限制連接器23 之介面規格,其可依據產品需要而變化。此外,本實施例亦不限制連接器23的數量。
功能接腳組24設置於電路板21上,例如是設置於電路板 21之一角落或一邊緣。功能接腳組24包含一功能觸發接腳241以及一接地接腳242,功能觸發接腳241係與時序控制電路22電性連接。本實施例係以功能觸發接腳241與時序控制電路22直接電性連接為例,即二者之間沒有連接其他元件。當然,在其他實施例中,功能觸發接腳241與時序控制電路22可為間接電性連接。另外,在本實施例中,接地接腳242亦與時序控制電路22電性連接。
功能觸發接腳241可接收一功能觸發訊號,功能觸發訊號係 用以觸發時序控制電路22進行一測試功能。功能觸發訊號可由一治具提供。測試功能例如為老化測式。在本實施例中,功能觸發訊號係直接傳送至時序控制電路22以啟動測試功能。
接地接腳242係用以接收一接地訊號。功能接腳組24可更 包含一電源接腳243,其係接收一電源電壓訊號。電源電壓訊號可轉換為合適的電壓訊號供應給電路板21使用。在本實施例中,電源接腳243亦與時序控制電路22電性連接。另外,功能接腳組24可更包含至少另一功能觸發接腳244,其係與時序控制電路22電性連接。功能觸發接腳244可接收另一功能觸發訊號以使時序控制電路22進入另一功能模式。
功能接腳組24可具有一合適的構造,例如具有一連接器構 造或金手指構造,於此係以金手指構造為例。這樣,藉由一控制器控制複數探針與功能接腳組24之接腳接觸並將訊號輸入,就能達到自動化測試目的。
另外,如圖2B所示,功能接腳組24之一接腳間距(即相 鄰接腳之間距)P可介於0.4mm與2.8mm之間,以有利功能模式的進行,例如降低探針誤觸接腳的機率。此外,功能觸發接腳241之一接腳寬度W 可介於0.25mm與1.25mm之間,以有利功能模式的進行,例如降低探針誤觸接腳的機率,並確保探針與接腳有確實電性接觸。
如圖3所示,在本實施例中,驅動電路板2可更包含一遮罩 件25,其係遮罩功能接腳組24。當測試進行完畢時,可用遮罩件25遮罩功能接腳組24,藉此可避免工作人員或使用者誤觸而造成產品損壞。遮罩件25例如為一膠帶。
圖4為本發明第二實施例之一驅動電路板2a的示意圖。如 圖4所示,驅動電路板2a與2之主要不同在於,驅動電路板2a之功能觸發接腳241係經由一轉換電路26而與時序控制電路22電性連接。在本實施例中,功能觸發接腳241所接收的功能觸發訊號可能無法直接觸發時序控制電路22進入一功能模式,例如電壓較低。因此就需要先經過轉換電路26之轉換,例如升壓,再傳輸到時序控制電路22。本實施例不限制轉換電路26之轉換態樣,其例如包含電壓、電流或頻率的轉換。
圖5為本發明第三實施例之一驅動電路板2b的示意圖。如 圖5所示,驅動電路板2b與2之主要不同在於,電路板21具有一連接結構211鄰設於功能接腳組24。連接結構211可與一訊號輸入單元(圖未顯示)連接以使功能接腳組24接收訊號輸入單元輸入之訊號。連接結構211例如為一凹凸結構(例如複數凹槽),而訊號輸入單元係卡合於連接結構211而與功能接腳組24電性連接。此外,連接結構211可包含至少一定位件PE,於此,定位件PE係以凹點為例,訊號輸入單元可藉由定位件PE而得到定位效果。
需注意者,上述實施例之技術特徵可單獨使用或合併使用。
圖6為本發明一實施例之一顯示模組4的示意圖,如圖6所示,顯示模組4包含一顯示面板40及一驅動電路板3。顯示面板40例如為液晶顯示面板、發光二極體顯示面板或其他型式之顯示面板。驅動電路板3可為上述驅動電路板2、2a、2b之任一或其組合。驅動電路板3係與顯示面板40電性連接以驅動顯示面板40顯示畫面。由於驅動電路板3之技術特徵可參照上述實施例而得知,故於此不再贅述。
圖7為本發明一實施例之一種顯示面板的自動化測試方法 的流程圖。自動化測試方法可應用於合適的顯示面板,例如液晶顯示面板、發光二極體顯示面板或其他型式之顯示面板。自動化測試方法包含下列步驟:提供具有一功能接腳組之一電路板,電路板上係具有一時序控制電路用以驅動顯示面板,功能接腳組包含一功能觸發接腳以及一接地接腳,且功能觸發接腳與時序控制電路電性連接(步驟S01);以一探針輸入一功能觸發訊號於功能觸發接腳,藉以觸發時序控制電路進行一功能模式(步驟S02);以及以另一探針輸入一接地訊號於接地接腳(步驟S03)。上述之功能模式例如為顯示面板之一老化測試。
由於自動化測試方法之技術特徵已一併詳述於上述實施 例,故於此不再贅述。需注意者,本實施例之自動化測式方法藉由探針的方式來輸入功能觸發訊號、接地訊號及/或其他訊號,而能達到自動化測式之目的,進而提升生產速度與產品良率。
綜上所述,在本發明之驅動電路板、顯示模組及顯示面板的 自動化測試方法中,藉由在電路板上設置一功能接腳組,且功能接腳組之功能觸發接腳係與時序控制電路電性連接,這樣,當功能觸發接腳接收一功能觸發訊號時,時序控制電路即被觸發而進行一功能模式,如一測試功能,例如老化測試。如此,工作人員就不必依照產品類型來製作對應的連接線,因為所有的產品都是用同樣的連接線,這樣就能解決上述問題,且有利於將顯示模組導入自動化測試,並能縮短製造時間及提升產品良率。
以上所述僅為舉例性,而非為限制性者。任何未脫離本發明 之精神與範疇,而對其進行之等效修改或變更,均應包含於後附之申請專利範圍中。
2‧‧‧驅動電路板
21‧‧‧電路板
22‧‧‧時序控制電路
23‧‧‧連接器
24‧‧‧功能接腳組
241、244‧‧‧功能觸發接腳
242‧‧‧接地接腳
243‧‧‧電源接腳

Claims (9)

  1. 一種顯示面板的驅動電路板,包含:一電路板;一時序控制電路,設置於該電路板上;一連接器,設置於該電路板上;以及一功能接腳組,設置於該電路板上並包含一功能觸發接腳以及一接地接腳,該功能觸發接腳係與該時序控制電路電性連接,其中,該功能觸發接腳接收一功能觸發訊號,該功能觸發訊號傳送至該時序控制電路,用以觸發該時序控制電路對該顯示面板進行一測試功能。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之驅動電路板,其中該功能接腳組更包含一電源接腳,其係接收一電源電壓訊號。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之驅動電路板,其中該功能接腳組係具有一連接器構造。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之驅動電路板,其中該功能接腳組係具有一金手指構造。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之驅動電路板,其中該功能接腳組之一接腳間距係介於0.4毫米與2.8毫米之間。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之驅動電路板,其中該功能觸發接腳之一接腳寬度係介於0.25毫米與1.65毫米之間。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之驅動電路板,更包含:一遮罩件,係遮罩該功能接腳組。
  8. 一種顯示模組,包含:一顯示面板;以及一驅動電路板,係與該顯示面板電性連接,並包含:一電路板;一時序控制電路,設置於該電路板上;一連接器,設置於該電路板上;及一功能接腳組,設置於該電路板上並包含一功能觸發接腳以及一接地接 腳,該功能觸發接腳係與該時序控制電路電性連接,其中,該功能觸發接腳接收一功能觸發訊號,該功能觸發訊號傳送至該時序控制電路,用以觸發該時序控制電路對該顯示面板進行一測試功能。
  9. 一種顯示面板的自動化測試方法,包含:提供具有一功能接腳組之一電路板,該電路板上係具有一時序控制電路用以驅動該顯示面板,該功能接腳組包含一功能觸發接腳以及一接地接腳,且該功能觸發接腳與該時序控制電路電性連接;以一探針輸入一功能觸發訊號於該功能觸發接腳,藉以觸發該時序控制電路進行一功能模式;以及以另一探針輸入一接地訊號於該接地接腳。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113495205B (zh) * 2020-03-18 2023-04-07 华为技术有限公司 电路测试装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200709123A (en) * 2005-08-22 2007-03-01 Primetech Internat Corp An external timing control method of the control IC for FPD penal testing
TWM388099U (en) * 2010-04-16 2010-09-01 Chunghwa Precision Test Tech Co Ltd Integrated circuit particle testing device without probe
TW201033707A (en) * 2009-03-04 2010-09-16 Au Optronics Corp Flat display panel
CN102509532B (zh) * 2011-09-20 2014-04-16 友达光电股份有限公司 检测电路、驱动芯片、显示模块及传输接口的检测方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6545497B2 (en) * 2001-03-15 2003-04-08 Micron Technology, Inc. Method and apparatus of testing memory device power and ground pins in an array assembly platform
US7134909B2 (en) * 2004-07-28 2006-11-14 Fujitsu Limited Connector circuit board
KR20070106151A (ko) * 2006-04-28 2007-11-01 엘지전자 주식회사 디스플레이 장치
KR100787974B1 (ko) * 2006-11-16 2007-12-24 삼성전자주식회사 휴대 단말기 및 이의 멀티 중앙 처리 유닛 테스트 시스템과방법
KR20080088854A (ko) * 2007-03-30 2008-10-06 삼성전자주식회사 회로 기판 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
US7970871B2 (en) * 2007-05-02 2011-06-28 Synapse Wireless, Inc. Systems and methods for dynamically configuring node behavior in a sensor network
JP5821432B2 (ja) * 2011-09-05 2015-11-24 日本電産リード株式会社 接続端子及び接続治具
CN104423890A (zh) * 2013-08-27 2015-03-18 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 固态硬盘

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200709123A (en) * 2005-08-22 2007-03-01 Primetech Internat Corp An external timing control method of the control IC for FPD penal testing
TW201033707A (en) * 2009-03-04 2010-09-16 Au Optronics Corp Flat display panel
TWM388099U (en) * 2010-04-16 2010-09-01 Chunghwa Precision Test Tech Co Ltd Integrated circuit particle testing device without probe
CN102509532B (zh) * 2011-09-20 2014-04-16 友达光电股份有限公司 检测电路、驱动芯片、显示模块及传输接口的检测方法

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